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CN1323034A - 检验光盘缺陷管理区信息的方法及执行该方法的测试设备 - Google Patents

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CN1323034A
CN1323034A CN01112398A CN01112398A CN1323034A CN 1323034 A CN1323034 A CN 1323034A CN 01112398 A CN01112398 A CN 01112398A CN 01112398 A CN01112398 A CN 01112398A CN 1323034 A CN1323034 A CN 1323034A
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Abstract

一种用于检验在不进行认证的情况下执行初始化时光盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法及执行该方法的测试设备。该方法包括:产生缺陷管理信息作为测试信息,该信息是在对其上未写入数据的空白测试盘在不进行认证的情况下执行初始化之后产生的;和使用用于在不进行认证的情况下执行初始化的基准测试信息来检验测试信息,以提供测试结果。因此,可容易地采用空白测试盘来检验记录和再现设备是否正确地翻译和处理在不进行认证的情况下执行初始化之后产生的DMA信息。

Description

检验光盘缺陷管理区信息的方法 及执行该方法的测试设备
本发明涉及光盘记录和再现技术，尤其涉及一种当在不进行认证情况下执行初始化时检验可记录和可再现光盘的缺陷管理区信息的方法以及用于执行该方法的测试设备。
数字通用盘随机存取存储器(DVD-RAM)盘具有采用正常的可记录区域来替换有缺陷区域，并将进行缺陷管理所必需的信息存储到称作缺陷管理区(DMA)的部分的缺陷管理功能。DMA信息被重复记录到盘上的4个部分上：其两个部分位于导入区，而另两个部分位于导出区。DMA信息包括盘定义结构(DDS)、主缺陷列表(PDL)和次缺陷列表(SDL)。
除有关缺陷的信息之外，DMA信息还包括有关备用区的信息和有关每个区域的开始逻辑扇区号的重要信息，它们是在盘被初始化时执行的认证期间和在使用盘期间检测到的。
包含在DMA中的一些信息可用立即读取和使用。另一方面，DMA包括的信息随盘上的缺陷位置和数目而发生变化。亦即，只能通过根据给定的基于DMA中登录的缺陷信息的算法执行复杂的计算，来得到有些信息，例如每个区域的开始逻辑扇区号的位置信息或第一逻辑扇区号的位置信息。
由于这种DMA信息与物理数据记录位置密切相关，因此，当DMA信息有错时，即使在另一记录和再现设备中已产生或更新了DMA信息，可在给定的记录和再现设备中使用的诸如光盘的记录介质也不能与这两种记录和再现设备相兼容。为了克服该问题，需要一种能够检验记录和再现设备是否正确地读取盘的DMA信息并且将DMA信息正确地记录到盘上的设备和方法。
为了解决上述问题，本发明的第一目的是提供一种用于检验光盘记录和再现设备中当在不进行认证情况下执行初始化时是否正确地产生缺陷管理区(DMA)信息的方法。
本发明的第二目的是提供一种对于可重复记录和再现的DVD-RAM盘检验在盘记录和再现设备中当在不进行认证情况下执行初始化时是否正确地产生缺陷管理区(DMA)信息的方法。
本发明的第三目的是提供一种用于检验光盘记录和再现设备中当在不进行认证情况下执行初始化时是否正确地产生缺陷管理区(DMA)信息的测试设备。
本发明的其他目的和优点部分可从后面的描述中得出，部分可从描述中清楚地看出，或可从本发明实践中学习到。
为了实现本发明的上述和其他目的，提供了一种用于检验在具有DMA信息的光盘上记录信息或从光盘再现信息的记录和再现设备中是否适当地产生DMA信息的方法。该方法包括下列步骤：产生缺陷管理信息作为测试信息，该信息是在对其上未写入数据的空白测试盘在不进行认证的情况下执行初始化之后产生的；和，使用用于在不进行认证的情况下执行初始化的基准测试信息来检验测试信息，以提供测试结果。
为了实现本发明的上述和其他目的，还提供了一种用于测试在具有DMA信息的可记录和可再现盘上记录信息或从这种盘再现信息的记录和再现设备以检查是否正确地产生DMA信息的设备。该设备包括：修改的驱动器单元，用于从测试盘的DMA信息中产生测试信息，该信息是在记录和再现设备对对其上未写入数据的空白测试盘在不进行认证的情况下执行初始化之后得到的；和检验器，用于通过使用用于在不进行认证的情况下执行初始化的基准测试信息来检验测试信息，来检验测试结果。
通过下面结合附图对优选实施例的描述，本发明的上述和其他目的和优点将会变得更加清楚，其中：
图1表示根据本发明的测试设备的框图，该测试设备执行用于检验当在不进行认证的情况下执行初始化时光盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法；
图2是表示用于检验在不进行认证的情况下执行初始化时的DMA结构的检查项目的表；
图3是表示用于检验在不进行认证的情况下执行初始化时的盘定义结构(DDS)的检查项目的表；
