JP2000304799A - 配線診断装置 - Google Patents
配線診断装置Info
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- JP2000304799A JP2000304799A JP2000023768A JP2000023768A JP2000304799A JP 2000304799 A JP2000304799 A JP 2000304799A JP 2000023768 A JP2000023768 A JP 2000023768A JP 2000023768 A JP2000023768 A JP 2000023768A JP 2000304799 A JP2000304799 A JP 2000304799A
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- fet
- wiring
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 導体配線や回路配線の異常の有無を診断する
こと。 【解決手段】 ワイヤハーネス14両端のコネクタ1
6、18にそれぞれコネクタ12を介して電源を接続す
るとともにコネクタ20に抵抗R13を接続する。この
ときワイヤハーネス14に印加される電圧と、トランジ
スタQ1がオフのとき、すなわち基準電圧一定のときの
電圧とをコンパレータCMP3で比較するとともに、ト
ランジスタQ1をオンにして基準電圧を可変にしたとき
の電圧とワイヤハーネス14に印加された電圧とをそれ
ぞれコンパレータCMP3で比較し、両者のレベルが
“H”、“L”のときには正常、両者のレベルがともに
“L”のときには、オープン、両者のレベルがともに
“H”のときにはショート状態にあると診断する。
こと。 【解決手段】 ワイヤハーネス14両端のコネクタ1
6、18にそれぞれコネクタ12を介して電源を接続す
るとともにコネクタ20に抵抗R13を接続する。この
ときワイヤハーネス14に印加される電圧と、トランジ
スタQ1がオフのとき、すなわち基準電圧一定のときの
電圧とをコンパレータCMP3で比較するとともに、ト
ランジスタQ1をオンにして基準電圧を可変にしたとき
の電圧とワイヤハーネス14に印加された電圧とをそれ
ぞれコンパレータCMP3で比較し、両者のレベルが
“H”、“L”のときには正常、両者のレベルがともに
“L”のときには、オープン、両者のレベルがともに
“H”のときにはショート状態にあると診断する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、配線診断装置に係
り、特に、ワイヤハーネスなどの導体配線や回路配線の
状態を診断するに好適な配線診断装置に関する。
り、特に、ワイヤハーネスなどの導体配線や回路配線の
状態を診断するに好適な配線診断装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ワイヤハーネスなどの導体配線の
異常の有無を診断するに際しては、ワイヤハーネスの両
端を電源に接続し、ワイヤハーネスを流れる電流や電圧
降下の状態からワイヤハーネスが断線しているか否かを
チェックする構成が採用されている。
異常の有無を診断するに際しては、ワイヤハーネスの両
端を電源に接続し、ワイヤハーネスを流れる電流や電圧
降下の状態からワイヤハーネスが断線しているか否かを
チェックする構成が採用されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来技術で
は、ワイヤハーネスに単に電圧を印加する方式であるた
め、ワイヤハーネスが断線したことを検出することはで
きるが、ワイヤハーネスの線路途中がショート状態にあ
ったり、ワイヤハーネスの線路抵抗が異常値を示す場合
には、これらの異常状態をチェックすることができない
ことがある。なお、マイクロコンピュータを用いてワイ
ヤハーネスの異常を診断する構成も考えられるが、マイ
クロコンピュータは微小電圧、微小電流を扱うため、単
にマイクロコンピュータを用いても、大電流を流すワイ
ヤハーネスの異常の有無をチェックすることは困難であ
る。
は、ワイヤハーネスに単に電圧を印加する方式であるた
め、ワイヤハーネスが断線したことを検出することはで
きるが、ワイヤハーネスの線路途中がショート状態にあ
ったり、ワイヤハーネスの線路抵抗が異常値を示す場合
には、これらの異常状態をチェックすることができない
ことがある。なお、マイクロコンピュータを用いてワイ
ヤハーネスの異常を診断する構成も考えられるが、マイ
クロコンピュータは微小電圧、微小電流を扱うため、単
にマイクロコンピュータを用いても、大電流を流すワイ
ヤハーネスの異常の有無をチェックすることは困難であ
る。
【0004】本発明の目的は、導体配線や回路配線の異
常の有無を診断することができる配線診断装置を提供す
ることにある。
常の有無を診断することができる配線診断装置を提供す
ることにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は、駆動信号を出力する駆動手段と、診断対
象となる配線の一端と電源を結ぶ電源回路中に挿入され
て前記駆動信号により導通して前記電源回路を閉じる第
1のスイッチング手段と、前記電源の基準電位側と前記
配線の他端とを結ぶ電源回路中に直列に挿入された直列
抵抗と、前記電源から電流の供給を受けて基準電圧を発
生する基準抵抗と、前記電源と前記基準抵抗とを結ぶ分
流回路中に挿入されて前記駆動信号により導通して前記
分流回路を閉じる第2のスイッチング手段と、診断用オ
ンオフ信号に受けて導通または非導通状態に制御される
診断用スイッチング手段と、前記診断用スイッチング手
段が導通したことを条件に前記基準抵抗に並列接続され
て前記基準電圧を低下させる補助基準抵抗と、前記基準
電圧と前記スイッチング手段の出力電圧とを比較し比較
結果を出力する比較手段とを備えてなる配線診断装置を
構成したものである。
に、本発明は、駆動信号を出力する駆動手段と、診断対
象となる配線の一端と電源を結ぶ電源回路中に挿入され
て前記駆動信号により導通して前記電源回路を閉じる第
1のスイッチング手段と、前記電源の基準電位側と前記
配線の他端とを結ぶ電源回路中に直列に挿入された直列
抵抗と、前記電源から電流の供給を受けて基準電圧を発
生する基準抵抗と、前記電源と前記基準抵抗とを結ぶ分
流回路中に挿入されて前記駆動信号により導通して前記
分流回路を閉じる第2のスイッチング手段と、診断用オ
