JP2001244394A - 半導体パッケージの放熱構造 - Google Patents
半導体パッケージの放熱構造Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 パーソナルコンピュータのCPUの放熱構造
において、CPUとヒートシンクとの間の熱伝達効率を
向上させることを目的とする。 【解決手段】 熱伝導性グリス10と中抜き形状の熱伝
導シート6を併用することにより、CPUパッケージの
表面と、CPUパッケージ基板3の表面との両方からヒ
ートシンク7に熱伝導をおこない高性能、高発熱のCP
Uパッケージに対応することができる放熱機構を提供す
ることができる。
において、CPUとヒートシンクとの間の熱伝達効率を
向上させることを目的とする。 【解決手段】 熱伝導性グリス10と中抜き形状の熱伝
導シート6を併用することにより、CPUパッケージの
表面と、CPUパッケージ基板3の表面との両方からヒ
ートシンク7に熱伝導をおこない高性能、高発熱のCP
Uパッケージに対応することができる放熱機構を提供す
ることができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、パーソナルコンピ
ュータのCPUの放熱構造に関するものである。
ュータのCPUの放熱構造に関するものである。
【0002】
【従来の技術】モバイル用パソコンに使用するCPU
は、小型、軽量、薄型、放熱性の機能を追求した結果、
ベアチップに近い状態でパケージ化されている。図4に
モバイル用CPUパッケージの断面図を示す。図4にお
いて、51は半導体チップ、52はチップ基板、53は
半導体チップ51に設けたバンプ電極、54は半田ボー
ル、55は封止樹脂である。半導体チップ51はシリコ
ンよりなり、裏面にはバンプ電極53が設けられてい
る。バンプ電極53は、チップ基板52を貫通する図に
は示していない導体回路によって、半田ボール54と接
続している。半導体チップ51とチップ基板52との隙
間は封止樹脂55が充填され、バンプ電極53を外気の
湿度、温度より保護している。半導体チップ51の表面
はシリコンチップ面が露出していて、半導体チップ51
内部で発生した熱の放熱をよくしている。
は、小型、軽量、薄型、放熱性の機能を追求した結果、
ベアチップに近い状態でパケージ化されている。図4に
モバイル用CPUパッケージの断面図を示す。図4にお
いて、51は半導体チップ、52はチップ基板、53は
半導体チップ51に設けたバンプ電極、54は半田ボー
ル、55は封止樹脂である。半導体チップ51はシリコ
ンよりなり、裏面にはバンプ電極53が設けられてい
る。バンプ電極53は、チップ基板52を貫通する図に
は示していない導体回路によって、半田ボール54と接
続している。半導体チップ51とチップ基板52との隙
間は封止樹脂55が充填され、バンプ電極53を外気の
湿度、温度より保護している。半導体チップ51の表面
はシリコンチップ面が露出していて、半導体チップ51
内部で発生した熱の放熱をよくしている。
【0003】図5に従来行われている半導体チップ51
の放熱構造を説明する。図5において、56は配線基
板、57はヒートシンク、58は熱伝導性グリスであ
る。半田ボール53は配線基板56に設けた図には示し
ていない配線ランドと接続され演算回路を形成してい
る。ヒートシンク57は、半導体チップ51が発生する
熱を授受し、自身は例えば周囲を空冷するファン59等
の冷却手段によって、授受した熱を空気中に放熱してい
る。半導体チップ51とヒートシンク57との間の熱授
受は、熱伝導性グリス58を介して行われる。熱伝導性
グリス58は100μm以下の厚さに塗布されて、半導
体チップ51とヒートシンク57との間の接触を確実に
