JP2001230780A

JP2001230780A - 非同期転送モード伝送装置における故障検出装置

Info

Publication number: JP2001230780A
Application number: JP2000037375A
Authority: JP
Inventors: Takashi Tsurumi; 隆鶴見
Original assignee: Oki Electric Industry Co Ltd
Current assignee: Oki Electric Industry Co Ltd
Priority date: 2000-02-16
Filing date: 2000-02-16
Publication date: 2001-08-24

Abstract

(57)【要約】【課題】ＡＴＭネットワークとは切り離して、ＡＴＭ
伝送装置内で各機能ブロック毎に故障検出を行えるよう
にする。【解決手段】試験セル送信部１１は、セル伝送路１４
を介して試験セルを往路方向に送信する。この試験セル
のペイロード部には、ＡＴＭ伝送装置１内の各機能ブロ
ック１０ａ〜１０ｃの数と同数のＬＢＦ_x（ｘ＝ａ〜
ｃ）フィールドが設けられている。各機能ブロック１０
ａ〜１０ｃは、試験セルをコピーし、コピーした試験セ
ルをもとの試験セルから分離し、分離した試験セルのＬ
ＢＦ_xフィールドに折返しを示すデータを書き込んでセ
ル伝送路１５に挿入する。試験セル受信部１２は、試験
セルを正常に送信しなかった機能ブロックを故障箇所と
して検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、非同期転送モード
（ＡＴＭ：Asynchronous Transfer Mode、以後「ＡＴ
Ｍ」と記す。）交換機や移動通信基地局（ＢＴＳ：Base
‐station Transceiver System）などＡＴＭ回線に接続
されているＡＴＭ伝送装置において、そのＡＴＭ伝送装
置内のセル伝送路の故障検出を実現する故障検出装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】ＡＴＭネットワークでは、ネットワーク
内の故障や性能などを監視し、異常があったときは他の
ルートへ迂回したり装置を予備に切り替えたりする必要
がある。

【０００３】このＡＴＭネットワークの運用・管理のた
め、ＩＴＵ−Ｔ（International Telecommunication Un
ion‐Telecommunication Sector）では、ＯＡＭ（Opera
tionand management）が規定されている。このＯＡＭ試
験の１つにループバック試験があり、このループバック
試験を用いることにより特定区間の導通状態を監視で
き、その特定区間の故障検出を行うことができる。

【０００４】ループバック試験はループバックセルを使
用して行われる。このループバックセルには、このセル
がループバックセルであることを示すＯＡＭセル種別、
ＯＡＭ機能種別、受信したループバックセルがループバ
ックしたものかどうかを表すループバック表示、送出し
たループバックセルと受信したループバックセルとの対
応を示す相関タグ、ループバックする位置を示すループ
バックロケーションＩＤ、ループバックセルを挿入した
装置を表すソースＩＤ、更にこのループバックセルのペ
イロード情報の誤り検出に用いられるＣＲＣ（Cyclic R
edundancy Check）−１０が含まれている。

【０００５】このループバック機能を用いることによ
り、ＡＴＭネットワークのどの伝送路又はＡＴＭ交換機
で障害、故障が発生しているかを特定することができ
る。このループバック機能を用いた故障検出装置として
は、装置内で区分された機能ブロック毎にループバック
セルのループバックロケーションＩＤを割り当てること
により、その機能ブロック毎にループバックセルをルー
プバックさせる技術が開示されている（特開平１１−１
２２２６１号公報等参照）。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のＡＴＭ伝送装置における故障検出装置では、
機能ブロック毎にループバックロケーションＩＤを割り
当ててこのセルをループバックさせているので、ループ
バックは１つの試験セルに対して装置内の１つの機能ブ
ロックに限られる。このため、故障箇所を特定するに
は、試験セルを数回送信する必要がある。

