JP2001141654A - 分光光度・比濁検出ユニット - Google Patents
分光光度・比濁検出ユニットInfo
- Publication number
- JP2001141654A JP2001141654A JP2000307117A JP2000307117A JP2001141654A JP 2001141654 A JP2001141654 A JP 2001141654A JP 2000307117 A JP2000307117 A JP 2000307117A JP 2000307117 A JP2000307117 A JP 2000307117A JP 2001141654 A JP2001141654 A JP 2001141654A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light source
- diaphragm
- range
- spectral
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/51—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid inside a container, e.g. in an ampoule
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Transmission Systems Not Characterized By The Medium Used For Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 入射光の軸線外の角度で発生した、サンプル
からの散乱光と、ほぼ０度の角度で透過した光の両方を
測定することができる装置の提供。 【解決手段】 本装置は、ａ）一つまたはそれ以上の、
好ましくは二つの、同じスペクトル領域あるいは異なっ
た、好ましくは異なったスペクトル領域を有する光源
と、ｂ）所望の測定部位へ光を振り分け、案内する一つ
またはそれ以上のビーム案内装置と、ｃ）所望スペクト
ル領域の目標とする分離または組み合わせを行い、ま
た、ビームの整形をおこなう一つまたはそれ以上のフィ
ルターと、ｄ）ビーム直径を制限しかつビームを整形す
る一つまたはそれ以上のダイアフラムと、ｅ）測定しよ
うとしている材料の発生する信号および基準信号を検出
する適当なセンサーとを包含し、主としてインビトロ診
断における分光光度・比濁分析をほぼ同時に行うことが
できる。
からの散乱光と、ほぼ０度の角度で透過した光の両方を
測定することができる装置の提供。 【解決手段】 本装置は、ａ）一つまたはそれ以上の、
好ましくは二つの、同じスペクトル領域あるいは異なっ
た、好ましくは異なったスペクトル領域を有する光源
と、ｂ）所望の測定部位へ光を振り分け、案内する一つ
またはそれ以上のビーム案内装置と、ｃ）所望スペクト
ル領域の目標とする分離または組み合わせを行い、ま
た、ビームの整形をおこなう一つまたはそれ以上のフィ
ルターと、ｄ）ビーム直径を制限しかつビームを整形す
る一つまたはそれ以上のダイアフラムと、ｅ）測定しよ
うとしている材料の発生する信号および基準信号を検出
する適当なセンサーとを包含し、主としてインビトロ診
断における分光光度・比濁分析をほぼ同時に行うことが
できる。
Description
【０００１】本発明は、主としてインビトロ診断におい
て分光光度・比濁分析を本質的に同時に行う方法および
装置に関する。近年、自動化されたインビトロ実験分析
のためのより感度の良い光学的検出方法についての需要
が高まっているのと同時に、分析法の整合、調和を向上
させる要求が高まってきている。
て分光光度・比濁分析を本質的に同時に行う方法および
装置に関する。近年、自動化されたインビトロ実験分析
のためのより感度の良い光学的検出方法についての需要
が高まっているのと同時に、分析法の整合、調和を向上
させる要求が高まってきている。
【０００２】これらの要求は、２、３の検査室診断セン
タの形に測定検査室の数が集中しているという背景から
わかる。分析法により広範囲に適合させ、異なった機
種、方法条件の数を減らすことによって、初めて、操作
要件を増やすことなく簡単に検査を実施することができ
る。これらの努力は、診断分野でのさらなるコスト削減
を意図している。
タの形に測定検査室の数が集中しているという背景から
わかる。分析法により広範囲に適合させ、異なった機
種、方法条件の数を減らすことによって、初めて、操作
要件を増やすことなく簡単に検査を実施することができ
る。これらの努力は、診断分野でのさらなるコスト削減
を意図している。
【０００３】同時に、より複雑で、完全自動化された分
析装置についての要求が高まりつつある。多数のサンプ
ルおよび多種類のサンプルを処理し、所望の処理量を達
成できるようにするために、分析機器は、付加的に、対
応するネットワークを経て、検査統合システムに接続さ
れ、サンプル、検査あるいは消費材料を断続的に追跡で
きる。
析装置についての要求が高まりつつある。多数のサンプ
ルおよび多種類のサンプルを処理し、所望の処理量を達
成できるようにするために、分析機器は、付加的に、対
応するネットワークを経て、検査統合システムに接続さ
れ、サンプル、検査あるいは消費材料を断続的に追跡で
きる。
【０００４】しかしながら、同時に、異なったインビト
ロ診断用途分野においても調和が行われる場合にのみ、
このような完全自動化分析機の資本支出およびそれに続
く設備稼働率が達成され得るのである。したがって、今
でも、とりわけ共通のプラットフォームでの臨床化学、
血漿たんぱく診断または免疫化学診断のパラメータを実
行する試みがなされている。これは、特に、異なった用
途分野におけるプロセス技術についての要件が類似して
いるときには、成功している。これは、サンプルまたは
試薬溶液の処理のための、保管（温度安定性）または計
量測定（体積、精度）に関する条件が良く一致している
ことが多いためである。したがって、適合および調和の
向上は、分析に使用される検出方法にも矛盾することな
く及ばなければならない
ロ診断用途分野においても調和が行われる場合にのみ、
このような完全自動化分析機の資本支出およびそれに続
く設備稼働率が達成され得るのである。したがって、今
でも、とりわけ共通のプラットフォームでの臨床化学、
血漿たんぱく診断または免疫化学診断のパラメータを実
行する試みがなされている。これは、特に、異なった用
途分野におけるプロセス技術についての要件が類似して
いるときには、成功している。これは、サンプルまたは
試薬溶液の処理のための、保管（温度安定性）または計
量測定（体積、精度）に関する条件が良く一致している
ことが多いためである。したがって、適合および調和の
向上は、分析に使用される検出方法にも矛盾することな
く及ばなければならない
【０００５】現時点で使用される分析法の大部分は、光
度測定または光散乱によって得られる種類の測定データ
を得る方法を使用しているにすぎない。或る種の分析法
においては、光散乱は、異なった角度で、または、異な
った角度範囲で検出される。散乱光方法は、極めて感度
が高く、その解像度は、凝集検査あるいは粒子強化イン
ビトロ診断におけると同様に、光度測定方法、特に、散
乱中心の形成および一時的変化が検出される方法よりも
優れている。散乱光理論に関する広範囲にわたる考察お
よび計算は、それ自体、当業者に知られているものであ
り、文献（たとえば、C. F. Bohren, D. R. Huffman、A
bsorption and Scattering of Light bySmall Particle
s、J. Wiley & Sons, 1983）に記載されている。さら
に、インビトロ診断検査への応用概念は、とりわけ、E.
