JP2001230780A - Fault detector in asynchronous transfer mode transmitter - Google Patents
Fault detector in asynchronous transfer mode transmitterInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、非同期転送モード
(ATM:Asynchronous Transfer Mode、以後「AT
M」と記す。)交換機や移動通信基地局(BTS:Base
‐station Transceiver System)などATM回線に接続
されているATM伝送装置において、そのATM伝送装
置内のセル伝送路の故障検出を実現する故障検出装置に
関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an asynchronous transfer mode (ATM).
M ”. ) Switches and mobile communication base stations (BTS: Base)
The present invention relates to a failure detection device that realizes failure detection of a cell transmission line in an ATM transmission device connected to an ATM line, such as an ATM transmission device.
【0002】[0002]
【従来の技術】ATMネットワークでは、ネットワーク
内の故障や性能などを監視し、異常があったときは他の
ルートへ迂回したり装置を予備に切り替えたりする必要
がある。2. Description of the Related Art In an ATM network, it is necessary to monitor failures and performances in the network, and when there is an abnormality, it is necessary to detour to another route or switch a device to a spare.
【0003】このATMネットワークの運用・管理のた
め、ITU−T(International Telecommunication Un
ion‐Telecommunication Sector)では、OAM(Opera
tionand management)が規定されている。このOAM試
験の1つにループバック試験があり、このループバック
試験を用いることにより特定区間の導通状態を監視で
き、その特定区間の故障検出を行うことができる。In order to operate and manage this ATM network, an ITU-T (International Telecommunications Un
In ion-Telecommunication Sector, OAM (Opera
and management are specified. One of the OAM tests is a loop-back test. By using the loop-back test, the conduction state of a specific section can be monitored, and a failure of the specific section can be detected.
【0004】ループバック試験はループバックセルを使
用して行われる。このループバックセルには、このセル
がループバックセルであることを示すOAMセル種別、
OAM機能種別、受信したループバックセルがループバ
ックしたものかどうかを表すループバック表示、送出し
たループバックセルと受信したループバックセルとの対
応を示す相関タグ、ループバックする位置を示すループ
バックロケーションID、ループバックセルを挿入した
装置を表すソースID、更にこのループバックセルのペ
イロード情報の誤り検出に用いられるCRC(Cyclic R
edundancy Check)−10が含まれている。[0004] Loopback tests are performed using loopback cells. This loopback cell includes an OAM cell type indicating that this cell is a loopback cell,
OAM function type, loopback display indicating whether the received loopback cell is loopback, correlation tag indicating correspondence between transmitted loopback cell and received loopback cell, loopback location indicating loopback position ID, a source ID indicating a device into which the loopback cell is inserted, and a CRC (Cyclic R) used for error detection of payload information of the loopback cell.
edundancy Check) -10.
【0005】このループバック機能を用いることによ
り、ATMネットワークのどの伝送路又はATM交換機
で障害、故障が発生しているかを特定することができ
る。このループバック機能を用いた故障検出装置として
は、装置内で区分された機能ブロック毎にループバック
セルのループバックロケーションIDを割り当てること
により、その機能ブロック毎にループバックセルをルー
プバックさせる技術が開示されている(特開平11−1
22261号公報等参照)。[0005] By using this loopback function, it is possible to specify which transmission line or ATM exchange in the ATM network has a failure or failure. As a failure detection device using this loopback function, there is a technology that assigns a loopback location ID of a loopback cell to each functional block divided in the device, thereby looping back the loopback cell for each functional block. It is disclosed (JP-A-11-1
No. 22261).
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のATM伝送装置における故障検出装置では、
機能ブロック毎にループバックロケーションIDを割り
当ててこのセルをループバックさせているので、ループ
バックは1つの試験セルに対して装置内の1つの機能ブ
ロックに限られる。このため、故障箇所を特定するに
は、試験セルを数回送信する必要がある。However, in such a conventional ATM transmission equipment,
Since this cell is looped back by assigning a loopback location ID for each functional block, loopback is limited to one functional block in the apparatus for one test cell. For this reason, it is necessary to transmit the test cell several times in order to specify the failure location.
【0007】また、ループバックIDの割当てはATM
ネットワークのシステムに依存しているため、この装置
を新規の伝送装置などに取替え、その新規の伝送装置の
装置内の区分を変更した場合、新規の伝送装置内の区分
を保守センタ等において再度設定しなければならない。
従って、ループバック試験を容易に行えるようにするた
めには、ATMネットワークとは切り離してATM伝送
装置内で故障検出を行なえることが好ましい。[0007] The loopback ID is assigned by ATM.
