JP2000075227A - Multi-beam light source device - Google Patents
Multi-beam light source deviceInfo
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- JP2000075227A JP2000075227A JP10248107A JP24810798A JP2000075227A JP 2000075227 A JP2000075227 A JP 2000075227A JP 10248107 A JP10248107 A JP 10248107A JP 24810798 A JP24810798 A JP 24810798A JP 2000075227 A JP2000075227 A JP 2000075227A
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- semiconductor laser
- laser array
- scanning
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 2個の半導体レーザアレイを用いる方式にお
いて、半導体レーザアレイ間のビームスポット列の位置
合せ調整自在とし、この調整を容易かつ確実に行なえる
ようにする。
【解決手段】 各々直線上に複数個の発光点を有する第
1,2の半導体レーザアレイ11,12を各々対をなす
第1,2のコリメータレンズ12,13とともに一体に
保持して、各々主走査方向に所定角度隔てた第1,2の
射出軸a1,a2上に配置させる支持部材15を設け、
この支持部材15を走査光学系の光軸Cを回動中心とし
て回動調整自在なホルダ部材19により保持すること
で、ホルダ部材19を走査光学系の光軸Cを回動中心と
して回動調整するだけの単純な作業で第1,2の半導体
レーザアレイ11,12の各発光点によるビームスポッ
ト列間の副走査相対位置の調整を可能とした。
(57) Abstract: In a method using two semiconductor laser arrays, the position of a beam spot array between the semiconductor laser arrays can be freely adjusted, and this adjustment can be performed easily and reliably. SOLUTION: First and second semiconductor laser arrays 11 and 12 each having a plurality of light emitting points on a straight line are integrally held together with a pair of first and second collimator lenses 12 and 13, respectively. A support member 15 disposed on the first and second emission axes a1 and a2 separated by a predetermined angle in the scanning direction;
The support member 15 is held by a holder member 19 that is rotatable about the optical axis C of the scanning optical system, and the holder member 19 is rotatable about the optical axis C of the scanning optical system. It is possible to adjust the sub-scanning relative position between the beam spot arrays by the light emitting points of the first and second semiconductor laser arrays 11 and 12 by a simple operation.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、デジタル複写機や
レーザプリンタ等の画像形成装置の光書込走査装置に適
用され、特に、複数のレーザビームにより感光体等の被
走査面上を同時に走査させるために用いられるマルチビ
ーム光源装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention is applied to an optical writing / scanning apparatus of an image forming apparatus such as a digital copying machine or a laser printer, and in particular, simultaneously scans a surface to be scanned such as a photoreceptor with a plurality of laser beams. The present invention relates to a multi-beam light source device used for performing the above operation.
【0002】[0002]
【従来の技術】一般に、光書込系に用いられる光走査装
置において記録速度を向上させる手法として、偏向手段
としてのポリゴンミラーの回転速度を上げる方法があ
る。しかし、この方法ではポリゴンモータの耐久性や騒
音、振動、及び、レーザの変調速度等が問題となり、か
つ、記録速度の向上にも限界がある。2. Description of the Related Art In general, as a method of improving a recording speed in an optical scanning device used in an optical writing system, there is a method of increasing a rotation speed of a polygon mirror as a deflecting means. However, in this method, durability, noise, vibration, laser modulation speed, and the like of the polygon motor are problematic, and there is a limit in improving the recording speed.
【0003】そこで、一度に複数本のレーザビームを走
査して複数の記録ラインを同時に記録させるマルチビー
ム走査装置が提案されている。例えば、特開昭56−4
2248号公報に示されるように複数個の発光源(発光
点)をモノリシックにアレイ状に配列させた半導体レー
ザアレイを光源として用いるようにしている。Therefore, a multi-beam scanning apparatus has been proposed in which a plurality of laser beams are scanned at one time to simultaneously record a plurality of recording lines. For example, JP-A-56-4
As disclosed in Japanese Patent No. 2248, a semiconductor laser array in which a plurality of light emitting sources (light emitting points) are monolithically arranged in an array is used as a light source.
【0004】通常、半導体レーザの光出力は1走査ライ
ン毎に画像領域外の走査時間を利用して、その光出力を
検出し、フィードバック制御により印加電流量の設定が
行われる。上述した公報例のような半導体レーザアレイ
では光源(発光点)は複数であるものの、光出力を検出
するセンサは共通であるため、光出力の検出〜フィード
バックによる出力設定を時系列的に行なわざるを得な
い。従って、半導体レーザアレイにおける光源数が多く
なるに従い、この処理に要する時間が増加し、1走査毎
の画像領域外の走査時間では間に合わなくなる可能性が
大きい。間に合わない場合には、ページ間の走査時間を
利用して上記の処理を行なうが、これでは、設定した印
加電流量を長時間に渡って保持しなければならず、その
間にレーザ出力が変動し画像濃度が変化してしまう可能
性がある。Normally, the light output of a semiconductor laser is detected by utilizing the scanning time outside the image area for each scanning line, and the amount of applied current is set by feedback control. In the semiconductor laser array as in the above-mentioned publication example, although there are a plurality of light sources (light emitting points), the sensor for detecting the light output is common, so that the output setting from the detection of the light output to the feedback has to be performed in time series. Not get. Therefore, as the number of light sources in the semiconductor laser array increases, the time required for this processing increases, and there is a high possibility that the scanning time outside the image area for each scan will not be enough. If not, the above processing is performed using the scanning time between pages. However, in this case, the set applied current amount must be held for a long time, during which the laser output fluctuates. The image density may change.
