JP2001203125A - 積層コンデンサ、配線基板、デカップリング回路および高周波回路 - Google Patents
積層コンデンサ、配線基板、デカップリング回路および高周波回路Info
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Abstract
PUに備えるMPUチップのための電源回路に接続され
るデカップリングコンデンサとして使用される場合の好
ましい実装形態を提供する。 【解決手段】 配線基板62に設けられたキャビティ6
6内に積層コンデンサ41を収容する。積層コンデンサ
41は、第1の内部電極44に複数の第1の貫通導体4
6を介して接続される複数の第1の外部端子電極49お
よび第2の内部電極45に複数の第2の貫通導体47を
介して接続される複数の第2の外部端子電極51を備え
る。第1の外部端子電極49は、コンデンサ本体43の
第1の主面48上に設けられ、配線基板62内の電源用
ホット側ビアホール導体70に接続され、第2の外部端
子電極51は、第2の主面50上に設けられ、マザーボ
ード67に、直接、グラウンド接続される。
Description
サ、配線基板、デカップリング回路および高周波回路に
関するもので、特に、高周波回路において有利に適用さ
れ得る積層コンデンサ、ならびに、この積層コンデンサ
を用いて構成される、配線基板、デカップリング回路お
よび高周波回路に関するものである。
サは、たとえばセラミック誘電体からなり、積層される
複数の誘電体層、ならびに複数のコンデンサユニットを
形成するように特定の誘電体層を介して互いに対向しな
がら誘電体層の積層方向に交互に配置される複数対の第
1および第2の内部電極を有する、コンデンサ本体を備
えている。コンデンサ本体の第1および第2の端面に
は、それぞれ、第1および第2の外部端子電極が形成さ
れる。第1の内部電極は、コンデンサ本体の第1の端面
上にまで延び、ここで第1の外部端子電極に電気的に接
続され、また、第2の内部電極は、第2の端面上にまで
延び、ここで第2の外部端子電極に電気的に接続され
る。
2の外部端子電極から第1の外部端子電極へと流れる電
流は、第2の外部端子電極から第2の内部電極へと流
れ、この第2の内部電極から誘電体層を通って第1の内
部電極に至り、次いで、この第1の内部電極内を通って
第1の外部端子電極へと至る。
量をC、等価直列インダクタンス(ESL)をL、等価
直列抵抗(ESR)と呼ばれる主に電極の抵抗をRとし
たとき、直列にCLRが接続された回路で表わされる。
は、f0 =1/〔2π×(L×C)1/ 2 〕となり、共振
周波数より高い周波数では、コンデンサとして機能しな
くなる。言い換えると、LすなわちESL値が小さけれ
ば、共振周波数(f0 )は高くなり、より高周波で使用
できることになる。なお、内部電極に銅を用いてESR
を小さくすることなども考えられているが、マイクロ波
領域で使うためには低ESL化が図られたコンデンサが
必要となる。
ンピュータ等のマイクロプロセッシングユニット(MP
U)のMPUチップ(ベアチップ)に電源を供給する電
源回路に接続されるデカップリングコンデンサとして用
いられるコンデンサにおいても、低ESL化が求められ
ている。
に関する接続構成の一例を図解的に示すブロック図であ
る。
プ3およびメモリ4を備える。電源部2は、MPUチッ
プ3に電源を供給するためのもので、電源部2からMP
Uチップ3に至る電源回路には、デカップリングコンデ
ンサ5が接続されている。また、MPUチップ3からメ
モリ4側には、信号回路が構成されている。
れるデカップリングコンデンサ5の場合でも、通常のデ
カップリングコンデンサと同様、ノイズ吸収や電源の変
動に対する平滑化のために用いられるが、さらに、最近
では、MPUチップ3において、その動作周波数が50
0MHzを超えて1GHzにまで達するものが計画され
ており、このようなMPUチップ3に関連して高速動作
が要求される用途にあっては、クイックパワーサプライ
としての機能(立ち上がり時等の電力が急に必要な時
に、コンデンサに充電された電気量から数ナノ秒の間に
電力を供給する機能)が必要である。
プ(動作クロック周波数約500MHz)3では、DC
約2.0Vが供給され、消費電力は約24W、すなわち
