[go: up one dir, main page]

JP2001356011A - 直動体の真直度計測装置 - Google Patents

直動体の真直度計測装置

Info

Publication number
JP2001356011A
JP2001356011A JP2000176973A JP2000176973A JP2001356011A JP 2001356011 A JP2001356011 A JP 2001356011A JP 2000176973 A JP2000176973 A JP 2000176973A JP 2000176973 A JP2000176973 A JP 2000176973A JP 2001356011 A JP2001356011 A JP 2001356011A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mirror
equation
reflecting
horizontal
laser beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000176973A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Tenjinbayashi
孝二 天神林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST filed Critical National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Priority to JP2000176973A priority Critical patent/JP2001356011A/ja
Priority to US09/817,903 priority patent/US6559955B2/en
Publication of JP2001356011A publication Critical patent/JP2001356011A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】直動テーブルその他の直動体の直進運動・回転
角度誤差及び回転角度誤差をレーザービームの直線性を
利用して、非接触でかつ同時に計測する装置を提供する 【解決手段】互いに距離(√2)dだけ離れ反射面が対
面した状態で水平面内に位置する2枚の反射鏡からなる
水平平行2面鏡と、互いに距離(√2)dだけ離れ反射
面が対面した状態で鉛直面内に位置する2枚の反射鏡か
らなる鉛直平行2面鏡とを備え、かつレーザービームを
発生する光源と、レーザービームを2分割する半透鏡
と、前記レーザービームの方向を変える光路変更反射鏡
と、前記コーナーキューブ反射鏡水平平行2面鏡及び鉛
直平行2面鏡からの反射光の位置を検出するポジション
センサとを前記直動体の外の固定位置に備える

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は直動体の真直度計測装
置に関するものである。パルスステージや直動ステー
ジ、直動テーブルのような直動体は、工作機械の送りや
各種形状測定器等に用いられ、その直線性の良し悪しが
加工や計測の精度を大きく左右する。それゆえ、直線性
を精度よく計測する方法や装置は、精度検査や校正にお
いて必須である。
【0002】
【従来の技術】現在、直動ステージは機械工業をはじめ
さまざまな分野で使用されている。その場合、直進精度
を常に検査したり校正する計測や装置が必須となってい
る。実際、直動ステージの運動誤差の測定方法はJIS
に規定されており、また装置も市販されている。一般に
直進運動・回転角度誤差には並進位置誤差と回転角度誤
差がある。前者には、直進方向の位置決め誤差成分と、
直進方向に垂直な面内における二つの誤差成分(水平及
び鉛直方向)の合計三成分がある。後者には、ピッチン
グ、ヨーイング、ローリングの三成分がある。
【0003】
【解決すべき課題】直動体の回転角度誤差を計測する方
法は、ピッチングとヨーイングの二成分はオートコリメ
ータを用いて同時に測定し、ローリングは電気水準器に
よって計測するのが一般的方法であり、装置も市販され
ている。しかしながら、これはオートコリメータの原理
を用いているため、ピッチングとヨーイングの二成分だ
けの同時計測に限られていて、回転誤差の三成分を同時
に計測可能な技術は開発されていない。
【0004】本発明は、直動テーブル等の直動体の並進
位置誤差に加えて回転角度誤差であるピッチング、ヨー
イング、ローリングを、レーザービームの直線性を利用
して同時に一つの方法で計測する新しい方法及び装置を
提案する。
【0005】この発明は上記の如き事情に鑑みてなされ
たものであって、直動テーブルその他の直動体の回転角
度誤差であるピッチング、ヨーイング、ローリングの三
成分をレーザービームの直線性を利用して、非接触でか
つ同時に計測する装置を提供することを目的とするもの
である。
【0006】
【課題を解決するための手段】この目的に対応して、こ
の発明の直動体の真直度計測装置は、互いに距離(√
2)dだけ離れ反射面が対面した状態で水平面内に位置
する2枚の反射鏡からなる水平平行2面鏡と、互いに距
離(√2)dだけ離れ反射面が対面した状態で鉛直面内
に位置する2枚の反射鏡からなる鉛直平行2面鏡とを前
記水平平行2面鏡の向きを反射面の裏側に立てた法線の
方向がそれぞれ
【数5】mH1=(−1/(√2),0,1/(√