P. Diamandis等、1997年（Immunoassay, Academic Pre
ss, 1997, Chapter 17: Nephelometric and Turbidimet
ric Immunoassay）およびそこで引用されている文献に
見出すことができる。
度測定または光散乱によって得られる種類の測定データ
を得る方法を使用しているにすぎない。或る種の分析法
においては、光散乱は、異なった角度で、または、異な
った角度範囲で検出される。散乱光方法は、極めて感度
が高く、その解像度は、凝集検査あるいは粒子強化イン
ビトロ診断におけると同様に、光度測定方法、特に、散
乱中心の形成および一時的変化が検出される方法よりも
優れている。散乱光理論に関する広範囲にわたる考察お
よび計算は、それ自体、当業者に知られているものであ
り、文献（たとえば、C. F. Bohren, D. R. Huffman、A
bsorption and Scattering of Light bySmall Particle
s、J. Wiley & Sons, 1983）に記載されている。さら
に、インビトロ診断検査への応用概念は、とりわけ、E.
P. Diamandis等、1997年（Immunoassay, Academic Pre
ss, 1997, Chapter 17: Nephelometric and Turbidimet
ric Immunoassay）およびそこで引用されている文献に
見出すことができる。
【０００６】一方、多くの検査方法についての要件は、
吸収性のみを検出する光度測定検査を実施することにあ
る。この場合、せいぜい、測定すべき材料に含まれる汚
染物質を測定することができるだけなので、散乱光信号
が欠除している。
吸収性のみを検出する光度測定検査を実施することにあ
る。この場合、せいぜい、測定すべき材料に含まれる汚
染物質を測定することができるだけなので、散乱光信号
が欠除している。
【０００７】例として、ＤＥＡ２４０９２７３および米
国特許第４,４０８,８８０号が、サンプルをレーザー光
線で励起し、その散乱光を入射光の光軸の外の角度で検
出する方法を記載している。測定に使用される散乱光
は、レーザーからの励起光を保持する適当に形付けた環
状のダイアフラムによってマスキングされる。
国特許第４,４０８,８８０号が、サンプルをレーザー光
線で励起し、その散乱光を入射光の光軸の外の角度で検
出する方法を記載している。測定に使用される散乱光
は、レーザーからの励起光を保持する適当に形付けた環
状のダイアフラムによってマスキングされる。
【０００８】米国特許第４,０５３,２２９号が、同様
に、散乱光測定を２度の角度と９０度の角度で同時に行
う散乱光測定装置を記載している。ＷＯ９８／００７０
１が、比濁計と２つの光源を包含する濁度計との組み合
わせを記載している。レーザーの形態をした一方の光源
は、９０度で検出される散乱光を発生するが、赤外線ス
ペクトル領域で発光するダイオード（ＬＥＤ）は、入射
光の軸線上の濁度を測定するのに役立つ。この出願で記
載する方法は、特に、使用するレーザーの強度のコント
ロールを向上させるのに役立つ。
に、散乱光測定を２度の角度と９０度の角度で同時に行
う散乱光測定装置を記載している。ＷＯ９８／００７０
１が、比濁計と２つの光源を包含する濁度計との組み合
わせを記載している。レーザーの形態をした一方の光源
は、９０度で検出される散乱光を発生するが、赤外線ス
ペクトル領域で発光するダイオード（ＬＥＤ）は、入射
光の軸線上の濁度を測定するのに役立つ。この出願で記
載する方法は、特に、使用するレーザーの強度のコント
ロールを向上させるのに役立つ。
【０００９】現在まで、散乱光測定と光度測定の両方を
本質的に同時に実施することを可能にする公知の方法お
よび／または装置はない。したがって、本発明は、一つ
の組立体内で一つのサンプルについて本質的に同時の分
光光度・比濁測定を可能にする装置を見出す目的に基づ
いている。
本質的に同時に実施することを可能にする公知の方法お
よび／または装置はない。したがって、本発明は、一つ
の組立体内で一つのサンプルについて本質的に同時の分
光光度・比濁測定を可能にする装置を見出す目的に基づ
いている。
【００１０】本質的に同時ということは、分光光度測定
の測定点と比濁測定の測定点が、測定タイプにとって必
要なだけ接近した時刻で互いに続くということを意味す
る。反応速度測定の場合、時間間隔は、たとえば、終点
測定の場合よりも短くなければならない。終点測定で
は、測定時間間隔は、測定部位に関する測定セルの回転
／並進運動の機械的なサイズによって本質的に決定され
る。一方、反応速度測定の場合、時間間隔はできるだけ
短くなければならない。
の測定点と比濁測定の測定点が、測定タイプにとって必
要なだけ接近した時刻で互いに続くということを意味す
る。反応速度測定の場合、時間間隔は、たとえば、終点
測定の場合よりも短くなければならない。終点測定で
は、測定時間間隔は、測定部位に関する測定セルの回転
／並進運動の機械的なサイズによって本質的に決定され
る。一方、反応速度測定の場合、時間間隔はできるだけ
短くなければならない。
【００１１】本発明は、散乱光測定および分光測光法の
原理に基づいてインビトロ診断分析を実施する方法の組
み合わせを可能にする装置を記載する。この場合、測定
ユニットによって、光度測定方法および散乱光測定方法
を本質的に同時に使用することが可能になる。一つまた
はそれ以上の光源１、２は、共通のビーム案内装置２４
を介して、反応部位１１に案内される。散乱光または光
度測定の信号は、センサー１７、２５によって検出され
得る。パルス化駆動は、二つの方法を一時的に分離し、
作動中に、相互の影響あるいは干渉がまったく生じない
ようにすることを意味する。
原理に基づいてインビトロ診断分析を実施する方法の組
み合わせを可能にする装置を記載する。この場合、測定
ユニットによって、光度測定方法および散乱光測定方法
を本質的に同時に使用することが可能になる。一つまた
はそれ以上の光源１、２は、共通のビーム案内装置２４
を介して、反応部位１１に案内される。散乱光または光
度測定の信号は、センサー１７、２５によって検出され
得る。パルス化駆動は、二つの方法を一時的に分離し、
作動中に、相互の影響あるいは干渉がまったく生じない
ようにすることを意味する。
【００１２】比濁分析は、主として、凝集検査の分析の
ため、特に、粒子強化免疫診断において使用されるが、
光度測定は、スペクトル変化に基づく他の多数の臨床化
学パラメータを測定するのに役立つ。この組み合わせに
より、単一のモジュールについて臨床化学、免疫診断、
血漿たんぱく診断または凝固診断に関する多数の異なっ
た診断検査を実施することを可能にするという目的を達
成することが可能になる。
ため、特に、粒子強化免疫診断において使用されるが、
光度測定は、スペクトル変化に基づく他の多数の臨床化
学パラメータを測定するのに役立つ。この組み合わせに
より、単一のモジュールについて臨床化学、免疫診断、
血漿たんぱく診断または凝固診断に関する多数の異なっ
た診断検査を実施することを可能にするという目的を達
成することが可能になる。
【００１３】本明細書の説明は、分析およびインビトロ
診断における自動化測定システムの使用分野に関する。
特に、ここに記載されている装置は、ＵＶ−Ｖｉｓスペ
クトル領域において散乱光測定および／または光度測定
の助けによって測定される検査を同時に実施することを
可能にする。
診断における自動化測定システムの使用分野に関する。
特に、ここに記載されている装置は、ＵＶ−Ｖｉｓスペ
クトル領域において散乱光測定および／または光度測定
の助けによって測定される検査を同時に実施することを
可能にする。
【００１４】特に、このユニットは、しばしば自動分析
システムの場合と同様に、測定キュベットにおいて多数
のサンプルおよび検査の測定を共通のローターまたはカ
ルーゼルで実施するシステムに組込むことができる。
システムの場合と同様に、測定キュベットにおいて多数
のサンプルおよび検査の測定を共通のローターまたはカ
ルーゼルで実施するシステムに組込むことができる。
【００１５】本発明により、入射光の軸線外の角度で発
生した、サンプルからの散乱光と、ほぼ０度の角度で透
過した光の両方を測定することができる装置が開発され
た。異なった狭帯域または広帯域光源を使用して測定す
べき材料を励起することができる。これらの光源は、共
通のビーム案内装置上の反応部位まで案内される。光源
のパルス化駆動により、相互妨害または相互干渉を完全
に抑制することができる。
生した、サンプルからの散乱光と、ほぼ０度の角度で透
過した光の両方を測定することができる装置が開発され
た。異なった狭帯域または広帯域光源を使用して測定す
べき材料を励起することができる。これらの光源は、共
通のビーム案内装置上の反応部位まで案内される。光源
のパルス化駆動により、相互妨害または相互干渉を完全
に抑制することができる。
【００１６】同様に、ビーム経路、使用する構成要素
（たとえば、光源、レンズおよびダイアフラムの光学構
成要素）および測定すべき材料の可動収容容器（キュベ
ット）によってもたらされる性能についての確認を実施
することが、ここに記載する方法の目的である。
（たとえば、光源、レンズおよびダイアフラムの光学構
成要素）および測定すべき材料の可動収容容器（キュベ
ット）によってもたらされる性能についての確認を実施
することが、ここに記載する方法の目的である。
【００１７】以下、本発明による方法および装置を、一
つの実施態様を使用する例により詳しく説明する。図１
は、概略的に、光源１、２、測定すべき材料のための容
器１１（キュベット）および検出器１７、２２、２５か
らなる配置を示している。これから明らかなように、入
射光の軸線まわりの立体角が、両方法において利用され
る。散乱光測定のために最も多く使用される配置におい