12A位の電流が流れる設計になっている。その消費電
力の低減化のために、MPU1が動作していない時はス
リープモードとして、消費電力を1W以下にまで落とす
仕様が採用されている。スリープモードからアクティブ
モードへの変換時、MPUチップ3には、その動作数ク
ロックのうちにアクティブモードに必要な電力が供給さ
れる必要がある。動作周波数500MHzでは、スリー
プモードからアクティブモードへの変換時において、4
〜7ナノ秒という時間の間に電力を供給する必要があ
る。
源部2からでは間に合わないため、電源部2から電源を
供給するまでの時間、MPUチップ3近傍に置くデカッ
プリングコンデンサ5に充電されている電荷を放電する
ことによってMPUチップ3に電源を供給することが行
なわれる。
グコンデンサ5にあっても、インダクタンス成分ができ
るだけ低いことが必要となってきており、このようにイ
ンダクタンス値の低いコンデンサの実現が望まれてい
る。
り得る積層コンデンサの構造が、たとえば、特開平11
−204372号公報等において提案されている。
デンサにおいて流れる電流によって誘起される磁界の相
殺によるもので、このような磁界の相殺が生じるように
するため、積層コンデンサにおいて流れる電流の方向を
多様化することが行なわれている。そして、この電流の
方向の多様化のため、コンデンサ本体の外表面上に形成
される外部端子電極の数を増やすことによって、これに
電気的に接続されるように引き出される内部電極の引き
出し部分の数を増やすとともに、内部電極を流れる電流
についての電流長を短くすることが行なわれている。
72号公報に記載された積層コンデンサ11が概略的に
示されているとともに、このような積層コンデンサ11
をデカップリングコンデンサとして用いているMPU1
2の断面構造が概略的に示されている。
積層される複数の誘電体層13を含むコンデンサ本体1
4を備えている。このコンデンサ本体14の内部には、
特定の誘電体層13を介して互いに対向する少なくとも
1対の第1および第2の内部電極15および16が設け
られる。
5および16と平行に延びる第1の主面17上には、第
1および第2の外部端子電極18および19の双方が設
けられている。第1の主面17に対向する第2の主面2
0上には、何らの外部端子電極も設けられていない。
第2の内部電極16に対して電気的に絶縁された状態で
第1の内部電極15と第1の外部端子電極18とを電気
的に接続するように特定の誘電体層13を貫通する第1
の貫通導体21、および第1の内部電極15に対して電
気的に絶縁された状態で第2の内部電極16と第2の外
部端子電極19とを電気的に接続するように特定の誘電
体層13を貫通する第2の貫通導体22がそれぞれ設け
られている。
よび22は、それぞれ、複数設けられ、第1および第2
の貫通導体21および22のそれぞれに個々に対応し
て、第1および第2の外部端子電極18および19もそ
れぞれ複数設けられている。
内部電極15および16を流れる電流について、電流長
を短くできるとともに、種々の方向へ向けることができ
るので、内部電極15および16を流れる電流によって
誘起される磁界を互いに相殺し、その結果、低ESL化
を図ることができる。
23が設けられた多層構造の配線基板24を備えてい
る。配線基板24の上面には、MPUチップ25が表面
実装されている。また、配線基板24のキャビティ23
内には、デカップリングコンデンサとして機能する上述
の積層コンデンサ11が収容されている。さらに、配線
基板24は、マザーボード26上に表面実装されてい
る。
的に図示されるように、MPU12において必要な配線
導体が形成されていて、これら配線導体によって、図5
に示すような接続が達成される。
板24の内部には、電源用ホット側電極27およびグラ
ウンド電極28が形成されている。
側ビアホール導体29を介して、積層コンデンサ11の
第1の外部端子電極18に電気的に接続され、電源用ホ
ット側ビアホール導体30を介して、MPUチップ25
の特定の端子31に電気的に接続され、さらに、電源用
ホット側ビアホール導体32を介して、マザーボード2
6に接続されるべきホット側導電ランド33に電気的に
接続されている。
用ビアホール導体34を介して、積層コンデンサ11の
第2の外部端子電極19に電気的に接続され、グラウン
