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JP2000260931A - 半導体装置およびその製造方法 - Google Patents

半導体装置およびその製造方法

Info

Publication number
JP2000260931A
JP2000260931A JP11058478A JP5847899A JP2000260931A JP 2000260931 A JP2000260931 A JP 2000260931A JP 11058478 A JP11058478 A JP 11058478A JP 5847899 A JP5847899 A JP 5847899A JP 2000260931 A JP2000260931 A JP 2000260931A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor device
semiconductor
package
semiconductor chip
package body
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP11058478A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideaki Kameyama
英明 亀山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi Solutions Technology Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi ULSI Systems Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi ULSI Systems Co Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP11058478A priority Critical patent/JP2000260931A/ja
Publication of JP2000260931A publication Critical patent/JP2000260931A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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Classifications

    • H10W72/5449
    • H10W72/5522
    • H10W72/932
    • H10W74/00
    • H10W90/756

Landscapes

  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 連結可能な複数の半導体装置における交換を
自在とし、かつ実装基板上への実装密度の向上を図る。 【解決手段】 半導体チップ1が組み込まれ、かつ相互
に連結可能な連結部4bが外周に形成されたパッケージ
本体4と、パッケージ本体4の連結部4bに露出して設
けられ、かつ半導体チップ1のパッド1bに対応してこ
れと電気的に接続されたアウタリード2aと、アウタリ
ード2aと繋がって形成されたインナリード2bと、半
導体チップ1を支持するタブ2cと、半導体チップ1の
パッド1bとインナリード2bとを電気的に接続するボ
ンディングワイヤ3とからなり、複数のパッケージ本体
4同士を連結部4bを介して機械的に連結した際に、相
互のアウタリード2aが電気的に接続するように、かつ
取り外し自在に連結可能な構造である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体製造技術に
関し、特に、複数の半導体装置を備えたモジュール製品
やシステム製品に適用して有効な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】以下に説明する技術は、本発明を研究、
完成するに際し、本発明者によって検討されたものであ
り、その概要は次のとおりである。
【0003】複数の半導体装置を備えたモジュール製品
やシステム製品(例えば、システムLSI(Large Scal
e Integration)、メモリモジュールまたはシステムボー
ドなど)を製造する場合、実装基板(またはモジュール
基板)上に配線パターンを形成して、これにより、各半
導体装置に組み込まれた半導体チップのそれぞれに対応