し、熱抵抗を小さくしている。この方法は、熱伝導性グ
リス58の膜厚を薄くできるので放熱効果に優れている
が、半導体チップ51がヒートシンク57との間に狭持
されているため挟持圧力が小さな場合には振動によるが
たつきが発生し、反対に挟持圧力が大きな場合には半田
ボール53と配線ランド間の接点を破損する危惧があっ
た。
の放熱構造を説明する。図5において、56は配線基
板、57はヒートシンク、58は熱伝導性グリスであ
る。半田ボール53は配線基板56に設けた図には示し
ていない配線ランドと接続され演算回路を形成してい
る。ヒートシンク57は、半導体チップ51が発生する
熱を授受し、自身は例えば周囲を空冷するファン59等
の冷却手段によって、授受した熱を空気中に放熱してい
る。半導体チップ51とヒートシンク57との間の熱授
受は、熱伝導性グリス58を介して行われる。熱伝導性
グリス58は100μm以下の厚さに塗布されて、半導
体チップ51とヒートシンク57との間の接触を確実に
し、熱抵抗を小さくしている。この方法は、熱伝導性グ
リス58の膜厚を薄くできるので放熱効果に優れている
が、半導体チップ51がヒートシンク57との間に狭持
されているため挟持圧力が小さな場合には振動によるが
たつきが発生し、反対に挟持圧力が大きな場合には半田
ボール53と配線ランド間の接点を破損する危惧があっ
た。
【0004】また、半導体チップ51とヒートシンク5
7との間の他の熱伝導方法として図6(a)に示すよう
なゴム弾性を有する熱伝導性シート60を使用して、弾
性シート60を圧力で変形させて密着性、熱伝導性を確
保していた(図6(b))。この方法はゴム弾性体を介
在させているので、半導体チップ51には掛かる応力を
均一化できるが、弾性シート60の厚みが厚くなるの
で、熱伝導効率が悪い欠点があった。
7との間の他の熱伝導方法として図6(a)に示すよう
なゴム弾性を有する熱伝導性シート60を使用して、弾
性シート60を圧力で変形させて密着性、熱伝導性を確
保していた(図6(b))。この方法はゴム弾性体を介
在させているので、半導体チップ51には掛かる応力を
均一化できるが、弾性シート60の厚みが厚くなるの
で、熱伝導効率が悪い欠点があった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】半導体チップの高性能
化に伴う発熱量の増大、高密度化による半田ボールの小
型化に伴い放熱性が良好で、かつ半導体チップを信頼性
よく保持することのできる放熱構造が強く望まれてい
る。放熱性を改善するためヒートシンク用の効率のよい
ファンシステムが開発されているが、改良されたファン
システムを使用しても、半導体チップからヒートシンク
への熱伝導効率を上げなければ、十分な放熱効果を得る
ことができなくなってきている。図5の構造では熱伝導
面積が半導体チップの上面積に限定され、また図6の構
造では熱伝導面積は拡大するが、熱伝導シートはある程
度の厚さが必要になるため、熱抵抗が大きくなりヒート
シンクへ十分に伝熱させることができないという課題が
あった。
化に伴う発熱量の増大、高密度化による半田ボールの小
型化に伴い放熱性が良好で、かつ半導体チップを信頼性
よく保持することのできる放熱構造が強く望まれてい
る。放熱性を改善するためヒートシンク用の効率のよい
ファンシステムが開発されているが、改良されたファン
システムを使用しても、半導体チップからヒートシンク
への熱伝導効率を上げなければ、十分な放熱効果を得る
ことができなくなってきている。図5の構造では熱伝導
面積が半導体チップの上面積に限定され、また図6の構
造では熱伝導面積は拡大するが、熱伝導シートはある程
度の厚さが必要になるため、熱抵抗が大きくなりヒート
