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JP2001056204A - Capacitive fingerprint sensor - Google Patents

Capacitive fingerprint sensor

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Publication number
JP2001056204A
JP2001056204A JP11232879A JP23287999A JP2001056204A JP 2001056204 A JP2001056204 A JP 2001056204A JP 11232879 A JP11232879 A JP 11232879A JP 23287999 A JP23287999 A JP 23287999A JP 2001056204 A JP2001056204 A JP 2001056204A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capacitance
fingerprint sensor
detection
wire
capacitance type
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Abandoned
Application number
JP11232879A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideki Ito
英樹 伊東
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP11232879A priority Critical patent/JP2001056204A/en
Publication of JP2001056204A publication Critical patent/JP2001056204A/en
Abandoned legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V40/00Recognition of biometric, human-related or animal-related patterns in image or video data
    • G06V40/10Human or animal bodies, e.g. vehicle occupants or pedestrians; Body parts, e.g. hands
    • G06V40/12Fingerprints or palmprints
    • G06V40/13Sensors therefor
    • G06V40/1329Protecting the fingerprint sensor against damage caused by the finger
    • H10W74/10
    • H10W90/756

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  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Measurement Of The Respiration, Hearing Ability, Form, And Blood Characteristics Of Living Organisms (AREA)
  • Image Input (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】静電容量式指紋センサを構成する静電容量検出
用セルの、たとえば、指等からの放電による静電破壊を
抑制可能な静電容量式指紋センサおよびその製造方法を
提供する。 【解決手段】指紋との間の距離に応じて変化する静電容
量を電気的に検出する複数の静電容量検出用セルを有
し、各静電検出用セル3の検出結果に基づいて指紋を認
識する静電容量式指紋センサ1であって、指紋に対して
基準電位を与える導電性の線材としてのワイヤ11が静
電容量検出用セル3が設けられた検出面2aを横切って
架張されている。
(57) Abstract: A capacitance type fingerprint sensor capable of suppressing electrostatic breakdown due to discharge from a finger or the like of a capacitance detection cell constituting a capacitance type fingerprint sensor, and its manufacture. Provide a way. The system includes a plurality of capacitance detection cells for electrically detecting capacitance that changes according to a distance from a fingerprint, and detects a fingerprint based on a detection result of each of the capacitance detection cells. In the capacitance type fingerprint sensor 1 for recognizing a fingerprint, a wire 11 as a conductive wire material for giving a reference potential to a fingerprint is stretched across a detection surface 2a provided with a capacitance detection cell 3. Have been.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、指紋を特定するた
めの静電容量式指紋センサおよびその製造方法に関す
る。
[0001] 1. Field of the Invention [0002] The present invention relates to a capacitance type fingerprint sensor for specifying a fingerprint and a method of manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】たとえば、入退室管理等に用いられてい
た指紋照合システムは、コンピュータネットワーク上の
セキュリティシステム、携帯端末、ICカード等の本人
認証ツールとしても応用されはじめている。上記の指紋
照合システムでは、指紋を認識するための指紋センサと
して、静電容量式指紋センサが開発されている。静電容
量式指紋センサは、指に基準電位を与えてこの基準電位
と指紋センサ内の電極との間に形成される静電容量を電
気的に検出する。指紋の凹凸に応じて、基準電位と電極
との距離が変化し、静電容量が変化する。この指紋の凹
凸に対応した静電容量の変化を電気的に取り出すことに
より、指紋の紋様を特定する。
2. Description of the Related Art For example, a fingerprint collation system used for entry / exit management has begun to be applied as a personal authentication tool for a security system on a computer network, a portable terminal, an IC card, and the like. In the above fingerprint collation system, a capacitance type fingerprint sensor has been developed as a fingerprint sensor for recognizing a fingerprint. The capacitance type fingerprint sensor gives a reference potential to a finger and electrically detects a capacitance formed between the reference potential and an electrode in the fingerprint sensor. The distance between the reference potential and the electrode changes according to the unevenness of the fingerprint, and the capacitance changes. A change in capacitance corresponding to the unevenness of the fingerprint is electrically extracted to specify a fingerprint pattern.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ここで、図10は上記
の静電容量式指紋センサの構造の一例を示す平面図であ
り、図11は上記の静電容量式指紋センサの構造の一例
を示す断面図である。図10に示すように、静電容量式
指紋センサ101は、マトリクス状に配置された複数の
静電容量検出用電極102を有しており、各静電容量検
出用電極102について静電容量検出セルが構成されて
いる。また、静電容量検出用電極102上には、図11
に示すように、絶縁性の保護膜103が被覆されてい
る。上記構造の静電容量式指紋センサ101では、指紋
を認識するのに指を基準電位とするため、たとえば、図
12に示すように、静電容量式指紋センサ101の検出
面101aの近傍に基準電位電極105を配設して指F
に基準電位を付与している。しかしながら、人体は静電
気を帯びやすく、指Fに基準電位電極105によって基
準電位を付与する前に、指Fと静電容量式指紋センサ1
01との間で放電が発生することがあり、これによっ
て、静電容量式指紋センサ101の静電容量検出セルの
保護膜103等が絶縁破壊されることがあった。
Here, FIG. 10 is a plan view showing an example of the structure of the above-mentioned capacitance type fingerprint sensor, and FIG. 11 shows an example of the structure of the above-mentioned capacitance type fingerprint sensor. FIG. As shown in FIG. 10, the capacitance type fingerprint sensor 101 has a plurality of capacitance detection electrodes 102 arranged in a matrix. A cell is configured. In addition, on the capacitance detecting electrode 102, FIG.
As shown in FIG. 7, an insulating protective film 103 is covered. In the capacitance-type fingerprint sensor 101 having the above structure, since the finger is used as a reference potential for recognizing a fingerprint, for example, as shown in FIG. The potential electrode 105 is provided and the finger F
Is given a reference potential. However, the human body is easily charged with static electricity, and before the finger F is applied with the reference potential by the reference potential electrode 105, the finger F and the capacitance type fingerprint sensor 1
In some cases, a discharge occurs between the protection film 103 and the protection film 103 of the capacitance detection cell of the capacitance type fingerprint sensor 101.