て、散乱光は９０度の角度で検出される。その結果、散
乱光からの入射光の分離が、特に容易に達成される。一
方、より大きい立体角を選び、入射光の順方向における
角度または角度範囲を利用することで、散乱光のより高
い強度をえることが可能になる。その結果、技術的に簡
単でコスト効果の高い配置を構成することができる。順
方向における角度での散乱光の割合は、特に、人間のイ
ンビトロ診断で使用するための粒子強化免疫検定法を利
用する有機巨大分子についての測定（本明細書の説明に
従って行われる）について正確に高い。
つの実施態様を使用する例により詳しく説明する。図１
は、概略的に、光源１、２、測定すべき材料のための容
器１１（キュベット）および検出器１７、２２、２５か
らなる配置を示している。これから明らかなように、入
射光の軸線まわりの立体角が、両方法において利用され
る。散乱光測定のために最も多く使用される配置におい
て、散乱光は９０度の角度で検出される。その結果、散
乱光からの入射光の分離が、特に容易に達成される。一
方、より大きい立体角を選び、入射光の順方向における
角度または角度範囲を利用することで、散乱光のより高
い強度をえることが可能になる。その結果、技術的に簡
単でコスト効果の高い配置を構成することができる。順
方向における角度での散乱光の割合は、特に、人間のイ
ンビトロ診断で使用するための粒子強化免疫検定法を利
用する有機巨大分子についての測定（本明細書の説明に
従って行われる）について正確に高い。
【００１８】本発明によれば、分析のために使用される
光源１、２は、異なるスペクトルの帯域幅を有する。散
乱光測定のための光源は赤または赤外線スペクトル領
域、好ましくは６５０〜９５０ナノメートルの範囲で狭
帯域発光を行うが、光度測定のための光源は、代表的に
は、３００〜８００ナノメートルのスペクトル領域で光
を発する。これら両光源は、本実施態様においては、パ
ルス化操作で使用される。
光源１、２は、異なるスペクトルの帯域幅を有する。散
乱光測定のための光源は赤または赤外線スペクトル領
域、好ましくは６５０〜９５０ナノメートルの範囲で狭
帯域発光を行うが、光度測定のための光源は、代表的に
は、３００〜８００ナノメートルのスペクトル領域で光
を発する。これら両光源は、本実施態様においては、パ
ルス化操作で使用される。
【００１９】測定キュベットの共通のビーム案内および
励起の目的のために、両光源からの光は、たとえば、光
導波管あるいは光ファイバー束を経て、結合ユニット４
に案内され、そして、適当な光学構成要素を介して取り
出される。２つの帯域幅に特に適用されるダイクロイッ
ク・ビーム・スプリッター５により、両光源を共通のビ
ーム軸線２４上で案内することが可能になる。対応する
レンズ６、９を使用して後の測定のためにビームを平行
化する。入射光の一部は、基準測定２２、２３のため
に、別のビーム・スプリッター８によってマスキングさ
れ得る。
励起の目的のために、両光源からの光は、たとえば、光
導波管あるいは光ファイバー束を経て、結合ユニット４
に案内され、そして、適当な光学構成要素を介して取り
出される。２つの帯域幅に特に適用されるダイクロイッ
ク・ビーム・スプリッター５により、両光源を共通のビ
ーム軸線２４上で案内することが可能になる。対応する
レンズ６、９を使用して後の測定のためにビームを平行
化する。入射光の一部は、基準測定２２、２３のため
に、別のビーム・スプリッター８によってマスキングさ
れ得る。
【００２０】キュベット１１内に置かれた被測定材料１
２上にダイアフラム１０を通して入射する光ビーム２４
は、被測定材料の種類に応じて、散乱または吸収され
る。しかしながら、二つの光源のパルス化励起は、両方
法が互いに独立して実施され得るということを意味す
る。この場合、光源の一方をトリガするのに必要である
情報は、測定に先だって必要な検査定義によって選ばれ
ることができ、測定が実施されつつある間、システムに
知らされる。
２上にダイアフラム１０を通して入射する光ビーム２４
は、被測定材料の種類に応じて、散乱または吸収され
る。しかしながら、二つの光源のパルス化励起は、両方
法が互いに独立して実施され得るということを意味す
る。この場合、光源の一方をトリガするのに必要である
情報は、測定に先だって必要な検査定義によって選ばれ
ることができ、測定が実施されつつある間、システムに
知らされる。
【００２１】軸方向に透過した散乱光２０の物理的な分
離は、ビーム軸線上に配置されたダイアフラム１３によ
って行われる。この場合、ダイアフラムは、一方では散
乱光トラップとして役立ち、他方では軸方向の入射光の
ための偏向ユニットとして役立つように構成されている
と有利である。そのために、ダイアフラムは、環状の有
孔ダイアフラムとして構成される。内径および外径の選
択よって、分析のために最も有利な立体角範囲を選ぶこ
とができる。ダイアフラムを通して散乱光として透過し
た部分は、レンズまたはレンズ系１４によって、検出器
１７の入力部に焦点が合わされる。
離は、ビーム軸線上に配置されたダイアフラム１３によ
って行われる。この場合、ダイアフラムは、一方では散
乱光トラップとして役立ち、他方では軸方向の入射光の
ための偏向ユニットとして役立つように構成されている
と有利である。そのために、ダイアフラムは、環状の有
孔ダイアフラムとして構成される。内径および外径の選
択よって、分析のために最も有利な立体角範囲を選ぶこ
とができる。ダイアフラムを通して散乱光として透過し
た部分は、レンズまたはレンズ系１４によって、検出器
１７の入力部に焦点が合わされる。
【００２２】散乱光測定は、通常、個別の狭帯域波長を
伴うが、光度測定のためには、より広い帯域の光源が使
用される。その結果、光度測定のために使用される信号
がさらに評価されなければならない。この目的のため
に、ほぼ０度でビーム軸線に入射する光は、ダイアフラ
ム１３の助けによって外される。このダイアフラム１３
の中央部分は有孔ダイアフラムとして設計されている。
この有孔ダイアフラムは、０.５〜３mmの直径を有し、
入射ビーム横断面を制限する。この場合、ビームは、プ
リズム１８またはそれ相応に湾曲したファイバー束の別
の適当な光案内装置によって偏向され得る。光は、当業
者にとって公知の光学構成要素によってファイバー束１
９に送られる。ファイバー束は、その後、分光光度計２
５の入口スリットとして役立つ。この場合、ダイオード
線形アレイについての公知の原理が、分光光度計として
使用され、なんら機械的な構成要素を備えず、全スペク
トル帯域幅を短時間で測定することができる。
伴うが、光度測定のためには、より広い帯域の光源が使
用される。その結果、光度測定のために使用される信号
がさらに評価されなければならない。この目的のため
に、ほぼ０度でビーム軸線に入射する光は、ダイアフラ
ム１３の助けによって外される。このダイアフラム１３
の中央部分は有孔ダイアフラムとして設計されている。
この有孔ダイアフラムは、０.５〜３mmの直径を有し、
入射ビーム横断面を制限する。この場合、ビームは、プ
リズム１８またはそれ相応に湾曲したファイバー束の別
の適当な光案内装置によって偏向され得る。光は、当業
者にとって公知の光学構成要素によってファイバー束１
９に送られる。ファイバー束は、その後、分光光度計２
５の入口スリットとして役立つ。この場合、ダイオード
線形アレイについての公知の原理が、分光光度計として
使用され、なんら機械的な構成要素を備えず、全スペク
トル帯域幅を短時間で測定することができる。
【００２３】信号を評価し、スペクトルｉ＝ｆ（λ）が
得られた後、データは、さらなる処理のためにコンピュ
ータ２７に送られる。
得られた後、データは、さらなる処理のためにコンピュ
ータ２７に送られる。
【００２４】本発明によれば、ここに説明した配置は、
処理量を高めるために、多数の測定キュベットを同時に
処理しようとしている分析システムでしばしば使用され
る。この目的のために、図３から明らかなように、たと
えば、キュベット１１は回転可能なカルーゼルまたはロ
ーター上に置かれる。これは、図２によれば、同様にパ
ルス化操作の好ましい使用モードを明示している。すな
わち、時間間隔Δ１内に測定光学素子にアクセスできる
領域３２、３４にキュベット１１が置かれている場合、
利用できる光源１、２のうちの一方からのパルス（Δ
２）がトリガされ、３３および結合ユニット３２を経て
キュベット１３に適用される。これから得られた信号
は、時間間隔Δ４内で検出される。検査およびそれに付
随する評価方法のタイプに応じて、光の透過部分、散乱
部分は、それぞれ、センサー１７および２２によって検
出される。したがって、この駆動タイプにより、異なっ
た光源によって被測定材料が完全に個別に励起され、散
乱光または透過光の相互の影響は皆無である。図２に示
す付加的な時間間隔Δ３は、暗値（dark value）の調整
のためにセンサー１７および２２による基準信号の検出
を可能にするのに役立つ。
処理量を高めるために、多数の測定キュベットを同時に
処理しようとしている分析システムでしばしば使用され
る。この目的のために、図３から明らかなように、たと
えば、キュベット１１は回転可能なカルーゼルまたはロ
ーター上に置かれる。これは、図２によれば、同様にパ
ルス化操作の好ましい使用モードを明示している。すな
わち、時間間隔Δ１内に測定光学素子にアクセスできる
領域３２、３４にキュベット１１が置かれている場合、
利用できる光源１、２のうちの一方からのパルス（Δ
２）がトリガされ、３３および結合ユニット３２を経て
キュベット１３に適用される。これから得られた信号
は、時間間隔Δ４内で検出される。検査およびそれに付
随する評価方法のタイプに応じて、光の透過部分、散乱
部分は、それぞれ、センサー１７および２２によって検
出される。したがって、この駆動タイプにより、異なっ
た光源によって被測定材料が完全に個別に励起され、散
