EE05788B1 - Impedantsi binaarse ergutusega analüüsi meetod ja seade - Google Patents
Impedantsi binaarse ergutusega analüüsi meetod ja seadeInfo
- Publication number
- EE05788B1 EE05788B1 EEP201500014A EEP201500014A EE05788B1 EE 05788 B1 EE05788 B1 EE 05788B1 EE P201500014 A EEP201500014 A EE P201500014A EE P201500014 A EEP201500014 A EE P201500014A EE 05788 B1 EE05788 B1 EE 05788B1
- Authority
- EE
- Estonia
- Prior art keywords
- response signal
- model
- analyzed
- parameters
- result
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Leiutise sisuks on binaarse ergutusega impedantsi analüüsi meetod ja seade, kus analüüsitäpsuse oluline paranemine saavutatakse ergutussignaali vastussignaali võendamisel ja esmatöötlusel tekkivate ebatäpsuste (k.a. nende, mis on tingitud signaali nn aliaskomponentidest) arvessevõtmisega, kasutades kogu süsteemi mudelit. Viimane sisaldab mõõdetava objekti aseskeemi (või selle variante) ning vastussignaali esialgse analüüsi mudelit koos puuduste arvestamisega. Impedantsianalüüsi vahe- või lõpptulemuseks on aseskeem koos aseskeemi komponentide parameetritega, mis parimal viisil sobitab süsteemi analüüsi kogumudeli tulemuse ja vastussignaali esialgse analüüsi tulemuse. Edasiseks tulemuseks võib olla ka aseskeemist arvutatud impedantsi sageduskäik või määratud objekti klassifikaator.
Description
Tehnika valdkond
Leiutis kuulub mõõtetehnika, täpsemalt impedantsi ja vahelduvvoolu kompleksahelate analüüsimise vahendite valdkonda ja on kasutav elektriskeemide, erinevate materjalide ja kudede omaduste määramisel.
Tehnika tase
Tuntud on suure täpsusega ja laia sagedusribaga impedantsianalüsaatorid või üldisemalt elektriahelate analüsaatorid (firma Keysight E4990A Impedance Analyzer). Need seadmed on suured, kohmakad, kallid ning elektriahelate, erinevate materjalide ja kudede impedantsi või muude parameetrite analüüs nendega on aeglane.
Üheks võimaluseks lahendust oluliselt lihtsustada, on kasutada analüüsil siinuselise ("harmoonilise") ergutussignaali asemel lihtsaid binaarseid (nt meander-kujuga) või muid astmetega lähendatud signaale (M. Min et ai, "Rectangular wave excitation in wideband bioimpedance spectroscopy," IEEE International Workshop on Medical Measurements and Applications, pp. 268-271, 29-30 May 2009). Antud lahenduse puuduseks on taolise signaali väga lai spekter, kus põhisagedusele lisanduvad harmoonikud, mis omakorda vastussignaali võendamisel (ajas diskreetimisel) tekitavad alias-sagedustest (võendamissageduse kõigi täisarvkordsete ja analüüsi ergutussignaali kõigi sageduskomponentide kombinatsioonidest) olulised signaali ja järelikult ka mõõdetava ahela analüüsi vead. Patendis US7706872B2 on taolise vea vähendamiseks pakutud kahepolaarse impulss-ergutussignaali teatud osade võrdsustamist nulliga (n-ö impulsside lühendamist). See lahendus aitab ainult osaliselt vähendada analüüsi viga, kuna võimaldab kompenseerida ainult väga väikese arvu harmoonikutest ja võimalikest alias-sagedustest.
Tuntud on lahendus (R. Kubendran et ai, Error correction algorithm for high accuracy bio-impedance measurement in wearable healthcare applications, IEEE Trans Biomed Circuits Syst. 2014, 8(2): 196-205), kus teostatakse analüüsitava objekti aseskeemi põhine analüüsi vea hindamine ja korrigeerimine. Selle lahenduse puuduseks on lihtsa impulsssignaali (meandersignaali) kasutamine ergutamiseks, mis sisaldab ainult ühte põhisagedust ning selle kahanevate amplituudidega täisarvulisi harmoonikuid, mis ei võimalda suvalise etteantud spektriga ergutusignaali kasutamist. See omakorda piirab oluliselt seadme kasutamist ja analüüsi täpsust. Samuti on see lahendus vaid ühe aseskeemi põhine, mis ei võimalda analüüsida teistsuguseid ahelaid.
