JP2000064041A - 光学測定用ブラックロールおよびこれを具備する薄膜形成装置ならびにこれを用いる薄膜形成方法 - Google Patents
光学測定用ブラックロールおよびこれを具備する薄膜形成装置ならびにこれを用いる薄膜形成方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ブラックロールに密着させたフィルムの反射
率をｉｎ−ｓｉｔｕで測定する際に、ブラックロールか
らの反射をほとんどなくするような光学測定用ブラック
ロールおよびこれを具備する薄膜形成装置ならびにこれ
を用いる薄膜形成方法を提供する。 【解決手段】 黒色の回転円筒体３を有し、フィルム状
支持体を、回転円筒体３の円周面表面に密着させながら
走行させるとともに、円周面表面に密着したフィルム状
支持体に近接する位置に配設した光学モニタを用いて、
フィルム状支持体上に形成する薄膜の光学特性測定に供
するための光学測定用ブラックロール１において、光学
モニタから出射し、フィルム状支持体を透過して光学測
定用ブラックロール１に入射する入射光を吸収するため
の、円周面表面の円周方向に形成する少なくとも１本の
溝４を有することを特徴とする。
率をｉｎ−ｓｉｔｕで測定する際に、ブラックロールか
らの反射をほとんどなくするような光学測定用ブラック
ロールおよびこれを具備する薄膜形成装置ならびにこれ
を用いる薄膜形成方法を提供する。 【解決手段】 黒色の回転円筒体３を有し、フィルム状
支持体を、回転円筒体３の円周面表面に密着させながら
走行させるとともに、円周面表面に密着したフィルム状
支持体に近接する位置に配設した光学モニタを用いて、
フィルム状支持体上に形成する薄膜の光学特性測定に供
するための光学測定用ブラックロール１において、光学
モニタから出射し、フィルム状支持体を透過して光学測
定用ブラックロール１に入射する入射光を吸収するため
の、円周面表面の円周方向に形成する少なくとも１本の
溝４を有することを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光学測定用ブラック
ロールおよびこれを具備する薄膜形成装置ならびにこれ
を用いる薄膜形成方法に関し、さらに詳しくは、表面反
射をほとんどなくした光学測定用ブラックロールおよび
これを具備する薄膜形成装置ならびにこれを用いる薄膜
形成方法に関する。
ロールおよびこれを具備する薄膜形成装置ならびにこれ
を用いる薄膜形成方法に関し、さらに詳しくは、表面反
射をほとんどなくした光学測定用ブラックロールおよび
これを具備する薄膜形成装置ならびにこれを用いる薄膜
形成方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】近年、プラスチックのフィルムに光学薄
膜を形成して、様々な機能性フィルムを得る技術が盛ん
に行われているが、フィルム上に成膜される光学薄膜の
光学特性を、フィルムを走行させるとともに、ｉｎ−ｓ
ｉｔｕで測定する技術が要求される。フィルム上に光学
薄膜を成膜しながら光学特性を測定するには、一般に、
測定光の反射率の影響をなくすために黒色とした回転円
筒体からなるいわゆる光学測定用のブラックロールによ
り、フィルムを密着して回転しながら走行させつつ、フ
ィルム面の上下方向の変動を少なくし、光学モニタを用
いてフィルム面の反射率などの光学特性を測定してい
た。
膜を形成して、様々な機能性フィルムを得る技術が盛ん
に行われているが、フィルム上に成膜される光学薄膜の
光学特性を、フィルムを走行させるとともに、ｉｎ−ｓ
ｉｔｕで測定する技術が要求される。フィルム上に光学
薄膜を成膜しながら光学特性を測定するには、一般に、
測定光の反射率の影響をなくすために黒色とした回転円
筒体からなるいわゆる光学測定用のブラックロールによ
り、フィルムを密着して回転しながら走行させつつ、フ
ィルム面の上下方向の変動を少なくし、光学モニタを用
いてフィルム面の反射率などの光学特性を測定してい
た。
【０００３】しかしながら、低反射率の光学薄膜を形成
する場合、表面の反射は可視光領域でほとんどゼロに近
い状態なので、ブラックロールの反射率自体が０．０１
〜０．０５％を有し、さらにブラックロールの表面がム
ラになっている場合、反射率のバラツキが生じ、そのま
