DE843611C - Interferenz-Mikroskop - Google Patents

Description

• (@egenstatid des Patents 936261, (las ein Zusatz

  zum Patent 8i5dto ist, ist ein Interferenz-Mikro-

  skop, dessen wesentliches -Merkmal darin besteht,

  (laß die nach (lern Patent 81j .4io erzeugten achro-

  niatischeu Interferenzstreifen benutzt sind. Diese

  liiterferenzstreifen entstehen dadurch, daß als sekun-

  (l:ire Lichtduellen für die zur Interferenz kommen-

  (1eri beiden Lichtstrählenhiindel Gitterspektren 1)e-

  nutzt sind. Nach dem Patent 836261 ist eine solche

  hiterferoineteranordnung mit Teilerspiegel und'

  1Zeferenzspiegel in ein Mikroskop eingebaut. Diese

  Anordnung ermöglicht eineBeobachtung desObjekts

  int auffallenden Licht. Der lrfindurig liegt die Auf-

  gabe zugrunde, diese Anordnung für Durchlicht-

  heol)achtung auszubilden, wobei der Strahlengang

  ini wesentlichen nicht geknickt ist (gerade Durch-

  sicht).

  Die Erfindung besteht darin, daß die Strahlen der

  beliutzten Gitterspektren. z. B. der beiden Spektren

  erster Ordnung, durch Spiegel soweit auseinander-

  -(-rückt werden. daß das zu beobachtende Objekt nur

  iii dein Bündel des einen Gitterspektrums liegt, und

  zwar an einer Stelle, die zu dem Gitter konjugiert

  ist, mid daß beide Bündel in der Bildebene wieder

  vereinigt werden, so daß dort die bekannten achro-

  niatischeu Interferenzstreifen entstehen. Zu der

  Erfindung gehört auch die besondere Spiegel-

  anordnung.

  In der britischen Patentschrift 639014 ist ein

  Iiiterfei-enz-:\Iikroskol) für Durchlicht beschrieben,

  hei (lein ebenfalls Gitter verwendet sind (S.133.

  /.94 his i io). Dieses Gitter dient zur Erzeugung

  kohärenter Lichtbündel. Es wird jedoch nicht in der

  ()hjekt- und der Bildebene abgebildet. Daher erhält

  maii mit dieser Anordnung nicht die achromatischen

  hiterferenzstreifen, sondern Pliasenkontrastbilder.

  lii (ler Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel des

  @egenstan<ls d<-r f?rfinchitig dargestellt.

  Auf (las Gitter i fällt paralleles Licht. Zur Ver-

  eiiifaciiuiig sind nur drei Gitterspalten und nur die

  -1- 1.. o. und - (.Ordnung der abgebeugten Strahlen

  gezeichnet. Mit 2 ist eine Linse bezeichnet, welche

  (11e ( @ittcrspektren in der Ebene 3 abbildet. Zwischen

  der Linse 2 und dem Kondensor 4 ist eine Spiegelanordnung j# geschaltet, welche die gegenseitige Neigung der Bündel + r. und -(.Ordnung vergrößert.
• Das Bündel o. Ordnung wird durch eine Blende 6 abgeschirmt. Die Bündel r.Ordnung sind hinter dem Kondensor .I vollständig voneinander getrennt. An der Stelle, die durch die Kondensorlinse 4 dem Gitter konjugiert ist, befindet sich das zu untersuchende Objekt 7, jedoch nur in dein einen Bündel. Das Mikroskopobjektiv 8, eine zweite Spiegelanordnung 9 und eine Linse io erzeugen in der Bildebene ii das durch das Okular 12 zu betrachtende Bild des Objekts. In der Bildebene i i wird das Gitter abgebildet, es erscheinen dort also achromatische Interferenzstreifen, die entsprechend den vom Objekt erzeugten Phasenverzögerungen verändert sind.
• Die Spiegelanordnung ä hzw. c) besteht aus zwei einander so mit der Kante gegenüberstehenden «'inkelspiegeln, daß die Bündel sich zwischen ihnen einmal kreuzen. Diese Anordnung erteilt den Strahlen die gewünschte geringe Richtungsänderung.

Claims (2)

1. PATENTANSPRÜCHE: i. Interferenz-R-fikroskol) mit aus Gitterspektren gebildeten sekundären Lichtquellen nach Patent 836261, dadurch gekennzeichnet, daß für gerade Durchsicht zwei Strahlenbündel verschiedener Ordnung durch eine Spiegelanordnung so weit getrennt werden, daß das Objekt nur in dem einen Bündel in der Ebene einer Zwischenabbildung des Gitters liegt und daß die beiden Bündel durch eine zweite Spiegelanordnung in der Bildebene des -Mikroskops zur Interferenz gebracht werden.
2. 2. Interferenz-Afikroskop nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die Spiegelanordnungen je aus zwei Winkelspiegeln (5 hzw. 9) bestehen,die sich mit derKante gegenüberstehen, so daß die zwei Strahlenbündel sich zwischen den Spiegeln einmal kreuzen.