Osaliseks lahenduseks võiks olla ka kõrget järku analoog-madalpääsfiltri lisamine vastussignaali ahelasse, mis piiraks vastussignaali spektri poolega võendamissagedusest ning väldiks nii aliaste mõju (T. Floyd, "Digital Fundamentals", 2008, 12). Kuid see lisaks lahendusele hinda, keerukust ning täiendavaid (ennekõike lineaar-) moonutusi ja ebatäpsusi signaali ning seega ka analüüsi ahelasse.
Lähim lahendus on toodud patendis EE05668B1 (US2013054178), kus genereeritakse keeruka kujuga (mustriga) binaarset ergutusignaali, kusjuures selle signaali kuju saab valida vastavalt soovitavale spektrile. Nii on võimalik vähendada ka alias-sageduste mõju. Siiski, kuna tegu on impulss-signaaliga, on taolisel signaalil lõputu spekter, mis lisaks soovitud sagedustele sisaldab ka rohkelt harmoonilisi komponente ning järelikult tekivad ka olulised vead vastussignaali võendamisel ning analüüsil.
Leiutise eesmärk ja olemus
Leiutise eesmärgiks on impedantsi analüüsi vea oluline vähendamine binaarsete või muude diskreetsete nivoodega lähendatud ergutussignaalide kasutamisel.
Leiutise eesmärk saavutatakse, võrreldes tuntud lahendusega, mis sisaldab binaarse (või muu diskreetsete nivoodega) analüüsitavale objektile rakendatud ergutussignaali genereerimist ning objektilt saadud vastussignaali esialgset analüüsi, sellega, et lahendusse on lisatud sageduskarakteristiku hindamise osa, mis omakorda sisaldab:
- analüüsitava objekti parameetrite hindamist, mille sisendväärtused on ühtlasi ka sageduskarakteristiku hindamise osa sisendväärtused, mis saadakse vastussignaali esialgse analüüsi tulemusest ning mille väljundtulemus on ka kogu sageduskarakteristiku hindamise väljundtulemuseks;
- mudeli parameetrite genereerimist, mida juhitakse analüüsitava objekti parameetrite hindamise väljundtulemuse põhjal;
- vastussignaali esialgse analüüsimise mudelit, mille parameetrid edastatakse mudeli parameetrite genereerimise osast, kusjuures mudeli sisendinfoks on ergutuse lainekuju; ning analüüsitava objekti parameetrite hindamist, mida juhitakse vastussignaali esialgse analüüsimise mudeli väljundtulemuse poolt, kusjuures analüüsitava objekti parameetrite hindamiseks arvutatakse mudeli sellised parameetrid, mille puhul vastussignaali esialgse analüüsimise tegelik tulemus ning vastussignaali esialgse analüüsimise mudeldamise tulemus on maksimaalselt sarnased.
On mõistlik, et mudeli võimalikud parameetrid koosnevad eeldatavatest võimalikest elektril istest aseskeemidest ning nende komponentide väärtusest (LCR).
Vastussignaali analüüsi tegeliku tulemuse ning vastussignaali esialgse analüüsi mudeli tulemuse maksimaalne sarnasus määratakse nende komplekssuuruste mõne parameetri (moodul, faas, reaal või imaginaarosa või nende kombinatsioon) vähima omavahelise standardhälbega.
Lisaks sisaldab esialgse vastussignaali analüüsi mudel reaalse vastussignaali analüüsi mitteideaalsuste korrektsioone, mis on saadud vastavat analüüsi teostava osa teoreetilise või eksperimentaalse uurimise teel. Sageduskarakteristiku hindamise osa teostatakse ettearvutatud tabelfunktsioonina, mis väljastab analüüsitava objekti parameetritele vastava klassifikaatori.