Since this device depends on the network system, if this device is replaced with a new transmission device, etc., and the classification within the device of the new transmission device is changed, the classification within the new transmission device is set again at the maintenance center, etc. Must.
Therefore, in order to facilitate the loopback test, it is preferable that failure detection can be performed in the ATM transmission device separately from the ATM network.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】本発明は以上の点を解決
するため次の構成を採用する。 〈構成1〉請求項1の発明に係るATM伝送装置におけ
る故障検出装置は、非同期転送モード回線のネットワー
クに接続されてセルを伝送するものであって、装置の機
能を実現するための機能ブロックが機能毎に設けられ、
往路方向及び復路方向の伝送路を介して順次接続された
非同期転送モード伝送装置において、当該装置内に、各
機能ブロックに対応した所定フィールドが設けられた故
障検出用の試験セルを、往路方向の伝送路を介して機能
ブロックに送信する試験セル送信部と、前記復路方向の
伝送路を介して機能ブロックから送信された試験セルを
受信し、当該試験セルの所定フィールドの書き込まれた
データ及び受信した試験セルの数に基づいて各機能ブロ
ックの故障を検出する試験セル受信部と、を備え、前記
各機能ブロックに、前記試験セル送信部から送信された
試験セルを認識し、当該試験セルを複写して元の試験セ
ルから分離する試験セル分離部と、該試験セル分離部に
よって分離された試験セルの当該機能ブロックに対応す
る所定フィールドに、当該機能ブロックでの折返しを示
すデータを書き込む試験セル書込み部と、該試験セル書
込み部によりデータが書き込まれた試験セルを復路方向
の伝送路に挿入する試験セル挿入部と、を備えるように
した。The present invention employs the following structure to solve the above problems. <Configuration 1> A failure detection device in an ATM transmission device according to the first aspect of the present invention is connected to an asynchronous transfer mode line network to transmit cells, and has a functional block for realizing the function of the device. Provided for each function,
In an asynchronous transfer mode transmission device sequentially connected via transmission lines in the forward direction and the return direction, a test cell for failure detection in which a predetermined field corresponding to each functional block is provided in the device, in the forward direction. A test cell transmitting unit for transmitting to the functional block via the transmission path, receiving the test cell transmitted from the functional block via the transmission path in the backward direction, and receiving and writing data in a predetermined field of the test cell; A test cell receiving unit that detects a failure of each functional block based on the number of test cells that have been set, and recognizes the test cell transmitted from the test cell transmitting unit in each of the functional blocks, and A test cell separating unit for copying and separating from the original test cell, and a predetermined field corresponding to the function block of the test cell separated by the test cell separating unit A test cell writing unit for writing data indicating a return in the functional block, and a test cell insertion unit for inserting a test cell in which data is written by the test cell writing unit into a transmission path in the backward direction. did.
【0009】〈構成2〉請求項2の発明に係るATM伝
送装置における故障検出装置では、前記試験セル送信部
が、試験セルのヘッダに続くペイロード部に各機能ブロ
ックに対応した所定フィールドを設け、該フィールドを
初期化して送信するように構成されている。<Structure 2> In the failure detecting device in the ATM transmission device according to the second aspect of the present invention, the test cell transmitting section provides a predetermined field corresponding to each functional block in a payload section following a header of the test cell, It is configured to initialize and transmit the field.
【0010】[0010]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を具体
例を用いて説明する。 〈具体例1〉具体例1は、ATMネットワークとは切り
離してATM伝送装置内で試験セルの生成、コピー、折
返しを行い、ATM伝送装置内で故障個所を検出できる
ようにしたものである。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention will be described below using specific examples. <Specific Example 1> In specific example 1, a test cell is generated, copied, and turned back in an ATM transmission device separately from an ATM network, so that a failed portion can be detected in the ATM transmission device.
【0011】図1は、具体例1の構成を示すブロック図
である。このATM伝送装置1〜3は、ATMのルーテ
ィングを行い、セルの分解、組立を行ってATMセルを
伝送する装置であり、ATM伝送装置1は、セル伝送路
(往路方向)14,セル伝送路(復路方向)15を介し
て隣接したATM伝送装置2,3にそれぞれ接続されて
いる。そして、ATM伝送装置2は、さらにATM回線
を介して保守センタ4に接続され、これによりATMネ
ットワークが構成されている。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the first embodiment. The ATM transmission devices 1 to 3 are devices for performing ATM routing, disassembling and assembling cells, and transmitting ATM cells. The ATM transmission device 1 includes a cell transmission path (forward direction) 14, a cell transmission path. (Return direction) 15 are connected to the adjacent ATM transmission devices 2 and 3 respectively. The ATM transmission device 2 is further connected to the maintenance center 4 via an ATM line, thereby forming an ATM network.