图4是表示用于检验在不进行认证的情况下执行初始化时的主缺陷列表(PDL)结构的检查项目的表；
图5是表示用于检验在不进行认证的情况下执行初始化时的次缺陷列表(SDL)结构的检查项目的表；
图6的框图表示图1所示的待测试驱动器。
下面将通过下面结合示例性地示出示例的附图对本发明优选实施例进行详细描述，其中，相同部件采用相同标号。下面将参照附图描述实施例，以解释本发明。
本发明所使用的光盘是其容量为4.7千兆(GB)字节的相位变化记录DVD-RAM。DVD-RAM在“可重写盘DVD规范2.0版(DVD Specification forRewritable Disc Version 2.0)”中定义。
图1表示根据本发明的测试设备的框图，该测试设备执行用于检验当在不进行认证的情况下执行初始化时光盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法。
测试型盘(后称C-1盘)11是仅具有已知物理缺陷的盘，这些物理缺陷是在空白盘的预定位置上人为地做出的。但是，本发明中，可认为测试型盘是其上未写入数据的空白测试盘。因此，只要在C-1盘上未记录“信息”并且仅出现物理缺陷，则可将C-1盘认作是空白盘。待测试驱动器110对C-1盘11在不进行认证的情况下执行初始化，以产生DMA信息，并将所产生的DMA信息记录到C-1盘11。从待测试驱动器110中抽出在不进行认证的情况下初始化的C-1盘12，并将其加载到能够读取DMA信息的改进的驱动器120中。
改进的驱动器120是专为测试而制作的，可称其为基准驱动器。改进的驱动器120从在不进行认证的情况下初始化的C-1盘12中仅读出DMA信息，并在文件系统中产生所读出的在不认证的情况下初始化的C-1盘12的所读出DMA信息的DMA镜像文件50。待测试驱动器110例如可以实现为DVD-RAM记录和再现设备，并被设计成不产生DMA信息的镜像文件。
当将DVD-RAM记录和再现设备的记录和再现体系结构分成文件层、用于使主计算机与记录和再现设备接口的主机接口层、用于记录和再现物理信号的物理驱动器层、和记录介质层时，由于由记录介质和物理驱动器指定盘的物理扇区号，并且由主机接口和文件系统指定盘的逻辑扇区号，因此，在物理驱动器层和其下面的层执行DMA信息的写入和读取。
通常，当将数据记录到计算机中的记录介质时，根据由文件系统指定的逻辑扇区号来确定记录开始位置。由逻辑扇区号指明的文件位置是逻辑和相对位置信息。当在驱动器中进行记录操作时，需要将逻辑扇区号变换成指明位置的物理扇区号，考虑到诸如盘的缺陷状态的物理状态，在盘的该位置处实际记录数据。但是，当由文件系统实际记录用户数据时，仅采用逻辑扇区号将用户数据发送到记录和再现设备，并且记录和再现设备采用缺陷管理信息将该逻辑扇区号变换成物理扇区号，该物理扇区号指明数据实际记录的位置。因此，当在给定的记录和再现设备中错误地读出和写入盘中所包含的缺陷管理信息时，在另一记录和再现设备中不能准确地从盘读出数据或将数据写入该盘。
另外，在DVD-RAM盘情况下，应由驱动器执行每个缺陷管理操作，以使得文件系统或主机接口能够记录或再现文件而不采用与所完成的物理缺陷管理处理有关的信息。因此，大多数驱动器未设置有在DMA中记录信息或从DMA中再现信息的功能，并且也未设置用于在DMA中记录信息或从DMA中再现信息的标准命令。但是，必须准备可由能够分析DMA信息的计算机读取数据的环境，以确定是否正确地形成了DMA信息，并且必须能够在相应的DMA中记录准确的信息以制作标准测试盘。为了有效地执行这种操作，设置用于在DMA中记录信息或从DMA再现信息的改进的驱动器。本领域内的普通技术人员能够容易地设计或得到这种改进的驱动器，因此略去对其的描述。
检验器130将由改进的驱动器120从具有由待测试驱动器110产生的DMA信息的盘中产生的在不进行认证的情况下初始化的C-1盘的DMA镜像文件13与C-1盘11的基准DMA镜像文件相比较，并将检查在不进行认证的情况下执行初始化后待测试驱动器110是否适当地产生了DMA信息的测试结果通知给制造商或用户。尽管未示出，可事先存储或从外部(用于产生DMA镜像文件的控制器)提供基准DMA镜像文件。可将DMA镜像文件称作测试信息，而基准DMA镜像文件可被称作预定的测试信息。另外，基准DMA镜像文件可称作DMA信息文件，它包括无差错的理想数据，这在驱动器正常地执行整体操作时出现。
本发明的检验方法包括从DMA信息中产生DMA镜像文件作为测试信息，该DMA信息是在对其上未写入数据的空白测试盘在不进行认证的情况下执行初始化后产生的，并且采用用于在不进行认证的情况下执行初始化的基准测试信息来检验测试信息，以提供测试结果。DMA镜像文件包含用于测试目的的特定信息和所有DMA信息。改进的驱动器120可将DMA镜像文件中的DMA信息写入盘的DMA区域，并且可将盘的DMA信息保存到DMA镜像文件中。下面将参照图2至5描述当在不进行认证的情况下执行初始化时将被检验的DMA信息的测试项目。
如图2所示，用于检验DMA结构的检查项目是DMA1至DMA4的差错条件、DDS1至DDS4中及SDL1至SDL4中的DDS/PDL更新计数器、SDL1至SDL4中的SDL计数器、以及DMA1至DMA4中的内容。
