JP2001117007A - レーザ顕微鏡及び共焦点型レーザ走査顕微鏡 - Google Patents
レーザ顕微鏡及び共焦点型レーザ走査顕微鏡Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 レーザ顕微鏡及び共焦点型レーザ走査顕微鏡
の製造コストの低減を図る。 【解決手段】 除振台40に載置される顕微鏡本体10
と、この顕微鏡本体10にレーザ光を供給するレーザ光
源とを備え、レーザ光源が、所定の波長のレーザ光を発
振する元レーザ105と、この元レーザ105からのレ
ーザ光の波長を変換するレーザ共振器106とを有して
いる共焦点型レーザ走査顕微鏡1において、元レーザ1
05とレーザ共振器106とを分離し、元レーザ105
とレーザ共振器106とを光ファイバ14によって接続
するとともに、レーザ共振器106を顕微鏡本体10に
組み込んだ。
の製造コストの低減を図る。 【解決手段】 除振台40に載置される顕微鏡本体10
と、この顕微鏡本体10にレーザ光を供給するレーザ光
源とを備え、レーザ光源が、所定の波長のレーザ光を発
振する元レーザ105と、この元レーザ105からのレ
ーザ光の波長を変換するレーザ共振器106とを有して
いる共焦点型レーザ走査顕微鏡1において、元レーザ1
05とレーザ共振器106とを分離し、元レーザ105
とレーザ共振器106とを光ファイバ14によって接続
するとともに、レーザ共振器106を顕微鏡本体10に
組み込んだ。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明はレーザ顕微鏡及び
共焦点型レーザ走査顕微鏡に関する。
共焦点型レーザ走査顕微鏡に関する。
【0002】
【従来の技術】微細構造の試料を顕微鏡で観察する場
合、顕微鏡の限界解像力は δ=λ/2NA (1)式 で表すことができる。
合、顕微鏡の限界解像力は δ=λ/2NA (1)式 で表すことができる。
【0003】ここで、δは解像力を、λは使用波長を、
NAは対物レンズの開口数をそれぞれ示す。
NAは対物レンズの開口数をそれぞれ示す。
【0004】(1)式から解像力を高めるには、波長λ
を短くするか、対物レンズの開口数NAを大きくするか
又は波長λを短くするとともに、対物レンズの開口数N
Aを大きくすればよいことがわかる。
を短くするか、対物レンズの開口数NAを大きくするか
又は波長λを短くするとともに、対物レンズの開口数N
Aを大きくすればよいことがわかる。
【0005】生物試料を観察する場合には、生物試料が
紫外域以下の波長の光を受けると光化学反応等により試
料自体が損傷してしまうので、開口数NAの大きな液浸
系の対物レンズを用いて解像力を高めている。
紫外域以下の波長の光を受けると光化学反応等により試
料自体が損傷してしまうので、開口数NAの大きな液浸
系の対物レンズを用いて解像力を高めている。
【0006】これに対し、無機物試料(例えばIC等の
微細構造物)を液浸系の対物レンズを用いて観察する場
合には、IC等の表面に不純物が付着し、使用できなく
なってしまうおそれが大きいので、紫外域以下の光の照
射によって解像力を高めている。なお、紫外域以下の光
の照射によって無機物試料自体が損傷を受けることは少
ない。
微細構造物)を液浸系の対物レンズを用いて観察する場
合には、IC等の表面に不純物が付着し、使用できなく
なってしまうおそれが大きいので、紫外域以下の光の照
射によって解像力を高めている。なお、紫外域以下の光
の照射によって無機物試料自体が損傷を受けることは少
ない。
【0007】ところで、近年IC等の微細構造物のスケ
ールは縮小の一途をたどっているため、顕微鏡も更なる
解像力の向上が望まれている。解像力の高い顕微鏡とし
ては、X線や電子線を用いた顕微鏡があるが、真空中で
の試料表面の観察であるため、光学顕微鏡に比し使い勝
手が悪い。そこで、使い勝手のよい光学顕微鏡による解
像力の向上が求められている。
ールは縮小の一途をたどっているため、顕微鏡も更なる
解像力の向上が望まれている。解像力の高い顕微鏡とし
ては、X線や電子線を用いた顕微鏡があるが、真空中で
の試料表面の観察であるため、光学顕微鏡に比し使い勝
手が悪い。そこで、使い勝手のよい光学顕微鏡による解
像力の向上が求められている。
【0008】光学顕微鏡で例えば解像力を2倍に高める
ため、可視光の代表波長であるe線(波長:546n
m)の半分である、深紫外域の波長(273nm)を選
択した場合、対物レンズの設計は以下の点で難しくな
る。
ため、可視光の代表波長であるe線(波長:546n
m)の半分である、深紫外域の波長(273nm)を選
択した場合、対物レンズの設計は以下の点で難しくな
る。
【0009】すなわち、深紫外域で変質しない接着剤が
なかったり、深紫外域に十分な透過率を有する硝子材が