Antud lahendus võib olla realiseeritud seadmena, mis sisaldab binaarse või muu diskreetsete nivoodega analüüsitavale objektile rakendatud ergutussignaali generaatorit ning objektilt saadud vastussignaali esialgset analüsaatorit, ja lahendusse on lisatud sageduskarakteristiku hindaja, mis omakorda sisaldab:
- analüüsitava objekti parameetrite hindajat, mille sisend on ka sagedusliku vastuse hindamise osa sisendiks, mis on ühendatud vastussignaali esialgse analüsaatori väljundiga ning mille väljund on ka sagedusliku vastuse hindaja väljundiks,
- mudeli parameetrite generaatorit, mille sisend on ühendatud analüüsitava objekti parameetrite hindaja väljundiga,
- vastussignaali esialgse analüsaatori mudelit, mille mudeli parameetrite sisend on ühendatud mudeli parameetrite generaatori väljundiga ning mille sisend on ühendatud ergutuse lainekuju algväärtustajaga, ning mille väljund on ühendatud analüüsitava objekti parameetrite hindaja väljundiga, kusjuures analüüsitava objekti parameetrite hindaja määrab objekti sellised parameetrid, mille puhul esialgse vastussignaali analüsaatori tulemus ning vastussignaali esialgse analüsaatori mudeli tulemus on maksimaalselt sarnased (vähima erinevusega).
Jooniste loetelu
Joonisel FIG 1 on kujutatud leiutise teostuse näite plokkskeem.
Joonisel FIG 2 on kujutatud mudeli parameetrite generaatori plokkskeem.
Joonisel FIG 3A on kujutatud reaalsel näitel põhinevad eeldatav, mudeldatud ja reaalse objekti esialgse (eel-) analüüsi tulemusena saadud analüüsitava objekti kompleksülekande mooduli kõverad võrreldavalt.
Joonisel FIG 3B on kujutatud reaalsel näitel põhinevad eeldatav, mudeldatud ja reaalse objekti esialgse (eel-) analüüsi tulemusena saadud analüüsitava objekti kompleksülekande faasi kõverad võrreldavalt.
Joonisel FIG 4A on kujutatud antud näites kasutatud binaarset ergutussignaali ajavallas.
Joonisel FIG 4B on kujutatud antud näites kasutatud binaarset ergutussignaali sagedusvallas.
Leiutise teostamise näide
Pakutud lahendus FIG 1 sisaldab analüüsitavat objekti 1 ning mõõteliidest 2, mis koosneb binaarse ergutuse generaatorist 21 ning vastussignaali eelanalüsaatorist 22. Binaarse ergutuse generaator 21 ergutab analüüsitavat objekti signaaliga, mis sisaldab soovitud spektrikomponente, lisaks sisaldab taoline (impulss-) signaal ka rohkelt muid, kõrgemaid spektrikomponente.
Analüüsitavast objektist (nt elektriahelast) 1 saadava vastussignaali eelanalüsaator 22 võib sisaldab võendamislüli (S/H), analoog-digitaal muundurit (ADC) ning diskreetse Fourier' teisenduse osa (DFT). Viimane võib olla teostatud kiire Fourier" teisendusena (FFT). Vastussignaali eelanalüsaatori 22 väljundtulemuseks on esialgne hinnang analüüsitava objekti 1 vastussignaali spektrile või sellest arvutatud analüüsitava objekti 1 ülekande sagedussõltuvus või sellest omakorda arvutatud analüüsitava objekti 1 impedantsi spektri esialgne hinnang 23.
Sageduskarakteristiku hindaja 3 võib sisaldada ergutuse lainekuju algväärtustajat 31, mille väljund on ühendatud mõõteliidese 2 binaarse ergutuse generaatori 21 sisendiga, võimaldades algväärtustada erinevate spektraalsete omadustega binaarseid lainekujusid 35, laadides vastava kuju binaarse ergutuse generaatorisse 21.