2))、mH2=(1/(√2),0,1/(√2))ま
たはm’H1(1/(√2),0,−1/(√2))、
m’H2=(−1/(√2),0,1/(√2))となる
ようにし、前記鉛直平行2面鏡の向きを反射面の裏側に
立てた法線の方向がそれぞれ
【数6】mV1=(0,1/(√2),−1/(√
2))、mV2=(0,−1/(√2),1/(√2))
またはm’V1(0,−1/(√2),1/(√2))、
m’V2(0,−1/(√2),−1/(√2))となる
ようにし、かつレーザービームを発生する光源と、レー
ザービームを2分割する半透鏡と、前記レーザービーム
の方向を変える光路変更反射鏡と、前記水平平行2面鏡
および鉛直平行2面鏡からの反射光の位置を検出するポ
ジションセンサとを前記直動体の外の固定位置に備える
ことを特徴としている。
【0007】
【実施例】以下この発明の詳細を一実施例を示す図面に
ついて説明する。図1及び図2において、1は真直度計
測装置である。真直度計測装置1は直動体2を有する。
直動体2はこの発明における真直度計測の対象であっ
て、例えばパルスステージ、直動テーブルなどである。
【0008】ここで直交座標軸系において直動体2の進
行方向をz軸とし、水平方向をx軸、鉛直方向をy軸と
する。互いに距離(√2)dだけ離れ、反射面が対面し
ている二組の平行2面鏡、すなわち対面している2枚の
反射鏡MH1、MH2が水平面内に位置する水平平行2面鏡
3と対面している2枚の反射鏡MV1、MV2が鉛直平面内
に位置する鉛直平行2面鏡4を直動体2上に備えてい
る。また、直動体2の外には、レーザービームを発生す
る光源5と、光源5からのレーザー光を二分割する半透
鏡BS1、BS2及びビームの方向を変える光路変更反
射鏡M1、M2、M 3、M4 平行二面鏡3、4による反射
ビームの水平及び鉛直位置を検出する二組のポジション
センサPS2、PS3及びコーナーキューブミラーCC
Mによる反射ビームの位置を検出するポジションセンサ
PS1が置かれている。さらに直動体2の駆動を制御
し、かつポジションセンサ出力を解析処理するパーソナ
ルコンピュータ(図示せず)も置かれている。
【0009】この状態で直動体2が直進しながら、ピッ
チング角度ξ、ヨーイング角度η、ローリング角度ζの
回転誤差を生じた場合、二つのポジションセンサーPS
2及びPS3で観測される水平及び鉛直方向の位置ずれ
をそれぞれ、xH、yH及びx V、yVとすると、回転誤差
は次のように求まる。
【数7】 ξ=(xV−yV−xH−yH)/4d …(1) η=(xV+yV+xH−yH)/4d …(2) ζ=(xV−yV−xH+yH)/4d …(3) ここで回転誤差角度ξ、η、ζは充分小さいとした。
【0010】次に回転誤差角度ξ、η、ζ及び並進誤差
距離Δx及びΔyを具体的に求める計算式を示す。 1 原理 [0] 鏡面および光線の記述 1−1 鏡面における光線の反射 入射光線の方向を
【数8】 とし、反射光線の方向を
【数9】 とする。ここでα,β,γは方向余弦,添え字jは自然
数で反射の次数,〔 〕は行列またはベクトルを表わ
す。
【0011】入射光線が点Q(xq,yq,zq)を通る
場合、その式はパラメータをkとして、
【数10】 Lj:x=αk+xq ,y=βk+yq ,z=γk+zq …(1−3) で表される。鏡の方向を
【数11】 とし、原点から鏡面までの距離をhとすると鏡面の式は
【数12】 Mj:λjx+μjy+νjz=h…(1−5) となる。ここでλ,μ,νは方向余弦である。
【0012】鏡による反射は行列
【数13】 で与えられ、入射光線と反射光線の関係は
【数14】lj+1=Mjj …(1−7) によって記述できる(図3参照)。ここでMjは反射行
列と呼ぶ。
【0013】1−2 回転前の水平方向の平行二面鏡に
おけるビーム位置 平行二面鏡等の配置と座標系を図4のようにとる。図4
は水平方向を向いた平行二面鏡によるレーザービームの
反射を示す。(MH1 ,0:一枚目の反射鏡面、MH2,0:二
枚目の反射鏡面、LH0:入射鏡面、LH1,0:一枚目の鏡
による反射光線、LH2,0:二枚目の鏡による反射光線、
H0:一枚目の鏡面上における入射点)入射光線の方向
【数15】lH0=(0,0,−1)…(2−1) である。入射光線を鏡面上の点
【数16】QH0(−d,0,0)…(2−2) を通るようにすると、その式は
【数17】 LH0:x=−d,y=0,z=−k…(2−3) となる。一枚目の鏡による反射光線の方向は(1−1)
式と(1−6)式及び(1−7)式より
【数18】 となる。一枚目の鏡による反射光線は、方向がlH1,0
点QH0を通るから(2−4)及び(2−2)式より
【数19】 LH1,0:x=k, y=0, z=0…(2−5) となる。二枚目の鏡による反射光線の方向は
【数20】 回転前の二面鏡の方向はそれぞれ
【数21】 とする。ここで二面鏡は平行で互いに向き合っているの
で(2−7)と(2−8)式は逆符号になっている。
【0014】二面鏡の式は、方向がそれぞれ(2−7)
及び(2−8)式で与えられ、原点から鏡面までの距離
は両鏡面とも(√2)dであるから、(1−5)式より
【数22】MH1,0:−x−z=d…(2−9) MH2,0:x+z=d…(2−10) となる。二枚目の鏡面における反射点RH2,0は(2−
5)及び(2−10)式より
【数23】RH2,0(d,0,0)…(2−11) となる。したがって二枚目の鏡による反射光線は
【数24】 LH2,0:x=d,y=0,z=−k…(2−12) となる。ポジションセンサの位置は
【数25】PSH=(d,0,−zH)…(2−13) であり、zHはテーブルのストロークより充分大きいと
