EE201700005A - Meetod ja seade sageduskarakteristiku mõõtmiseks - Google Patents
Meetod ja seade sageduskarakteristiku mõõtmiseksInfo
- Publication number
- EE201700005A EE201700005A EEP201700005A EEP201700005A EE201700005A EE 201700005 A EE201700005 A EE 201700005A EE P201700005 A EEP201700005 A EE P201700005A EE P201700005 A EEP201700005 A EE P201700005A EE 201700005 A EE201700005 A EE 201700005A
- Authority
- EE
- Estonia
- Prior art keywords
- reference waveform
- signal
- response signal
- window
- response
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
Abstract
Leiutiseks on meetod ja seade sageduskarakteristiku mõõtmiseks, mis sisaldab ajast sõltuva sagedusega mõõdetava objekti ergutussignaali (näiteks lineaarse siinus-chirpi) genereerimist ning ajast sõltuvat lühikeses libisevas ajavallaaknas toimuvat objekti vastussignaali analüüsi, kusjuures vastussignaali võendamishetked on genereeritud vastavalt ergutussignaali etteantud faasisammule ning libisevas analüüsiajaaknas on etteantud arv vastussignaali järjestikulisi võendeid. Vastussignaali analüüs lühikeses libisevas ajavallaaknas võib olla teostatud tema korrutamise ja akumuleerimisega paralleelselt kahe erineva tugilainekujuga, millest üks võib olla ergutussignaaliga sama lainekujuga siinus-chirp ning teine vastav koosinus-chirp ning analüüsi tulemusteks on vastava sageduskäigu reaal- ja imaginaarosad.
Description
Tehnikavaldkond
Leiutis kuulub mõõtetehnika, täpsemalt sageduskarakteristikute mõõtmise valdkonda. Antud valdkonda kuuluvad ka elektriahelate analüsaatorid ning vektorimpedantsi mõõtjad, mis samuti määravad elektriliste ülekandekarakteristikute sagedussõltuvusi. Leiutise olulisteks kasutusaladeks on elektrilised bioimpedantsi mõõtjad (rakendustega meditsiinilises diagnostikas), elektri- ja elektroonikaskeemide testrid, elektrokeemiliste elementide analüsaatorid (nt patareide seisukorra hindamiseks) ning lahendused materjalide omaduste uurimiseks ja tuvastuseks nende elektriliste omaduste kaudu.
Tehnika tase
On tuntud lahendused, kus skeemi või ahela ülekannet mõõdetakse (nt siinusekujulise) vahelduvsignaaliga ergutuse tulemusena tekkinud vastussignaali korrutamise ja akumuleerimise teel mainitud ergutussignaaliga, st ergutus- ja vastussignaalide konvolutsiooniga. Samuti võidakse analoogiliselt kasutada (ergutussignaali suhtes 90° faasis nihutatud) teist tugisignaali teise konvolutsiooni leidmiseks (nn kvadratuur-komponent), vt US7428683B2. Taolise lahenduse puuduseks on asjaolu, et tulemus tekib kahe signaali (tugi- ja mõõdetava vastussignaali) konvolutsiooni (korrutamise ja akumuleerimise) tulemusel ühe integraalse tulemusena üle terve mõõtetsükli, mis esiteks ei näita mõõdetava ahela või objekti ülekannet eri sagedustel eraldi ("sageduskäiku") ja teiseks ei saa taoline integraalne mõõtmine kajastada õigesti ka ajas muutuvat (dünaamilist) ahelat või objekti.