Sageduskarakteristiku hindaja 3 sisaldab ka:
- analüüsitava objekti parameetrite hindajat 32, mille sisend on ühendatud vastussignaali eelanalüsaatori 22 väljundiga;
- mõõteliidese 2 vastussignaali eelanalüsaatori 22 mudelit 33, mille üks sisend on ühendatud ergutuse lainekuju algväärtustaja 31 väljundiga (võimaldades kasutada mudelis 33 tegelikku lainekuju) ning mille mudeldatud tulemuse 38 väljund on ühendatud analüüsitava objekti parameetrite hindaja 32 teise sisendiga, võimaldades viimasel võrrelda vastussignaali eelanalüsaatori 22 esialgset spektri hinnangut 23 ning vastussignaali eelanalüsaatori mudeli 33 väljundi tulemust 38 ning nende põhjal hinnata süsteemi mudeli parameetrid;
- mudeli parameetrite generaatorit 34, mille sisend on ühendatud objekti parameetrite hindaja 32 väljundiga (kasutades viimases saadud süsteemi mudeli parameetreid 39) ning mille väljund saadab mudeli parameetrid 37 vastussignaali eelanalüsaatori mudelile 33.
Lahendus võib sisaldada ka terminaalseadet (nt arvuti) 4, mille sisend on ühendatud sageduskarakteristiku hindaja 3 ning ühtlasi analüüsitava objekti parameetrite hindaja 32 väljundiga, näitamaks analüüsitava objekti paremeetreid 39 või analüüsitavat impedantsi spektrit 40.
Joonisel FIG 2 näidatakse, et mudeli parameetrite generaator 34 võib koosneda analüüsitava objekti 1 elektrilistest aseskeemidest 341, kus on esindatud objektile vastavad võimalikud aseskeemid (nt LCR-elementide baasil) ning vastavate aseskeemide parameetritest 342 - näiteks mainitud LCR-väärtustest.
Kokkuvõtlikult võiks pakutud lahendust kirjeldada järgmiselt:
Esmalt arvutab mõõteliidese 2 vastussignaali eelanalüsaator 22 analüüsitava objekti 1 impedantsi spektri esialgse hinnangu 23 või analüüsitava ahela ülekande (vastussignaali suhe ergutussignaali, analüüsi sagedustel, komplekssuurusena). Saadud tulemus on ligikaudne hinnang, kuna binaarse ergutussignaali kasutamine tekitab olulisi ebatäpsusi, nagu on eelpool selgitatud.
Sageduskarakteristiku hindaja 3 sisaldab mudeli parameetrite generaatoris 34 analüüsitava objekti 1 võimalikke aseskeeme 341 ja nende võimalikke parameetreid 342 ning mõõteliidese 2 vastussignaali eelanalüsaatori 22 mudelit 33 (antud näiteks simulatsiooni kujul), mis arvestab mõõteliidese 2 mitteideaalsusi, ka aliastest tingituid.
Analüüsitava objekti parameetrite hindaja 32 võrdleb mõõteliidesest 2 saadud esialgset analüüsi hinnangut 23 ning mudelist (näiteks simulatsioonist) 33 arvutatud tulemust 38 ning otsib (vajadusel iteratiivselt) generaatori 34 sellised parameetrid 39 (aseskeemi 341 valiku 344 ning aseskeemi komponentide parameetrite 342 valiku 343 teel), et mainitud parameetrite hindaja 32 poolt võrreldavad suurused oleksid võimalikult samasugused (vähima erinevusega). Vajadusel võib selline hindamine, mainitud võrreldavate suuruste lähendamine, olla iteratiivne ja mitmesammuline. Antud leitud parameetrite hinnang 39 (valitud aseskeem 341 ja väärtused 342) ongi antud sõlme 32 ja ühtlasi sageduskarakteristiku hindaja 3 väljundtulemuseks.