シンクへ十分に伝熱させることができないという課題が
あった。
【0006】本発明は、以上のような従来例の課題を解
決するためになされたもので、高性能、高発熱の半導体
チップに対応できる効率の良い放熱構造を提供すること
を目的としている。
決するためになされたもので、高性能、高発熱の半導体
チップに対応できる効率の良い放熱構造を提供すること
を目的としている。
【0007】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明は、弾性を有する熱伝導シートを半導体チップ
の周囲に配し、半導体チップの上表面、半導体チップの
側面、および半導体基板表面の三方向の熱をヒートシン
クへ効率良く熱伝導できるように構成し、かつ半導体チ
ップにかかる圧力を熱伝導シートにも分担させ、半導体
チップの上表面に無理な圧力がかからないように構成し
たものである。
に本発明は、弾性を有する熱伝導シートを半導体チップ
の周囲に配し、半導体チップの上表面、半導体チップの
側面、および半導体基板表面の三方向の熱をヒートシン
クへ効率良く熱伝導できるように構成し、かつ半導体チ
ップにかかる圧力を熱伝導シートにも分担させ、半導体
チップの上表面に無理な圧力がかからないように構成し
たものである。
【0008】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、半導体チップを実装する配線基板と、前記半導体チ
ップの周囲を取巻く弾性を有する熱伝導体と、半導体チ
ップの上表面に塗布した熱伝導性グリスと、前記熱伝導
性グリスと対向するヒートシンクと、前記ヒートシンク
と前記配線基板との間に設けたばね手段とよりなること
を特徴とするものであり、半導体チップの上表面、半導
体チップの側面、および半導体基板表面の三方向の熱を
ヒートシンクへ効率良く熱伝導できるので、放熱性に優
れている。
は、半導体チップを実装する配線基板と、前記半導体チ
ップの周囲を取巻く弾性を有する熱伝導体と、半導体チ
ップの上表面に塗布した熱伝導性グリスと、前記熱伝導
性グリスと対向するヒートシンクと、前記ヒートシンク
と前記配線基板との間に設けたばね手段とよりなること
を特徴とするものであり、半導体チップの上表面、半導
体チップの側面、および半導体基板表面の三方向の熱を
ヒートシンクへ効率良く熱伝導できるので、放熱性に優
れている。
【0009】本発明の請求項2に記載の発明は、請求項
1に記載の発明において、熱伝導体の厚みが、半導体チ
ップの背の高さよりも厚いことを特徴とするものであ
り、ヒートシンクへの熱伝導を確実にし、かつ半導体チ
ップにかかる圧力を熱伝導体に分担させることができる
ため、放熱性がよく、信頼性が高い。
1に記載の発明において、熱伝導体の厚みが、半導体チ
ップの背の高さよりも厚いことを特徴とするものであ
り、ヒートシンクへの熱伝導を確実にし、かつ半導体チ
ップにかかる圧力を熱伝導体に分担させることができる
ため、放熱性がよく、信頼性が高い。
【0010】本発明の請求項3に記載の発明は、請求項
2に記載の発明において、配線基板の筐体底面に設けた
ボスを基準として、配線基板とヒートシンクの間にばね
手段を設けたことを特徴とするものであり、ばね圧力が
安定するので最適の圧力を設定することができ、放熱効
率がよい。
2に記載の発明において、配線基板の筐体底面に設けた
ボスを基準として、配線基板とヒートシンクの間にばね
手段を設けたことを特徴とするものであり、ばね圧力が
安定するので最適の圧力を設定することができ、放熱効
率がよい。
【0011】以下、本発明の実施の形態について、図
1、2を用いて説明する。
1、2を用いて説明する。
【0012】(実施の形態1)図1は、本発明の放熱構