乱光または透過光の相互の影響は皆無である。図２に示
す付加的な時間間隔Δ３は、暗値（dark value）の調整
のためにセンサー１７および２２による基準信号の検出
を可能にするのに役立つ。
【００２５】キュベットを備えたカルーセル３１を周期
的に回転させることよって、その次のキュベットを測定
することが可能となる。これらの二つの主要な方法に加
えて、これら二つの方法を相互に補足する多くの可能性
を開くことができる。
的に回転させることよって、その次のキュベットを測定
することが可能となる。これらの二つの主要な方法に加
えて、これら二つの方法を相互に補足する多くの可能性
を開くことができる。
【００２６】１．分光光度計２５による光源の較正：波
長または吸収の検定のために、ビーム経路内へのスタン
ダード７の瞬間的な導入を使用し得る。 ２．測定ユニットの領域に置いたキュベットの位置決め
を検査すること：ローター上に置いたキュベットの周期
的運動は、部位依存キュベット・プロファイルの記録お
よびそれのさらなる位置決定を可能にする。 ３．蛍光／化学ルミネッセンス・モード：キュベット１
１上に置かれた被測定材料１２は、さらなるフィルター
７の利用が適切であるならば、光源１、２のうちの一方
の光源によって選択的に励起され得る。こうして生じた
蛍光は、さらなるブロッキング・フィルター１５の使用
による或る種の情況下に、検出器１７によって検出され
得る。
長または吸収の検定のために、ビーム経路内へのスタン
ダード７の瞬間的な導入を使用し得る。 ２．測定ユニットの領域に置いたキュベットの位置決め
を検査すること：ローター上に置いたキュベットの周期
的運動は、部位依存キュベット・プロファイルの記録お
よびそれのさらなる位置決定を可能にする。 ３．蛍光／化学ルミネッセンス・モード：キュベット１
１上に置かれた被測定材料１２は、さらなるフィルター
７の利用が適切であるならば、光源１、２のうちの一方
の光源によって選択的に励起され得る。こうして生じた
蛍光は、さらなるブロッキング・フィルター１５の使用
による或る種の情況下に、検出器１７によって検出され
得る。
【図１】本明細書で詳述した分析ユニットの一実施態様
の概略図を示す。
の概略図を示す。
【図２】異なった光源の駆動および測定値の記録につい
てのタイミング線図を示す。
てのタイミング線図を示す。
【図３】円形に配置した多数の測定キュベットを収容す
る回転可能なローター内での測定ユニットの使用を示
す。
る回転可能なローター内での測定ユニットの使用を示
す。
１ 光源１ ２ 光源２ ３ 光案内装置（ファイバー束） ４ 結合ユニット ５ ビーム・スプリッター（ダイクロイック） ６ レンズ系／レンズ１ ７ フィルター ８ ビーム・スプリッター ９ レンズ系／レンズ２ １０ ダイアフラム １１ キュベット／反応部位 １２ 被測定材料 １３ ダイアフラム １４ レンズ系／レンズ １５ ブロッキング・フィルター １６ ダイアフラム １７ センサー／検出器 １８ ビーム偏向装置（たとえば、プリズム） １９ ファイバー束／光導波路 ２０ キュベットから出る光 ２１ 散乱光 ２２ 基準測定用センサー ２３ Ａ／Ｄコンバーター ２４ 共通ビーム軸線 ２５ 分光光度計 ２６ Ａ／Ｄコンバーター ２７ コンピュータ ２８ スクリーン ２９ キーボード ３０ キュベット／反応部位 ３１ キュベット収容用カルーゼル／ローター ３２ 光導波路接続装置を備える照明ユニット ３３ ビーム案内装置 ３４ 検出ユニット
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０１Ｎ 21/27 Ｇ０１Ｎ 21/27 Ｂ 21/35 21/35 Ｚ 21/64 21/64 Ｚ 33/483 33/483 Ｃ // Ｇ０１Ｎ 35/04 35/04 Ａ
Claims (25)
- 【請求項１】 ａ）一つまたはそれ以上の、好ましくは
二つの、同じスペクトル領域あるいは異なった、好まし
くは異なったスペクトル領域を有する光源と、ｂ）所望
の測定部位へ光を振り分け、案内する一つまたはそれ以
上のビーム案内装置と、ｃ）所望スペクトル領域の目標
とする分離または組み合わせを行い、また、ビームの整
形をおこなう一つまたはそれ以上のフィルターと、ｄ）
ビーム直径を制限しかつビームを整形する一つまたはそ
れ以上のダイアフラムと、ｅ）測定しようとしている材
料が発生する信号および基準信号を検出する適当なセン
サーとを包含する、光学測定を実施するための装置。 - 【請求項２】 ＵＶ−Ｖｉｓスペクトル領域、好ましく
は３２０〜７５０ナノメートルのスペクトル範囲で光を
発する一つの光源を包含することを特徴とする請求項１
に記載の装置。 - 【請求項３】 キセノン・パルス化光源である一つの光
源を有することを特徴とする請求項１に記載の装置。 - 【請求項４】 赤または赤外線（ＮＩＲ）のスペクトル
領域、好ましくは６００〜９００ナノメートルで光を発
する一つの光源を有することを特徴とする請求項１に記
載の装置。 - 【請求項５】 レーザー・ダイオードまたは発光ダイオ
ード（ＬＥＤ）である一つの光源を有することを特徴と
する請求項１に記載の装置。 - 【請求項６】 ＩＲ−ＬＥＤが、８００〜９５０ナノメ
ートルの範囲で光を発することを特徴とする請求項５に
記載の装置。 - 【請求項７】 光源が、パルス化操作で使用されること
を特徴とする請求項１〜６に記載の装置。 - 【請求項８】 固定接続軸線上の個別の構成要素から構
成されるビーム案内装置を備えることを特徴とする請求
項１に記載の装置。 - 【請求項９】 可撓性の光ファイバーを包含するビーム
案内装置を備えることを特徴とする請求項１に記載の装
置。 - 【請求項１０】 光源の波長または吸収に関して使用さ
れる光源の較正のために使用されるフィルターを収容す
る挿入体を備えることを特徴とする請求項１に記載の装
置。 - 【請求項１１】 利用できるビーム範囲を制限するダイ
アフラムを備えることを特徴とする請求項１に記載の装
置。 - 【請求項１２】 定めた割合の有効な光を基準として検
出する部分透明なミラーを包含することを特徴とする請
求項１に記載の装置。 - 【請求項１３】 入射軸線のまわりの、小さい角度で入
射する光をマスキングで取り除くダイアフラムを備える
ことを特徴とする請求項１に記載の装置。 - 【請求項１４】 ダイアフラムを、一方では、順方向に
おいて小さい角度で入射する散乱光をマスキングして除
くと共に、他方では、さらなる測定のための、ほぼ０度
の小さい角度で入射する光を透過させるために使用する
ことを特徴とする請求項１または１３に記載の装置。 - 【請求項１５】 光を、順方向において５度未満の角度
で検出することを特徴とする請求項１、１３または１４
に記載の装置。 - 【請求項１６】 入射光が、ビーム偏向配置の助けによ
ってビーム経路から外へ案内されるようになっているこ
とを特徴とする請求項１、１４または１５記載の装置。 - 【請求項１７】 ビーム偏向配置が、対応する接続構成
要素を有する剛性の光学要素または光導波管を包含する
ことを特徴とする請求項１６に記載の装置。 - 【請求項１８】 検出光が、分光測光器ユニットの入口
スリットに振り分けられることを特徴とする請求項１お
よび１５〜１７のいずれか一項に記載の装置。 - 【請求項１９】 ダイアフラムを通過する散乱光が、レ
ンズ系によって検出器の入力部に像形成されることを特
徴とする請求項１、１３または１４に記載の装置。 - 【請求項２０】 望ましくない波長範囲の光を分離、抑
制するフィルターを備えることを特徴とする請求項１、
１３、１４または１９に記載の装置。 - 【請求項２１】 使用される光源をパルス化駆動するオ
プトエレクトロニクス構成要素を備えることを特徴とす
る請求項１に記載の装置。 - 【請求項２２】 さらなる測定処理のための信号の増幅
および変換を行う電子構成要素を備えることを特徴とす
る請求項１に記載の装置。 - 【請求項２３】 構成要素に共通する制御および信号の
評価、表示を行うプロセッサ・ユニットを包含すること
を特徴とする請求項１に記載の装置。 - 【請求項２４】 共通のビーム案内装置上へキュベット
で測定されるべき材料の励起を行うための、異なったス
ペクトル帯域幅の光源から入手可能な波長を結合するダ
イクロイック・フィルターを包含することを特徴とする
請求項１に記載の装置。 - 【請求項２５】 請求項１または２に記載の装置を、イ
ンビトロ診断において分光光度分析器および／または比
濁分析器で使用することを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19948587A DE19948587A1 (de) | 1999-10-08 | 1999-10-08 | Spektralphotometrische und nephelometrische Detektionseinheit |
| DE19948587:9 | 1999-10-08 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001141654A true JP2001141654A (ja) | 2001-05-25 |
| JP4791625B2 JP4791625B2 (ja) | 2011-10-12 |
Family
ID=7925001
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000307117A Expired - Fee Related JP4791625B2 (ja) | 1999-10-08 | 2000-10-06 | 分光光度・比濁検出ユニット |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6791676B1 (ja) |
| EP (1) | EP1091205B1 (ja) |