【0005】この点、特開平7−72407号公報によ
れば、複数個の半導体レーザアレイの複数の発光源から
射出されるレーザ光をプリズム等のビーム合成手段を用
いて合成させ、恰も1つの光源から複数本のレーザ光が
射出される如く構成したマルチビーム光源ユニットが提
案されている。これによれば、1個の半導体レーザアレ
イに要求される発光点の数を半減させることができるの
で、これらの発光点の光出力の検出〜フィードバック制
御による光出力の設定処理に要する処理時間も半減させ
ることができる。よって、画像濃度の変動を最小限に抑
えて、高品質な画像を得ることができる。In this regard, according to Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-72407, laser beams emitted from a plurality of light emitting sources of a plurality of semiconductor laser arrays are combined using a beam combining means such as a prism, and one laser beam is formed. A multi-beam light source unit configured to emit a plurality of laser beams from a light source has been proposed. According to this, since the number of light emitting points required for one semiconductor laser array can be halved, the processing time required for detecting the light output of these light emitting points and setting the light output by feedback control is also reduced. Can be halved. Therefore, it is possible to obtain a high-quality image while minimizing the fluctuation of the image density.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】複数個の半導体レーザ
アレイの各々は、複数個の発光点に対して単一のコリメ
ータレンズが配設されて、各発光点からのレーザ光は平
行光束化して、走査光学系に入射させる構成とされる。
ここに、走査光学系全体の副走査倍率によりビームスポ
ット列の隣接ピッチが決定されることとなる。In each of the plurality of semiconductor laser arrays, a single collimator lens is provided for a plurality of light emitting points, and the laser light from each light emitting point is converted into a parallel light beam. , Into the scanning optical system.
Here, the adjacent pitch of the beam spot array is determined by the sub-scanning magnification of the entire scanning optical system.
【0007】ところが、特開平7−72407号公報方
式による場合、複数個の半導体レーザアレイ、対応する
コリメータレンズ、及び、ビーム合成手段の組合せにお
いて、プリズム中のビームスプリッタで合成した各半導
体レーザアレイ間のビームスポット列の相対位置のずれ
を許容値内に抑えるには、その射出軸のアライメント精
度やプリズムのビームスプリッタ面、反射面の角度精度
に依存するしかなく、量産性の点で問題がある。However, according to the method disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-72407, a combination of a plurality of semiconductor laser arrays, a corresponding collimator lens, and a beam synthesizing means is used to combine each semiconductor laser array synthesized by a beam splitter in a prism. In order to suppress the deviation of the relative position of the beam spot array within an allowable value, it depends only on the alignment accuracy of the emission axis and the angular accuracy of the beam splitter surface and the reflecting surface of the prism, and there is a problem in mass productivity. .
【0008】そこで、本発明は、2個の半導体レーザア
レイを用いる方式において、半導体レーザアレイ間のビ
ームスポット列の位置合せ調整自在とし、この調整を容
易かつ確実に行なうことができ、組立効率が向上するマ
ルチビーム光源装置を提供することを目的とする。In view of the above, in the present invention, in a system using two semiconductor laser arrays, the alignment of a beam spot array between the semiconductor laser arrays can be adjusted freely, and this adjustment can be performed easily and reliably, and the assembling efficiency can be improved. It is an object of the present invention to provide an improved multi-beam light source device.
【0009】また、本発明は、上記目的をより高精度に
行なえるマルチビーム光源装置を提供する。Further, the present invention provides a multi-beam light source device capable of achieving the above object with higher accuracy.
【0010】[0010]
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
直線上に複数個の発光点を有する第1の半導体レーザア
レイと、この第1の半導体レーザと同一構造の第2の半
導体レーザアレイと、前記第1の半導体レーザアレイか
ら射出されるレーザ光をカップリングする第1のコリメ
ータレンズと、前記第2の半導体レーザアレイから射出
されるレーザ光をカップリングする第2のコリメータレ
ンズと、前記第1の半導体レーザアレイと前記第1のカ
ップリングレンズとを第1の射出軸上に配置させるとと
もに前記第2の半導体レーザアレイと前記第2のカップ
リングレンズとを前記第1の射出軸に対して主走査方向
に所定角度隔てた第2の射出軸上に配置させてこれらの
部材を一体に保持する支持部材と、前記第1及び第2の
半導体レーザアレイから出射される複数のレーザ光を走
査して被走査面にビームスポットを形成するための走査
光学系の光軸を回動中心として回動調整自在に設けられ
て前記支持部材を保持するホルダ部材と、を備える。According to the first aspect of the present invention,
A first semiconductor laser array having a plurality of light-emitting points on a straight line, a second semiconductor laser array having the same structure as the first semiconductor laser, and a laser beam emitted from the first semiconductor laser array. A first collimator lens for coupling, a second collimator lens for coupling laser light emitted from the second semiconductor laser array, the first semiconductor laser array and the first coupling lens, Are arranged on a first emission axis, and the second semiconductor laser array and the second coupling lens are separated by a predetermined angle in the main scanning direction with respect to the first emission axis. A support member disposed above to hold these members integrally, and a plurality of laser beams emitted from the first and second semiconductor laser arrays are scanned to scan the surface to be scanned. Comprising a holder member for holding the support member to the optical axis of the scanning optical system for forming a Musupotto by turning adjustably provided as the pivot center, the.
【0011】従って、ホルダ部材を走査光学系の光軸を
回動中心として回動調整するだけの単純な作業で第1,
2の半導体レーザアレイの各発光点によるビームスポッ
ト列間の副走査相対位置の調整が可能となり、組立効率
が向上する。Therefore, the first and the first operations are simply performed by simply rotating the holder member about the optical axis of the scanning optical system.
It is possible to adjust the relative position in the sub-scanning between the beam spot arrays by the light emitting points of the two semiconductor laser arrays, thereby improving the assembling efficiency.
【0012】請求項2記載の発明は、直線上に複数個の
発光点を有する第1の半導体レーザアレイと、この第1
の半導体レーザと同一構造の第2の半導体レーザアレイ
と、前記第1の半導体レーザアレイから射出されるレー
ザ光をカップリングする第1のコリメータレンズと、前
記第2の半導体レーザアレイから射出されるレーザ光を
カップリングする第2のコリメータレンズと、前記第1
の半導体レーザアレイと前記第1のカップリングレンズ
とを第1の射出軸上に配置させて一体に保持して第1の
光源部を形成する第1の支持部材と、前記第2の半導体
レーザアレイと前記第2のカップリングレンズとを第2
の射出軸上に配置させて一体に保持して第2の光源部を
形成する第2の支持部材と、前記第1及び第2の半導体
レーザアレイから出射される複数のレーザ光を走査して
被走査面にビームスポットを形成するための走査光学系
の光軸に対して、前記複数のレーザ光を副走査方向に近
接させて射出させるビーム合成手段と、前記走査光学系
の光軸を回動中心として回動調整自在に設けられて、前
記第1の射出軸と前記第2の射出軸とを主走査方向に対
して所定角度隔てて前記第1の支持部材と前記第2の支
持部材と前記ビーム合成手段とを一体に保持するホルダ
部材と、を備える。According to a second aspect of the present invention, there is provided a first semiconductor laser array having a plurality of light emitting points on a straight line;
A second semiconductor laser array having the same structure as that of the first semiconductor laser array, a first collimator lens for coupling the laser light emitted from the first semiconductor laser array, and an emission from the second semiconductor laser array A second collimator lens for coupling a laser beam;
A first support member for forming a first light source section by arranging the semiconductor laser array and the first coupling lens on a first emission axis and integrally holding the semiconductor laser array; and the second semiconductor laser An array and the second coupling lens
And a plurality of laser beams emitted from the first and second semiconductor laser arrays by scanning a plurality of laser beams emitted from the first and second semiconductor laser arrays. Beam synthesizing means for emitting the plurality of laser beams close to each other in the sub-scanning direction with respect to the optical axis of the scanning optical system for forming a beam spot on the surface to be scanned; and rotating the optical axis of the scanning optical system. The first support member and the second support member are provided so as to be freely rotatable as a center of movement, and are separated from the first ejection shaft and the second ejection shaft by a predetermined angle with respect to the main scanning direction. And a holder member for integrally holding the beam combining means.