する。
【0015】2−3 水平方向の平行二面鏡におけるピ
ッチングによるビーム位置 x軸の右回りにξ回転する回転行列は
【数26】 で与えられる。
【0016】回転した鏡の方向は(6−7)と(6−
8)式を(3−1)式に代入して
【数27】 となる。したがって二面鏡面の式は(3−2)及び(3
−3)式を(1−5)式を代入してそれぞれ
【数28】 MH1, ξ:−x+sinξy−cosξz=d …(3−4) MH2, ξ:x−sinξy+cosξz=d …(3−5) となる。一枚目の鏡による反射点は(6−3)及び(3
−4)式より
【数29】RH1, ξ(−d,0,0)…(3−6) となる。
【0017】回転した二面鏡による反射行列は(3−
2)及び(3−3)式を(1−6)式に代入してそれぞ
【数30】 となる。したがって一枚目の鏡による反射光線の方向は
(3−7)及び(6−1)式より
【数31】 となる。さらに二枚目の鏡による反射光線の方向は(3
−8)及び(3−9)式より
【数32】 となる。一枚目の鏡による反射光線の式は方向がLH1,
ξで反射点RH1, ξを通るから(3−9)及び(3−
6)式より
【数33】 LH1, ξ:x=cosξk−d, y=−sinξcosξk, z=−sin2ξk…(3− 11) となる。二枚目の鏡における反射点はMH2, ξとLH1, ξ
の交点だから(3−5)及び(3−11)式より
【数34】 RH2, ξ(d,−2sinξd, −2sin2ξd/cosξ)…(3−12) となる。
【0018】2−4 水平方向の平行二面鏡におけるヨ
ーイングによるビーム位置 y軸の右回りにη回転する回転行列は
【数35】 で与えられる。
【0019】回転した鏡の方向は(6−7)及び(6−
8)式を(7−1)式に代入して
【数36】 となる。したがって二面鏡の式は(4−2)及び(4−
3)式を(1−5)式に代入してそれぞれ
【数37】 MH1, η:−(cosη+sinη)x+(sinη−cosη)z=d…(4−4) MH2, η:(cosη+sinη)x+(cosη−sinη)z=d…(4−5) となる。一枚目の鏡による反射点はlH1,0とMH1, η
交点であるから、(6−5)及び(4−4)式より
【数38】 RH1, η=(−d,0,(cosη+sinη−1)/(cosη−sinη)d)…(4 −6) となる。
【0020】回転した二面鏡による反射行列は(4−
2)及び(4−3)式を(1−6)式に代入してそれぞ
【数39】 となる。したがって一枚目の鏡による反射光線の方向は
(7−7)及び(6−4)式より
【数40】 となる。さらに二枚目の鏡による反射光線の方向は(3
−8)及び(3−9)式より
【数41】 となる。一枚目の鏡による反射光線は、方向がlH1で反
射点RH1, ηを通るから、(4−9)及び(4−6)式
から
【数42】 LH1, η:x=cos2ηk−d, y=0, z=−sin2ηk+(cosη+sinη −1)/(cosη−sinη)d …(4−11) となる。二枚目の鏡による反射点はMH2, ηとLH1, η
交点だから(4−5)及び(4−11)式より
【数43】 RH2, η({2(cosη+sinη)−1}d,0,(−2sin2η+cosη+sinη −1)d/(cosη−sinη))…(4−12) となる。
【0021】2−5 水平方向の平行二面鏡におけるロ
ーリングによるビーム位置 z軸の右回りにζ回転する回転行列は
【数44】 で与えられる。
【0022】回転した鏡の方向は(6−7)および(6
−8)式を(5−1)式に代入して
【数45】 mH1, ζ=RζmH1,0=[−cosζ/(√2), −sinζ/(√2),−1/( √2)]…(5−2) mH2, ζ=RζH2,0=[cosζ/(√2),sinsζ/(√2),1/(√2 )]…(5−3) となる。したがって二面鏡面の式は(5−2)及び(5
−3)式を(1−5)式に代入してそれぞれ
【数46】 MH1, ζ:−cosζx−sinζy−z=d…(5−4) MH2, ζ:cosζx+sinζy+z=d…(5−5) となる。一枚目の鏡による反射点はLH1,0とMH1, ζ
交点であるから(6−5)及び(5−4)式より
【数47】 RH1, ζ(−d,0,(cosζ−1)d)…(5−6) となる。
【0023】回転した二面鏡による反射行列は(5−
2)及び(5−3)式を(1−6)式に代入してそれぞ
【数48】 となる。したがって一枚目の鏡による反射光線の方向は
(5−7)及び(6−4)式より
【数49】 となる。さらに二枚目の鏡による反射光線の方向は(5
−8)及び(5−9)式より
【数50】 となる。一枚目の鏡による反射光線は、方向がlH1, ζ
で反射点RH1, ζ を通るから、(5−9)及び(5−
6)式から
【数51】 LH1, ζ:x=cosζk−d,y=−sinζk, z=(cosζ−1)d…(5− 11) となる。二枚目の鏡における反射点はMH2, ζとLH1, ζ
の交点だから(5−5)及び(5−11)式から
【数52】 RH2, ζ((2cosζ−1)d, 2sinζd, (cosζ−1)d)…(5−1 2) となる。
【0024】2−6 回転前の鉛直方向の平行二面鏡に
おけるビーム位置 平行二面鏡の配置と座標系を図5のようにとる。図5は
鉛直方向を向いた平行二面鏡によるレーザービームの反
射を示す。(MV1 ,0:一枚目の反射鏡面、MV2,0:二枚
目の反射鏡面、LV0:入射光線、LV1,0:一枚目の鏡に
よる反射光線、LV2,0:二枚目の鏡による反射入射光
