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JP2001351340A - 検証しない初期化時の光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びテスト装置 - Google Patents

検証しない初期化時の光ディスクの欠陥管理領域情報の確認方法及びテスト装置

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Publication number
JP2001351340A
JP2001351340A JP2001106368A JP2001106368A JP2001351340A JP 2001351340 A JP2001351340 A JP 2001351340A JP 2001106368 A JP2001106368 A JP 2001106368A JP 2001106368 A JP2001106368 A JP 2001106368A JP 2001351340 A JP2001351340 A JP 2001351340A
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dma
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pdl
test
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JP2001106368A
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Jung-Wan Ko
禎完 高
Hyun-Kwon Chung
鉉権 鄭
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Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
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    • G11B20/10—Digital recording or reproducing
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    • G11B20/1883—Methods for assignment of alternate areas for defective areas
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
    • G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
    • G11B19/04—Arrangements for preventing, inhibiting, or warning against double recording on the same blank or against other recording or reproducing malfunctions
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    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B27/00—Editing; Indexing; Addressing; Timing or synchronising; Monitoring; Measuring tape travel
    • G11B27/36—Monitoring, i.e. supervising the progress of recording or reproducing
    • G—PHYSICS
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    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B2220/00—Record carriers by type
    • G11B2220/20—Disc-shaped record carriers

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 検証しない初期化時の光ディスクのDMA情報
を確認する方法及びこれを行うためのテスト装置を提供
する。 【解決手段】 何のデータも記録されていない空テスト
ディスク上に検証しない初期化を行った後に生成される
欠陥管理情報をテスト情報として生成する段階及び、検
証しない初期化についての基準テスト情報を使用して前
記テスト情報を確認してテスト結果を提供する段階を含
む。したがって、空テストディスクを使用して、記録及
び再生装置が検証しない初期化後に生成されたDMA情報
をうまく解読し処理しているかどうかを容易に確認でき
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光ディスク記録及び
再生分野に係り、特に検証しない初期化時の記録あるい
は再生できる光ディスクの欠陥管理領域情報を確認する
方法及びこれを行うためのテスト装置に関する。
【０００２】＜係る出願との交差参照＞本発明はここで
参照として統合されて開示された、韓国特許庁に２００
０年８月８日出願された韓国出願番号００-１８５０１
及び米国特許庁に２０００年４月１０日出願された仮出
願番号６０/１９５,４６８の利得を請求する。
【０００３】
【従来の技術】DVD-RAM(Digital Versatile Disc Rando
m Access Memory)ディスクはディスク上の欠陥を正常的
な記録領域と取り替えられる機能を有しているが、この
ような機能を欠陥管理といい、欠陥管理に必要な情報を
ディスク上の欠陥管理領域(Defect Management Area:DM
A)という所に貯蔵している。DMAはディスク上のリード
イン(Lead-in)領域とリードアウト(Lead-out)領域に各
々２箇所ずつ４つの情報が反復記録されている。DMA情
報はまたディスク定義構造(Disc Defintion Structure:
DDS)、１次欠陥リスト(Primary Defect List:PDL)及び
２次欠陥リスト(Secondary Defect List:SDL)に区分さ
れる。
【０００４】このようなDMA情報には、ディスクを初期
化しながら検証したりまたはディスクを使用する途中に
見つかった欠陥に対する情報だけでなく余裕空間に関す
る情報と各地域別開始論理セクター番号に対する重要な
情報を含んでいる。DMAに含まれている情報は直ちに読
出して使用する場合もあるが、ディスク上の欠陥の位置
と個数により変化する情報も含まれており、変化する情
報としてDMAに登録されている欠陥情報に基づいて与え
られたアルゴリズムによる複雑な計算を通じてのみ得ら
れうるものもある。各地域の開始論理セクター番号また
は最初の論理セクター番号の位置情報がこれに該当す
る。
【０００５】このようなDMA情報はデータの物理的な記
録位置と密接な関係を有していて、ある一記録及び再生
装置でDMA情報を生成または更新して記録したディスク
を他の記録及び再生装置でも使用できる、すなわち、光
ディスクのように移動できる記録媒体はDMA情報が間違
った場合に記録及び再生装置間の互換性の問題が生じ