【0004】本発明は、上述した問題に鑑みてなされた
ものであって、静電容量式指紋センサを構成する静電容
量検出用セルの、たとえば、指等からの放電による静電
破壊を抑制可能な静電容量式指紋センサを提供すること
を目的とする。
The present invention has been made in view of the above-described problem, and suppresses electrostatic breakdown of a capacitance detection cell constituting a capacitance type fingerprint sensor due to, for example, discharge from a finger or the like. It is an object to provide a possible capacitive fingerprint sensor.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は、指紋との間の
距離に応じて変化する静電容量を電気的に検出する複数
の静電容量検出用セルを有し、前記各静電検出用セルの
検出結果に基づいて前記指紋を認識する静電容量式指紋
センサであって、前記指紋に対して基準電位を与える導
電性の線材が前記複数の静電容量検出用セルが設けられ
た検出面を横切って架張されている。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has a plurality of capacitance detecting cells for electrically detecting a capacitance which varies according to a distance from a fingerprint. A capacitive wire sensor for recognizing the fingerprint based on the detection result of the cell for use, wherein the conductive wire for providing a reference potential to the fingerprint is provided with the plurality of cells for capacitance detection. It is stretched across the detection surface.

【0006】前記線材は、前記検出面に接触している。The wire is in contact with the detection surface.

【0007】前記線材は、前記検出面から離隔してい
る。
The wire is separated from the detection surface.

【0008】前記複数の静電容量検出用セルが形成され
た半導体チップと、前記半導体チップを保持する導電性
を有する保持部材と、前記半導体チップの検出面を露出
させた状態で前記半導体チップと保持部材とを被覆しか
つ固定するパッケージ部材と、を有し、前記線材の両端
部は、前記パッケージ部材によって前記半導体チップに
対して固定されている。
A semiconductor chip having the plurality of capacitance detecting cells formed thereon, a conductive holding member for holding the semiconductor chip, and a semiconductor chip having a detection surface of the semiconductor chip exposed; And a package member for covering and fixing the holding member, and both ends of the wire are fixed to the semiconductor chip by the package member.

【0009】前記パッケージ部材は、樹脂材料からな
る。
The package member is made of a resin material.

【0010】前記線材は、前記パッケージ部材内を通っ
て前記保持部材と電気的に接続されている。
The wire is electrically connected to the holding member through the inside of the package member.

【0011】前記パッケージ部材に一部が当該パッケー
ジ部材から突出するように設けられた、基準電位に接続
される基準電位用電極を有し、前記基準電位用電極は、
導電性材料によって前記保持部材と接続されている。
[0011] A reference potential electrode connected to a reference potential is provided on the package member so as to partially protrude from the package member.
It is connected to the holding member by a conductive material.

【0012】前記チップの検出面側には、前記線材を当
該検出面から所定の距離で離隔する位置に保持するため
のスペーサ部材が設けられており、前記線材は、前記ス
ペーサ部材上に前記パッケージ部材によって固定されて
いる。
On the detection surface side of the chip, a spacer member for holding the wire at a predetermined distance from the detection surface is provided, and the wire is mounted on the spacer member by the package. It is fixed by a member.

【0013】前記スペーサ部材は、前記パッケージ部材
と同じ材料からなる。
The spacer member is made of the same material as the package member.

【0014】前記線材は、カーボンファイバからなる。The wire is made of carbon fiber.

【0015】前記静電容量検出用セルは、検出用電極
と、前記検出用電極を被覆する所定膜厚の絶縁性の保護
膜とを有する。
The capacitance detecting cell has a detecting electrode and an insulating protective film having a predetermined thickness and covering the detecting electrode.