【０００７】また、ループバックＩＤの割当てはＡＴＭ
ネットワークのシステムに依存しているため、この装置
を新規の伝送装置などに取替え、その新規の伝送装置の
装置内の区分を変更した場合、新規の伝送装置内の区分
を保守センタ等において再度設定しなければならない。
従って、ループバック試験を容易に行えるようにするた
めには、ＡＴＭネットワークとは切り離してＡＴＭ伝送
装置内で故障検出を行なえることが好ましい。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明は以上の点を解決
するため次の構成を採用する。〈構成１〉請求項１の発明に係るＡＴＭ伝送装置におけ
る故障検出装置は、非同期転送モード回線のネットワー
クに接続されてセルを伝送するものであって、装置の機
能を実現するための機能ブロックが機能毎に設けられ、
往路方向及び復路方向の伝送路を介して順次接続された
非同期転送モード伝送装置において、当該装置内に、各
機能ブロックに対応した所定フィールドが設けられた故
障検出用の試験セルを、往路方向の伝送路を介して機能
ブロックに送信する試験セル送信部と、前記復路方向の
伝送路を介して機能ブロックから送信された試験セルを
受信し、当該試験セルの所定フィールドの書き込まれた
データ及び受信した試験セルの数に基づいて各機能ブロ
ックの故障を検出する試験セル受信部と、を備え、前記
各機能ブロックに、前記試験セル送信部から送信された
試験セルを認識し、当該試験セルを複写して元の試験セ
ルから分離する試験セル分離部と、該試験セル分離部に
よって分離された試験セルの当該機能ブロックに対応す
る所定フィールドに、当該機能ブロックでの折返しを示
すデータを書き込む試験セル書込み部と、該試験セル書
込み部によりデータが書き込まれた試験セルを復路方向
の伝送路に挿入する試験セル挿入部と、を備えるように
した。

【０００９】〈構成２〉請求項２の発明に係るＡＴＭ伝
送装置における故障検出装置では、前記試験セル送信部
が、試験セルのヘッダに続くペイロード部に各機能ブロ
ックに対応した所定フィールドを設け、該フィールドを
初期化して送信するように構成されている。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を具体
例を用いて説明する。〈具体例１〉具体例１は、ＡＴＭネットワークとは切り
離してＡＴＭ伝送装置内で試験セルの生成、コピー、折
返しを行い、ＡＴＭ伝送装置内で故障個所を検出できる
ようにしたものである。

【００１１】図１は、具体例１の構成を示すブロック図
である。このＡＴＭ伝送装置１〜３は、ＡＴＭのルーテ
ィングを行い、セルの分解、組立を行ってＡＴＭセルを
伝送する装置であり、ＡＴＭ伝送装置１は、セル伝送路
（往路方向）１４，セル伝送路（復路方向）１５を介し
て隣接したＡＴＭ伝送装置２，３にそれぞれ接続されて
いる。そして、ＡＴＭ伝送装置２は、さらにＡＴＭ回線
を介して保守センタ４に接続され、これによりＡＴＭネ
ットワークが構成されている。

【００１２】ＡＴＭ伝送装置１〜３は、機能ブロック
（パッケージ）１０ａ〜１０ｃと、試験セル送信部１１
と、試験セル受信部１２と、制御部１３と、を備えて構
成されている。

【００１３】機能ブロック１０ａ〜１０ｃは、ＡＴＭ伝
送装置の機能を実現するため、機能毎に設けられたブロ
ックである。尚、具体例１では、機能ブロック１０ａ及
び１０ｃが、ＡＴＭ伝送装置２，３と接続するためのイ
ンタフェースとして機能している。

【００１４】試験セル送信部１１は、セル伝送路１４に
接続され、セル伝送路１４を介して試験セルを往路方向
に送信するものである。この試験セルには、各機能ブロ
ックに対応した所定フィールドが設けられているが、こ
れについては後述する。