DMA项目中的差错条件用于检查各DMA中是否存在差错，其中的两个位于导入区，另两个位于导出区。在DMA1、DMA2、DMA3和DMA这4个DMA的任意一个中不能存在不能纠正的差错。如果在任意一个DMA中存在任何不能纠正的差错，则确定该检验失败，并且需要采用新的测试盘来重新测试。
为了在不进行认作的情况下执行初始化时检验DDS/PDL和SDL更新计数器项目，检查表示4个DDS，即DDS1、DDS2、DDS3和DDS4，及4个SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中DDS/PDL更新计数器值的M值以及表示DDS/PDL更新计数器在测试之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器值增量的值k是否为“0”。还检查8个DDS/PDL更新计数器的值是否相同。这里，每个DDS/PDL更新计数器的值表示在DDS/PDL块上执行的更新和重写操作总次数。在初始化的开头将每个DDS/PDL更新计数器的值设置成“0”，并且当更新或重写DDS/PDL时递增1。当完成初始化时，DDS/PDL和SDL块必须具有相同的更新计数器值。类似地，检查表示4个SDL，即SDL1、SDL2、SDL3和SDL4中SDL更新计数器值的N值以及表示SDL更新计数器在测试之前和之后的差值的SDL更新计数器值增量的值k是否为“0”。还检查SDL更新计数器的值是否相同。
但是，由于在不进行认作的情况下执行初始化时仅产生DMA信息一次，因此，不执行更新。所以，必须将更新计数器值设置成当首次写入DMA信息时设置的“0”。
为了检验DMA的内容，检查4个DMA，即，DMA1、DMA2、DMA3和DMA的内容是否相同。
如图3所示，用于检验DDS的检查项目包括DDS标识符、盘认证标记、DDS/PDL更新计数器、组数、区域数、主备用区位置、第一逻辑扇区号(LSN0)位置、每个区域的开始LSN等。
检查DDS标识符是否为“0A0Ah”。检查盘认证标记的一个字节中表示是否在进程中的比特位置b7的值是否为“0b”。如果比特位置b7的值为“0b”，这表明格式化完成。如果比特位置b7的值为“1b”，这表明格式化在进行中。因此，当比特位置b7的值为“1b”时，表明格式化失败。此外，检查盘认证标记中保留的比特位置b6至b2是否全部为“0b”，并检查表示用户认证标记的比特位置b1的值是否为“0b”。还检查表示盘制造商认证标记的比特位置b0的值是否为“0b”。
为了检验相应的DDS/PDL更新计数器，检查表示DDS/PDL更新计数器值的值M以及表示DDS/PDL更新计数器增量的值k是否为“0”。还检查组数的值是否为表示组数为“1”的“0001h”，并且区域数的值是否为表示区域数为35的“0023h”。
另外，检查主备用区中第一扇区号是否为“031000h”和主备用区中最后的扇区号是否为“0341FFh”。检查每个区域的LSN0和开始LSN、即第二区域(区域1)至第35区域(区域34)的开始LSN的位置是否为预定的逻辑扇区号，这表示在不进行认证的情况下执行初始化时没有缺陷。
检查DDS结构中剩余的保留区域(字节位置396至2047)是否全部为“00h”。
另外，盘上用于缺陷管理的备用区被分成主备用区、次备用区和辅助备用区。为了替换缺陷而对盘初始化时首先指定的主备用区主要用于滑移替换(slipping replacement)。剩下的备用区可用作用于线性替换的次备用区。用于线性替换使用盘时出现的缺陷的次备用区被定义为备用区，它是在初始化期间将主备用区用于滑移替换后剩余的。另外，可单独指定次备用区。辅助备用区被用于线性替换在使用盘时出现的缺陷。当在初始化之后使用盘时另外指定该辅助备用区。
当在初始化之后使用盘期间缺少用于线性替换的备用区时，以如下方式指定用于线性替换的辅助备用区，即，在文件系统中，在从逻辑卷区域结尾开始的反方向上，将辅助备用区逐渐增大预定尺寸。该辅助备用区也在线性替换期间在从逻辑卷区域结尾开始的反方向上使用。
如图4所示，用于检验DMA中PDL结构的检查项目包括PDL标识符、PDL中项目数、PDL项目的完整性(integrity)、和未使用区域。
检查PDL标识符是否为“0001h”。在不进行认证的情况下执行初始化时，PDL中的项目数应为“0”，而且PDL的完整性应不带有信息。因此，检查是否在用于指明PDL项目类型和PDL项目的各区域中写入表示未使用区域的“FFh”。
如图5所示，用于检验DMA中的SDL结构的检查项目包括SDL标识符、SDL更新计数器、次备用区(SSA)的开始扇区号、逻辑扇区总数、DDS/PDL更新计数器、备用区满标记、SDL中的项目数、SDL项目的完整性、未使用区域、保留区域等。
检查SDL标识符是否为“0002h”。还检查表示相应的SDL更新计数器值的值N以及表示SDL更新计数器增量的值k是否为“0”。检查表示相应的DDS/PDL更新计数器值的值M以及表示DDS/PDL更新计数器增量的值k是否为“0”。