| JP (1) | JP4791625B2 (ja) |
| AT (1) | ATE498836T1 (ja) |
| CA (1) | CA2322895C (ja) |
| DE (2) | DE19948587A1 (ja) |
| ES (1) | ES2359968T3 (ja) |
Cited By (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005134389A (ja) * | 2003-10-23 | 2005-05-26 | Ortho-Clinical Diagnostics Inc | 小角光散乱法に基づいた患者サンプルの分類 |
| JP2007519926A (ja) * | 2004-01-30 | 2007-07-19 | ナルコ カンパニー | 互換性チップ−オープンセル蛍光光度計 |
| WO2011004781A1 (ja) | 2009-07-10 | 2011-01-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| WO2011105464A1 (ja) | 2010-02-25 | 2011-09-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| WO2011162139A1 (ja) | 2010-06-23 | 2011-12-29 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置および自動分析方法 |
| JP2012098282A (ja) * | 2010-10-29 | 2012-05-24 | F Hoffmann-La Roche Ag | 散乱および吸光分析を行うシステム |
| WO2012077536A1 (ja) | 2010-12-08 | 2012-06-14 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| WO2012157206A1 (ja) | 2011-05-13 | 2012-11-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| WO2013042524A1 (ja) | 2011-09-20 | 2013-03-28 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び分析方法 |
| WO2013125386A1 (ja) * | 2012-02-24 | 2013-08-29 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| WO2014013823A1 (ja) | 2012-07-20 | 2014-01-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び自動分析方法 |
| WO2014017277A1 (ja) | 2012-07-24 | 2014-01-30 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| WO2014163037A1 (ja) | 2013-04-02 | 2014-10-09 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分析装置及び自動分析装置 |
| WO2014192963A1 (ja) | 2013-05-31 | 2014-12-04 | 積水メディカル株式会社 | 免疫凝集測定法 |
| JP2015021952A (ja) * | 2013-07-23 | 2015-02-02 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置および分析方法 |
| JP2016061790A (ja) * | 2014-09-18 | 2016-04-25 | シーメンス ヘルスケア ダイアグノスティクス プロダクツ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 検体の比濁分析決定（ｎｅｐｈｅｌｏｍｅｔｒｉｃｄｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎ）を行う方法 |
| JP2016173265A (ja) * | 2015-03-16 | 2016-09-29 | 国立大学法人九州大学 | 光測定装置及び光測定方法 |
| US10168345B2 (en) | 2012-06-25 | 2019-01-01 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analysis apparatus and sample measuring method |
Families Citing this family (18)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7034942B2 (en) * | 2002-01-07 | 2006-04-25 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Color measurement device and color measurement method |
| ES2234441B1 (es) * | 2004-11-18 | 2006-02-16 | Grifols, S.A. | Aparato para la medicion de la absorbancia optica de muestras de liquidos, procedimiento y cubeta para su realizacion. |
| DE102005022880B4 (de) * | 2005-05-18 | 2010-12-30 | Olympus Soft Imaging Solutions Gmbh | Trennung spektral oder farblich überlagerter Bildbeiträge in einem Mehrfarbbild, insbesondere in transmissionsmikroskopischen Mehrfarbbildern |
| FR2907551A1 (fr) * | 2006-10-23 | 2008-04-25 | Bernard Pierre Andre Genot | Systeme d'analyse optique multifonctions |
| JP5546454B2 (ja) * | 2007-08-15 | 2014-07-09 | マルベルン インスツルメンツ リミテッド | 広幅分光計 |
| DE202007016343U1 (de) * | 2007-11-19 | 2008-04-30 | Levin, Felix, Dr. | Vorrichtungssystem zur schnellen Bestimmung von Substanzen in Flüssigkeiten mit Hilfe eines Rechner-gekoppelten Videosystems |
| CN104251911B (zh) | 2008-02-05 | 2017-05-31 | 普凯尔德诊断技术有限公司 | 用于鉴定生物样品中细菌的系统 |
| DE102008061695A1 (de) | 2008-12-10 | 2010-06-17 | Laser- und Medizin-Technologie, Berlin GmbH | Anordnung zur Bestimmung optischer Eigenschaften bei mehreren Wellenlängen |
| US10288632B2 (en) * | 2009-09-21 | 2019-05-14 | Pocared Diagnostics Ltd. | System for conducting the identification of bacteria in biological samples |
| TWI442031B (zh) * | 2011-06-17 | 2014-06-21 | Chroma Ate Inc | 光學量測系統及其裝置 |
| US9151672B2 (en) | 2013-11-21 | 2015-10-06 | Agilent Technologies, Inc. | Optical absorption spectrometry system including dichroic beam combiner and splitter |
| CN103822876B (zh) * | 2014-02-25 | 2017-01-04 | 深圳市清时捷科技有限公司 | 一种浊度测定仪及快速测定浊度的方法 |
| EP2957892A1 (de) * | 2014-06-17 | 2015-12-23 | Siemens Healthcare Diagnostics Products GmbH | Photometriesystem und Verfahren zur Positionsbestimmung |
| EP2957897A1 (de) * | 2014-06-17 | 2015-12-23 | Siemens Healthcare Diagnostics Products GmbH | Streulichtmesssystem mit Karussell für zylindrische oder eckige Probenhalter und einer Strahlblende für ungestreutes Licht, welche derart vergrössert ist, dass das vom Probenhalter gebrochene, ungestreute Licht aufgefangen wird |