【0012】ATM伝送装置1〜3は、機能ブロック
(パッケージ)10a〜10cと、試験セル送信部11
と、試験セル受信部12と、制御部13と、を備えて構
成されている。The ATM transmission devices 1 to 3 include functional blocks (packages) 10 a to 10 c and a test cell transmitting unit 11.
, A test cell receiving unit 12 and a control unit 13.
【0013】機能ブロック10a〜10cは、ATM伝
送装置の機能を実現するため、機能毎に設けられたブロ
ックである。尚、具体例1では、機能ブロック10a及
び10cが、ATM伝送装置2,3と接続するためのイ
ンタフェースとして機能している。The function blocks 10a to 10c are blocks provided for each function in order to realize the functions of the ATM transmission device. In the specific example 1, the functional blocks 10a and 10c function as interfaces for connecting to the ATM transmission devices 2 and 3.
【0014】試験セル送信部11は、セル伝送路14に
接続され、セル伝送路14を介して試験セルを往路方向
に送信するものである。この試験セルには、各機能ブロ
ックに対応した所定フィールドが設けられているが、こ
れについては後述する。The test cell transmitting unit 11 is connected to the cell transmission line 14 and transmits a test cell via the cell transmission line 14 in the forward direction. The test cell is provided with a predetermined field corresponding to each functional block, which will be described later.
【0015】試験セル受信部12は、セル伝送路15に
接続され、復路方向に送信された試験セルを認識して受
信し、試験セルに書き込まれた折返しを示すデータ及び
受信した試験セルの数に基づいて故障箇所を検出するも
のである。制御部13は、制御バス17を介して機能ブ
ロック10a〜10c、試験セル送信部11、試験セル
受信部12を制御するものである。The test cell receiving unit 12 is connected to the cell transmission line 15 and recognizes and receives the test cell transmitted in the backward direction, the data indicating the return written in the test cell and the number of received test cells. The failure location is detected based on the The control unit 13 controls the function blocks 10a to 10c, the test cell transmitting unit 11, and the test cell receiving unit 12 via the control bus 17.
【0016】図2は、ATM伝送装置1〜3内の機能ブ
ロック10a〜10cの構成を示すブロック図である。
機能ブロック10a〜10cは、それぞれ個別処理部1
00と、試験セル分離部101と、試験セル書込み部1
02と、試験セル挿入部103と、を備えて構成されて
いる。FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of functional blocks 10a to 10c in the ATM transmission devices 1 to 3.
Each of the functional blocks 10a to 10c includes an individual processing unit 1.
00, the test cell separation unit 101, and the test cell writing unit 1
02 and a test cell insertion unit 103.
【0017】個別処理部100、試験セル分離部10
1、試験セル挿入部103は、ともにセル伝送路14,
15に接続され、試験セル分離部101、試験セル書込
み部102、試験セル挿入部103は、ループバックセ
ル伝送路16を介して接続されている。Individual processing unit 100, test cell separation unit 10
1. The test cell insertion unit 103 includes the cell transmission lines 14,
15, the test cell separation unit 101, the test cell writing unit 102, and the test cell insertion unit 103 are connected via a loopback cell transmission line 16.
【0018】個別処理部100は、機能を実現するため
の処理を実行するブロックである。試験セル分離部10
1は、セル伝送路14を介して試験セル送信部11から
送信された試験セルの認識、コピー、分離を行うブロッ
クである。The individual processing section 100 is a block for executing processing for realizing functions. Test cell separation unit 10
Reference numeral 1 denotes a block for recognizing, copying, and separating the test cells transmitted from the test cell transmitting unit 11 via the cell transmission line 14.
【0019】試験セル書込み部102は、試験セル分離
部101によって分離された試験セルに折返しを示すデ
ータを書き込むブロックであり、ループバックセル伝送
路16により試験セル分離部101及び試験セル挿入部
103と接続されている。試験セル挿入部103は、試
験セル書込み部102によって折返しを示すデータが書
き込まれた試験セルを復路方向の伝送路15に挿入する
ブロックである。The test cell writing unit 102 is a block for writing data indicating a return to the test cells separated by the test cell separation unit 101. The test cell separation unit 101 and the test cell insertion unit 103 are connected by the loopback cell transmission line 16. Is connected to The test cell insertion unit 103 is a block that inserts the test cell in which the data indicating the return is written by the test cell writing unit 102 into the transmission path 15 in the backward direction.