在不进行认证的情况下执行初始化时，SSA的开始扇区号应具有对应于次备用区的尺寸的值，它是由用户在初始化期间指定的，并且逻辑扇区总数应具有对应于次备用区的尺寸的值。并且，有关SDL项目的信息不应在表示备用区满标记、SDL中的项目数和SDL项目的完整性的字节位置中存在。因此，备用区满标记必须表示备用区为不满。SDL中的项目数的值必须为“00h”。因为已知全部未使用区域，因此，如果检查SDL中的项目数，则可确定SDL的未使用区域尺寸。因此，检查C-1盘镜像文件的未使用区域的尺寸是否等于基于SDL中的项目数得知的SDL的未使用区域尺寸，还检查未使用区域是否被设置成“FFh”。另外，检查所有保留区域的期望值是否为“00h”。
图6表示的待测试驱动器110具有用于发出光的光源22、用于将来自光源的光聚焦到盘D上的聚焦部件24、和用于控制光源22的控制器26。上述检验处理试图检验控制器26的适当操作。
如上所述，采用其上未写入数据的空白测试盘，本发明容易地检验记录和再现设备是否适当地翻译和处理在不进行认证的情况下执行初始化后产生的DMA信息。
尽管已图示和描述了本发明的几个优选实施例，但是，本领域内的普通技术人员可在不背离本发明原理和宗旨的前提下对实施例进行修改，本发明的范围由其权利要求书和其等同物限定。

Claims (62)

1、一种用于检验在具有缺陷管理区域(DMA)信息的光盘上记录信息或从该光盘再现信息的记录和再现设备中是否正确地产生或更新DMA信息的方法，该方法包括下列步骤：
产生缺陷管理信息作为测试信息，该信息是在对其上未写入数据的空白测试盘在不进行认证的情况下执行初始化之后产生的；和
使用用于在不进行认证的情况下执行初始化的基准测试信息来检验测试信息，以提供测试结果。
2、如权利要求1所述的方法，其中所述测试信息是DMA镜像文件。
3、如权利要求1所述的方法，其中，所述产生步骤包括：从在不进行认证的情况下初始化的测试盘上的DMA区域直接读出测试信息。
4、如权利要求1所述的方法，还包括：显示测试结果。
5、如权利要求1所述的方法，其中所述检验步骤包括：检查构成测试信息的DMA结构、盘定义结构(DDS)、主缺陷列表(PDL)结构、和次缺陷列表(SDL)结构，并检查是否不存在PDL项目和SDL项目。
6、如权利要求1所述的方法，其中所述检验步骤包括：
检验所述测试信息的DMA的结构；
检验所述DMA中的盘定义结构(DDS)；
检验所述DMA中的主缺陷列表(PDL)结构；和
检验所述DMA的次缺陷列表(SDL)结构。
7、如权利要求6所述的方法，其中检验DMA结构的步骤包括：检查差错条件、DDS/PDL和SDL更新计数器、及DMA的内容。
8、如权利要求7所述的方法，其中，
检查差错条件的步骤包括：
检查4个DMA，即写入测试盘4个位置的DMA中的任意一个中是否存在差错，其中的两个位于测试盘导入区，而另两个位于导出区；
检查DDS/PDL更新计数器的步骤包括：检查4个DDS中和4个SDL中的DDS/PDL更新计数器的值以及表示DDS/PDL更新计数器在不进行认证的情况下执行再初始化之前和之后的差值的8个DDS/PDL更新计数器增量是否全部为“0”，并且检查8个DDS/PDL更新计数器的值是否相同；
检查SDL更新计数器的步骤包括：检查4个SDL中SDL更新计数器的值以及表示SDL更新计数器在不进行认证的情况下执行再初始化之前和之后的差值的4个SDL更新计数器增量是否全部为“0”，并且检查4个SDL更新计数器的值是否相同；和
DMA的内容的步骤包括：检查4个DMA的内容是否相同。
9、如权利要求6所述的方法，其中所述检验DDS的步骤包括：检查DDS标识符、盘认证标记、DDS/PDL更新计数器、组数、区域数、主备用区位置、第一逻辑扇区号位置、和每个区域的开始逻辑扇区号。
10、如权利要求9所述的方法，其中，
检验DDS标识符的步骤包括：检查DDS标识符是否为预定值；
检查盘认证标记的步骤包括：检查盘认证标记中表示在进程中的比特的值、表示用户认证的比特的值、和表示盘制造商认证的比特的值和是否为“0b”；
检查DDS/PDL更新计数器的步骤包括：检查DDS/PDL更新计数器的值、表示DDS/PDL更新计数器在不进行认证的情况下执行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“0”；
检查组数的步骤包括：检查组数是否为预定值；
检查区域数的步骤包括：检查区域数是否为预定值；
检查主备用区位置的步骤包括：分别检查主备用区的第一和最后扇区号是否为预定的扇区号；
检查第一逻辑扇区号的步骤包括：检查第一逻辑扇区号的位置是否为预定的逻辑扇区号；和
检查每个区域的开始逻辑扇区号的步骤包括：检查每个区域的开始逻辑扇区号是否为预定的逻辑扇区号。
11、如权利要求6所述的方法，其中检验PDL结构的步骤包括：检查PDL标识符、PDL中的项目数、和PDL项目的完整性。
12、如权利要求11所述的方法，其中，
检验PDL标识符的步骤包括：检查PDL标识符是否为预定值；
检查项目数的步骤包括：检查PDL中的项目数是否被设置成“0”；和
检查PDL项目的完整性的步骤包括：检查是否不存在PDL项目。
13、如权利要求6所述的方法，其中所述检验SDL结构的步骤包括：检查SDL标识符、SDL更新计数器、次备用区(SSA)的开始扇区号、逻辑扇区总数、DDS/PDL更新计数器、备用区满标记、SDL中的项目数、SDL项目的完整性、未使用区域、和保留区域。
14、如权利要求13所述的方法，其中，