る。このような問題を解決するために記録及び再生装置
がディスクからDMA情報を正確に解読しディスク上にDMA
情報を正確に記録するかどうかを確認する手段と方法が
必要である。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明の
目的は、光ディスク記録及び再生装置を通じて検証しな
い初期化時にDMA情報が正確に生成されるかどうかを確
認するための方法を提供することにある。
【０００７】本発明の他の目的は、多数回の反復記録あ
るいは再生が可能なDVD-RAM記録及び再生装置を通じて
検証しない初期化時にDMA情報が正確に生成されるかど
うかを確認するための方法を提供することにある。
【０００８】本発明のまた他の目的は、光ディスク記録
及び再生装置を通じて検証しない初期化時にDMA情報が
正確に生成されるかどうかを確認するためのテスト装置
を提供することにある。本発明の追加的な目的及び長所
は次の説明で一部説明されるが、一部は前記説明から明
らかになったり、あるいは本発明の実施により理解され
る。
【０００９】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、DMA情報を有する光ディスクを記録あるいは再生
する記録及び再生装置でDMA情報がうまく生成されるか
どうかを確認する方法が提供される。前記方法は、何の
データも記録されていない空テストディスクを使用して
検証しない初期化を行った後に生成された欠陥管理情報
をテスト情報として生成する段階及び、テスト情報を検
証しない初期化のための基準テスト情報を用い確認して
テスト結果を提供する段階を含む。
【００１０】前記の目的を達成するために、記録あるい
は再生が可能でDMA情報を有する光ディスクを記録ある
いは再生する記録及び再生装置でDMA情報がうまく生成
されるかどうかをテストする装置がまた提供される。前
記装置は、何のデータも記録されていない空テストディ
スクを使用する記録及び再生装置で検証しない初期化を
行った後、テストディスクから生成されたDMA情報をテ
スト情報として生成する改造ドライブ装置及びテスト情
報を検証しない初期化のための基準テスト情報を用いて
確認してテスト結果を確認する確認器を含む。
【００１１】
【発明の実施の形態】本発明の望ましい実施形態が添付
した図面に示された例を参照して説明されるが、同じ参
照符号は同じ要素を示す。前記図面を参照することによ
って本発明を説明するために前記実施形態が後述され
る。
【００１２】本発明で使われる光ディスクは、４.７GB
の容量を有する相変化記録方式のDVD-RAMに関する。DVD
-RAMは、再記録できるディスクバージョン２.０のため
のDVD規格書(DVD specification for Rewritable disc
version２.０)に規定されているディスクをいう。
【００１３】図１は、本発明に係る検証しない初期化時
の光ディスクのDMA情報の確認方法を行うテスト装置の
ブロック図である。テストタイプディスク(以下C-１デ
ィスクという)１１は空ディスク上に故意的に所定位置
に周知の物理的欠陥だけを有するディスクであるが、本
発明では何のデータも記録されていない単純な空テスト
ディスクと取扱われる恐れがある。すなわち、前記C-１
ディスク上に“情報”が記録されず物理的欠陥だけ存在
するかぎり、前記C-１ディスクは空ディスクと見なされ
うる。テストするドライブ１１０はC-１ディスク１１を
検証しない初期化を行ってDMA情報を生成し、C-１ディ
スク１１に生成されたDMA情報を記録する。テストする
ドライブ１１０から提供される検証せずに初期化された
C-１ディスク１２をDMA情報を読出しうる改造ドライブ
１２０に装着する。
【００１４】改造ドライブ１２０は製作業者により製作
されたテスト専用ドライブであって基準ドライブと称し
うる。この改造ドライブ１２０は、検証せずに初期化さ
れたC-１ディスク１２に記録されたDMA情報だけを読出
して、読出されたDMA情報をファイルシステム上で検証
せずに初期化されたC-１ディスク１２のためのDMAミラ
ーファイル１３で生成する。テストするドライブ１１０
は一例としてDVD-RAM記録及び再生装置であり、DMA情報
をミラーファイルで生成できない。
【００１５】ここで、DVD-RAM記録及び再生装置の記録
及び再生構造をファイルシステム階層、ホストコンピュ
ータと記録及び再生装置を連結するホストインターフェ
ース階層、物理的信号を記録あるいは再生する物理的な
ドライブ階層及び記録媒体階層のように区分する時、記
録媒体と物理的なドライブによりディスクの物理的なセ
クター番号が割当てられ、ホストインターフェースとフ
ァイルシステムによりディスクの論理的なセクター番号
が割当てられるためにDMA情報に関する記録及び解読は
物理的なドライブ階層以下でなされる。
【００１６】一般にコンピュータを通じて記録媒体上に
データを記録する場合には、ファイルシステムを通じて
論理的なセクター番号を用いて記録する位置を決定す
る。このように論理的なセクター番号で決定されたファ
イルの位置は論理的な相対位置情報であり、ドライブで
記録動作を行う時は欠陥などディスクの物理的な状況に
合うように実際のデータが記録されるべき物理的なセク
ター番号に変換する過程が必要である。しかし、実際の
ファイルシステムで使用者データを記録する時は論理的
なセクター番号だけを使用して使用者データを記録及び
再生装置に伝送し、記録及び再生装置は論理的なセクタ
ー番号を実際のデータが記録されるべき物理的なセクタ
ー番号に変える過程で欠陥管理情報を使用する。したが
って、一つの記録及び再生装置で欠陥管理情報を誤判読
したり誤記録した場合には他の記録及び再生装置で正し
いデータを読出したり書込めない問題が生じる。
【００１７】また、DVD-RAMディスクの場合、あらゆる
欠陥管理はドライブで処理するようになっているため
に、ファイルシステムやホストインターフェースはこの
ような物理的な欠陥管理内容を知らなくてもファイルを
記録あるいは再生できて、大部分のドライブがDMAに記
録または再生できないようになっているだけでなくこの
DMAに記録あるいは再生するための標準命令も備わって
いない。しかし、このようなDMAの情報がうまく形成さ
れているかどうかを判断するためには、いかなる形態で
もこれを分析できるコンピュータでデータを読出しうる
状況に作らねばならなく、標準テストディスクを作るた
めには該当DMAに適切な情報を記録せねばならない。こ
れを効果的に行うためのものが、DMAに情報を記録ある
いは再生できるように改造した改造ドライブである。こ
のような改造ドライブの設計または改造は該当分野の熟
練した技術者によって容易になされうるために本発明で
は説明を省略する。
【００１８】確認器１３０は、テストするドライブ１１
０により生成されたDMA情報を有する前記ディスクから
前記改造ドライブ１２０により生成された、検証せずに
初期化されたC-１ディスク１２のためのDMAミラーファ
イル１３と、予め貯蔵されていたりまたは図面には示さ
れなかったが、外部(DMAミラーファイルを生成するコン
トローラ)から提供されるC-１ディスク１１のための基
準DMAミラーファイルを比較して検証しない初期化後に
前記テストするドライブ１１０によりDMA情報がうまく
生成されたかどうかについてのテスト結果を製作業者あ
るいは使用者に知らせる。ここで、DMAミラーファイル
をテスト情報と称しうり、基準DMAミラーファイルをあ
らかじめ決まった基準テスト情報と称しうる。また、基
