JP2000346898A - Inspection apparatus and inspection method for wiring board - Google Patents
Inspection apparatus and inspection method for wiring boardInfo
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 周縁部に外部接続端子を有し中央部に集積回
路素子が搭載される配線板が有する導体パターンの検査
装置に関し、導体パターンの断線の有無と導体パターン
短絡の有無を同時に検査できる検査装置と検査方法の提
供を目的とする。
【解決手段】 上記課題は任意の第1の電極23を選択す
る切り換えユニット4と、導体層52が絶縁層51を介して
第2の電極24に対向するアンテナ部材5と、選択された
第1の電極23に試験電圧を印加する電圧印加部71と、残
りの第1の電極23を介して流れる電流から導体パターン
間の短絡を検出する電流検出部72および絶縁判定部73
と、アンテナ部材5からの入力信号を受信して、導体パ
ターンの断線を検出する信号受信部74および導通判定部
75とを有する本発明の配線板の検査装置によって達成さ
れる。
The present invention relates to an inspection apparatus for a conductor pattern of a wiring board having an external connection terminal on a peripheral portion and an integrated circuit element mounted on a center portion, and relates to a presence / absence of disconnection of the conductor pattern and a short circuit of the conductor pattern. It is an object of the present invention to provide an inspection apparatus and an inspection method that can simultaneously inspect the presence or absence. A switching unit (4) for selecting an arbitrary first electrode (23), an antenna member (5) in which a conductor layer (52) faces a second electrode (24) via an insulating layer (51), and a selected first electrode (23). A voltage application unit 71 for applying a test voltage to the electrodes 23, a current detection unit 72 for detecting a short circuit between the conductor patterns from the current flowing through the remaining first electrodes 23, and an insulation determination unit 73.
And a signal receiving unit 74 for receiving an input signal from the antenna member 5 and detecting disconnection of the conductor pattern, and a conduction determining unit.
75 is achieved by the wiring board inspection apparatus of the present invention.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は周縁部に外部接続端
子を有し中央部に集積回路素子が搭載される配線板が有
する導体パターンの検査装置に係り、特にそれぞれの導
体パターンの断線の有無と導体パターン間の短絡の有無
を同時に検査できる検査装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for inspecting a conductor pattern of a wiring board having an external connection terminal at a peripheral portion and an integrated circuit element mounted at a center portion, and particularly to the presence or absence of disconnection of each conductor pattern. The present invention relates to an inspection apparatus capable of simultaneously inspecting for the presence or absence of a short circuit between a conductor pattern and a conductor pattern.
【0002】近年の集積回路素子の高密度実装化と高集
積度化に伴いそれを搭載する配線板も導体パターンも高
密度に集積形成され、導体パターンの検査に際して導体
パターンの両端に検査プローブを当接させる等の方法は
実施不可能になりつつある。With the recent increase in the density and integration of integrated circuit elements, both the wiring board and the conductor pattern on which they are mounted are integrated and formed at a high density. When inspecting the conductor pattern, inspection probes are provided at both ends of the conductor pattern. Methods such as contacting are becoming impractical.
【0003】それに代わり導体パターンの一端から試験
電圧を印加したとき導体パターンから放出される電磁波
を検出することで、導体パターンの両側電極にプローブ
を当接させることなく断線の有無を検出できる装置の採
用が各社で検討されている。[0003] Instead of this, by detecting an electromagnetic wave emitted from the conductor pattern when a test voltage is applied from one end of the conductor pattern, an apparatus capable of detecting the presence or absence of a disconnection without contacting the probes with both electrodes of the conductor pattern. Recruitment is being considered by each company.
【0004】しかし、従来の検査装置を用いると導体パ
ターンの断線と導体パターン間の短絡とを同時に検査す
ることができない。そこで導体パターンの断線の有無と
導体パターン間の短絡の有無を同時に検査できる検査装
置の開発が要望されている。However, if a conventional inspection apparatus is used, it is not possible to simultaneously inspect a conductor pattern for disconnection and a short circuit between the conductor patterns. Therefore, there is a demand for the development of an inspection apparatus that can simultaneously inspect the presence / absence of disconnection of a conductor pattern and the presence / absence of a short circuit between conductor patterns.
【0005】また、単に導体パターンの断線の有無を検
査できればよい場合も従来の検査装置を用いると検査に
長い時間を要する。そこで導体パターンの断線の有無だ
けを検査する場合には比較的短時間で検査できる検査装
置の開発が要望されている。[0005] In addition, when it is sufficient to simply inspect the presence / absence of disconnection of the conductor pattern, a long time is required for the inspection using a conventional inspection apparatus. Therefore, there is a demand for the development of an inspection apparatus that can inspect in a relatively short time when inspecting only the presence / absence of disconnection of a conductor pattern.
【0006】[0006]
【従来の技術】図4は被検査配線板の一例を示す斜視
図、図5は従来の布線検査機の原理を示す図、図6は従
来の配線板検査装置を示すブロック図、図7は切り換え
ユニットの一例を示す図、図8は従来の配線板検査方法
を示すフローチャートである。2. Description of the Related Art FIG. 4 is a perspective view showing an example of a wiring board to be inspected, FIG. 5 is a view showing the principle of a conventional wiring inspection machine, FIG. 6 is a block diagram showing a conventional wiring board inspection apparatus, and FIG. FIG. 8 shows an example of a switching unit, and FIG. 8 is a flowchart showing a conventional wiring board inspection method.
【0007】図4において集積回路素子1を搭載する配
線板2は例えば絶縁体21の中に複数の導体パターン22が
放射状に配設され、それぞれの導体パターン22は両端に
絶縁体21の表面に露出するように第1の電極23と第2の
電極24とが形成されている。In FIG. 4, a wiring board 2 on which an integrated circuit element 1 is mounted has a plurality of conductor patterns 22 radially arranged in, for example, an insulator 21, and each conductor pattern 22 is provided at both ends on the surface of the insulator 21. A first electrode 23 and a second electrode 24 are formed so as to be exposed.
【0008】配線板2の周縁沿いに配列された第1の電
極23はテスト電極或いは外部回路に接続するための接続
端子として用いられ、配線板2の中央部に配列された第
2の電極24はそれぞれ図示省略されたバンプ等を介し集
積回路素子1に接続される。A first electrode 23 arranged along the periphery of the wiring board 2 is used as a test electrode or a connection terminal for connection to an external circuit, and a second electrode 24 arranged at the center of the wiring board 2 is used. Are connected to the integrated circuit element 1 via bumps and the like, which are not shown.
【0009】プリント配線板の導体パターン検査装置と
して例えば図5(a) に示す布線検査機があり(特許第2
626626号)、布線検査機は発振器31に接続された
アンテナ32と、被検査配線板33の導体パターン34に接続
された受信器35とを有する。As a conductor pattern inspection apparatus for a printed wiring board, for example, there is a wiring inspection apparatus shown in FIG.
626626), the wiring tester has an antenna 32 connected to the oscillator 31 and a receiver 35 connected to the conductor pattern 34 of the wiring board 33 to be tested.
【0010】検査に際して導体パターン34に近接させた
アンテナ32に発振器31から図5(b)に示すサイン波形の
信号を印加すると、図5(c) に示す信号が導体パターン
34から受信器35に入力されメモリ36に予め格納されてい
る基準データと比較される。When a signal having a sine waveform shown in FIG. 5B is applied from the oscillator 31 to the antenna 32 close to the conductor pattern 34 at the time of inspection, the signal shown in FIG.
The data is input to the receiver 35 from 34 and compared with reference data stored in the memory 36 in advance.
【0011】比較器37において受信器35に入力された信
号のレベルとメモリ36に格納されている基準データのレ
ベルとが比較され、両方のレベルがほぼ合致すれば導体
パターンは良品と判定されるがレベルが異なると導体パ
ターンは不良と判定される。In the comparator 37, the level of the signal input to the receiver 35 and the level of the reference data stored in the memory 36 are compared. If both levels substantially match, the conductor pattern is determined to be good. Are different, the conductor pattern is determined to be defective.
【0012】しかし、上記布線検査機は導体パターンの
断線を検出する機能を有するが導体パターン間の短絡を
検出する機能が無い。そこで配線板の検査には図6に示
す如く上記布線検査機の機能に短絡検出機能を付加した
検査装置が用いられている。However, the above-described wiring inspection machine has a function of detecting disconnection of a conductor pattern, but has no function of detecting a short circuit between conductor patterns. In order to inspect the wiring board, as shown in FIG. 6, an inspection apparatus having a function of detecting a short circuit added to the function of the wiring inspection machine is used.