成を示す斜視図、図2は断面図、図3はばね手段の要部
拡大断面図である。
成を示す斜視図、図2は断面図、図3はばね手段の要部
拡大断面図である。
【0013】図1、図2において、1は半導体パッケー
ジ、2は半導体チップ、3はチップ基板、4は配線基
板、5は封止樹脂、6は熱伝導シート、7はヒートシン
ク、8はファン、9は半田ボール、10は熱伝導性グリ
ス、11は配線基板4を内蔵するモバイルパソコンの筐
体底面である。
ジ、2は半導体チップ、3はチップ基板、4は配線基
板、5は封止樹脂、6は熱伝導シート、7はヒートシン
ク、8はファン、9は半田ボール、10は熱伝導性グリ
ス、11は配線基板4を内蔵するモバイルパソコンの筐
体底面である。
【0014】半導体パッケージ1、配線基板4の構造
は、従来例で説明したのと同じものであり、半導体パッ
ケージ1は、従来法によって配線基板4に実装されてい
るので、再度の説明は省略する。
は、従来例で説明したのと同じものであり、半導体パッ
ケージ1は、従来法によって配線基板4に実装されてい
るので、再度の説明は省略する。
【0015】ヒートシンク7はファン8を内蔵し、ファ
ン8は、例えば図2においては筐体底面11近辺の温も
った空気を吸引し、筐体外部に排出している(矢印は空
気の流れを示す)。
ン8は、例えば図2においては筐体底面11近辺の温も
った空気を吸引し、筐体外部に排出している(矢印は空
気の流れを示す)。
【0016】半導体パッケージ1はヒートシンク7と配
線基板4との間に設けたばね手段によって圧力が加えら
れ、半導体パッケージ1とヒートシンク7との間の熱伝
導性を高めている。図3によって実施の形態1における
ばね手段の構造の一例を説明する。
線基板4との間に設けたばね手段によって圧力が加えら
れ、半導体パッケージ1とヒートシンク7との間の熱伝
導性を高めている。図3によって実施の形態1における
ばね手段の構造の一例を説明する。
【0017】図3において、20は筐体底面11に設け
たボス、21はボス20に設けたねじ穴、22はヒート
シンク7に設けた貫通孔、23はねじ、24はコイルば
ね、25はばね止めボス、26は配線基板4に設けた馬
鹿穴である。ねじ穴21と、穴26と、穴22とを位置
合わせし、配線基板4と、ヒートシンク7とを重ね合せ
る。コイルばね24を装填したねじ23を穴22に入
れ、ねじ止めによって配線基板4とヒートシンク7とを
ボス20の上に固定する。図2に示しているように半導
体パッケージ1は配線基板4とヒートシンク7との間に
挟まれているので、半導体パッケージ1はばね24の力
によって押圧されている。
たボス、21はボス20に設けたねじ穴、22はヒート
シンク7に設けた貫通孔、23はねじ、24はコイルば
ね、25はばね止めボス、26は配線基板4に設けた馬
鹿穴である。ねじ穴21と、穴26と、穴22とを位置
合わせし、配線基板4と、ヒートシンク7とを重ね合せ
る。コイルばね24を装填したねじ23を穴22に入
れ、ねじ止めによって配線基板4とヒートシンク7とを
ボス20の上に固定する。図2に示しているように半導
体パッケージ1は配線基板4とヒートシンク7との間に
挟まれているので、半導体パッケージ1はばね24の力
によって押圧されている。
【0018】半導体パッケージ1を配線基板4に実装す
ると、半田バンプ9の熔融ばらつきによって半導体チッ
プ2の表面高さは、実装高さばらつき(0.5mm程
度)を持つようになる。ねじ23を完全にねじ込むこと
によって、配線基板4を筐体底面11に固定している
が、実装ばらつきが最大の半導体パッケージ1の場合に
も、ばね止めボス25と配線基板4との間には隙間がで
きる寸法に設計している。この構成により、半導体パッ
ケージ1は所定の範囲の押圧力で、ヒートシンク7と配