检查SDL标识符的步骤包括：检查SDL标识符是否为预定值；
检查SDL更新计数器的步骤包括：检查SDL更新计数器的值以及表示SDL更新计数器在不进行认证的情况下执行再初始化之前和之后的差值的SDL更新计数器增量是否为“0”；
检查DDS/PDL更新计数器的步骤包括：检查DDS/PDL更新计数器的值以及表示DDS/PDL更新计数器在不认证地执行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“0”；
检查SSA的开始扇区号、逻辑扇区的总数、备用区满标记、SDL的项目数和SDL项目的完整性的步骤包括：分别检查是否正确地将SSA的开始扇区号和逻辑扇区的总数设置到在初始化期间指定的值，备用区满标记是否为不满，SDL中的项目数是否为“00h”，以及是否不存在有关SDL项目的信息；和
检查未使用区域和保留区域的步骤包括：检查SDL的未使用区域的尺寸，并检查未使用区域是否为预定值，以及保留区域是否为预定值。
15、如权利要求1所述的方法，其中，所述记录和再现设备是数字通用盘随机存取存储器(DVD-RAM)。
16、如权利要求2所述的方法，其中所述基准测试信息是基准DMA镜像文件。
17、如权利要求16所述的方法，其中所述基准DMA镜像文件包含无差错的理想数据。
18、如权利要求8所述的方法，其中检查在4个DMA中的任意一个中是否存在差错的步骤包括：
检查4个DMA中是否存在任何不能纠正的差错；和
如果查找到有任意的不能纠正的差错，则确定检验失败。
19、如权利要求10所述的方法，其中盘认证标记中表示进程中的比特为b7，表示用户认证的比特为b1，表示盘制造商认证的比特为b0，盘认证标记的比特b6至b2为保留比特，其中检查盘认证标记的步骤还包括：检查每个保留比特的值是否为“0b”。
20、如权利要求12所述的方法，其中检验PDL结构的步骤还包括：
检查PDL的未使用区域是否为预定值。
21、如权利要求14所述的方法，其中检验SDL结构的步骤还包括：
检查SDL的未使用区域是否为预定值。
22、一种用于检验在具有缺陷管理区域(DMA)信息的光盘上记录信息或从该光盘再现信息的记录和再现设备中是否正确地产生或更新DMA信息的方法，该方法包括下列步骤：
从DMA信息中产生测试信息，该信息是在不进行认证的情况下执行初始化之后产生的；和
使用基准测试信息来执行用于检验测试信息的测试。
23、如权利要求22所述的方法，其中所述测试信息是DMA镜像文件，所述基准测试信息是基准DMA镜像文件。
24、如权利要求22所述的方法，其中所述执行测试的步骤包括：检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次缺陷列表(SDL)结构。
25、一种用于测试在具有缺陷管理区域(DMA)信息的盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备以检查是否正确地产生或更新DMA信息的设备，包括：
改进的驱动器单元，用于从测试盘的产生的DMA信息中产生测试信息，它是在记录和再现设备对测试盘在不进行认证的情况下执行初始化后得到的；和
检验器，用于将测试信息与在不进行认证的情况下执行初始化的预定的测试信息相比较，以检验测试结果。
26、如权利要求25所述的设备，其中所述测试信息是DMA镜像文件，所述预定的测试信息是基准DMA镜像文件。
27、如权利要求25所述的设备，其中所述改进的驱动单元从测试盘上的DMA区域读取测试信息，并将该测试信息提供给检验器。
28、如权利要求25所述的设备，其中所述测试盘是在不进行认证的情况下执行初始化之前在空白盘上形成已知的物理缺陷而形成的盘。
29、如权利要求25所述的设备，其中，通过检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次缺陷列表(SDL)结构，所述检验器将测试信息与预定的测试信息相比较。
30、一种检验记录和再现设备是否适当地读取和处理缺陷管理区(DMA)信息的方法，包括下列步骤：
对包含预定的已知物理缺陷信息的测试盘在不进行认证的情况下执行初始化，以产生测试信息；和
将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。
31、如权利要求30所述的方法，其中所述在不进行认证的情况下执行初始化的步骤包括：
使所述记录和再现设备对测试盘在不进行认证的情况下执行初始化，以产生具有DMA信息的盘；和
采用基准驱动器仅从盘产生DMA信息，以产生DMA镜像文件作为测试信息，
其中，所述基准测试信息是基准DMA镜像文件。
32、如权利要求30所述的方法，其中所述比较步骤包括：
检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次缺陷列表(SDL)结构。
33、一种检验记录和再现设备是否适当地读取和处理缺陷管理区(DMA)信息的方法，包括下列步骤：
采用所述记录和再现设备对包含预定的已知物理缺陷的测试盘在不进行再初始化的情况下执行认证，以产生DMA信息；
从所产生的DMA信息中产生测试信息；和
将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。