する表面電極同士を電気的に接続している。
【0004】そこで、システムLSIでは、シリコンの
半導体ウェハ上で各機能を集積した1チップ化を図って
おり、この半導体チップを搭載した半導体装置をシステ
ム製品としている。
【0005】また、メモリモジュールでは、それぞれに
メモリチップを有した複数の半導体装置をモジュール基
板上に搭載してこれをモジュール製品としている。
【0006】さらに、システムボードでは、それぞれに
異なった機能の半導体チップを有した複数の半導体装置
を実装基板上にはんだ実装し、これをシステム製品とし
ている。
【0007】なお、メモリモジュールについては、例え
ば、株式会社工業調査会、1993年9月1日発行「電
子材料9月号」、33〜39頁に記載されている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところが、前記した技
術のメモリモジュールやシステムボードでは、実装基板
(モジュール基板)上においてこれに形成された配線パ
ターンによって各半導体装置が電気的に接続されるた
め、実装基板にこの配線パターンを形成する配線領域が
必要となり、その結果、実装基板上での半導体装置の実
装密度の向上が難しいことが問題となる。
【0009】また、システムLSIについては、メモリ
部、CPU(Central Processing Unit)部、ゲートアレ
イ部などの各機能を1チップ化するため、半導体チップ
が大形化する。そこで、チップサイズを抑えるために
は、微細化プロセスを採用しなければならないが、微細
化プロセスを採用した場合には、微小異物による欠陥不
良の発生の可能性が高くなることが考えられ、1チップ
化されたシステムLSIでは、チップ内の一部機能が故
障した際、システムLSIを再生することが不可能であ
り、システムLSIの歩留りの低下およびコスト高を引
き起こすことが問題となる。
【0010】本発明の目的は、交換自在で、かつ実装基
板上の実装密度の向上を図る半導体装置およびその製造
方法を提供することにある。
【0011】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0012】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0013】すなわち、本発明の半導体装置は、半導体
チップが組み込まれ、相互に連結可能な連結部が外周に
形成されたパッケージ本体と、前記パッケージ本体の前
記連結部に露出して設けられ、前記半導体チップの表面
電極に対応してこれと電気的に接続された外部端子であ
るアウタリードと、前記連結部を介して異なったパッケ
ージ本体同士を連結させた際に、相互の前記半導体チッ
プの対応する前記表面電極同士を相互の前記アウタリー
ドを介して電気的に接続する配線部とを有し、異なった
パッケージ本体同士を前記連結部を介して機械的に連結
した際に、相互の前記アウタリードが電気的に接続する
ように取り外し自在に連結し得るものである。
【0014】これにより、半導体装置をブロック化する
ことができるとともに、組み合わせた半導体装置の交換
が可能となる。
【0015】その結果、半導体装置を機械的に組み合わ
せて実装基板上に実装することができ、これにより、複
数の半導体装置を実装基板に実装する際に、半導体装置
同士を電気的に接続させる配線パターンを実装基板に設
ける必要がなくなる。
【0016】したがって、実装基板上の半導体装置の実
装密度を向上できる。
【0017】また、本発明の半導体装置の製造方法は、
半導体チップを内部に備え、相互に連結可能な外周の連
結部に前記半導体チップの表面電極に対応して電気的に
接続されたアウタリードを配置したパッケージ本体を形
成する工程を有し、異なったパッケージ本体同士を前記
連結部を介して機械的に連結した際に、相互の前記半導
体チップの対応する前記表面電極同士が相互の前記アウ
タリードを介して電気的に接続するように取り外し自在
に連結し得る半導体装置を組み立てるものである。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。
【0019】図1は本発明の半導体装置の内部構造の実
施の形態の一例を示す図であり、(a),(c)はパッケ
ージ本体を透過して示す平面図、(b)は(a)のA−
A断面を示す断面図、(d)は(c)のB−B断面を示
す断面図、図2は図1に示す半導体装置の側面の構造の
一例を示す側面図、図3は図1に示す半導体装置のアウ
タリードの構造の一例を示す拡大部分斜視図、図4は図
1に示す半導体装置の製造方法の実施の形態の一例を示