【００１５】試験セル受信部１２は、セル伝送路１５に
接続され、復路方向に送信された試験セルを認識して受
信し、試験セルに書き込まれた折返しを示すデータ及び
受信した試験セルの数に基づいて故障箇所を検出するも
のである。制御部１３は、制御バス１７を介して機能ブ
ロック１０ａ〜１０ｃ、試験セル送信部１１、試験セル
受信部１２を制御するものである。

【００１６】図２は、ＡＴＭ伝送装置１〜３内の機能ブ
ロック１０ａ〜１０ｃの構成を示すブロック図である。
機能ブロック１０ａ〜１０ｃは、それぞれ個別処理部１
００と、試験セル分離部１０１と、試験セル書込み部１
０２と、試験セル挿入部１０３と、を備えて構成されて
いる。

【００１７】個別処理部１００、試験セル分離部１０
１、試験セル挿入部１０３は、ともにセル伝送路１４，
１５に接続され、試験セル分離部１０１、試験セル書込
み部１０２、試験セル挿入部１０３は、ループバックセ
ル伝送路１６を介して接続されている。

【００１８】個別処理部１００は、機能を実現するため
の処理を実行するブロックである。試験セル分離部１０
１は、セル伝送路１４を介して試験セル送信部１１から
送信された試験セルの認識、コピー、分離を行うブロッ
クである。

【００１９】試験セル書込み部１０２は、試験セル分離
部１０１によって分離された試験セルに折返しを示すデ
ータを書き込むブロックであり、ループバックセル伝送
路１６により試験セル分離部１０１及び試験セル挿入部
１０３と接続されている。試験セル挿入部１０３は、試
験セル書込み部１０２によって折返しを示すデータが書
き込まれた試験セルを復路方向の伝送路１５に挿入する
ブロックである。

【００２０】図３は、試験セルのフォーマットを示す説
明図である。試験セルの先頭５バイトのエリアには、Ａ
ＴＭ基本フォーマットと同じ４バイトのＡＴＭヘッダと
１バイトのＨＥＣ（Header Error Control）が書き込ま
れる。このＡＴＭヘッダは、試験セル専用に設定された
コネクションＶＰＩ（Virtual Path ldentifer）及びＶ
ＣＩ（Virtual Channel ldentifer）を示す。

【００２１】その後に続くペイロード部（４８バイト）
には、故障検出対象のＡＴＭ伝送装置１内の各機能ブロ
ック（パッケージ）１０ａ〜１０ｃの数と同数のＬＢＦ
_x（ｘ＝ａ〜ｃ）フィールドが設定される。このＬＢＦ
_xフィールドに機能ブロック１０xでの折返し（LoopBac
k）を示すデータが書き込まれる。

【００２２】具体例１では、図１に示すように、３つの
機能ブロック１０ａ〜１０ｃがあるので、合計３バイト
のＬＢＦ_a、ＬＢＦ_b、ＬＢＦ_cフィールドが設定され
る。尚、ＬＢＦ_a、ＬＢＦ_b、ＬＢＦ_cフィールド以降
のペイロードはＤ.Ｃ.（Don't care）とする。

【００２３】〈動作〉次に具体例１の動作を説明する。
故障検出を行うとき、隣接したＡＴＭ伝送装置２，３ま
たはＡＴＭネットワークの保守センタ４からＡＴＭ伝送
装置１の制御部１３に故障検出要求が送信され、この要
求は、制御部１３から制御バス１７を介して各機能ブロ
ック１０ａ〜１０ｃ、試験セル送信部１１、試験セル受
信部１２に送信される。

【００２４】図４は、故障がないときの動作を示す説明
図である。試験セル送信部１１では、この故障検出要求
に応じて試験セルＬＢＣが生成される。そして、この試
験セルＬＢＣのペイロード部に設けられたＬＢＦ_a、Ｌ
ＢＦ_b、ＬＢＦ_cフィールドに全ビット“０”が書き込
まれる。