【0016】前記静電容量検出用セルの検出信号を処理
して前記指紋を特定する信号処理回路をさらに有し、前
記信号処理回路は、前記線材が横切る、あるいは、前記
線材が近傍を通過する静電容量検出用セルの検出信号を
特定的に処理する。
[0016] A signal processing circuit for processing the detection signal of the capacitance detecting cell to specify the fingerprint is further provided, wherein the signal processing circuit crosses the wire or passes the wire in the vicinity. The detection signal of the capacitance detection cell is specifically processed.

【0017】本発明では、指紋を検出する検査面に横切
るように指紋に基準電位を与える導電性を有する線材が
架張されている。指を検査面に押し当てると、指が線材
に確実に接触するため、仮に指からの放電が発生して
も、静電気は線材を通じて逃げる。このため、放電によ
って静電容量検出用セルが破壊されることが抑制され
る。
In the present invention, a conductive wire for applying a reference potential to the fingerprint is stretched across the inspection surface for detecting the fingerprint. When the finger is pressed against the inspection surface, the finger surely comes into contact with the wire, so that even if a discharge occurs from the finger, static electricity escapes through the wire. For this reason, breakage of the capacitance detection cell due to the discharge is suppressed.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。第1実施形態 図1は本発明の静電容量式指紋センサの一実施形態の構
造を示す断面図であり、図2は静電容量検出用セルの構
造を示す断面図であり、図3は半導体チップの検出面側
の構造を示す平面図である。図1〜図3に示すように、
本実施形態に係る静電容量式指紋センサ1は、半導体チ
ップ2と、ダイパッド41と、パッケージ部材31と、
ワイヤ11と、接地電極45とを有する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. First Embodiment FIG. 1 is a cross-sectional view showing a structure of an embodiment of a capacitance type fingerprint sensor of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view showing a structure of a capacitance detection cell, and FIG. It is a top view which shows the structure of the detection surface side of a semiconductor chip. As shown in FIGS.
The capacitance-type fingerprint sensor 1 according to the present embodiment includes a semiconductor chip 2, a die pad 41, a package member 31,
It has a wire 11 and a ground electrode 45.

【0019】半導体チップ2は、図3に示すように、指
紋を検出するための複数の静電容量検出用セル3がマト
リクス状に形成されている。半導体チップ2は、たとえ
ば、数cm2 程度の面積を有しており、静電容量検出用
セル2は、この面積内に、たとえば、数万〜数十万個の
オーダで形成されており、たとえば、数μm〜数十μm
の間隔で配置されている。図3に示すように、静電容量
検出用セル3は、絶縁層20上に形成された導電性材料
からなる電極21を有しており、これら電極21は誘電
体からなる保護膜22で被覆されている。なお、保護膜
22の最表面が上記の検出面2aとなっている。静電容
量検出用セル3の電極21は、たとえば、アルミニウム
等の金属材料から形成されており、一辺の長さが、たと
えば、数十μmに形成されている。保護膜22は、たと
えば、SiNやSiO2 を基材とする厚さ数μmの膜で
ある。
As shown in FIG. 3, the semiconductor chip 2 has a plurality of capacitance detecting cells 3 for detecting a fingerprint formed in a matrix. The semiconductor chip 2 has, for example, an area of about several cm 2 , and the capacitance detection cell 2 is formed within this area, for example, in the order of tens of thousands to hundreds of thousands, For example, several μm to several tens μm
Are arranged at intervals. As shown in FIG. 3, the capacitance detecting cell 3 has electrodes 21 made of a conductive material formed on an insulating layer 20, and these electrodes 21 are covered with a protective film 22 made of a dielectric. Have been. Note that the outermost surface of the protective film 22 is the detection surface 2a. The electrode 21 of the capacitance detection cell 3 is formed of, for example, a metal material such as aluminum, and the length of one side is, for example, several tens of μm. The protective film 22 is, for example, a film having a thickness of several μm and made of SiN or SiO 2 as a base material.

【0020】静電容量検出用セル3の形成方法は、たと
えば、シリコン基板等の半導体基板上に少なくとも絶縁
層を介して、たとえば、CVD(Chemical Vapour Depos
ition)法等を用いて金属材料からなる導電層を形成し、
通常のフォトリソグラフィ技術を用いてパターニングし
て電極21を形成し、電極21を被覆するように、保護
膜22を所定の膜厚で堆積させる。
The method of forming the capacitance detecting cell 3 is, for example, a method of forming a CVD (Chemical Vapor Depos) on a semiconductor substrate such as a silicon substrate via at least an insulating layer.
forming a conductive layer made of a metal material using a method or the like,
An electrode 21 is formed by patterning using a normal photolithography technique, and a protective film 22 is deposited to a predetermined thickness so as to cover the electrode 21.

【0021】ダイパッド41は、半導体チップ2を、た
とえば、接着材を介して保持している。ダイパッド41
は、たとえば、銅、アルミニウム等の導電性を有する金
属材料からなる板材である。
The die pad 41 holds the semiconductor chip 2 via, for example, an adhesive. Die pad 41
Is a plate material made of a conductive metal material such as copper and aluminum.