ま測定誤差として光学薄膜形成の反射率が測定されてい
た。したがって、フィルム面の表面反射のみを測定して
いるつもりでも、ブラックロールからの残存する小さな
反射まで拾ってしまう欠点があった。
する場合、表面の反射は可視光領域でほとんどゼロに近
い状態なので、ブラックロールの反射率自体が０．０１
〜０．０５％を有し、さらにブラックロールの表面がム
ラになっている場合、反射率のバラツキが生じ、そのま
ま測定誤差として光学薄膜形成の反射率が測定されてい
た。したがって、フィルム面の表面反射のみを測定して
いるつもりでも、ブラックロールからの残存する小さな
反射まで拾ってしまう欠点があった。
【０００４】また、ブラックロールの反射率が一定であ
れば、予め測定した値を差し引けば、フィルムの正確な
反射率の値を求めることができるが、ブラックロールの
表面粗度は悪く、反射率の値は不安定である。さらに、
ｉｎ−ｓｉｔｕで、光学モニターによりフィルムの反射
率測定を行う際、ブラックロールの表面の色ムラなどに
より、リアルタイムに得られる反射率のデータの信頼性
がなかった。また、実測値とのズレも発生しやすく、安
定した測定を行うことが困難であった。
れば、予め測定した値を差し引けば、フィルムの正確な
反射率の値を求めることができるが、ブラックロールの
表面粗度は悪く、反射率の値は不安定である。さらに、
ｉｎ−ｓｉｔｕで、光学モニターによりフィルムの反射
率測定を行う際、ブラックロールの表面の色ムラなどに
より、リアルタイムに得られる反射率のデータの信頼性
がなかった。また、実測値とのズレも発生しやすく、安
定した測定を行うことが困難であった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、かかる問題
点に鑑み、ブラックロールに密着させたフィルムの反射
率をｉｎ−ｓｉｔｕで測定する際に、ブラックロールか
らの反射をほとんどなくするような光学測定用ブラック
ロールおよびこれを具備する薄膜形成装置ならびにこれ
を用いる薄膜形成方法を提供することを課題とする。
点に鑑み、ブラックロールに密着させたフィルムの反射
率をｉｎ−ｓｉｔｕで測定する際に、ブラックロールか
らの反射をほとんどなくするような光学測定用ブラック
ロールおよびこれを具備する薄膜形成装置ならびにこれ
を用いる薄膜形成方法を提供することを課題とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の光学測定用ブラ
ックロールは、黒色の回転円筒体を有し、フィルム状支
持体を、回転円筒体の円周面表面に密着させながら走行
させるとともに、円周面表面に密着したフィルム状支持
体に近接する位置に配設した光学モニタを用いて、フィ
ルム状支持体上に形成する薄膜の光学特性測定に供する
ための光学測定用ブラックロールにおいて、光学モニタ
から出射し、フィルム状支持体を透過して光学測定用ブ
ラックロールに入射する入射光を吸収するための、円周
面表面の円周方向に形成する少なくとも１本の溝を有す
ることを特徴とする。溝部の円筒体の中心軸を含む面の
断面形状が、円筒体の中心軸に対して垂直および垂直か
ら斜め方向のいずれか一方に形成する形状であることが
望ましい。溝部は黒色であることが望ましい。
ックロールは、黒色の回転円筒体を有し、フィルム状支
持体を、回転円筒体の円周面表面に密着させながら走行
させるとともに、円周面表面に密着したフィルム状支持
体に近接する位置に配設した光学モニタを用いて、フィ
ルム状支持体上に形成する薄膜の光学特性測定に供する
ための光学測定用ブラックロールにおいて、光学モニタ
から出射し、フィルム状支持体を透過して光学測定用ブ
ラックロールに入射する入射光を吸収するための、円周
面表面の円周方向に形成する少なくとも１本の溝を有す
ることを特徴とする。溝部の円筒体の中心軸を含む面の
断面形状が、円筒体の中心軸に対して垂直および垂直か
ら斜め方向のいずれか一方に形成する形状であることが
望ましい。溝部は黒色であることが望ましい。
【０００７】本発明の薄膜形成装置は、請求項１に記載
の光学測定用ブラックロールを具備することを特徴とす
る。
の光学測定用ブラックロールを具備することを特徴とす
る。
【０００８】本発明の薄膜形成方法は、請求項１に記載