【0020】図3は、試験セルのフォーマットを示す説
明図である。試験セルの先頭5バイトのエリアには、A
TM基本フォーマットと同じ4バイトのATMヘッダと
1バイトのHEC(Header Error Control)が書き込ま
れる。このATMヘッダは、試験セル専用に設定された
コネクションVPI(Virtual Path ldentifer)及びV
CI(Virtual Channel ldentifer)を示す。FIG. 3 is an explanatory diagram showing the format of a test cell. In the area of the first 5 bytes of the test cell, A
The same 4-byte ATM header and 1-byte HEC (Header Error Control) are written as in the TM basic format. This ATM header includes a connection VPI (Virtual Path ldentifer) and V
Indicates CI (Virtual Channel ldentifer).
【0021】その後に続くペイロード部(48バイト)
には、故障検出対象のATM伝送装置1内の各機能ブロ
ック(パッケージ)10a〜10cの数と同数のLBF
_x(x=a〜c)フィールドが設定される。このLBF
_xフィールドに機能ブロック10xでの折返し(LoopBac
k)を示すデータが書き込まれる。[0021] The payload portion (48 bytes) following the above
Has the same number of LBFs as the number of functional blocks (packages) 10a to 10c in the ATM transmission device 1 to be detected.
_x (x = a to c) fields are set. This LBF
Return in the function block 10x in the _x field (LoopBac
Data indicating k) is written.
【0022】具体例1では、図1に示すように、3つの
機能ブロック10a〜10cがあるので、合計3バイト
のLBF_a、LBF_b、LBF_cフィールドが設定され
る。尚、LBF_a、LBF_b、LBF_cフィールド以降
のペイロードはD.C.(Don't care)とする。In the first embodiment, as shown in FIG. 1, since there are three functional blocks 10a to 10c, LBF_a, LBF_b, and LBF_c fields having a total of 3 bytes are set. Note that the payload after the LBF_a, LBF_b, and LBF_c fields is DC (Don't care).
【0023】〈動作〉次に具体例1の動作を説明する。
故障検出を行うとき、隣接したATM伝送装置2,3ま
たはATMネットワークの保守センタ4からATM伝送
装置1の制御部13に故障検出要求が送信され、この要
求は、制御部13から制御バス17を介して各機能ブロ
ック10a〜10c、試験セル送信部11、試験セル受
信部12に送信される。<Operation> Next, the operation of the first embodiment will be described.
When performing a failure detection, a failure detection request is transmitted from the adjacent ATM transmission devices 2 and 3 or the maintenance center 4 of the ATM network to the control unit 13 of the ATM transmission device 1, and the request is transmitted from the control unit 13 to the control bus 17. The data is transmitted to each of the functional blocks 10 a to 10 c, the test cell transmitting unit 11, and the test cell receiving unit 12.
【0024】図4は、故障がないときの動作を示す説明
図である。試験セル送信部11では、この故障検出要求
に応じて試験セルLBCが生成される。そして、この試
験セルLBCのペイロード部に設けられたLBF_a、L
BF_b、LBF_cフィールドに全ビット“0”が書き込
まれる。FIG. 4 is an explanatory diagram showing the operation when there is no failure. The test cell transmitting unit 11 generates a test cell LBC in response to the failure detection request. Then, LBF_a, LBF_a, LBF provided in the payload section of the test cell LBC
All bits “0” are written in the BF_b and LBF_c fields.
【0025】この試験セルLBCは、セル伝送路14を
介して、まず、機能ブロック10aに送信され、機能ブ
ロック10aの個別処理部100を経て試験セル分離部
101に入力される。The test cell LBC is first transmitted to the functional block 10a via the cell transmission line 14, and is input to the test cell separating unit 101 via the individual processing unit 100 of the functional block 10a.
【0026】この試験セルLBCのATMヘッダのVP
I及びVCIが試験セル専用コネクションであることを
示しているため、試験セル分離部101によりこのセル
が試験セルであることが認識され、その試験セルLBC
がコピーされて試験セルLBC_aが生成される。The VP of the ATM header of the test cell LBC
Since I and VCI indicate that the connection is dedicated to a test cell, the test cell separating unit 101 recognizes that this cell is a test cell, and the test cell LBC
Is copied to generate a test cell LBC_a.
【0027】そして、元の試験セルLBCはそのままセ
ル伝送路14を介して伝送され、分離された試験セルL
BC_aは、ループバックセル伝送路16を介して試験セ
ル書込み部102に送信される。The original test cell LBC is transmitted as it is via the cell transmission line 14, and the separated test cell LBC is transmitted.
BC_a is transmitted to the test cell writing unit 102 via the loopback cell transmission line 16.