す組み立てプロセス図、図5は本発明の半導体装置を組
み合わせて製造されるメモリモジュールの構造の一例を
示す斜視図である。
【0020】本実施の形態の半導体装置は、例えば、メ
モリモジュールやシステムLSIまたはシステムボード
などのように複数の半導体装置を実装して組み立てられ
るモジュール製品やシステム製品に使用されるものであ
る。
【0021】本実施の形態の半導体装置の構成は、半導
体チップ1が組み込まれ、かつ相互に連結可能な連結部
4bが外周に形成されたパッケージ本体4と、パッケー
ジ本体4の連結部4bに露出して設けられ、かつ半導体
チップ1のパッド1b(表面電極)に対応してこれと電
気的に接続されたアウタリード2aと、アウタリード2
aと繋がって形成されたインナリード2bと、半導体チ
ップ1を支持するタブ2c(チップ支持部)と、半導体
チップ1のパッド1bとこれに対応するインナリード2
bとを電気的に接続するボンディングワイヤ3とからな
り、複数のパッケージ本体4同士を連結部4bを介して
機械的に連結した際に、相互のアウタリード2aが電気
的に接続するように、かつ取り外し自在に連結し得るも
のである。
【0022】すなわち、本実施の形態の半導体装置は、
複数の半導体装置においてそれぞれの外周に形成された
連結部4bによって相互に機械的に連結可能なものであ
り、複数の半導体装置を組み合わせてブロック化し、こ
れにより、実装基板5に搭載するとともに、半導体装置
同士の電気的な接続を図ってシステム製品やモジュール
製品などに使用されるものである。
【0023】したがって、1つのシステム製品またはモ
ジュール製品において連結される前記半導体装置の個数
は、その機能や用途に応じて種々変わるものであり、ま
た、取り外し自在すなわち交換自在に連結されるため、
その連結個数は、特に限定されるものではない。
【0024】本実施の形態では、図5に示すメモリモジ
ュール30を組み立てる場合を例に取り上げて説明す
る。
【0025】ここで、本実施の形態の半導体装置では、
パッケージ本体4の形状が略直方体であり、その平面形
状は、長方形であるため、図1に示すように、パッケー
ジ本体4の長手方向の左右の側面4aに凹凸状の連結部
4bが形成され、相互の前記凹凸状の連結部4bをはめ
込んで複数のパッケージ本体4の側面4a同士が連結さ
れる。
【0026】なお、図1において、図1(a)に示す半
導体装置をパッケージ10とし、図1(b)に示す半導
体装置をパッケージ11とする。
【0027】したがって、パッケージ10およびパッケ
ージ11の全ての凹凸状の連結部4bは、凹部の開口幅
が凸部の幅より僅かに狭く形成されており、これによ
り、凸部を凹部に嵌めた際には、両者が容易に分離しな
い程度に凸部と凹部とが嵌合するように形成されてい
る。
【0028】さらに、図2に示すパッケージ10または
図3に示すパッケージ11のように、それぞれの半導体
装置のアウタリード2aは等ピッチで、かつパッケージ
本体4の左右の側面4aに露出して配置されており、側
面4aの溝部に、それより僅かに突出する程度に折り曲
げて収容されている。
【0029】これにより、例えば、図1に示すように、
パッケージ10の向かって右側の側面4aの連結部4b
と、パッケージ11の向かって左側の側面4aの連結部
4bとをはめ込んだ際には、それぞれに設けられたアウ
タリード2a同士が接触し、電気的接続を行うことが可
能になる。
【0030】ただし、連結部4bでの連結は、単に、機
械的にそれぞれの凸部が凹部に嵌まっているだけである
ため、2つの半導体装置を分離する際には、両者を分離
させる方向に引っ張ることにより、比較的簡単に分離す
ることができる。
【0031】また、本実施の形態の半導体装置に組み込
まれる半導体チップ1においては、連結部4bを介して
複数のパッケージ本体4同士を連結した際に、相互の半
導体チップ1の対応するパッド1b同士を相互のアウタ
リード2aを介して電気的に接続する配線が、半導体チ
ップ1の内部配線に形成されている。
【0032】すなわち、半導体製造工程の前工程におい
て、半導体ウェハの状態で各々のチップ領域に内部配線
を形成する際に、半導体装置同士を電気的に接続する前
記配線も一緒に形成しておくものである。
【0033】なお、図1に示すパッケージ10,11で
は、図中それぞれ最上位位置および最下位位置(左右両
側とも)に配置されたインナリード2bおよびアウタリ
ード2aが、電源ライン6(VssまたはVcc)とな
っており、他のインナリード2bおよびアウタリード2
aが信号系または制御系などの端子となっている。
