FR2820545B1 - Procede et dispositif de verification d'un groupe de cellules de memoire non volatile - Google Patents
Procede et dispositif de verification d'un groupe de cellules de memoire non volatileInfo
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Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR0101442A FR2820545B1 (fr) | 2001-02-02 | 2001-02-02 | Procede et dispositif de verification d'un groupe de cellules de memoire non volatile |
| EP02701353A EP1356473A1 (fr) | 2001-02-02 | 2002-01-30 | Procede et dispositif de verification d'un groupe de cellules de memoire non volatile |
| US10/363,234 US6778440B2 (en) | 2001-02-02 | 2002-01-30 | Method and device for checking a group of cells in a non-volatile memory cells |
| PCT/FR2002/000361 WO2002063632A1 (fr) | 2001-02-02 | 2002-01-30 | Procede et dispositif de verification d'un groupe de cellules de memoire non volatile |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR0101442A FR2820545B1 (fr) | 2001-02-02 | 2001-02-02 | Procede et dispositif de verification d'un groupe de cellules de memoire non volatile |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FR2820545A1 FR2820545A1 (fr) | 2002-08-09 |
| FR2820545B1 true FR2820545B1 (fr) | 2003-05-30 |
Family
ID=8859567
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FR0101442A Expired - Fee Related FR2820545B1 (fr) | 2001-02-02 | 2001-02-02 | Procede et dispositif de verification d'un groupe de cellules de memoire non volatile |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6778440B2 (fr) |
| EP (1) | EP1356473A1 (fr) |
| FR (1) | FR2820545B1 (fr) |
| WO (1) | WO2002063632A1 (fr) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007226380A (ja) * | 2006-02-22 | 2007-09-06 | Ricoh Co Ltd | 不揮発性メモリカード |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5172338B1 (en) * | 1989-04-13 | 1997-07-08 | Sandisk Corp | Multi-state eeprom read and write circuits and techniques |
| JP2863012B2 (ja) * | 1990-12-18 | 1999-03-03 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置 |
| US5361227A (en) * | 1991-12-19 | 1994-11-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Non-volatile semiconductor memory device and memory system using the same |
| FR2690751B1 (fr) * | 1992-04-30 | 1994-06-17 | Sgs Thomson Microelectronics | Procede et circuit de detection de fuites de courant dans une ligne de bit. |
| US5600593A (en) * | 1994-12-06 | 1997-02-04 | National Semiconductor Corporation | Apparatus and method for reducing erased threshold voltage distribution in flash memory arrays |
| EP0814483B1 (fr) * | 1996-06-18 | 2003-08-27 | STMicroelectronics S.r.l. | Procédé et circuit de lecture pour cellules de mémoire non-volatiles, avec circuit d'égalisation |
| JP3501916B2 (ja) * | 1997-02-28 | 2004-03-02 | シャープ株式会社 | 半導体記憶装置およびその一括消去ベリファイ方法 |
| JP3920501B2 (ja) * | 1999-04-02 | 2007-05-30 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶装置及びそのデータ消去制御方法 |
| US6785689B1 (en) * | 2001-06-28 | 2004-08-31 | I2 Technologies Us, Inc. | Consolidation of multiple source content schemas into a single target content schema |
| US7149746B2 (en) * | 2002-05-10 | 2006-12-12 | International Business Machines Corporation | Method for schema mapping and data transformation |
-
2001
- 2001-02-02 FR FR0101442A patent/FR2820545B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-01-30 WO PCT/FR2002/000361 patent/WO2002063632A1/fr not_active Ceased
- 2002-01-30 EP EP02701353A patent/EP1356473A1/fr not_active Withdrawn
- 2002-01-30 US US10/363,234 patent/US6778440B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6778440B2 (en) | 2004-08-17 |
| EP1356473A1 (fr) | 2003-10-29 |
| FR2820545A1 (fr) | 2002-08-09 |
| WO2002063632A1 (fr) | 2002-08-15 |
| US20030174556A1 (en) | 2003-09-18 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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