【0013】即ち、従来の配線板検査装置は、第1の電
極23の全てに接続可能な切り換えユニット4と、絶縁層
51を介し第2の電極24の全てに対向可能な導体層52を有
するアンテナ部材5と、被検査配線板2を検査する測定
回路6とで構成されている。That is, the conventional wiring board inspection apparatus includes a switching unit 4 that can be connected to all of the first electrodes 23 and an insulating layer
An antenna member 5 having a conductor layer 52 that can face all of the second electrodes 24 via 51 and a measuring circuit 6 for inspecting the wiring board 2 to be inspected.
【0014】測定回路6は検査に際して対象導体パター
ンにサイン波信号を印加する発振器61、および直流電圧
を印加する直流電源62と、断線を検知する信号受信部65
および導通判定部66と、短絡を検知する電流検出部63お
よび絶縁判定部64を有する。The measuring circuit 6 includes an oscillator 61 for applying a sine wave signal to the conductor pattern to be inspected, a DC power supply 62 for applying a DC voltage, and a signal receiving unit 65 for detecting a disconnection.
And a continuity determination unit 66, a current detection unit 63 for detecting a short circuit, and an insulation determination unit 64.
【0015】切り換えユニット4は例えば図7に示す如
くそれぞれ第1の電極23に接続可能な複数のスイッチ素
子41を具えており、全てのスイッチ素子41は第1の接点
42が発振器61または直流電源62に、第2の接点43が電流
検出部63に接続されている。The switching unit 4 comprises a plurality of switch elements 41, each of which can be connected to a first electrode 23, for example, as shown in FIG.
42 is connected to the oscillator 61 or the DC power supply 62, and the second contact 43 is connected to the current detection unit 63.
【0016】また、スイッチ素子41のコモン端子44はそ
れぞれ対応する第1の電極23に接続されており、1個の
スイッチ素子41を作動させると任意の第1の電極23(図
では上から2番目)が選択され、残りの第1の電極23は
電流検出部63に接続される。The common terminals 44 of the switch elements 41 are connected to the corresponding first electrodes 23, respectively. When one switch element 41 is actuated, any one of the first electrodes 23 (in the figure, two electrodes from the top) Is selected, and the remaining first electrodes 23 are connected to the current detection unit 63.
【0017】導体パターンの検査は図8に示す如く選択
された導体パターンに対して断線の検出と短絡の検出と
が直列的に行われ、被検査配線板2上にアンテナ部材5
を載置し切り換えユニット4を第1の電極23に接続する
ことから検査が開始される。In the inspection of the conductor pattern, detection of disconnection and detection of a short circuit are performed in series on the selected conductor pattern as shown in FIG.
, And the switching unit 4 is connected to the first electrode 23 to start the inspection.
【0018】切り換えユニット4によって選択された第
1の電極23を介し導体パターンに発振器61からサイン波
信号を印加すると、アンテナ部材5に誘起された信号が
信号受信部65に入力され予め設定された基準と比較され
て断線の有無が判定される。When a sine wave signal is applied from the oscillator 61 to the conductor pattern via the first electrode 23 selected by the switching unit 4, the signal induced in the antenna member 5 is input to the signal receiving unit 65 and preset. The presence / absence of disconnection is determined by comparing with a reference.
【0019】次いで導体パターンに直流電源62から直流
電圧を印加し、互いに短絡させた残りの第1の電極23を
介して流れる電流を測定することにより、電圧が印加さ
れた導体パターンと他の導体パターンとの間の絶縁、即
ち短絡の有無が判定される。Next, a DC voltage is applied to the conductor pattern from a DC power supply 62, and the current flowing through the remaining first electrodes 23, which are short-circuited to each other, is measured. The insulation between the pattern and the presence or absence of a short circuit is determined.
【0020】[0020]
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の配線板
の検査は図8に示す如く、選択された導体パターンに対
して断線の検出と短絡の検出とが直列的に行われ、検査
の対象となる導体パターンの数が増加するに伴って検査
に要する時間が増大するという問題があった。However, in the conventional inspection of a wiring board, as shown in FIG. 8, disconnection detection and short-circuit detection are performed in series with respect to a selected conductor pattern, and the inspection target is inspected. There is a problem that the time required for inspection increases as the number of conductor patterns to be formed increases.
【0021】また、検査の目的によっては導体パターン
の短絡は検出できなくても断線の有無だけを検査できれ
ばよい場合もあるが、導体パターン毎に導体パターンの
断線や短絡を検査する従来の検査装置は検査に長時間を
要するという問題があった。Depending on the purpose of the inspection, there may be a case where it is only necessary to inspect the presence / absence of a disconnection even if a short circuit of the conductor pattern cannot be detected, but a conventional inspection apparatus for inspecting the conductor pattern for disconnection or short circuit for each conductor pattern. Has the problem that it takes a long time for inspection.
【0022】本発明の目的は、導体パターンの断線の有
無と導体パターン間の短絡の有無を同時に検査できる検
査装置と検査方法、または導体パターンの断線だけを検
査する場合は比較的短時間で検査できる検査装置と検査
方法を提供することにある。An object of the present invention is to provide an inspection apparatus and an inspection method capable of simultaneously inspecting the presence / absence of a disconnection of a conductor pattern and the presence / absence of a short circuit between conductor patterns, or an inspection in a relatively short time when inspecting only a disconnection of a conductor pattern. It is an object of the present invention to provide an inspection apparatus and an inspection method that can be used.
【0023】[0023]
【課題を解決するための手段】図1は本発明になる配線
板の検査装置を示すブロック図である。なお全図を通し
同じ対象物は同一記号で表している。FIG. 1 is a block diagram showing a wiring board inspection apparatus according to the present invention. The same object is denoted by the same symbol throughout the drawings.
【0024】上記課題は第1の電極23および第2の電極
24を具えた導体パターン22が複数形成された配線板2に
ついて、導体パターンの断線および導体パターン間の短
絡を検査する装置であって、任意の第1の電極23を選択
し、残りの第1の電極23を互いに短絡させる切り換えユ
ニット4と、絶縁層51を介して第2の電極24の全てに誘
電的に結合している導体層52を有するアンテナ部材5
と、測定回路7とを具え、測定回路7は、切り換えユニ
ット4によって選択された第1の電極23に、パルス波形
状の、または電位が急激に変化する試験電圧を印加する
電圧印加部71と、電流検出部72および絶縁判定部73と、
信号受信部74および導通判定部75とを具え、電流検出部
72および絶縁判定部73は、選択された第1の電極23に試
験電圧が印加されたとき、短絡された残りの第1の電極
23を介して流れる電流を検出して、導体パターン間の短
絡の有無を判定する機能を有し、信号受信部74および導
通判定部75は、選択された第1の電極23に試験電圧が印
加されたとき、アンテナ部材5から入力される信号を受
信して、導体パターンの断線の有無を判定する機能を有
する配線板の検査装置によって達成される。The above problem is solved by the first electrode 23 and the second electrode
An apparatus for inspecting a wiring board 2 on which a plurality of conductor patterns 22 having a plurality of conductor patterns 22 are formed for disconnection of the conductor patterns and short-circuits between the conductor patterns, wherein an arbitrary first electrode 23 is selected, and the remaining first electrodes 23 are selected. A switching unit 4 for short-circuiting the electrodes 23 to each other, and an antenna member 5 having a conductor layer 52 dielectrically coupled to all of the second electrodes 24 via an insulating layer 51.
And a measurement circuit 7. The measurement circuit 7 includes a voltage application unit 71 that applies a pulse waveform or a test voltage whose potential changes rapidly to the first electrode 23 selected by the switching unit 4. , A current detection unit 72 and an insulation determination unit 73,
A signal receiving section 74 and a conduction determining section 75;
When a test voltage is applied to the selected first electrode 23, the short-circuited first electrode
The signal receiving unit 74 and the continuity determining unit 75 apply a test voltage to the selected first electrode 23 by detecting a current flowing through the 23 and determining whether there is a short circuit between the conductor patterns. This is achieved by a wiring board inspection apparatus having a function of receiving a signal input from the antenna member 5 and determining whether or not the conductor pattern is disconnected.
【0025】このように選択された第1の電極に例えば
パルス波状の試験電圧を印加する配線板検査装置は、試
験電圧の立ち上がりまたは立ち下がりに同期し、導体パ
ターンの抵抗値に対応した信号が、選択された第1の電
極に対応する導体パターンと第2の電極からアンテナ部
材を介し信号受信部に入力され、信号受信部に入力され
た信号の電圧レベルから導体パターンの断線の有無を判
定することができる。The wiring board inspection apparatus for applying, for example, a pulse-wave test voltage to the first electrode selected in this manner, synchronizes with the rise or fall of the test voltage and generates a signal corresponding to the resistance value of the conductor pattern. The presence or absence of a break in the conductor pattern is determined from the voltage level of the signal input from the conductor pattern corresponding to the selected first electrode and the second electrode to the signal receiving unit via the antenna member via the antenna member, and input to the signal receiving unit. can do.