の光学測定用ブラックロールを用いることを特徴とす
る。
の光学測定用ブラックロールを用いることを特徴とす
る。
【０００９】上述した手段による作用としては、フィル
ム状支持体を通過してブラックロールへ進入する入射光
は、溝部でトラップされ、減衰吸収されるので、ブラッ
クロールからの反射はほとんど０％とすることができ
る。したがって、フィルム状支持体に光学薄膜を形成す
る場合に、フィルムの反射率をｉｎ−ｓｉｔｕで正確に
測定することができる。
ム状支持体を通過してブラックロールへ進入する入射光
は、溝部でトラップされ、減衰吸収されるので、ブラッ
クロールからの反射はほとんど０％とすることができ
る。したがって、フィルム状支持体に光学薄膜を形成す
る場合に、フィルムの反射率をｉｎ−ｓｉｔｕで正確に
測定することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】本発明は、フィルム状支持体にｉ
ｎ−ｓｉｔｕで光学薄膜を形成する場合に広く適用する
ことができる。本発明の実施の形態を以下の実施例につ
いて説明する。
ｎ−ｓｉｔｕで光学薄膜を形成する場合に広く適用する
ことができる。本発明の実施の形態を以下の実施例につ
いて説明する。
【００１１】
【実施例】図１は、本発明の実施例の光学測定用ブラッ
クロールの（ａ）概略斜視図、および（ｂ）Ａ−Ａ部の
概略断面図である。図２は、本発明の実施例の光学測定
用ブラックロールの溝部Ｂの概略断面図である。図３
（ａ）〜（ｃ）は本発明の実施例の光学測定用ブラック
ロールの溝部の変形例を示す概略断面図である。図４は
本発明の光学測定用ブラックロールを具備した薄膜形成
装置の一例である。
クロールの（ａ）概略斜視図、および（ｂ）Ａ−Ａ部の
概略断面図である。図２は、本発明の実施例の光学測定
用ブラックロールの溝部Ｂの概略断面図である。図３
（ａ）〜（ｃ）は本発明の実施例の光学測定用ブラック
ロールの溝部の変形例を示す概略断面図である。図４は
本発明の光学測定用ブラックロールを具備した薄膜形成
装置の一例である。
【００１２】図１（ａ）のように、光学測定用ブラック
ロール１は、中心軸上にシャフト２を設けた回転円筒体
３であり、その円周面表面は例えばなめらかな硬質ゴム
を使用している。色はつや消しの黒色を施している。回
転円筒体３の円周面表面には、例えば４本の溝４を円周
上に形成する。この場合は、反射率などの光学測定用の
光学モニタをフィルムの幅方向に４箇所使用する例であ
り、図示しない光学モニタをこれらの４本の溝４上に近
接して配置し、光学モニタからの入射光はこれらの溝４
部に略垂直方向から入射するように構成する。図１
（ｂ）は、光学測定用ブラックロール１の中心軸を含む
面の断面図であり、溝４部の断面形状が、回転円筒体３
の中心軸に対して垂直から斜め方向に形成する形状をし
ている。
ロール１は、中心軸上にシャフト２を設けた回転円筒体
３であり、その円周面表面は例えばなめらかな硬質ゴム
を使用している。色はつや消しの黒色を施している。回
転円筒体３の円周面表面には、例えば４本の溝４を円周
上に形成する。この場合は、反射率などの光学測定用の
光学モニタをフィルムの幅方向に４箇所使用する例であ
り、図示しない光学モニタをこれらの４本の溝４上に近
接して配置し、光学モニタからの入射光はこれらの溝４
部に略垂直方向から入射するように構成する。図１
（ｂ）は、光学測定用ブラックロール１の中心軸を含む
面の断面図であり、溝４部の断面形状が、回転円筒体３
の中心軸に対して垂直から斜め方向に形成する形状をし
ている。
【００１３】図２は、図１（ｂ）において溝４部Ｂの拡
大図であり、回転円筒体３の中心軸に対して垂直から斜
め方向に形成する形状をしているので、回転円筒体３の
表面から溝４部に略垂直方向から入射する光学モニタか
らの測定光は、溝４部にトラップされて、多数回の反射
を繰り返し、最終的には減衰して吸収され消滅する。
大図であり、回転円筒体３の中心軸に対して垂直から斜
め方向に形成する形状をしているので、回転円筒体３の
表面から溝４部に略垂直方向から入射する光学モニタか
らの測定光は、溝４部にトラップされて、多数回の反射
を繰り返し、最終的には減衰して吸収され消滅する。
【００１４】溝４の変形例として、図３を参照して説明