Sageduskarakteristikute mõõtmiseks ning ajas dünaamiliste ahelate ja objektide mõõtmiseks on tuntud tehnilised lahendused, kus kasutatakse laiaribalist ergutussignaali, mh ajas muutuva sagedusega (nt chirp) ning (vastus-)signaalide analüüsi osas suhteliselt lühikeses ajas libisevas aknas sageduslikke teisendusi, näiteks lühiajalist Fourier' teisendust (STFT). Selline lahendus on kirjeldatud K. Darowicki, P. Slepski artiklis, „Influence of the analyzing window on electrode impedance measurement by the continuous frequency scanning method“, Journal of Electroanalytical Chemistry, vol. 533, issue 1-2, 20 Sept 2002, pp. 25-31, Elsevier Science. Leiutisele kõige lähedasem ja tehnilise tulemuse poolest kõige sarnasem lahendus on kirjeldatud patendikirjelduses EE05616B1 (US8854030B2) „Meetod ja seade sagedus-karakteristiku mõõtmiseks". Antud lahenduses kasutatakse ergutussignaalina ajas muutuva sagedusega ergutusignaali (nt chirp) ning mõõtetulemus arvutatakse mõõdetavalt objektilt saadud vastussignaali konvolueerimisega (digitaalsel realiseerituna korrutamise ja akumuleerimisega) suhteliselt lühikeses ajas libisevas ajaaknas esimese tugisignaaliga, (mis omab ergutussignaaliga ajavallas sama lainekuju) ühes („samas-faasis") mõõtekanalis ning teise („kvadratuur") tugisignaaliga (nt koosinus-chirp, kui esimene tugisignaal on siinus-chirp) teises mõõtekanalis.
Seejuures kasutatakse kirjeldatud muutuva (nt chirp ergutusega) signaalisagedusega lahendustes lihtsat (ühtlast) võendamist pidevate (analooog-)signaalide diskreetimisel ajas, analoog-digitaal-muundamisel, vastussignaali hõivel ning ka vastupidi (digitaal-analoog-muundamisel) - ergutussignaali genereerimisel. Samuti on esimene ja teine tugisignaalid (näiteks Fourier' koefitsendid STFT puhul) antud vastussignaali võendamisega samadel kui diskreetsetel ühtlase ajasammuga hetkedel.
Kõigi kirjeldatud muutuva (nt chirp-ergutusega) signaalisagedusega lahenduste üheks oluliseks puuduseks on mõõtetulemuse viga, mis on seotud signaalide sageduse pideva muutumisega võendamissageduse suhtes, mille tulemusena satub mainitud suhteliselt lühikesse analüüsi (konvolutsiooni) aknasse mittetäisarv võendamisintervalle, mille pidevalt muutuv (ja analüüsist välja jääv) murdarvuline osa tekitab hüpleva veakomponendi. Analoogiline efekt fikseeritud sagedusega signaalide puhul (kui võendamisintervalle on nt Fourier' teisenduse analüüsiaknas mitte-täisarv) on tuntud „spektri lekkena".
Leiutise olemus
Leiutise eesmärgiks on sageduskarakteristikute mõõtmise lahenduse täpsuse tõstmine. Eesmärk saavutatakse, võrreldes tuntud lahendusega, kus samuti kasutatakse ajas suhteliselt kiiresti muutuva sagedusega ergutussignaali ning vastussignaali analüüsi suhteliselt lühikeses libisevas ajaaknas, sellega, et vastussignaali võendamishetked on genereeritud vastavalt ergutussignaali etteantud faasisammule ning mainitud suhteliselt lühikesse libisevasse ajaaknasse võetakse etteantud arv vastussignaali võendeid.
Mainitud suhteliselt lühikeses libisevas ajavallaaknas tehtav vastussignaali analüüs on mõistlik teostada korrutamise ja akumuleerimisega mainitud ajaaknas paralleelselt kahe erineva võendatud tugilainekujuga, millest üks on ergutussignaaliga sama kujuga ajavallas ja teine tugilainekuju on 90° faasis nihutatud variant esimesest tugilainekujust ning mainitud korrutamise ja akumuleerimise tulemuseks esimese ja teise tugilainekujuga on vastavalt sageduskarakteristiku reaal- ja imaginaarosad, sageduskäiguna vastavalt akna libisemisele. Mõistlik võib olla, et ergutussignaal ning esimene tugilainekuju on siinus-chirp ning teine tugilainekuju on vastav koosinus-chirp. On otstarbekas, et mainitud chirp-signaalid on ajas lineaarselt muutuva sagedusega (nn „lineaarne" chirp).
Mõistlik võib olla, et mainitud suhteliselt lühike libiseva ajavalla analüüsiaken sisaldab alati konstantset järjestikuliste võendite arvu (N) ning ergutusignaali faasi muutumise samm, millele vastavalt genereeritakse võendamishetked, on konstantselt 360° (või selle väärtuse täisarvkordse) jagatis (N+1)-ga.