【0026】しかも、試験電圧の立ち上がり時に、選択
された第1の電極に対応する導体パターンとその他の導
体パターン間の絶縁抵抗に対応する電流が、短絡された
残りの第1の電極を介して電流検出部に流れ、電流値か
ら導体パターン間の短絡有無を判定することができる。
選択された第1の電極に印加される試験電圧はいずれも
同じ電圧であり、電圧を少なくとも1回不連続に変化さ
せることによって、導体パターンの断線の有無と導体パ
ターン間の短絡有無とを同時に判定できる。In addition, when the test voltage rises, a current corresponding to the insulation resistance between the conductor pattern corresponding to the selected first electrode and the other conductor patterns passes through the short-circuited first electrode. The current flows to the current detection unit, and the presence or absence of a short circuit between the conductor patterns can be determined from the current value.
The test voltages applied to the selected first electrodes are all the same, and by changing the voltage at least once discontinuously, the presence / absence of disconnection of the conductor pattern and the presence / absence of a short circuit between the conductor patterns are simultaneously determined. Can be determined.
【0027】また、第1の電極23および第2の電極24を
具えた導体パターン22が複数形成された配線板2につい
て、導体パターン22の断線を検査する装置であって、発
振器と61、絶縁層51を介して第2の電極24の全てに誘電
的に結合している導体層52を有するアンテナ部材5と、
信号受信部65および導通判定部66とを具え、発振器61
は、第1の電極23を介して全ての導体パターン22に、同
時にサイン波またはパルス波の試験用信号を印加可能な
機能を有し、信号受信部65および導通判定部66は、アン
テナ部材5から入力される信号を受信して基準電圧と比
較し、導体パターン22の断線の有無を判定する機能を有
する配線板の検査装置により達成される。An apparatus for inspecting the wiring board 2 on which a plurality of conductor patterns 22 each having a first electrode 23 and a second electrode 24 are formed for disconnection of the conductor pattern 22 comprises an oscillator 61 An antenna member 5 having a conductor layer 52 dielectrically coupled to all of the second electrodes 24 via a layer 51;
The oscillator 61 includes a signal receiving unit 65 and a conduction determining unit 66.
Has a function of simultaneously applying a test signal of a sine wave or a pulse wave to all the conductor patterns 22 via the first electrode 23. The signal receiving unit 65 and the continuity determining unit 66 This is achieved by a wiring board inspection apparatus having a function of receiving a signal input from the PC and comparing it with a reference voltage to determine whether or not the conductor pattern 22 is disconnected.
【0028】このように第1の電極を介して全ての導体
パターンに対し、同時にサイン波またはパルス波の試験
用信号を印加する配線板検査装置は、アンテナ部材を介
し信号受信部に入力される信号の電圧レベルが第2の電
極の数に比例する。したがって、導体パターンに断線が
あれば断線した導体パターンの数に比例して信号の電圧
レベルが低下し、断線のないときの信号の電圧レベルと
比較することによって断線の有無を判定できる。しか
も、全ての導体パターンを同時に検査できるため検査時
間を大幅に短縮することができる。As described above, the wiring board inspection apparatus for simultaneously applying a sine wave or pulse wave test signal to all the conductor patterns via the first electrode is input to the signal receiving unit via the antenna member. The voltage level of the signal is proportional to the number of second electrodes. Therefore, if there is a disconnection in the conductor pattern, the voltage level of the signal decreases in proportion to the number of disconnected conductor patterns, and the presence / absence of the disconnection can be determined by comparing with the voltage level of the signal when there is no disconnection. In addition, since all the conductor patterns can be inspected simultaneously, the inspection time can be greatly reduced.
【0029】即ち、導体パターンの断線の有無と導体パ
ターン間の短絡の有無を同時に検査できる検査装置と検
査方法、または導体パターンの断線だけを検査する場合
は比較的短時間で検査できる検査装置と検査方法を実現
することができる。That is, an inspection apparatus and an inspection method capable of simultaneously inspecting the presence / absence of disconnection of a conductor pattern and the presence / absence of a short circuit between conductor patterns, or an inspection apparatus capable of inspecting in a relatively short time when inspecting only a disconnection of a conductor pattern. An inspection method can be realized.
【0030】[0030]
【発明の実施の形態】以下添付図により本発明の実施例
について説明する。図2は入力波形と検出波形を示す
図、図3は本発明になる配線板検査方法を示すフローチ
ャート、図9は本発明になる別の検査装置を示すブロッ
ク図、図10は別の検査装置の動作原理を説明する図、図
11は別の検査装置の第1の変形例を示す図、図12は別の
検査装置の第2の変形例を示す図、図13は本発明になる
更に別の検査装置を示すブロック図である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 2 is a diagram showing an input waveform and a detected waveform, FIG. 3 is a flowchart showing a wiring board inspection method according to the present invention, FIG. 9 is a block diagram showing another inspection device according to the present invention, and FIG. Diagrams and diagrams explaining the operation principle of
11 is a diagram showing a first modification of another inspection device, FIG. 12 is a diagram showing a second modification of another inspection device, and FIG. 13 is a block diagram showing still another inspection device according to the present invention. is there.
【0031】本発明になる配線板の検査装置は図1に示
す如く切り換えユニット4とアンテナ部材5と測定回路
7とを具えており、アンテナ部材5は被検査配線板2に
載置することで絶縁層51を介し第2の電極24の全てに対
向可能な導体層52を有する。The wiring board inspection apparatus according to the present invention comprises a switching unit 4, an antenna member 5 and a measuring circuit 7 as shown in FIG. 1, and the antenna member 5 is mounted on the wiring board 2 to be inspected. It has a conductor layer 52 that can face all of the second electrodes 24 via the insulating layer 51.
【0032】また、切り換えユニット4は第1の電極23
の全てに接続可能でその中から任意の第1の電極23を1
個選択できる機能と、任意の第1の電極23を選択すると
選択された1個を除き残った第1の電極23を互いに短絡
させる機能とを具えている。The switching unit 4 includes a first electrode 23
Can be connected to any of them, and an arbitrary first electrode 23 can be connected to one of them.
It has a function of selecting an individual first electrode 23 and a function of short-circuiting the remaining first electrodes 23 except for the selected one when an arbitrary first electrode 23 is selected.
【0033】従来の検査装置とは異なり測定回路7が選
択された第1の電極23にパルス波形の試験電圧を印加す
る電圧印加部71と、短絡を検出する電流検出部72および
絶縁判定部73と、断線を検出する信号受信部74および導
通判定部75とを具えている。Unlike the conventional inspection apparatus, the measurement circuit 7 applies a test voltage having a pulse waveform to the selected first electrode 23, a current detection section 72 for detecting a short circuit, and an insulation determination section 73. And a signal receiving section 74 for detecting disconnection and a conduction determining section 75.
【0034】電流検出部72は選択された第1の電極23に
試験電圧が印加されたとき他の第1の電極23を介して流
れる電流を検出し、絶縁判定部73は電流レベルから選択
された電極23に対応する導体パターンと他の導体パター
ンとの短絡有無を判定する。When a test voltage is applied to the selected first electrode 23, the current detecting section 72 detects a current flowing through the other first electrodes 23, and the insulation judging section 73 is selected from the current level. The presence or absence of a short circuit between the conductor pattern corresponding to the electrode 23 and another conductor pattern is determined.
【0035】また、信号受信部74は選択された第1の電
極23に試験電圧が印加されるとアンテナ部材5から入力
される信号を受信し、導通判定部75が入力信号のレベル
から選択された電極23に対応する導体パターンの抵抗を
検知し断線有無を判定する。When a test voltage is applied to the selected first electrode 23, the signal receiving section 74 receives a signal input from the antenna member 5, and the continuity determining section 75 is selected from the level of the input signal. By detecting the resistance of the conductor pattern corresponding to the electrode 23, the presence or absence of disconnection is determined.
【0036】即ち、図2(a) に示す如く電圧印加部71か
ら選択された第1の電極23に対しパルス波形の試験電圧
が印加されると、図2(b) に示す如くパルス波形の立ち
上がりと立ち下がりに同期し信号がアンテナ部材5から
信号受信部74に入力される。That is, when a test voltage having a pulse waveform is applied to the first electrode 23 selected from the voltage applying section 71 as shown in FIG. 2A, the pulse waveform as shown in FIG. A signal is input from the antenna member 5 to the signal receiving unit 74 in synchronization with the rise and fall.
【0037】アンテナ部材5から信号受信部74に入力さ
れる信号のレベルは試験電圧が印加される導体パターン
の導体抵抗値に比例し、例えば導通判定部75において入
力信号のレベルを基準値と比較することにより断線の有
無を判定することができる。The level of the signal input from the antenna member 5 to the signal receiving section 74 is proportional to the conductor resistance of the conductor pattern to which the test voltage is applied. For example, the continuity determining section 75 compares the level of the input signal with a reference value. By doing so, the presence / absence of disconnection can be determined.