Sealjuures on mõistlik, et vastussignaali eelanalüsaatori tulemuse 23 ning vastussignaali eelanalüsaatori mudeli tulemuse 38 maksimaalne sarnasus määratakse nende komplekssuuruste mõne parameetri (moodul, faas, reaal- või imaginaarosa või nende kombinatsioon) vähima omavahelise standardhälbega.
Mõistlik võib olla ka, et vastussignaali eelanalüsaatori mudel 33 sisaldab lisaks reaalse mõõteliidese 2 teoreetilistele mitteideaalsustele (nt alias-sageduste mõjud) ka teisi korrektsioone, mis on saadud vastavat analüüsi teostava osa (22) teoreetilise või eksperimentaalse uurimise teel.
Kõige lihtsam on need mõõteliidese 2 mitteideaalsused (ebatäpsused) ning vajalikud korrektsioonid määrata reaalse ühe või mitme teadaolevate kalibreerimisobjektiga (nt LCR-ahelad) ning lisades need mitteideaalsused korrektsioonidena vastussignaali eelanalüsaatori mudelisse 33.
Edasiseks väljundtulemuseks võib olla antud mudeli parameetrite generaatori (34) parameetritest arvutatud analüüsitava objekti impedantsi spekter või ülekandekoefitsient sageduskäiguna või ka määratud analüüsitava objekti klassifikaator.
Saadud tulemusi võib esitada terminaalseade (nt arvuti) 4.
Joonistel FIG 3Aja FIG 3B on kujutatud ühel näitel (integreeriv lüli, R = 1kΩ, C = 3,3nF) saadud analüüsitava objekti ülekandekõver sagedusvallas, FIG3A mooduli osa ning FIG3B faasi osa (kraadides). Nagu on näha kõveratelt nii mooduli kui eriti faasi osas, on reaalselt mõõdetud objekti esialgse analüüsi tulemus üsna suure veaga, võrreldes eeldatava tulemusega. Samal ajal on samade parameetritega objekti mudeldamine sama kasutatava lainekujuga praktiliselt sama veaga ning langeb enamikus punktides kokku esialgse analüüsi tulemusega ning seega annab mudeli kasutamine impedantsi analüüsi täpsuse olulise tõusu. Samuti on näha mudeldamise ja eelanalüüsi tulemuste erinevuse tekkimist suurtel sagedustel (300 kHz juures), mis on tingitud reaalse vastussignaali eelanalüsaatori 22 mitteideaalsusest ning taolist mitteideaalsust on võimalik kirjeldada ka mudelis 33, võimaldades veelgi tõsta analüüsi täpsust.
Antud näites kasutatud binaarset ergutussignaali kujutab joonis FIG 4A ajavallas ning FIG 4B sagedusvallas. Analüüsil huvi pakkuvad („kasulikud“) sagedused olid valitud antud näites 1, 2, 3, 7, 11, 17, 23, 31, 43, 61, 87, 127, 177, 247, 349 kHz. Samuti on antud joonisel näha hulk muid (mh alias-komponente tekitavaid) sagedusi.
Kirjeldatud lahenduse analüüsitava objekti sageduskarakteristiku hindamise osa (plokid 32, 33, 34 FIG 1 järgi) võib olla mõistlik teostada tabuleeritud funktsioonina. Antud tabelfunktsioon võib olla lihtsalt analüsaatori lõpptulemuse „otse järele vaatamise“ tabel, mis katab kõik võimalikud eelanalüsaatorist 22 saadavad väärtuste kombinatsioonid. Alternatiivselt võib kasutada hõredamat tabelit ning lõpptulemuse interpoleerimist antud tabelist leitud väärtustest.