する。図３（ａ）〜（ｃ）は、図１（ｂ）において溝４
部Ｂの拡大図であり、溝４は、例えば図３（ａ）のよう
にＶ字型溝、図３（ｂ）のようにＵ字型溝、または、図
３（ｃ）のように人字型溝を形成していてもよい。Ｖ字
型溝は、ブラックロールの反射が、Ｖ字型の谷間に集ま
るような構造になっている。Ｕ字型溝は、加工は容易で
あるが、入射光を１００％トラップする構造ではない。
人字型溝は、Ｖ字型溝の応用例であり、加工は困難であ
るが、入射光を大幅にトラップすることができる。
する。図３（ａ）〜（ｃ）は、図１（ｂ）において溝４
部Ｂの拡大図であり、溝４は、例えば図３（ａ）のよう
にＶ字型溝、図３（ｂ）のようにＵ字型溝、または、図
３（ｃ）のように人字型溝を形成していてもよい。Ｖ字
型溝は、ブラックロールの反射が、Ｖ字型の谷間に集ま
るような構造になっている。Ｕ字型溝は、加工は容易で
あるが、入射光を１００％トラップする構造ではない。
人字型溝は、Ｖ字型溝の応用例であり、加工は困難であ
るが、入射光を大幅にトラップすることができる。
【００１５】以上、溝形成された光学測定用ブラックロ
ール１について説明したが、本発明の光学測定用ブラッ
クロール１は、実施例の構造になんら限定されず、他の
いかような構造の溝４部を有する光学測定用ブラックロ
ール１についても適用できる。
ール１について説明したが、本発明の光学測定用ブラッ
クロール１は、実施例の構造になんら限定されず、他の
いかような構造の溝４部を有する光学測定用ブラックロ
ール１についても適用できる。
【００１６】次に、フィルムに光学薄膜を形成しつつ、
ｉｎ−ｓｉｔｕで成膜された光学薄膜の反射率の測定を
行う場合について、上記の光学測定用ブラックロールを
具備する薄膜形成装置の一例である図４を参照して説明
する。光学薄膜形成装置５において、真空排気装置６に
より減圧される真空チャンバ７内に、ポリエチレンテレ
フタレートなどの高分子フィルムの支持体８を、送りロ
ール９からガイドロール１０ａ、１０ｂ、１０ｃ、１０
ｄ、光学測定用ブラックロール１を経由して巻き取りロ
ール１１に定速で走行させる走行装置を配設する。蒸発
手段としては、例えばスパッタリング装置、蒸着装置、
ＣＶＤ装置などを用い、光学薄膜原材料として例えばＳ
ｉの蒸発源１２ａおよびＮｂの蒸発源１２ｂをガイドロ
ール１０ｃに対向して２個配設する。また、真空チャン
バ７には、ガス導入バルブ１３を設けて、Ａｒガスおよ
び酸素ガスなどの反応ガスの導入流量を調節できるよう
にする。ガイドロール１０ｃは、図示を省略するが成膜
時に高分子フィルムの支持体８の温度上昇を防止するた
めに冷却される構造になっている。ここで、光学測定用
ブラックロール１は上記の回転円筒体の表面に溝形成さ
れた構造のものを使用する。さらに、光学測定用ブラッ
クロール１の高分子フィルムの支持体８が密着する面に
近接する位置には、光学特性測定用の光学モニタ１４を
取り付ける。この場合、光学モニタ１４は、支持体８に
成膜される光学薄膜の反射率特性を測定するために、光
学測定用ブラックロール１上に近接して、光学モニタ１
４からの測定光が光学測定用ブラックロール１の円周面
表面の溝形成部に略垂直に入射するように配置する。
ｉｎ−ｓｉｔｕで成膜された光学薄膜の反射率の測定を
行う場合について、上記の光学測定用ブラックロールを
具備する薄膜形成装置の一例である図４を参照して説明
する。光学薄膜形成装置５において、真空排気装置６に
より減圧される真空チャンバ７内に、ポリエチレンテレ
フタレートなどの高分子フィルムの支持体８を、送りロ
ール９からガイドロール１０ａ、１０ｂ、１０ｃ、１０
ｄ、光学測定用ブラックロール１を経由して巻き取りロ
ール１１に定速で走行させる走行装置を配設する。蒸発
手段としては、例えばスパッタリング装置、蒸着装置、
ＣＶＤ装置などを用い、光学薄膜原材料として例えばＳ
ｉの蒸発源１２ａおよびＮｂの蒸発源１２ｂをガイドロ
ール１０ｃに対向して２個配設する。また、真空チャン
バ７には、ガス導入バルブ１３を設けて、Ａｒガスおよ
び酸素ガスなどの反応ガスの導入流量を調節できるよう
にする。ガイドロール１０ｃは、図示を省略するが成膜
時に高分子フィルムの支持体８の温度上昇を防止するた
めに冷却される構造になっている。ここで、光学測定用