【0028】試験セル書込み部102では、試験セルL
BC_aのLBF_aフィールドに全ビット“1”が書き込
まれ、この試験セルLBC_aは、ループバックセル伝送
路16を介して試験セル挿入部103に送信される。こ
の試験セルLBC_aは、試験セル挿入部103によって
伝送路15に挿入され、機能ブロック10aの個別処理
部100を経て復路方向に送信される。In the test cell writing section 102, the test cell L
All bits “1” are written in the LBF_a field of BC_a, and the test cell LBC_a is transmitted to the test cell insertion unit 103 via the loopback cell transmission line 16. The test cell LBC_a is inserted into the transmission path 15 by the test cell insertion unit 103, and transmitted in the return path direction via the individual processing unit 100 of the functional block 10a.
【0029】一方、セル伝送路14に出力された試験セ
ルLBCは、機能ブロック10bに入力され、この試験
セルLBCは、試験セル分離部101によって試験セル
であることが認識され、同じようにコピーされ、試験セ
ルLBC_bが試験セルLBCから分離される。On the other hand, the test cell LBC output to the cell transmission line 14 is input to the function block 10b. This test cell LBC is recognized by the test cell separation unit 101 as a test cell, and is similarly copied. Then, the test cell LBC_b is separated from the test cell LBC.
【0030】そして、試験セル書込み部102により、
試験セルLBCから分離された試験セルLBC_bのLB
F_bフィールドに全ビット“1”が書き込まれる。この
試験セルLBC_bは試験セル挿入部103によって伝送
路15に挿入され、復路方向に送信される。Then, the test cell writing section 102
LB of test cell LBC_b separated from test cell LBC
All bits “1” are written in the F_b field. This test cell LBC_b is inserted into the transmission line 15 by the test cell insertion unit 103, and is transmitted in the backward direction.
【0031】さらに、セル伝送路14に出力された試験
セルLBCは、機能ブロック10cに入力され、機能ブ
ロック10a,10bと同様の処理が行われて、LBF
_cフィールドに全ビット“1”が書き込まれた試験セル
LBC_cが機能ブロック10cからセル伝送路15を介
して復路方向に送信される。Further, the test cell LBC output to the cell transmission line 14 is input to the function block 10c, and the same processing as that of the function blocks 10a and 10b is performed, thereby obtaining the LBF.
The test cell LBC_c in which all bits “1” are written in the _c field is transmitted from the functional block 10c via the cell transmission line 15 in the backward direction.
【0032】従って、機能ブロック10a,10b,1
0cに故障がなければ、セル伝送路15を介して試験セ
ルLBC_a,LBC_b,LBC_cがそれぞれ1つずつ伝
送される。Therefore, the function blocks 10a, 10b, 1
If there is no failure in 0c, one test cell LBC_a, one LBC_b, one LBC_c is transmitted via the cell transmission line 15.
【0033】試験セル受信部12は、伝送路15を介し
て送信された試験セルLBC_a、LBC_b、LBC_cの
ATMヘッダが試験セル専用コネクションを示している
ので、これらのセルが試験セルであることを認識する。Since the ATM headers of the test cells LBC_a, LBC_b, and LBC_c transmitted via the transmission line 15 indicate the test cell dedicated connection, the test cell receiving unit 12 determines that these cells are test cells. recognize.
【0034】この試験セルのLBF_aフィールドに全ビ
ット“1”が書き込まれていれば、この試験セルが機能
ブロック10aから折返された試験セルLBC_aである
ことが試験セル受信部12によって認識され、試験セル
LBC_aが試験セル受信部12によって受信される。試
験セルLBC_b、LBC_cについても試験セル受信部1
2によって同様に受信される。If all the bits “1” are written in the LBF_a field of the test cell, the test cell receiving unit 12 recognizes that the test cell is the test cell LBC_a turned back from the functional block 10a, and The cell LBC_a is received by the test cell receiving unit 12. Test cells LBC_b and LBC_c are also included in test cell receiver 1
2 is also received.
【0035】そして、試験セル受信部12は、試験セル
LBC_a、LBF_b、LBF_cの対応するLBF_a、L
BF_b、LBF_cフィールドにそれぞれ全ビット“1”
が書き込まれていることを確認して各機能ブロック10
a、10b、10cに故障がなかったと判断する。Then, the test cell receiving section 12 sends the corresponding LBF_a, LBF_a, LBF_a, LBF_c of the test cells LBC_a, LBF_b, LBF_c.
All bits “1” in the BF_b and LBF_c fields
Is written in each function block 10
It is determined that no fault has occurred in a, 10b, and 10c.