【0038】また、図2(a) に示す如く電圧印加部71か
ら選択された第1の電極23に対してパルス波形の試験電
圧が印加されると、図2(c) に示す如く選択された第1
の電極、導体パターン、および残りの第1の電極を介し
電流が電流検出部に流れる。When a test voltage having a pulse waveform is applied to the first electrode 23 selected from the voltage applying section 71 as shown in FIG. 2A, the selection is made as shown in FIG. 2C. First
The current flows to the current detection unit via the electrodes, the conductor pattern, and the remaining first electrodes.
【0039】試験電圧が印加されたとき電流検出部に流
れる電流のレベルは導体パターン間に介在する絶縁抵抗
値に反比例しており、例えば絶縁判定部73において電流
値の大きさを基準値と比較することにより短絡の有無を
判定することが可能になる。When the test voltage is applied, the level of the current flowing in the current detecting section is inversely proportional to the insulation resistance value interposed between the conductor patterns. For example, the magnitude of the current value is compared with the reference value in the insulation determination section 73. By doing so, it is possible to determine the presence or absence of a short circuit.
【0040】本発明になる配線板の検査装置は電圧印加
部71から選択された第1の電極23にパルス波形の試験電
圧を印加することで、断線の有無を判定することができ
断線の有無の判定と並行して導体パターン間の短絡の有
無を判定することができる。The wiring board inspection apparatus according to the present invention can determine the presence / absence of disconnection by applying a test voltage having a pulse waveform to the first electrode 23 selected from the voltage application unit 71. In parallel with the determination, the presence or absence of a short circuit between the conductor patterns can be determined.
【0041】即ち、選択された導体パターンに対し断線
の検出と短絡の検出とが直列的に行われる従来の配線板
の検査方法と異なり、本発明になる配線板の検査方法は
図3に示す如く断線の検出と短絡の検出とが並行して行
われ試験時間が短縮される。That is, unlike the conventional method for inspecting a wiring board in which detection of disconnection and detection of a short circuit are performed in series on a selected conductor pattern, the method for inspecting a wiring board according to the present invention is shown in FIG. As described above, the disconnection detection and the short-circuit detection are performed in parallel, and the test time is reduced.
【0042】なお、前記実施例において電圧印加部71か
ら選択された第1の電極に印加される試験電圧はパルス
波形の電圧であるが、必ずしもパルス波形電圧に限定さ
れることなく検査中に直流電圧をオンオフさせても同等
の効果を得ることができる。In the above embodiment, the test voltage applied to the first electrode selected from the voltage applying unit 71 is a voltage having a pulse waveform. However, the test voltage is not necessarily limited to the pulse waveform voltage. The same effect can be obtained even if the voltage is turned on and off.
【0043】因みに発明者等の実験によれば選択された
導体パターンに試験電圧として 100Vの直流電圧を印加
しオンオフさせると、1V程度の信号電圧が信号受信部
に入力されると共に10μA程度の電流が電流検出部に流
れることが確認されている。According to experiments by the present inventors, when a DC voltage of 100 V is applied as a test voltage to a selected conductor pattern and turned on / off, a signal voltage of about 1 V is input to the signal receiving unit and a current of about 10 μA is supplied. Has been confirmed to flow to the current detection unit.
【0044】このように選択された第1の電極に例えば
パルス波状の試験電圧を印加する配線板検査装置は、試
験電圧の立ち上がりまたは立ち下がりに同期し、導体パ
ターンの抵抗値に対応した信号が、選択された第1の電
極に対応する導体パターンと第2の電極からアンテナ部
材を介し信号受信部に入力され、信号受信部に入力され
た信号の電圧レベルから導体パターンの断線の有無を判
定することができる。The wiring board inspection apparatus that applies, for example, a test voltage in the form of a pulse wave to the first electrode selected as described above, synchronizes with the rise or fall of the test voltage and generates a signal corresponding to the resistance value of the conductor pattern. The presence or absence of a break in the conductor pattern is determined from the voltage level of the signal input from the conductor pattern corresponding to the selected first electrode and the second electrode to the signal receiving unit via the antenna member via the antenna member, and input to the signal receiving unit. can do.
【0045】また、試験電圧の立ち上がり時に、選択さ
れた第1の電極に対応する導体パターンとその他の導体
パターン間の絶縁抵抗に対応する電流が、短絡された残
りの第1の電極を介して電流検出部に流れ、電流値から
導体パターン間の短絡有無を判定することができる。選
択された第1の電極に印加される試験電圧はいずれも同
じ電圧であり、電圧を少なくとも1回不連続に変化させ
ることによって、導体パターンの断線の有無と導体パタ
ーン間の短絡有無とを同時に判定できる。When the test voltage rises, a current corresponding to the insulation resistance between the conductor pattern corresponding to the selected first electrode and the other conductor pattern flows through the short-circuited first electrode. The current flows to the current detection unit, and the presence or absence of a short circuit between the conductor patterns can be determined from the current value. The test voltages applied to the selected first electrodes are all the same, and by changing the voltage at least once discontinuously, the presence / absence of disconnection of the conductor pattern and the presence / absence of a short circuit between the conductor patterns are simultaneously determined. Can be determined.
【0046】配線板の検査は被検査配線板上の全ての導
体パターンに関して断線の有無と短絡有無とを検出でき
ることが望ましいが、検査の目的によっては断線した導
体パターンの特定は困難でも断線の有無が短い時間で検
査できればよい場合もある。In the inspection of the wiring board, it is desirable to be able to detect the presence / absence of disconnection and the presence / absence of a short circuit in all the conductor patterns on the wiring board to be inspected. In some cases, it is only necessary to be able to inspect in a short time.
【0047】本発明になる配線板検査装置の別の検査装
置はこのような要望に対処できるよう構成された検査装
置で図9に示す如く、第1の電極を介し被検査配線板が
有する全ての導体パターンに同時にサイン波信号を印加
可能な発振器を具えている。Another inspection apparatus of the wiring board inspection apparatus according to the present invention is an inspection apparatus configured to cope with such a demand. As shown in FIG. 9, all the wiring boards to be inspected have through a first electrode. And an oscillator capable of simultaneously applying a sine wave signal to the conductor pattern.
【0048】即ち、本発明になる別の検査装置は、例え
ば複数の試験プローブ等を介し第1の電極23の全てに接
続可能な発振器61と、アンテナ部材5と、アンテナ部材
5に接続され断線の有無を検知する信号受信部65および
導通判定部66を具えている。That is, another inspection apparatus according to the present invention includes an oscillator 61 which can be connected to all of the first electrodes 23 via a plurality of test probes or the like, an antenna member 5, and a disconnection connected to the antenna member 5, for example. And a continuity determination unit 66 for detecting the presence / absence of the signal.
【0049】発振器61は第1の電極23を介し被検査配線
板2の全ての導体パターン22に同時にサイン波信号を印
加可能な機能を有し、アンテナ部材5は被検査配線板2
に載置されると絶縁層51を介し第2の電極24の全てに対
向可能な導体層52を有する。The oscillator 61 has a function of simultaneously applying a sine wave signal to all the conductor patterns 22 of the wiring board 2 to be inspected via the first electrode 23.
Has a conductor layer 52 that can face all of the second electrodes 24 via the insulating layer 51 when placed on the substrate.
【0050】図10(a) に示す如く2本の導体パターン22
に対して第1の電極23を介し発振器61から個々にサイン
波信号を印加すると、それぞれの導体パターンの第2の
電極24とアンテナ部材5を介して図10(b) 、図10(c) に
示す受信信号が出力される。As shown in FIG. 10A, two conductor patterns 22
When a sine wave signal is individually applied from the oscillator 61 through the first electrode 23 to the second electrode 24 and the antenna member 5 of each conductor pattern, FIGS. Is output.
【0051】このように発振器61から2本の導体パター
ン22にサイン波信号を個々に印加する場合と異なって同
時に印加する場合、受信信号の電圧レベルは第2の電極
24の数に比例しそれぞれの受信信号の電圧レベルが異な
るときはその合計値になる。As described above, when the sine wave signals are simultaneously applied from the oscillator 61 to the two conductor patterns 22 differently from the case where the sine wave signals are individually applied, the voltage level of the received signal becomes the second electrode.
When the voltage level of each received signal is different in proportion to the number of 24, the sum is the total value.
【0052】その結果、例えば個々にサイン波信号が印
加されたときの受信信号の電圧レベルが、図10(b) 、図
10(c) に示す如くそれぞれ 120mV、 100mVとすると、2
本の導体パターン22に同時に印加された場合には図10
(d) に示す如く 220mVになる。As a result, for example, when the sine wave signal is individually applied, the voltage level of the received signal changes as shown in FIG.