ンオフ信号に受けて導通または非導通状態に制御される
診断用スイッチング手段と、前記診断用スイッチング手
段が導通したことを条件に前記基準抵抗に並列接続され
て前記基準電圧を低下させる補助基準抵抗と、前記基準
電圧と前記スイッチング手段の出力電圧とを比較し比較
結果を出力する比較手段とを備えてなる配線診断装置を
構成したものである。
【0006】前記配線診断装置を構成するに際しては、
以下の要素を付加することができる。
以下の要素を付加することができる。
【0007】前記比較手段の比較結果を前記診断用スイ
ッチング手段の導通・非導通状態と関連づけて表示する
表示手段を備える。
ッチング手段の導通・非導通状態と関連づけて表示する
表示手段を備える。
【0008】前記した手段によれば、診断対象の配線に
電圧を印加し、診断対象の配線に印加された電圧と基準
電圧を一定に保った電圧とを比較するとともに、診断対
象の配線に印加された電圧と基準電圧を変えたときの電
圧とを比較し、両者の比較結果を出力するようにしたの
で、各比較結果から診断対象の配線の状態を判定するこ
とができ、診断対象の配線の短絡の有無や抵抗値の異常
の有無を診断することが可能になる。特に、各比較結果
を表示することで、診断対象の配線の状態を容易に判定
することができ、診断対象の配線の短絡の有無や抵抗値
の異常の有無を容易に診断することが可能になる。
電圧を印加し、診断対象の配線に印加された電圧と基準
電圧を一定に保った電圧とを比較するとともに、診断対
象の配線に印加された電圧と基準電圧を変えたときの電
圧とを比較し、両者の比較結果を出力するようにしたの
で、各比較結果から診断対象の配線の状態を判定するこ
とができ、診断対象の配線の短絡の有無や抵抗値の異常
の有無を診断することが可能になる。特に、各比較結果
を表示することで、診断対象の配線の状態を容易に判定
することができ、診断対象の配線の短絡の有無や抵抗値
の異常の有無を容易に診断することが可能になる。
【0009】
【発明の実施の形態】まず、本発明の実施の形態を説明
する前に、本発明を適用した電流振動型遮断機能付きス
イッチング・デバイスの基本構成およびその基本的な動
作について説明する。
する前に、本発明を適用した電流振動型遮断機能付きス
イッチング・デバイスの基本構成およびその基本的な動
作について説明する。
【0010】電流振動型遮断機能付きスイッチング・デ
バイスは、図1に示すように、半導体チップ110上に
各種の回路素子を集積化した半導体集積回路(パワーI
C)として構成されており、電源端子T1が出力電圧V
B(例えば+12ボルト)の電源101に接続され、接
地端子T2が接地され、出力端子T3が負荷102に接
続されている。
バイスは、図1に示すように、半導体チップ110上に
各種の回路素子を集積化した半導体集積回路(パワーI
C)として構成されており、電源端子T1が出力電圧V
B(例えば+12ボルト)の電源101に接続され、接
地端子T2が接地され、出力端子T3が負荷102に接
続されている。
【0011】この半導体チップ110上には、感熱遮断
機能を有する半導体素子(パワーデバイス)として、n
チャネル温度センサー内蔵FETQAが集積化されてい
る。この温度センサー内蔵FETQAは、ドレイン電極
がドレイン端子D、電源端子T1を介して電源101に
接続され、ソース電極がソース端子S、出力端子T3を
介して負荷102に接続され、ゲート電極がゲート端子
TG、抵抗RGを介して駆動回路111に接続されてい
る。この温度センサー内蔵FETQAは、電源101と
負荷102とを結ぶ電源回路中に挿入されてゲート端子
TGに入力される駆動信号(オンパルス信号)に応答し
て導通(オン)して、電源回路を閉じる第1のスイッチ
ング手段として構成されている。そしてこの温度センサ
ー内蔵FETQAと並列に基準デバイスとして、nチャ
ネルFETQB、FETQCが集積化されている。
機能を有する半導体素子(パワーデバイス)として、n
チャネル温度センサー内蔵FETQAが集積化されてい
る。この温度センサー内蔵FETQAは、ドレイン電極
がドレイン端子D、電源端子T1を介して電源101に
接続され、ソース電極がソース端子S、出力端子T3を
介して負荷102に接続され、ゲート電極がゲート端子
TG、抵抗RGを介して駆動回路111に接続されてい
る。この温度センサー内蔵FETQAは、電源101と
負荷102とを結ぶ電源回路中に挿入されてゲート端子
TGに入力される駆動信号(オンパルス信号)に応答し
て導通(オン)して、電源回路を閉じる第1のスイッチ
ング手段として構成されている。そしてこの温度センサ
ー内蔵FETQAと並列に基準デバイスとして、nチャ
ネルFETQB、FETQCが集積化されている。
【0012】FETQBはドレイン電極がドレイン端子
D、電源端子T1を介して電源101に接続され、ソー
ス電極が出力端子T4を介して第1の基準抵抗Rr1に
接続され、ゲート電極がゲート端子TGを介して抵抗R
Gに接続されている。FETQCは、ドレイン電極がド
レイン端子D、電源端子T1を介して電源101に接続
され、ソース電極が出力端子T5を介して第2の基準抵
抗Rr2に接続され、ゲート電極がゲート端子TGを介
して抵抗RGに接続されている。FETQBは、ゲート
端子TGに入力される駆動信号(オンパルス信号)によ
り導通して、電源端子T1と第1の基準抵抗Rr1とを
結ぶ分流回路を閉じる第2のスイッチング手段として構
成されている。FETQCは、ゲート端子TGに入力さ
れる駆動信号(オンパルス信号)により導通して、電源
端子T1と第2の基準抵抗Rr2とを結ぶ分流回路を閉
じる第3のスイッチング手段として構成されている。
D、電源端子T1を介して電源101に接続され、ソー
ス電極が出力端子T4を介して第1の基準抵抗Rr1に
接続され、ゲート電極がゲート端子TGを介して抵抗R
Gに接続されている。FETQCは、ドレイン電極がド
レイン端子D、電源端子T1を介して電源101に接続
され、ソース電極が出力端子T5を介して第2の基準抵
抗Rr2に接続され、ゲート電極がゲート端子TGを介
して抵抗RGに接続されている。FETQBは、ゲート
端子TGに入力される駆動信号(オンパルス信号)によ
り導通して、電源端子T1と第1の基準抵抗Rr1とを
結ぶ分流回路を閉じる第2のスイッチング手段として構
成されている。FETQCは、ゲート端子TGに入力さ
れる駆動信号(オンパルス信号)により導通して、電源
端子T1と第2の基準抵抗Rr2とを結ぶ分流回路を閉