Claims (7)
- 1. Impedantsi binaarse ergutusega analüüsi meetod, mis sisaldab binaarse (või muu diskreetsete nivoodega) analüüsitavale objektile rakendatud ergutussignaali genereerimist ning objektilt saadud vastussignaali esialgset analüüsimist, mis erineb selle poolest, et lahendusse on lisatud sageduskarakteristiku hindamise osa, mis omakorda sisaldab: - analüüsitava objekti parameetrite hindamist, mille sisendväärtused on ühtlasi ka sageduskarakteristiku hindamise osa sisendväärtused, mis saadakse vastussignaali esialgse analüüsimise tulemusest ning mille väljundtulemus on ka kogu sageduskarakteristiku hindamise väljundtulemuseks; - mudeli parameetrite genereerimist, mida juhitakse analüüsitava objekti parameetrite hindamise väljundtulemuse põhjal; - vastussignaali esialgse analüüsimise mudelit, mille parameetrid edastatakse mudeli parameetrite genereerimise osast, kusjuures mudeli sisendinfoks on ergutuse lainekuju; - ning analüüsitava objekti parameetrite hindamist, mida juhitakse vastussignaali esialgse analüüsimise mudeli väljundtulemuse poolt, kusjuures analüüsitava objekti parameetrite hindamiseks arvutatakse mudeli sellised parameetrid, mille puhul vastussignaali esialgse analüüsimise tegelik tulemus ning vastussignaali esialgse analüüsi mudeldamise tulemus on maksimaalselt sarnased.
- 2. Meetod vastavalt nõudluspunktile 1, mis erineb selle poolest, et mudeli parameetrid sisaldavad eeldatavaid võimalikke elektrilisi aseskeeme ning nende aseskeemide komponentide võimalikke väärtuste (LCR) rakendamist.
- 3. Meetod vastavalt nõudluspunktile 1, mis erineb selle poolest, et vastussignaali esialgse analüüsimise tegeliku tulemuse ning vastussignaali esialgse analüüsimise mudeldamise tulemuse maksimaalne sarnasus määratakse nende komplekssuuruste mõne parameetri (moodul, faas, reaal- või imaginaarosa või nende kombinatsioon) vähima omavahelise standardhälbega.
- 4. Meetod vastavalt nõudluspunktile 1, mis erineb selle poolest, et vastussignaali esialgse analüüsimise mudel sisaldab vastussignaali esialgse analüüsimise mitteideaalsuste korrektsioone, mis arvutatakse vastavas esialgset analüüsimist teostavas osas teoreetiliselt või määratakse eksperimentaalselt.
- 5. Meetod vastavalt nõudluspunktile 1, mis erineb selle poolest, et sagedus-karakteristiku hindamise osa teostatakse ettearvutatud tabelfunktsiooniga.
- 6. Meetod vastavalt nõudluspunktile 5, mis erineb selle poolest, et mainitud tabelfunktsioon väljastab analüüsitava objekti parameetritele vastava klassifikaatori.
- 7. Binaarse ergutusega impedantsi analüüsi seade, mis sisaldab binaarsete (või muude diskreetsete) nivoodega analüüsitavale objektile rakendatud binaarse ergutuse generaatorit (21) ning objektilt saadud vastussignaali eelanalüsaatorit (22), mis erineb selle poolest, et lahendusse lisatakse sageduskarakteristiku hindaja (3), mis omakorda sisaldab: - analüüsitava objekti parameetrite hindajat (32), mille sisend on ka sageduskarakteristiku hindaja (3), sisendiks, mis ühendatakse vastussignaali eelanalüsaatori (22) väljundiga ning mille väljund on ka sageduskarakteristiku hindaja (3) väljundiks; - mudeli parameetrite generaatorit (34), mille sisend on ühendatud analüüsitava objekti sageduskarakteristiku hindaja (3) väljundiga; - vastussignaali eelanalüsaatori mudelit (33), mille parameetrite sisend ühendatakse mudeli parameetrite generaatori (34) väljundiga ning mille teine sisend on ühendatud ergutuse lainekuju algväärtustajaga (31), ning mille väljund ühendatakse analüüsitava objekti parameetrite hindaja (32) sisendiga, kusjuures analüüsitava objekti parameetrite hindaja (32) arvutab objekti sellised parameetrid, mille puhul vastussignaali eelanalüsaatori (22) tulemus ning vastussignaali eelanalüsaatori mudeli (33) tulemus on maksimaalselt sarnased (vähima erinevusega).