【００２５】この試験セルＬＢＣは、セル伝送路１４を
介して、まず、機能ブロック１０ａに送信され、機能ブ
ロック１０ａの個別処理部１００を経て試験セル分離部
１０１に入力される。

【００２６】この試験セルＬＢＣのＡＴＭヘッダのＶＰ
Ｉ及びＶＣＩが試験セル専用コネクションであることを
示しているため、試験セル分離部１０１によりこのセル
が試験セルであることが認識され、その試験セルＬＢＣ
がコピーされて試験セルＬＢＣ_aが生成される。

【００２７】そして、元の試験セルＬＢＣはそのままセ
ル伝送路１４を介して伝送され、分離された試験セルＬ
ＢＣ_aは、ループバックセル伝送路１６を介して試験セ
ル書込み部１０２に送信される。

【００２８】試験セル書込み部１０２では、試験セルＬ
ＢＣ_aのＬＢＦ_aフィールドに全ビット“１”が書き込
まれ、この試験セルＬＢＣ_aは、ループバックセル伝送
路１６を介して試験セル挿入部１０３に送信される。こ
の試験セルＬＢＣ_aは、試験セル挿入部１０３によって
伝送路１５に挿入され、機能ブロック１０ａの個別処理
部１００を経て復路方向に送信される。

【００２９】一方、セル伝送路１４に出力された試験セ
ルＬＢＣは、機能ブロック１０ｂに入力され、この試験
セルＬＢＣは、試験セル分離部１０１によって試験セル
であることが認識され、同じようにコピーされ、試験セ
ルＬＢＣ_bが試験セルＬＢＣから分離される。

【００３０】そして、試験セル書込み部１０２により、
試験セルＬＢＣから分離された試験セルＬＢＣ_bのＬＢ
Ｆ_bフィールドに全ビット“１”が書き込まれる。この
試験セルＬＢＣ_bは試験セル挿入部１０３によって伝送
路１５に挿入され、復路方向に送信される。

【００３１】さらに、セル伝送路１４に出力された試験
セルＬＢＣは、機能ブロック１０ｃに入力され、機能ブ
ロック１０ａ，１０ｂと同様の処理が行われて、ＬＢＦ
_cフィールドに全ビット“１”が書き込まれた試験セル
ＬＢＣ_cが機能ブロック１０ｃからセル伝送路１５を介
して復路方向に送信される。

【００３２】従って、機能ブロック１０ａ，１０ｂ，１
０ｃに故障がなければ、セル伝送路１５を介して試験セ
ルＬＢＣ_a，ＬＢＣ_b，ＬＢＣ_cがそれぞれ１つずつ伝
送される。

【００３３】試験セル受信部１２は、伝送路１５を介し
て送信された試験セルＬＢＣ_a、ＬＢＣ_b、ＬＢＣ_cの
ＡＴＭヘッダが試験セル専用コネクションを示している
ので、これらのセルが試験セルであることを認識する。

【００３４】この試験セルのＬＢＦ_aフィールドに全ビ
ット“１”が書き込まれていれば、この試験セルが機能
ブロック１０ａから折返された試験セルＬＢＣ_aである
ことが試験セル受信部１２によって認識され、試験セル
ＬＢＣ_aが試験セル受信部１２によって受信される。試
験セルＬＢＣ_b、ＬＢＣ_cについても試験セル受信部１
２によって同様に受信される。

【００３５】そして、試験セル受信部１２は、試験セル
ＬＢＣ_a、ＬＢＦ_b、ＬＢＦ_cの対応するＬＢＦ_a、Ｌ
ＢＦ_b、ＬＢＦ_cフィールドにそれぞれ全ビット“１”
が書き込まれていることを確認して各機能ブロック１０
ａ、１０ｂ、１０ｃに故障がなかったと判断する。