【0034】したがって、パッケージ10とパッケージ
11とがそれぞれの側面4aの連結部4bを介して連結
されると、それぞれの電源系、信号系および制御系など
のアウタリード2aが接触して電気的に接続される。
【0035】また、それぞれの半導体装置において半導
体チップ1は、タブ2c上に搭載され、かつタブ2cは
タブ吊りリード2dによって支持されている。
【0036】なお、インナリード2b、アウタリード2
a、タブ2c、タブ吊りリード2dは、図示しないリー
ドフレームとして一体で形成されていたものであり、パ
ッケージ10、11を組み立てる際に前記リードフレー
ムを用いて組み立て、パッケージ本体4形成後の切断工
程において前記リードフレームからアウタリード2aを
切断分離してものである。
【0037】ここで、前記リードフレームは、例えば、
銅または鉄−ニッケル合金などによって形成された薄板
状の部材であり、したがって、インナリード2b、アウ
タリード2a、タブ2cおよびタブ吊りリード2dは、
銅または鉄−ニッケル合金などによって形成されてい
る。
【0038】また、ボンディングワイヤ3は、例えば、
金線などである。
【0039】さらに、パッケージ10やパッケージ11
のパッケージ本体4は、例えば、エポキシ系の熱硬化樹
脂を用いたモールド方法によって形成されたものであ
る。
【0040】次に、図4に示す組み立てプロセスに基づ
いて本実施の形態の半導体装置の製造方法について説明
する。
【0041】まず、ステップS1により、主面1aに半
導体集積回路(素子)が形成された複数の半導体チップ
1(半導体ペレットともいう)を準備する。
【0042】ここで、半導体チップ1は、その内部配線
に、複数(例えば、パッケージ10とパッケージ11)
の半導体チップ1の対応するパッド1b同士を相互の半
導体装置のアウタリード2aを介して電気的に接続する
配線が形成されているものである。
【0043】すなわち、半導体製造工程の前工程におい
て、半導体ウェハの状態で各々のチップ領域に前記内部
配線を形成する際に、半導体装置(パッケージ10とパ
ッケージ11)同士を電気的に接続する前記配線も一緒
に形成されているものである。
【0044】一方、複数のインナリード2bと、これに
繋がるアウタリード2aと、半導体チップ1を支持可能
なチップ支持部であるタブ2cと、これを支持するタブ
吊りリード2dとが形成されたリードフレームを準備す
る(ステップS2)。
【0045】その後、半導体チップ1と前記リードフレ
ームとを供給し、ステップS3により、半導体チップ1
を前記リードフレームのタブ2cに搭載するチップマウ
ントを行う。
【0046】その際、タブ2cのチップ支持面にダイボ
ンド材(例えば、樹脂系のペースト材)を塗布し、その
上方から半導体チップ1をタブ2cに載置してチップマ
ウントを行う。
【0047】続いて、ステップS4により、半導体チッ
プ1のパッド1b(表面電極)とこれに対応するインナ
リード2bとをワイヤボンディングによって電気的に接
続する。
【0048】ここでは、金線などのボンディングワイヤ
3を用いてワイヤボンディングを行って半導体チップ1
のパッド1bとインナリード2bとを電気的に接続す
る。
【0049】その後、ステップS5により、モールドに
よる樹脂封止を行って半導体チップ1やインナリード2
bおよびボンディングワイヤ3を封止する。
【0050】その際、パッケージ10とパッケージ11
とが相互に連結可能なようにそれぞれの外周の左右の側
面4aに凹凸状の連結部4bを形成してパッケージ本体
4を形成する。
【0051】なお、パッケージ10とパッケージ11と
では、それぞれの側面4aの凹凸が互い違いに配置され
て形成されている。
【0052】この状態では、それぞれのパッケージ本体
4の側面4aにおいて、アウタリード2aが突出してい
る。
【0053】その後、ステップS6により、半導体チッ
プ1のパッド1bに対応してこれと電気的に接続された
アウタリード2aの切断・成形を行う。
【0054】つまり、それぞれの半導体装置の側面4a
から突出したアウタリード2aを所定箇所で切断してリ
ードフレームから分離するとともに、図3に示すように
アウタリード2aがこの側面4aの連結部4bに露出し
て配置され、かつ側面4aの溝部に収容されるように、
このアウタリード2aを所定箇所で下方に曲げ成形す
る。
【0055】これにより、パッケージ10とパッケージ
11とをそれぞれパッケージ本体4同士を連結部4bを
介して機械的に連結した際に、相互の半導体チップ1の
対応するパッド1b同士が相互のアウタリード2aを介