少なかったりするため、従来の対物レンズの設計に多用
されている異なる硝子材のレンズの張り合わせによる色
消しの手法を使用できず、単レンズを組み合わせて対物
レンズを構成することが少なくない。
なかったり、深紫外域に十分な透過率を有する硝子材が
少なかったりするため、従来の対物レンズの設計に多用
されている異なる硝子材のレンズの張り合わせによる色
消しの手法を使用できず、単レンズを組み合わせて対物
レンズを構成することが少なくない。
【0010】この場合、中心波長に対する波長半値幅が
ピコメートル(pm)オーダ以下でないときには、所定
の光学性能が得られず、結果として解像力の良い画像が
得られない。
ピコメートル(pm)オーダ以下でないときには、所定
の光学性能が得られず、結果として解像力の良い画像が
得られない。
【0011】また、水銀ランプやキセノンランプ等を用
いた光源においても紫外域より短い波長の光を発するこ
とは知られているが、干渉フィルタで波長半値幅がpm
オーダ以下の光だけを取り出して照明光として用いた場
合、深紫外域に十分な感度を持たない従来の撮像管やC
CDでは必要とする明るさが得られないという問題があ
る。
いた光源においても紫外域より短い波長の光を発するこ
とは知られているが、干渉フィルタで波長半値幅がpm
オーダ以下の光だけを取り出して照明光として用いた場
合、深紫外域に十分な感度を持たない従来の撮像管やC
CDでは必要とする明るさが得られないという問題があ
る。
【0012】この問題に対し、例えば、蓄積時間を長く
して明るさを確保したり、感度に合わせて波長半値幅を
広げたりして対応できるが、画像取得レートが犠牲にな
ったり、光学性能が劣化したりする。
して明るさを確保したり、感度に合わせて波長半値幅を
広げたりして対応できるが、画像取得レートが犠牲にな
ったり、光学性能が劣化したりする。
【0013】そこで、無機物試料の観察には波長半値幅
の十分小さい深紫外域の波長の光が用いられている。
の十分小さい深紫外域の波長の光が用いられている。
【0014】以下、深紫外域の光を用いた顕微鏡システ
ムの具体例を説明する。
ムの具体例を説明する。
【0015】図4は共焦点レーザ走査顕微鏡システムの
ブロック構成図である。
ブロック構成図である。
【0016】共焦点レーザ走査顕微鏡システム(共焦点
レーザ走査顕微鏡)100は、レーザ光源101と、顕
微鏡本体110と、光画像システム130とから構成さ
れる。
レーザ走査顕微鏡)100は、レーザ光源101と、顕
微鏡本体110と、光画像システム130とから構成さ
れる。
【0017】レーザ光源101は深紫外域(波長:20
0〜300nm)のレーザ光を出射する。
0〜300nm)のレーザ光を出射する。
【0018】顕微鏡本体110は、レーザ光101aを
対物レンズ111の瞳面を満たす大きさの光束112a
に拡大するビームエクスパンダ112と、レーザ光を透
過させないが試料113で反射された光を透過させるビ
ームスプリッタ114と、レーザ光を2次元走査する2
次元スキャナユニット115と、リレーレンズ116
と、集光レンズ117と、対物レンズ111の焦点面と
共役な位置に配置され、集光レンズ117で集光された
光のみを通過させるピンホール118aが形成されたピ
ンホールプレート118と、ピンホール118aを通過
した光を検出し、電気信号に変換する光検出器120と
を備えている。
対物レンズ111の瞳面を満たす大きさの光束112a
に拡大するビームエクスパンダ112と、レーザ光を透
過させないが試料113で反射された光を透過させるビ
ームスプリッタ114と、レーザ光を2次元走査する2
次元スキャナユニット115と、リレーレンズ116
と、集光レンズ117と、対物レンズ111の焦点面と
共役な位置に配置され、集光レンズ117で集光された
光のみを通過させるピンホール118aが形成されたピ
ンホールプレート118と、ピンホール118aを通過
した光を検出し、電気信号に変換する光検出器120と
を備えている。
【0019】光画像システム130は、画像処理装置1
31、モニタ132等を備え、光検出器120からの電
気信号に基づき試料113の画像化を図る。
31、モニタ132等を備え、光検出器120からの電
気信号に基づき試料113の画像化を図る。
【0020】なお、顕微鏡本体110は高画質を補償す
るため、除振台140上に載置されている。
るため、除振台140上に載置されている。
【0021】上記構成の共焦点レーザ走査顕微鏡システ
ムの動作を説明する。
ムの動作を説明する。
【0022】レーザ光源101から出射されたレーザ光
101aは、反射ミラー102,103によって光路上
に導かれ、ビームエクスパンダ112を通過した後、ビ
ームスプリッタ114で反射され、2次元スキャナユニ
ット115によって2次元走査され、リレーレンズ11