準DMAミラーファイルは、ドライブが正常的に全ての動
作を行った場合に作られうるエラーを全く有しない理想
的な条件のデータを有するDMA情報ファイルといえる。
【００１９】本発明に係る確認方法は、何のデータも記
録されていない空状態のテストディスクを使用して検証
しない初期化を行った後に生成されたDMA情報からDMAミ
ラーファイルをテスト情報として生成する段階及び、テ
スト情報を検証しない初期化のための基準テスト情報を
用い確認してテスト結果を提供する段階を含む。前記DM
Aミラーファイルは、あらゆるDMA情報だけでなくテスト
目的のための特定の情報を含む。前記改造ドライブ１２
０はディスクのDMA領域にDMAミラーファイル内のDMA情
報を記録でき、前記DMAミラーファイルに前記ディスク
のDMA情報を貯蔵できる。検証しない初期化時に確認す
るためのDMA情報のテスト項目については図２ないし図
５を関連づけて説明する。
【００２０】図２に示したように、DMA構造を確認する
ためのチェック項目は、DMA１ないしDMA４のエラー状
態、DDS１ないしDDS４及びSDL１ないしSDL４内のDDS/PD
L更新カウンター、SDL１ないしSDL４内のSDL更新カウン
ター、及びDMA１ないしDMA４の内容である。
【００２１】DMAエラー状態項目はリードイン領域とリ
ードアウト領域に各々２箇所ずつ存在するDMAにエラー
が存在するかどうかをチェックするものであって、４箇
所のDMA１、DMA２、DMA３、DMA４に訂正されていないエ
ラーがあってはいけないし、もしいずれか一つのDMAに
も訂正されていないエラーが見つかれればこの確認は失
敗したものであって、新しいテストディスクを使用して
テストを再実行せねばならない。
【００２２】検証しない初期化時、DDS/PDL、SDL更新カ
ウンター項目を確認するために４箇所のDDS１、DDS２、
DDS３、DDS４内のDDS/PDL更新カウンター値と、４箇所
のSDL１、SDL２、SDL３、SDL４内のDDS/PDL更新カウン
ター値を示すMの値と、テスト前後の前記DDS/PDL更新カ
ウンターでの差を示すDDS/PDL更新カウンターの増分を
示すkの値が全て“０”であるかどうかをチェックし、D
DS/PDL更新カウンターの８個の値 が全て同じであるか
どうかをチェックする。ここで、DDS/PDL更新カウンタ
ー値はDDS/PDLブロックのための更新と再記入動作の総
回数を示し、初期化の開始時には“０”とセットされね
ばならなく、DDS/PDLブロックが更新されたり再記入さ
れる時に１ずつ増分されねばならなく、DDS/PDLとSDLブ
ロックは初期化が終れば全て同じ更新カウンター値を有
せねばならない。同じく、４箇所のSDL１、SDL２、SDL
３、SDL４内のSDL更新カウンター値を示すNの値と、前
記テスト前後の前記SDL更新カウンターでの差を示すSDL
更新カウンターの増分を示すkの値が全て“０”である
かどうかとSDL更新カウンターの４個の値が全て同じで
あるかどうかをチェックする。
【００２３】しかし、検証しない初期化の場合には、た
だ一回DMA生成作業だけが生じるために修正する過程が
含まれなくて更新カウンター値は最初のDMAを記録する
時に設定する値の“０”と設定されねばならない。ま
た、前記DMA内容を確認するためには４箇所のDMA１、DA
M２、DMA３、DMA４内容が全て同一であるかどうかをチ
ェックする。
【００２４】DMA内のDDS構造を確認するためのチェック
項目としては、図３に示したようにDDS識別子、ディス
ク検証フラグ、DDS/PDL更新カウンター、グループ数、
地域数、１次余裕空間の位置、最初の論理セクター番号
LSN０の位置、各地域の開始論理セクター番号位置など
がある。
【００２５】すなわち、DDS識別子が“０A０Ah”である
かどうかを確認し、１バイトのディスク検証フラグ中で
進行中であるかどうかを示すビット位置b７の値が“０
b”であるかどうかをチェックする。この時にビット位
置b７の値が“０b”であればフォーマットが終ったこと
を示し、“１b”であればフォーマットが進行中である
ことを示すので、もし“１b”であればフォーマットが
失敗したことを示す。また、ディスク検証フラグ中で予
備されているビット位置b６〜b２が全て“０b”である
かどうかをチェックし、使用者検証フラグを示すビット
位置b１の値が“０b”であるかどうかをチェックし、デ
ィスク製造業者検証フラグを示すビット位置b０の値が
“０b”であるかどうかをチェックする。
【００２６】相応するDDS/PDL更新カウンターを確認す
るためにDDS/PDL更新カウンター値を示すMの値とDDS/PD
Lカウンターの増分を示すkの値が全て“０”であるかど
うかをチェックし、グループの数が１つを示す“０００
１h”であるかどうかと地域数が３５つを示す“００２
３h”であるかどうかをチェックする。
【００２７】また、１次余裕空間の最初のセクター番号
が“０３１０００h”であるかどうかと１次余裕空間の
最後のセクターのセクター番号が“０３４１FFh”であ
るかどうかをチェックする。最初の論理セクター番号LS
N０の位置と各地域の開始論理セクター番号、すなわ
ち、二番目の地域(Zone１)から３５番目の地域(Zone３
４)の開始論理セクター番号が、検証しない初期化の場
合には何の欠陥もないケースに該当するあらかじめ決ま
った論理セクター番号であるかどうかをチェックする。
【００２８】DDS構造の残りの予備されている領域(バイ
ト位置３９６から２０４７)が全て“００h”であるかど
うかを確認する。付加的に、欠陥管理のためのディスク
上の余裕空間は１次余裕空間、２次余裕空間及び追加余
裕空間に区分し下記のように定義する。
【００２９】１次余裕空間は、欠陥の置換のためにディ
スクを初期化する時に一番最初に配置する余裕空間であ
って、飛越し置換にまず使われ、使われて残る余裕空間
は線形置換のための２次余裕空間として使われうる。２
次余裕空間は、ディスクを使用する途中に発生する欠陥
を線形置換するための空間であって、初期化時に１次余
裕空間中で飛越し置換により使われて残る余裕空間また
は別途に割当てた余裕空間を意味する。追加余裕空間
は、ディスクを使用する途中に発生する欠陥を線形置換
するための余裕空間であって、初期化が終わった後に追
加で使用中に割当てた余裕空間を意味する。
【００３０】初期化が終わった後、ディスクの使用中に
線形置換のための余裕空間が足りない場合に線形置換の
ための追加余裕空間をファイルシステム上の論理的ボリ
ューム空間の一番後ろから所定大きさずつ先に順次に余
裕空間を増加させながら割当て、線形置換時には論理的
ボリューム空間の一番後ろから逆順に使用している。DM
A内のPDL構造の確認のためのチェック項目は図４に示し
たようにPDL識別子、PDL内の項目数、PDL項目の構成状
態、未使用領域である。
【００３１】PDL識別子が“０００１h”であるかどうか
をチェックし、検証しない初期化時にはPDL内の項目の
数は“０”の値を有し、PDL構成状態には情報が存在せ
ねばならないために、PDL項目タイプとPDL項目が記録さ
れるべき領域には未使用領域を示す“FFh”になってい
るかどうかをチェックする。
【００３２】DMA内のSDL構造の確認のためのチェック項
目は図５に示したように、SDL識別子、SDL更新カウンタ
ー、２次余裕空間(SSA)の開始セクター番号、論理セク
ターの総個数、DDS/PDL更新カウンター、余裕空間フル
フラグ、前記SDL内の項目の数、前記SDL項目の構成状
態、未使用領域、予備領域である。