ブラックロール１は上記の回転円筒体の表面に溝形成さ
れた構造のものを使用する。さらに、光学測定用ブラッ
クロール１の高分子フィルムの支持体８が密着する面に
近接する位置には、光学特性測定用の光学モニタ１４を
取り付ける。この場合、光学モニタ１４は、支持体８に
成膜される光学薄膜の反射率特性を測定するために、光
学測定用ブラックロール１上に近接して、光学モニタ１
４からの測定光が光学測定用ブラックロール１の円周面
表面の溝形成部に略垂直に入射するように配置する。
【００１７】次に、この光学薄膜形成装置５を用いてフ
ィルタなどの光学薄膜を形成する方法の一例を説明す
る。まず、例えばポリエチレンテレフタレートなどの高
分子フィルムの支持体８を、送りロール９にセットし
て、送りロール９から巻き取りロール１１の方向へ、ガ
イドロール１０ａ、１０ｂ、１０ｃ、１０ｄおよび光学
測定用ブラックロール１を経由して巻き取りロール１１
に巻き取るようにする。次に、Ａｒガスおよび酸素ガス
の流量を調節しつつ、例えばＳｉの蒸発源１２ａおよび
Ｎｂの蒸発源１２ｂとを交互に蒸発させて、Ａｒガスお
よび酸素ガスの流量を調節しつつ、光学モニタ１４によ
り所定の反射率特性を満たすように膜厚を調整しつつ、
支持体８上に、予め光学設計された薄膜構成の光学薄膜
のＳｉＯ2 とＮｂ2 Ｏ5 を交互に多数層形成する。この
ような溝形成された光学測定用ブラックロール１を使用
することにより、光学測定用ブラックロール１からの測
定光の反射を０％として、支持体８上に形成された光学
薄膜の反射率をｉｎ−ｓｉｔｕで正確に測定することが
できる。
ィルタなどの光学薄膜を形成する方法の一例を説明す
る。まず、例えばポリエチレンテレフタレートなどの高
分子フィルムの支持体８を、送りロール９にセットし
て、送りロール９から巻き取りロール１１の方向へ、ガ
イドロール１０ａ、１０ｂ、１０ｃ、１０ｄおよび光学
測定用ブラックロール１を経由して巻き取りロール１１
に巻き取るようにする。次に、Ａｒガスおよび酸素ガス
の流量を調節しつつ、例えばＳｉの蒸発源１２ａおよび
Ｎｂの蒸発源１２ｂとを交互に蒸発させて、Ａｒガスお
よび酸素ガスの流量を調節しつつ、光学モニタ１４によ
り所定の反射率特性を満たすように膜厚を調整しつつ、
支持体８上に、予め光学設計された薄膜構成の光学薄膜
のＳｉＯ2 とＮｂ2 Ｏ5 を交互に多数層形成する。この
ような溝形成された光学測定用ブラックロール１を使用
することにより、光学測定用ブラックロール１からの測
定光の反射を０％として、支持体８上に形成された光学
薄膜の反射率をｉｎ−ｓｉｔｕで正確に測定することが
できる。
【００１８】以上、光学薄膜として、ＳｉＯ2 とＮｂ2
Ｏ5 とを交互に多数層形成した光学薄膜を形成する事例
を説明したが、他の反射防止薄膜、波長フィルタ、ミラ
ーなどの機能性を有する光学薄膜にも適用することがで
きる。
Ｏ5 とを交互に多数層形成した光学薄膜を形成する事例
を説明したが、他の反射防止薄膜、波長フィルタ、ミラ
ーなどの機能性を有する光学薄膜にも適用することがで
きる。
【００１９】
【発明の効果】本発明の光学測定用ブラックロールおよ
びこれを具備する薄膜形成装置ならびにこれを用いる薄
膜形成方法によれば、フィルムに光学薄膜を形成する場
合に、フィルムの反射率をｉｎ−ｓｉｔｕで正確に測定
することができる。
びこれを具備する薄膜形成装置ならびにこれを用いる薄
膜形成方法によれば、フィルムに光学薄膜を形成する場
合に、フィルムの反射率をｉｎ−ｓｉｔｕで正確に測定
することができる。
【図１】 本発明の実施例の光学測定用ブラックロール
の（ａ）概略斜視図、および（ｂ）Ａ−Ａ部の概略断面
図である。
の（ａ）概略斜視図、および（ｂ）Ａ−Ａ部の概略断面
図である。
【図２】 図１（ｂ）の本発明の実施例の光学測定用ブ
ラックロールの溝部Ｂの概略断面図である。
ラックロールの溝部Ｂの概略断面図である。
【図３】 （ａ）〜（ｃ）は、図２の本発明の実施例の
光学測定用ブラックロールの溝部の変形例を示す概略断
面図である。
光学測定用ブラックロールの溝部の変形例を示す概略断
面図である。
【図４】 本発明の光学測定用ブラックロールを具備す
る光学薄膜形成装置の一例である。
る光学薄膜形成装置の一例である。