線基板4との間に狭持される。
ると、半田バンプ9の熔融ばらつきによって半導体チッ
プ2の表面高さは、実装高さばらつき(0.5mm程
度)を持つようになる。ねじ23を完全にねじ込むこと
によって、配線基板4を筐体底面11に固定している
が、実装ばらつきが最大の半導体パッケージ1の場合に
も、ばね止めボス25と配線基板4との間には隙間がで
きる寸法に設計している。この構成により、半導体パッ
ケージ1は所定の範囲の押圧力で、ヒートシンク7と配
線基板4との間に狭持される。
【0019】半導体チップ2の寸法は、高さ0.85m
m、幅11.5mm、奥行き9.2mmの立方体であ
が、周囲を封止樹脂5によって覆われてチップ基板3と
接着されているので、半導体チップ2は完全な立方体形
状ではない。
m、幅11.5mm、奥行き9.2mmの立方体であ
が、周囲を封止樹脂5によって覆われてチップ基板3と
接着されているので、半導体チップ2は完全な立方体形
状ではない。
【0020】熱伝導シート6は開口部を有し、開口部の
中に半導体チップ2を収納するよう構成し、開口部の外
周はチップ基板3と同じ面積を持つ。熱伝導シート6は
シリコン系の樹脂であり、熱伝導シートとして熱伝導
率、硬さ、厚み等異なるものが市販されている。熱伝導
性グリス10も放熱用ととして市販されているものであ
り、熱伝導率、粘度等異なるものを入手することができ
る。
中に半導体チップ2を収納するよう構成し、開口部の外
周はチップ基板3と同じ面積を持つ。熱伝導シート6は
シリコン系の樹脂であり、熱伝導シートとして熱伝導
率、硬さ、厚み等異なるものが市販されている。熱伝導
性グリス10も放熱用ととして市販されているものであ
り、熱伝導率、粘度等異なるものを入手することができ
る。
【0021】上記説明した構成の半導体パッケージ1の
組立て方法と、放熱作用について説明する。
組立て方法と、放熱作用について説明する。
【0022】配線基板4の上に実装した半導体パッケー
ジ1の周囲に熱伝導シート6を装着する。次に、半導体
チップ2の頭部に熱伝導性グリス10を薄く塗布し、ね
じ穴21と、穴26と、穴22とを位置合わせし、配線
基板4と、ヒートシンク7とを重ね合せる。コイルばね
24を装填したねじ23を穴22に入れ、ねじ止めによ
って配線基板4とヒートシンク7とをボス20の上に固
定すると、図2の放熱構造が得られる。半導体パッケー
ジ1に加わる荷重は、ばね24によって0.8kg〜
1.4kgの範囲に収められている。
ジ1の周囲に熱伝導シート6を装着する。次に、半導体
チップ2の頭部に熱伝導性グリス10を薄く塗布し、ね
じ穴21と、穴26と、穴22とを位置合わせし、配線
基板4と、ヒートシンク7とを重ね合せる。コイルばね
24を装填したねじ23を穴22に入れ、ねじ止めによ
って配線基板4とヒートシンク7とをボス20の上に固
定すると、図2の放熱構造が得られる。半導体パッケー
ジ1に加わる荷重は、ばね24によって0.8kg〜
1.4kgの範囲に収められている。
【0023】実施の形態1における半導体パッケージの
放熱構造は、下記の特徴を有する。 (1)半導体パッケージ1からヒートシンク7への熱伝
導路は、半導体チップ2の頭部から熱伝導性グリス10
を経由するもの、半導体チップ2の側面から熱伝導シー
ト6を経由するもの、チップ基板3から熱伝導シート6
を経由するもの3通りの経路があること。 (2)半導体パッケージ1に加わる荷重は、ばね24に
よって均一化されており、かつ荷重をパッケージ基板3
全面積で受けるので、半導体チップ2に機械的損傷を及
ぼすことが少ないこと。
放熱構造は、下記の特徴を有する。 (1)半導体パッケージ1からヒートシンク7への熱伝
導路は、半導体チップ2の頭部から熱伝導性グリス10