Sageduskarakteristiku mõõtmise seadme osas, mis sisaldab ajas muutuva sagedusega võendatud tugilainekujude arvutajat (1) ning esimese ja teise tugilainekuju puhvreid (2 ja 3), mis initsialiseeritakse vastavalt mainitud tugilainekujude arvutaja (1) poolt; võendamise generaatorit (4); digitaal-analoog muundurit (5), mille signaalisisend on ühendatud esimese tugilainekuju puhvri (2) väljundisse ning mille võendamist juhib võendamise generaator (4) ning mille väljund on ühendatud mõõdetava objekti (6) ergutuse sisendiga; analoog-digitaal-muundurit (7), mille signaalisisend on ühendatud mõõdetavalt objektilt (6) saadava vastussignaaliga, ning mille võendamist juhib samuti võendamise generaator (4); vastussignaali puhvrit (8), mille sisend on ühendatud analoog-digitaal-muunduri (7) väljundiga; libisevat kahekanalilist analüüsiakent (9), mis analüüsib etteantud aknas vastussignaali puhvri (8) lainekuju võendite väärtusi paralleelselt esimese ning teise tugilainekuju puhvrite (2, 3) vastavate samas analüüsiaknas (9) olevate lainekujuväärtustega ning mille väljundiks on mõõdetava objekti (6) kompleksne impedantsiväärtuste sageduskäik. Leiutise eesmärk saavutatakse sellega, et seade sisaldab võendushetkede mustri arvutajat (10), mis juhib võendatud tugilainekujude arvutajat (1), ning võendamise generaatorit (4), kusjuures võendushetkede mustri arvutaja genereerib võendamismustri selliselt, et esimese ja teise tugilainekuju puhvrites (2, 3) olev faasisamm kahe järjestikulise võendi vahel on etteantud väärtus ning mainitud libisev analüüsiaken (9) sisaldab alati etteantud arvu võendeid nii esimese kui ka teise tugilainekuju puhvritest (2, 3) kui vastussignaali puhvrist (8). Mõistlik on, et mainitud libisev analüüsiaken (9) sisaldab vahendeid vastuvõetud signaali võendite korrutamiseks ja akumuleerimiseks paralleelselt nii esimese kui teise tugisignaali (90° nihutatud esimese suhtes) tugilainekuju puhvrites (2, 3) olevate vastavas analüüsiaknas (9) olevate väärtustega; mainitud akumuleerimise ja korrutamise vahendite väljundid näitavad vastavalt reaal- ja imaginaarosasid mõõdetavast sageduskäigust
Jooniste loetelu
Joonisel fig 1 on kujutatud pakutud lahenduse teostamise näite plokkskeem.
Joonisel fig 2 on kujutatud ühtlase sammuga faasinurkasid.
Joonisel fig 3 on kujutatud esimest ja teist tugilainekuju ning vastussignaali näiteid ajavallas koos võendamishetkedega.
Joonisel fig 4 on kujutatud ühe simulatsioonist mõõdetud impedantsi sageduskarakteristiku näide võrrelduna eeldatavaga.
Leiutise teostamise näide
Pakutud lahendus (fig 1) sisaldab võendushetkede mustri arvutajat (10) ning võendatud tugilainekujude arvutajat (1), mis arvutab esimese ja teise tugilainekuju (fig 2, sinChirp(ti). cosChirp(ti)), võendushetkede mustri arvutaja (10) poolt etteantud ajahetkedel. Fig 2-4 kujutatud näites on 11 võendamispunkti (fig 2, kujutatud 30° faasisammuga) ühes konvolutsiooni libisevas ajaaknas (fig 1 (9), fig 3). Tugilainekuju arvutaja (1) poolt leitud esimese ja teise tugilainekuju võenditega (fig 3, sinChirp(ti) cosChirp(ti)), algväärtustatakse esimese ja teise tugilainekuju puhvrid (2 ja 3). Esimese lainekuju puhvri väljundist saadetakse signaal (fig 3, sinChirp(ti)) läbi digitaal-analoog-muunduri (DAC) (5) analoogsignaalina mõõdetavale objektile (6), ergutusena. Vastussignaal mõõdetavalt objektilt (6) digitaliseeritakse analoog-digitaal-muunduris (ADC) (7) ning salvestatakse vastussignaali puhvris (8) (fig 3, BsinChirp(ti)). ADC (7) ning DAC (5) võendamist juhib võendamise generaator (4), vastavalt võendushetkede mustri arvutaja (10) poolt viimasele ette antud ajahetkedele (fig 3 näites 11 võendit BsinChirp(ti) antud konvolutsiooni libisevas ajaaknas). DAC (5) võendamishetked genereeritakse võendushetkede mustri arvutaja (10) ja võendamise generaatori (4) poolt. Nimetatud hetked võivad olla samad, mis ADC (7) osas või genereeritud (nt interpoleeritud vaheväärtustega) ülevõendatuna.