ド用ビアホール導体35を介して、MPUチップ25の
特定の端子36に電気的に接続され、さらに、グラウン
ド用ビアホール導体37を介して、マザーボード26に
接続されるべきグラウンド側導電ランド38に電気的に
接続されている。
4に相当するメモリの図示は省略されている。
は、図6に示すように、第1および第2の外部端子電極
18および19の双方をコンデンサ本体14の第1の主
面17上に位置させている。そのため、たとえばグラウ
ンド電位を有する配線導体に着目すると、積層コンデン
サ11の第2の外部端子電極19は、配線基板24内に
おいて、グラウンド用ビアホール導体34、グラウンド
電極28およびグラウンド用ビアホール導体37を経由
してからグラウンド用導電ランド38に接続されること
になる。
ル導体34および37ならびにグラウンド電極28によ
って与えられるグラウンドラインが比較的長くなり、こ
のようなグラウンドラインに関連して発生するインダク
タンス成分が大きくなり、低ESL化が図られた積層コ
ンデンサ11を用いた効果が減殺されてしまう。また、
比較的長いグラウンドラインは、インピーダンスの増加
も招く。
引き回しは、配線基板24内での配線を複雑にしてしま
うという問題もある。
問題を解決し得る、積層コンデンサ、ならびにこのよう
な積層コンデンサを用いて構成される、配線基板、デカ
ップリング回路および高周波回路を提供しようとするこ
とである。
デンサは、積層される複数の誘電体層を含むコンデンサ
本体を備えている。
電体層を介して互いに対向する少なくとも1対の第1お
よび第2の内部電極が設けられる。
の内部電極に対して電気的に絶縁されかつ第1の内部電
極に電気的に接続された状態で、特定の誘電体層を貫通
する複数の第1の貫通導体、および、第1の内部電極に
対して電気的に絶縁されかつ第2の内部電極に電気的に
接続された状態で、特定の誘電体層を貫通する複数の第
2の貫通導体がそれぞれ設けられる。これら第1および
第2の貫通導体は、内部電極を流れる電流によって誘起
される磁界を互いに相殺するように配置される。
に延びる第1の主面上には、複数の第1の貫通導体にそ
れぞれ電気的に接続された状態で、個々の第1の貫通導
体にそれぞれ対応する複数の第1の外部端子電極が設け
られる。
向する第2の主面上には、複数の第2の貫通導体にそれ
ぞれ電気的に接続された状態で、個々の第2の貫通導体
にそれぞれ対応する複数の第2の外部端子電極が設けら
れる。
サは、簡単に言えば、第1の内部電極に接続される複数
の第1の貫通導体のそれぞれに個々に対応して設けられ
る複数の第1の外部端子電極と、第2の内部電極に接続
される複数の第2の貫通導体のそれぞれに個々に対応し
て設けられる複数の第2の外部端子電極とを備え、第1
の外部端子電極がコンデンサ本体の第1の主面上に設け
られ、第2の外部端子電極が第2の主面上に設けられる
ことを特徴としている。
は、半田バンプが形成されていることが好ましい。
MPUに備えるMPUチップのための電源回路に接続さ
れるデカップリングコンデンサとして有利に用いられ
る。
ンデンサが実装された、配線基板にも向けられる。
けられる場合、その具体的な一実施態様では、この配線
基板には、MPUに備えるMPUチップが搭載され、ま
た、配線基板は、MPUチップのための電源を供給する
ための電源用ホット側配線導体とグラウンド配線導体と
を備え、コンデンサ本体の第1の主面が配線基板側に向
けられかつ第2の主面が外方に向けられた姿勢で、積層
コンデンサが実装され、この実装状態において、第1の
外部端子電極が、電源用ホット側配線導体に電気的に接
続される。このとき、第2の外部端子電極は、外方に向
いており、グラウンド接続のために供され、この配線基
板をたとえばマザーボード上に実装したとき、マザーボ
ード上のグラウンド側導電ランドに電気的に接続され得
る状態となっている。
ト側配線導体とは、好ましくは、バンプを介して接続さ
れる。
配線基板の第1の基板面上に搭載され、配線基板には、
第1の基板面とは逆の第2の基板面に沿って開口を位置
させているキャビティが設けられる。積層コンデンサ
は、その第2の主面をキャビティの開口側に向けた状態
でキャビティ内に収容され、第2の主面と第2の基板面
とは、同一面上に位置し、第2の基板面上には、グラウ
ンド配線導体に電気的に接続されるグラウンド側導電ラ