【００３６】この試験セル受信部１２による検出結果
は、制御バス１７を介して制御部１３に送信される。制
御部１３では、受信した故障検出結果が故障検出要求を
出力した保守センタ４又は隣接したＡＴＭ伝送装置２、
３に送信される。

【００３７】次に、機能ブロック１０ａ〜１０ｃのいず
れか１つが故障したときの故障検出動作について説明す
る。図５は、例として機能ブロック１０ｃが故障したと
きの動作（１）を示す説明図である。

【００３８】図５に示すように、試験セル受信部１２
が、折返された試験セルを３つ受信すべきところ、試験
セルＬＢＣ_a，ＬＢＣ_bだけを受信し、試験セルＬＢＣ
_cを受信しなかったときは、機能ブロック１０ｂから機
能ブロック１０ｃに送信された試験セルＬＢＣが機能ブ
ロック１０ｃ内部にて破棄されたと考えられ、従って、
機能ブロック１０ｃが故障箇所として検出される。

【００３９】尚、試験セル受信部１２が試験セルＬＢＣ
_a、ＬＢＣ_b、ＬＢＣ_cの全てを受信しても、受信した
試験セルＬＢＣ_a、ＬＢＣ_b、ＬＢＣ_cのそれぞれＬＢ
Ｆ_a、ＬＢＦ_b、ＬＢＦ_cフィールドに書き込まれてい
るデータが異常のときは、対応する機能ブロック１０ａ
の試験セル書込み部１０２が故障箇所として検出され
る。

【００４０】図６は、機能ブロック１０ｂが故障したと
きの動作（２）を示す説明図である。図６に示すよう
に、試験セル受信部１２が、試験セルＬＢＣ_a，ＬＢＣ
_cを受信し、試験セルＬＢＣ_bを受信しなかったとき
は、試験セルＬＢＣが機能ブロック１０ｂの個別処理部
１００、試験セル分離部１０１、試験セル書込み部１０
２、試験セル挿入部１０３のいずれかにおいて破棄され
たと考えられ、従って、機能ブロック１０ｂが故障箇所
として検出される。

【００４１】図７は、機能ブロック１０ｂ内で故障が生
じたときの動作（３）を示す説明図である。図７に示す
ように、試験セル受信部１２が、折返された試験セルを
３つ受信すべきところ、試験セルＬＢＣ_a、ＬＢＣ_b、
ＬＢＣ_b、ＬＢＣ_cの４つを受信した場合、試験セル分
離部１０１、試験セル挿入部１０３、ループバックセル
伝送路１６及び個別処理部１００のうちのいずれかが故
障したものと考えられる。

【００４２】即ち、試験セル分離部１０１が試験セルＬ
ＢＣを２回コピーした場合、試験セル分離部１０１が試
験セルＬＢＣを２回セル伝送路１５に挿入した場合、個
別処理部１００が試験セルＬＢＣを２回コピーした場
合、機能ブロック１０ｂから２つの試験セルＬＢＣ_bが
送信される。従って、試験セルＬＢＣ_bが重複している
ときは、上記ブロックのいずれかが故障箇所として検出
される。

【００４３】図８は、機能ブロック１０ｂ内で故障が生
じたときの動作（４）を示す説明図である。図８に示す
ように、試験セル受信部１２が、折返された試験セルを
３つ受信すべきところ、試験セルＬＢＣ_a、ＬＢＣ_b、
ＬＢＣ_b、ＬＢＣ_c、ＬＢＣ_cの５つを受信した場合、
機能ブロック１０ｂの個別処理部１００、試験セル分離
部１０１のうちのいずれかが故障していると考えられ
る。

【００４４】即ち、個別処理部１００が試験セルＬＢＣ
を２回コピーした場合、試験セル分離部１０１が試験セ
ルＬＢＣを２回コピーした場合、機能ブロック１０ｂか
ら２つの試験セルＬＢＣ_bが送信される。