【0036】この試験セル受信部12による検出結果
は、制御バス17を介して制御部13に送信される。制
御部13では、受信した故障検出結果が故障検出要求を
出力した保守センタ4又は隣接したATM伝送装置2、
3に送信される。The result of detection by the test cell receiving unit 12 is transmitted to the control unit 13 via the control bus 17. In the control unit 13, the received failure detection result indicates that the maintenance center 4 or the adjacent ATM transmission device 2, which has output the failure detection request,
3 is sent.
【0037】次に、機能ブロック10a〜10cのいず
れか1つが故障したときの故障検出動作について説明す
る。図5は、例として機能ブロック10cが故障したと
きの動作(1)を示す説明図である。Next, a failure detection operation when any one of the functional blocks 10a to 10c fails will be described. FIG. 5 is an explanatory diagram showing an operation (1) when the functional block 10c fails as an example.
【0038】図5に示すように、試験セル受信部12
が、折返された試験セルを3つ受信すべきところ、試験
セルLBC_a,LBC_bだけを受信し、試験セルLBC
_cを受信しなかったときは、機能ブロック10bから機
能ブロック10cに送信された試験セルLBCが機能ブ
ロック10c内部にて破棄されたと考えられ、従って、
機能ブロック10cが故障箇所として検出される。As shown in FIG. 5, the test cell receiving section 12
Should receive three folded test cells, but receive only test cells LBC_a and LBC_b and test cell LBC
When _c is not received, it is considered that the test cell LBC transmitted from the function block 10b to the function block 10c is discarded inside the function block 10c, and therefore,
The function block 10c is detected as a failure location.
【0039】尚、試験セル受信部12が試験セルLBC
_a、LBC_b、LBC_cの全てを受信しても、受信した
試験セルLBC_a、LBC_b、LBC_cのそれぞれLB
F_a、LBF_b、LBF_cフィールドに書き込まれてい
るデータが異常のときは、対応する機能ブロック10a
の試験セル書込み部102が故障箇所として検出され
る。It should be noted that the test cell receiving section 12 sets the test cell LBC
_a, LBC_b, and LBC_c, all of the received test cells LBC_a, LBC_b, and LBC_c
If the data written in the F_a, LBF_b, and LBF_c fields is abnormal, the corresponding function block 10a
Of the test cell writing unit 102 is detected as a failure point.
【0040】図6は、機能ブロック10bが故障したと
きの動作(2)を示す説明図である。図6に示すよう
に、試験セル受信部12が、試験セルLBC_a,LBC
_cを受信し、試験セルLBC_bを受信しなかったとき
は、試験セルLBCが機能ブロック10bの個別処理部
100、試験セル分離部101、試験セル書込み部10
2、試験セル挿入部103のいずれかにおいて破棄され
たと考えられ、従って、機能ブロック10bが故障箇所
として検出される。FIG. 6 is an explanatory diagram showing the operation (2) when the functional block 10b fails. As shown in FIG. 6, the test cell receiving unit 12 transmits the test cells LBC_a, LBC
When the test cell LBC_b is received and the test cell LBC_b is not received, the test cell LBC includes the individual processing unit 100, the test cell separation unit 101, and the test cell writing unit 10 of the functional block 10b.
2. It is considered that the test block is discarded in any of the test cell insertion units 103, and therefore, the functional block 10b is detected as a failure point.
【0041】図7は、機能ブロック10b内で故障が生
じたときの動作(3)を示す説明図である。図7に示す
ように、試験セル受信部12が、折返された試験セルを
3つ受信すべきところ、試験セルLBC_a、LBC_b、
LBC_b、LBC_cの4つを受信した場合、試験セル分
離部101、試験セル挿入部103、ループバックセル
伝送路16及び個別処理部100のうちのいずれかが故
障したものと考えられる。FIG. 7 is an explanatory diagram showing the operation (3) when a failure occurs in the functional block 10b. As shown in FIG. 7, when the test cell receiving unit 12 should receive three folded test cells, the test cells LBC_a, LBC_b,
When LBC_b and LBC_c are received, it is considered that one of the test cell separation unit 101, the test cell insertion unit 103, the loopback cell transmission line 16, and the individual processing unit 100 has failed.
【0042】即ち、試験セル分離部101が試験セルL
BCを2回コピーした場合、試験セル分離部101が試
験セルLBCを2回セル伝送路15に挿入した場合、個
別処理部100が試験セルLBCを2回コピーした場
合、機能ブロック10bから2つの試験セルLBC_bが
送信される。従って、試験セルLBC_bが重複している
ときは、上記ブロックのいずれかが故障箇所として検出
される。That is, the test cell separating unit 101 sets the test cell L
When the BC is copied twice, when the test cell separation unit 101 inserts the test cell LBC into the cell transmission line 15 twice, when the individual processing unit 100 copies the test cell LBC twice, the two The test cell LBC_b is transmitted. Therefore, when the test cells LBC_b overlap, any of the above blocks is detected as a failure location.