6及び対物レンズ111によって試料113上の焦点面
にスポット119として照射される。
101aは、反射ミラー102,103によって光路上
に導かれ、ビームエクスパンダ112を通過した後、ビ
ームスプリッタ114で反射され、2次元スキャナユニ
ット115によって2次元走査され、リレーレンズ11
6及び対物レンズ111によって試料113上の焦点面
にスポット119として照射される。
【0023】スポット119で反射された光は、対物レ
ンズ111からリレーレンズ116、2次元スキャナユ
ニット115へと光路を逆行し、ビームスプリッタ11
4を通過する。
ンズ111からリレーレンズ116、2次元スキャナユ
ニット115へと光路を逆行し、ビームスプリッタ11
4を通過する。
【0024】ビームスプリッタ114を通過した光は、
集光レンズ117でピンホール118aに集光され、光
検出器120で電気信号に変換され、光画像システム1
30で画像として表示される。
集光レンズ117でピンホール118aに集光され、光
検出器120で電気信号に変換され、光画像システム1
30で画像として表示される。
【0025】ピンホール118aを試料113の焦点面
の光のみが通過するので、ピンホール118aで不要な
散乱光が除去され、光画像システム130では深さ方向
の解像度及びコントラストが著しく向上した画像を得る
ことが可能である。
の光のみが通過するので、ピンホール118aで不要な
散乱光が除去され、光画像システム130では深さ方向
の解像度及びコントラストが著しく向上した画像を得る
ことが可能である。
【0026】ところで、レーザ光源101は顕微鏡本体
110に組み込める程小型ではなく、また深紫外光を伝
搬できるシングルモード光ファイバも実用化されていな
いので、レーザ光源101は顕微鏡本体110とともに
除振台140上に載置されている。
110に組み込める程小型ではなく、また深紫外光を伝
搬できるシングルモード光ファイバも実用化されていな
いので、レーザ光源101は顕微鏡本体110とともに
除振台140上に載置されている。
【0027】図5は従来の深紫外レーザ光源の模式図で
ある。
ある。
【0028】深紫外レーザ光源101は元レーザ(基本
レーザ光発生手段)105と、レーザ共振器(波長変換
手段)106とを備えている。
レーザ光発生手段)105と、レーザ共振器(波長変換
手段)106とを備えている。
【0029】元レーザ105は波長532nmのレーザ
光101bを発振し、レーザ光101bはレーザ共振器
106に導かれる。
光101bを発振し、レーザ光101bはレーザ共振器
106に導かれる。
【0030】レーザ共振器106にはBBO(BaB2O
4:ホウ酸バリウム )結晶が内蔵され、このレーザ共振
器106は波長532nmのレーザ光101bを波長2
66nmのレーザ光101aに変換する。
4:ホウ酸バリウム )結晶が内蔵され、このレーザ共振
器106は波長532nmのレーザ光101bを波長2
66nmのレーザ光101aに変換する。
【0031】図6は一括照明型顕微鏡システムのブロッ
ク構成図であり、図5と同一部分には同一符号を付して
その説明を省略する。
ク構成図であり、図5と同一部分には同一符号を付して
その説明を省略する。
【0032】ケーラー照明型(一括照明型)顕微鏡シス
テム(レーザ顕微鏡)200は、レーザ光を発するレー
ザ光源101と、顕微鏡本体210と、光画像システム
230とから構成される。
テム(レーザ顕微鏡)200は、レーザ光を発するレー
ザ光源101と、顕微鏡本体210と、光画像システム
230とから構成される。
【0033】顕微鏡本体210は、レーザ光を対物レン
ズ211の瞳面を満たす大きさの光束212aに拡大す
るビームエクスパンダ212と、集光レンズ221と、
レーザ光を透過させないが試料213で反射された反射
光213aを透過させるビームスプリッタ214と、第
二対物レンズ217と、第二対物レンズ217によって
結像された光を検出し、電気信号に変換する光検出器2
20とを備えている。
ズ211の瞳面を満たす大きさの光束212aに拡大す
るビームエクスパンダ212と、集光レンズ221と、
レーザ光を透過させないが試料213で反射された反射
光213aを透過させるビームスプリッタ214と、第
二対物レンズ217と、第二対物レンズ217によって
結像された光を検出し、電気信号に変換する光検出器2
20とを備えている。
【0034】光画像システム230は、画像処理装置2
31、モニタ232等を備え、光検出器220からの電
気信号に基づき試料213の画像化を図る。
31、モニタ232等を備え、光検出器220からの電
気信号に基づき試料213の画像化を図る。
【0035】上記構成のケーラー照明型顕微鏡システム
の動作を説明する。
の動作を説明する。