【００４５】この場合、機能ブロック１０ｃからは、２
つの試験セルＬＢＣに対して２つの試験セルＬＢＣ_cが
送信されるので、機能ブロック１０ｃの故障を判断する
前に、試験セルＬＢＣ送信側の機能ブロック１０ｂの故
障が判断される。従って、試験セルＬＢＣ_b及びＬＢＣ
_cが重複しているときは、機能ブロック１０ｂの上記ブ
ロックのいずれかが故障箇所として検出される。

【００４６】〈具体例１の効果〉以上、説明したように
具体例１によれば、ＡＴＭ伝送装置内で、試験セル送信
部１１から１つの試験セルＬＢＣを送信し、この試験セ
ルＬＢＣを各機能ブロック１０ａ〜１０ｃ内でコピー、
分離し、書き込みを行って折返すようにしたので、ＡＴ
Ｍネットワークとは切り離してＡＴＭ伝送装置内で故障
検出を行うことができ、ＡＴＭ伝送装置内の故障検出を
各機能ブロック毎に行うこともできる。

【００４７】また、このように１度の試験セルの送信で
故障検出を行えるので、短時間に各ＡＴＭ伝送装置内の
故障箇所の検出が可能となり、ＡＴＭネットワークとは
切り離して故障検出を行えるので、新規のＡＴＭ伝送装
置に取替えられて伝送装置内の区分が変更された場合で
も、保守センタ等ネットワークのシステムにおいて装置
内区分を再度設定する必要もなく、容易に故障箇所の検
出を行える。

【図面の簡単な説明】

【図１】具体例１の構成を示すブロック図である。

【図２】具体例１の機能ブロックの構成を示すブロック
図である。

【図３】具体例１の試験セルのフォーマットの説明図で
ある。

【図４】具体例１の故障がないときの動作を示す説明図
である。

【図５】具体例１の機能ブロック故障時の動作（１）を
示す説明図である。

【図６】具体例１の機能ブロック故障時の動作（２）を
示す説明図である。

【図７】具体例１の機能ブロック故障時の動作（３）を
示す説明図である。

【図８】具体例１の機能ブロック故障時の動作（４）を
示す説明図である。

【符号の説明】

１〜３ＡＴＭ伝送装置１０ａ，１０ｂ，１０ｃ機能ブロック１１試験セル送信部１２試験セル受信部１３制御部１０１試験セル分離部１０２試験セル書込み部１０３試験セル挿入部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】非同期転送モード回線のネットワークに
接続されてセルを伝送するものであって、装置の機能を
実現するための機能ブロックが機能毎に設けられ、往路
方向及び復路方向の伝送路を介して順次接続された非同
期転送モード伝送装置において、当該装置内に、各機能ブロックに対応した所定フィール
ドが設けられた故障検出用の試験セルを、往路方向の伝
送路を介して機能ブロックに送信する試験セル送信部
と、前記復路方向の伝送路を介して機能ブロックから送信さ
れた試験セルを受信し、当該試験セルの所定フィールド
の書き込まれたデータ及び受信した試験セルの数に基づ
いて各機能ブロックの故障を検出する試験セル受信部
と、を備え、前記各機能ブロックに、前記試験セル送信部から送信された試験セルを認識し、
当該試験セルを複写して元の試験セルから分離する試験
セル分離部と、該試験セル分離部によって分離された試験セルの当該機
能ブロックに対応する所定フィールドに、当該機能ブロ
ックでの折返しを示すデータを書き込む試験セル書込み
部と、該試験セル書込み部によりデータが書き込まれた試験セ
ルを復路方向の伝送路に挿入する試験セル挿入部と、を
備えたことを特徴とする非同期転送モード伝送装置にお
ける故障検出装置。
【請求項２】前記試験セル送信部は、試験セルのヘッ
ダに続くペイロード部に各機能ブロックに対応した所定
フィールドを設け、該フィールドを初期化して送信する
ように構成された請求項１に記載の非同期転送モード伝
送装置における故障検出装置。