線、QV0:一枚目の鏡面上における入射点、PSV:ポ
ジションセンサ)入射光線の方向は
【数53】 である。入射光線を鏡面上の点
【数54】QV0(0,d,0)…(6−2) を通るようにすると、その式は
【数55】 LV0:x=0, y=d, z=−k …(6−3) となる。一枚目の鏡による反射光線の方向は(6−1)
式と(1−6)及び(1−7)式より
【数56】 となる。一枚目の鏡による反射光線は,方向がLV0で点
V0を通るから(6−4)及び(6−2)式より
【数57】 LV1,0:x=0, y=−k, z=0 …(6−5) となる。
【0025】二枚目の鏡による反射光線の方向は(6−
4)式と(1−6)式及び(1−7)式より
【数58】 となる。
【0026】回転前の平行二面鏡の方向はそれぞれ
【数59】 とする。ここで二面鏡は平行で互いに向き合っているの
で(6−7)と(6−8)式は逆符号になっている。
【0027】二面鏡面の式は,方向がそれぞれ(6−
7)(6−8)式で与えられ、原点から鏡面までの距離
は両鏡面とも(√2)dであるから、(1−5)式より
【数60】MV1,0:y−z=d…(6−9) MV2,0:−y+z=d…(6−10) となる。二枚目の鏡面における反射点は(6−5)およ
び(6−10)式より
【数61】RV2,0(0,−d,0)…(6−11) となる。したがって二枚目の鏡による反射光線は
【数62】 LV2,0:x=0, y=−d, z=−k…(6−12) となる。ポジションセンサの位置は、
【数63】 PSv=(0,−d,−zv)…(6−13) であり、zvはテーブルのストロークより充分大きいと
する。
【0028】2−7 鉛直方向の平行二面鏡におけるピ
ッチングによるビーム位置 x軸の右回りにξ回転する回転行列は
【数64】 で与えられる。
【0029】回転した二面鏡の方向は(1−7)及び
(1−8)式を(8−1)式に代入して
【数65】 となる。したがって二面鏡面の式は(7−2)及び(7
−3)式を(1−5)式に代入してそれぞれ
【数66】 Mv1, ξ:(cosξ+sinξ)y+(sinξ−cosξ)z=d…(7−4) Mv2, ξ:−(cosξ+sinξ)y−(sinξ−cosξ)z=d…(7−5) となる。一枚目の鏡による反射点は(1−3)及び(7
−4)式より
【数67】 Rv1, ξ(0,d,(1−cosξ−sinξ)d/(sinξ−cosξ))…(7−6 ) となる。
【0030】回転した二面鏡による反射行列は(7−
2)及び(7−3)式を(1−6)式に代入してそれぞ
【数68】 となる。したがって一枚目の鏡による反射光線の方向は
(7−7)及び(1−1)式より
【数69】 となる。さらに二枚目の鏡による反射光線の方向は(7
−8)及び(7−9)式より
【数70】 となる。一枚目の鏡による反射光線の式は、方向がL
v1, ξで反射点Rv1, ξを通るから(7−9)及び(7−
6)式より
【数71】 Lv1, ξ:x=0,y=−cos2ξk+d, z=−sin2ξk+(1−cosξ−si nξ)d/(sinξ−cosξ) …(7−11) となる。二枚目の鏡における反射点はMV2, ξとLV1, ξ
の交点だから(7−5)及び(7−11)式より
【数72】 RV2, ξ(0,{−2(cosξ+sinξ)+1}d, (2sin2ξ−cosξ−sin ξ+1)d/(sinξ−cosξ))…(7−12) となる。
【0031】2−8 鉛直方向の平行二面鏡におけるヨ
ーングによるビーム位置 y軸の右回りにη回転する回転行列は
【数73】 で与えられる。
【0032】回転した鏡の方向は(1−7)及び(1−
8)式を(8−1)式に代入して
【数74】 となる。したがって二面鏡面の式は(8−2)及び(8
−3)式を(1−5)式に代入してそれぞれ
【数75】 MV1, η:−sinηx+y−cosηz=d…(8−4) MV2, η:sinηx−y+cosηz=d…(8−5) となる。一枚目の鏡による反射点はLv1,0とMV1, η
交点であるから、(1−3)及び(8−4)式より
【数76】RV1, η(0,d,0)…(8−6) となる。
【0033】回転した二面鏡による反射行列は(8−
2)及び(8−3)式を(1−6)式に代入してそれぞ
【数77】 となる。したがって一枚目の鏡による反射光線の方向は
(8−7)及び(1−1)式より
【数78】 となる。さらに二枚目の鏡による反射光線の方向は(8
−8)及び(8−9)式より
【数79】 となる。一枚目の鏡による反射光線は方向がlV1, η
反射点RV1, ηを通るから、(8−9)及び(8−6)
式から
【数80】 LV1, η:x=sinηcosηk,y=−cosηk+d, z=−sinηk…(8− 11) となる。二枚目の鏡における反射点はMV2, ηとLV2, η
の交点だから(8−5)及び(8−11)式から
【数81】 RV2, η(2sinηd,−d,−2sin2ηd/cosη)…(8−12) となる。
【0034】2−9 鉛直方向の平行二面鏡におけるロ
ーリングによるビーム位置 z軸の右回りにζ回転する回転行列は
【数82】 で与えられる。
【0035】回転した鏡の方向は(1−7)及び(1−
8)式を(9−1)式に代入して
【数83】 となる。したがって二面鏡面の式は(9−2)及び(9
−3)式を(1−5)式に代入して
【数84】 MV1, ζ:−sinζx+cosζy−z=d…(9−4) MV2, ζ:sinζx−cosζy+z=d…(9−5) となる。一枚目の鏡による反射点はLV1,0とMV1, ζ
交点であるから(1−5)及び(9−4)式より
