[go: up one dir, main page]

FI20055326A0 - Förfarande och mätanordning för mätning med mikrovågor - Google Patents

Förfarande och mätanordning för mätning med mikrovågor

Info

Publication number
FI20055326A0
FI20055326A0 FI20055326A FI20055326A FI20055326A0 FI 20055326 A0 FI20055326 A0 FI 20055326A0 FI 20055326 A FI20055326 A FI 20055326A FI 20055326 A FI20055326 A FI 20055326A FI 20055326 A0 FI20055326 A0 FI 20055326A0
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
measuring device
microwave measurement
microwave
measurement
measuring
Prior art date
Application number
FI20055326A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI20055326L (sv
FI119744B (sv
Inventor
Taisto Soikkeli
Original Assignee
Elektrobit Microwave Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Elektrobit Microwave Oy filed Critical Elektrobit Microwave Oy
Priority to FI20055326A priority Critical patent/FI119744B/sv
Publication of FI20055326A0 publication Critical patent/FI20055326A0/sv
Priority to PCT/FI2006/050266 priority patent/WO2006134237A1/en
Publication of FI20055326L publication Critical patent/FI20055326L/sv
Application granted granted Critical
Publication of FI119744B publication Critical patent/FI119744B/sv

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N22/00—Investigating or analysing materials by the use of microwaves or radio waves, i.e. electromagnetic waves with a wavelength of one millimetre or more
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2617—Measuring dielectric properties, e.g. constants
    • G01R27/2623—Measuring-systems or electronic circuits
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2617—Measuring dielectric properties, e.g. constants
    • G01R27/2635—Sample holders, electrodes or excitation arrangements, e.g. sensors or measuring cells
    • G01R27/2658—Cavities, resonators, free space arrangements, reflexion or interference arrangements
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01P—WAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P7/00—Resonators of the waveguide type
    • H01P7/06—Cavity resonators

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
FI20055326A 2005-06-17 2005-06-17 Förfarande och mätanordning för mätning med mikrovågor FI119744B (sv)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20055326A FI119744B (sv) 2005-06-17 2005-06-17 Förfarande och mätanordning för mätning med mikrovågor
PCT/FI2006/050266 WO2006134237A1 (en) 2005-06-17 2006-06-16 Method and measuring device for measuring with microwaves

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20055326A FI119744B (sv) 2005-06-17 2005-06-17 Förfarande och mätanordning för mätning med mikrovågor
FI20055326 2005-06-17

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20055326A0 true FI20055326A0 (sv) 2005-06-17
FI20055326L FI20055326L (sv) 2006-12-18
FI119744B FI119744B (sv) 2009-02-27

Family

ID=34778462

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20055326A FI119744B (sv) 2005-06-17 2005-06-17 Förfarande och mätanordning för mätning med mikrovågor

Country Status (2)

Country Link
FI (1) FI119744B (sv)
WO (1) WO2006134237A1 (sv)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI121195B (sv) 2006-06-22 2010-08-13 Senfit Oy Förfarande och mätanordning för mätning av radiovãgor
EP2530458B1 (en) * 2010-01-28 2014-05-21 Oji Holdings Corporation Method and device for measuring basis weight and water content amount
US9797703B2 (en) * 2016-03-07 2017-10-24 Duke University Non-invasive thickness measurement using resonant frequency shift
CN111433556A (zh) 2017-06-05 2020-07-17 杜克大学 使用固定频率的非侵入性厚度测量

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1351107A (en) * 1953-10-23 1974-04-24 Emi Ltd Range sensitive devices
BE759483R (fr) * 1969-12-08 1971-04-30 Commissariat Energie Atomique Procede de mesure d'un deplacement et dispositif en faisant applicatio
US6297648B1 (en) * 1996-08-16 2001-10-02 The Boeing Company Oscillating cavity paint meter
FI119005B (sv) * 2004-09-20 2008-06-13 Senfit Oy Förfarande för mätning på mikrovågor, mätapparat och oscillator

Also Published As

Publication number Publication date
FI20055326L (sv) 2006-12-18
FI119744B (sv) 2009-02-27
WO2006134237A1 (en) 2006-12-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI20050891A0 (sv) Vågande nederbördsgivare och förfarande för nederbördsmätning
BRPI0615288A2 (pt) dispositivo e método de medida de distância
DK1946047T3 (da) Apparat til interferometrisk måling
DE602007002032D1 (de) Messvorrichtung und Messverfahren
FI20050445L (sv) Förfarande och anordning för eliminering av störningar under elektromagnetisk flerkanlmätning
FI20051233L (sv) Kalibreringsförfarande och system för mätare
DE602006005034D1 (de) Distanzmessverfahren und Distanzmessvorrichtung
FI20065502A0 (sv) Anordning för mätning av magnetiska partiklar och motsvarande förfarande
FI20065063A0 (sv) Förfarande och mätanordning för att mäta en ytas förskjutning
NO20050592A (no) Apparat for strømningsmåling
FI20065439A0 (sv) Förfarande och mätanordning för mätning av radiovågor
DE602007000521D1 (de) Messvorrichtung und Messverfahren
FI20070899A0 (sv) Förfarande och mätverktyg för fordonsmätning
FI20050530A0 (sv) Förfarande och anordning för kalibrering av relativ koncentrationsmätning
FI20070713A0 (sv) Detektoranordning för elektromagnetisk strålning och förfarande för mätning av elektromagnetisk strålning
FI20055326A0 (sv) Förfarande och mätanordning för mätning med mikrovågor
FI20051219A0 (sv) Apparat och förfarande för att utforma långsträckt material
FI20040471A0 (sv) Förfarande och anordning för förbättrad noggrannhet vid vägning
FI20080201A0 (sv) Förfarande och mätanordning för att bestämma egenskaperna hos trä
FI20051223A0 (sv) Förfarande och anordning för mätning av jonrörligheten i en gas
DE502005007688D1 (de) Positionsmesseinrichtung und Verfahren zur Positionsmessung
SE0401049L (sv) Metod och anordning för att mäta ett objekts utsträckning
FI20065239A0 (sv) Förfarande och anordning för att måttsätta och göra faner rektagulärt
FI20065257A0 (sv) Arrangemang och förfarande för mätning av magnetiska partiklar
SE0500878L (sv) Mätmetod och anordning för gasmätning i människans hålrum

Legal Events

Date Code Title Description
PC Transfer of assignment of patent

Owner name: SENFIT OY

Free format text: SENFIT OY

FG Patent granted

Ref document number: 119744

Country of ref document: FI

MM Patent lapsed