【００３３】すなわち、SDL識別子が“０００２h”であ
るかどうかをチェックし、相応するSDL更新カウンター
値を示すN値とSDL更新カウンターの増分値を示すkの値
が全て“０”であるかどうかをチェックする。相応する
DDS/PDL更新カウンター値を示すM値とSDL更新カウンタ
ーの増分値を示すkの値が全て“０”であるかどうかを
チェックする。
【００３４】検証しない初期化時に前記SSAの開始論理
セクター番号と論理セクターの総個数情報は、初期化時
に使用者が指定した２次余裕空間の大きさに該当する開
始論理セクター番号とこれに相応するように設定された
論理セクターの総個数を有せねばならなく、余裕空間フ
ルフラグ、SDL内の項目の数、SDL項目の状態を示すバイ
ト位置には前記SDL項目に対する情報が存在せねばなら
ないので余裕空間フルフラグはフルでないことを示せね
ばならない。SDL内の項目数の値は“００h”でねばなら
ない。総使用されたSDL領域は周知のものであるので、
前記SDLでの項目数がチェックされる場合に前記SDLの未
使用領域の大きさが決定されうる。したがって、前記C-
１ディスクのミラーファイルの未使用領域の大きさが前
記SDLでの項目数に基づいて周知の前記SDLの未使用領域
の大きさと同一であるかどうかがチェックされ、また前
記未使用領域が“FFh”と設定されるかどうかもチェッ
クされる。また、あらゆる予備領域の期待値が“００
h”であるかどうかも確認される。
【００３５】図６は、光を放出する光源２２、前記光源
からの光をディスクD上に集中させるための焦点要素２
４、及び前記光源２２を制御する制御器２６を有するテ
ストするドライブ１１０を示す。前述された確認手順が
前記制御器２６の適切な動作を確認するために試みられ
る。
【００３６】
【発明の効果】前述したように、本発明は何のデータも
記録されていない空テストディスクを使用して記録及び
再生装置で検証しない初期化を行って生成されたDMA情
報をうまく解読し処理できるかどうかを容易に確認でき
る効果がある。
【００３７】わずか本発明のいくつかの実施形態を示し
て説明したが、本発明の原理及び真意、請求項で定義さ
れた範囲及びこれと均等なものからはずれずに前記実施
形態が変更されうることは当技術分野の熟練者であれば
理解するはずである。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明に係る検証しない初期化時の光ディス
クDMA情報の確認方法を行うテスト装置のブロック図で
ある。
【図２】 検証しない初期化時にDMA構造を確認するた
めのチェック項目を整理したテーブルである。
【図３】 検証しない初期化時にDDS構造を確認するた
めのチェック項目を整理したテーブルである。
【図４】 検証しない初期化時にPDL構造を確認するた
めのチェック項目を整理したテーブルである。
【図５】 検証しない初期化時にSDL構造を確認するた
めのチェック項目を整理したテーブルである。
【図６】 図１に示したテストされるドライブのブロッ
ク図である。
【符号の説明】 １１ テストディスク １２ 検証せずに初期化されたテストディスク １３ DMAミラーファイル １１０ テストするドライブ １２０ 改造ドライブ １３０ 確認器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ１１Ｂ 20/12 Ｇ１１Ｂ 20/12

Claims (62)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 欠陥管理領域(DMA)情報が、DMA情報を有
    する光ディスク上に/から情報を記録したり再生する記
    録及び再生装置で適切に生成されるかどうかを確認する
    方法において、 テスト情報として、何のデータも記録されていない空テ
    ストディスク上に検証しない初期化を行った後に生成さ
    れるDMAを生成する段階と、 検証しない初期化のための基準テスト情報を使用してテ
    スト情報を確認しテスト結果を提供する段階とを含むこ
    とを特徴とする方法。
  2. 【請求項２】 前記テスト情報はDMAミラーファイルで
    あることを特徴とする請求項１に記載の方法。
  3. 【請求項３】 前記生成する段階は、検証せずに初期化
    された前記テストディスク上のDMAからテスト情報を直
    接読出す段階を含むことを特徴とする請求項１に記載の
    方法。
  4. 【請求項４】 前記テスト結果をディスプレイする段階
    をさらに含むことを特徴とする請求項１に記載の方法。
  5. 【請求項５】 前記確認する段階は、前記テスト情報を
    形成する、DMA構造、ディスク定義構造(DDS)、１次欠陥
    リスト(PDL)構造、及び２次欠陥リスト(SDL)構造をチェ
    ックする段階、及びPDL項目及びSDL項目が存在している
    かどうかをチェックする段階を含むことを特徴とする請
    求項１に記載の方法。
  6. 【請求項６】 前記確認する段階は、 前記テスト情報のDMA構造を確認する段階と、 前記DMAでDDSを確認する段階と、 前記DMAでPDL構造を確認する段階と、 前記DMAでSDL構造を確認する段階とを含むことを特徴と
    する請求項１に記載の方法。
  7. 【請求項７】 前記DMA構造を確認する段階は、エラー
    状態、DDS/PDL及びSDL更新カウンター及びDMA内容をチ
    ェックする段階を含むことを特徴とする請求項６に記載
    の方法。
  8. 【請求項８】 前記エラー状態をチェックする段階は、
    前記テストディスク上で二つはリードイン領域に位置
    し、二つはリードアウト領域に位置する、前記テストデ
    ィスク上の４つの位置に記録された４つのDMA中でいず
    れか一つでもエラーが存在しているかどうかをチェック
    する段階を含み、 前記DDS/PDL更新カウンターをチェックする段階は、４
    つのDDS及び４つのSDL内のDDS/PDL更新カウンターの値
    及び検証しない再初期化を行う前後のDDS/PDL更新カウ
    ンターでの差を示す８つのDDS/PDL更新カウンターの増
    分値が全て“０”であるかどうかをチェックする段階、
    及び前記８つのDDS/PDL更新カウンターの値が同一であ
    るかどうかをチェックする段階を含み、 前記SDL更新カウンターをチェックする段階は、前記４
    つのSDLでの前記SDL更新カウンターの値及び検証しない
    再初期化を行う前後に前記SDL更新カウンターの差を示
    す４つのSDL更新カウンターの増分値が全て“０”であ
    るかどうかをチェックする段階、及び前記４つのSDL更
    新カウンターの値が同一であるかどうかをチェックする
    段階を含み、 前記DMAの内容をチェックする段階は、前記４つのDMAの
    内容が同一であるかどうかをチェックする段階とを含む
    ことを特徴とする請求項７に記載の方法。
  9. 【請求項９】 前記DDSの確認段階は、DDS識別子、ディ
    スク検証フラグ、DDS/PDL更新カウンター、グループ
    数、地域数、１次余裕空間の位置、最初の論理セクター
    番号の位置、各地域の開始論理セクター番号位置をチェ
    ックする段階を含むことを特徴とする請求項６に記載の
    方法。
  10. 【請求項１０】 前記DDS識別子のチェック段階は前記D
    DS識別子が所定の値であるかどうかをチェックする段階