１…光学測定用ブラックロール、２…シャフト、３…回
転円筒体、４…溝、５…光学薄膜形成装置、６…真空排
気装置、７…真空チャンバ、８…支持体、９…送りロー
ル、１０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄ…ガイドロール、
１１…巻き取りロール、１２ａ，１２ｂ…蒸発源、１３
…ガス導入バルブ、１４…光学モニタ
転円筒体、４…溝、５…光学薄膜形成装置、６…真空排
気装置、７…真空チャンバ、８…支持体、９…送りロー
ル、１０ａ，１０ｂ，１０ｃ，１０ｄ…ガイドロール、
１１…巻き取りロール、１２ａ，１２ｂ…蒸発源、１３
…ガス導入バルブ、１４…光学モニタ
Claims (5)
- 【請求項１】 黒色の回転円筒体を有し、 フィルム状支持体を、前記回転円筒体の円周面表面に密
着させながら走行させるとともに、前記円周面表面に密
着した前記フィルム状支持体に近接する位置に配設した
光学モニタを用いて、前記フィルム状支持体上に形成す
る薄膜の光学特性測定に供するための光学測定用ブラッ
クロールにおいて、 前記光学モニタから出射し、前記フィルム状支持体を透
過して前記光学測定用ブラックロールに入射する入射光
を吸収するために、前記円周面表面の円周方向に形成す
る少なくとも１本の溝を有することを特徴とする光学測
定用ブラックロール。 - 【請求項２】 前記溝部の前記回転円筒体の中心軸を含
む面の断面形状が、前記回転円筒体の中心軸に対して垂
直および垂直から斜め方向のいずれか一方に形成する形
状であることを特徴とする請求項１に記載の光学測定用
ブラックロール。 - 【請求項３】 前記溝部は黒色であることを特徴とする
請求項１に記載の光学測定用ブラックロール。 - 【請求項４】 請求項１に記載の光学測定用ブラックロ
ールを具備することを特徴とする薄膜形成装置。 - 【請求項５】 請求項１に記載の光学測定用ブラックロ
ールを用いることを特徴とする薄膜形成方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10233038A JP2000064041A (ja) | 1998-08-19 | 1998-08-19 | 光学測定用ブラックロールおよびこれを具備する薄膜形成装置ならびにこれを用いる薄膜形成方法 |
| US09/369,283 US6111648A (en) | 1998-08-19 | 1999-08-06 | Black roll for optical measurement, thin film forming apparatus including the dame, and thin film forming method using the same |
| EP99115907A EP0981044A3 (en) | 1998-08-19 | 1999-08-12 | Black roll for optical measurement, and apparatus and method for producing a thin film using such a roll |
| CA002280294A CA2280294A1 (en) | 1998-08-19 | 1999-08-13 | Black roll for optical measurement, thin film forming apparatus including the same, and thin film forming method using the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10233038A JP2000064041A (ja) | 1998-08-19 | 1998-08-19 | 光学測定用ブラックロールおよびこれを具備する薄膜形成装置ならびにこれを用いる薄膜形成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000064041A true JP2000064041A (ja) | 2000-02-29 |
Family
ID=16948838
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