【0036】レーザ光源101から出射されたレーザ光
101aは、光ファイバ(又はファイババンドル)10
4及びビームエクスパンダ212を通過した後、ビーム
スプリッタ214で反射され、対物レンズ211によっ
て試料213上に均一照射される。
101aは、光ファイバ(又はファイババンドル)10
4及びビームエクスパンダ212を通過した後、ビーム
スプリッタ214で反射され、対物レンズ211によっ
て試料213上に均一照射される。
【0037】試料213で反射された反射光213a
は、対物レンズ211、ビームスプリッタ114、第二
対物レンズ217へと逆行する。
は、対物レンズ211、ビームスプリッタ114、第二
対物レンズ217へと逆行する。
【0038】反射光213aは第二対物レンズ217で
集光され、光検出器220で電気信号に変換され、光画
像システム130で画像として表示される。
集光され、光検出器220で電気信号に変換され、光画
像システム130で画像として表示される。
【0039】
【発明が解決しようとする課題】しかし、共焦点レーザ
走査顕微鏡システム100では、レーザ光源101は顕
微鏡本体110に組み込める程小型ではなく、また深紫
外光を伝搬できるシングルモード光ファイバも実用化さ
れておらず、レーザ光源101は顕微鏡本体110とと
もに除振台140上に載置されているので、大きな除振
台140を必要とするとともに、レーザ光を顕微鏡本体
110へ導くための反射ミラー102,103の調整が
必要となり、製造コストの高いものとなってしまう。
走査顕微鏡システム100では、レーザ光源101は顕
微鏡本体110に組み込める程小型ではなく、また深紫
外光を伝搬できるシングルモード光ファイバも実用化さ
れておらず、レーザ光源101は顕微鏡本体110とと
もに除振台140上に載置されているので、大きな除振
台140を必要とするとともに、レーザ光を顕微鏡本体
110へ導くための反射ミラー102,103の調整が
必要となり、製造コストの高いものとなってしまう。
【0040】また、ケーラー照明型顕微鏡システム20
0では、レーザ光源101を除振台240上に載置しな
くてよいので、共焦点レーザ走査顕微鏡システム100
のように大きな除振台140は必要としないが、光ファ
イバ(又はファイババンドル)104には高価な石英や
螢石等の光ファイバが利用されるので、やはり製造コス
トの高いものとなってしまう。
0では、レーザ光源101を除振台240上に載置しな
くてよいので、共焦点レーザ走査顕微鏡システム100
のように大きな除振台140は必要としないが、光ファ
イバ(又はファイババンドル)104には高価な石英や
螢石等の光ファイバが利用されるので、やはり製造コス
トの高いものとなってしまう。
【0041】この発明はこのような事情に鑑みてなされ
たもので、その課題はレーザ顕微鏡及び共焦点型レーザ
走査顕微鏡の製造コストの低減を図ることである。
たもので、その課題はレーザ顕微鏡及び共焦点型レーザ
走査顕微鏡の製造コストの低減を図ることである。
【0042】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決すべく請
求項1に記載の発明は、除振台に載置される顕微鏡本体
と、この顕微鏡本体にレーザ光を供給するレーザ光源と
を備え、前記レーザ光源が、所定の波長のレーザ光を発
振する基本レーザ光発生手段と、この基本レーザ光発生
手段からのレーザ光の波長を変換する波長変換手段とを
有しているレーザ顕微鏡において、前記基本レーザ光発
生手段と前記波長変換手段とを分離し、前記基本レーザ
光発生手段と前記波長変換手段とを光ファイバによって
接続するとともに、前記波長変換手段を前記顕微鏡本体
に組み込んだことを特徴とする。
求項1に記載の発明は、除振台に載置される顕微鏡本体
と、この顕微鏡本体にレーザ光を供給するレーザ光源と
を備え、前記レーザ光源が、所定の波長のレーザ光を発
振する基本レーザ光発生手段と、この基本レーザ光発生
手段からのレーザ光の波長を変換する波長変換手段とを
有しているレーザ顕微鏡において、前記基本レーザ光発
生手段と前記波長変換手段とを分離し、前記基本レーザ
光発生手段と前記波長変換手段とを光ファイバによって
接続するとともに、前記波長変換手段を前記顕微鏡本体
に組み込んだことを特徴とする。
【0043】例えば一括照明型顕微鏡の場合には波長変
換手段から顕微鏡本体の光路へレーザ光を導くための高
価な石英等の光ファイバが不要になり、基本レーザ光発
生手段から波長変換手段へレーザ光を導く安価な光ファ
イバだけでよい。
換手段から顕微鏡本体の光路へレーザ光を導くための高
価な石英等の光ファイバが不要になり、基本レーザ光発
生手段から波長変換手段へレーザ光を導く安価な光ファ
イバだけでよい。
【0044】請求項2に記載の発明は、除振台に載置さ