【0013】従って、ビーム合成手段を利用した方式に
あっても、ホルダ部材を走査光学系の光軸を回動中心と
して回動調整するだけの単純な作業で第1,2の半導体
レーザアレイの各発光点によるビームスポット列間の副
走査相対位置の調整が可能となり、組立効率が向上す
る。Therefore, even in the system using the beam combining means, the first and second semiconductor laser arrays can be simply adjusted by rotating the holder member about the optical axis of the scanning optical system. It is possible to adjust the relative position in the sub-scanning between the beam spot arrays by each light emitting point, thereby improving the assembling efficiency.
【0014】請求項3記載の発明は、請求項2記載のマ
ルチビーム光源装置において、前記第1及び第2の支持
部材は各々対応する前記第1及び第2の射出軸を回動中
心として回動調整自在に前記ホルダ部材に保持されてい
る。According to a third aspect of the present invention, in the multi-beam light source device according to the second aspect, the first and second support members rotate about the corresponding first and second emission axes, respectively. It is held by the holder member so as to be adjustable in motion.
【0015】従って、第1,2の半導体レーザアレイの
ビームスポット列における副走査ピッチを個別に調整で
き、高精度化を図れるため、より高品位な画像記録が可
能となる。Accordingly, the sub-scanning pitch in the beam spot arrays of the first and second semiconductor laser arrays can be individually adjusted, and higher precision can be achieved, so that higher quality image recording can be performed.
【0016】請求項4記載の発明は、請求項1又は2記
載のマルチビーム光源装置において、前記第1及び第2
の半導体レーザアレイにおける複数個の発光点を各々副
走査方向に配列し、前記被走査面上での前記第1及び第
2の射出軸間隔を隣接する記録ラインピッチの2倍以上
に設定してなる。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the multi-beam light source device according to the first or second aspect, wherein the first and second light sources are provided.
A plurality of light-emitting points in the semiconductor laser array are arranged in the sub-scanning direction, and the distance between the first and second emission axes on the surface to be scanned is set to be at least twice the pitch of adjacent recording lines. Become.
【0017】従って、半導体レーザアレイのビームスポ
ット列間の副走査方向の相対位置を調整した後に、ビー
ムスポット列における副走査ピッチの変化を許容値に抑
えることができ、高精度化を図れるため、高品位な画像
記録が可能となる。Therefore, after adjusting the relative position in the sub-scanning direction between the beam spot rows of the semiconductor laser array, the change in the sub-scanning pitch in the beam spot row can be suppressed to an allowable value, and high precision can be achieved. High quality image recording becomes possible.
【0018】[0018]
【発明の実施の形態】本発明の第一の実施の形態を図1
ないし図5に基づいて説明する。まず、本実施の形態の
前提として、半導体レーザアレイを用いた場合の結像関
係について図1及び図2を参照して説明する。図1は2
つの発光点1a,1bを有する半導体レーザアレイ1の
発光点ピッチPsと被走査面(感光体面等の像面)2に
おける副走査ピッチPs′との関係を示す光学系説明図
である。fはコリメータレンズ3の焦点距離を示す。4
は副走査倍率βsの走査光学系である。ここに、被走査
面2において所定の副走査ピッチPs′を得るには、半
導体レーザアレイ1の光源面ではPs=Ps′/βsと
なり、記録ピッチに応じて副走査倍率βsを設定するこ
とになる。FIG. 1 shows a first embodiment of the present invention.
A description will be given with reference to FIG. First, as an assumption of the present embodiment, an image forming relationship when a semiconductor laser array is used will be described with reference to FIGS. Figure 1 shows 2
FIG. 3 is an explanatory diagram of an optical system showing a relationship between a light emitting point pitch Ps of a semiconductor laser array 1 having two light emitting points 1a and 1b and a sub-scanning pitch Ps ′ on a scanned surface (an image surface such as a photoreceptor surface) 2; f indicates the focal length of the collimator lens 3. 4
Denotes a scanning optical system having a sub-scanning magnification βs. Here, in order to obtain a predetermined sub-scanning pitch Ps 'on the surface 2 to be scanned, Ps = Ps' / βs on the light source surface of the semiconductor laser array 1, and the sub-scanning magnification βs is set according to the recording pitch. Become.
【0019】ここで、半導体レーザアレイ1に関して
は、2つの発光点1a,1b間のピッチPs=Pなる比
較的狭い発光点ピッチのものを用い、これを図2(a)
に示すように副走査方向に配列させる方式と、2つの発
光点1a,1b間のピッチPsが比較的広いものを用
い、これを図2(b)に示すように光軸C回り(発光点
1a,1b間中心)に角度θ傾けることでP・sinθ=
Psとなるように配列させる方式とがある。本発明は、
何れの方式にも適用できるが、ここでは、説明を簡単に
するため前者方式への適用例とする。Here, the semiconductor laser array 1 has a relatively narrow light emitting point pitch such that the pitch Ps = P between the two light emitting points 1a and 1b, which is shown in FIG.