Assuming 120mV and 100mV respectively as shown in 10 (c), 2
When applied simultaneously to the conductor pattern 22 of FIG.
It becomes 220mV as shown in (d).
【0053】したがって、2本の導体パターン22に同時
にサイン波信号が印加されたとき、アンテナ部材5を介
して出力される受信信号の電圧レベルが 120mVまたは 1
00mVであれば、2本の導体パターン22のいずれか1本が
断線していると判定される。Therefore, when a sine wave signal is applied to the two conductor patterns 22 at the same time, the voltage level of the reception signal output via the antenna member 5 is 120 mV or 1 mV.
If it is 00 mV, it is determined that one of the two conductor patterns 22 is disconnected.
【0054】図9に示す検査装置はこのような原理に基
づいたもので検査に際し全ての導体パターン22にサイン
波信号が印加され、全ての第2の電極24から放射される
電磁波はアンテナ部材5により集約され受信信号として
信号受信部65に入力される。The inspection apparatus shown in FIG. 9 is based on such a principle. In the inspection, a sine wave signal is applied to all the conductor patterns 22 and an electromagnetic wave radiated from all the second electrodes 24 is transmitted to the antenna member 5. And are input to the signal receiving unit 65 as a received signal.
【0055】信号受信部65に受信信号が入力されるとそ
の電圧レベルが導通判定部66において予め格納されてい
る基準値と比較され、受信信号の電圧レベルが基準値よ
り低いとき被検査配線板2に断線した導体パターン22が
含まれていると判定される。When a received signal is input to the signal receiving section 65, its voltage level is compared with a reference value stored in advance in a conduction determining section 66. When the voltage level of the received signal is lower than the reference value, the wiring board to be inspected is checked. 2 is determined to include the disconnected conductor pattern 22.
【0056】このように第1の電極を介して全ての導体
パターンに同時にサイン波信号を印加する配線板検査装
置は、アンテナ部材を介し信号受信部に入力される信号
の電圧レベルが第2の電極の数に比例する。したがっ
て、導体パターンに断線があれば断線した導体パターン
の数に比例して信号の電圧レベルが低下し、断線のない
ときの信号の電圧レベルと比較することによって断線の
有無を判定できる。しかも、全ての導体パターンを同時
に検査できるため検査時間が大幅に短縮される。As described above, in the wiring board inspection apparatus for simultaneously applying a sine wave signal to all the conductor patterns via the first electrode, the voltage level of the signal input to the signal receiving unit via the antenna member is changed to the second level. It is proportional to the number of electrodes. Therefore, if there is a disconnection in the conductor pattern, the voltage level of the signal decreases in proportion to the number of disconnected conductor patterns, and the presence / absence of the disconnection can be determined by comparing with the voltage level of the signal when there is no disconnection. In addition, since all the conductor patterns can be inspected at the same time, the inspection time is greatly reduced.
【0057】しかし、図9の検査装置は短時間で導体パ
ターンの断線の有無を検出できるが断線した導体パター
ンを特定できない。次に示す変形例は導体パターンの断
線の有無を短時間で検出すると共に断線した導体パター
ンを特定可能な装置である。However, the inspection apparatus of FIG. 9 can detect the presence / absence of disconnection of the conductor pattern in a short time, but cannot specify the disconnected conductor pattern. The following modified example is an apparatus capable of detecting the presence / absence of disconnection of a conductor pattern in a short time and specifying the disconnected conductor pattern.
【0058】前記検査装置の第1の変形例は図11に示す
如く印加されるサイン波信号の電圧または周波数が導体
パターン毎に異なり、図11(a) に示す変形例は周波数が
同じで電圧の異なるサイン波信号が導体パターン毎に発
振器61から印加されている。In the first modification of the inspection apparatus, the voltage or frequency of the sine wave signal applied differs for each conductor pattern as shown in FIG. 11, and the modification shown in FIG. Are applied from the oscillator 61 for each conductor pattern.
【0059】信号受信部65に受信信号が入力されるとそ
の電圧レベルが導通判定部66において予め格納されてい
る基準値と比較され、受信信号の電圧レベルが基準値よ
り低いとき被検査配線板2に断線した導体パターン22が
含まれていると判定される。When a received signal is input to the signal receiving unit 65, its voltage level is compared with a reference value stored in advance in a conduction determination unit 66, and when the voltage level of the received signal is lower than the reference value, the wiring board to be inspected. 2 is determined to include the disconnected conductor pattern 22.
【0060】それぞれの導体パターンから得られる受信
信号の電圧レベルは発振器61から印加されたサイン波信
号の電圧にほぼ対応し、基準値と受信信号の電圧レベル
との差から逆算することにより断線した導体パターンを
特定することが可能である。The voltage level of the received signal obtained from each conductor pattern substantially corresponds to the voltage of the sine wave signal applied from the oscillator 61, and the disconnection was performed by performing an inverse calculation from the difference between the reference value and the voltage level of the received signal. It is possible to specify the conductor pattern.
【0061】また、図11(b) に示す変形例は電圧が同じ
で周波数の異なるサイン波信号が導体パターン毎に発振
器61から印加され、図示省略されているが受信信号が入
力される信号受信部65は周波数毎に電圧レベルを検出す
る周波数弁別回路を有する。In the modification shown in FIG. 11 (b), a sine wave signal having the same voltage but different frequency is applied from an oscillator 61 for each conductor pattern, and although not shown, a signal receiving signal to which a received signal is input is applied. The unit 65 has a frequency discrimination circuit that detects a voltage level for each frequency.
【0062】したがって、導通判定部66において受信信
号の電圧レベルを周波数毎に予め格納されている基準値
と比較することで、導体パターンの断線の有無を検知す
ると共に欠落した周波数から断線した導体パターンの位
置を特定することができる。Therefore, the continuity determining unit 66 compares the voltage level of the received signal with a reference value stored in advance for each frequency to detect the presence / absence of disconnection of the conductor pattern and to determine whether the conductor pattern is disconnected from the missing frequency. Can be specified.
【0063】図9に示す検査装置は第2の電極と導体層
との間隔および第2の電極のそれぞれと導体層との対向
面積が一定であるが、第2の変形例では図12に示す如く
第2の電極と導体層との間隔が導体パターン毎に異なる
アンテナ部材を具えている。In the inspection apparatus shown in FIG. 9, the distance between the second electrode and the conductor layer and the facing area between each of the second electrodes and the conductor layer are constant, but in the second modification, it is shown in FIG. As described above, the distance between the second electrode and the conductor layer is different for each conductor pattern.
【0064】即ち、アンテナ部材5は第2の電極24との
間隔gが導体パターン毎に変化するように導体層52に段
差が形成されており、段差のある導体層52上に絶縁層51
を形成することでアンテナ部材5が第2の電極24と当接
する面は平坦になっている。That is, the antenna member 5 has a step formed in the conductor layer 52 so that the distance g from the second electrode 24 changes for each conductor pattern, and the insulating layer 51 is formed on the conductor layer 52 having the step.
Is formed, the surface of the antenna member 5 in contact with the second electrode 24 is flattened.
【0065】このように第2の電極24との間隔gを導体
パターン毎に変化させることによって、それぞれの第2
の電極24から放射される電磁波のレベルが同じであって
も、第2の電極24からアンテナ部材5に伝わる受信信号
の電圧レベルに差が生じる。As described above, by changing the distance g from the second electrode 24 for each conductor pattern, each second
Even if the level of the electromagnetic wave radiated from the second electrode 24 is the same, a difference occurs in the voltage level of the received signal transmitted from the second electrode 24 to the antenna member 5.
【0066】信号受信部65に受信信号が入力されるとそ
の電圧レベルが導通判定部66において格納されている基
準値と比較されるが、基準値と受信信号の電圧レベルと
の差から逆算することによって断線した導体パターンを
特定することが可能である。When a received signal is input to the signal receiving section 65, its voltage level is compared with the reference value stored in the conduction determining section 66, but the back calculation is performed from the difference between the reference value and the voltage level of the received signal. This makes it possible to specify the disconnected conductor pattern.
【0067】また、第2の電極24のそれぞれと導体層52
との対向面積が導体パターン毎に異なるよう導体層52を
形成することにより、サイン波信号の電圧レベルや第2
の電極24と導体層52の間隔gが一定であっても受信信号
の電圧レベルに差が生じる。Further, each of the second electrodes 24 and the conductor layer 52
The conductor layer 52 is formed such that the area opposed to the conductor pattern differs for each conductor pattern.
Even if the distance g between the electrode 24 and the conductor layer 52 is constant, a difference occurs in the voltage level of the received signal.