    を含み、 前記ディスク検証フラグのチェック段階は、前記ディス
    ク検証フラグで進行中であるかどうかを示すビット値、
    使用者検証を示すビット値及びディスク製造業者検証を
    示すビット値が“０b”であるかどうかをチェックする
    段階を含み、 前記DDS/PDL更新カウンターのチェック段階は、DDS/PDL
    更新カウンター値及び検証しない再初期化を行う前後に
    前記DDS/PDL更新カウンターでの差を示す前記DDS/PDL更
    新カウンターの増分値が“０”であるかどうかをチェッ
    クする段階を含み、 前記グループ数のチェック段階はグループの数が所定の
    数であるかどうかをチェックする段階を含み、 前記地域数のチェック段階は地域の数が所定の数である
    かどうかをチェックする段階を含み、 前記１次余裕空間の位置をチェックする段階は前記１次
    余裕空間の最初及び最後のセクター番号が各々所定のセ
    クター番号であるかどうかをチェックする段階を含み、 前記最初の論理セクター番号のチェック段階は前記最初
    の論理セクター番号の位置が所定の論理セクター番号で
    あるかどうかをチェックする段階を含み、 前記開始論理セクター番号のチェック段階は各地域につ
    いての前記開始論理セクター番号が所定の論理セクター
    番号であるかどうかをチェックする段階とを含むことを
    特徴とする請求項９に記載の方法。
  11. 【請求項１１】 前記PDL構造の確認段階は、PDL識別
    子、PDL内の項目数、及びPDL項目の構成状態をチェック
    する段階を含むことを特徴とする請求項６に記載の方
    法。
  12. 【請求項１２】 前記PDL識別子のチェック段階は前記P
    DL識別子が所定の値であるかどうかをチェックする段階
    を含み、 前記項目の数をチェックする段階は前記PDLで項目の数
    が“０”に設定されたかどうかをチェックする段階を含
    み、 前記PDLの構成状態のチェック段階は前記PDL項目が存在
    しているかどうかをチェックする段階とを含むことを特
    徴とする請求項１１に記載の方法。
  13. 【請求項１３】 前記SDL構造の確認段階は、SDL識別
    子、SDL更新カウンター、２次余裕空間(SSA)の開始セク
    ター番号、論理セクターの総個数、DDS/PDL更新カウン
    ター、余裕空間フルフラグ、SDL内の項目数、SDL項目の
    構成状態、未使用領域、及び予備領域をチェックする段
    階を含むことを特徴とする請求項６に記載の方法。
  14. 【請求項１４】 前記SDL識別子のチェック段階は前記S
    DL識別子が所定の値であるかどうかをチェックする段階
    を含み、 前記SDL更新カウンターのチェック段階は、前記SDL更新
    カウンター値及び検証しない再初期化を行う前後に前記
    SDL更新カウンターの差を示すSDL更新カウンターの増分
    値が“０”であるかどうかをチェックする段階を含み、 前記DDS/PDL更新カウンターのチェック段階は、前記DDS
    /PDL更新カウンター及び検証しない再初期化を行う前後
    に前記DDS/PDL更新カウンターの差を示すDDS/PDL更新カ
    ウンターの増分値が“０”であるかどうかをチェックす
    る段階を含み、 前記SSAの開始セクター番号、論理セクターの総個数、
    前記余裕空間フルフラグ、前記SDLの項目数、及び前記S
    DL項目の構成状態のチェック段階は、前記SSAの開始セ
    クター番号及び論理セクターの総個数が初期化する間に
    指定された値で正しく設定されるかどうか、前記余裕空
    間フルフラグが充満しているかどうか、SDLでの項目の
    数が“００h”であるかどうか、及び前記SDL項目に情報
    が存在しているかどうかを各々チェックする段階を含
    み、 前記未使用領域及び予備領域のチェック段階は、前記SD
    Lの未使用領域の大きさ及び前記未使用領域が所定の値
    であるかどうか、及び前記予備領域が所定の値であるか
    どうかをチェックする段階とを含むことを特徴とする請
    求項１３に記載の方法。
  15. 【請求項１５】 前記記録及び再生装置はDVD-RAM(DVD-
    RAM:Digital versatile disc-random access memory)で
    あることを特徴とする請求項１に記載の方法。
  16. 【請求項１６】 前記基準テスト情報は基準DMAミラー
    ファイルであることを特徴とする請求項２に記載の方
    法。
  17. 【請求項１７】 前記基準DMAミラーファイルはエラー
    なしに理想的なデータを含むことを特徴とする請求項１
    ６に記載の方法。
  18. 【請求項１８】 前記４つのDMA中で一つでもエラーが
    存在しているかどうかをチェックする段階は、 前記４つのDMAに任意の回復できないエラーがあるかど
    うかをチェックする段階と、 任意の回復できないエラーが見つかった場合に確認が失
    敗したと決定する段階とを含むことを特徴とする請求項
    ８に記載の方法。
  19. 【請求項１９】 前記ディスク検証フラグで進行中であ
    るかどうかを示すビットがb７であり、使用者検証を示
    すビットがb１であり、ディスク製造業者検証を示すビ
    ットがb０であり、前記ディスク検証フラグのビットb６
    ないしb２は予備ビットであり、前記ディスク検証のチ
    ェック段階は予備されたビットの各値が“０b”である
    かどうかをチェックする段階をさらに含むことを特徴と
    する請求項１０に記載の方法。
  20. 【請求項２０】 前記PDL構造の確認段階は、前記PDLの
    未使用領域が所定の値であるかどうかをチェックする段
    階をさらに含むことを特徴とする請求項１２に記載の方
    法。
  21. 【請求項２１】 前記SDL構造の確認段階は、前記SDLの
    未使用領域が所定の値であるかどうかをチェックする段
    階をさらに含むことを特徴とする請求項１４に記載の方
    法。
  22. 【請求項２２】 DMA情報が、DMA情報を有する光ディス
    ク上に/から情報を記録したり再生する記録及び再生装
    置で適切に生成されるかどうかを確認する方法におい
    て、 検証しない初期化を行った後に生成される前記DMA情報
    からテスト情報を生成する段階と、 基準テスト情報を使用して前記テスト情報を確認するた
    めのテストを実行する段階とを含むことを特徴とする方
    法。
  23. 【請求項２３】 前記テスト情報はDMAミラーファイル
    であり、前記基準テスト情報は基準DMAミラーファイル
    であることを特徴とする請求項２２に記載の方法。
  24. 【請求項２４】 前記テストを実行する段階は、前記テ
    スト情報を形成するDMA構造、前記DMAのDDS、PDL構造及
    び前記DMAのSDL構造をチェックする段階を含むことを特
    徴とする請求項２２に記載の方法。
  25. 【請求項２５】 DMA情報を有する記録及び再生可能な
    光ディスク上に/から情報を記録したり再生する記録及
    び再生装置を、前記DMA情報が適切に生成されるかどう
    かを確認するためにテストするための装置において、 前記記録及び再生装置がテストディスクに対して検証し
    ない初期化を行った後に得られるテストディスクの生成