じる第3のスイッチング手段として構成されている。
【0013】FETQA、QB、QCとしては、例え
ば、DMOS構造、VMOS構造あるいはUMOS構造
のパワーMOSFETやこれらと類似な構造のMOSF
ETを用いることができるとともに、EST、MCTな
どのMOS複合型デバイスやIGBTなど他の絶縁ゲー
ト型パワーデバイスを用いることができる。また、常に
ゲートを逆バイアスで使うものであれば、接合型FE
T、接合型SITやSIサイリスタなどを使用すること
もできる。さらに、パワーICに用いるFETQA、Q
B、QCとしては、nチャネル型でもpチャネル型でも
用いることができる。
ば、DMOS構造、VMOS構造あるいはUMOS構造
のパワーMOSFETやこれらと類似な構造のMOSF
ETを用いることができるとともに、EST、MCTな
どのMOS複合型デバイスやIGBTなど他の絶縁ゲー
ト型パワーデバイスを用いることができる。また、常に
ゲートを逆バイアスで使うものであれば、接合型FE
T、接合型SITやSIサイリスタなどを使用すること
もできる。さらに、パワーICに用いるFETQA、Q
B、QCとしては、nチャネル型でもpチャネル型でも
用いることができる。
【0014】また、温度センサー内蔵FETQA、Q
B、QCは、例えば、複数個のユニットセル(単位セ
ル)が並列接続されたマルチ・チャネル構造のパワーデ
バイスを用いて構成されており、各FETが隣接して配
置されている。そしてFETQB、QCの電流容量はF
ETQAの電流容量よりも小さく設定されている。この
設定は、FETQB、QCを構成する並列接続のユニッ
トセル数で調整されている。例えば、FETQBのユニ
ットセル数1に対して、FETQAのユニットセル数が
1000となるように構成されており、FETQBとF
ETQAのチャネル幅Wの比は、例えば1:1000と
なっている。
B、QCは、例えば、複数個のユニットセル(単位セ
ル)が並列接続されたマルチ・チャネル構造のパワーデ
バイスを用いて構成されており、各FETが隣接して配
置されている。そしてFETQB、QCの電流容量はF
ETQAの電流容量よりも小さく設定されている。この
設定は、FETQB、QCを構成する並列接続のユニッ
トセル数で調整されている。例えば、FETQBのユニ
ットセル数1に対して、FETQAのユニットセル数が
1000となるように構成されており、FETQBとF
ETQAのチャネル幅Wの比は、例えば1:1000と
なっている。
【0015】さらに、FETQAのソース端子Sはコン
パレータCMP1とコンパレータCMP2のプラス入力
端子にそれぞれ接続されており、FETQBのソース電
極はコンパレータCMP1のマイナス入力端子に接続さ
れ、FETQCのソース電極はコンパレータCMP2の
マイナス入力端子に接続されている。コンパレータCM
P1の出力端子は駆動回路111に接続され、コンパレ
ータCMP2の出力端子は半導体チップ110の出力端
子T6を介して、過小電流検出、ランプ断線検出、オー
プン検出を行なう異常検出部501に接続されている。
なお、FETQAのソース端子Sはツェナーダイオード
ZD1を介して駆動回路111に接続されており、この
ツェナーダイオードZD1は、FETQA、FETQ
B、FETQCのゲート端子TG・ソース端子S間を1
2ボルトに保ち、ゲート端子TGに過電圧が印加された
ときに、この過電圧をバイパスするように構成されてい
る。
パレータCMP1とコンパレータCMP2のプラス入力
端子にそれぞれ接続されており、FETQBのソース電
極はコンパレータCMP1のマイナス入力端子に接続さ
れ、FETQCのソース電極はコンパレータCMP2の
マイナス入力端子に接続されている。コンパレータCM
P1の出力端子は駆動回路111に接続され、コンパレ
ータCMP2の出力端子は半導体チップ110の出力端
子T6を介して、過小電流検出、ランプ断線検出、オー
プン検出を行なう異常検出部501に接続されている。
なお、FETQAのソース端子Sはツェナーダイオード
ZD1を介して駆動回路111に接続されており、この
ツェナーダイオードZD1は、FETQA、FETQ
B、FETQCのゲート端子TG・ソース端子S間を1
2ボルトに保ち、ゲート端子TGに過電圧が印加された
ときに、この過電圧をバイパスするように構成されてい
る。
【0016】一方、半導体チップ110上の他の領域に
は、電源Enable部302、マスキング回路30
3、ON/OFF計数回路304、チャージポンプ回路
305、遮断ラッチ回路306が集積化されており、電
源Enable部302が端子T7に接続され、マスキ
ング回路303が端子T8を介してコンデンサC11に
接続され、ON/OFF計数回路304が端子T9を介
してコンデンサC12に接続され、駆動回路111が入
力端子T10を介してスイッチSW1と抵抗R11に接
続され、遮断ラッチ回路306が出力端子T11を介し
てダイアグ出力部(診断結果出力部)502に接続され
ている。
は、電源Enable部302、マスキング回路30
3、ON/OFF計数回路304、チャージポンプ回路
305、遮断ラッチ回路306が集積化されており、電
源Enable部302が端子T7に接続され、マスキ
ング回路303が端子T8を介してコンデンサC11に
接続され、ON/OFF計数回路304が端子T9を介
してコンデンサC12に接続され、駆動回路111が入
力端子T10を介してスイッチSW1と抵抗R11に接
続され、遮断ラッチ回路306が出力端子T11を介し
てダイアグ出力部(診断結果出力部)502に接続され
ている。
【0017】駆動回路111は、図2に示すように、ソ
ーストランジスタQ5とシンクトランジスタQ6を備え
ているとともに、各トランジスタをオンオフ制御する駆
動素子などを備えており、各トランジスタQ5、Q6が
互いに直列接続されている。そしてソーストランジスタ
Q5のコレクタが電位VPの端子に接続され、エミッタ
が抵抗RGを介してゲート端子TGに接続されている。
シンクトランジスタQ6はコレクタが抵抗RGを介して
ゲート端子TGに接続され、エミッタが接地電位(GN
D)に接続されている。電位VPの端子は、チャージポ
ンプ回路305に接続されており、この端子の電位VP
は、チャージポンプ回路305の出力によって、電源1
01よりも高い電圧、例えば、電源101の電圧を12
Vとしたとき、12V+10Vに設定されている。
ーストランジスタQ5とシンクトランジスタQ6を備え
ているとともに、各トランジスタをオンオフ制御する駆
動素子などを備えており、各トランジスタQ5、Q6が