して電気的に接続し、かつ取り外し自在として連結でき
るようにパッケージ本体4を形成できる。
【0056】その後、ステップS7により、所定の検査
と選別を行って良品のパッケージ10とパッケージ11
とを取得する。
【0057】なお、本実施の形態の半導体装置(パッケ
ージ10およびパッケージ11)では、パッケージ本体
4の側面4aに凹凸状の連結部4bが形成されているた
め、相互の凹凸状の連結部4bをはめ込んで(一方の凸
部を他方の凹部にはめ込んで)相互のパッケージ本体4
の側面4a同士を機械的に連結し、これにより、モジュ
ール製品であるメモリモジュール30を組み立てる。
【0058】そこで、図5は、同様の方法によって製造
された本実施の形態の半導体装置であるパッケージ1
0,11,12,13,14を用いて組み立てたメモリ
モジュール30を示したものである。
【0059】ここで、5つの半導体装置のうち端部に配
置されるパッケージ13,14は、他のパッケージ1
0,11,12と比較して外形形状が異なっている。
【0060】つまり、パッケージ13,14は、片側の
側面4aにのみ凹凸状の連結部4bが形成されている。
ただし、パッケージ13,14においても両側の側面4
aに凹凸状の連結部4bが形成されていてもよい。
【0061】さらに、図5に示すメモリモジュール30
の実装基板5には、そのパッケージ支持面5bに、連結
してブロック化された5つの半導体装置を搭載する凹部
が形成されており、この凹部の両端には複数の基板端子
5aが形成されている。
【0062】また、パッケージ支持面5bの長手方向の
片側の外周端部には、外部装置と電気的な接続を図るコ
ネクタ端子5cが形成されている。
【0063】これにより、それぞれの連結部4bによっ
て機械的に連結してブロック化された5つのパッケージ
10,11,12,13,14を実装基板5に搭載し、
これによって、メモリモジュール30を組み立てること
ができる。
【0064】本実施の形態の半導体装置およびその製造
方法によれば、以下のような作用効果が得られる。
【0065】すなわち、複数のパッケージ本体4同士を
連結部4bを介して機械的に連結した際に相互のアウタ
リード2aが電気的に接続するように、かつ取り外し自
在に連結し得るような半導体装置としたことにより、こ
の半導体装置をブロック化することができる。
【0066】したがって、半田などを用いずに連結およ
び実装を行っているため、半導体装置に故障などが発生
した際には、不良の半導体装置のみの交換が可能とな
る。
【0067】また、複数の半導体装置を機械的に組み合
わせて実装基板5上に実装することができるため、複数
の半導体装置を実装基板5に実装する際に、半導体装置
同士を電気的に接続させる配線パターンを実装基板5に
設ける必要がなくなる。
【0068】その結果、実装基板5上の半導体装置の実
装密度を向上できる。
【0069】なお、図5に示すように、5つの半導体装
置を組み合わせてメモリモジュール30を組み立てる際
には、1つの半導体装置が故障した場合でも容易に半導
体装置を交換することができ、メモリモジュール30自
体を不良品にしなくて済み、コストを低減できる。
【0070】さらに、メモリモジュール30において
は、組み合わせる半導体装置の個数を容易に変えること
ができ、その結果、メモリ容量の増減を自由に変更する
ことができる。
【0071】また、相互の半導体チップ1の対応するパ
ッド1b同士を相互のアウタリード2aを介して電気的
に接続させる配線が半導体チップ1の内部配線に形成さ
れていることにより、半導体装置製造工程の後工程は、
既存の設備で製造可能となり、半導体装置を容易に組み
立てることができる。
【0072】以上、本発明者によってなされた発明を発
明の実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は
前記発明の実施の形態に限定されるものではなく、その
要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることは言う
までもない。
【0073】例えば、前記実施の形態で説明した半導体
装置におけるインナリード2bの引き回しについては様
々のものが考えられるが、図1に示したパッケージ1
0,11における電源ライン6をさらに強化したものを
図6に示す。
【0074】ここで、図6(a)に示すパッケージ15
と、図6(b)に示すパッケージ16は、両者とも電源
ライン6を強化したものであり、2枚のリードフレーム
(1枚は前記実施の形態で用いたリードフレームと同様
のもので、他の1枚は電源ライン6のインナリード2b
およびアウタリード2aが形成されたリードフレーム)
を用いて電源ライン6用のインナリード2bおよびアウ
タリード2aを階層構造で設けたものである。
【0075】なお、この構造の半導体装置では、連結さ
れてブロック化される複数の半導体装置のうち端部に配
置される半導体装置において、電源用のパッド1bにボ
ンディングワイヤ3によって電気的に接続されたアウタ
リード2aと、その上層から引き回された強化用の電源
ライン6とを機械的接続によってコンタクトさせ、これ
により、ブロック化された半導体装置全体にその上層で
5本の強化用の電源ライン6を配置させるものである。
【0076】したがって、チップマウント後、その上層
に電源ライン6用のリードフレームを配置し、さらに、
全てのパッド1bに対してワイヤボンディングを行った
後、モールドを行うものである。
【0077】また、図7に示す半導体装置は、例えば、
5つのパッケージ10,11,12,13,14をそれ
ぞれ連結部4bを介して連結し、これにより、ブロック
化したものを枠フレーム7にはめ込んだものである。
【0078】この枠フレーム7にはめ込んだ状態で、図
5に示すような実装基板5に実装するものである。
【0079】また、前記実施の形態および前記他の実施
の形態では、半導体装置の平面形状が略長方形の場合を
説明したが、前記半導体装置の形状は、図8(a),
(b)に示す他の実施の形態の半導体装置(パッケージ
17,18,19,20)のように、その平面形状が、
略直角二等辺三角形などであってもよい。
【0080】ここで、図8は、4つの半導体装置(パッ
ケージ17,18,19,20)を組み合わせて製造す
るシステムLSIの一例を示したものであり、さらに、
図9は、図8(a)に示す4つの半導体装置のうち、そ
の代表として、パッケージ17の内部構造を透過して示
したものであり、このパッケージ17においても、共通
端子となる電源ライン6(VssまたはVcc)が2本
形成されている。
【0081】つまり、それぞれの半導体装置において2
つの短辺の側面4aに凹凸状の連結部4bが形成され、
この連結部4b同士を連結させて半導体装置を組み合わ
せるものである。
【0082】なお、複数の半導体装置を組み合わせてシ
ステムLSIを組み立てた際には、その組み立てが容易
になり、かつ組み立て後、一部の半導体装置が故障して
もその故障した半導体装置のみの取り外しと交換とを容
易に行うことができる。
【0083】その結果、システムLSIを再生させるこ
とが可能になり、これにより、システムLSIの歩留り
の向上とコスト低減とを図ることができる。
【0084】また、複数の半導体装置を組み合わせてシ
ステムボードを組み立ててもよく、前記システムボード
を組み立てる際には、半導体装置同士を電気的に接続さ
せる配線パターンを実装基板5(図5参照)に設ける必
要がなくなるため、前記実施の形態の場合と同様に実装
基板5上の半導体装置の実装密度を向上できる。
【0085】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0086】(1).複数のパッケージ本体同士を連結
部を介して機械的に連結した際に相互のアウタリードが
電気的に接続するように取り外し自在に連結し得るよう
な半導体装置としたことにより、この半導体装置をブロ
ック化して組み合わせることができる。これにより、半
導体装置の交換が可能になるとともに、半導体装置同士
を電気的に接続させる配線パターンを実装基板に設ける
必要がなくなるため、その結果、実装基板上の半導体装
置の実装密度を向上できる。
【0087】(2).複数の半導体装置を組み合わせて
システムLSIを組み立てる際には、その組み立てが容
易になるとともに、組み立て後、一部の半導体装置が故
障してもこの故障した半導体装置のみの交換を容易に行
うことができ、これにより、システムLSIを再生させ
ることが可能になる。したがって、システムLSIの歩
留りの向上とコスト低減とを図ることができる。
【0088】(3).複数の半導体装置を組み合わせて
メモリモジュールを組み立てる際には、組み合わせる半
導体装置の個数を容易に変えることができ、その結果、
メモリ容量の増減を自由に変更することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a),(b),(c),(d)は本発明の半導体装
置の内部構造の実施の形態の一例を示す図であり、
(a),(c)はパッケージ本体を透過して示す平面図、
(b)は(a)のA−A断面を示す断面図、(d)は
(c)のB−B断面を示す断面図である。