Libisevas kahe kanaliga analüüsiaknas (9) analüüsitakse vastussignaali puhvri (8) lainekuju võendite väärtusi paralleelselt esimese ning teise tugilainekuju puhvrite (2, 3) vastavate samas analüüsiaknas (9) olevate lainekujuväärtustega, mille tulemuseks on mõõdetava objekti (6) impedantsiväärtuste kompleksne sageduskäik.
Mainitud analüüs (libisevas analüüsiaknas (9)) on mõistlik teostada korrutamise ja akumuleerimisega üle mainitud analüüsiaknas (9) olevate võendite väärtuste; vastussignaali puhvrist (8) väärtused (11 võendit antud näites, fig 3) korrutatakse ja akumuleeritakse esimese tugilainekuju vastava 11 võendi väärtustega jooksva tulemuse reaalosa („samas faasis") saamiseks ning teise tugilainekuju vastava 11 võendi väärtustega jooksva tulemuse imaginaarosa („kvadratuurosa") saamiseks.
Sellisel viisil, vastavalt analüüsi akna (9) libisemisele ajas ning vastavalt muutuvale sagedusele, saadakse mõõdetava objekti (6) ülekandefunktsioon, sageduskäiguna. Kompleksset ülekandefunktsiooni teades saab omakorda arvutada mõõdetavate kompleksahelate impedantsi, kui need on mõõteskeemi osaks antud objektil (6).
Antud näites kasutati ergutussignaalina ning esimese tugilaine kujuna lineaarset chirpi (10kHz-1MHz, 1ms vältel) ning teise tugilainekujuna vastavat koosinus-chirpi. Et saavutada leiutise eesmärk, et igas libisevas analüüsiajaaknas (9) oleks vaatamata ergutus- jt signaalide suhteliselt kiiresti muutuvate sagedusele rangelt ühesugune arv intervalle (antud näites NN = 12, millele vastab NN -1 = 11 võendit) valitakse võendamishetked ja vastavad intervallid ajas niimoodi, et vastav esimese ja teise tugilainekuju faasisammud oleksid ette antud, antud näites konstantselt 360° / 12= 30° (Fig 2). NN mõistlik valik ning piisav suurus sõltuvad vajalikust mõõtetäpsusest reaalsete mitteideaalsuste (mürad, võendamishetkede värin jmt) määrast.
Libisevat analüüsiakent (9) võib nihutada jooksvalt ühe võendi kaupa edasi, saades niimoodi ajas ning vastavalt ka sageduslikult tulemuse väärtusi tihedamalt või suurema sammuga, nt veerandi, poole või terve täisakna laiuse võrra ilma ülekatteta.
Pakutud lahenduse näidet on simuleeritud 1 ms lineaarse chirp-signaaliga (sagedusvahemikus 10kHz-1MHz) libisevas ajaaknas (fig 2, 3) 11 võendiga ja 30° faasisammuga, korrutades ja akumuleerides vastussignaali tugilainekujudega mainitud siinus ja vastav koosinus-chirp, Fig 3 reaal- ja imaginaarosa saamiseks. Mõõdetava impedantsi Zx ergutus on läbi 1koomega takisti ning saadud ülekandefunktsioonist on leitud Zx sageduskäik (fig 4), võrrelduna eeldatavaga (arvutatuna Zx kui tuntud kompleksse ahela sageduskäiguna). Tulemus näitab pakutud lahenduse tulemuse head kokkulangemist eeldatavaga.