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EEP201500014A EE05788B1 (et) | 2015-04-20 | 2015-04-20 | Impedantsi binaarse ergutusega analüüsi meetod ja seade |
| US15/132,381 US10156600B2 (en) | 2015-04-20 | 2016-04-19 | Method and device for impedance analyzer with binary excitation |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EEP201500014A EE05788B1 (et) | 2015-04-20 | 2015-04-20 | Impedantsi binaarse ergutusega analüüsi meetod ja seade |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| EE201500014A EE201500014A (et) | 2016-11-15 |
| EE05788B1 true EE05788B1 (et) | 2017-02-15 |
Family
ID=57241196
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| EEP201500014A EE05788B1 (et) | 2015-04-20 | 2015-04-20 | Impedantsi binaarse ergutusega analüüsi meetod ja seade |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10156600B2 (et) |
| EE (1) | EE05788B1 (et) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10732714B2 (en) | 2017-05-08 | 2020-08-04 | Cirrus Logic, Inc. | Integrated haptic system |
| CN107451361B (zh) * | 2017-07-31 | 2020-05-05 | 青岛理工大学 | 一种电路id生成方法 |
| US10832537B2 (en) | 2018-04-04 | 2020-11-10 | Cirrus Logic, Inc. | Methods and apparatus for outputting a haptic signal to a haptic transducer |
| US11269415B2 (en) | 2018-08-14 | 2022-03-08 | Cirrus Logic, Inc. | Haptic output systems |
| GB201817495D0 (en) | 2018-10-26 | 2018-12-12 | Cirrus Logic Int Semiconductor Ltd | A force sensing system and method |
| CN110967618A (zh) * | 2019-03-21 | 2020-04-07 | 宁德时代新能源科技股份有限公司 | 电路参数的检测方法及检测装置 |
| US12176781B2 (en) | 2019-03-29 | 2024-12-24 | Cirrus Logic Inc. | Methods and systems for estimating transducer parameters |
| US10828672B2 (en) | 2019-03-29 | 2020-11-10 | Cirrus Logic, Inc. | Driver circuitry |
| US11509292B2 (en) | 2019-03-29 | 2022-11-22 | Cirrus Logic, Inc. | Identifying mechanical impedance of an electromagnetic load using least-mean-squares filter |
| US12035445B2 (en) | 2019-03-29 | 2024-07-09 | Cirrus Logic Inc. | Resonant tracking of an electromagnetic load |
| US10955955B2 (en) | 2019-03-29 | 2021-03-23 | Cirrus Logic, Inc. | Controller for use in a device comprising force sensors |
| US10976825B2 (en) | 2019-06-07 | 2021-04-13 | Cirrus Logic, Inc. | Methods and apparatuses for controlling operation of a vibrational output system and/or operation of an input sensor system |
| US11380175B2 (en) | 2019-10-24 | 2022-07-05 | Cirrus Logic, Inc. | Reproducibility of haptic waveform |
| US12276687B2 (en) * | 2019-12-05 | 2025-04-15 | Cirrus Logic Inc. | Methods and systems for estimating coil impedance of an electromagnetic transducer |
| CN111539182B (zh) * | 2020-07-08 | 2020-10-09 | 成都奥卡思微电科技有限公司 | 一种对组合逻辑电路等价验证的分级方法 |
| US11933822B2 (en) | 2021-06-16 | 2024-03-19 | Cirrus Logic Inc. | Methods and systems for in-system estimation of actuator parameters |
| US11765499B2 (en) | 2021-06-22 | 2023-09-19 | Cirrus Logic Inc. | Methods and systems for managing mixed mode electromechanical actuator drive |
| US11908310B2 (en) | 2021-06-22 | 2024-02-20 | Cirrus Logic Inc. | Methods and systems for detecting and managing unexpected spectral content in an amplifier system |
| JP7731728B2 (ja) * | 2021-08-10 | 2025-09-01 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置、測定方法およびプログラム |
| KR102651975B1 (ko) * | 2023-11-10 | 2024-03-27 | 코싸인온 주식회사 | 상호작용형 dram 신호 분석기 및 이를 이용한 dram 신호 분석 및 보정 방법 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10214407C1 (de) * | 2002-03-30 | 2003-06-18 | Klippel Gmbh | Anordnung und Verfahren zur Messung, Bewertung und Störungserkennung von Systemen |