【0068】信号受信部65に受信信号が入力されるとそ
の電圧レベルが導通判定部66において格納されている基
準値と比較されるが、基準値と受信信号の電圧レベルと
の差から逆算することによって断線した導体パターンを
特定することが可能である。When a received signal is input to the signal receiving section 65, its voltage level is compared with the reference value stored in the conduction determining section 66, but the back calculation is performed from the difference between the reference value and the voltage level of the received signal. This makes it possible to specify the disconnected conductor pattern.
【0069】しかし、第2の電極の面積が小さい配線板
を対象とする場合は導体パターン毎に対向面積を変化さ
せることは難しく、導体層の微細加工等でこれを実現し
ても受信信号の電圧レベル差が小さくて断線した導体パ
ターンの特定が困難である。However, in the case of a wiring board having a small area of the second electrode, it is difficult to change the facing area for each conductor pattern. Since the voltage level difference is small, it is difficult to specify a disconnected conductor pattern.
【0070】そこで例えば図12に示す如く第2の電極24
が複数列に分けて配列された配線板を対象として一部に
この技術を適用し、第2の電極24の列と対向する導体層
52の幅w1 、w2 に差を設けることで受信信号の電圧レ
ベルにそれぞれ差が生じる。Therefore, for example, as shown in FIG.
Is applied to a part of a wiring board arranged in a plurality of rows, and a conductor layer facing a row of the second electrodes 24 is applied.
By providing a difference between the widths w 1 and w 2 of 52, a difference occurs in the voltage level of the received signal.
【0071】導体パターン数が増えると前記第2の電極
24と導体層52の間隔gを導体パターン毎に変える方法は
実現が困難であるが、第2の電極24と導体層52との対向
面積を変える方法と組み合わせることで断線した導体パ
ターンの特定が容易になる。When the number of conductor patterns increases, the second electrode
Although it is difficult to realize a method of changing the distance g between the conductor layer 52 and the conductor layer 52 for each conductor pattern, it is possible to identify a conductor pattern that has been disconnected by combining the method with a method of changing the facing area between the second electrode 24 and the conductor layer 52. It will be easier.
【0072】なお、図9では発振器61が第1の電極23に
接続され受信信号がアンテナ部材5から信号受信部65に
入力されているが、発振器61をアンテナ部材5に接続し
全ての第1の電極23を信号受信部65に接続して同等の効
果を得ることも可能である。In FIG. 9, the oscillator 61 is connected to the first electrode 23 and the received signal is input from the antenna member 5 to the signal receiving section 65. It is also possible to obtain the same effect by connecting the electrode 23 to the signal receiving unit 65.
【0073】本発明になる配線板検査装置の更に別の検
査装置は図13に示す如く切り換えユニット4と測定回路
8とを具えており、切り換えユニット4は例えば図7に
示す如くそれぞれ第1の電極23に接続可能な複数のスイ
ッチ素子41を具備している。A further inspection apparatus of the wiring board inspection apparatus according to the present invention comprises a switching unit 4 and a measuring circuit 8 as shown in FIG. A plurality of switch elements 41 connectable to the electrodes 23 are provided.
【0074】スイッチ素子41のコモン端子44はそれぞれ
対応する第1の電極23に接続されており、1個のスイッ
チ素子41を作動させると任意の第1の電極23(図では上
から2番目)が選択され、残りの第1の電極23は短絡さ
れるように構成されている。The common terminals 44 of the switch elements 41 are connected to the corresponding first electrodes 23, respectively. When one switch element 41 is operated, an arbitrary first electrode 23 (second from the top in the figure) Is selected, and the remaining first electrode 23 is configured to be short-circuited.
【0075】また、全てのスイッチ素子41は第1の接点
42がサイン波信号を出力可能な発振器61に一括して接続
されており、発振器61から出力されるサイン波信号はス
イッチ素子41および選択された第1の電極23を介して導
体パターン22に印加される。All the switching elements 41 are connected to the first contact
42 is collectively connected to an oscillator 61 capable of outputting a sine wave signal, and the sine wave signal output from the oscillator 61 is applied to the conductor pattern 22 via the switch element 41 and the selected first electrode 23. Is done.
【0076】測定回路8はサイン波信号を出力可能な発
振器61の他に断線を検知する信号受信部65および導通判
定部66を具えており、全ての第2の電極24から放射され
る電磁波はそれぞれ受信信号としてアンテナ部材5から
信号受信部65に入力される。The measuring circuit 8 includes a signal receiving section 65 for detecting disconnection and a conduction determining section 66 in addition to the oscillator 61 capable of outputting a sine wave signal. Electromagnetic waves radiated from all the second electrodes 24 are Each is input from the antenna member 5 to the signal receiving section 65 as a received signal.
【0077】信号受信部65に受信信号が入力されるとそ
の電圧レベルが導通判定部66において予め格納されてい
る基準値と比較され、受信信号の電圧レベルが基準値よ
り低いときサイン波信号の印加された導体パターン22が
断線していると判定される。When a received signal is input to signal receiving section 65, its voltage level is compared with a reference value stored in advance in conduction determining section 66. When the voltage level of the received signal is lower than the reference value, the sine wave signal It is determined that the applied conductor pattern 22 is disconnected.
【0078】また、選択された導体パターン22が隣接す
る導体パターン22と短絡している場合は、切り換えユニ
ット4を介して全ての導体パターン22にサイン波信号が
印加され、受信信号の電圧レベルが基準値より高くなる
ことから容易に検出できる。When the selected conductor pattern 22 is short-circuited with the adjacent conductor pattern 22, a sine wave signal is applied to all the conductor patterns 22 via the switching unit 4, and the voltage level of the received signal is reduced. Since it is higher than the reference value, it can be easily detected.
【0079】なお、図示省略されているが切り換えユニ
ット4により任意の第1の電極23を選択してサイン波信
号を印加すると共に、残った第1の電極23を短絡して関
連する導体パターンの全てを接地回路に接続するように
構成することも可能である。Although not shown, the switching unit 4 selects an arbitrary first electrode 23, applies a sine wave signal, and short-circuits the remaining first electrode 23 to form an associated conductor pattern. It is also possible to configure so that everything is connected to the ground circuit.
【0080】この場合は受信信号の電圧レベルが基準値
より低いときサイン波信号の印加された導体パターン22
の断線と判定され、隣接する導体パターン22と短絡して
いる場合には受信信号の電圧レベルが接地レベルになる
ことから容易に検出できる。In this case, when the voltage level of the received signal is lower than the reference value, the conductor pattern 22 to which the sine wave signal is applied
Is determined to be disconnected, and when the adjacent conductor pattern 22 is short-circuited, the voltage level of the received signal becomes the ground level, which can be easily detected.
【0081】このように切り換えユニットを介し個々の
導体パターンにサイン波信号を印加する本発明の更に別
の検査装置は、全ての導体パターンに同時にサイン波信
号を印加する前記本発明の別の検査装置に比べ検査時間
が長くなるが、個々の導体パターンにサイン波信号また
は直流電圧を順次印加して、導体パターンの短絡を検出
する従来の検査装置に比べ検査時間を大幅に短縮でき
る。しかも前記本発明の別の検査装置は断線した導体パ
ターンの特定が困難であるが、本発明の更に別の検査装
置は断線した導体パターンの特定を容易にできるという
特徴を有する。As described above, still another inspection apparatus of the present invention for applying a sine wave signal to each conductor pattern via the switching unit is the other inspection apparatus of the invention for applying a sine wave signal to all conductor patterns simultaneously. Although the inspection time is longer than that of the apparatus, the inspection time can be greatly reduced as compared with the conventional inspection apparatus that sequentially applies a sine wave signal or a DC voltage to each conductor pattern and detects a short circuit of the conductor pattern. Moreover, it is difficult to specify the broken conductor pattern in the another inspection apparatus of the present invention, but the other inspection apparatus of the present invention is characterized in that the broken conductor pattern can be easily specified.
【0082】図13に示す本発明の配線板検査装置の更に
別の検査装置は導体パターンの選択手段として切り換え
ユニットを有するが、切り換えユニットに変えて例えば
発振器61に接続された1本の試験プローブを第1の電極
23に順次接触させてもよい。A further inspection apparatus of the wiring board inspection apparatus of the present invention shown in FIG. 13 has a switching unit as means for selecting a conductor pattern. For example, one test probe connected to an oscillator 61 instead of the switching unit The first electrode
23 may be sequentially contacted.
【0083】しかし、この場合は試験プローブの接触し
た第1の電極23にサイン波信号が印加され導体パターン
の断線は検出されるが、隣接した導体パターンに関する
第1の電極23はフリーになっていて導体パターンの短絡
を検出することができない。In this case, however, a sine wave signal is applied to the first electrode 23 in contact with the test probe, and the disconnection of the conductor pattern is detected. However, the first electrode 23 related to the adjacent conductor pattern is free. Therefore, a short circuit of the conductor pattern cannot be detected.