As shown in FIG. 2B, a method of arranging in the sub-scanning direction and a method in which the pitch Ps between the two light emitting points 1a and 1b is relatively wide are used. 1a, 1b) by tilting the angle θ to P · sin θ =
There is a method of arranging so as to be Ps. The present invention
Although it can be applied to any of the methods, here, an example of application to the former method is described for the sake of simplicity.
【0020】このような前提の下、本実施の形態の構成
例を図3及び図4により説明する。図3は本実施の形態
のマルチビーム光源装置の分解斜視図、図4はその組立
状態における縦断側面図である。本実施の形態は、各々
2個の発光点を有する2個の半導体レーザアレイ11,
12(第1,2の半導体レーザアレイ)を用いる4ビー
ム光源装置として構成されている。これらの半導体レー
ザアレイ11,12は同一構造で形成されている。ま
た、これらの半導体レーザアレイ11,12に対して対
をなし、射出光を平行光として走査光学系にカップリン
グさせるためのコリメータレンズ13,14(第1,2
のコリメータレンズ)も設けられている。Under such a premise, a configuration example of the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIG. 3 is an exploded perspective view of the multi-beam light source device of the present embodiment, and FIG. 4 is a longitudinal sectional side view in an assembled state. In the present embodiment, two semiconductor laser arrays 11, each having two light emitting points,
12 (first and second semiconductor laser arrays). These semiconductor laser arrays 11 and 12 have the same structure. Further, the semiconductor laser arrays 11 and 12 form a pair, and collimator lenses 13 and 14 (first and second collimators) 13 and 14 for coupling outgoing light as parallel light to a scanning optical system.
Is provided.
【0021】また、これらの部材(半導体レーザアレイ
11,12、コリメータレンズ13,14)を一体に保
持する支持部材15が設けられている。この支持部材1
5はアルミダイキャスト製のもので、その背面側には主
走査方向に8mm間隔で並列させて半導体レーザアレイ
11,12を圧入支持させるための2個の段差付きの嵌
合穴16が形成されている。ここに、半導体レーザアレ
イ11,12はこれらの嵌合穴16に対して各々の2個
の発光点が副走査方向に配列されるように方向付けられ
て取付けられる。また、支持部材15の前面側中央部に
はこれらの嵌合穴16に連続的にレンズ支持用のU字状
支持部17a,17bが突出形成されている。ここで
は、各々の射出軸a1,a2(第1,2の射出軸=レン
ズ中心軸)に対して2個の発光点が対称に配置されるよ
うに副走査方向の位置合せがなされ、かつ、その射出光
が平行光束となるように光軸方向の位置合せがなされ
て、これらのU字状支持部17a,17bに対して紫外
線硬化接着剤18を充填し硬化させることによりコリメ
ータレンズ13,14が固定される。A support member 15 for integrally holding these members (semiconductor laser arrays 11, 12 and collimator lenses 13, 14) is provided. This support member 1
Reference numeral 5 denotes an aluminum die-cast, and two stepped fitting holes 16 for press-fitting and supporting the semiconductor laser arrays 11 and 12 are formed on the back side thereof in parallel at an interval of 8 mm in the main scanning direction. ing. Here, the semiconductor laser arrays 11 and 12 are attached to these fitting holes 16 in such a manner that two light emitting points are oriented in the sub-scanning direction. Further, U-shaped supporting portions 17a and 17b for supporting the lens are formed in the center of the front side of the supporting member 15 in the fitting holes 16 continuously. Here, positioning in the sub-scanning direction is performed so that two light emitting points are symmetrically arranged with respect to each of the emission axes a1 and a2 (first and second emission axes = lens center axis), and The alignment is performed in the optical axis direction so that the emitted light becomes a parallel light beam, and the U-shaped support portions 17a and 17b are filled with an ultraviolet curing adhesive 18 and cured to form collimator lenses 13 and 14. Is fixed.
【0022】この際、特に図4に示すように、2個の嵌
合穴16を各々主走査方向に角度をつけて形成すること
で、半導体レーザアレイ11及びコリメータレンズ1
3、半導体レーザアレイ12及びコリメータレンズ14
の全系を傾けて配置させることにより、各々の射出軸a
1,a2がポリゴンミラー(図示せず)の近傍で交差す
るように形成しているので、被走査面では、図5に示す
ように、ビームスポット列が主走査方向に間隔xをもっ
て分離形成される。図5中、11a,11bは半導体レ
ーザアレイ11の2個の発光点により形成されるビーム
スポットを示し、12a,12bは半導体レーザアレイ
12の2個の発光点により形成されるビームスポットを
示す。At this time, as shown in FIG. 4 in particular, by forming two fitting holes 16 at an angle in the main scanning direction, the semiconductor laser array 11 and the collimator lens 1 are formed.
3. Semiconductor laser array 12 and collimator lens 14
By tilting the entire system of
1 and a2 are formed so as to intersect in the vicinity of a polygon mirror (not shown). Thus, on the surface to be scanned, as shown in FIG. 5, the beam spot rows are separated and formed at intervals x in the main scanning direction. You. 5, 11a and 11b indicate beam spots formed by two light emitting points of the semiconductor laser array 11, and 12a and 12b indicate beam spots formed by two light emitting points of the semiconductor laser array 12.
【0023】また、半導体レーザアレイ11,12及び
コリメータレンズ13,14を一体に保持した支持部材
15を保持するホルダ部材19が設けられている。この
ホルダ部材19は走査光学系の光軸Cを回動中心として
所定の支持部に回動調整自在に位置決めされるための円
筒部20を前面側中央に有し、背面側にはU字状支持部
17a,17b部分やコリメータレンズ13,14部分
を挿入させるための逃げ開口21が形成されており、ね
じ穴22にねじ着されるねじ23により支持部材15が
固定されている。ここに、支持部材15は各半導体レー
ザアレイ11,12、コリメータレンズ13,14が光
軸Cに対して対称配置となるようにホルダ部材19に位
置決め固定される。Further, a holder member 19 for holding a support member 15 holding the semiconductor laser arrays 11 and 12 and the collimator lenses 13 and 14 integrally is provided. The holder member 19 has a cylindrical portion 20 at the center on the front side, which is rotatably adjusted to a predetermined support portion around the optical axis C of the scanning optical system as a rotation center, and has a U-shape on the back side. An escape opening 21 for inserting the support portions 17a and 17b and the collimator lenses 13 and 14 is formed, and the support member 15 is fixed by a screw 23 screwed into a screw hole 22. Here, the support member 15 is positioned and fixed to the holder member 19 such that the semiconductor laser arrays 11 and 12 and the collimator lenses 13 and 14 are arranged symmetrically with respect to the optical axis C.