【数85】 RV1, ζ(0,d,(cosζ−1)d)…(9−6) となる。
【0036】回転した二面鏡による反射行列は(9−
2)及び(9−3)式を(1−6)式に代入してそれぞ
【数86】 となる。したがって一枚目の鏡による反射光線の方向は
(9−7)及び(1−1)式より
【数87】 となる。さらに二枚目の鏡による反射光線の方向は(9
−8)及び(9−9)式より
【数88】 となる。一枚目の鏡による反射光線は方向がlV1, ζ
反射点RV1, ζを通るから、(9−9)及び(9−6)
式から
【数89】 LV1, ζ:x=sinζk,y=−cosζk+d ,z=(cosζ−1)d…(9− 11) となる。二枚目の鏡における反射点はMV2, ζとlV1, ζ
の交点だから(9−5)及び(9−11)式から
【数90】 RV2, ζ(2sinζd,(1−2cosζ)d,(cosζ−1)d) …(9−12 ) となる。
【0037】2−10 ビーム位置検出量からの回転角
度誤差の算出 水平方向の平行二面鏡による反射ビーム位置のポジショ
ンセンサPSHによる検出量をそれぞれXH,YHとし,
鉛直方向の平行二面鏡による反射ビーム位置のポジショ
ンセンサPSVによる検出量をそれぞれXV,YVとす
る。今、平行二面鏡が単独回転誤差を生じた場合の反射
ビーム位置のポジションセンサによる検出量を求める。
【0038】水平方向の平行二面鏡がピッチ角ξを生じ
た時,反射ビーム位置の検出量は(2−13)及び(3
−12)式より
【数91】XH ξ=0…(10−1a) YH ξ=−2sinξd…(10−1b) となり,ヨー角ηを生じた時の反射ビーム位置の検出量
は(2−13)及び(4−12)式より
【数92】 XH η=2(cosη+sinη−1)d…(10−2a) YH η=0 …(10−2b) となり,ロール角ζを生じた時の反射ビーム位置の検出
量は(2−13)及び(5−12)式より
【数93】XH ζ=2(cosζ−1)d…(10−3a) YH ζ=2sinζd…(10−3b) となる。
【0039】また鉛直方向の平行二面鏡がピッチ角ξを
生じた時,反射ビーム位置の検出量は(6−13)及び
(7−12)式より
【数94】XV ξ=0…(10−4a) YV ξ=−2(cosξ+sinξ−1)d…(10−4b) となり,ヨー角ηを生じた時の反射ビーム位置の検出量
は(6−13)及び(8−12)式より
【数95】XV η=2sinηd …(10−5a) YV η=0 …(10−5b) となり,ロール角ζを生じた時の反射ビーム位置の検出
量は(6−13)及び(9−12)式より
【数96】XV ζ=2sinζd…(10−6a) YV ζ=−2(cosζ−1)d…(10−6b) となる。
【0040】次に複合回転誤差によるビーム位置検出量
を求める。ピッチ角ξ,ヨー角η,ロール角ζの回転角
誤差を同時に生じた場合、水平方向の平行二面鏡による
反射ビームの検出位置におけるx座標値は、(10−1
a)及び(10−2a)及び(10−3a)を加えること
によって,
【数97】 XHT=2(cosη+sinη+cosζ−2)d…(10−7) と求まり,同じくY座標位置は,(10−1b)及び
(10−2b)及び(10−3b)を加えることによって
【数98】 YHT=2(−sinξ+sinζ)d…(10−8) と求まる。
【0041】またピッチ角ξ,ヨー角η,ロール角ζの
回転角誤差を同時に生じた場合、鉛直方向の平行二面鏡
による反射ビームの検出位置におけるX座標値は、(1
0−4a)及び(10−5a)及び(10−6a)を加え
ることによって
【数99】 XVT=2(sinη+sinζ)d…(10−9) と求まり,同じくY座標位置は(10−4B)及び(1
0−5B)及び(10−6B)を加えることによって
【数100】 YVT=−2(cosξ+sinξ+cosζ−2)d…(10−10) と求まる。
【0042】ここで(10−7)〜(10−9)式を書
き直して
【数101】 cosη+sinη+cosζ=XHT/(2d)+2…(10−11) −sinξ+sinζ=YHT/(2d)…(10−12) sinη+sinζ=XVT/(2d)…(10−13) cosξ+sinξ+cosζ=−YVT/(2d)+2…(10−14) とする。(10−11)式と(10−14)式の差をと
ってcosζを消去すると
【数102】 −(sinξ+cosξ)+(sinη+cosη)=(XHT+YVT)/(2d)…(10 −15) となる。また(10−13)−(10−12)によって
sinζを消去すると
【数103】 sinξ+sinη=(XVT−YHT)/(2d)…(10−16) となる。
【0043】回転角度誤差は通常十分小さいので、θが
小さいときのsinθ≒θ,cosθ≒1という近似式を用い
ると、(10−12)及び(10−13)式と(10−
15)及び(10−16)式はそれぞれ
【数104】 −ξ+ζ=YHT/(2d)…(10−17) η+ζ=XVT/(2d)…(10−18) −ξ+η=(XHT+YVT)/(2d)…(10−19) ξ+η=(XVT−YHT)/(2d)…(10−20) となる。(10−19)及び(10−20)式からξと
ηを求め、それらを(10−17)または(10−1
8)式に代入してζを求めると
【数105】 ξ=(1/4d)(−XHT−YHT+XVT−YVT)…(10−21) η=(1/4d)(XHT−YHT+XVT+YVT) …(10−22) ζ=(1/4d)(−XHT+YHT+XVT−YVT)…(10−23) となる。
【0044】次にコーナーキューブミラーCの反射光の