【0084】[0084]
【発明の効果】上述の如く本発明によれば導体パターン
の断線の有無と導体パターン間の短絡の有無を同時に検
査できる、または導体パターンの断線だけを検査する場
合は比較的短時間で検査できる検査装置と検査方法を提
供することができる。As described above, according to the present invention, the presence / absence of disconnection of the conductor pattern and the presence / absence of a short circuit between the conductor patterns can be inspected simultaneously, or when inspecting only the disconnection of the conductor pattern, the inspection can be performed in a relatively short time. An inspection device and an inspection method can be provided.
【図1】 本発明になる配線板の検査装置を示すブロッ
ク図である。FIG. 1 is a block diagram showing a wiring board inspection apparatus according to the present invention.
【図2】 入力波形と検出波形を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing an input waveform and a detection waveform.
【図3】 本発明になる配線板検査方法を示すフローチ
ャートである。FIG. 3 is a flowchart showing a wiring board inspection method according to the present invention.
【図4】 被検査配線板の一例を示す斜視図である。FIG. 4 is a perspective view showing an example of a wiring board to be inspected.
【図5】 従来の布線検査機の原理を示す図である。FIG. 5 is a diagram showing the principle of a conventional wiring inspection machine.
【図6】 従来の配線板検査装置を示すブロック図であ
る。FIG. 6 is a block diagram showing a conventional wiring board inspection apparatus.
【図7】 切り換えユニットの一例を示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a switching unit.
【図8】 従来の配線板検査方法を示すフローチャート
である。FIG. 8 is a flowchart showing a conventional wiring board inspection method.
【図9】 本発明になる別の検査装置を示すブロック図
である。FIG. 9 is a block diagram showing another inspection apparatus according to the present invention.
【図10】 別の検査装置の動作原理を説明する図であ
る。FIG. 10 is a diagram illustrating the operation principle of another inspection apparatus.
【図11】 別の検査装置の第1の変形例を示す図であ
る。FIG. 11 is a view showing a first modification of another inspection apparatus.
【図12】 別の検査装置の第2の変形例を示す図であ
る。FIG. 12 is a view showing a second modified example of another inspection apparatus.
【図13】 本発明になる更に別の検査装置を示すブロ
ック図である。FIG. 13 is a block diagram showing still another inspection apparatus according to the present invention.
2 被検査配線板 4 切り換えユニット 5 アンテナ部材 7 測定回路 8 測定回路 22 導体パターン 23 第1の電極 24 第2の電極 41 スイッチ素子 44 コモン端子 51 絶縁層 52 導体層 61 発振器 65 信号受信部 66 導通判定部 71 電圧印加部 72 電流検出部 73 絶縁判定部 74 信号受信部 75 導通判定部 2 Wiring board to be inspected 4 Switching unit 5 Antenna member 7 Measurement circuit 8 Measurement circuit 22 Conductor pattern 23 First electrode 24 Second electrode 41 Switch element 44 Common terminal 51 Insulating layer 52 Conductive layer 61 Oscillator 65 Signal receiver 66 Conduction Judgment unit 71 Voltage application unit 72 Current detection unit 73 Insulation judgment unit 74 Signal reception unit 75 Continuity judgment unit
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 村田 寿憲 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 Fターム(参考) 2G014 AA02 AA03 AA13 AB59 AC09 ────────────────────────────────────────────────── ─── Continued on the front page (72) Inventor Toshinori Murata 4-1-1, Kamiodanaka, Nakahara-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa F-term in Fujitsu Limited (reference) 2G014 AA02 AA03 AA13 AB59 AC09
Claims (8)
体パターンが複数形成された配線板について、該導体パ
ターンの断線、および該導体パターン間の短絡を検査す
る装置であって、 任意の該第1の電極を選択し、残りの該第1の電極を互
いに短絡させる切り換えユニットと、絶縁層を介して該
第2の電極の全てに誘電的に結合している導体層を有す
るアンテナ部材と、測定回路とを具え、 該測定回路は、該切り換えユニットによって選択された
該第1の電極に、電位が瞬時に変化する試験電圧、また
はパルス波形の試験電圧を印加する電圧印加部と、電流
検出部および絶縁判定部と、信号受信部および導通判定
部とを具え、 該電流検出部および該絶縁判定部は、選択された該第1
の電極に該試験電圧が印加されたとき、短絡された残り
の該第1の電極を介して流れる電流を検出して、該導体
パターン間の短絡の有無を判定する機能を有し、 該信号受信部および該導通判定部は、選択された該第1
の電極に該試験電圧が印加されたとき、該アンテナ部材
から入力される信号を受信して、該導体パターンの断線
の有無を判定する機能を有することを特徴とする配線板
の検査装置。1. An apparatus for inspecting a wiring board on which a plurality of conductor patterns having a first electrode and a second electrode are formed for disconnection of the conductor patterns and short-circuit between the conductor patterns, Having a switching unit for selecting said first electrode and short-circuiting the remaining first electrodes to each other, and a conductor layer dielectrically coupled to all of said second electrodes via an insulating layer A voltage application unit comprising: a member; and a measurement circuit, wherein the measurement circuit applies a test voltage whose potential changes instantaneously or a test voltage having a pulse waveform to the first electrode selected by the switching unit. , A current detecting unit and an insulation determining unit, and a signal receiving unit and a conduction determining unit, wherein the current detecting unit and the insulation determining unit
When the test voltage is applied to the electrodes of the first electrode, a current flowing through the remaining first electrode that has been short-circuited is detected to determine whether there is a short circuit between the conductor patterns. The receiving unit and the continuity determining unit are connected to the selected first terminal.
A wiring board inspection apparatus having a function of receiving a signal input from the antenna member when the test voltage is applied to the electrode and determining whether or not the conductor pattern is disconnected.
体パターンが複数形成された配線板について、該導体パ
ターンの断線、および該導体パターン間の短絡を検査す
る方法であって、 任意の該第1の電極を選択し、残りの該第1の電極を互
いに短絡させる切り換えユニットと、絶縁層を介して該
第2の電極の全てに誘電的に結合している導体層を有す
るアンテナ部材と、測定回路とを具え、 該測定回路は、該切り換えユニットによって選択された
該第1の電極に、電位が瞬時に変化する試験電圧、また
はパルス波形の試験電圧を印加する電圧印加部と、電流
検出部および絶縁判定部と、信号受信部および導通判定
部とを具え、 該電流検出部および該絶縁判定部は、選択された該第1
の電極に該試験電圧が印加されたとき、短絡された残り
の該第1の電極を介して流れる電流を検出して、該導体
パターン間の短絡の有無を判定する機能を有し、 該信号受信部および該導通判定部は、選択された該第1
の電極に該試験電圧が印加されたとき、該アンテナ部材
から入力される信号を受信して、該導体パターンの断線
の有無を判定する機能を有する配線板の検査装置を用い
て、 試験電圧が印加されたとき、該アンテナ部材から信号受
信部に入力される信号のレベルが、基準値を超していれ
ば選択された該第1の電極に対応する導体パターンに断
線が無く、基準値以下であれば該導体パターンに断線が
あると判定し、 短絡された残りの第1の電極を介して流れる電流値が、
基準値を超していれば選択された第1の電極に対応する
導体パターンと他の導体パターンとが短絡し、基準値以
下であれば短絡は無いと判定することを特徴とする配線
板の検査方法。2. A method for inspecting a wiring board on which a plurality of conductor patterns having a first electrode and a second electrode are formed for disconnection of the conductor pattern and short-circuit between the conductor patterns, Having a switching unit for selecting said first electrode and short-circuiting the remaining first electrodes to each other, and a conductor layer dielectrically coupled to all of said second electrodes via an insulating layer A voltage application unit comprising: a member; and a measurement circuit, wherein the measurement circuit applies a test voltage whose potential changes instantaneously or a test voltage having a pulse waveform to the first electrode selected by the switching unit. , A current detecting unit and an insulation determining unit, and a signal receiving unit and a conduction determining unit, wherein the current detecting unit and the insulation determining unit
When the test voltage is applied to the electrodes of the first electrode, a current flowing through the remaining first electrode that has been short-circuited is detected to determine whether there is a short circuit between the conductor patterns. The receiving unit and the continuity determining unit are connected to the selected first terminal.
When the test voltage is applied to the electrodes, a signal input from the antenna member is received, and the test voltage is reduced by using a wiring board inspection apparatus having a function of determining whether or not the conductor pattern is disconnected. When the voltage is applied, if the level of the signal input from the antenna member to the signal receiving portion exceeds the reference value, there is no disconnection in the conductor pattern corresponding to the selected first electrode, and is equal to or less than the reference value. If so, it is determined that there is a break in the conductor pattern, and the value of the current flowing through the short-circuited first electrode is
The conductor pattern corresponding to the selected first electrode is short-circuited with another conductor pattern if the reference value is exceeded, and it is determined that there is no short-circuit if the conductor pattern is less than the reference value. Inspection methods.