を経由するもの、半導体チップ2の側面から熱伝導シー
ト6を経由するもの、チップ基板3から熱伝導シート6
を経由するもの3通りの経路があること。 (2)半導体パッケージ1に加わる荷重は、ばね24に
よって均一化されており、かつ荷重をパッケージ基板3
全面積で受けるので、半導体チップ2に機械的損傷を及
ぼすことが少ないこと。
【0024】次に、上記半導体パッケージ放熱構造に通
電して、半導体チップ2の内部温度を測定した結果を表
1に掲げる。
電して、半導体チップ2の内部温度を測定した結果を表
1に掲げる。
【0025】
【表1】 表1は、市販されているモバイルパソコンより半導体パ
ッケージ(CPU)を取り外し、代わりにサーマルパッ
ケージを取り付けたときの温度上昇の実測データであ
る。サーマルパッケージの構造は、寸法、熱特性がCP
Uに似せて作られており、内部に抵抗を内蔵している。
直流を通電することによって、CPUパッケージを使用
したときと同様な温度測定結果が得られる。
ッケージ(CPU)を取り外し、代わりにサーマルパッ
ケージを取り付けたときの温度上昇の実測データであ
る。サーマルパッケージの構造は、寸法、熱特性がCP
Uに似せて作られており、内部に抵抗を内蔵している。
直流を通電することによって、CPUパッケージを使用
したときと同様な温度測定結果が得られる。
【0026】表1において使用した熱伝導性グリスは、
G765(信越化学工業、熱伝導率2.8W/mK)で
ある。熱伝導シートは2種類を用いた。表1で熱伝導シ
ート1と表記したものは、商品名サーコンGR−i(富
士高分子工業、熱伝導率5.6W/mK)、熱伝導シー
ト2と表記したものは、商品名FSB−A(電気化学工
業、熱伝導率8.0W/mK)である。ヒートシンクと
サーマルパッケージとの間の隙間に存在する熱伝導性グ
リスの厚みは、100μm以下である。CPU表面温度
は、サーマルパッケージに内蔵した表面近傍のセンサー
温度である。
G765(信越化学工業、熱伝導率2.8W/mK)で
ある。熱伝導シートは2種類を用いた。表1で熱伝導シ
ート1と表記したものは、商品名サーコンGR−i(富
士高分子工業、熱伝導率5.6W/mK)、熱伝導シー
ト2と表記したものは、商品名FSB−A(電気化学工
業、熱伝導率8.0W/mK)である。ヒートシンクと
サーマルパッケージとの間の隙間に存在する熱伝導性グ
リスの厚みは、100μm以下である。CPU表面温度
は、サーマルパッケージに内蔵した表面近傍のセンサー
温度である。
【0027】測定はモバイルパソコンの使用状態とし、
室温、事務机上に液晶パネルを開いた状態に置き、所定
のファン回転数とした。発熱量10.2Wより実験を開
始し、飽和温度を測定した。温度上昇が飽和した時点で
順次発熱量を増加させ、各発熱量に対する飽和温度を測
定した。
室温、事務机上に液晶パネルを開いた状態に置き、所定
のファン回転数とした。発熱量10.2Wより実験を開
始し、飽和温度を測定した。温度上昇が飽和した時点で
順次発熱量を増加させ、各発熱量に対する飽和温度を測
定した。
【0028】表1において、左より2番目欄、グリス塗
布のみとは、熱伝導シートを使用しない場合であり従来
技術での測定結果である。左より3番目欄〜5番目欄は
実施の形態1の放熱構造であり、3番目欄は、t=0.
7mmの熱伝導シート1を、4番目欄は、t=0.9m
mの熱伝導シート1を、5番目欄は、t=0.9mmの
熱伝導シート2を使用した場合である。表1の3〜5番
目欄の数値は、従来技術による飽和温度と実施の形態1
による飽和温度との差である。
布のみとは、熱伝導シートを使用しない場合であり従来
技術での測定結果である。左より3番目欄〜5番目欄は
実施の形態1の放熱構造であり、3番目欄は、t=0.