れる顕微鏡本体と、この顕微鏡本体にレーザ光を供給す
るレーザ光源とを備え、前記レーザ光源が、所定の波長
のレーザ光を発振する基本レーザ光発生手段と、この基
本レーザ光発生手段からのレーザ光の波長を変換する波
長変換手段とを有している共焦点型レーザ走査顕微鏡に
おいて、前記基本レーザ光発生手段と前記波長変換手段
とを分離し、前記基本レーザ光発生手段と前記波長変換
手段とを光ファイバによって接続するとともに、前記波
長変換手段を前記顕微鏡本体に組み込んだことを特徴と
する。
れる顕微鏡本体と、この顕微鏡本体にレーザ光を供給す
るレーザ光源とを備え、前記レーザ光源が、所定の波長
のレーザ光を発振する基本レーザ光発生手段と、この基
本レーザ光発生手段からのレーザ光の波長を変換する波
長変換手段とを有している共焦点型レーザ走査顕微鏡に
おいて、前記基本レーザ光発生手段と前記波長変換手段
とを分離し、前記基本レーザ光発生手段と前記波長変換
手段とを光ファイバによって接続するとともに、前記波
長変換手段を前記顕微鏡本体に組み込んだことを特徴と
する。
【0045】波長変換手段から顕微鏡本体の光路へレー
ザ光を導くためのミラーが不要になり、基本レーザ光発
生手段から波長変換手段へレーザ光を導く安価な光ファ
イバだけでよいので、経時変化等に基く反射ミラーの調
整を不要にできる。また、基本レーザ光発生手段を除振
台に載置する必要がないので、除振台を小型化すること
ができる。
ザ光を導くためのミラーが不要になり、基本レーザ光発
生手段から波長変換手段へレーザ光を導く安価な光ファ
イバだけでよいので、経時変化等に基く反射ミラーの調
整を不要にできる。また、基本レーザ光発生手段を除振
台に載置する必要がないので、除振台を小型化すること
ができる。
【0046】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の形態を図
面に基づいて説明する。
面に基づいて説明する。
【0047】図1はこの発明の1実施形態に係る共焦点
型レーザ走査顕微鏡システムのブロック構成図、図2は
深紫外レーザ光源の模式図であり、図4の共焦点型レー
ザ走査顕微鏡システムと同一部分には同一符号を付し
て、その説明を省略する。
型レーザ走査顕微鏡システムのブロック構成図、図2は
深紫外レーザ光源の模式図であり、図4の共焦点型レー
ザ走査顕微鏡システムと同一部分には同一符号を付し
て、その説明を省略する。
【0048】共焦点型レーザ走査顕微鏡システム(共焦
点型レーザ走査顕微鏡)1は、元レーザ(基本レーザ光
発生手段)105とレーザ共振器(波長変換手段)10
6とを分離し、元レーザ105とレーザ共振器106と
を可視光用の安価な光ファイバ14によって接続すると
ともに、レーザ共振器106を顕微鏡本体10に組み込
んだ点で図4に示した従来の共焦点型レーザ走査顕微鏡
システム100と異なる。
点型レーザ走査顕微鏡)1は、元レーザ(基本レーザ光
発生手段)105とレーザ共振器(波長変換手段)10
6とを分離し、元レーザ105とレーザ共振器106と
を可視光用の安価な光ファイバ14によって接続すると
ともに、レーザ共振器106を顕微鏡本体10に組み込
んだ点で図4に示した従来の共焦点型レーザ走査顕微鏡
システム100と異なる。
【0049】なお、顕微鏡本体10は高画質を補償する
ため、除振台40上に載置されている。
ため、除振台40上に載置されている。
【0050】上記構成の共焦点レーザ走査顕微鏡システ
ム1の動作を説明する。
ム1の動作を説明する。
【0051】元レーザ105で発振した波長532nm
のレーザ光は光ファイバ14を介して顕微鏡本体10へ
導かれ、レーザ共振器106で波長266nmのレーザ
光に変換される。このレーザ光は、ビームエクスパンダ
112で対物レンズ111の瞳径を満たす大きさに拡大
された光束112aとなり、ビームスプリッタ114で
反射され、2次元スキャナユニット115によって互い
に直角な方向へ2次元走査され、リレーレンズ116及
び対物レンズ111によって試料113上の焦点面にス
ポット119として照射される。
のレーザ光は光ファイバ14を介して顕微鏡本体10へ
導かれ、レーザ共振器106で波長266nmのレーザ
光に変換される。このレーザ光は、ビームエクスパンダ
112で対物レンズ111の瞳径を満たす大きさに拡大
された光束112aとなり、ビームスプリッタ114で
反射され、2次元スキャナユニット115によって互い
に直角な方向へ2次元走査され、リレーレンズ116及
び対物レンズ111によって試料113上の焦点面にス
ポット119として照射される。
【0052】試料113上を2次元走査されたスポット
119の反射光は、対物レンズ111からリレーレンズ
116、2次元スキャナユニット115へと光路を逆行
し、ビームスプリッタ114を通過する。