34、如权利要求33所述的方法，其中所述比较步骤包括：
检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次缺陷列表(SDL)结构。
35、一种由记录和再现设备采用下列处理步骤适当地产生的DMA信息，该处理步骤包括：
采用所述记录和再现设备对测试盘在不进行再初始化的情况下执行认证，以产生DMA信息；
从所产生的DMA信息中产生测试信息；和
将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。
36、如权利要求35所述的DMA信息，其中所述DMA信息包括DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)和次缺陷列表(SDL)结构，其中所述比较步骤包括：
检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次缺陷列表(SDL)结构。
37、一种采用下列处理步骤检验的记录和再现设备，该处理步骤包括：
对测试盘在不进行再初始化的情况下执行认证，以产生DMA信息；
从所产生的DMA信息中产生测试信息；和
将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。
38、如权利要求37所述的记录和再现设备，其中所述比较步骤包括：
检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次缺陷列表(SDL)结构。
39、一种采用下列处理步骤检验的记录和再现设备，该处理步骤包括：
对包含预定缺陷信息的测试盘在不进行认证的情况下执行初始化，以产生测试信息；
将测试信息与预定测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。
40、如权利要求39所述的记录和再现设备，其中所述比较步骤包括：
检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次缺陷列表(SDL)结构。
41、一种用于测试在具有缺陷管理区域信息的可记录和可再现光盘上记录信息或从该盘再现信息的记录和再现设备以检查DMA信息是否被适当地产生的设备，包括：
改进的驱动器，用于根据再现装置通过对测试盘在不进行认证的情况下执行初始化而产生的测试盘的DMA信息，来产生测试信息；和
检验器，用于将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。
42、如权利要求41所述的设备，其中改进的驱动器仅从测试盘读取DMA信息，以产生DMA镜像文件作为测试信息，
其中，基准测试信息是基准DMA镜像文件。
43、如权利要求41所述的设备，其中所述检验器从外部源接收基准测试信息，以在测试信息和基准测试信息之间作比较。
44、如权利要求41所述的设备，其中，通过检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次缺陷列表(SDL)结构，所述检验器将测试信息与预定的测试信息相比较。
45、一种制造相一致的记录和再现设备的方法，包括下列步骤：
制造更新和产生缺陷管理区(DMA)信息的未认证的记录和再现设备；和
检验所述未认证的记录和再现设备是否与标准相一致，所述检验步骤包括：
对测试盘在不进行认证的情况下执行初始化，以产生测试信息；和
将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验，所述检验表明所述未认证的记录和再现设备是否与标准相一致。
46、如权利要求45所述的方法，其中所述比较步骤包括：
检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次缺陷列表(SDL)结构。
47、一种用于在光盘上记录和再现信息的盘记录和再现设备，包括：
光源，用于发出光；
聚焦部件，用于将光聚焦到光盘上，以记录和再现信息；和
控制器，用于控制所述光源，通过如下处理来检验所述控制器，以更新和产生缺陷管理区(DMA)信息，即，
对测试盘在不进行认证的情况下执行初始化，以产生测试信息，和，
将测试信息与基准测试信息相比较，以确定记录和再现设备的检验。
48、如权利要求47所述的盘记录和再现设备，其中所述控制器检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次缺陷列表(SDL)结构。
49、一种用于在光盘上记录和再现信息的盘记录和再现设备，包括：
光源，用于发出光；
聚焦部件，用于将光聚焦到光盘上，以记录和再现信息；和
控制器，用于控制所述光源，和在对光盘在不进行认证的情况下执行初始化之后更新和产生缺陷管理区信息，从而缺陷管理区信息与标准相一致。
50、如权利要求49所述的盘记录和再现设备，其中所述控制器检查构成测试信息的DMA结构、DMA的盘定义结构(DDS)、DMA的主缺陷列表(PDL)结构和次缺陷列表(SDL)结构。
51、一种用于测试在具有缺陷管理区域(DMA)信息的可记录和可再现光盘上记录信息或从该光盘再现信息的记录和再现设备以检查是否正确地产生DMA信息的设备，包括：