ポジションセンサPS1上での位置ずれを求めることに
よって直動体2の並進位置誤差を求めることができる。 (真直度測定光学系)図1及び図2に示す計測装置にお
いて、入射レーザービームはビームスプリッタBS1
よって透過光と反射光に分割される。BS1による反射
光は、直進テーブル上に固定されたコーナーキューブ鏡
CCMに入射し、CCMに反射されて入射光と平行に戻
り、ポジションセンサーPS1によって検出される。C
CMによる反射光は常にCCMの頂点に対称な位置で反
射され、直進テーブルが水平及び鉛直方向の並進誤差を
生じるとその位置はPS1によって2倍の感度で検出さ
れる。すなわち、
【数106】DX=2DxY=2Dy …(11−1) の関係がある。ここでDX及びDYはそれぞれPS1の検
出値、Dx及びDyはそれぞれ直進テーブルの水平及び鉛
直並進誤差である。この時テーブルが回転角度誤差を生
じても、コーナーキューブ鏡の性質から並進誤差の測定
値に影響を与えない。
【0045】BS1を透過したビームは、さらにBS2
よって反射ビームと透過ビームに分割される。BS2
よる反射ビームは、水平方向の平行二面鏡を構成してい
るMH 1及びMH2によって順次反射され、ポジションセン
サーPS2に到達する。BS2を透過したビームは、
3,M4によって反射されて光軸(z軸)に平行にされ
た後、鉛直方向の平行二面鏡を構成しているMV1及びM
V2によって順次反射され、ポジションセンサーPS3
到達する。PS2及びPS3の検出出力からは(10−2
1)〜(10−23)式によって、ピッチング、ヨーイ
ング、ローリングの回転角度誤差三成分が求まるのは既
に述べたとおりである。
【0046】以上の説明では入射角が45°をなし、水
平及び鉛直方向に向いた二組の平行二面鏡からの反射光
ビームの位置から、直進テーブルの回転角度誤差である
ピッチング、ヨーイング、ローリングを求めることがで
きることを示し、また、コーナーキューブ鏡によって並
進誤差の水平及び鉛直成分を測定する従来の方法を組み
込むことによって、直進テーブルの真直度である並進誤
差二成分と回転角度誤差三成分を求める方法を説明し
た。
【0047】さらに図1、2の光学系において直進テー
ブルの外に、コーナーキューブ鏡や平行二面鏡を挟むよ
うにルーフプリズムまたは直角二面鏡を固定し、多重反
射系にすることによって高感度化が実現する。さらにポ
ジションセンサにおいては、四分割フォトダイオ−ドの
ようなセンサーを用いることによっても高感度化が可能
となる。また図1、2の光学系においてはPS1と、P
2及びPS3がそれぞれ反対側に設置されており、測定
の際に不便であったり、測定装置のコンパクトさが失わ
れる時には、一方の端にルーフプリズムまたは直角二面
鏡を一つ多く固定することによって、ポジションセンサ
を一方の側に集めることができる。
【0048】図6及び図7はこの発明の他の実施例に係
るミラーと光線の関係を示すもので、図6に示す水平平
行2面鏡の場合は1枚目の反射鏡面M’H2,0の方向は
【数107】 2枚目の反射鏡面M’H1,0の方向は
【数108】 であらわされる。
【0049】図7に示す鉛直平行2面鏡の場合は1枚目
の反対鏡面M’H2,0の方向は
【数109】 2枚目の反射鏡面M’V1,0の方向は
【数110】 であらわされる。
【0050】
【発明の効果】本発明によると、レーザービームと互い
に直交した二組の平行二面鏡を用いて、直進テーブルの
回転角度誤差であるピッチング、ヨーイング、ローリン
グの三成分を一つの方法で同時に計測できる。
【0051】
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の直動体の直面運動・回転角度誤差の
計測装置の平面構成説明図。
【図2】この発明の直動体の直面運動・回転角度誤差の
計測装置の正面構成説明図。
【図3】反射鏡面の方向を示す説明図。
【図4】回転角度誤差の計測原理を示す説明図。
【図5】回転角度誤差の計測原理を示す説明図。
【図6】回転角度誤差の計測原理を示す説明図。
【図7】回転角度誤差の計測原理を示す説明図。
【符号の説明】
1 直線運動・回転角度の誤差の計測装置 2 直動体 3 水平平行2面鏡 4 鉛直平行2面鏡 5 光源 M12 反射鏡 M21 反射鏡 M22 反射鏡 CCM コーナーキューブミラー BS1 半透鏡 BS2 半透鏡

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 互いに距離(√2)dだけ離れ反射面が
    対面した状態で水平面内に位置する2枚の反射鏡からな
    る水平平行2面鏡と、互いに距離(√2)dだけ離れ反
    射面が対面した状態で鉛直面内に位置する2枚の反射鏡
    からなる鉛直平行2面鏡とを前記水平平行2面鏡の向きを
    反射面の裏側に立てた法線の方向がそれぞれ 【数1】mH1=(−1/(√2),0,1/(√
    2))、mH2=(1/(√2),0,1/(√2))ま
    たは m’H1(1/(√2),0,−1/(√2)、m’
    H2(−1/(√2),0,−1/(√2)) となるようにし、前記鉛直平行2面鏡の向きを反射面の
    裏側に立てた法線の方向がそれぞれ 【数2】mV1=(0,1/(√2),−1/(√
    2))、mV2=(0,−1/(√2),1/(√2))
    または m’V1=(0,1/(√2),1/(√2))、m’V2
    =(0,−1/(√2),−1/(√2)) となるようにし、かつレーザービームを発生する光源
    と、レーザービームを2分割する半透鏡と、前記レーザ