【0024】このような構成によれば、走査光学系の光
軸Cを回動中心としてホルダ部材19を回動調整して傾
け量γを適宜設定するだけで、各々の半導体レーザアレ
イ11,12のビームスポット11a,11b列、ビー
ムスポット12a,12b列の副走査方向の相対位置を
所定値に簡単かつ正確に合せることができる。よって、
組立効率が向上する。According to such a configuration, each of the semiconductor laser arrays 11 and 12 can be adjusted simply by rotating the holder member 19 about the optical axis C of the scanning optical system and setting the tilt amount γ appropriately. The relative positions of the beam spots 11a, 11b and beam spots 12a, 12b in the sub-scanning direction can be easily and accurately adjusted to a predetermined value. Therefore,
Assembly efficiency is improved.
【0025】図5に示す例では、ビームスポット11
a,11b列、ビームスポット12a,12b列が11
a,12a,11b,12bの順に千鳥配列状となるよ
うに画像記録ピッチp(=P/2=x・cosγ)だけず
らして配置させている。このとき、傾け量γによりビー
ムスポット列の最短スポットの副走査ピッチpは、ビー
ム数をnとすると、δ=(n−1)P・(1−cosγ)
だけ変化してしまう。ビームスポット列の副走査相対位
置を図5に示すようにpだけずらすことを想定すると、
間隔xによる補正によりsinγ>p/xとなる。従っ
て、最短スポットの副走査ピッチの変化量δを画像品質
に影響を与えない(n−1)P/8以下とするために
は、間隔xは少なくとも2p以上とする必要がある。In the example shown in FIG.
a, 11b row, beam spot 12a, 12b row is 11
The image recording pitches p (= P / 2 = x · cosγ) are arranged in a staggered arrangement in the order of a, 12a, 11b, and 12b. At this time, the sub-scanning pitch p of the shortest spot in the beam spot row is represented by δ = (n−1) P · (1-cosγ), where n is the number of beams, based on the tilt amount γ.
Only change. Assuming that the sub-scanning relative position of the beam spot array is shifted by p as shown in FIG.
The correction by the interval x results in sinγ> p / x. Therefore, in order to make the change amount δ of the sub-scanning pitch of the shortest spot not more than (n−1) P / 8 which does not affect the image quality, the interval x needs to be at least 2p.
【0026】本発明の第二の実施の形態を図6ないし図
9に基づいて説明する。図6は本実施の形態のマルチビ
ーム光源装置を示す分解斜視図、図7はその組立状態に
おける縦断側面図である。本実施の形態は、前述した特
開平7−72407号公報の場合のようなビーム合成手
段を用いるマルチビーム光源装置に適用されている。ま
た、各々2個の発光点を有する2個の半導体レーザアレ
イ31,32(第1,2の半導体レーザアレイ)を用い
る4ビーム光源装置として構成されている。これらの半
導体レーザアレイ31,32は同一構造で形成されてい
る。また、これらの半導体レーザアレイ31,32に対
して対をなし、射出光を平行光として走査光学系にカッ
プリングさせるためのコリメータレンズ33,34(第
1,2のコリメータレンズ)も設けられている。A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 6 is an exploded perspective view showing the multi-beam light source device of the present embodiment, and FIG. 7 is a longitudinal sectional side view in an assembled state. This embodiment is applied to a multi-beam light source device using a beam combining means as in the case of Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-72407. Further, it is configured as a four-beam light source device using two semiconductor laser arrays 31, 32 (first and second semiconductor laser arrays) each having two light emitting points. These semiconductor laser arrays 31, 32 have the same structure. In addition, collimator lenses 33 and 34 (first and second collimator lenses) for forming pairs with the semiconductor laser arrays 31 and 32 and coupling the emitted light into parallel light to the scanning optical system are provided. I have.
【0027】また、半導体レーザアレイ31とコリメー
タレンズ33とを一体に保持する第1の保持部材35
と、半導体レーザアレイ32とコリメータレンズ34と
を一体に保持する第2の保持部材36とが設けられてい
る。これらの保持部材35,36は何れもアルミダイキ
ャスト製のもので、同一形状に形成されている。これら
の保持部材35,36の背面側には半導体レーザアレイ
31,32を圧入支持させるための段差付きの嵌合穴3
7が各々形成されている。コリメータレンズ33,34
は各々半導体レーザアレイ31,32の複数個の発光点
を副走査方向に配列させるとともに、射出軸a1,a2
(第1,2の射出軸=レンズ中心軸)に対して2個の発
光点が対称に配置されるように副走査方向の位置合せが
なされ、かつ、その射出光が平行光束となるように光軸
方向の位置合せがなされて、各々の支持部材35,36
に形成されたU字状支持部37,38に対して紫外線硬
化接着剤39を充填し硬化させることにより固定され
る。このようにして、半導体レーザアレイ31、コリメ
ータレンズ33及び支持部材35により第1の光源部4
0が構成され、半導体レーザアレイ32、コリメータレ
ンズ34及び支持部材36により第2の光源部41が構
成されている。A first holding member 35 for holding the semiconductor laser array 31 and the collimator lens 33 integrally.
And a second holding member 36 for integrally holding the semiconductor laser array 32 and the collimator lens 34. Each of these holding members 35 and 36 is made of aluminum die-cast, and is formed in the same shape. On the back side of these holding members 35, 36, fitting holes 3 with steps for press-fitting and supporting the semiconductor laser arrays 31, 32 are provided.
7 are formed respectively. Collimator lenses 33, 34
Indicate that a plurality of light emitting points of the semiconductor laser arrays 31 and 32 are arranged in the sub-scanning direction, and that the emission axes a1 and a2
Positioning in the sub-scanning direction is performed so that the two light emitting points are symmetrically arranged with respect to (first and second emission axes = lens center axis), and the emitted light becomes a parallel light beam. The alignment in the optical axis direction is performed, and the respective support members 35 and 36 are aligned.
Is fixed by filling and curing the ultraviolet curing adhesive 39 with respect to the U-shaped support portions 37 and 38 formed in the above. Thus, the first light source unit 4 is formed by the semiconductor laser array 31, the collimator lens 33, and the support member 35.