【0043】図8は、機能ブロック10b内で故障が生
じたときの動作(4)を示す説明図である。図8に示す
ように、試験セル受信部12が、折返された試験セルを
3つ受信すべきところ、試験セルLBC_a、LBC_b、
LBC_b、LBC_c、LBC_cの5つを受信した場合、
機能ブロック10bの個別処理部100、試験セル分離
部101のうちのいずれかが故障していると考えられ
る。FIG. 8 is an explanatory diagram showing the operation (4) when a failure occurs in the functional block 10b. As shown in FIG. 8, when the test cell receiving unit 12 should receive three folded test cells, the test cells LBC_a, LBC_b,
When five of LBC_b, LBC_c, and LBC_c are received,
It is considered that one of the individual processing unit 100 and the test cell separation unit 101 of the functional block 10b has failed.
【0044】即ち、個別処理部100が試験セルLBC
を2回コピーした場合、試験セル分離部101が試験セ
ルLBCを2回コピーした場合、機能ブロック10bか
ら2つの試験セルLBC_bが送信される。That is, the individual processing unit 100 sets the test cell LBC
Is copied twice, and when the test cell separation unit 101 copies the test cell LBC twice, two test cells LBC_b are transmitted from the functional block 10b.
【0045】この場合、機能ブロック10cからは、2
つの試験セルLBCに対して2つの試験セルLBC_cが
送信されるので、機能ブロック10cの故障を判断する
前に、試験セルLBC送信側の機能ブロック10bの故
障が判断される。従って、試験セルLBC_b及びLBC
_cが重複しているときは、機能ブロック10bの上記ブ
ロックのいずれかが故障箇所として検出される。In this case, from the function block 10c, 2
Since two test cells LBC_c are transmitted to one test cell LBC, the failure of the function block 10b on the test cell LBC transmission side is determined before determining the failure of the function block 10c. Therefore, the test cells LBC_b and LBC
When _c overlaps, any of the above blocks of the functional block 10b is detected as a failure point.
【0046】〈具体例1の効果〉以上、説明したように
具体例1によれば、ATM伝送装置内で、試験セル送信
部11から1つの試験セルLBCを送信し、この試験セ
ルLBCを各機能ブロック10a〜10c内でコピー、
分離し、書き込みを行って折返すようにしたので、AT
Mネットワークとは切り離してATM伝送装置内で故障
検出を行うことができ、ATM伝送装置内の故障検出を
各機能ブロック毎に行うこともできる。<Effects of Specific Example 1> As described above, according to Specific Example 1, one test cell LBC is transmitted from the test cell transmitting unit 11 in the ATM transmission apparatus, and this test cell LBC is Copy in the function blocks 10a to 10c,
Because it was separated, written and turned back, AT
Failure detection can be performed in the ATM transmission device separately from the M network, and failure detection in the ATM transmission device can be performed for each functional block.
【0047】また、このように1度の試験セルの送信で
故障検出を行えるので、短時間に各ATM伝送装置内の
故障箇所の検出が可能となり、ATMネットワークとは
切り離して故障検出を行えるので、新規のATM伝送装
置に取替えられて伝送装置内の区分が変更された場合で
も、保守センタ等ネットワークのシステムにおいて装置
内区分を再度設定する必要もなく、容易に故障箇所の検
出を行える。In addition, since the failure can be detected by transmitting the test cell once, it is possible to detect the failure location in each ATM transmission device in a short time, and to perform the failure detection separately from the ATM network. Even when a new ATM transmission device is replaced and the section in the transmission apparatus is changed, it is not necessary to set the section in the apparatus again in a network system such as a maintenance center, and the failure point can be easily detected.
【図1】具体例1の構成を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a specific example 1.
【図2】具体例1の機能ブロックの構成を示すブロック
図である。FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration of a functional block of a specific example 1.
【図3】具体例1の試験セルのフォーマットの説明図で
ある。FIG. 3 is an explanatory diagram of a format of a test cell of a specific example 1.
【図4】具体例1の故障がないときの動作を示す説明図
である。FIG. 4 is an explanatory diagram showing an operation of the specific example 1 when there is no failure.
【図5】具体例1の機能ブロック故障時の動作(1)を
示す説明図である。FIG. 5 is an explanatory diagram illustrating an operation (1) when a functional block fails according to the first embodiment;
【図6】具体例1の機能ブロック故障時の動作(2)を
示す説明図である。FIG. 6 is an explanatory diagram showing an operation (2) when a functional block fails according to the first embodiment;
【図7】具体例1の機能ブロック故障時の動作(3)を
示す説明図である。FIG. 7 is an explanatory diagram showing an operation (3) when a functional block fails according to the first embodiment;
【図8】具体例1の機能ブロック故障時の動作(4)を
示す説明図である。FIG. 8 is an explanatory diagram showing an operation (4) of the specific example 1 when a functional block fails.
1〜3 ATM伝送装置 10a,10b,10c 機能ブロック 11 試験セル送信部 12 試験セル受信部 13 制御部 101 試験セル分離部 102 試験セル書込み部 103 試験セル挿入部 1-3 ATM transmission apparatus 10a, 10b, 10c Functional block 11 Test cell transmitting unit 12 Test cell receiving unit 13 Control unit 101 Test cell separating unit 102 Test cell writing unit 103 Test cell inserting unit
Claims (2)
接続されてセルを伝送するものであって、装置の機能を
実現するための機能ブロックが機能毎に設けられ、往路
方向及び復路方向の伝送路を介して順次接続された非同
期転送モード伝送装置において、 当該装置内に、各機能ブロックに対応した所定フィール
ドが設けられた故障検出用の試験セルを、往路方向の伝
送路を介して機能ブロックに送信する試験セル送信部
と、 前記復路方向の伝送路を介して機能ブロックから送信さ
れた試験セルを受信し、当該試験セルの所定フィールド
の書き込まれたデータ及び受信した試験セルの数に基づ
いて各機能ブロックの故障を検出する試験セル受信部
と、を備え、 前記各機能ブロックに、 前記試験セル送信部から送信された試験セルを認識し、
当該試験セルを複写して元の試験セルから分離する試験
セル分離部と、 該試験セル分離部によって分離された試験セルの当該機
能ブロックに対応する所定フィールドに、当該機能ブロ
ックでの折返しを示すデータを書き込む試験セル書込み
部と、 該試験セル書込み部によりデータが書き込まれた試験セ
ルを復路方向の伝送路に挿入する試験セル挿入部と、を
備えたことを特徴とする非同期転送モード伝送装置にお
ける故障検出装置。1. A device for transmitting cells by being connected to an asynchronous transfer mode line network, wherein a function block for realizing the function of the apparatus is provided for each function, and a transmission path in a forward direction and a return direction is provided. Asynchronous transfer mode transmission devices that are sequentially connected via a transmission line, transmit a test cell for failure detection, in which a predetermined field corresponding to each function block is provided, to the function block via the transmission line in the outward direction. A test cell transmitting unit that receives a test cell transmitted from the functional block via the transmission path in the backward direction, and based on the written data in a predetermined field of the test cell and the number of received test cells, A test cell receiving unit that detects a failure of a functional block, wherein each of the functional blocks recognizes a test cell transmitted from the test cell transmitting unit,
A test cell separation unit that copies the test cell and separates it from the original test cell, and a predetermined field corresponding to the function block of the test cell separated by the test cell separation unit indicates the return of the function block. An asynchronous transfer mode transmission device, comprising: a test cell writing unit that writes data; and a test cell insertion unit that inserts a test cell into which data is written by the test cell writing unit into a transmission path in a return path. Failure detection device.
ダに続くペイロード部に各機能ブロックに対応した所定
フィールドを設け、該フィールドを初期化して送信する
ように構成された請求項1に記載の非同期転送モード伝
送装置における故障検出装置。2. The test cell transmitting section according to claim 1, wherein a predetermined field corresponding to each functional block is provided in a payload section following a header of the test cell, and the field is initialized and transmitted. Failure detection device in the asynchronous transfer mode transmission device of the above.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000037375A JP2001230780A (en) | 2000-02-16 | 2000-02-16 | Fault detector in asynchronous transfer mode transmitter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000037375A JP2001230780A (en) | 2000-02-16 | 2000-02-16 | Fault detector in asynchronous transfer mode transmitter |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001230780A true JP2001230780A (en) | 2001-08-24 |
Family
ID=18561274
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000037375A Pending JP2001230780A (en) | 2000-02-16 | 2000-02-16 | Fault detector in asynchronous transfer mode transmitter |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001230780A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013090218A (en) * | 2011-10-19 | 2013-05-13 | Fujitsu Ltd | Communication system including autonomous detection function of silent failure |
| JP2017192081A (en) * | 2016-04-15 | 2017-10-19 | 三菱電機株式会社 | Communication device |
-
2000
- 2000-02-16 JP JP2000037375A patent/JP2001230780A/en active Pending
Cited By (2)
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| JP2017192081A (en) * | 2016-04-15 | 2017-10-19 | 三菱電機株式会社 | Communication device |
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