    されたDMA情報からテスト情報を生成する改造ドライブ
    装置と、 テスト結果を確認するために、前記テスト情報を前記検
    証しない初期化の所定のテスト情報と比較する確認器と
    を含む装置。
  26. 【請求項２６】 前記テスト情報はDMAミラーファイル
    であり、前記所定のテスト情報は基準DMAミラーファイ
    ルであることを特徴とする請求項２５に記載の装置。
  27. 【請求項２７】 前記改造ドライブ装置は、前記テスト
    ディスク上のDMA領域からテスト情報を読出し前記確認
    器に前記テスト情報を提供することを特徴とする請求項
    ２５に記載の装置。
  28. 【請求項２８】 前記テストディスクは、検証しない初
    期化を行う前に空ディスク上に周知の物理的欠陥が形成
    されたディスクであることを特徴とする請求項２５に記
    載の装置。
  29. 【請求項２９】 前記確認器は前記テスト情報を形成す
    る、DMAの構造、前記DMAのDDS、PDL構造及び前記DMAのS
    DL構造をチェックすることによって、前記テスト情報を
    前記所定のテスト情報と比較することを特徴とする請求
    項２５に記載の装置。
  30. 【請求項３０】 記録及び再生装置がDMA情報を適切に
    読出し処理するかどうかを確認する方法において、 所定の周知の物理的欠陥情報を含むテストディスク上に
    検証しない初期化を行ってテスト情報を生成する段階
    と、 前記テスト情報を基準テスト情報と比較して前記記録及
    び再生装置の確認を決定する段階とを含むことを特徴と
    する方法。
  31. 【請求項３１】 前記検証しない初期化の遂行段階は、 前記記録及び再生装置が前記テストディスク上に検証し
    ない初期化を行うようにしてDMA情報を有するディスク
    を生成する段階と、 基準ドライブを使用して前記ディスクから前記DMA情報
    だけを読出し、前記テスト情報としてDMAミラーファイ
    ルを生成する段階を含み、 前記基準テスト情報は基準DMAミラーファイルであるこ
    とを特徴とする請求項３０に記載の方法。
  32. 【請求項３２】 前記テスト情報を形成する、DMAの構
    造、前記DMAのDDS、PDL構造及び前記DMAのSDL構造をチ
    ェックする段階を含むことを特徴とする請求項３０に記
    載の方法。
  33. 【請求項３３】 記録及び再生装置が欠陥管理領域(DM
    A)情報を適切に読出し処理するかどうかを確認する方法
    において、 DMA情報を生成するために前記記録及び再生装置を使用
    して所定の周知の物理的欠陥を含むテストディスク上に
    再初期化のない検証を行う段階と、 前記生成されたDMA情報からテスト情報を生成する段階
    と、 前記テスト情報を基準テスト情報と比較して前記記録及
    び再生装置の確認を決定する段階とを含むことを特徴と
    する方法。
  34. 【請求項３４】 前記比較する段階は、前記テスト情報
    を形成するDMAの構造、前記DMAのDDS、PDL構造及び前記
    DMAのSDL構造をチェックする段階を含むことを特徴とす
    る請求項３３に記載の方法。
  35. 【請求項３５】 記録及び再生装置により適切に生成さ
    れたDMA情報において、 DMA情報を生成するために前記記録及び再生装置を使用
    してテストディスク上に再初期化のない検証を行う段階
    と、 前記生成されたDMA情報からテスト情報を生成する段階
    と、 前記テスト情報を基準テスト情報と比較して前記記録及
    び再生装置の確認を決定する段階とを使用することを特
    徴とするDMA情報。
  36. 【請求項３６】 前記DMA情報は前記DMAの構造、前記DM
    AのDDS、PDL構造及び前記DMAのSDL構造を含み、前記比
    較する段階は前記テスト情報を形成する、前記DMAの構
    造、前記DMAのDDS、PDL構造及び前記DMAのSDL構造をチ
    ェックする段階を含むことを特徴とする請求項３５に記
    載のDMA情報。
  37. 【請求項３７】 記録及び再生装置は、 DMA情報を生成するためにテストディスク上に再初期化
    のない検証を行う段階と、 前記生成されたDMA情報からテスト情報を生成する段階
    と、 前記テスト情報を基準テスト情報と比較して前記記録及
    び再生装置の確認を決定する段階とによって確認される
    ことを特徴とする記録及び再生装置。
  38. 【請求項３８】 前記テスト情報を比較する段階は、 前記テスト情報を形成する、前記DMAの構造、前記DMAの
    DDS、PDL構造及び前記DMAのSDL構造をチェックする段階
    を含むことを特徴とする請求項３７に記載の記録及び再
    生装置。
  39. 【請求項３９】 記録及び再生装置は、 所定の欠陥情報を含むテストディスク上に検証しない初
    期化を行ってテスト情報を生成する段階と、 前記テスト情報を基準テスト情報と比較して前記記録及
    び再生装置の確認を決定する段階とによって確認される
    ことを特徴とする記録及び再生装置。
  40. 【請求項４０】 前記テスト情報を比較する段階は、 前記テスト情報を形成する、前記DMAの構造、前記DMAの
    DDS、PDL構造及び前記DMAのSDL構造をチェックする段階
    を含むことを特徴とする請求項３９に記載の記録及び再
    生装置。
  41. 【請求項４１】 DMA情報を有する記録及び再生可能な
    光ディスク上に/から情報を記録したり再生する記録及
    び再生装置を、DMA情報が適切に生成されているかどう
    かをチェックするためにテストする装置において、 テストディスク上に検証しない初期化を行う再生装置に
    より生成されたテストディスクのDMA情報に基づいてテ
    スト情報を生成する改造ドライバーと、 前記テスト情報を基準テスト情報と比較して前記記録及
    び再生装置の確認を決定する確認器とを含むことを特徴
    とする装置。
  42. 【請求項４２】 前記改造ドライバーは、前記テスト情
    報としてDMAミラーファイルを生成するために前記テス
    トディスクからDMA情報だけを読出し、 前記基準テスト情報は基準DMAミラーファイルであるこ
    とを特徴とする請求項４１に記載の装置。
  43. 【請求項４３】 前記確認器は、外部供給源から前記基
    準テスト情報を受け入れて前記テスト情報及び前記基準
    テスト情報間の比較を行うことを特徴とする請求項４１
    に記載の装置。
  44. 【請求項４４】 前記確認器は前記テスト情報を形成す
    る、DMAの構造、前記DMAのDDS、PDL構造及び前記DMAのS
    DL構造をチェックすることによって、前記テスト情報を
    前記所定のテスト情報と比較することを特徴とする請求
    項４１に記載の装置。
  45. 【請求項４５】 コンプライアント記録及び再生装置を
    生産する方法において、 欠陥管理領域(DMA)情報を更新し生成する未検証の記録
    及び再生装置を生産する段階と、 前記未検証の記録及び再生装置が標準によるかどうかを
    確認する段階とを含み、前記確認段階は、 テストディスク上に検証しない初期化を行ってテスト情
    報を生成する段階と、 前記テスト情報を基準テスト情報と比較して前記未検証