| US10180248B2 (en) | 2015-09-02 | 2019-01-15 | ProPhotonix Limited | LED lamp with sensing capabilities |
| EP3336495B1 (en) * | 2016-12-16 | 2024-02-14 | F. Hoffmann-La Roche AG | Characterizing the emission properties of samples |
| CN111077073A (zh) * | 2018-10-19 | 2020-04-28 | 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 | 一种样本分析仪 |
| JP7181828B2 (ja) * | 2019-03-29 | 2022-12-01 | 古野電気株式会社 | 分析装置 |
Citations (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4053229A (en) * | 1976-01-13 | 1977-10-11 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | 2°/90° Laboratory scattering photometer |
| JPS5667756A (en) * | 1979-10-29 | 1981-06-08 | Ortho Diagnostics | Automated measuring method of cell volume |
| US4325910A (en) * | 1979-07-11 | 1982-04-20 | Technicraft, Inc. | Automated multiple-purpose chemical-analysis apparatus |
| US4408880A (en) * | 1981-09-22 | 1983-10-11 | Chugai Seiyaku Kabushiki Kaisha | Laser nephelometric system |
| US4730922A (en) * | 1985-05-08 | 1988-03-15 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Absorbance, turbidimetric, fluorescence and nephelometric photometer |
| JPH041558A (ja) * | 1990-02-23 | 1992-01-07 | Norihito Tanpo | 液体中に含まれる複数成分の凝集過程を検出する方法とその装置 |
| US5400137A (en) * | 1993-08-11 | 1995-03-21 | Texaco Inc. | Photometric means for monitoring solids and fluorescent material in waste water using a stabilized pool water sampler |
| JPH07294429A (ja) * | 1994-04-27 | 1995-11-10 | Aretsuku Denshi Kk | 濁度計及び濁色度計 |
| JPH08512217A (ja) * | 1993-03-31 | 1996-12-24 | ネルコー・ピューリタン・ベネット・インコーポレイテッド | パルス酸素計用電子プロセッサ |
| JPH0979975A (ja) * | 1995-09-12 | 1997-03-28 | Nakabootec:Kk | 防食皮膜の管理方法 |
| WO1998000701A1 (en) * | 1996-07-03 | 1998-01-08 | Beckman Coulter, Inc. | Nephelometer and turbidimeter combination |
| JPH11128176A (ja) * | 1997-10-29 | 1999-05-18 | Hitachi Ltd | 生体光計測装置 |
| JP2000131233A (ja) * | 1998-10-28 | 2000-05-12 | Dade Behring Marburg Gmbh | 光学式インプロセス制御による比濁分析検出ユニット |
| JP2000230901A (ja) * | 1999-02-09 | 2000-08-22 | Mitsubishi Chemicals Corp | 光学ユニット |
Family Cites Families (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3832062A (en) * | 1972-03-29 | 1974-08-27 | Den Bosch F Van | Spectrophotometrical apparatus for determining dosing substances in a liquid |
| DE2409273A1 (de) | 1974-02-27 | 1975-09-04 | Behringwerke Ag | Verfahren und vorrichtung zum messen von antigen-antikoerper-reaktionen |
| US4692883A (en) * | 1985-02-21 | 1987-09-08 | The Perkin-Elmer Corporation | Automatic digital wavelength calibration system for a spectrophotometer |
| FR2583164B1 (fr) * | 1985-06-06 | 1988-10-14 | Trapil Transports Petroliers P | Procede et dispositif pour determiner la couleur et la turbidite d'un fluide |
| GB8526355D0 (en) * | 1985-10-25 | 1985-11-27 | Alta Diagnostic Machines Ltd | Determination of antibody content of blood |
| US5104218A (en) * | 1989-11-09 | 1992-04-14 | General Atomics | Micropipette adaptor for spectrofluorimeters |
| US5646049A (en) * | 1992-03-27 | 1997-07-08 | Abbott Laboratories | Scheduling operation of an automated analytical system |
| US5959738A (en) * | 1994-07-25 | 1999-09-28 | Molecular Devices Corporation | Determination of light absorption pathlength in a vertical-beam photometer |
| US6104945A (en) * | 1995-08-01 | 2000-08-15 | Medispectra, Inc. | Spectral volume microprobe arrays |
| FI103434B (fi) * | 1996-04-22 | 1999-06-30 | Wallac Oy | Monileimamittauslaite |
| US6175750B1 (en) * | 1999-03-19 | 2001-01-16 | Cytometrics, Inc. | System and method for calibrating a reflection imaging spectrophotometer |
| FR2792725B1 (fr) * | 1999-04-23 | 2001-12-07 | Junior Instruments | Procede et dispositif pour la detection de variations de proprietes optiques d'un echantillon liquide dans un processus d'analyse |
-
1999
- 1999-10-08 DE DE19948587A patent/DE19948587A1/de not_active Ceased
-
2000
- 2000-09-12 EP EP00119806A patent/EP1091205B1/de not_active Expired - Lifetime
- 2000-09-12 ES ES00119806T patent/ES2359968T3/es not_active Expired - Lifetime
- 2000-09-12 DE DE50016070T patent/DE50016070D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2000-09-12 AT AT00119806T patent/ATE498836T1/de active
- 2000-10-06 US US09/680,436 patent/US6791676B1/en not_active Expired - Fee Related