改进的驱动器单元，用于从记录在测试盘上的DMA信息中产生测试信息，它是在记录和再现设备对其上未写入数据的空白测试盘在不进行认证的情况下执行初始化后得到的；和
检验器，用于通过采用在不进行认证的情况下执行初始化的基准测试信息检验测试信息，来检验测试结果。
52、如权利要求51所述的设备，其中所述测试信息是DMA镜像文件。
53、如权利要求51所述的设备，其中所述改进的驱动单元直接从在不进行认证的情况下初始化的测试盘上的DMA区域读取测试信息。
54、如权利要求51所述的设备，其中，所述检验器检查构成测试信息的DMA结构、盘定义结构(DDS)、主缺陷列表(PDL)结构、和次缺陷列表(SDL)结构，并检查是否不存在PDL项目和SDL项目。
55、如权利要求54所述的设备，其中，通过检查DMA的差错条件、DDS/PDL和SDL更新计数器、及DMA的内容，所述检验器检查DMA结构。
56、如权利要求55所述的设备，其中，所述检验器检查4个DMA，即写入测试盘4个位置的DMA中的任意一个中是否存在差错，其中的两个位于测试盘导入区，而另两个位于导出区，4个DDS中的DDS/PDL更新计数器的值以及表示DDS/PDL更新计数器在不进行认证的情况下执行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否全部为“0”,4个SDL中DDS/PDL更新计数器的值以及表示SDL更新计数器在不进行认证的情况下执行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否全部为“0”,8个DDS/PDL更新计数器的值是否相同，4个SDL中SDL更新计数器的值以及4个SDL更新计数器的增量是否全部为“0”,4个SDL更新计数器的值是否相同，以及4个DMA的内容是否相同。
57、如权利要求54所述的设备，其中，通过检查DDS标识符、盘认证标记、DDS/PDL更新计数器、组数、区域数、主备用区位置、第一逻辑扇区号位置、和每个区域的开始逻辑扇区号，所述检验器检查DDS。
58、如权利要求57所述的设备，其中，所述检验器检查DDS标识符是否为预定值，盘认证标记中表示在进程中的比特的值、表示用户认证的比特的值、和表示盘制造商认证的比特的值是否为“0b”,DDS/PDL更新计数器的值以及表示DDS/PDL更新计数器在不进行认证的情况下执行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“0”，检查组数和区域数，检查主备用区的第一和最后扇区号是否为预定的扇区号，第一逻辑扇区号的位置是否为预定的逻辑扇区号，和每个区域的开始逻辑扇区号是否为预定的逻辑扇区号。
59、如权利要求54所述的设备，其中，通过检查PDL标识符、PDL中的项目数、和PDL项目的完整性，所述检验器检查PDL结构。
60、如权利要求59所述的设备，其中，所述检验器检查PDL标识符是否为预定值，PDL中的项目数是否被设置成“0”，和是否不存在PDL项目。
61、如权利要求54所述的设备，其中，通过检查SDL标识符、SDL更新计数器、次备用区(SSA)的开始扇区号、逻辑扇区总数、DDS/PDL更新计数器、备用区满标记、SDL中的项目数、和SDL项目的完整性和保留区域，所述检验器检查SDL结构。
62、如权利要求61所述的设备，其中，所述检验器检查SDL标识符是否为预定值，SDL更新计数器的值以及表示SDL更新计数器在不进行认证的情况下执行再初始化之前和之后的差值的SDL更新计数器增量是否为“0”,DDS/PDL更新计数器的值以及表示DDS/PDL更新计数器在不认证地执行再初始化之前和之后的差值的DDS/PDL更新计数器增量是否为“0”，是否正确地将SSA的开始扇区号和逻辑扇区的总数设置到在初始化期间指定的值，备用区满标记是否为不满，SDL中的项目数是否为“00h”，以及是否存在有关SDL项目的信息。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002061739A1 (en) * 2001-01-31 2002-08-08 Sanyo Electric Co., Ltd. Method for storing/reproducing information and information recorder and digital camera
US6850377B2 (en) * 2001-04-25 2005-02-01 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Master information carrier/magnetic recording medium defect inspection method
US7480764B2 (en) * 2004-03-18 2009-01-20 Lg Electronics, Inc. Recording medium with overlapping segment information thereon and apparatus and methods for forming, recording, and reproducing the recording medium