互いに直列接続されている。そしてソーストランジスタ
Q5のコレクタが電位VPの端子に接続され、エミッタ
が抵抗RGを介してゲート端子TGに接続されている。
シンクトランジスタQ6はコレクタが抵抗RGを介して
ゲート端子TGに接続され、エミッタが接地電位(GN
D)に接続されている。電位VPの端子は、チャージポ
ンプ回路305に接続されており、この端子の電位VP
は、チャージポンプ回路305の出力によって、電源1
01よりも高い電圧、例えば、電源101の電圧を12
Vとしたとき、12V+10Vに設定されている。
【0018】駆動回路111は、スイッチSW1が投入
されて入力端子T10がスイッチSW1を介して接地さ
れたときに、入力端子T10からの指令信号に応答して
ソーストランジスタQ5がオンになり、出力端子(トラ
ンジスタQ5とトランジスタQ6との接続点)にハイレ
ベルの駆動信号(オンパルス信号)を出力する駆動手段
として構成されている。一方、スイッチSW1が開かれ
たときには、入力端子T10に抵抗R11を介して電源
101の電圧が印加されるので、シンクトランジスタQ
6がオンになって出力端子(トランジスタQ5とトラン
ジスタQ6との接続点)のレベルをローレベルに遷移さ
せるようになっている。なお、駆動回路111として
は、バイポーラトランジスタの代わりに、CMOSFE
Tを用いて構成することも可能である。
されて入力端子T10がスイッチSW1を介して接地さ
れたときに、入力端子T10からの指令信号に応答して
ソーストランジスタQ5がオンになり、出力端子(トラ
ンジスタQ5とトランジスタQ6との接続点)にハイレ
ベルの駆動信号(オンパルス信号)を出力する駆動手段
として構成されている。一方、スイッチSW1が開かれ
たときには、入力端子T10に抵抗R11を介して電源
101の電圧が印加されるので、シンクトランジスタQ
6がオンになって出力端子(トランジスタQ5とトラン
ジスタQ6との接続点)のレベルをローレベルに遷移さ
せるようになっている。なお、駆動回路111として
は、バイポーラトランジスタの代わりに、CMOSFE
Tを用いて構成することも可能である。
【0019】上記構成による駆動回路111からの駆動
信号(オンパルス信号)がゲート端子TGに入力される
と各FETQA、QB、QCは導通し、各FETのドレ
イン・ソース電極間の電圧は、図3に示すように、2V
以下に低下する。このとき負荷102が正常状態のとき
には、駆動回路111から駆動信号が出力されている間
は各FETのドレイン・ソース電極間は2V以下に維持
され、FETQAのドレイン電流705が一定になる。
信号(オンパルス信号)がゲート端子TGに入力される
と各FETQA、QB、QCは導通し、各FETのドレ
イン・ソース電極間の電圧は、図3に示すように、2V
以下に低下する。このとき負荷102が正常状態のとき
には、駆動回路111から駆動信号が出力されている間
は各FETのドレイン・ソース電極間は2V以下に維持
され、FETQAのドレイン電流705が一定になる。
【0020】一方、負荷102が短絡すると、負荷10
2に大電流が流れ、負荷102やFETQAが損傷する
恐れがある。
2に大電流が流れ、負荷102やFETQAが損傷する
恐れがある。
【0021】そこで、FETQA、QBのソース電圧を
コンパレータCMP1で監視し、両者の電圧が異常にな
ったときには駆動回路111に駆動信号の出力を強制的
に停止させる構成が採用されている。
コンパレータCMP1で監視し、両者の電圧が異常にな
ったときには駆動回路111に駆動信号の出力を強制的
に停止させる構成が採用されている。
【0022】すなわち、コンパレータCMP1のプラス
入力端子には、FETQAのソース電圧が入力されてお
り、マイナス入力端子にはFETQBのソース電圧が入
力されている。そして、ヒステリシス特性を有するコン
パレータCMP1は、プラス入力端子およびマイナス入
力端子に入力された電圧を比較し、FETQAのソース
電圧とFETQBのソース電圧がほぼ一致していると
き、あるいはFETQAのソース電圧がFETQBのソ
ース電圧よりも高いときに“H”レベルの出力信号を出
力し、FETQAのソース電圧が基準電圧(FETQB
のソース電圧)による許容値から外れたとき、例えば、
負荷102に大電流が流れ、第1の基準抵抗Rr1によ
る基準電圧よりも、FETQAのソース電圧の方が低く
くなったときには、FETQAに異常電流が流れたとし
て“L”レベルの信号を駆動回路111に出力するよう
になっている。駆動回路111はコンパレータCMP1
から“H”レベルの信号が入力されているときには駆動
信号の出力が可能になっているが、“L”レベルの信号
が入力されたときには駆動信号の出力が強制的に停止さ
れるようになっている。すなわちコンパレータCMP1
は駆動停止手段として構成されている。
入力端子には、FETQAのソース電圧が入力されてお
り、マイナス入力端子にはFETQBのソース電圧が入
力されている。そして、ヒステリシス特性を有するコン
パレータCMP1は、プラス入力端子およびマイナス入
力端子に入力された電圧を比較し、FETQAのソース
電圧とFETQBのソース電圧がほぼ一致していると
き、あるいはFETQAのソース電圧がFETQBのソ
ース電圧よりも高いときに“H”レベルの出力信号を出
力し、FETQAのソース電圧が基準電圧(FETQB
のソース電圧)による許容値から外れたとき、例えば、
負荷102に大電流が流れ、第1の基準抵抗Rr1によ
る基準電圧よりも、FETQAのソース電圧の方が低く
くなったときには、FETQAに異常電流が流れたとし
て“L”レベルの信号を駆動回路111に出力するよう
になっている。駆動回路111はコンパレータCMP1
から“H”レベルの信号が入力されているときには駆動
信号の出力が可能になっているが、“L”レベルの信号
が入力されたときには駆動信号の出力が強制的に停止さ
れるようになっている。すなわちコンパレータCMP1
は駆動停止手段として構成されている。
【0023】一方、FETQAがオン状態からオフ状態
に遷移すると、トランジスタQ6がオンになることによ
ってダイオードD1が導通する。この結果、抵抗R1、
ダイオードD1の経路で電流が流れ、コンパレータCM
P1のプラス入力端子の電位は駆動回路111がオン制
御しているときよりも低下する。したがってオフ状態に
遷移した直後より、小さい特定のドレイン・ソース間電
圧の差が生じるまで、すなわちFETQAのソース電圧
がFETQBのソース電圧とほぼ同じになるまで、FE