| EE04767B1 (et) * | 2002-12-06 | 2007-02-15 | Tallinna Tehnika�likool | Meetod ja seade elektrilise bioimpedantsi mõõtmiseks |
| EP2314217B1 (en) * | 2009-10-23 | 2013-03-13 | Tallinn University of Technology | Method and device for fast measurement of frequency response with scalable short chirp signals |
| US9341687B2 (en) * | 2011-02-22 | 2016-05-17 | The Mitre Corporation | Classifying and identifying materials based on permittivity features |
| US9470729B2 (en) * | 2011-04-08 | 2016-10-18 | Telefonaktiebolaget L M Ericsson | Transmission line parameter determination |
| EE05668B1 (et) * | 2011-08-30 | 2013-08-15 | Tallinna Tehnika�likool | Meetod ja seade ssteemide ja substantside laiaribaliseks analsimiseks |
-
2015
- 2015-04-20 EE EEP201500014A patent/EE05788B1/et unknown
-
2016
- 2016-04-19 US US15/132,381 patent/US10156600B2/en active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20160305996A1 (en) | 2016-10-20 |
| US10156600B2 (en) | 2018-12-18 |
| EE201500014A (et) | 2016-11-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EE05788B1 (et) | Impedantsi binaarse ergutusega analüüsi meetod ja seade | |
| Ramos et al. | Simulation and experimental results of multiharmonic least-squares fitting algorithms applied to periodic signals | |
| Radonjic et al. | Stochastic measurement of power grid frequency using a two-bit A/D converter | |
| Sanchez et al. | An FPGA-based frequency response analyzer for multisine and stepped sine measurements on stationary and time-varying impedance | |
| Dallet et al. | Dynamic characterisation of analogue-to-digital converters | |
| Bjorsell et al. | Measuring Volterra kernels of analog-to-digital converters using a stepped three-tone scan | |
| US10006950B2 (en) | Impedance measurement circuit | |
| Al-Ali et al. | Extraction of phase information from magnitude-only bio-impedance measurements using a modified Kramers–Kronig transform | |
| US8842033B1 (en) | Dynamic linearity corrector for digital-to-analog converters | |
| CN105137241A (zh) | 一种自适应电网频率的电能质量数据采集方法与装置 | |
| Balestrieri et al. | Estimating the uncertainty in the frequency domain characterization of digitizing waveform recorders | |
| JP2015036635A (ja) | フーリエ解析による周波数測定方法および周波数測定装置 | |
| Djokic | Calibration of Rogowski coils at frequencies up to 10 kHz using digital sampling | |
| Zhuang et al. | Low-Cost Ultrapure Sine Wave Generation with Self-Calibration | |
| Mikulik et al. | Volterra filtering for integrating ADC error correction, based on an a priori error model | |
| Miyazaki et al. | Lock-in amplifier impedance meter using a low-cost microcontroller | |
| Ivanisevic et al. | Impedance spectroscopy systems: Review and an all-digital adaptive IIR filtering approach | |
| Zhuang et al. | Accurate spectral testing with non-coherent sampling for large distortion to noise ratios | |
| Sudani et al. | A comparative study of state-of-The-Art high-performance spectral test methods | |
| McCann et al. | Digital phase-sensitive detector (PSD) as accumulator-sampler and its implementation in FPGA | |
| CN104215597B (zh) | 甲烷浓度参考信息获取方法及装置 | |
| Björsell | Modeling analog to digital converters at radio frequency | |
| Hoja et al. | An analysis of a measurement probe for a high impedance spectroscopy analyzer | |
| Yang et al. | Linearization of ADCs via digital post processing | |
| Kubanek et al. | Influence of fractional-order element properties on frequency filter characteristics |