KR101333725B1 (ko) * 2006-06-30 2013-11-28 삼성전자주식회사 검증 방법 및 검증 장치

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4631723A (en) * 1984-06-08 1986-12-23 Honeywell Information Systems Inc. Mass storage disk drive defective media handling
JPH0770173B2 (ja) * 1987-03-06 1995-07-31 松下電器産業株式会社 情報記録再生装置
US5568454A (en) * 1989-03-09 1996-10-22 Tosoh Corporation Apparatus and method for detecting a defect on a magneto-optical disk
JPH0428061A (ja) * 1990-05-24 1992-01-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 情報記録媒体と情報記録再生装置
JP2887949B2 (ja) 1991-06-27 1999-05-10 松下電器産業株式会社 情報記録再生装置、情報再生装置、ｄｍａ記録方法及びｄｍａ検証方法
JPH0757397A (ja) * 1993-08-13 1995-03-03 Ricoh Co Ltd 光学情報記録再生装置
US6467054B1 (en) * 1995-03-13 2002-10-15 Compaq Computer Corporation Self test for storage device
US5943640A (en) * 1995-10-25 1999-08-24 Maxtor Corporation Testing apparatus for digital storage device
JPH10125006A (ja) * 1996-10-18 1998-05-15 Sony Corp 信号記録装置および信号記録方法
JPH10144011A (ja) 1996-11-12 1998-05-29 Sony Corp ディスク装置
JPH1125575A (ja) * 1997-07-01 1999-01-29 Hitachi Ltd ディスク装置及びディスク装置の起動方法
JPH1186454A (ja) * 1997-09-05 1999-03-30 Sanyo Electric Co Ltd 記録再生方法及び記録再生装置
KR100292093B1 (ko) * 1998-03-02 2001-06-01 구자홍 기록매체의 결함영역 관리자료 생성방법 및 생성장치 그리고 이에 의한 광기록매체
US6154858A (en) * 1998-04-17 2000-11-28 International Business Machines Corporation In situ method and apparatus for detecting surface defects to identify handling damage in a disk drive
KR100601598B1 (ko) * 1998-06-15 2006-07-14 삼성전자주식회사 기록 방지 정보를 저장하는 기록 매체와 기록 방지 방법
KR100437756B1 (ko) * 1998-07-14 2004-09-08 엘지전자 주식회사 광기록매체및그결함영역관리방법과그포맷팅방법
KR100421845B1 (ko) * 1998-09-26 2004-04-17 엘지전자 주식회사 광기록매체및광기록매체의결함영역관리방법
DE19954054B4 (de) * 1998-11-11 2007-12-06 Lg Electronics Inc. Verfahren zum Zuordnen eines Reservebereichs in einem optischen Aufzeichnungsmedium
US6160778A (en) * 1999-03-08 2000-12-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Information recording medium, information recording method, information recording apparatus and information reproducing apparatus
AU781790B2 (en) * 1999-09-23 2005-06-16 Koninklijke Philips Electronics N.V. Method of immediate writing or reading files on a disc like recording medium

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