0, and a second light source section 41 is constituted by the semiconductor laser array 32, the collimator lens 34, and the support member 36.
【0028】また、前述の特開平7−72407号公報
に示されるような平行四辺形柱部42aと三角柱部42
bとを組合せたプリズム42によるビーム合成手段が設
けられている。このプリズム42は第1,2の半導体レ
ーザアレイ31,32の各発光点から出射される複数の
レーザ光を走査光学系の光軸Cに対して副走査方向に近
接させて射出させるもので、第2の半導体レーザアレイ
32側からの入射部分には1/2波長板43が設けられ
ている。即ち、第2の半導体レーザアレイ32側からの
射出光は平行四辺形柱部42aの斜辺で反射された後、
三角柱部42bとの境界面でさらに反射されることによ
り、この三角柱部42部分を透過する第1の半導体レー
ザアレイ31側からの射出光と副走査方向に近接した状
態でプリズム42から射出される。A parallelogram pillar 42a and a triangular pillar 42 as disclosed in the above-mentioned Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-72407.
A beam combining means is provided by a prism 42 in which b is combined. The prism 42 emits a plurality of laser beams emitted from the respective light emitting points of the first and second semiconductor laser arrays 31 and 32 in the sub scanning direction with respect to the optical axis C of the scanning optical system. A half-wave plate 43 is provided at an incident portion from the second semiconductor laser array 32 side. That is, after the light emitted from the second semiconductor laser array 32 is reflected by the oblique side of the parallelogram pillar 42a,
The light is further reflected on the boundary surface with the triangular prism portion 42b, and is emitted from the prism 42 in a state in which the light is transmitted through the triangular prism portion 42 from the first semiconductor laser array 31 side and is close to the sub-scanning direction. .
【0029】さらに、ユニット化されたこれらの第1,
2の光源部40,41及びプリズム42を保持するホル
ダ部材42が設けられている。ここに、このホルダ部材
42は走査光学系の光軸Cを回動中心として所定の支持
部に回動調整自在に位置決めされるための円筒部45を
前面側中央に有し、背面側にはプリズム42が入り込む
プリズム収納部46に連続させてU字状支持部37,3
8部分やコリメータレンズ33,34部分を挿入させる
ための逃げ開口47が形成されており、ねじ穴48にね
じ着されるねじ49により支持部材35,36が固定さ
れている。この際、第1,2の支持部材35,36が取
付けられるホルダ部材42の取付面42a,42bを図
7に示すように各々主走査方向に角度を付けることによ
り、各々の射出軸a1,a2が被走査面に向かって徐々
に広がっていくように形成されている。よって、被走査
面では、図8に示すように、ビームスポット列が主走査
方向に間隔xをもって分離形成される。図8中、31
a,31bは半導体レーザアレイ31の2個の発光点に
より形成されるビームスポットを示し、32a,32b
は半導体レーザアレイ32の2個の発光点により形成さ
れるビームスポットを示す。Further, these first and first units are
A holder member 42 for holding the two light source units 40 and 41 and the prism 42 is provided. Here, the holder member 42 has a cylindrical portion 45 at the center on the front side, which is rotatably adjusted to a predetermined support portion around the optical axis C of the scanning optical system, and has a cylindrical portion 45 on the rear side. The U-shaped support portions 37 and 3 are connected to the prism housing portion 46 in which the prism 42 enters.
Escape openings 47 for inserting the eight portions and the collimator lenses 33 and 34 are formed, and the support members 35 and 36 are fixed by screws 49 screwed into the screw holes 48. At this time, the mounting surfaces 42a and 42b of the holder member 42 to which the first and second support members 35 and 36 are mounted are each angled in the main scanning direction as shown in FIG. Are formed so as to gradually spread toward the surface to be scanned. Therefore, on the surface to be scanned, as shown in FIG. 8, the beam spot rows are separated and formed at intervals x in the main scanning direction. In FIG. 8, 31
Reference numerals a and 31b denote beam spots formed by two light emitting points of the semiconductor laser array 31, and 32a and 32b
Indicates a beam spot formed by two light emitting points of the semiconductor laser array 32.
【0030】このような構成によれば、走査光学系の光
軸Cを回動中心としてホルダ部材44を回動調整して傾
け量γを適宜設定するだけで、各々の半導体レーザアレ
イ31,32のビームスポット31a,31b列、ビー
ムスポット32a,32b列の副走査方向の相対位置を
所定値に簡単かつ正確に合せることができる。よって、
組立効率が向上する。According to such a configuration, each of the semiconductor laser arrays 31 and 32 can be set simply by adjusting the rotation of the holder member 44 about the optical axis C of the scanning optical system and appropriately setting the tilt amount γ. The relative positions of the beam spots 31a and 31b and the beam spots 32a and 32b in the sub-scanning direction can be easily and accurately adjusted to predetermined values. Therefore,
Assembly efficiency is improved.
【0031】また、本実施の形態では、支持部材35,
36に関してホルダ部材44の取付面上で各射出軸a
1,a2を回転中心として位置決めを可能とする円筒部
35a,36aが形成されており、ホルダ部材44に対
して各々独立して回動調整自在とされている。これによ
り、各ビームスポット31a,31b列、ビームスポッ
ト32a,32b列における隣接ピッチPを予めP>2
pとなるように走査光学系の副走査倍率βsを設定する
ことで、各射出軸a1,a2を回動中心とした傾け量α
の調整により各ビームスポット31a,31b列、ビー
ムスポット32a,32b列の副走査方向の間隔d(=
P/2=P・cosα)を正確に合せることが可能とな
る。さらに、傾け量γによっても各ビームスポット31
a,31b列、ビームスポット32a,32b列は常に
一定姿勢に維持することができ、副走査ピッチを正確に
保つことが可能となる。In this embodiment, the support members 35,
Each injection shaft a on the mounting surface of the holder member 44 with respect to 36
Cylindrical portions 35a and 36a that can be positioned around the rotation center 1 and a2 are formed, and the rotation thereof can be independently adjusted with respect to the holder member 44 independently. Thereby, the adjacent pitch P in each of the beam spots 31a and 31b and the beam spots 32a and 32b is previously set to P> 2.
By setting the sub-scanning magnification βs of the scanning optical system so as to be p, the inclination amount α about each of the emission axes a1 and a2 as the rotation center is set.