体パターンが複数形成された配線板について、該導体パ
ターンの断線を検査する装置であって、 発振器と、絶縁層を介して該第2の電極の全てに誘電的
に結合している導体層を有するアンテナ部材と、信号受
信部および導通判定部とを具え、 該発振器は、該第1の電極を介して全ての該導体パター
ンに、同時にサイン波形またはパルス波形の試験用信号
を印加可能な機能を有し、 該信号受信部および該導通判定部は、該アンテナ部材か
ら入力される信号を受信して基準電圧と比較し、該導体
パターンの断線の有無を判定する機能を有することを特
徴とする配線板の検査装置。3. An apparatus for inspecting a wiring board on which a plurality of conductor patterns each having a first electrode and a second electrode are formed for disconnection of the conductor pattern, comprising: an oscillator; An antenna member having a conductor layer inductively coupled to all of the second electrodes; a signal receiving unit and a continuity determining unit; and the oscillator includes all of the conductor patterns via the first electrodes. A function of simultaneously applying a test signal of a sine waveform or a pulse waveform, wherein the signal receiving unit and the continuity determining unit receive a signal input from the antenna member, compare the signal with a reference voltage, An inspection apparatus for a wiring board, having a function of determining the presence / absence of disconnection of the conductor pattern.
前記試験用信号は、周波数および信号レベルが等しい信
号、または導体パターン毎に周波数若しくは信号レベル
が異なる信号である請求項3記載の配線板の検査装置。4. The wiring board according to claim 3, wherein the test signal applied to all the conductor patterns at the same time is a signal having the same frequency and signal level or a signal having a different frequency or signal level for each conductor pattern. Inspection equipment.
層との間隔が導体パターン毎に異なるか、または第2の
電極と導体層との対向面積が導体パターン毎に異なるよ
う形成された請求項3記載の配線板の検査装置。5. The antenna member is formed such that an interval between a second electrode and a conductor layer is different for each conductor pattern, or an area of opposition between the second electrode and the conductor layer is different for each conductor pattern. The inspection apparatus for a wiring board according to claim 3.
体パターンが複数形成された配線板について、該導体パ
ターンの断線を検査する方法であって、 発振器と、絶縁層を介して該第2の電極の全てに誘電的
に結合している導体層を有するアンテナ部材と、信号受
信部および導通判定部とを具え、 該発振器は、該第1の電極を介して全ての該導体パター
ンに、同時にサイン波形またはパルス波形の試験用信号
を印加可能な機能を有し、 該信号受信部および該導通判定部は、該アンテナ部材か
ら入力される信号を受信して基準電圧と比較し、該導体
パターンの断線の有無を判定する機能を有する配線板の
検査装置を用い、 該アンテナ部材を第2の電極の全てに対向するよう被検
査配線板上に載置し、該第1の電極または該アンテナ部
材を介して全ての導体パターンに、サイン波形またはパ
ルス波形の試験用信号を同時に印加すると共に、該アン
テナ部材または全ての該第1の電極から入力される信号
を受信し、 該信号の出力電圧が、断線した導体パターンの数に比例
して低下することを利用して、該信号の出力電圧を断線
がない時の基準出力電圧と比較し、該導体パターンの断
線の有無を検知することを特徴とする配線板の検査方
法。6. A method of inspecting a wiring board on which a plurality of conductor patterns having a first electrode and a second electrode are formed for disconnection of the conductor pattern, comprising: an oscillator and an insulating layer interposed therebetween. An antenna member having a conductor layer inductively coupled to all of the second electrodes; a signal receiving unit and a continuity determining unit; and the oscillator includes all of the conductor patterns via the first electrodes. A function of simultaneously applying a test signal of a sine waveform or a pulse waveform, wherein the signal receiving unit and the continuity determining unit receive a signal input from the antenna member, compare the signal with a reference voltage, The antenna member is placed on the wiring board to be inspected so as to face all of the second electrodes by using a wiring board inspection apparatus having a function of determining whether or not the conductor pattern is disconnected. Or through the antenna member A test signal of a sine waveform or a pulse waveform was simultaneously applied to all the conductor patterns, and a signal input from the antenna member or all of the first electrodes was received. The output voltage of the signal was disconnected. Wiring characterized by comparing the output voltage of the signal with a reference output voltage when there is no disconnection and detecting the presence or absence of a disconnection of the conductor pattern by utilizing the fact that the conductor pattern decreases in proportion to the number of the conductor patterns. Board inspection method.
体パターンが複数形成された配線板について、該導体パ
ターンの断線、および該導体パターン間の短絡を検査す
る装置であって、 全ての該第1の電極に接続され任意の該第1の電極を選
択すると共に残りの該第1の電極を短絡させる切り換え
ユニットと、絶縁層を介して該第2の電極の全てに誘電
的に結合している導体層を有するアンテナ部材と、測定
回路とを具え、 該測定回路は、該切り換えユニットにより選択された該
第1の電極に、サイン波形またはパルス波形の試験用波
信号を印加する発振器と、信号受信部および導通判定部
とを具え、 該信号受信部および該導通判定部は、該第1の電極に試
験用信号が印加されたとき、該アンテナ部材から入力さ
れる信号を受信して、該導体パターンの断線または短絡
の有無を検知する機能を有することを特徴とする配線板
の検査装置。7. An apparatus for inspecting a wiring board on which a plurality of conductor patterns each having a first electrode and a second electrode are formed for disconnection of the conductor patterns and short-circuit between the conductor patterns, A switching unit connected to the first electrode for selecting any of the first electrodes and short-circuiting the remaining first electrodes; and a dielectric unit for all of the second electrodes via an insulating layer. An antenna member having a conductor layer coupled thereto, and a measurement circuit, wherein the measurement circuit applies a test wave signal having a sine waveform or a pulse waveform to the first electrode selected by the switching unit. An oscillator, a signal receiving unit and a conduction determining unit, wherein the signal receiving unit and the conduction determining unit receive a signal input from the antenna member when a test signal is applied to the first electrode. And the conductor A wiring board inspection device having a function of detecting the presence or absence of disconnection or short circuit of a pattern.
体パターンが複数形成された配線板について、該導体パ
ターンの断線、および該導体パターン間の短絡を検査す
る方法であって、 全ての該第1の電極に接続され任意の該第1の電極を選
択すると共に残りの該第1の電極を短絡させる切り換え
ユニットと、絶縁層を介して該第2の電極の全てに誘電
的に結合している導体層を有するアンテナ部材と、測定
回路とを具え、 該測定回路は、該切り換えユニットにより選択された該
第1の電極に、サイン波形またはパルス波形の試験用波
信号を印加する発振器と、信号受信部および導通判定部
とを具え、 該信号受信部および該導通判定部は、該第1の電極に試
験用信号が印加されたとき、該アンテナ部材から入力さ
れる信号を受信して、該導体パターンの断線ま たは短絡の有無を検知する機能を有する配線板の検査装
置を用いて、該アンテナ部材を第2の電極の全てに対向
するよう被検査配線板上に載置し、 該切り換えユニットまたは該アンテナ部材を介して全て
の導体パターンに、サイン波形またはパルス波形の試験
用信号を同時に印加すると共に、該アンテナ部材または
該切り換えユニットを介して入力される信号を受信し、 導体パターンが断線していれば該信号の出力電圧が低下
し、隣接する導体パターンと短絡していれば該信号の出
力電圧が増大することを利用して、該導体パターンの断
線と短絡の有無を検知することを特徴とする配線板の検
査方法。8. A method for inspecting a wiring board on which a plurality of conductor patterns having a first electrode and a second electrode are formed for disconnection of the conductor pattern and short-circuit between the conductor patterns, A switching unit connected to the first electrode for selecting any of the first electrodes and short-circuiting the remaining first electrodes; and a dielectric unit for all of the second electrodes via an insulating layer. An antenna member having a conductor layer coupled thereto, and a measurement circuit, wherein the measurement circuit applies a test wave signal having a sine waveform or a pulse waveform to the first electrode selected by the switching unit. An oscillator, a signal receiving unit and a conduction determining unit, wherein the signal receiving unit and the conduction determining unit receive a signal input from the antenna member when a test signal is applied to the first electrode. And the conductor The antenna member is placed on the wiring board to be inspected so as to face all of the second electrodes by using a wiring board inspection apparatus having a function of detecting the presence or absence of disconnection or short circuit of the pattern. A sine waveform or a pulse waveform test signal is simultaneously applied to all conductor patterns via the unit or the antenna member, and a signal input via the antenna member or the switching unit is received. If the wire is broken, the output voltage of the signal decreases, and if the wire is short-circuited with an adjacent conductor pattern, the output voltage of the signal increases. A method for inspecting a wiring board, comprising:
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