119の反射光は、対物レンズ111からリレーレンズ
116、2次元スキャナユニット115へと光路を逆行
し、ビームスプリッタ114を通過する。
【0053】ビームスプリッタ114を通過した光は、
集光レンズ117でピンホール118aに集光され、ピ
ンホール118aを通りぬけた光だけが光検出器120
で電気信号に変換された後、光画像システム130で画
像として表示される。
集光レンズ117でピンホール118aに集光され、ピ
ンホール118aを通りぬけた光だけが光検出器120
で電気信号に変換された後、光画像システム130で画
像として表示される。
【0054】この実施形態によれば、従来例においてレ
ーザ共振器106から顕微鏡本体10の光路へレーザ光
101aを導くための反射ミラー102,103が不要
になり、経時変化等に基く反射ミラー102,103の
ずれを調整するための手間を省くことができる。
ーザ共振器106から顕微鏡本体10の光路へレーザ光
101aを導くための反射ミラー102,103が不要
になり、経時変化等に基く反射ミラー102,103の
ずれを調整するための手間を省くことができる。
【0055】また、元レーザ105を除振台40に載置
しなくてよいので、除振台40を従来例の除振台140
より小型化することができる。
しなくてよいので、除振台40を従来例の除振台140
より小型化することができる。
【0056】そのため、製造コストを従来例より低減す
ることができる。
ることができる。
【0057】図3はこの発明の第2実施形態に係る一括
照明型顕微鏡システムのブロック構成図であり、図6の
一括照明型顕微鏡と同一部分には同一符号を付して、そ
の説明を省略する。
照明型顕微鏡システムのブロック構成図であり、図6の
一括照明型顕微鏡と同一部分には同一符号を付して、そ
の説明を省略する。
【0058】ケーラー照明型顕微鏡システム(レーザ顕
微鏡)2は、元レーザ105(基本レーザ光発生手段)
とレーザ共振器106(波長変換手段)とを分離し、元
レーザ105とレーザ共振器106とを可視光用の安価
な光ファイバ24によって接続するとともに、レーザ共
振器106を顕微鏡本体20に組み込んだ点で図5に示
した従来のケーラー照明型顕微鏡システムと異なる。
微鏡)2は、元レーザ105(基本レーザ光発生手段)
とレーザ共振器106(波長変換手段)とを分離し、元
レーザ105とレーザ共振器106とを可視光用の安価
な光ファイバ24によって接続するとともに、レーザ共
振器106を顕微鏡本体20に組み込んだ点で図5に示
した従来のケーラー照明型顕微鏡システムと異なる。
【0059】上記構成のケーラー照明型顕微鏡システム
の動作を説明する。
の動作を説明する。
【0060】元レーザ105で発振した波長532nm
のレーザ光は光ファイバ24を介して顕微鏡本体20へ
導かれ、レーザ共振器106で波長266nmのレーザ
光に変換される。このレーザ光は、ビームエクスパンダ
112で対物レンズ211の瞳径を満たす大きさに拡大
された光束212aとなり、ビームスプリッタ214で
反射され、対物レンズ211によって試料213上に均
一に照射される。
のレーザ光は光ファイバ24を介して顕微鏡本体20へ
導かれ、レーザ共振器106で波長266nmのレーザ
光に変換される。このレーザ光は、ビームエクスパンダ
112で対物レンズ211の瞳径を満たす大きさに拡大
された光束212aとなり、ビームスプリッタ214で
反射され、対物レンズ211によって試料213上に均
一に照射される。
【0061】試料213からの反射光213aは、対物
レンズ211、ビームスプリッタ214、第二対物レン
ズ217へと逆行し、この第二対物レンズ217で光検
出器220上に集光される。
レンズ211、ビームスプリッタ214、第二対物レン
ズ217へと逆行し、この第二対物レンズ217で光検
出器220上に集光される。
【0062】光検出器220で電気信号に変換された
後、光画像システム130で画像として表示される。
後、光画像システム130で画像として表示される。
【0063】この実施形態によれば、レーザ共振器10
6から顕微鏡本体20の光路へレーザ光を導くための高
価な石英等の光ファイバ(光ファイババンドル)104
を不要にでき、可視光用の安価な光ファイバ24によっ
て元レーザ105からレーザ共振器106へレーザ光を
導くことができるので、製造コストを従来例より低減す
ることができる。
6から顕微鏡本体20の光路へレーザ光を導くための高
価な石英等の光ファイバ(光ファイババンドル)104
を不要にでき、可視光用の安価な光ファイバ24によっ
て元レーザ105からレーザ共振器106へレーザ光を
導くことができるので、製造コストを従来例より低減す
ることができる。
【0064】なお、上記第1実施形態では、波長266
nmの深紫外レーザ光を用いた顕微鏡システムに本願発