- 2000-10-06 JP JP2000307117A patent/JP4791625B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2000-10-10 CA CA2322895A patent/CA2322895C/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4053229A (en) * | 1976-01-13 | 1977-10-11 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | 2°/90° Laboratory scattering photometer |
| US4325910A (en) * | 1979-07-11 | 1982-04-20 | Technicraft, Inc. | Automated multiple-purpose chemical-analysis apparatus |
| JPS5667756A (en) * | 1979-10-29 | 1981-06-08 | Ortho Diagnostics | Automated measuring method of cell volume |
| US4408880A (en) * | 1981-09-22 | 1983-10-11 | Chugai Seiyaku Kabushiki Kaisha | Laser nephelometric system |
| US4730922A (en) * | 1985-05-08 | 1988-03-15 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Absorbance, turbidimetric, fluorescence and nephelometric photometer |
| JPH041558A (ja) * | 1990-02-23 | 1992-01-07 | Norihito Tanpo | 液体中に含まれる複数成分の凝集過程を検出する方法とその装置 |
| JPH08512217A (ja) * | 1993-03-31 | 1996-12-24 | ネルコー・ピューリタン・ベネット・インコーポレイテッド | パルス酸素計用電子プロセッサ |
| US5400137A (en) * | 1993-08-11 | 1995-03-21 | Texaco Inc. | Photometric means for monitoring solids and fluorescent material in waste water using a stabilized pool water sampler |
| JPH07294429A (ja) * | 1994-04-27 | 1995-11-10 | Aretsuku Denshi Kk | 濁度計及び濁色度計 |
| JPH0979975A (ja) * | 1995-09-12 | 1997-03-28 | Nakabootec:Kk | 防食皮膜の管理方法 |
| WO1998000701A1 (en) * | 1996-07-03 | 1998-01-08 | Beckman Coulter, Inc. | Nephelometer and turbidimeter combination |
| JP2000513450A (ja) * | 1996-07-03 | 2000-10-10 | ベックマン コールター インコーポレイテッド | 比濁計及び濁度計の組合せ装置 |
| JPH11128176A (ja) * | 1997-10-29 | 1999-05-18 | Hitachi Ltd | 生体光計測装置 |
| JP2000131233A (ja) * | 1998-10-28 | 2000-05-12 | Dade Behring Marburg Gmbh | 光学式インプロセス制御による比濁分析検出ユニット |
| JP2000230901A (ja) * | 1999-02-09 | 2000-08-22 | Mitsubishi Chemicals Corp | 光学ユニット |
Cited By (36)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005134389A (ja) * | 2003-10-23 | 2005-05-26 | Ortho-Clinical Diagnostics Inc | 小角光散乱法に基づいた患者サンプルの分類 |
| JP2007519926A (ja) * | 2004-01-30 | 2007-07-19 | ナルコ カンパニー | 互換性チップ−オープンセル蛍光光度計 |
| US10113962B2 (en) | 2009-07-10 | 2018-10-30 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analyzer |
| WO2011004781A1 (ja) | 2009-07-10 | 2011-01-13 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| US9023282B2 (en) | 2009-07-10 | 2015-05-05 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analyzer |
| US8852511B2 (en) | 2009-07-10 | 2014-10-07 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analyzer |
| JP2013213831A (ja) * | 2009-07-10 | 2013-10-17 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| WO2011105464A1 (ja) | 2010-02-25 | 2011-09-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| US8858882B2 (en) | 2010-02-25 | 2014-10-14 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analysis device |
| WO2011162139A1 (ja) | 2010-06-23 | 2011-12-29 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置および自動分析方法 |
| JP2012098282A (ja) * | 2010-10-29 | 2012-05-24 | F Hoffmann-La Roche Ag | 散乱および吸光分析を行うシステム |
| WO2012077536A1 (ja) | 2010-12-08 | 2012-06-14 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| JP5661124B2 (ja) * | 2010-12-08 | 2015-01-28 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| CN103547912A (zh) * | 2011-05-13 | 2014-01-29 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
| US9645160B2 (en) | 2011-05-13 | 2017-05-09 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analysis device |
| WO2012157206A1 (ja) | 2011-05-13 | 2012-11-22 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| CN103547912B (zh) * | 2011-05-13 | 2015-11-25 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置 |
| WO2013042524A1 (ja) | 2011-09-20 | 2013-03-28 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び分析方法 |
| US9664678B2 (en) | 2011-09-20 | 2017-05-30 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automated analyzer and analyzing method |
| CN103765198A (zh) * | 2011-09-20 | 2014-04-30 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置及分析方法 |
| CN103765198B (zh) * | 2011-09-20 | 2016-07-06 | 株式会社日立高新技术 | 自动分析装置及分析方法 |
| WO2013125386A1 (ja) * | 2012-02-24 | 2013-08-29 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| JP2013174506A (ja) * | 2012-02-24 | 2013-09-05 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| US9400247B2 (en) | 2012-02-24 | 2016-07-26 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analyzer |