ンドが形成される。このような構成を採用することによ
って、積層コンデンサに設けられる第2の外部端子電極
と配線基板に設けられるグラウンド側導電ランドとは、
互いに同じ側であって同一面上に位置されることにな
る。
極およびグラウンド側導電ランドには、半田バンプが形
成されることが好ましい。
コンデンサを備える、デカップリング回路にも向けられ
る。
コンデンサを備える、高周波回路にも向けられる。
実施形態による積層コンデンサ41を示している。ここ
で、図1および図2は、積層コンデンサ41の内部構造
を示す平面図であり、図1と図2とは互いに異なる断面
を示している。また、図3は、図1および図2に示した
線III−IIIに沿う断面図である。
誘電体層42を含むコンデンサ本体43を備えている。
誘電体層42は、たとえばセラミック誘電体から構成さ
れる。
電体層42を介して互いに対向する少なくとも1対の第
1および第2の内部電極44および45が設けられてい
る。この実施形態では、複数対の第1および第2の内部
電極44および45が設けられている。
第2の内部電極45に対して電気的に絶縁されかつ第1
の内部電極44に電気的に接続された状態で、特定の誘
電体層42を貫通する複数の第1の貫通導体46が設け
られている。また、第1の内部電極44に対して電気的
に絶縁されかつ第2の内部電極45に電気的に接続され
た状態で、特定の誘電体層42を貫通する複数の第2の
貫通導体47が設けられている。
4および45と平行に延びる第1の主面48上には、複
数の第1の貫通導体46にそれぞれ電気的に接続された
状態で、個々の第1の貫通導体46にそれぞれ対応する
複数の第1の外部端子電極49が設けられる。
48に対向する第2の主面50上には、複数の第2の貫
通導体47にそれぞれ電気的に接続された状態で、個々
の第2の貫通導体47にそれぞれ対応する複数の第2の
外部端子電極51が設けられる。
第2の内部電極44および45が設けられ、第1および
第2の内部電極44および45の各間に形成される静電
容量が、第1および第2の貫通導体46および47によ
って並列接続され、このように並列接続された静電容量
が、第1および第2の外部端子電極49および51の間
に取り出される。
導体47とは、内部電極44および45を流れる電流に
よって誘起される磁界を互いに相殺するように配置され
ている。すなわち、この実施形態では、第1および第2
の貫通導体46および47は、互いに隣り合うように配
置され、内部電極44および45の各々を流れる電流に
関して、その方向を多様化するとともに、電流長を短く
し、それによって、低ESL化を図っている。
の外部端子電極49および51は、それぞれ、導電パッ
ド52および53ならびにそれらの上に形成される半田
バンプ54および55を備えている。
Cr/Ni/Cu蒸着膜から構成され、また、前述した
内部電極44および45ならびに貫通導体46および4
7は、たとえば、Niを含む導電性ペーストの焼付けに
よって形成される。
したような実施形態による積層コンデンサ41をデカッ
プリングコンデンサとして用いているMPU61を示し
ている。
62を備え、この配線基板62の上面側である第1の基
板面63上には、MPUチップ(ベアチップ)64が表
面実装されている。
基板面65側にはキャビティ66が設けられている。キ
ャビティ66は、その開口を第2の基板面65に沿って
位置させている。
デンサ本体43の第2の主面50をキャビティ66の開
口側に向けた状態でキャビティ66内に収容されてい
る。このとき、コンデンサ本体43の第2の主面50と
配線基板62の第2の基板面65とは、同一面上に位置
している。
ボード67上に表面実装されている。
的に図示されるように、MPU61において必要な配線
導体が形成されていて、これら配線導体によって、図5
に示すような接続が達成される。
体62の内部には、電源用ホット側電極68およびグラ
ウンド電極69が形成されている。
側ビアホール導体70を介して、積層コンデンサ41の
第1の外部端子電極49に電気的に接続され、電源用ホ
ット側ビアホール導体71を介して、MPUチップ64
の特定の端子72に電気的に接続され、さらに、電源用
ホット側ビアホール導体73を介して、マザーボード6
7に接続されるべきホット側導電ランド74に電気的に
接続されている。