明を適用した場合について説明したが、高調波波長変換
を利用したレーザ光源を用いる総ての共焦点レーザ走査
顕微鏡システムに本願発明を適用することができる。
nmの深紫外レーザ光を用いた顕微鏡システムに本願発
明を適用した場合について説明したが、高調波波長変換
を利用したレーザ光源を用いる総ての共焦点レーザ走査
顕微鏡システムに本願発明を適用することができる。
【0065】
【発明の効果】以上に説明したように請求項1記載の発
明のレーザ顕微鏡によれば、例えば一括照明型顕微鏡の
場合には高価な石英等の光ファイバを使用せず、安価な
光ファイバだけでよいので、製造コストを低減すること
ができる。
明のレーザ顕微鏡によれば、例えば一括照明型顕微鏡の
場合には高価な石英等の光ファイバを使用せず、安価な
光ファイバだけでよいので、製造コストを低減すること
ができる。
【0066】請求項2記載の発明の共焦点レーザ走査顕
微鏡によれば、調整が必要な反射ミラーを不要にできる
とともに、除振台を小型化できるので、製造コストをよ
り低減することができる。
微鏡によれば、調整が必要な反射ミラーを不要にできる
とともに、除振台を小型化できるので、製造コストをよ
り低減することができる。
【図1】図1はこの発明の1実施形態に係る共焦点型レ
ーザ走査顕微鏡システムのブロック構成図である。
ーザ走査顕微鏡システムのブロック構成図である。
【図2】図2は深紫外レーザ光源の模式図である。
【図3】図3はこの発明の第2実施形態に係る一括照明
型顕微鏡システムのブロック構成図である。
型顕微鏡システムのブロック構成図である。
【図4】図4は共焦点レーザ走査顕微鏡システムのブロ
ック構成図である。
ック構成図である。
【図5】図5は従来の深紫外レーザ光源の模式図であ
る。
る。
【図6】図6は一括照明型顕微鏡システムのブロック構
成図である。
成図である。
1 共焦点型レーザ走査顕微鏡システム(共焦点型レー
ザ走査顕微鏡) 2 一括照明型顕微鏡システム(レーザ顕微鏡) 10,20 顕微鏡本体 14,24 光ファイバ 40,240 除振台 101 レーザ光源 105 元レーザ(基本レーザ光発生手段) 106 レーザ共振器(波長変換手段)
ザ走査顕微鏡) 2 一括照明型顕微鏡システム(レーザ顕微鏡) 10,20 顕微鏡本体 14,24 光ファイバ 40,240 除振台 101 レーザ光源 105 元レーザ(基本レーザ光発生手段) 106 レーザ共振器(波長変換手段)
Claims (2)
- 【請求項1】 除振台に載置される顕微鏡本体と、この
顕微鏡本体にレーザ光を供給するレーザ光源とを備え、 前記レーザ光源が、所定の波長のレーザ光を発振する基
本レーザ光発生手段と、この基本レーザ光発生手段から
のレーザ光の波長を変換する波長変換手段とを有してい
るレーザ顕微鏡において、 前記基本レーザ光発生手段と前記波長変換手段とを分離
し、前記基本レーザ光発生手段と前記波長変換手段とを
光ファイバによって接続するとともに、前記波長変換手
段を前記顕微鏡本体に組み込んだことを特徴とするレー
ザ顕微鏡。 - 【請求項2】 除振台に載置される顕微鏡本体と、この
顕微鏡本体にレーザ光を供給するレーザ光源とを備え、 前記レーザ光源が、所定の波長のレーザ光を発振する基
本レーザ光発生手段と、この基本レーザ光発生手段から
のレーザ光の波長を変換する波長変換手段とを有してい
る共焦点型レーザ走査顕微鏡において、 前記基本レーザ光発生手段と前記波長変換手段とを分離
し、前記基本レーザ光発生手段と前記波長変換手段とを
光ファイバによって接続するとともに、前記波長変換手
段を前記顕微鏡本体に組み込んだことを特徴とする共焦
点型レーザ走査顕微鏡。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29904499A JP2001117007A (ja) | 1999-10-21 | 1999-10-21 | レーザ顕微鏡及び共焦点型レーザ走査顕微鏡 |
| US09/691,260 US6282020B1 (en) | 1999-10-21 | 2000-10-19 | Laser microscope and confocal laser scanning microscope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29904499A JP2001117007A (ja) | 1999-10-21 | 1999-10-21 | レーザ顕微鏡及び共焦点型レーザ走査顕微鏡 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001117007A true JP2001117007A (ja) | 2001-04-27 |
Family
ID=17867496