TQAはオフ状態に維持される。
に遷移すると、トランジスタQ6がオンになることによ
ってダイオードD1が導通する。この結果、抵抗R1、
ダイオードD1の経路で電流が流れ、コンパレータCM
P1のプラス入力端子の電位は駆動回路111がオン制
御しているときよりも低下する。したがってオフ状態に
遷移した直後より、小さい特定のドレイン・ソース間電
圧の差が生じるまで、すなわちFETQAのソース電圧
がFETQBのソース電圧とほぼ同じになるまで、FE
TQAはオフ状態に維持される。
【0024】ところが、配線の短絡などでFETQAが
オフ状態になった場合には、配線の短絡などでドレイン
電流が増加し、FETQAは、ピンチオフ領域を経由し
て、例えば、3極管特性領域での動作状態を経てオフ状
態へ遷移する。この結果、一定時間経過後には、コンパ
レータCMP1のプラス入力端子の電位が高くなり、コ
ンパレータCMP1の出力レベルは“L”レベルから
“H”レベルに変化し、FETQAは再びオン状態に遷
移する。図3に示すように、このような負荷102の短
絡などの異常時のFETQAのドレイン・ソース間電圧
703の周期的な遷移は、スイッチSW1が閉じている
間は継続される。これにより、FETQAのドレイン電
流707が周期的に変動する。FETQAのドレイン・
ソース間電圧703の遷移の周期は配線のインダクタン
スや配線抵抗、FETQAのコンデンサ容量などに基づ
く時定数によって決定される。
オフ状態になった場合には、配線の短絡などでドレイン
電流が増加し、FETQAは、ピンチオフ領域を経由し
て、例えば、3極管特性領域での動作状態を経てオフ状
態へ遷移する。この結果、一定時間経過後には、コンパ
レータCMP1のプラス入力端子の電位が高くなり、コ
ンパレータCMP1の出力レベルは“L”レベルから
“H”レベルに変化し、FETQAは再びオン状態に遷
移する。図3に示すように、このような負荷102の短
絡などの異常時のFETQAのドレイン・ソース間電圧
703の周期的な遷移は、スイッチSW1が閉じている
間は継続される。これにより、FETQAのドレイン電
流707が周期的に変動する。FETQAのドレイン・
ソース間電圧703の遷移の周期は配線のインダクタン
スや配線抵抗、FETQAのコンデンサ容量などに基づ
く時定数によって決定される。
【0025】そこで、FETQAがオンオフする回数を
計数し、この計数値が設定値に達したときにはFETQ
Aを強制的に遮断し、この遮断状態を保持することとし
ている。
計数し、この計数値が設定値に達したときにはFETQ
Aを強制的に遮断し、この遮断状態を保持することとし
ている。
【0026】具体的には、FETQAのオンオフ状態を
計数するための回路としてON/OFF計数回路304
と遮断ラッチ回路306が設けられている(特開平6−
244414号公報参照。)。
計数するための回路としてON/OFF計数回路304
と遮断ラッチ回路306が設けられている(特開平6−
244414号公報参照。)。
【0027】ON/OFF計数回路304は、図2に示
すように、バイポーラトランジスタQ41、Q42、Q
43、nチャネルFETQ44、ダイオードD41、D
42、D43、ツェナーダイオードZD41、抵抗R4
1〜R46を備えて構成されている。
すように、バイポーラトランジスタQ41、Q42、Q
43、nチャネルFETQ44、ダイオードD41、D
42、D43、ツェナーダイオードZD41、抵抗R4
1〜R46を備えて構成されている。
【0028】ツェナーダイオードZD41のカソード側
はFETQAのソース端子Sに接続されており、ソース
端子Sの電圧が正常状態にあるときにはトランジスタQ
43のベースには順バイアス電圧が印加され、トランジ
スタQ43はオン状態にある。このためトランジスタQ
42もオン状態にある。一方、トランジスタQ41はベ
ースが抵抗R41、ダイオードD42を介して駆動回路
111の出力端子に接続されているため、トランジスタ
Q5がオンのとき、すなわち、FETQAがオンのとき
には、トランジスタQ41はオフの状態にある。
はFETQAのソース端子Sに接続されており、ソース
端子Sの電圧が正常状態にあるときにはトランジスタQ
43のベースには順バイアス電圧が印加され、トランジ
スタQ43はオン状態にある。このためトランジスタQ
42もオン状態にある。一方、トランジスタQ41はベ
ースが抵抗R41、ダイオードD42を介して駆動回路
111の出力端子に接続されているため、トランジスタ
Q5がオンのとき、すなわち、FETQAがオンのとき
には、トランジスタQ41はオフの状態にある。
【0029】一方、トランジスタQ6がオンになったと
き、すなわちFETQAがオフになったときにはダイオ
ードD42がトランジスタQ6を介して接地されるた
め、トランジスタQ41がオンになる。トランジスタQ
41がオンになると電源101からの電流がトランジス
タQ41、Q42、抵抗R44を介してコンデンサC1
2に流れ、コンデンサC12が充電される。
き、すなわちFETQAがオフになったときにはダイオ
ードD42がトランジスタQ6を介して接地されるた
め、トランジスタQ41がオンになる。トランジスタQ
41がオンになると電源101からの電流がトランジス
タQ41、Q42、抵抗R44を介してコンデンサC1
2に流れ、コンデンサC12が充電される。
【0030】次に、トランジスタQ5がオフからオンに
遷移するとトランジスタQ41がオフとなり、コンデン
サC12に充電された電荷は抵抗R46を介して放電す
る。このあと再びトランジスタQ6がオンとなってトラ
ンジスタQ41がオンになると、コンデンサC12がさ
らに充電される。
遷移するとトランジスタQ41がオフとなり、コンデン
サC12に充電された電荷は抵抗R46を介して放電す
る。このあと再びトランジスタQ6がオンとなってトラ
ンジスタQ41がオンになると、コンデンサC12がさ
らに充電される。
【0031】このようなオンオフ動作を繰り返す過程
で、コンデンサC12に充電された電荷によってFET
Q44のゲート電圧がしきい値を超えると、FETQ4
4がオンになり、ダイオードD42が導通する。これに
より、温度センサ121の両端がダイオードD43を介
して短絡され、遮断ラッチ回路306にラッチ指令信号
が出力されることになる。すなわち、ON/OFF計数
回路304はラッチ指令手段として構成されている。な
お、ON/OFF回数が設定値に達するまでの時間は、
抵抗R46とコンデンサC12による時定数によって調
整することができる。
で、コンデンサC12に充電された電荷によってFET
Q44のゲート電圧がしきい値を超えると、FETQ4
4がオンになり、ダイオードD42が導通する。これに
より、温度センサ121の両端がダイオードD43を介
して短絡され、遮断ラッチ回路306にラッチ指令信号
が出力されることになる。すなわち、ON/OFF計数
回路304はラッチ指令手段として構成されている。な
お、ON/OFF回数が設定値に達するまでの時間は、
抵抗R46とコンデンサC12による時定数によって調
整することができる。
【0032】遮断ラッチ回路306は、nチャネルFE
TQS、Q11、Q12、Q13、Q14、温度センサ
121、抵抗R31〜R35を備えて構成されており、
FETQSのドレイン電極がFETQAのゲート端子T
Gに接続され、ソース電極がFETQAのソース端子S
に接続されている。温度センサ121は、4個のダイオ
ードが直列接続されて構成されており、半導体チップ1
10の温度が設定温度を超えたときには、両端の電圧が
設定電圧よりも低くなるように構成されている。すなわ
ち、温度センサ121の両端の電圧は、正常時には、F
ETQ11のソース・ゲート電極間のしきい値よりも高
く設定されており、FETQ11は常時オン状態に維持
されている。そして、FETQ11がオンのときには、
FETQ14はオフに、FETQ13がオンに、FET
Q12、FETQSがオフ状態に維持されている。
TQS、Q11、Q12、Q13、Q14、温度センサ
121、抵抗R31〜R35を備えて構成されており、
FETQSのドレイン電極がFETQAのゲート端子T
Gに接続され、ソース電極がFETQAのソース端子S
に接続されている。温度センサ121は、4個のダイオ
ードが直列接続されて構成されており、半導体チップ1
10の温度が設定温度を超えたときには、両端の電圧が
設定電圧よりも低くなるように構成されている。すなわ
ち、温度センサ121の両端の電圧は、正常時には、F
ETQ11のソース・ゲート電極間のしきい値よりも高
く設定されており、FETQ11は常時オン状態に維持
されている。そして、FETQ11がオンのときには、
FETQ14はオフに、FETQ13がオンに、FET
Q12、FETQSがオフ状態に維持されている。
【0033】一方、FETQ44がオンになって温度セ
ンサ121の両端がダイオードD43を介して短絡され
たり、あるいは半導体チップ110の温度が設定温度を
超えて温度センサ121の両端の電圧が設定電圧以下に
低下したりすると、FETQ11がオンからオフになっ
て、FETQ14がオンになる。FETQ14がオンに
なると、FETQ13がオンになるとともにFETQS
がオンになり、FETQAのソース・ゲート電極間がF
ETQSによって短絡され、FETQAが遮断状態にな
る。この短絡状態はラッチ回路を構成するFETQ1
2、Q13によってラッチされる。すなわち、遮断ラッ
チ回路306は、ON/OFF計数回路304のON/
OFF回数が設定値に達したとき、あるいは温度センサ
121によて半導体チップ110の温度が設定温度を超
えたことが検出されたときに、FETQAを非導通状態
にするとともに、この非導通状態をラッチする遮断ラッ
チ手段として構成されている。
ンサ121の両端がダイオードD43を介して短絡され
たり、あるいは半導体チップ110の温度が設定温度を
超えて温度センサ121の両端の電圧が設定電圧以下に
低下したりすると、FETQ11がオンからオフになっ
て、FETQ14がオンになる。FETQ14がオンに
なると、FETQ13がオンになるとともにFETQS
がオンになり、FETQAのソース・ゲート電極間がF
ETQSによって短絡され、FETQAが遮断状態にな
る。この短絡状態はラッチ回路を構成するFETQ1
2、Q13によってラッチされる。すなわち、遮断ラッ
チ回路306は、ON/OFF計数回路304のON/
OFF回数が設定値に達したとき、あるいは温度センサ
121によて半導体チップ110の温度が設定温度を超
えたことが検出されたときに、FETQAを非導通状態
にするとともに、この非導通状態をラッチする遮断ラッ
チ手段として構成されている。
【0034】次に、本実施形態について説明する。
【0035】本実施形態は、前述した電流振動型遮断機
能付きスイッチング・デバイスを主要素として構成され
ており、半導体チップ110の出力端子T3にはコンパ
レータCMP3のプラス入力端子とコネクタ12が接続
されている。コネクタ12は、診断対象としての導体配
線、例えば、ワイヤハーネス14の一端にコネクタ16
を介して接続されている。ワイヤハーネス14の他端に
はコネクタ18が接続されており、このコネクタ18は
コネクタ20、抵抗(直列抵抗)R13を介して接地さ
れている。
能付きスイッチング・デバイスを主要素として構成され
ており、半導体チップ110の出力端子T3にはコンパ
レータCMP3のプラス入力端子とコネクタ12が接続
されている。コネクタ12は、診断対象としての導体配
線、例えば、ワイヤハーネス14の一端にコネクタ16
を介して接続されている。ワイヤハーネス14の他端に
はコネクタ18が接続されており、このコネクタ18は
コネクタ20、抵抗(直列抵抗)R13を介して接地さ
れている。
【0036】一方、コンパレータCMP3の出力端子に
は表示手段としての表示器22が接続されており、コン
パレータCMP3のマイナス入力端子は、抵抗(補助基
準抵抗)R12を介してトランジスタQ1のコレクタに
接続されているとともに、第1の基準抵抗Rr1に接続
されている。トランジスタQ1は診断用スイッチング手
段として構成されており、エミッタが接地され、ベース
に診断用のオンオフ信号が入力されるようになってい
る。そして、トランジスタQ1がオフのときには、基準
抵抗Rr1両端の基準電圧はFETQBの導通により一
定に保たれているが、トランジスタQ1がオンになる
と、基準抵抗Rr1に抵抗12が並列接続されるので、
基準電圧が低下するようになっている。
は表示手段としての表示器22が接続されており、コン
パレータCMP3のマイナス入力端子は、抵抗(補助基
準抵抗)R12を介してトランジスタQ1のコレクタに
接続されているとともに、第1の基準抵抗Rr1に接続
されている。トランジスタQ1は診断用スイッチング手
段として構成されており、エミッタが接地され、ベース
に診断用のオンオフ信号が入力されるようになってい
る。そして、トランジスタQ1がオフのときには、基準
抵抗Rr1両端の基準電圧はFETQBの導通により一