【0022】パッケージ部材31は、半導体チップ2と
ダイパッド4を被覆するように形成されており、かつ半
導体チップ2とダイパッド4とを固定している。また、
パッケージ部材31は、たとえば、通常の半導体装置の
パッケージに用いられる樹脂材料から形成されている。
また、パッケージ部材31は、半導体チップ2の検出面
2aが露出するように、開口部3aを有している。
The package member 31 is formed so as to cover the semiconductor chip 2 and the die pad 4, and fixes the semiconductor chip 2 and the die pad 4. Also,
The package member 31 is formed of, for example, a resin material used for a normal package of a semiconductor device.
The package member 31 has an opening 3a such that the detection surface 2a of the semiconductor chip 2 is exposed.

【0023】ワイヤ11は、導電性を有する線材であ
り、たとえば、ステンレスワイヤ等の線材を用いること
ができるが、本実施形態では、強度上の観点からカーボ
ンファイバを用いる。ワイヤ11は、半導体チップ2の
検出面2aに接触した状態で検出面2aを横切って架張
されており、たとえば、図3に示すように、ハッチング
で示すような同一方向に配列された静電容量検出用セル
3を横断するように設けられる。また、たとえば、図4
に示すように、同一方向に配列された各静電容量検出用
セル3の間を横断するように設けてもよい。ワイヤ11
の両端部は、図1に示したように、半導体チップ2に対
してパッケージ部材31内に一体的に固定されている。
The wire 11 is a wire having electrical conductivity. For example, a wire such as a stainless steel wire can be used. In this embodiment, carbon fiber is used from the viewpoint of strength. The wire 11 is stretched across the detection surface 2a in contact with the detection surface 2a of the semiconductor chip 2, and for example, as shown in FIG. 3, electrostatic wires arranged in the same direction as shown by hatching It is provided so as to cross the capacitance detection cell 3. Also, for example, FIG.
As shown in (1), it may be provided so as to cross between the capacitance detecting cells 3 arranged in the same direction. Wire 11
1 are integrally fixed to the semiconductor chip 2 in the package member 31 as shown in FIG.

【0024】ワイヤ11の一端部11aは、ダイパッド
41の表面に接続され、ワイヤ11とダイパッド41と
は電気的に導通している。
One end 11a of the wire 11 is connected to the surface of the die pad 41, and the wire 11 and the die pad 41 are electrically connected.

【0025】接地電極45は、パッケージ部材31内に
固定され、一部がパッケージ部材31から突出するよう
に設けられている。接地電極45は、たとえば、金線、
アルミニウムワイヤ等の導電性部材43によってダイパ
ッド41と電気的に接続されている。導電性部材43
は、パッケージ部材31内に存在する。
The ground electrode 45 is fixed inside the package member 31 and is provided so as to partially project from the package member 31. The ground electrode 45 is, for example, a gold wire,
It is electrically connected to the die pad 41 by a conductive member 43 such as an aluminum wire. Conductive member 43
Exist in the package member 31.

【0026】図5は、本実施形態に係る静電容量式指紋
センサ1の電気的構成を示す模式図である。図5に示す
ように、各静電容量検出用セル3の電極21は、スイッ
チとして機能するトランジスタ40を介して信号処理回
路51に接続されている。マトリクス状に配置された静
電容量検出用セル3のうち、同じ行に並ぶ静電容量検出
用セル3に接続されたトランジスタ40のゲートは、選
択線WLに接続されている。信号処理回路51は、各静
電容量検出用セル3の検出した検出信号に基づいて指F
の指紋の像を特定する回路である。
FIG. 5 is a schematic diagram showing an electrical configuration of the capacitance type fingerprint sensor 1 according to the present embodiment. As shown in FIG. 5, the electrode 21 of each capacitance detection cell 3 is connected to a signal processing circuit 51 via a transistor 40 functioning as a switch. Of the capacitance detection cells 3 arranged in a matrix, the gates of the transistors 40 connected to the capacitance detection cells 3 arranged in the same row are connected to the selection line WL. The signal processing circuit 51 detects the finger F based on the detection signal detected by each capacitance detection cell 3.
Is a circuit for specifying an image of a fingerprint.

【0027】ここで、静電容量式指紋センサ1の指紋の
検出原理について説明する。図6に示すように、各静電
容量検出用セル4の電極21は、トランジスタ40を介
して列方向の選択線BLに接続され、トランジスタ40
のゲートは行方向の選択線WLに接続されている。基準
電位を与えた指Fを電極21から距離dの位置に位置さ
せると、電極21と指Fとの間の静電容量Csは、次式
(1)によって表される。なお、ε0 は空気の誘電率で
あり、εは電極21上の保護膜22の誘電率であり、S
は電極21の面積である。
Here, the principle of detecting a fingerprint by the capacitance type fingerprint sensor 1 will be described. As shown in FIG. 6, the electrode 21 of each capacitance detecting cell 4 is connected to a selection line BL in the column direction via a transistor 40, and the transistor 40
Are connected to the selection line WL in the row direction. When the finger F to which the reference potential is applied is positioned at a distance d from the electrode 21, the capacitance Cs between the electrode 21 and the finger F is expressed by the following equation (1). Here, ε 0 is the permittivity of air, ε is the permittivity of the protective film 22 on the electrode 21, and S
Is the area of the electrode 21.

【0028】Cs=ε・ε0 ・S/d …(1)Cs = ε · ε 0 · S / d (1)

【0029】したがって、静電容量式指紋センサ1の電
極21に指Fを対向させない状態では、電極21と指F
との距離dは無限大となり、電極21上の静電容量Cs
は0となる。
Therefore, when the finger F is not opposed to the electrode 21 of the capacitance type fingerprint sensor 1, the electrode 21 and the finger F
Is infinite and the capacitance Cs on the electrode 21 is
Becomes 0.

【0030】図7に示すように、指Fに基準電位Eを与
えた状態で、静電容量式指紋センサ1の電極21に近接
させると、指Fの有する指紋の凹凸によって、電極21
a、21bと指Fとの距離dは、それぞれd1、d2の
ように異なる。このとき、選択線BLを所定電圧Vcc
でプリチャージし、選択線WLに電圧を印加してトラン
ジスタ40をオンすると、各電極21a、21bには距
離d1、d2によって決定される静電容量Csに応じた
電荷が蓄積され、これら電荷量に応じて選択線BLの電
位が変化する。選択線BLの電位変化量ΔVは、選択線
BLの寄生容量をCbとすると、次式(2)で表され
る。
As shown in FIG. 7, when the reference potential E is applied to the finger F and the finger 21 is brought close to the electrode 21 of the capacitance type fingerprint sensor 1, the fingerprint 21
The distance d between a and 21b and the finger F is different like d1 and d2, respectively. At this time, the selection line BL is set to the predetermined voltage Vcc.
When the transistor 40 is turned on by applying a voltage to the selection line WL, charges corresponding to the capacitance Cs determined by the distances d1 and d2 are accumulated in each of the electrodes 21a and 21b. Changes the potential of the selection line BL. The potential change amount ΔV of the selection line BL is represented by the following equation (2), where Cb is the parasitic capacitance of the selection line BL.

【0031】 ΔV={Cs/(Cb+Cs)}Vcc …(2)ΔV = {Cs / (Cb + Cs)} Vcc (2)

【0032】電位変化量ΔVは、電極21と指Fとの距
離dによって決定される静電容量Csに応じた量であ
り、各静電容量検出用セル2における選択線BLの電位
変化量ΔVを上記した信号処理回路51に読みだすこと
で、指Fの有する指紋の凹凸状態を特定することができ
る。
The potential change amount ΔV is an amount corresponding to the capacitance Cs determined by the distance d between the electrode 21 and the finger F, and is the potential change amount ΔV of the selection line BL in each capacitance detection cell 2. Is read out to the above-described signal processing circuit 51, the unevenness state of the fingerprint of the finger F can be specified.

【0033】次に、上記構成の静電容量式指紋センサ1
の指紋検出動作の一例について説明する。たとえば、静
電容量式指紋センサ1に接触させる指Fが帯電してお
り、指Fに基準電位Eを与える前に指Fから静電容量式
指紋センサ1に向けて放電する場合を考える。なお、静
電容量式指紋センサ1の接地電極45は接地されている
ものとする。図8に示すように、指Fを半導体チップ2
の検出面2aに接触させると、検出面2a上にはワイヤ
11が横断しているので、指Fはワイヤ11に確実に接
触すする。これによって、指Fには基準電位である接地
電位が付与される。指Fを半導体チップ2の検出面2a
に近づけた際に、人体が帯電しており指Fから放電する
と、放電電流はワイヤ11に流れ、ダイパッド41およ
び導電性部材43を通じて接地された接地電極45に導
かれる。このため、放電電流が静電容量検出用セル3に
直接流れることがなく、放電によって、たとえば、静電
容量検出用セル3の有する保護膜22等が絶縁破壊する
ことが抑制される。以上のように、本実施形態によれ
ば、複数の静電容量検出用セル3が形成された検出面2
a上に導電性を有するワイヤ11を設けたことで、静電
容量検出用セル3は指Fから放電が生じても破壊されに
くくなる。
Next, the capacitance type fingerprint sensor 1 having the above configuration
An example of the fingerprint detection operation will be described. For example, a case is considered in which the finger F to be brought into contact with the capacitance type fingerprint sensor 1 is charged, and the finger F discharges toward the capacitance type fingerprint sensor 1 before applying the reference potential E to the finger F. It is assumed that the ground electrode 45 of the capacitance type fingerprint sensor 1 is grounded. As shown in FIG.
Is in contact with the detection surface 2a, the finger 11 surely contacts the wire 11 because the wire 11 crosses the detection surface 2a. Thus, the ground potential, which is the reference potential, is applied to the finger F. The finger F is moved to the detection surface 2a of the semiconductor chip 2.
When the human body is charged and discharged from the finger F when approached, the discharge current flows to the wire 11 and is guided to the ground electrode 45 grounded through the die pad 41 and the conductive member 43. For this reason, the discharge current does not flow directly to the capacitance detection cell 3, and for example, the dielectric breakdown of the protective film 22 or the like included in the capacitance detection cell 3 due to the discharge is suppressed. As described above, according to the present embodiment, the detection surface 2 on which the plurality of capacitance detection cells 3 are formed
By providing the conductive wire 11 on “a”, the capacitance detection cell 3 is less likely to be destroyed even if a discharge occurs from the finger F.

【0034】ここで、図8に示したように、半導体チッ
プ2の検出面2aに指Fを接触させた状態では、指Fが
ワイヤ11に接触するため、この接触領域では指Fは変
形する。このため、指Fが変形した領域では、指紋を検
出することができない不感領域Rが発生する。たとえ
ば、図3に示したように、ワイヤ11を同一方向に配列
する静電容量検出用セル3を横断するように設けた場合
には、図3においてハッチングで示す一列に並ぶ各静電
容量検出用セル3が不感領域R内に位置することにな
る。また、図4に示したように、ワイヤ11を同一方向
に配列する静電容量検出用セル3の間に設けた場合に
は、図4においてハッチングで示す隣り合う2列の各静
電容量検出用セル3が不感領域Rに位置することにな
る。
Here, as shown in FIG. 8, when the finger F is in contact with the detection surface 2a of the semiconductor chip 2, the finger F contacts the wire 11, so that the finger F is deformed in this contact area. . For this reason, in an area where the finger F is deformed, a dead area R where the fingerprint cannot be detected occurs. For example, as shown in FIG. 3, when the wires 11 are provided so as to cross the capacitance detection cells 3 arranged in the same direction, each of the capacitance detection cells arranged in a row indicated by hatching in FIG. The use cell 3 is located in the dead area R. In addition, as shown in FIG. 4, when the wires 11 are provided between the capacitance detecting cells 3 arranged in the same direction, the two adjacent rows of the capacitance detection cells shown by hatching in FIG. The use cell 3 is located in the dead area R.

【0035】不感領域Rに位置する静電容量検出用セル
3は、静電容量式指紋センサ1の組み立て段階において
ワイヤ11の配置に応じて予め特定されている。このた
め、本実施形態では、たとえば、信号処理回路51で不
感領域Rに位置する静電容量検出用セル3の検出信号を
特定的に処理する。具体的には、たとえば、信号処理回
路51は、不感領域Rに位置する静電容量検出用セル3
の検出信号を指紋の特定に使用しない構成とすることが
できる。この場合には、指Fを半導体チップ2の検出面
2aに対して異なる位置に複数回接触させ、複数回の検
出で得られたデータを合成することにより、指紋の全体
像を特定することができる。あるいは、不感領域Rに位
置する静電容量検出用セル3の検出信号を特別に処理す
るアルゴリズムを予め用意しておき、このアルゴリズム
によって不感領域Rに位置する静電容量検出用セル3の
検出信号を補完することで、指紋の全体像を特定するこ
とも可能である。
The capacitance detection cell 3 located in the dead area R is specified in advance in accordance with the arrangement of the wires 11 at the stage of assembling the capacitance type fingerprint sensor 1. For this reason, in the present embodiment, for example, the signal processing circuit 51 specifically processes a detection signal of the capacitance detection cell 3 located in the insensitive region R. Specifically, for example, the signal processing circuit 51 includes the capacitance detection cell 3 located in the insensitive region R.
Can be configured not to use the detection signal for the identification of the fingerprint. In this case, the finger F is brought into contact with the detection surface 2a of the semiconductor chip 2 at different positions a plurality of times, and data obtained by the plurality of detections is combined to specify the entire image of the fingerprint. it can. Alternatively, an algorithm for specially processing the detection signal of the capacitance detection cell 3 located in the dead area R is prepared in advance, and the detection signal of the capacitance detection cell 3 located in the dead area R is prepared by this algorithm. By complementing, it is also possible to specify the entire image of the fingerprint.

【0036】第2実施形態 図9は、本発明の静電容量式指紋センサの一実施形態の
構造を示す断面図である。なお、図9に示す静電容量式
指紋センサ201の構成要素のうち、上述した第1の実
施形態と同一の構成要素については同一の符号で示して
いる。本実施形態に係る静電容量式指紋センサ201と
第1の実施形態に係る静電容量式指紋センサ1との異な
る点は、静電容量式指紋センサ201では、ワイヤ11
が半導体チップ2の検出面2aと所定の距離δで離隔し
ている点である。
Second Embodiment FIG. 9 is a sectional view showing the structure of an embodiment of the capacitance type fingerprint sensor of the present invention. Note that among the components of the capacitance fingerprint sensor 201 shown in FIG. 9, the same components as those in the above-described first embodiment are denoted by the same reference numerals. The difference between the capacitive fingerprint sensor 201 according to the present embodiment and the capacitive fingerprint sensor 1 according to the first embodiment is that
Is separated from the detection surface 2a of the semiconductor chip 2 by a predetermined distance δ.

【0037】すなわち、静電容量式指紋センサ201で
は、半導体チップ2上に高さδの複数のスペーサ部材4
6が設けられており、ワイヤ11はスペーサ部材46上
に架張され、パッケージ部材31と一体に固定されてい
る。スペーサ部材46は、たとえば、パッケージ部材3
1と同一の樹脂材料によって形成することができる。
That is, in the capacitance type fingerprint sensor 201, the plurality of spacer members 4 having a height δ are formed on the semiconductor chip 2.
6 is provided, and the wire 11 is stretched over the spacer member 46 and fixed integrally with the package member 31. The spacer member 46 is, for example, a package member 3
1 can be formed of the same resin material.

【0038】本実施形態では、このような構成とするこ
とにより、半導体チップ2の検出面2aに指Fを近づけ
ていくと、半導体チップ2の検出面2aよりもワイヤ1
1のほうが指Fにより近いため、指Fから放電しても放
電電流が確実にワイヤ11に導かれ、半導体チップ2に
形成された静電容量検出用セルの静電破壊を確実に防ぐ
ことができる。
In the present embodiment, with such a configuration, when the finger F approaches the detection surface 2a of the semiconductor chip 2, the wire 1
1 is closer to the finger F, the discharge current is reliably guided to the wire 11 even if the finger F is discharged, and the electrostatic discharge of the capacitance detecting cell formed on the semiconductor chip 2 can be reliably prevented. it can.

【0039】[0039]

【発明の効果】本発明によれば、静電容量式指紋センサ
の検出面を横切るように基準電位を与えるワイヤを設け
たことにより、指からの放電があっても静電容量検出用
セルの静電破壊を確実に防止することができ、かつ、指
に基準電位を与えることができる。
According to the present invention, by providing a wire for applying a reference potential across the detection surface of the capacitance type fingerprint sensor, the capacitance detection cell can be used even if there is a discharge from the finger. Electrostatic damage can be reliably prevented, and a reference potential can be applied to a finger.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る静電容量式指紋センサの一実施形
態の構成を示す断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a configuration of an embodiment of a capacitance type fingerprint sensor according to the present invention.

【図2】静電容量検出用セルの構造を示す断面図であ
る。
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a structure of a capacitance detection cell.

【図3】半導体チップの検出面側の構造を示す平面図で
ある。
FIG. 3 is a plan view showing a structure on a detection surface side of a semiconductor chip.

【図4】半導体チップの検出面側の他の構造例を示す平
面図である。
FIG. 4 is a plan view showing another example of the structure of the semiconductor chip on the detection surface side.

【図5】静電容量式指紋センサ1の電気的構成を示す模
式図である。
FIG. 5 is a schematic diagram showing an electrical configuration of the capacitance type fingerprint sensor 1.

【図6】静電容量式指紋センサの構造の一例を示す平面
図である。
FIG. 6 is a plan view showing an example of the structure of a capacitance type fingerprint sensor.

【図7】静電容量式指紋センサの検出原理を説明するた
めの図である。
FIG. 7 is a diagram for explaining a detection principle of a capacitance type fingerprint sensor.

【図8】静電容量式指紋センサ1の半導体チップ2の検
出面2aに指Fを近接させた状態を示す図である。静電
容量式指紋センサの構造の一例を示す断面図である。
FIG. 8 is a diagram showing a state in which a finger F is brought close to a detection surface 2a of a semiconductor chip 2 of the capacitance type fingerprint sensor 1; It is sectional drawing which shows an example of a structure of a capacitance type fingerprint sensor.

【図9】本発明に係る静電容量式指紋センサの他の実施
形態の構成を示す断面図である。
FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating the configuration of another embodiment of the capacitive fingerprint sensor according to the present invention.

【図10】静電容量式指紋センサの構造の一例を示す平
面図である。
FIG. 10 is a plan view showing an example of the structure of a capacitance type fingerprint sensor.

【図11】図10の静電容量式指紋センサの構造の一例
を示す断面図である。
11 is a sectional view showing an example of the structure of the capacitance type fingerprint sensor of FIG.

【図12】静電容量式指紋センサに指を接触させる際
に、指に基準電位を与える様子を示す図である。
FIG. 12 is a diagram illustrating a state in which a reference potential is applied to a finger when the finger is brought into contact with the capacitance-type fingerprint sensor.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…静電容量式指紋センサ、2…半導体チップ、2a…
検出面、3…静電容量検出用セル、11…ワイヤ、31
…パッケージ部材、43…導電性部材、45…接地電
極、21…電極、22…保護膜、41…ダイパッド。
1. Capacitive fingerprint sensor, 2. Semiconductor chip, 2a ...
Detection surface, 3 ... cell for capacitance detection, 11 ... wire, 31
... package member, 43 ... conductive member, 45 ... ground electrode, 21 ... electrode, 22 ... protective film, 41 ... die pad.

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】指紋との間の距離に応じて変化する静電容
量を電気的に検出する複数の静電容量検出用セルを有
し、前記各静電検出用セルの検出結果に基づいて前記指
紋を認識する静電容量式指紋センサであって、 前記指紋に対して基準電位を与える導電性の線材が前記
複数の静電容量検出用セルが設けられた検出面を横切っ
て架張されている静電容量式指紋センサ。
A plurality of capacitance detection cells for electrically detecting a capacitance that varies according to a distance from a fingerprint, based on a detection result of each of the capacitance detection cells; An electrostatic capacitance type fingerprint sensor that recognizes the fingerprint, wherein a conductive wire that gives a reference potential to the fingerprint is stretched across a detection surface provided with the plurality of capacitance detection cells. Capacitive fingerprint sensor.
【請求項2】前記線材は、前記検出面に接触している請
求項1に記載の静電容量式指紋センサ。
2. The capacitance type fingerprint sensor according to claim 1, wherein the wire is in contact with the detection surface.
【請求項3】前記線材は、前記検出面から離隔している
請求項1に記載の静電容量式指紋センサ。
3. The capacitance type fingerprint sensor according to claim 1, wherein the wire is separated from the detection surface.
【請求項4】前記複数の静電容量検出用セルが形成され
た半導体チップと、 前記半導体チップを保持する導電性を有する保持部材
と、 前記半導体チップの検出面を露出させた状態で前記半導
体チップと保持部材とを被覆しかつ固定するパッケージ
部材と、を有し、 前記線材の両端部は、前記パッケージ部材によって前記
半導体チップに対して固定されている請求項1に記載の
静電容量式指紋センサ。
4. A semiconductor chip on which the plurality of capacitance detecting cells are formed, a conductive holding member for holding the semiconductor chip, and the semiconductor with a detection surface of the semiconductor chip exposed. 2. The electrostatic capacitance type according to claim 1, further comprising: a package member that covers and fixes the chip and the holding member, and both ends of the wire are fixed to the semiconductor chip by the package member. 3. Fingerprint sensor.
【請求項5】前記パッケージ部材は、樹脂材料からなる
請求項3に記載の静電容量式指紋センサ。
5. The capacitance type fingerprint sensor according to claim 3, wherein said package member is made of a resin material.
【請求項6】前記線材は、前記パッケージ部材内を通っ
て前記保持部材と電気的に接続されている請求項4に記
載の静電容量式指紋センサ。
6. The capacitance type fingerprint sensor according to claim 4, wherein the wire is electrically connected to the holding member through the inside of the package member.
【請求項7】前記パッケージ部材に一部が当該パッケー
ジ部材から突出するように設けられた、基準電位に接続
される基準電位用電極を有し、 前記基準電位用電極は、導電性材料によって前記保持部
材と接続されている請求項6に記載の静電容量式指紋セ
ンサ。
7. A reference potential electrode connected to a reference potential provided on the package member so as to partially protrude from the package member, wherein the reference potential electrode is made of a conductive material. The capacitance type fingerprint sensor according to claim 6, which is connected to a holding member.
【請求項8】前記半導体チップの検出面側には、前記線
材を当該検出面から所定の距離で離隔する位置に保持す
るためのスペーサ部材が設けられており、 前記線材は、前記スペーサ部材上に前記パッケージ部材
によって固定されている請求項4に記載の静電容量式指
紋センサ。
8. A spacer member for holding the wire at a predetermined distance from the detection surface is provided on a detection surface side of the semiconductor chip, and the wire is provided on the spacer member. The capacitance type fingerprint sensor according to claim 4, wherein the capacitance type fingerprint sensor is fixed by the package member.
【請求項9】前記スペーサ部材は、前記パッケージ部材
と同じ材料からなる請求項7に記載の静電容量式指紋セ
ンサ。
9. The capacitance type fingerprint sensor according to claim 7, wherein said spacer member is made of the same material as said package member.
【請求項10】前記線材は、カーボンファイバからなる
請求項1に記載の静電容量式指紋センサ。
10. The capacitance type fingerprint sensor according to claim 1, wherein said wire is made of carbon fiber.
【請求項11】前記静電容量検出用セルは、検出用電極
と、前記検出用電極を被覆する所定膜厚の絶縁性の保護
膜とを有する請求項1に記載の静電容量式指紋センサ。
11. The capacitance-type fingerprint sensor according to claim 1, wherein the capacitance detection cell has a detection electrode and an insulating protective film having a predetermined thickness covering the detection electrode. .
【請求項12】前記静電容量検出用セルの検出信号を処
理して前記指紋を特定する信号処理回路をさらに有し、 前記信号処理回路は、前記線材が横切る、あるいは、前
記線材が近傍を通過する静電容量検出用セルの検出信号
を特定的に処理する請求項1に記載の静電容量式指紋セ
ンサ。
12. A signal processing circuit for processing a detection signal of the capacitance detecting cell to specify the fingerprint, wherein the signal processing circuit crosses the wire or detects the vicinity of the wire. The capacitance type fingerprint sensor according to claim 1, wherein a detection signal of the passing capacitance detection cell is specifically processed.
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