    の記録及び再生装置が前記標準によることを示す、前記
    記録及び再生装置の確認を決定する段階とを含むことを
    特徴とする方法。
  46. 【請求項４６】 前記比較する段階は、 前記テスト情報を形成する、前記DMAの構造、前記DMAの
    DDS、PDL構造及び前記DMAのSDL構造をチェックする段階
    を含むことを特徴とする請求項４５に記載の方法。
  47. 【請求項４７】 光ディスク上に情報を記録及び再生す
    るためのディスク記録及び再生装置において、 光を放出するための光源と、 前記情報を記録及び再生するために前記光を前記光ディ
    スク上に集中させるための焦点要素と、 前記光源を制御するための制御器を含み、前記制御器
    は、 テストディスク上に検証しない初期化を行ってテスト情
    報を生成し、 前記テスト情報を基準テスト情報と比較して前記記録及
    び再生装置の確認を決定することによってDMA情報を更
    新し生成するために確認されることを特徴とするディス
    ク記録及び再生装置。
  48. 【請求項４８】 前記制御器は前記テスト情報を形成す
    る、前記DMAの構造、前記DMAのDDS、PDL構造及び前記DM
    AのSDL構造をチェックすることを特徴とする請求項４７
    に記載のディスク記録及び再生装置。
  49. 【請求項４９】 光ディスク上に情報を記録及び再生す
    るためのディスク記録及び再生装置において、 光を放出するための光源と、 前記情報を記録及び再生するために前記光を前記光ディ
    スク上に集中させるための焦点要素と、 前記光源を制御し前記欠陥管理情報が標準によるように
    前記光ディスク上に検証しない初期化を行った後に欠陥
    管理領域情報を更新し生成する制御器とを含むディスク
    記録及び再生装置。
  50. 【請求項５０】 前記制御器は前記テスト情報を形成す
    る、前記DMAの構造、前記DMAのDDS、PDL構造及び前記DM
    AのSDL構造をチェックすることを特徴とする請求項４９
    に記載のディスク記録及び再生装置。
  51. 【請求項５１】 DMA情報を有する記録及び再生可能な
    光ディスク上に/から情報を記録したり再生する記録及
    び再生装置を、DMA情報が適切に生成されているかどう
    かをチェックするためにテストする装置において、 前記記録及び再生装置が何のデータも記録されていない
    空ディスク上に検証しない初期化を行った後に得られ
    る、前記テストディスク上に記録された前記DMA情報か
    らテスト情報を生成する改造ドライブ装置と、 検証しない初期化のための基準テスト情報を使用して前
    記テスト情報を確認することによってテスト結果を確認
    する確認器とを含むことを特徴とする装置。
  52. 【請求項５２】 前記テスト情報はDMAミラーファイル
    であることを特徴とする請求項５１に記載の装置。
  53. 【請求項５３】 前記改造ドライブ装置は、検証せずに
    初期化された前記テストディスク上のDMA領域から直接
    テスト情報を読出すことを特徴とする請求項５１に記載
    の装置。
  54. 【請求項５４】 前記確認器は前記テスト情報を形成す
    る、前記DMAの構造、前記DMAのDDS、PDL構造及びSDL構
    造をチェックし、PDL項目及びSDL項目が存在しているか
    どうかをチェックすることを特徴とする請求項５１に記
    載の装置。
  55. 【請求項５５】 前記確認器は、前記DMAのエラー状
    態、DDS/PDLとSDL更新カウンター及び前記DMAの内容を
    チェックすることによって前記DMA構造をチェックする
    ことを特徴とする請求項５４に記載の装置。
  56. 【請求項５６】 前記確認器は、前記テストディスク上
    で二つはリードイン領域に位置し、二つはリードアウト
    に位置する、前記テストディスク上の４つの位置に記録
    された４つのDMAのいずれか一つにもエラーが存在して
    いるかどうかをチェックし、４つのDDS内のDDS/PDL更新
    カウンターの値及び検証しない再初期化を行う前後にDD
    S/PDL更新カウンターでの差を示すDDS/PDL更新カウンタ
    ーの増分値が全て“０”であるかどうかをチェックし、
    ４つのSDLでの前記SDL更新カウンターの値及び検証しな
    い再初期化を行う前後に前記SDL更新カウンターの差を
    示す４つのDDS/PDL更新カウンターの増分値が全て
    “０”であるかどうかをチェックし、前記８つのDDS/PD
    L更新カウンターが同一であるかどうかをチェックし、
    前記４つのSDL更新カウンターの値が同一であるかどう
    かをチェックし、前記４つのDMAの内容が同一であるか
    どうかをチェックすることを特徴とする請求項５５に記
    載の装置。
  57. 【請求項５７】 前記確認器は、DDS識別子、ディスク
    検証フラグ、DDS/PDL更新カウンター、グループ数、地
    域数、１次余裕空間の位置、最初の論理セクター番号の
    位置、各地域の開始論理セクター番号位置をチェックす
    ることによって前記DDSをチェックすることを特徴とす
    る請求項５４に記載の装置。
  58. 【請求項５８】 前記確認器は前記DDS識別子が所定の
    値であるかどうかをチェックし、前記ディスク検証フラ
    グで進行中であるかどうかを示すビット値、使用者検証
    を示すビット値及びディスク製造業者検証を示すビット
    値が“０b”であるかどうかをチェックし、DDS/PDL更新
    カウンター値及び検証しない再初期化を行う前後に前記
    DDS/PDL更新カウンターでの差を示す前記DDS/PDL更新カ
    ウンターの増分値が“０”であるかどうかをチェック
    し、グループの数及び地域の数をチェックし、前記１次
    余裕空間の最初及び最後のセクター番号が所定のセクタ
    ー番号であるかどうかをチェックし、前記最初の論理セ
    クター番号の位置が所定の論理セクター番号であるかど
    うかをチェックし、各地域についての前記開始論理セク
    ター番号が所定の論理セクター番号であるかどうかをチ
    ェックすることを特徴とする請求項５７に記載の装置。
  59. 【請求項５９】 前記確認器は、PDL識別子、PDL内での
    項目数、及びPDL項目の構成状態をチェックすることに
    よって前記PDL構造をチェックすることを特徴とする請
    求項５４に記載の装置。
  60. 【請求項６０】 前記確認器は前記PDL識別子が所定の
    値であるか、前記PDL内の項目数が“０”に設定された
    か、及び前記PDL項目が存在しているかどうかをチェッ
    クすることを特徴とする請求項５９に記載の装置。
  61. 【請求項６１】 前記確認器は、SDL識別子、SDL更新カ
    ウンター、SSAの開始セクター番号、論理セクターの総
    個数、DDS/PDL更新カウンター、余裕空間フルフラグ、S
    DL内の項目数、及びSDL項目の構成状態をチェックする
    ことによって前記SDL構造をチェックすることを特徴と
    する請求項５４に記載の装置。
  62. 【請求項６２】 前記確認器は前記SDL識別子が所定の
    値であるかどうかをチェックし、前記SDL更新カウンタ