| US10168345B2 (en) | 2012-06-25 | 2019-01-01 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analysis apparatus and sample measuring method |
| US9557264B2 (en) | 2012-07-20 | 2017-01-31 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analysis device, and automatic analysis method |
| WO2014013823A1 (ja) | 2012-07-20 | 2014-01-23 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置及び自動分析方法 |
| WO2014017277A1 (ja) | 2012-07-24 | 2014-01-30 | 株式会社 日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| US9638640B2 (en) | 2012-07-24 | 2017-05-02 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analyzer |
| WO2014163037A1 (ja) | 2013-04-02 | 2014-10-09 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 分析装置及び自動分析装置 |
| US9459271B2 (en) | 2013-04-02 | 2016-10-04 | Hitachi High-Technologies Corporation | Analyzer and automatic analyzer |
| EP3418724A1 (en) | 2013-05-31 | 2018-12-26 | Sekisui Medical Co., Ltd. | Method of agglutination immunoassay |
| WO2014192963A1 (ja) | 2013-05-31 | 2014-12-04 | 積水メディカル株式会社 | 免疫凝集測定法 |
| JP2015021952A (ja) * | 2013-07-23 | 2015-02-02 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置および分析方法 |
| JP2016061790A (ja) * | 2014-09-18 | 2016-04-25 | シーメンス ヘルスケア ダイアグノスティクス プロダクツ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング | 検体の比濁分析決定（ｎｅｐｈｅｌｏｍｅｔｒｉｃｄｅｔｅｒｍｉｎａｔｉｏｎ）を行う方法 |
| JP2016173265A (ja) * | 2015-03-16 | 2016-09-29 | 国立大学法人九州大学 | 光測定装置及び光測定方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| ES2359968T3 (es) | 2011-05-30 |
| EP1091205B1 (de) | 2011-02-16 |
| CA2322895A1 (en) | 2001-04-08 |
| EP1091205A2 (de) | 2001-04-11 |
| JP4791625B2 (ja) | 2011-10-12 |
| CA2322895C (en) | 2011-04-05 |
| ATE498836T1 (de) | 2011-03-15 |
| EP1091205A3 (de) | 2001-09-26 |
| DE50016070D1 (de) | 2011-03-31 |
| DE19948587A1 (de) | 2001-04-12 |
| US6791676B1 (en) | 2004-09-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP4791625B2 (ja) | 分光光度・比濁検出ユニット | |
| US4945250A (en) | Optical read head for immunoassay instrument | |
| US7274455B2 (en) | Optical detection apparatus for multi-channel multi-color measurement and multi-channel sample analyzer employing the same | |
| JP3524419B2 (ja) | 吸光度測定装置 | |
| RU2593623C2 (ru) | Устройство для фотометрического или спектрометрического исследования жидкой пробы | |
| JP2011002415A (ja) | 蛍光相関分光装置 | |
| KR20180036779A (ko) | 온라인 프로세스 모니터링 | |
| EP0438550B1 (en) | Optical read system | |
| US9285311B2 (en) | System for performing scattering and absorbance assays | |
| JP2005147826A (ja) | 蛍光測定装置 | |
| JP7641224B2 (ja) | 試料の分析方法、分析装置およびコンピュータプログラム | |
| JP7565431B2 (ja) | 吸収分光分析器および使用方法 | |
| US5120979A (en) | Apparatus and method for analysis of a sample medium in a gap between a tube and a float | |
| CN112004604A (zh) | 用于获得流体介质的测量信号的光学测量单元和光学测量方法 | |
| CN119023644B (zh) | 基于拉曼光谱技术通过dmd和微流控的单细菌检测方法 | |
| JP2004527767A (ja) | 濃縮媒質に含まれる化学種の光学検出方法 | |
| CN218382403U (zh) | 一种pcr光学检测组件 | |
| JPH02227637A (ja) | 蛍光光度計 | |
| CN115290559A (zh) | 全波长pcr光路及检测系统 | |
| CN114384059A (zh) | 一种气体检测装置和方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070911 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20081211 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090331 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20090630 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20090630 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20090630 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090707 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090909 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100406 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20100701 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20100706 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100915 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110118 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110518 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110523 |
|
| A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20110526 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110628 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110722 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140729 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |