JP2000034380A - 架橋性エラストマー組成物、該組成物から製造されるシール材およびそれに用いるフィラー - Google Patents
架橋性エラストマー組成物、該組成物から製造されるシール材およびそれに用いるフィラーInfo
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Abstract
生じず、かつ極めてクリーンな半導体製造装置用のシー
ル材として特に好適なエラストマー成形物を提供する。 【解決手段】 不純物金属含有量が300ppm以下
で、pHが5.0〜11.0の架橋性エラストマー組成
物用のカーボンブラックフィラー。このものは、原料カ
ーボンブラックフィラーを酸により抽出処理してフィラ
ーの不純物金属含有量を低減化し、ついでアルカリで処
理して残存する酸を中和することによって得られる。
Description
封止に用いるシール材などを提供し得るクリーンな架橋
性エラストマー組成物、およびそれに充填される不純物
金属含有量が低減化されたカーボンブラックフィラーに
関する。
ンさが要求されており、クリーンさの要請は半導体の製
造工程の管理に止まらず、製造装置自体はもとより、そ
の部品にまで及んでいる。半導体製造装置用の部品は装
置に組み込んでから洗浄などでクリーン化できる程度は
限られおり、組み込む以前に高度にクリーン化されてい
ることが要求される。半導体の製造において特に問題と
なる汚染は、パーティクルと呼ばれる微粒子、有機配合
物のほか、溶出金属分であり、微細なエッチング処理な
どに影響を与えている。
装置用のシール材も同様であり、本出願人はシール材自
体の高クリーン化を成形後のシール材に特殊な洗浄方法
などを施すことにより達成している(特願平10−77
781号)。
橋性エラストマー組成物を架橋成形して作製されてお
り、機械的特性を付与するために組成物にカーボンブラ
ックがフィラーとして充填されることがある。
ィラーとして配合されたシール材をクリーン化、特に不
純物金属を除去する方法としては前記した成形後のシー
ル材を酸などで洗浄し不純物金属を抽出する方法と、酸
洗浄しクリーン化したフィラーを配合する方法が考えら
れる。本発明は後者のフィラー自体をクリーン化する方
法に関するが、この場合フィラーを配合した後エラスト
マー組成物を架橋成形しなければならない。ところが従
来の酸洗浄して得られるフィラーを用いると、架橋法と
して一般的な過酸化物架橋ができなかった。すなわち過
酸化物架橋を行なおうとすると架橋阻害が生じて成形加
工性を損うばかりか、圧縮永久歪み、引張強度、モジュ
ラスといった成形品特性に悪影響を与えるものがある。
しかも放射線架橋だけでなく過酸化物架橋を行なっても
架橋阻害を生じないカーボンブラックフィラーを提供す
ることを目的とする。
ーが配合されてなり、放射線架橋だけでなく過酸化物架
橋を行なうことができる架橋性エラストマー組成物を提
供することにある。
得られるシール材に関する。
ンブラックフィラーは、不純物金属含有量が300pp
m以下であり、好ましくはpHが5.0〜11.0に調
整されている。
ーボンブラックフィラーは、原料カーボンブラックフィ
ラーを酸により抽出処理してフィラーの不純物金属含有
量を低減化し、ついでアルカリで処理して残存する酸を
中和することにより得ることができる。
素系やシリコーン系のエラストマー成分に配合して得ら
れる架橋性エラストマー組成物は、架橋阻害を起こさず
に架橋成形でき、優れた機械的特性をもつシール材を提
供できる。このシール材を前記した特願平10−777
81号明細書記載の特殊な洗浄法、すなわち超純水によ
り洗浄する方法、洗浄温度で液状のクリーンな有機化合
物や無機水溶液により洗浄する方法、乾式エッチング洗
浄する方法、抽出洗浄する方法にしたがって処理するこ
とにより極めて高度にクリーン化された半導体製造装置
用のシール材が得られる。
には、種々の起源の種々のグレードのカーボンブラック
が使用できる。たとえばSAF、ISAF、HAF、M
AF、FEF、SRF、FT、MTなどがあげられる。
これらのうち、特に加工性の点から比表面積が3m2/
g以上でDBP吸油量15cm3/100g以上のカー
ボンブラックが好適である。具体例としては、たとえば
N990、N550、N330、N220などがあげら
れる。
粒径は約10〜600μmである。
純物金属の含有量が300ppm以下、好ましくは10
0ppm以下、さらに好ましくは10ppm以下のもの
である。不純物金属の低減化は原料カーボンブラックを
硫酸、硝酸、フッ酸、塩酸などの酸により処理して不純
物金属を抽出すればよい。
Liなどのアルカリ金属;Ca、Mg、Baなどのアル
カリ土類金属;Fe、Cu、Cr、Ni、Alなどが特
に多く、問題となる。
合しても架橋阻害が生じないように単に酸処理を施すだ
けではなく、過酸化物架橋の阻害原因となる処理後のカ
ーボンブラックに存在する酸を中和する処理を行なう。
中和処理はアルカリによって行なえばよいが、使用する
アルカリとしては金属を含むアルカリの使用は避ける方
が、汚染源を減らす点から好ましい。好ましいアルカリ
としては、たとえばアンモニア水のほか、トリエタノー
ルアミン、トリエチルアミン、ジエチルアミンなどの塩
基性アミン、アンモニアガスなどがあげられる。特に取
扱い性、分離、除去の点から濃度1〜28重量%のアン
モニア水が好ましい。中和処理により、酸処理後に3.
0〜4.5であったpHが5.0〜11.5にまで上が
る。好ましいpHは5.0〜11.0である。
簡便でよいが、アルカリ水を噴霧する方法などの方法で
もよい。
な薬液で洗浄し、生成した塩や残存する微粒子などを除
去することが好ましい。
ィラーは分離され乾燥されるが、乾燥も清浄なガスなど
のクリーンな雰囲気下で行なうことが好ましい。清浄な
ガスとしては、たとえば窒素ガス、ヘリウムガス、アル
ゴンガスなどの高純度不活性ガスが好ましく使用でき
る。乾燥は50〜150℃で5〜24時間予備乾燥した
後、さらに200〜300℃にて1〜24時間加熱する
ことにより行なうことが好ましい。
純水などのクリーンな薬液にて洗浄する方法、アンモニ
アガスに曝す方法でもよい。この際に用いるクリーンな
薬液としては、金属含有量が1.0ppm以下でありか
つ粒径が0.2μm以上の微粒子を300個/mlを超
えて含まない超純水、金属含有量が1.0ppm以下で
ありかつ粒径が0.5μm以上の微粒子を200個/m
lを超えて含まない洗浄温度で液状の有機化合物または
無機水溶液などが好ましい。
ラーは架橋性のエラストマーに配合され架橋性エラスト
マー組成物に配合される。配合量はエラストマー成分1
00重量部(以下、「部」という)に対して1〜150
部、好ましくは1〜60部である。多量に配合するとき
は脱落するフィラー量が増え、パーティクルの原因にな
りやすい。
いが、半導体製造装置用のシール材の製造原料として使
用する場合はフッ素系エラストマーおよびシリコーン系
エラストマーが好ましい。
つぎのものがあげられる。
%、式(1): CF2=CF−ORf (式中、Rfは炭素数1〜5のパーフルオロアルキル
基、または炭素数3〜12でかつ酸素原子を1〜3個含
むパーフルオロアルキル(ポリ)エーテル基)で表され
るパーフルオロビニルエーテル10〜60モル%、およ
び硬化部位を与える単量体0〜5モル%からなるパーフ
ルオロ系エラストマー。
%、ヘキサフルオロプロピレン15〜40モル%、テト
ラフルオロエチレン0〜30モル%からなるビニリデン
フルオライド系エラストマー。
ントと非エラストマー性含フッ素ポリマー鎖セグメント
を有する含フッ素多元セグメント化ポリマーであって、
エラストマー性含フッ素ポリマー鎖セグメントが、テト
ラフルオロエチレン40〜90モル%、式(1): CF2=CF−ORf (式中、Rfは炭素数1〜5のパーフルオロアルキル
基、または炭素数3〜12でかつ酸素原子を1〜3個含
むパーフルオロアルキル(ポリ)エーテル基)で表され
るパーフルオロビニルエーテル10〜60モル%、およ
び硬化部位を与える単量体0〜5モル%からなり、非エ
ラストマー性含フッ素ポリマー鎖セグメントが、テトラ
フルオロエチレン85〜100モル%、式(2): CF2=CF−Rf 1 (式中、Rf 1はCF3またはORf 2(Rf 2は炭素数1〜
5のパーフルオロアルキル基))0〜15モル%からな
るパーフルオロ系熱可塑性エラストマー。
ントと非エラストマー性含フッ素ポリマー鎖セグメント
からなり、エラストマー性含フッ素ポリマー鎖セグメン
トがビニリデンフルオライド45〜85モル%とこのビ
ニリデンフルオライドと共重合可能な少なくとも一種の
他の単量体とからそれぞれ誘導された繰り返し単位を含
む含フッ素多元セグメント化ポリマー。ここで他の単量
体としては、ヘキサフルオロプロピレン、テトラフルオ
ロエチレン、クロロトリフルオロエチレン、トリフルオ
ロエチレン、トリフルオロプロピレン、テトラフルオロ
プロピレン、ペンタフルオロプロピレン、トリフルオロ
ブテン、テトラフルオロイソブテン、パーフルオロ(ア
ルキルビニルエーテル)、フッ化ビニル、エチレン、プ
ロピレン、アルキルビニルエーテルなどがあげられる。
より得られる、ヨウ素含有フッ素化ビニルエーテル単位
0.005〜1.5モル%、フッ化ビニリデン単位40
〜90モル%およびパーフルオロ(メチルビニルエーテ
ル)単位3〜35モル%(場合により25モル%までの
ヘキサフルオロプロピレン単位および/または40モル
%までのテトラフルオロエチレン単位を含んでいてもよ
い)からなる耐塞性含フッ素エラストマー(特開平8−
15753号公報)。
共重合体(米国特許第3,467,635号明細書)な
ど。
えばシリコーンゴム、フルオロシリコーンゴムなどが好
ましい。
架橋成形される。架橋方法は過酸化物架橋が一般的であ
るが、放射線架橋、電子線架橋などの方法でもよい。
ー成分100部に対して有機過酸化物を0.05〜10
部、好ましくは0.1〜2.0部、架橋助剤を0.1〜
10部、好ましくは0.3〜5.0部配合する。そのほ
か、加工助剤、内添離型剤などを配合してもよい。有機
過酸化物架橋は常法により行なうことができ、従来のよ
うな架橋阻害は生じない。
ル材、特に高度なクリーンさが要求される半導体製造装
置の封止用のシール材の製造に好適に使用できる。シー
ル材としてはO−リング、ガスケット、パッキン、オイ
ルシール、ベアリングシール、リップシールなどがあげ
られる。
えばダイヤフラム、チューブ、ホース、各種ロールなど
としても使用できる。
本発明はかかる実施例のみに限定されるものではない。
BP吸油量50cm3/100g、不純物金属として表
1に示すものを含む。平均粒径500μm、pH10.
0)100gを濃度15重量%の硫酸300ml中に分
散し室温にて3時間撹拌して酸処理し、ポリテトラフル
オロエチレン製フィルターで濾過分離し、超純水200
0mlで洗浄したのち、この処理物(pH3.8)を1
0重量%アンモニア水300ml中に分散させ、撹拌下
に室温にて3時間中和処理した。得られた処理物を超純
水2000mlで洗浄した後ポリテトラフルオロエチレ
ン製フィルターで濾過して分離し、クリーン乾燥機内で
120℃にて10時間予備乾燥した後、さらに250℃
にて5時間乾燥して、本発明のカーボンブラックフィラ
ーを得た。このもののpHおよび不純物金属含有量をつ
ぎに示す方法で調べたところ、pHは6.0であり、表
1に示すように不純物金属含有量は低減化していた。
超純水30mlに分散させ、室温にてマグネティックス
ターラーで1時間撹拌し、pHメーターにより超純水の
pHを測定する。
ィラーまたはO−リング成形品0.5〜2.0gを清浄
な白金ルツボに入れ600℃で2時間加熱し充分灰化さ
せる。ルツボ内に残った灰に塩酸5mlを加え温浴中で
加熱して溶解させた後、超純水で希釈する。この溶液を
原子吸光度計((株)日立製作所製のZ8000)によ
り金属成分を原子吸光定量分析する。各金属のフィラー
中の含有量は次式により求める。
エーテル)共重合体エラストマー100gに製造例1で
得られた本発明のカーボンブラックフィラー20gと
2,5−ジメチル−2,5−ジ(t−ブチルパーオキ
シ)ヘキサン(日本油脂(株)製のパーヘキサ25B)
1gとトリアリルイソシアヌレート(ATIC)(日本
化成(株)製)3gを混練して、本発明のエラストマー
組成物を調製しJSRキュラストメータII型により16
0℃にて架橋試験を行なった。結果を表2に示す。ま
た、この組成物を160℃×10分の圧縮成形によりO
−リングに成形後、180℃で4時間の二次架橋を行な
った。
縮永久歪み(CS)とをJIS K6301に従って測
定した。結果を表2に示す。
エーテル)共重合体エラストマー100gに製造例1の
原料として使用したカーボンブラック(N990)20
gとパーヘキサ25B 1gとTAIC 3gを混練し
て、比較用のエラストマー組成物を調製し、実施例1と
同様に架橋試験を行ない(表2)、O−リングに成形
し、常態物性および圧縮永久歪みを測定した(表2)。
エラストマー組成物に配合しても架橋阻害を生じず、か
つ極めてクリーンな半導体製造装置用のシール材として
好適なエラストマー成形物を提供できる。
Claims (11)
- 【請求項1】 不純物金属含有量が300ppm以下の
架橋性エラストマー組成物用のカーボンブラックフィラ
ー。 - 【請求項2】 pHが5.0〜11.0に調整されてい
る請求項1記載のカーボンブラックフィラー。 - 【請求項3】 カーボンブラックの比表面積が3m2/
g以上で、DBP吸油量が15cm3/100g以上で
ある請求項1記載のカーボンブラックフィラー。 - 【請求項4】 原料カーボンブラックフィラーを酸によ
り抽出処理して不純物金属含有量を低減化し、ついでア
ルカリで処理して残存する酸を中和する請求項1〜3の
いずれかに記載のカーボンブラックフィラーの製法。 - 【請求項5】 アルカリ中和処理をアンモニア水中で行
ない、分離して得られたカーボンブラックフィラーを清
浄なガス雰囲気下で乾燥する請求項4記載のカーボンブ
ラックフィラーの製法。 - 【請求項6】 請求項1〜3のいずれかに記載のカーボ
ンブラックフィラーと架橋性エラストマー成分とを含む
シール材用架橋性エラストマー組成物。 - 【請求項7】 エラストマー成分100重量部に対し
て、前記カーボンブラックフィラーが1〜150重量部
配合されてなる請求項6記載の架橋性エラストマー組成
物。 - 【請求項8】 エラストマー成分100重量部に対して
有機過酸化物を0.05〜10重量部、架橋助剤を0.
1〜10重量部および前記カーボンブラックフィラーを
1〜150重量部含む請求項6または7記載のエラスト
マー組成物。 - 【請求項9】 エラストマー成分がフッ素系エラストマ
ーまたはシリコーン系エラストマーである請求項6〜8
のいずれかに記載のエラストマー組成物。 - 【請求項10】 請求項6〜9のいずれかに記載のエラ
ストマー組成物を架橋成形して得られるシール材。 - 【請求項11】 半導体製造装置における封止のために
用いる請求項10記載のシール材。
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