    ー値及び検証しない再初期化を行う前後に前記SDL更新
    カウンターの差を示すSDL更新カウンターの増分値が
    “０”であるかどうかをチェックし、前記DDS/PDL更新
    カウンター値及び検証しない再初期化を行う前後に前記
    DDS/PDL更新カウンターの差を示すDDS/PDL更新カウンタ
    ーの増分値が“０”であるかどうかをチェックし、前記
    SSAの開始セクター番号及び論理セクターの総個数が初
    期化する間に指定された値に正しく設定されるかどうか
    をチェックし、前記余裕空間フルフラグが充満している
    かどうかをチェックし、SDLでの項目の数が“００h”で
    あるかどうかをチェックし、及び前記SDL項目に情報が
    存在しているかどうかをチェックすることを特徴とする
    請求項６１に記載の装置。
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US09/805,436 US6782493B2 (en) 2000-04-08 2001-03-14 Method of verifying defect management area information of optical disc upon initialization without certification and test apparatus for performing the same
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040076093A1 (en) * 2001-01-31 2004-04-22 Kouichi Kawakami Method for storing/reproducing information and information recorder and digital camera
US6850377B2 (en) * 2001-04-25 2005-02-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Master information carrier/magnetic recording medium defect inspection method
TWI381374B (zh) * 2004-03-18 2013-01-01 Lg Electronics Inc 其上具有重疊區塊資訊之記錄媒體和用以形成、記錄及重製記錄媒體之設備和方法
KR101333725B1 (ko) * 2006-06-30 2013-11-28 삼성전자주식회사 검증 방법 및 검증 장치

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4631723A (en) * 1984-06-08 1986-12-23 Honeywell Information Systems Inc. Mass storage disk drive defective media handling
JPH0770173B2 (ja) * 1987-03-06 1995-07-31 松下電器産業株式会社 情報記録再生装置
US5568454A (en) * 1989-03-09 1996-10-22 Tosoh Corporation Apparatus and method for detecting a defect on a magneto-optical disk
JPH0428061A (ja) * 1990-05-24 1992-01-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 情報記録媒体と情報記録再生装置
JP2887949B2 (ja) 1991-06-27 1999-05-10 松下電器産業株式会社 情報記録再生装置、情報再生装置、ｄｍａ記録方法及びｄｍａ検証方法
JPH0757397A (ja) * 1993-08-13 1995-03-03 Ricoh Co Ltd 光学情報記録再生装置
US6467054B1 (en) * 1995-03-13 2002-10-15 Compaq Computer Corporation Self test for storage device
US5943640A (en) * 1995-10-25 1999-08-24 Maxtor Corporation Testing apparatus for digital storage device
JPH10125006A (ja) * 1996-10-18 1998-05-15 Sony Corp 信号記録装置および信号記録方法
JPH10144011A (ja) 1996-11-12 1998-05-29 Sony Corp ディスク装置
JPH1125575A (ja) * 1997-07-01 1999-01-29 Hitachi Ltd ディスク装置及びディスク装置の起動方法
JPH1186454A (ja) * 1997-09-05 1999-03-30 Sanyo Electric Co Ltd 記録再生方法及び記録再生装置
KR100292093B1 (ko) * 1998-03-02 2001-06-01 구자홍 기록매체의 결함영역 관리자료 생성방법 및 생성장치 그리고 이에 의한 광기록매체
US6154858A (en) * 1998-04-17 2000-11-28 International Business Machines Corporation In situ method and apparatus for detecting surface defects to identify handling damage in a disk drive
KR100601598B1 (ko) * 1998-06-15 2006-07-14 삼성전자주식회사 기록 방지 정보를 저장하는 기록 매체와 기록 방지 방법
KR100437756B1 (ko) 1998-07-14 2004-09-08 엘지전자 주식회사 광기록매체및그결함영역관리방법과그포맷팅방법
KR100421845B1 (ko) * 1998-09-26 2004-04-17 엘지전자 주식회사 광기록매체및광기록매체의결함영역관리방법
US6542450B1 (en) * 1998-11-11 2003-04-01 Lg Electronics Inc. Method for assigning spare area in optical recording medium
US6160778A (en) * 1999-03-08 2000-12-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Information recording medium, information recording method, information recording apparatus and information reproducing apparatus
DK1141956T3 (da) * 1999-09-23 2008-08-11 Koninkl Philips Electronics Nv Fremgangsmåde til direkte skrivning eller læsning af filer på et disklignende optagelsesmedie

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