Claims (7)
- 1. Meetod sageduskarakteristiku mõõtmiseks, mis sisaldab ajas muutuva sagedusega mõõdetavale objektile rakendatud ergutussignaali genereerimist ning suhteliselt lühikeses libisevas ajaaknas teostatud mõõdetava objekti vastussignaali analüüsi vastussignaali analüsaatoris, mis erineb selle poolest, et vastussignaali võendamishetked genereeritakse vastavalt ergutussignaali ette antud faasisammule ning suhteliselt lühikesse libisevasse ajaaknasse võetakse etteantud arv vastussignaali võendeid.
- 2. Meetod vastavalt nõudluspunktile 1, mis erineb selle poolest, et vastussignaali analüüs teostatakse suhteliselt lühikeses libisevas ajavallaaknas konvolutsiooni arvutamise seadmes korrutamise ja akumuleerimisega mainitud ajaaknas paralleelselt kahe erineva võendatud tugilainekujuga, millest üks on ergutussignaaliga sama kujuga ajavallas ja teine tugilainekuju on 90° faasis nihutatud variant esimesest tugilainekujust ning vastussignaali korrutamise ja akumuleerimise tulemuseks esimese ja teise tugilainekujuga on vastavalt sageduskarakteristiku reaal- ja imaginaarosad, sageduskäiguna vastavalt akna libisemisele.
- 3. Meetod vastavalt nõudluspunktile 2, mis erineb selle poolest, et ergutussignaal ning esimene tugilainekuju on siinus-chirp ning teine tugilainekuju on vastav koosinus-chirp.
- 4. Meetod vastavalt nõudluspunktile 3, mis erineb selle poolest, et ergutussignaali ning esimese tugilainekuju siinus-chirp on ajas lineaarselt muutuva sagedusega ning teine tugilainekuju on mainitud siinus-chirbile vastav koosinus-chirp.
- 5. Meetod vastavalt nõudluspunktile 1, mis erineb selle poolest, et mainitud suhteliselt lühike libiseva ajavalla analüüsiaken sisaldab alati konstantset arvu (N) järjestikulisi võendeid ning ergutusignaali faasi muutumise samm, millele vastavalt genereeritakse võendamishetked, on konstantselt 360° (või selle täisarvkordse väärtuse) jagatis (N+1)-ga.
- 6. Seade sageduskarakteristiku mõõtmiseks, mis sisaldab ajas muutuva sagedusega võendatud tugilainekujude arvutajat (1) ning esimese ja teise tugilainekuju puhvreid (2 ja 3), mis on initsialiseeritud vastavalt tugilainekujude arvutaja (1) poolt; võendamise generaatorit (4); digitaal-analoog muundurit (5), mille signaali sisend on ühendatud esimese tugilainekuju puhvri (2) väljundisse ning mille võendamine on juhitud võendamise generaatori poolt (4) ning mille väljund on ühendatud mõõdetava objekti (6) ergutuse sisendiga; analoog-digitaal-muundurit (7), mille signaalisisend on ühendatud mõõdetavalt objektilt (6) saadava vastussignaaliga, ning mille võendamine on juhitud samuti võendamise generaatoriga (4); vastussignaali puhvrit (8), mille sisend on ühendatud analoog-digitaal-muunduri (7) väljundiga; libisevat kahekanalilist analüüsiakent (9), mis analüüsib etteantud aknas vastussignaali puhvri (8) lainekuju võendite väärtusi paralleelselt esimese ning teise tugilainekuju puhvrite (2, 3) vastavate samas analüüsiaknas (9) olevate lainekujuväärtustega, ning mille väljundiks on kompleksne mõõdetava objekti (6) irnpedantsiväärtuste sageduskäik, mis erineb selle poolest, et seade sisaldab võendushetkede mustri arvutajat (10), mis on juhitud võendatud tugilainekujude arvutaja (1) poolt ning võendamise generaatorit (4), kusjuures võendushetkede mustri arvutaja (10) poolt on võendamismuster genereeritud selliselt, et esimese ja teise tugilainekuju puhvrites (2, 3) olev faasisamm kahe järjestikulise võendi vahel on etteantud väärtus ning mainitud libisev analüüsiaken (9) sisaldab alati etteantud arvu võendeid nii esimese ja teise tugilainekuju (2, 3) kui vastussignaali puhvritest (8).