    ービームの方向を変える光路変更反射鏡と、前記水平平
    行2面鏡及び鉛直平行2面鏡からの反射光の位置を検出
    するポジションセンサとを前記直動体の外の固定位置に
    備えることを特徴とする直動体の真直度計測装置。
  2. 【請求項2】 コーナーキューブ反射鏡と、互いに距離
    (√2)dだけ離れ反射面が対面した状態で水平面内に
    位置する2枚の反射鏡からなる水平平行2面鏡と、互い
    に距離(√2)dだけ離れ反射面が対面した状態で鉛直
    面内に位置する2枚の反射鏡からなる鉛直平行2面鏡と
    を直動体上に設置し、前記水平平行2面鏡の向きを反射
    面の裏側に立てた法線の方向がそれぞれ 【数3】mH1=(−1/(√2),0,1/(√
    2))、mH2=(1/(√2),0,1/(√2))ま
    たはm’H1(1/(√2),0,−1/(√2))、
    m’H2(−1/(√2),0,1/(√2))となるよ
    うにし、前記鉛直平行2面鏡の向きを反射面の裏側に立
    てた法線の方向がそれぞれ 【数4】mV1=(0,1/(√2),−1/(√
    2))、mV2=(0,−1/(√2),1/(√2))
    またはm’V1(0,1/(√2),1/(√2))、
    m’V2=(0,−1/(√2),−1/(√2))とな
    るようにし、かつレーザービームを発生する光源と、レ
    ーザービームを2分割する半透鏡と、前記レーザービー
    ムの方向を変える光路変更反射鏡と、前記コーナーキュ
    ーブ反射鏡、水平平行2面鏡及び鉛直平行2面鏡からの
    反射光の位置を検出するポジションセンサとを前記直動
    体の外の固定位置に備えることを特徴とする直動体の真
    直度計測装置。
JP2000176973A 2000-06-13 2000-06-13 直動体の真直度計測装置 Pending JP2001356011A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000176973A JP2001356011A (ja) 2000-06-13 2000-06-13 直動体の真直度計測装置
US09/817,903 US6559955B2 (en) 2000-06-13 2001-03-26 Straightness measuring apparatus for moving stage

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000176973A JP2001356011A (ja) 2000-06-13 2000-06-13 直動体の真直度計測装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001356011A true JP2001356011A (ja) 2001-12-26

Family

ID=18678627

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000176973A Pending JP2001356011A (ja) 2000-06-13 2000-06-13 直動体の真直度計測装置

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6559955B2 (ja)
JP (1) JP2001356011A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007327754A (ja) * 2006-06-06 2007-12-20 Okamoto Machine Tool Works Ltd 被加工物の真直度測定方法およびワークの平面研削方法

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI398877B (zh) * 2009-04-08 2013-06-11 Univ Nat Formosa Straightness error measurement device
KR101019508B1 (ko) * 2009-05-13 2011-03-07 경북대학교 산학협력단 회전구동축의 준정적 오차 측정장치
KR101206061B1 (ko) * 2011-06-10 2012-11-28 광주과학기술원 리니어 스테이지의 운동 오차 측정 장치 및 방법
CN105841638B (zh) * 2016-05-13 2019-02-12 深圳市中图仪器股份有限公司 一种用于激光干涉仪测量导轨直线度的光学系统
US11004253B2 (en) * 2019-02-21 2021-05-11 Electronic Arts Inc. Systems and methods for texture-space ray tracing of transparent and translucent objects
CN114485392B (zh) * 2021-12-31 2023-07-14 航天东方红卫星有限公司 基于激光跟踪仪的航天器大尺寸机械基准建立方法和系统

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61235812A (ja) * 1985-04-11 1986-10-21 Tokyo Electric Co Ltd 光走査装置