【図2】図1に示す半導体装置の側面の構造の一例を示
す側面図である。
【図3】図1に示す半導体装置のアウタリードの構造の
一例を示す拡大部分斜視図である。
【図4】図1に示す半導体装置の製造方法の実施の形態
の一例を示す組み立てプロセス図である。
【図5】本発明の半導体装置を組み合わせて製造される
メモリモジュールの構造の一例を示す斜視図である。
【図6】(a),(b) は本発明の他の実施の形態の半導
体装置の構造を示す平面図である。
【図7】本発明の半導体装置を組み合わせて製造される
モジュール製品の変形例の構造を示す平面図である。
【図8】(a),(b) は本発明の他の実施の形態の半導
体装置を組み合わせて製造されるシステムLSIの構造
を示す図であり、(a)は4つの半導体装置によって組
み合わされるシステムLSIの平面図、(b)は(a)
のC−C断面を示す断面図である。
【図9】図8に示す他の実施の形態の4つの半導体装置
のうちの1つの内部構造をそのパッケージ本体を透過し
て示す平面図である。
【符号の説明】
1 半導体チップ 1a 主面 1b パッド(表面電極) 2a アウタリード 2b インナリード 2c タブ(チップ支持部) 2d タブ吊りリード 3 ボンディングワイヤ 4 パッケージ本体 4a 側面 4b 連結部 5 実装基板 5a 基板端子 5b パッケージ支持面 5c コネクタ端子 6 電源ライン 7 枠フレーム 10,11,12,13,14,15,16,17,1
8,19,20 パッケージ(半導体装置) 30 メモリモジュール
フロントページの続き Fターム(参考) 4M109 AA01 BA01 CA21 DA07 GA02 5F067 AA02 AB04 BC06 BC16 CB02 CB03 DF01

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体チップが組み込まれ、相互に連結
    可能な連結部が外周に形成されたパッケージ本体と、 前記パッケージ本体の前記連結部に露出して設けられ、
    前記半導体チップの表面電極に対応してこれと電気的に
    接続されたアウタリードとを有し、 複数の前記パッケージ本体同士を前記連結部を介して機
    械的に連結した際に、相互の前記アウタリードが電気的
    に接続するように取り外し自在に連結し得ることを特徴
    とする半導体装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の半導体装置であって、前
    記パッケージ本体の側面に凹凸状の前記連結部が形成さ
    れ、相互の前記凹凸状の前記連結部をはめ込んで複数の
    前記パッケージ本体の側面同士が連結されることを特徴
    とする半導体装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または2記載の半導体装置であ
    って、前記連結部を介して複数の前記パッケージ本体同
    士を連結した際に、相互の前記半導体チップの対応する
    前記表面電極同士を相互の前記アウタリードを介して電
    気的に接続する配線が、前記半導体チップの内部配線に
    形成されていることを特徴とする半導体装置。
  4. 【請求項4】 半導体チップを内部に備え、相互に連結
    可能な外周の連結部に前記半導体チップの表面電極に対
    応して電気的に接続されたアウタリードを配置したパッ
    ケージ本体を形成する工程を有し、複数の前記パッケー
    ジ本体同士を前記連結部を介して機械的に連結した際
    に、相互の前記半導体チップの対応する前記表面電極同
    士が相互の前記アウタリードを介して電気的に接続する
    ように取り外し自在に連結し得る半導体装置を組み立て
    ることを特徴とする半導体装置の製造方法。
  5. 【請求項5】 複数のインナリードとこれに繋がるアウ
    タリードと半導体チップを支持可能なチップ支持部とを
    備えたリードフレームを準備する工程と、 主面に半導体集積回路が形成された半導体チップを準備
    する工程と、 前記リードフレームの前記チップ支持部に前記半導体チ
    ップを搭載する工程と、 前記半導体チップの表面電極とこれに対応する前記イン
    ナリードとを電気的に接続する工程と、 前記インナリードと、相互の対応する前記表面電極同士
    を相互の前記アウタリードを介して電気的に接続可能な
    前記半導体チップとを樹脂封止して、相互に連結可能な
    連結部を外周に備えたパッケージ本体を形成する工程