- 7. Seade vastavalt nõudluspunktile 6, mis erineb selle poolest, et mainitud libisev analüüsiaken (9) sisaldab vahendeid vastuvõetud signaali võendite korrutamiseks ja akumuleerimiseks (MAC) paralleelselt nii esimese kui teise tugisignaali (90° nihutatud esimese suhtes) tugilainekujude puhvrites (2, 3) olevate vastavas analüüsiaknas (9) olevate väärtustega; mainitud akumuleerimise ja korrutamise vahendite väljundid näitavad vastavalt reaal- ja imaginaarosasid mõõdetavast sageduskäigust.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EEP201700005A EE05813B1 (et) | 2017-02-01 | 2017-02-01 | Meetod ja seade sageduskarakteristiku mõõtmiseks |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EEP201700005A EE05813B1 (et) | 2017-02-01 | 2017-02-01 | Meetod ja seade sageduskarakteristiku mõõtmiseks |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| EE201700005A true EE201700005A (et) | 2018-09-17 |
| EE05813B1 EE05813B1 (et) | 2018-11-15 |
Family
ID=63517611
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| EEP201700005A EE05813B1 (et) | 2017-02-01 | 2017-02-01 | Meetod ja seade sageduskarakteristiku mõõtmiseks |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| EE (1) | EE05813B1 (et) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112713911A (zh) * | 2020-12-08 | 2021-04-27 | 重庆邮电大学 | 一种在Chirp调制信号中增加参考信号的方法 |
-
2017
- 2017-02-01 EE EEP201700005A patent/EE05813B1/et not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112713911A (zh) * | 2020-12-08 | 2021-04-27 | 重庆邮电大学 | 一种在Chirp调制信号中增加参考信号的方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EE05813B1 (et) | 2018-11-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8854030B2 (en) | Method and device for frequency response measurement | |
| CN100353169C (zh) | 测试电子元件的方法及其仪器 | |
| EE05788B1 (et) | Impedantsi binaarse ergutusega analüüsi meetod ja seade | |
| Dallet et al. | Dynamic characterisation of analogue-to-digital converters | |
| JP2014103671A (ja) | Ｒｆ信号源の校正方法及び振幅平坦及び位相リニアリティ校正器 | |
| Zou et al. | Blind timing skew estimation using source spectrum sparsity in time-interleaved ADCs | |
| CN103983849A (zh) | 一种实时高精度的电力谐波分析方法 | |
| CN104849569B (zh) | 一种介质损耗测量方法 | |
| RU2435168C1 (ru) | Способ гармонического анализа периодического многочастотного сигнала | |
| D'Apuzzo et al. | Modeling DAC output waveforms | |
| RU2363005C1 (ru) | Способ спектрального анализа полигармонических сигналов и устройство для его реализации | |
| Ireland et al. | A method for using Josephson voltage standards for direct characterization of high performance digitizers to establish AC voltage and current traceability to SI | |
| CN1968161B (zh) | 一种模拟信号通道的滤波均衡的方法 | |
| CN101300497B (zh) | 产生光谱轨迹的数据压缩 | |
| EE201700005A (et) | Meetod ja seade sageduskarakteristiku mõõtmiseks | |
| Ihlenfeld | The ac-ac transfer technique with subsampling | |
| US9759751B1 (en) | Line cycle correlated spectral analysis for power measurement systems | |
| Ivanisevic et al. | Impedance spectroscopy systems: Review and an all-digital adaptive IIR filtering approach | |
| Kitzig et al. | Accuracy of power quality measurement based on interpolated sampling | |
| Sudani et al. | A comparative study of state-of-The-Art high-performance spectral test methods | |
| Sienkowski et al. | Simple, fast and accurate four-point estimators of sinusoidal signal frequency | |
| RU2700334C1 (ru) | Способ измерения разности фаз гармонических сигналов на выходах линейных трактов с малыми отношениями сигнал/шум | |
| Ma et al. | Algorithms for accurate spectrum measurement of high-resolution analog-to-digital converter with non-coherent sampling | |
| CN115856431B (zh) | 一种放大器应用特性的定量表征方法及装置 | |
| Ahlers et al. | Programmable digital two-channel function generator for testing power meters |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | Lapsed by not paying the annual fees |
Effective date: 20210201 |