定に保たれているが、トランジスタQ1がオンになる
と、基準抵抗Rr1に抵抗12が並列接続されるので、
基準電圧が低下するようになっている。
【0037】ここで、本実施形態においては、抵抗Rr
1、抵抗R12、抵抗R13の抵抗値が以下のように設
定されている。例えば、ワイヤハーネス14が正常状態
にあって、電流として、例えば10Aが流れるときに
は、この正常時の電流にしたがって抵抗R13の抵抗値
が設定されている。また、正常電流の上限値を12A、
下限値を8Aに設定した場合、トランジスタQ1をオフ
の状態で、ワイヤハーネス14に12Aの電流が流れる
ように、基準抵抗Rr1の抵抗値が設定されいる。さら
に、トランジスタQ1がオンのときには、抵抗R12と
基準抵抗Rr1との合成抵抗値によってワイヤハーネス
14に8Aの電流が流れるように、抵抗R12の抵抗値
が設定されている。
1、抵抗R12、抵抗R13の抵抗値が以下のように設
定されている。例えば、ワイヤハーネス14が正常状態
にあって、電流として、例えば10Aが流れるときに
は、この正常時の電流にしたがって抵抗R13の抵抗値
が設定されている。また、正常電流の上限値を12A、
下限値を8Aに設定した場合、トランジスタQ1をオフ
の状態で、ワイヤハーネス14に12Aの電流が流れる
ように、基準抵抗Rr1の抵抗値が設定されいる。さら
に、トランジスタQ1がオンのときには、抵抗R12と
基準抵抗Rr1との合成抵抗値によってワイヤハーネス
14に8Aの電流が流れるように、抵抗R12の抵抗値
が設定されている。
【0038】次に、各抵抗の抵抗値の具体例について説
明する。例えば、ワイヤハーネス14の正常状態におけ
る抵抗値が0.4オームで、ワイヤハーネス14の正常
電流が10Aのとき、電源101の出力電圧が12Vの
ときには、抵抗R13の抵抗値は0.8オームに設定さ
れ、ワイヤハーネス14と抵抗R13とを合わせた抵抗
値は1.2オームになる。
明する。例えば、ワイヤハーネス14の正常状態におけ
る抵抗値が0.4オームで、ワイヤハーネス14の正常
電流が10Aのとき、電源101の出力電圧が12Vの
ときには、抵抗R13の抵抗値は0.8オームに設定さ
れ、ワイヤハーネス14と抵抗R13とを合わせた抵抗
値は1.2オームになる。
【0039】上記構成において、ワイヤハーネス14の
短絡の有無や抵抗値の異常などを診断するに際しては、
まずトランジスタQ1のベースにオン信号を入力してト
ランジスタQ1をオンにする。トランジスタQ1がオン
になると、基準抵抗Rr1に抵抗12に並列接続され
て、基準電圧が低下する。このときワイヤハーネス14
に10Aの電流が流れたときには、コンパレータCMP
3からは“H”の信号が出力される。すなわち電流が下
限値の8Aよりも高いとしてコンパレータCMP3から
“H”の信号が出力される。
短絡の有無や抵抗値の異常などを診断するに際しては、
まずトランジスタQ1のベースにオン信号を入力してト
ランジスタQ1をオンにする。トランジスタQ1がオン
になると、基準抵抗Rr1に抵抗12に並列接続され
て、基準電圧が低下する。このときワイヤハーネス14
に10Aの電流が流れたときには、コンパレータCMP
3からは“H”の信号が出力される。すなわち電流が下
限値の8Aよりも高いとしてコンパレータCMP3から
“H”の信号が出力される。
【0040】次にトランジスタQ1をオフにしたとき、
すなわち、基準電圧が元の基準電圧にあるとき、ワイヤ
ハーネス14に10Aの電流が流れると、上限値の12
Aよりも低いとして、コンパレータCMP3から“L”
の信号が出力される。
すなわち、基準電圧が元の基準電圧にあるとき、ワイヤ
ハーネス14に10Aの電流が流れると、上限値の12
Aよりも低いとして、コンパレータCMP3から“L”
の信号が出力される。
【0041】この場合、図5に示すように、表示器22
にはトランジスタQ1のオンオフ状態に対応したコンパ
レータCMP3の出力電圧が表示され、この結果からワ
イヤハーネス14は正常状態にあると診断される。
にはトランジスタQ1のオンオフ状態に対応したコンパ
レータCMP3の出力電圧が表示され、この結果からワ
イヤハーネス14は正常状態にあると診断される。
【0042】次にワイヤハーネス14がオープン状態に
あるとき、例えば、コネクタ16の端子が抜けていると
きなどにおいては、トランジスタQ1をオンにしても、
ワイヤハーネス14には電流が流れないため、コンパレ
ータCMP3からは“L”の信号が出力される。一方、
トランジスタQ1をオフにしたときにも、ワイヤハーネ
ス14には電流が流れないため、コンパレータCMP3
からは“L”の信号が出力される。この結果が表示器2
2に表示されると、トランジスタQ1のオンオフ状態に
おける電流が下限値および上限値よりも低いとして、ワ
イヤハーネス14がオープン状態にあると診断される。
あるとき、例えば、コネクタ16の端子が抜けていると
きなどにおいては、トランジスタQ1をオンにしても、
ワイヤハーネス14には電流が流れないため、コンパレ
ータCMP3からは“L”の信号が出力される。一方、
トランジスタQ1をオフにしたときにも、ワイヤハーネ
ス14には電流が流れないため、コンパレータCMP3
からは“L”の信号が出力される。この結果が表示器2
2に表示されると、トランジスタQ1のオンオフ状態に
おける電流が下限値および上限値よりも低いとして、ワ
イヤハーネス14がオープン状態にあると診断される。
【0043】次に、ワイヤハーネス14の抵抗値が異常
値を示している場合、例えば、ワイヤハーネス14の線
路途中がショートし、ワイヤハーネス14の内部抵抗が
0.1オームまで下がった場合、トランジスタQ1をオ
ンにすると、ワイヤハーネス14には13Aの電流が流
れる。すなわち電流i=12ボルト/(ワイヤハーネス
14の内部抵抗0.1オーム+抵抗R3の抵抗値0.
8)=13A 一方、トランジスタQ1をオフにしても、ワイヤハーネ
ス14には13Aの電流が流れるため、コンパレータC
MP3からは“H”の信号が出力される。そして、この
結果が表示器22に表示されると、下限値および上限値
よりも大きい電流が流れたとして、ワイヤハーネス14
がショート状態にあると診断される。
値を示している場合、例えば、ワイヤハーネス14の線
路途中がショートし、ワイヤハーネス14の内部抵抗が
0.1オームまで下がった場合、トランジスタQ1をオ
ンにすると、ワイヤハーネス14には13Aの電流が流
れる。すなわち電流i=12ボルト/(ワイヤハーネス
14の内部抵抗0.1オーム+抵抗R3の抵抗値0.