Of the beam spots 31a and 31b and the beam spots 32a and 32b in the sub-scanning direction by adjusting d (=
P / 2 = P · cos α) can be accurately adjusted. Further, each beam spot 31 is also changed depending on the tilt amount γ.
The rows a and 31b and the rows of beam spots 32a and 32b can always be maintained in a constant attitude, and the sub-scanning pitch can be accurately maintained.
【0032】このように構成された4ビーム光源ユニッ
ト48から射出される4本のレーザ光は、図9に示すよ
うに、シリンダレンズ49を介してポリゴンミラー50
で偏向走査され、結像用の走査光学系51を構成するf
θレンズ52及びトロイダルレンズ53により被走査面
である感光体54面上に結像されることで、4ライン同
時記録が行われる。55は反射ミラーである。また、5
6は画像領域外で検知用ミラー57で反射されるレーザ
光を受光して主走査ライン方向の同期をとるたの同期検
知センサである。As shown in FIG. 9, the four laser beams emitted from the four-beam light source unit 48 having the above-described structure are transmitted through a cylinder lens 49 to a polygon mirror 50.
F, which constitutes the scanning optical system 51 for image formation.
An image is formed on the surface of the photoreceptor 54, which is the surface to be scanned, by the θ lens 52 and the toroidal lens 53, so that four lines are simultaneously recorded. 55 is a reflection mirror. Also, 5
Reference numeral 6 denotes a synchronization detection sensor for receiving laser light reflected by the detection mirror 57 outside the image area to synchronize in the main scanning line direction.
【0033】なお、これらの実施の形態では、2つの発
光点を持つ半導体レーザアレイを用いた構成例とした
が、2つの発光点に限らず、3つ以上の発光点を持つ半
導体レーザアレイを用いるようにしてもよい。要は、複
数個の発光点が同一直線上に等ピッチで配列されていれ
ばよい。また、第1,2の射出軸a1,a2の設定に関
して、第一の実施の形態ではポリゴンミラーの近傍で交
差するように、第二の実施の形態では被走査面に向かっ
て徐々に広がっていくようにしたが、これらに限らず、
要は、主走査方向に所定角度隔てられていればよい。In these embodiments, a configuration example using a semiconductor laser array having two light emitting points has been described. However, a semiconductor laser array having three or more light emitting points is not limited to two light emitting points. It may be used. In short, it is only necessary that a plurality of light emitting points are arranged at the same pitch on the same straight line. Further, regarding the setting of the first and second emission axes a1 and a2, the first and second emission axes a1 and a2 gradually spread toward the surface to be scanned in the second embodiment so as to intersect near the polygon mirror in the first embodiment. I tried to go, but not limited to these,
In short, it is only necessary to be separated by a predetermined angle in the main scanning direction.
【0034】[0034]
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、ホルダ部
材を走査光学系の光軸を回動中心として回動調整するだ
けの単純な作業で第1,2の半導体レーザアレイの各発
光点によるビームスポット列間の副走査相対位置の調整
が可能となり、組立効率を向上させることができる。According to the first aspect of the present invention, each light emission of the first and second semiconductor laser arrays is performed by a simple operation of simply rotating and adjusting the holder member about the optical axis of the scanning optical system. It is possible to adjust the relative position in the sub-scanning between the beam spot arrays by the points, and it is possible to improve the assembly efficiency.
【0035】請求項2記載の発明によれば、ビーム合成
手段を利用した方式にあっても、ホルダ部材を走査光学
系の光軸を回動中心として回動調整するだけの単純な作
業で第1,2の半導体レーザアレイの各発光点によるビ
ームスポット列間の副走査相対位置の調整が可能とな
り、組立効率を向上させることができる。According to the second aspect of the present invention, even in the method using the beam combining means, the simple operation of simply rotating the holder member about the optical axis of the scanning optical system as the rotation center can be performed. It is possible to adjust the relative position in the sub-scanning between the beam spot arrays by the light emitting points of the first and second semiconductor laser arrays, thereby improving the assembling efficiency.
【0036】請求項3記載の発明によれば、ビーム合成
手段を利用する請求項2記載のマルチビーム光源装置に
おいて、第1,2の半導体レーザアレイのビームスポッ
ト列における副走査ピッチを個別に調整でき、高精度化
を図れるため、より高品位な画像記録が可能となる。According to the third aspect of the present invention, in the multi-beam light source device according to the second aspect, the sub-scanning pitch in the beam spot arrays of the first and second semiconductor laser arrays is individually adjusted. As a result, higher precision can be achieved, so that higher-quality image recording becomes possible.
【0037】請求項4記載の発明によれば、請求項1又
は2記載のマルチビーム光源装置において、半導体レー
ザアレイのビームスポット列間の副走査方向の相対位置
を調整した後に、ビームスポット列における副走査ピッ
チの変化を許容値に抑えることができ、高精度化を図れ
るため、高品位な画像記録が可能となる。According to a fourth aspect of the present invention, in the multi-beam light source device according to the first or second aspect, after adjusting the relative position in the sub-scanning direction between the beam spot rows of the semiconductor laser array, Since the change in the sub-scanning pitch can be suppressed to an allowable value and the accuracy can be improved, high-quality image recording can be performed.
【図1】本発明の前提として、2つの発光点を有する半
導体レーザアレイの発光点ピッチPsと被走査面におけ
る副走査ピッチPs′との関係を示す光学系説明図であ
る。FIG. 1 is an explanatory diagram of an optical system showing a relationship between a light emitting point pitch Ps of a semiconductor laser array having two light emitting points and a sub-scanning pitch Ps ′ on a surface to be scanned, as a premise of the present invention.
【図2】複数個の発光点の配列方式を示す説明図であ
る。FIG. 2 is an explanatory diagram showing a method of arranging a plurality of light emitting points.
【図3】本発明の第一の実施の形態のマルチビーム光源
装置を示す分解斜視図である。FIG. 3 is an exploded perspective view showing the multi-beam light source device according to the first embodiment of the present invention.
【図4】その組立状態における縦断側面図である。FIG. 4 is a vertical sectional side view in the assembled state.
【図5】被走査面上でのビームスポット配列を示す説明
図である。FIG. 5 is an explanatory diagram showing a beam spot array on a surface to be scanned.