7mmの熱伝導シート1を、4番目欄は、t=0.9m
mの熱伝導シート1を、5番目欄は、t=0.9mmの
熱伝導シート2を使用した場合である。表1の3〜5番
目欄の数値は、従来技術による飽和温度と実施の形態1
による飽和温度との差である。
【0029】表1より、以下のことが明らかである。 (1)従来の放熱構造に比較して、0.5〜1.2℃飽
和温度をさげることができる。 (2)熱伝導率の高い熱導電シートを使用すると放熱効
果が大きい。 (3)熱導電シートの厚みによって放熱効果が異なり、
半導体チップの背の高さよりやや厚めのものがよい。な
お、実施の形態1の半導体チップ2の背の高さは0.8
5mmであるが、厚みが0.7mmの熱導電シートの場
合でも封止樹脂5によって底上げされて、半導体チップ
2の周辺部では熱導電シートの方が背が高いものと思わ
れる。 (4)発熱量が大きくなるに従い従来飽和温度と、本発
明の飽和温度との温度差が小さくなっているが、ヒート
シンクの冷却能力が限界に達したための現象であり、ヒ
ートシンク冷却能力を、ファンの回転数を増加するなど
して大きくすれば、従来と本発明との放熱効果の差はさ
らに顕著となるものと思われる。
和温度をさげることができる。 (2)熱伝導率の高い熱導電シートを使用すると放熱効
果が大きい。 (3)熱導電シートの厚みによって放熱効果が異なり、
半導体チップの背の高さよりやや厚めのものがよい。な
お、実施の形態1の半導体チップ2の背の高さは0.8
5mmであるが、厚みが0.7mmの熱導電シートの場
合でも封止樹脂5によって底上げされて、半導体チップ
2の周辺部では熱導電シートの方が背が高いものと思わ
れる。 (4)発熱量が大きくなるに従い従来飽和温度と、本発
明の飽和温度との温度差が小さくなっているが、ヒート
シンクの冷却能力が限界に達したための現象であり、ヒ
ートシンク冷却能力を、ファンの回転数を増加するなど
して大きくすれば、従来と本発明との放熱効果の差はさ
らに顕著となるものと思われる。
【0030】表1では従来例と比較した場合、最大1.
2℃の放熱効果が得られた。1.2℃の放熱効果は、従
来例の放熱構造でファンの回転数を200rpm程度早
くするのと同レベルの効果である。即ち、本発明の放熱
構造は、ファン回転数を遅くでき、これによりファンの
騒音を小さくでき(約1.5dBと見積もられる)、か
つファンの駆動電圧を下げることができる(約0.25
V見積もられる)ので、消費電力削減となり、バッテリ
ー駆動時間を延長することができる。
2℃の放熱効果が得られた。1.2℃の放熱効果は、従
来例の放熱構造でファンの回転数を200rpm程度早
くするのと同レベルの効果である。即ち、本発明の放熱
構造は、ファン回転数を遅くでき、これによりファンの
騒音を小さくでき(約1.5dBと見積もられる)、か
つファンの駆動電圧を下げることができる(約0.25
V見積もられる)ので、消費電力削減となり、バッテリ
ー駆動時間を延長することができる。
【0031】なお、実施の形態1の熱導電シートは厚み
が均一のものを使用したが、封止樹脂の厚み分、熱導電
シートの下部に面取り処理をすれば、押圧力を均一にす
ることができ、さらに好結果が得られる。
が均一のものを使用したが、封止樹脂の厚み分、熱導電
シートの下部に面取り処理をすれば、押圧力を均一にす
ることができ、さらに好結果が得られる。
【0032】また、半導体パッケージに加える荷重は、
熱導電シートに荷重を加えたとき、熱導電シートの上面
が略半導体チップの表面高さにするのが適正荷重であ
る。
熱導電シートに荷重を加えたとき、熱導電シートの上面
が略半導体チップの表面高さにするのが適正荷重であ
る。
【0033】なお、実施の形態では半導体パッケージと
して、モバイル用のCPUについて説明したが、金属パ
ッケージ、樹脂モールドパッケージ等についても、本発
明が効果があることは言うまでもない。
して、モバイル用のCPUについて説明したが、金属パ
ッケージ、樹脂モールドパッケージ等についても、本発
明が効果があることは言うまでもない。
【0034】また、ばね手段としてコイルばねを説明し
たが、コイルばねのかわりに、他のばねや弾性体を使用
しても同様な結果が得られる。
たが、コイルばねのかわりに、他のばねや弾性体を使用
しても同様な結果が得られる。
【0035】
【発明の効果】本発明によれば、半導体パッケージとヒ
ートシンクの間の熱伝達効率を向上させることができ、
高性能、高発熱の半導体パッケージ対応した放熱構造を
とることができる。
ートシンクの間の熱伝達効率を向上させることができ、
高性能、高発熱の半導体パッケージ対応した放熱構造を
とることができる。
【図1】実施の形態1における半導体パッケージの放熱
構造を示す斜視図
構造を示す斜視図
【図2】実施の形態1における半導体パッケージの放熱
構造の断面図
構造の断面図
【図3】実施の形態1における放熱構造のばね手段の要
部を示す拡大断面図
部を示す拡大断面図
【図4】半導体パッケージの構造の一例を示す断面図
【図5】従来の半導体パッケージにおける放熱構造の一
例を示す断面図
例を示す断面図
【図6】従来の半導体パッケージにおける放熱構造の他
の一例を示す断面図(a)熱伝導シートの断面図 (b)放熱構造の断面図