    と、 前記半導体チップの前記表面電極に対応して電気的に接
    続された前記アウタリードを前記リードフレームから分
    離して前記パッケージ本体の前記連結部に前記アウタリ
    ードを露出させて配置する工程とを有し、 複数の前記パッケージ本体同士を前記連結部を介して機
    械的に連結した際に、相互の前記半導体チップの対応す
    る前記表面電極同士が相互の前記アウタリードを介して
    電気的に接続するように取り外し自在に連結し得る半導
    体装置を組み立てることを特徴とする半導体装置の製造
    方法。
  6. 【請求項6】 請求項4または5記載の半導体装置の製
    造方法であって、前記パッケージ本体の側面に凹凸状の
    前記連結部を形成し、相互の前記凹凸状の前記連結部を
    はめ込んで複数の前記パッケージ本体の側面同士を連結
    し得ることを特徴とする半導体装置の製造方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001099189A1 (en) * 2000-06-19 2001-12-27 Advantest Corporation Method and apparatus for edge connection between elements of an integrated circuit
US6369445B1 (en) 2000-06-19 2002-04-09 Advantest Corporation Method and apparatus for edge connection between elements of an integrated circuit
GB2409072A (en) * 2003-12-09 2005-06-15 Optimum Care Int Tech Inc Memory module comprising units jointed together by tabs and sockets along the sides each holding a chip
JP2006344847A (ja) * 2005-06-10 2006-12-21 Murata Mfg Co Ltd 部品内蔵基板、この部品内蔵基板を用いた部品内蔵モジュール、および部品内蔵基板の製造方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001099189A1 (en) * 2000-06-19 2001-12-27 Advantest Corporation Method and apparatus for edge connection between elements of an integrated circuit
US6369445B1 (en) 2000-06-19 2002-04-09 Advantest Corporation Method and apparatus for edge connection between elements of an integrated circuit
SG90252A1 (en) * 2000-06-19 2002-07-23 Advantest Corp Contact structure and assembly mechanism thereof
US6440775B2 (en) 2000-06-19 2002-08-27 Advantest Corporation Method and apparatus for edge connection between elements of an integrated circuit
GB2409072A (en) * 2003-12-09 2005-06-15 Optimum Care Int Tech Inc Memory module comprising units jointed together by tabs and sockets along the sides each holding a chip
GB2409072B (en) * 2003-12-09 2005-11-23 Optimum Care Int Tech Inc Memory module
JP2006344847A (ja) * 2005-06-10 2006-12-21 Murata Mfg Co Ltd 部品内蔵基板、この部品内蔵基板を用いた部品内蔵モジュール、および部品内蔵基板の製造方法

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