US5029023A (en) * 1989-09-29 1991-07-02 Regents Of The University Of California Laser-amplified motion detector and method
JP3120885B2 (ja) * 1991-01-22 2000-12-25 旭光学工業株式会社 鏡面の測定装置
US5418611A (en) * 1992-03-25 1995-05-23 Huang; Peisen Multi-degree-of-freedom geometric error measurement system
EP0700269B1 (en) * 1993-04-22 2002-12-11 Image Guided Technologies, Inc. System for locating relative positions of objects
NO302055B1 (no) * 1993-05-24 1998-01-12 Metronor As Fremgangsmåte og system for geometrimåling
US5408318A (en) * 1993-08-02 1995-04-18 Nearfield Systems Incorporated Wide range straightness measuring stem using a polarized multiplexed interferometer and centered shift measurement of beam polarization components
JP3302139B2 (ja) * 1993-10-27 2002-07-15 キヤノン株式会社 移動体の直進精度測定装置
DE59609158D1 (de) * 1995-06-30 2002-06-06 Siemens Ag Optischer abstandssensor
US6049377A (en) * 1996-08-16 2000-04-11 Cam C. Lau Five-axis/six-axis laser measuring system

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007327754A (ja) * 2006-06-06 2007-12-20 Okamoto Machine Tool Works Ltd 被加工物の真直度測定方法およびワークの平面研削方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20020054298A1 (en) 2002-05-09
US6559955B2 (en) 2003-05-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH09257437A (ja) 物体表面の形状検出方法
JPH0363001B2 (ja)
Ren et al. A three-dimensional small angle measurement system based on autocollimation method
CN115307550B (zh) 可校准跟踪测量参数的相对位移测量跟踪方法与装置
CN110702218B (zh) 一种激光光束指向测量装置和方法
CN108731593B (zh) 一种前后双目的位置姿态光学测量结构与方法
JP2001356011A (ja) 直動体の真直度計測装置
US5481361A (en) Method of and device for measuring position coordinates
JP5487920B2 (ja) 光学式3次元形状計測装置及び光学式3次元形状計測方法
TWI232923B (en) Optical real-time measurement method and system with single-axis, 6 degrees of freedom
CN114719787B (zh) 一种基于平行光路的多自由度检测装置
CN114719753B (zh) 运动承载导轨的六自由度误差检测系统
CN109341600A (zh) 一种三轴光电自准直仪
JPH10267624A (ja) 三次元形状測定装置
JP2000258144A (ja) ウェーハの平坦度および厚み測定装置
JPH0654220B2 (ja) レ−ザスペツクル歪計測装置
JP2851053B2 (ja) 光ビーム入射角検出センサ
RU2186337C2 (ru) Устройство для измерения взаимного углового положения отражателей
TW200842320A (en) One optoelectronic 6 degree of freedom measurement system based multi-reflection principle
TW585990B (en) Measurement system with four degrees of freedom built through the optical grating diffraction principle
CN119533338B (zh) 一种基于透射式光栅的精密角度测量装置及其测量方法
JP2591143B2 (ja) 三次元形状測定装置
JPH05172516A (ja) 移動体の位置・姿勢自動計測装置および自動計測方法
JPH07122566B2 (ja) 光学式変位測定装置
CN121475117A (zh) 一种基于相敏cpsdoct的高分辨率角偏差测量方法及装置