4では詳細には図示しないが、電源用ホット側ビアホー
ル導体70と第1の外部端子電極49との接続、および
電源用ホット側ビアホール導体71と端子72との接続
には、バンプを介しての接続が適用され、また、ホット
側導電ランド74には、半田バンプが形成される。
用ビアホール導体75を介して、MPUチップ64の特
定の端子76に電気的に接続され、さらに、グラウンド
用ビアホール導体77を介して、マザーボード67に接
続されるべきグラウンド側導電ランド78に電気的に接
続されている。
て、図4では詳細には図示しないが、グラウンド用ビア
ホール導体75と端子76との接続には、バンプを介し
ての接続が適用され、また、グラウンド側導電ランド7
8には、半田バンプが形成される。
積層コンデンサ41の第2の外部端子電極51は、配線
基板62内のグラウンド電極69には接続されず、マザ
ーボード67に直接接続される。この第2の外部端子電
極51には、前述したように、半田バンプ55(図3参
照)が形成されていて、このような半田バンプ55を介
して、マザーボード67に接続される。
積層コンデンサ41におけるグラウンド側となる第2の
外部端子電極51は、直接、マザーボード67に接続さ
れるので、積層コンデンサ41に関するグラウンドライ
ンを比較的短くすることができ、そのため、インダクタ
ンス成分やインピーダンス成分の低減を図ることがで
き、高周波化に十分対応することが可能になる。また、
配線基板62における配線も簡略化することができる。
4に相当するメモリの図示は省略されている。
デンサによれば、互いに対向する第1および第2の内部
電極のそれぞれを複数の第1および第2の貫通導体によ
って接続し、コンデンサ本体の外表面上には、複数の第
1の貫通導体にそれぞれ電気的に接続された状態で、個
々の第1の貫通導体にそれぞれ対応する複数の第1の外
部端子電極を設け、かつ、複数の第2の貫通導体にそれ
ぞれ電気的に接続された状態で、個々の第2の貫通導体
にそれぞれ対応する複数の第2の外部端子電極が設けら
れた構成とし、それによって、積層コンデンサの低ES
L化を図るとともに、第1の外部端子電極がコンデンサ
本体の第1の主面上に、また、第2の外部端子電極がコ
ンデンサ本体の第2の主面上に、というように、第1お
よび第2の外部端子電極が互いに異なる主面上に設けら
れているので、この積層コンデンサが配線基板上に実装
されたとき、次のような効果が奏される。
を配線基板側に向けて実装されたとき、第1の外部端子
電極が配線基板側の配線導体と電気的に接続されるが、
第2の主面上の第2の外部端子電極については、これら
を外方へ向けることができる。したがって、コンデンサ
本体の第2の主面を、たとえば、マザーボード側に向け
た状態で、この積層コンデンサが実装された配線基板を
マザーボード上に実装したとき、第2の外部端子電極を
マザーボード上のグラウンド側導電ランドに直接接続し
た状態を得ることができる。そのため、積層コンデンサ
に関連するグラウンドラインを短くすることができ、そ
れに応じて、インダクタンス成分およびインピーダンス
成分の増大を防止でき、高周波化に十分に対応できるよ
うになるとともに、前述したような積層コンデンサ自身
の低ESL化の効果が減殺されることを防止することが
できる。また、配線基板には、積層コンデンサに対する
グラウンド接続のための配線導体が不要となるので、配
線基板内における配線をより簡略化することができる。
コンデンサは、たとえば、高周波回路におけるバイパス
コンデンサやデカップリングコンデンサとして有利に用
いることができる。また、MPUに備えるMPUチップ
等と組み合わされて使用されるデカップリングコンデン
サにあっては、クイックパワーサプライとしての機能が
要求されるが、この発明に係る積層コンデンサは、それ
自身、ESLが低く、また、インダクタンス成分をあま
り生じさせない状態での配線基板への実装状態を可能と
するので、このようなデカップリングコンデンサとして
の用途に向けられても、高速動作に十分対応することが
できる。
ップのための電源回路に接続されるデカップリングコン
デンサとして、この発明に係る積層コンデンサが使用さ
れる場合、MPUチップが搭載された配線基板側に第1
の主面が向けられかつ第2の主面が外方に向けられた姿
勢で、積層コンデンサが実装されるが、このとき、MP
Uチップが、配線基板の第1の基板面上に搭載され、こ
の配線基板には、第1の基板面とは逆の第2の基板面に
沿って開口を位置させているキャビティが設けられ、積
層コンデンサは、第2の主面をキャビティの開口側に向
けた状態でキャビティ内に収容され、第2の主面と第2
の基板面とが、同一面上に位置し、第2の基板面上に、
配線基板内のグラウンド配線導体に電気的に接続される
グラウンド側導電ランドを形成するようにすれば、たと
えば、マザーボードに対するグラウンド接続を達成する
ための第2の外部端子電極およびグラウンド側導電ラン
ドとマザーボード側のグラウンド側導電ランドとの接続
を一挙にかつ能率的に行なうことができる。
いて、第1および第2の外部端子電極に半田バンプを形
成したり、この発明に係る配線基板において、グラウン
ド側導電ランドに半田バンプを形成したりすると、高密
度実装を可能とするとともに、接続における寄生インダ
クタンスの発生を抑えることもできる。
1の内部構造を、第1の内部電極44が通る断面をもっ
て示す平面図である。
を、第2の内部電極45が通る断面をもって示す平面図
である。
う、積層コンデンサ41の断面図である。
デカップリングコンデンサとして用いている、MPU6
1の構造例を図解的に示す断面図である。
部2に関する接続構成を図解的に示すブロック図であ
る。
ンサ11をデカップリングコンデンサとして用いてい
る、MPU12の構造例を図解的に示す断面図である。
Claims (10)
- 【請求項1】 積層される複数の誘電体層を含むコンデ
ンサ本体を備え、 前記コンデンサ本体の内部には、特定の前記誘電体層を
介して互いに対向する少なくとも1対の第1および第2
の内部電極が設けられ、 前記コンデンサ本体の内部には、さらに、前記第2の内
部電極に対して電気的に絶縁されかつ前記第1の内部電
極に電気的に接続された状態で、特定の前記誘電体層を
貫通する複数の第1の貫通導体、および、前記第1の内
部電極に対して電気的に絶縁されかつ前記第2の内部電
極に電気的に接続された状態で、特定の前記誘電体層を
貫通する複数の第2の貫通導体がそれぞれ設けられ、 前記第1および第2の貫通導体は、前記内部電極を流れ
る電流によって誘起される磁界を互いに相殺するように
配置され、 前記コンデンサ本体の、前記内部電極と平行に延びる第
1の主面上には、複数の前記第1の貫通導体にそれぞれ
電気的に接続された状態で、個々の前記第1の貫通導体
にそれぞれ対応する複数の第1の外部端子電極が設けら
れ、 前記コンデンサ本体の、前記第1の主面に対向する第2
の主面上には、複数の前記第2の貫通導体にそれぞれ電
気的に接続された状態で、個々の前記第2の貫通導体に
それぞれ対応する複数の第2の外部端子電極が設けられ
ている、積層コンデンサ。 - 【請求項2】 前記第1および第2の外部端子電極に
は、半田バンプが形成されている、請求項1に記載の積
層コンデンサ。 - 【請求項3】 マイクロプロセッシングユニットに備え
るMPUチップのための電源回路に接続されるデカップ
リングコンデンサとして使用される、請求項1または2
に記載の積層コンデンサ。 - 【請求項4】 請求項1ないし3のいずれかに記載の積
層コンデンサが実装された、配線基板。 - 【請求項5】 マイクロプロセッシングユニットに備え
るMPUチップが搭載され、前記MPUチップのための
電源を供給するための電源用ホット側配線導体とグラウ
ンド配線導体とを備える、配線基板であって、 前記第1の主面が当該配線基板側に向けられかつ前記第
2の主面が外方に向けられた姿勢で、前記積層コンデン
サが実装され、この実装状態において、前記第1の外部
端子電極は、前記電源用ホット側配線導体に電気的に接
続されている、請求項4に記載の配線基板。 - 【請求項6】 前記第1の外部端子電極と前記電源用ホ
ット側配線導体とは、バンプを介して接続されている、
請求項5に記載の配線基板。 - 【請求項7】 前記MPUチップは、当該配線基板の第
1の基板面上に搭載され、当該配線基板には、前記第1
の基板面とは逆の第2の基板面に沿って開口を位置させ
ているキャビティが設けられ、前記積層コンデンサは、
前記第2の主面を前記キャビティの開口側に向けた状態
で前記キャビティ内に収容され、前記第2の主面と前記
第2の基板面とは、同一面上に位置し、前記第2の基板
面上には、前記グラウンド配線導体に電気的に接続され
るグラウンド側導電ランドが形成されている、請求項5
または6に記載の配線基板。 - 【請求項8】 前記第2の外部端子電極および前記グラ
ウンド側導電ランドには、半田バンプが形成されてい
る、請求項7に記載の配線基板。 - 【請求項9】 請求項1ないし4のいずれかに記載の積
層コンデンサを備える、デカップリング回路。 - 【請求項10】 請求項1ないし4のいずれかに記載の
積層コンデンサを備える、高周波回路。
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| JP2000008742A JP3680673B2 (ja) | 2000-01-18 | 2000-01-18 | 積層コンデンサ、配線基板、デカップリング回路および高周波回路 |
Applications Claiming Priority (1)
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| JP2000008742A JP3680673B2 (ja) | 2000-01-18 | 2000-01-18 | 積層コンデンサ、配線基板、デカップリング回路および高周波回路 |
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|---|---|
| JP2001203125A true JP2001203125A (ja) | 2001-07-27 |
| JP3680673B2 JP3680673B2 (ja) | 2005-08-10 |
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ID=18536963
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| JP (1) | JP3680673B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004304159A (ja) * | 2003-03-19 | 2004-10-28 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 中継基板、半導体素子付き中継基板、中継基板付き基板、半導体素子と中継基板と基板とからなる構造体 |
| JP2010027899A (ja) * | 2008-07-22 | 2010-02-04 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品およびその製造方法 |
| JP2024057048A (ja) * | 2019-02-13 | 2024-04-23 | キョーセラ・エイブイエックス・コンポーネンツ・コーポレーション | 導電性ビアを含む積層セラミックコンデンサ |
-
2000
- 2000-01-18 JP JP2000008742A patent/JP3680673B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (4)
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| JP2010027899A (ja) * | 2008-07-22 | 2010-02-04 | Murata Mfg Co Ltd | 積層セラミック電子部品およびその製造方法 |
| US8174815B2 (en) | 2008-07-22 | 2012-05-08 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Monolithic ceramic electronic component and method for manufacturing the same |
| JP2024057048A (ja) * | 2019-02-13 | 2024-04-23 | キョーセラ・エイブイエックス・コンポーネンツ・コーポレーション | 導電性ビアを含む積層セラミックコンデンサ |
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