8)=13A 一方、トランジスタQ1をオフにしても、ワイヤハーネ
ス14には13Aの電流が流れるため、コンパレータC
MP3からは“H”の信号が出力される。そして、この
結果が表示器22に表示されると、下限値および上限値
よりも大きい電流が流れたとして、ワイヤハーネス14
がショート状態にあると診断される。
【0044】次に、ワイヤハーネス14に接続されたコ
ネクタ16または18の接触不良が原因でワイヤハーネ
ス14の抵抗値が増大した場合、例えば抵抗値が1.2
オームに増加した場合、トランジスタQ1をオンにする
と、ワイヤハーネス14には5Aの電流しか流れないた
め、コンパレータCMP3からは“L”の信号が出力さ
れる。またトランジスタQ1をオフにしたときにもワイ
ヤハーネス14には5Aの電流しか流れないため、コン
パレータCMP3からは“L”の信号が出力される。そ
して、この結果が表示器22に表示されると、ワイヤハ
ーネス14の抵抗値が増大したことに伴う異常として、
ワイヤハーネス14がオープン状態にあると診断され
る。
ネクタ16または18の接触不良が原因でワイヤハーネ
ス14の抵抗値が増大した場合、例えば抵抗値が1.2
オームに増加した場合、トランジスタQ1をオンにする
と、ワイヤハーネス14には5Aの電流しか流れないた
め、コンパレータCMP3からは“L”の信号が出力さ
れる。またトランジスタQ1をオフにしたときにもワイ
ヤハーネス14には5Aの電流しか流れないため、コン
パレータCMP3からは“L”の信号が出力される。そ
して、この結果が表示器22に表示されると、ワイヤハ
ーネス14の抵抗値が増大したことに伴う異常として、
ワイヤハーネス14がオープン状態にあると診断され
る。
【0045】本実施形態によれば、出力端子T3からの
電圧をワイヤハーネス14に印加し、ワイヤハーネス1
4に印加された電圧と基準電圧を一定に保ったときの電
圧とを比較するとともに、ワイヤハーネス14に印加さ
れた電圧と基準電圧を可変にしたときの電圧とを比較す
るようにしたため、ワイヤハーネス14の短絡の有無、
抵抗値の異常状態を診断することができる。
電圧をワイヤハーネス14に印加し、ワイヤハーネス1
4に印加された電圧と基準電圧を一定に保ったときの電
圧とを比較するとともに、ワイヤハーネス14に印加さ
れた電圧と基準電圧を可変にしたときの電圧とを比較す
るようにしたため、ワイヤハーネス14の短絡の有無、
抵抗値の異常状態を診断することができる。
【0046】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
診断対象の配線に電圧を印加し、診断対象の配線に印加
された電圧と基準電圧を一定に保った電圧とを比較する
とともに、診断対象の配線に印加された電圧と基準電圧
を変えたときの電圧とを比較し、両者の比較結果を出力
するようにしたので、各比較結果から診断対象の配線の
状態を判定することができ、診断対象の配線の短絡の有
無や抵抗値の異常の有無を診断することが可能になる。
特に、各比較結果を表示することで、診断対象の配線の
状態を容易に判定することができ、診断対象の配線の短
絡の有無や抵抗値の異常の有無を容易に診断することが
可能になる。
診断対象の配線に電圧を印加し、診断対象の配線に印加
された電圧と基準電圧を一定に保った電圧とを比較する
とともに、診断対象の配線に印加された電圧と基準電圧
を変えたときの電圧とを比較し、両者の比較結果を出力
するようにしたので、各比較結果から診断対象の配線の
状態を判定することができ、診断対象の配線の短絡の有
無や抵抗値の異常の有無を診断することが可能になる。
特に、各比較結果を表示することで、診断対象の配線の
状態を容易に判定することができ、診断対象の配線の短
絡の有無や抵抗値の異常の有無を容易に診断することが
可能になる。
【図1】本発明の基礎となる電流振動型遮断機能付きス
イッチング・デバイスのブロック構成図である。
イッチング・デバイスのブロック構成図である。
【図2】図1に示すスイッチング・デバイスの要部回路
構成図である。
構成図である。
【図3】図1に示すスイッチング・デバイスの作用を説
明するための波形図である。
明するための波形図である。
【図4】本発明の一実施形態を示す配線診断装置の要部
構成図である。
構成図である。
【図5】配線診断装置の診断結果を説明するための図で
ある。
ある。
12、16、18、20 コネクタ 14 ワイヤハーネス 22 表示器 110 半導体チップ 111 駆動回路 304 ON/OF計数回路 305 チャージポンプ回路 306 遮断ラッチ回路 QA、QB,QC nチャネルFET Rr1 第1の基準抵抗 Rr2 第2の基準抵抗 CMP1、CMP2、CMP3 コンパレータ
Claims (2)
- 【請求項1】 駆動信号を出力する駆動手段と、診断対
象となる配線の一端と電源を結ぶ電源回路中に挿入され
て前記駆動信号により導通して前記電源回路を閉じる第
1のスイッチング手段と、前記電源の基準電位側と前記
配線の他端とを結ぶ電源回路中に直列に挿入された直列
抵抗と、前記電源から電流の供給を受けて基準電圧を発
生する基準抵抗と、前記電源と前記基準抵抗とを結ぶ分
流回路中に挿入されて前記駆動信号により導通して前記
分流回路を閉じる第2のスイッチング手段と、診断用オ
ンオフ信号に受けて導通または非導通状態に制御される
診断用スイッチング手段と、前記診断用スイッチング手
段が導通したことを条件に前記基準抵抗に並列接続され
て前記基準電圧を低下させる補助基準抵抗と、前記基準
電圧と前記スイッチング手段の出力電圧とを比較し比較
結果を出力する比較手段とを備えてなる配線診断装置。 - 【請求項2】 駆動信号を出力する駆動手段と、診断対
象となる配線の一端と電源を結ぶ電源回路中に挿入され
て前記駆動信号により導通して前記電源回路を閉じる第
1のスイッチング手段と、前記電源の基準電位側と前記
配線の他端とを結ぶ電源回路中に直列に挿入された直列
抵抗と、前記電源から電流の供給を受けて基準電圧を発
生する基準抵抗と、前記電源と前記基準抵抗とを結ぶ分
流回路中に挿入されて前記駆動信号により導通して前記
分流回路を閉じる第2のスイッチング手段と、診断用オ
ンオフ信号に受けて導通または非導通状態に制御される
診断用スイッチング手段と、前記診断用スイッチング手
段が導通したことを条件に前記基準抵抗に並列接続され
て前記基準電圧を低下させる補助基準抵抗と、前記基準
電圧と前記スイッチング手段の出力電圧とを比較して比
較結果を出力する比較手段と、前記比較手段の比較結果
を前記診断用スイッチング手段の導通・非導通状態と関
連づけて表示する表示手段とを備えてなる配線診断装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000023768A JP2000304799A (ja) | 1999-02-19 | 2000-02-01 | 配線診断装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4203399 | 1999-02-19 | ||
| JP11-42033 | 1999-02-19 | ||
| JP2000023768A JP2000304799A (ja) | 1999-02-19 | 2000-02-01 | 配線診断装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000304799A true JP2000304799A (ja) | 2000-11-02 |
Family
ID=26381681
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000023768A Abandoned JP2000304799A (ja) | 1999-02-19 | 2000-02-01 | 配線診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000304799A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007240236A (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-20 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | 負荷異常検出システム |
| JP2009509471A (ja) * | 2005-09-22 | 2009-03-05 | イーストマン コダック カンパニー | 適応型入力セル回路 |
-
2000
- 2000-02-01 JP JP2000023768A patent/JP2000304799A/ja not_active Abandoned
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009509471A (ja) * | 2005-09-22 | 2009-03-05 | イーストマン コダック カンパニー | 適応型入力セル回路 |
| JP2007240236A (ja) * | 2006-03-07 | 2007-09-20 | Sumitomo Wiring Syst Ltd | 負荷異常検出システム |
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Legal Events
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| A131 | Notification of reasons for refusal |
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