の一例を示す断面図(a)熱伝導シートの断面図 (b)放熱構造の断面図
1 半導体パッケージ 2、51 半導体チップ 4、56 配線基板 6、60 熱伝導性シート 7、57 ヒートシンク 10、58 熱伝導性グリス
フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H05K 7/20 H05K 7/20 D
Claims (3)
- 【請求項1】半導体チップを実装する配線基板と、前記
半導体チップの周囲を取巻く弾性を有する熱伝導体と、
半導体チップの上表面に塗布した熱伝導性グリスと、前
記熱伝導性グリスと対向するヒートシンクと、前記ヒー
トシンクと前記配線基板との間に設けたばね手段とより
なることを特徴とする半導体パッケージの放熱構造。 - 【請求項2】熱伝導体の厚みが、半導体チップの背の高
さよりも厚いことを特徴とする請求項1に記載の半導体
パッケージの放熱構造。 - 【請求項3】配線基板の筐体底面に設けたボスを基準と
して、配線基板とヒートシンクの間にばね手段を設けた
ことを特徴とする請求項2に記載の半導体パッケージの
放熱構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000056795A JP2001244394A (ja) | 2000-03-02 | 2000-03-02 | 半導体パッケージの放熱構造 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000056795A JP2001244394A (ja) | 2000-03-02 | 2000-03-02 | 半導体パッケージの放熱構造 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001244394A true JP2001244394A (ja) | 2001-09-07 |
Family
ID=18577682
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000056795A Pending JP2001244394A (ja) | 2000-03-02 | 2000-03-02 | 半導体パッケージの放熱構造 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001244394A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100921370B1 (ko) * | 2001-12-27 | 2009-10-14 | 폴리마테크 컴퍼니 리미티드 | 전자소자를 냉각하는 장치와 방법 및 그 방법을 이용하는 열전도성 쉬트와 열전도성 쉬트를 생산하는 방법 |
| JP2010194894A (ja) * | 2009-02-25 | 2010-09-09 | Brother Ind Ltd | 電子部品放熱構造およびその製造方法ならびに液体吐出装置 |
| DE102010017814A1 (de) | 2009-07-14 | 2011-02-03 | Denso Corporation, Kariya-City | Elektronische Steuereinheit |
| US7903425B2 (en) | 2006-06-27 | 2011-03-08 | Lenovo (Singapore) Pte. Ltd. | Integrated circuit chip thermal solution |
-
2000
- 2000-03-02 JP JP2000056795A patent/JP2001244394A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100921370B1 (ko) * | 2001-12-27 | 2009-10-14 | 폴리마테크 컴퍼니 리미티드 | 전자소자를 냉각하는 장치와 방법 및 그 방법을 이용하는 열전도성 쉬트와 열전도성 쉬트를 생산하는 방법 |
| US7903425B2 (en) | 2006-06-27 | 2011-03-08 | Lenovo (Singapore) Pte. Ltd. | Integrated circuit chip thermal solution |
| JP2010194894A (ja) * | 2009-02-25 | 2010-09-09 | Brother Ind Ltd | 電子部品放熱構造およびその製造方法ならびに液体吐出装置 |
| DE102010017814A1 (de) | 2009-07-14 | 2011-02-03 | Denso Corporation, Kariya-City | Elektronische Steuereinheit |
| US8243454B2 (en) | 2009-07-14 | 2012-08-14 | Denso Corporation | Electronic control unit |
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