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29904499A Pending JP2001117007A (ja) | 1999-10-21 | 1999-10-21 | レーザ顕微鏡及び共焦点型レーザ走査顕微鏡 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6282020B1 (ja) |
| JP (1) | JP2001117007A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009058716A (ja) * | 2007-08-31 | 2009-03-19 | Seiko Epson Corp | 照明装置、モニタ装置及び画像表示装置 |
| JP2013152484A (ja) * | 2007-07-17 | 2013-08-08 | Olympus Corp | レーザー走査型顕微鏡システム |
| CN103411555A (zh) * | 2013-08-15 | 2013-11-27 | 哈尔滨工业大学 | 基于线阵角谱照明的并行共焦环形微结构测量装置与方法 |
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| JP2003248176A (ja) * | 2001-12-19 | 2003-09-05 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡画像撮影装置 |
| EP1688774B1 (en) * | 2003-11-26 | 2013-02-20 | Olympus Corporation | Laser scanning type fluorescent microscope |
| PL1895905T3 (pl) | 2005-05-12 | 2025-07-28 | Lucid, Inc. | Konfokalny mikroskop skaningowy zawierający układy optyczne i skanujące, które zapewniają ręczną głowicę obrazującą |
| DE102011106916B4 (de) | 2011-07-08 | 2021-10-28 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Konfokales Auflicht-Rastermikroskop, Verfahren und Programm zum Betrieb eines solchen Mikroskops |
| JP6019998B2 (ja) * | 2012-02-17 | 2016-11-02 | ソニー株式会社 | 撮像装置、撮像制御プログラム及び撮像方法 |
| WO2015021634A1 (zh) * | 2013-08-15 | 2015-02-19 | 华为技术有限公司 | 一种光组件、内置式光时域反射计及光网络设备 |
| CN106403843A (zh) * | 2016-12-09 | 2017-02-15 | 哈尔滨工业大学 | 基于共焦显微技术的大口径高曲率光学元件的轮廓扫描测量装置及方法 |
| CN106595526A (zh) * | 2016-12-28 | 2017-04-26 | 哈尔滨工业大学 | 一种大口径自由曲面样品表面轮廓差动测量装置与方法 |
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| US5933274A (en) * | 1997-05-15 | 1999-08-03 | Andrew F. DeSimone | Dye laser system |
| US5982535A (en) * | 1997-08-07 | 1999-11-09 | Marine Biological Laboratory | Centrifuge microscope capable of realizing polarized light observation |
-
1999
- 1999-10-21 JP JP29904499A patent/JP2001117007A/ja active Pending
-
2000
- 2000-10-19 US US09/691,260 patent/US6282020B1/en not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6282020B1 (en) | 2001-08-28 |
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