【図6】本発明の第二の実施の形態のマルチビーム光源
装置を示す分解斜視図である。FIG. 6 is an exploded perspective view showing a multi-beam light source device according to a second embodiment of the present invention.
【図7】その組立状態における縦断側面図である。FIG. 7 is a vertical sectional side view in the assembled state.
【図8】被走査面上でのビームスポット配列を示す説明
図である。FIG. 8 is an explanatory diagram showing a beam spot array on a scanned surface.
【図9】レーザプリンタ構成例を示す斜視図である。FIG. 9 is a perspective view illustrating a configuration example of a laser printer.
11 第1の半導体レーザアレイ 12 第2の半導体レーザアレイ 13 第1のコリメータレンズ 14 第2のコリメータレンズ 15 支持部材 19 ホルダ部材 31 第1の半導体レーザアレイ 32 第2の半導体レーザアレイ 33 第1のコリメータレンズ 34 第2のコリメータレンズ 35 第1の支持部材 36 第2の支持部材 40 第1の光源部 41 第2の光源部 42 ビーム合成手段 44 ホルダ部材 Reference Signs List 11 first semiconductor laser array 12 second semiconductor laser array 13 first collimator lens 14 second collimator lens 15 support member 19 holder member 31 first semiconductor laser array 32 second semiconductor laser array 33 first Collimator lens 34 Second collimator lens 35 First support member 36 Second support member 40 First light source unit 41 Second light source unit 42 Beam combining unit 44 Holder member
Claims (4)
半導体レーザアレイと、 この第1の半導体レーザと同一構造の第2の半導体レー
ザアレイと、 前記第1の半導体レーザアレイから射出されるレーザ光
をカップリングする第1のコリメータレンズと、 前記第2の半導体レーザアレイから射出されるレーザ光
をカップリングする第2のコリメータレンズと、 前記第1の半導体レーザアレイと前記第1のカップリン
グレンズとを第1の射出軸上に配置させるとともに前記
第2の半導体レーザアレイと前記第2のカップリングレ
ンズとを前記第1の射出軸に対して主走査方向に所定角
度隔てた第2の射出軸上に配置させてこれらの部材を一
体に保持する支持部材と、 前記第1及び第2の半導体レーザアレイから出射される
複数のレーザ光を走査して被走査面にビームスポットを
形成するための走査光学系の光軸を回動中心として回動
調整自在に設けられて前記支持部材を保持するホルダ部
材と、を備えるマルチビーム光源装置。1. A first semiconductor laser array having a plurality of light emitting points on a straight line, a second semiconductor laser array having the same structure as the first semiconductor laser, and an emission from the first semiconductor laser array. A first collimator lens for coupling the laser light to be emitted, a second collimator lens for coupling the laser light emitted from the second semiconductor laser array, the first semiconductor laser array and the first And the second semiconductor laser array and the second coupling lens are separated by a predetermined angle in the main scanning direction with respect to the first emission axis. A support member arranged on a second emission axis to hold these members integrally, and scanning a plurality of laser beams emitted from the first and second semiconductor laser arrays And a holder member that is rotatably adjusted about the optical axis of a scanning optical system for forming a beam spot on the surface to be scanned and that holds the support member.
半導体レーザアレイと、 この第1の半導体レーザと同一構造の第2の半導体レー
ザアレイと、 前記第1の半導体レーザアレイから射出されるレーザ光
をカップリングする第1のコリメータレンズと、 前記第2の半導体レーザアレイから射出されるレーザ光
をカップリングする第2のコリメータレンズと、 前記第1の半導体レーザアレイと前記第1のカップリン
グレンズとを第1の射出軸上に配置させて一体に保持し
て第1の光源部を形成する第1の支持部材と、 前記第2の半導体レーザアレイと前記第2のカップリン
グレンズとを第2の射出軸上に配置させて一体に保持し
て第2の光源部を形成する第2の支持部材と、 前記第1及び第2の半導体レーザアレイから出射される
複数のレーザ光を走査して被走査面にビームスポットを
形成するための走査光学系の光軸に対して、前記複数の
レーザ光を副走査方向に近接させて射出させるビーム合
成手段と、 前記走査光学系の光軸を回動中心として回動調整自在に
設けられて、前記第1の射出軸と前記第2の射出軸とを
主走査方向に対して所定角度隔てて前記第1の支持部材
と前記第2の支持部材と前記ビーム合成手段とを一体に
保持するホルダ部材と、を備えるマルチビーム光源装
置。2. A first semiconductor laser array having a plurality of light emitting points on a straight line, a second semiconductor laser array having the same structure as the first semiconductor laser, and emission from the first semiconductor laser array. A first collimator lens for coupling the laser light to be emitted, a second collimator lens for coupling the laser light emitted from the second semiconductor laser array, the first semiconductor laser array and the first A first support member for forming a first light source section by disposing the coupling lens on a first emission axis and integrally holding the coupling lens, and the second semiconductor laser array and the second coupling A second support member that forms a second light source by holding a lens and a lens on a second emission axis and integrally holding the lens, and a plurality of laser beams emitted from the first and second semiconductor laser arrays; A beam combining unit that emits the plurality of laser beams in the sub-scanning direction in proximity to an optical axis of a scanning optical system for scanning light to form a beam spot on a surface to be scanned; The first support member and the first support member are provided so as to be freely rotatable about the optical axis of the first support member at a predetermined angle with respect to the main scanning direction. A multi-beam light source device comprising: a second support member; and a holder member that integrally holds the beam combining unit.
する前記第1及び第2の射出軸を回動中心として回動調
整自在に前記ホルダ部材に保持されている請求項2記載
のマルチビーム光源装置。3. The holder according to claim 2, wherein the first and second support members are rotatably adjustable about the corresponding first and second injection axes, respectively, on the holder member. Multi-beam light source device.
における複数個の発光点を各々副走査方向に配列し、前
記被走査面上での前記第1及び第2の射出軸間隔を隣接
する記録ラインピッチの2倍以上に設定してなる請求項
1又は2記載のマルチビーム光源装置。4. A plurality of light-emitting points in the first and second semiconductor laser arrays are arranged in the sub-scanning direction, and the first and second emission axis intervals on the surface to be scanned are adjacent to each other. 3. The multi-beam light source device according to claim 1, wherein the multi-beam light source device is set to be at least twice the recording line pitch.
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