[go: up one dir, main page]

DE69121853T2 - Gerät zur Bestimmung des Azimuts und der Höhe einer Lichtquelle - Google Patents

Gerät zur Bestimmung des Azimuts und der Höhe einer Lichtquelle

Info

Publication number
DE69121853T2
DE69121853T2 DE1991621853 DE69121853T DE69121853T2 DE 69121853 T2 DE69121853 T2 DE 69121853T2 DE 1991621853 DE1991621853 DE 1991621853 DE 69121853 T DE69121853 T DE 69121853T DE 69121853 T2 DE69121853 T2 DE 69121853T2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
grid
photoelements
light source
incidence
opening
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE1991621853
Other languages
English (en)
Other versions
DE69121853D1 (de
Inventor
Michel Gschwind
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
IMRA Europe SAS
Original Assignee
IMRA Europe SAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by IMRA Europe SAS filed Critical IMRA Europe SAS
Application granted granted Critical
Publication of DE69121853D1 publication Critical patent/DE69121853D1/de
Publication of DE69121853T2 publication Critical patent/DE69121853T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S3/00Direction-finders for determining the direction from which infrasonic, sonic, ultrasonic, or electromagnetic waves, or particle emission, not having a directional significance, are being received
    • G01S3/78Direction-finders for determining the direction from which infrasonic, sonic, ultrasonic, or electromagnetic waves, or particle emission, not having a directional significance, are being received using electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S3/782Systems for determining direction or deviation from predetermined direction
    • G01S3/783Systems for determining direction or deviation from predetermined direction using amplitude comparison of signals derived from static detectors or detector systems
    • G01S3/784Systems for determining direction or deviation from predetermined direction using amplitude comparison of signals derived from static detectors or detector systems using a mosaic of detectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Bestimmung des Azimuts und des Einfallwinkels einer Lichtquelle.
  • Es sind bereits Vorrichtungen bekannt, die zur Verwendung auf Satelliten bestimmt sind, um die Richtung der Sonne zu einer Bezugsebene zu messen. Diese Vorrichtungen, wie beispielsweise in der JP-A-56 64 611 beschrieben, haben in erster Linie den Nachteil, daß sie sich nicht zum Messen von zwei Richtungen, wie die Einfallrichtung und den Azimut eignen, d. h. den jeweiligen Winkel der Richtung der Lichtquelle mit der horizontalen Ebene, und den Winkel der Projektion der Richtung der Lichtquelle auf die horizontale Ebene mit Richtung Nord. Im übrigen ist deren Herstellung sehr kostspielig und aufwendig, was deren Verwendung in Bereichen wie Bauwesen oder Automobilindustrie unmöglich macht.
  • Jedoch ist insbesondere in diesen beiden Bereichen ein gewisser Bedarf an Vorrichtungen zur Bestimmung der Einfallrichtung der Sonne vorhanden, die kostengünstig und einfach im Gebrauch sind, um beispielsweise das Innere eines Raums oder eines Fahrzeugs vor direkter Sonneneinstrahlung zu schützen oder um dort eine angenehme Beleuchtung zu gewährleisten, oder auch um einen Sonnenkollektor zu steuern.
  • Die vorliegende Erfindung nach Anspruch 1 zielt darauf ab, diese Nachteile zu vermeiden durch Angabe einer Vorrichtung zur Bestimmung des Azimuts und des Einfallwinkels einer Lichtquelle, die kostengünstig, in großen Mengen herstellbar und einfach im Gebrauch ist.
  • Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe ist eine Vorrichtung zur Bestimmung des Azimuts und des Einfallwinkels einer Lichtquelle, welche einen Meßgrzößenaufnehmer mit einer ersten Oberfläche, die mit einem zweidimensionalen Rasternetz aus entsprechend einem Netz aus Polarkoordinaten angeordneten Photoelementen mit numerischen Ausgang ausgerüstet ist, und mit einer zweiten Oberfläche, die opak und der ersten Oberfläche gegenüberliegend angeordnet ist, worin eine ebenfalls zweidimensionale Öffnung zum Abbilden der Lichtquelle auf dem Rasternetz ausgespart ist, wobei die Abmessungen der Öffnung in derselben Größenordnung wie die Abmessungen der Photoelemente liegen, und mit Mitteln zum direkten Berechnen des Azimuts und der Einfallrichtung der Lichtquelle von oben auf Basis der Erkennung durch ein oder mehrere von der Quelle belichtete(s) Element(e).
  • Einige besondere Ausführungsformen der Erfindung werden im folgenden anhand der beigefügten, schematischen Zeichnungen beispielhaft beschrieben, welche sich nicht als Beschränkung der Erfindung verstehen. Darin zeigen:
  • Fig. 1 eine Schnittdarstellung eines Meßgrößenaufhehmers nach einer ersten Ausführungsform der Erfindung,
  • Fig. 2 eine Draufsicht des Rasternetzes aus Photoelementen bei Verwendung am Meßgrößenaufnehmer nach Fig. 1,
  • Fig. 3 bis 5 ähnliche Ansichten zu Fig. 2 von anderen Rasternetzen aus Photoelementen,
  • Fig. 6 bis 8 drei Ausführungsformen der erfindungsgemäßen Vorrichtung.
  • In Fig. 1 ist ein Meßgrößenaufnehmer 1 mit einer durch vier Seitenwände 3, einer Bodenwandung 4 und einer Deckwand 5 begrenzten Dunkelkammer 2 gezeigt. Der Innenraum der Dunkelkammer 2 enthält ein lichtbrechendes Medium, dessen Index n beispielsweise gleich 1,5 ist.
  • Die Bodenwandung 4 ist mit einem Rasternetz aus Photoelementen 6, im vorliegenden Fall ein Rasternetz von 4 x 4 ausgekleidet. Bei diesem Rasternetz kann es sich z. B. um den von der Firma Siemens unter der Nummer BPX79 vertriebenen Typ handeln.
  • Der Ausgang jedes Photoelements 6 ist proportional zur belichteten Oberfläche des Photoelements, wobei die Gesamtheit dieser Ausgänge durch ein Verbindungsstück 7 zugänglich ist.
  • Die Deckwand 5 ist opak und mit einer Öffnung 8 versehen, die im vorliegenden Fall eine kreisrunde, auf den Mittelpunkt des Rasternetzes zentrierte Öffnung ist. Die Oberfläche des lichtbrechenden Mediums bei der Öffnung 8 und der Innenraum der Seitenwände 3 wurden einer Antireflexbehandlung unterzogen.
  • Wenn ein von einer nicht dargestellten Lichtquelle austretendes Lichtbündel 9 auf das lichtbrechende Medium bei der Öffnung 8 trifft, so bricht es sich bei 10 und bildet auf dem Rasternetz aus Photoelementen 6 eine kreisrunde Abbildung 11, die am Funkt 12 mit den Koordinaten xM und yM, von der unteren linken Ecke des Rasternetzes aus gezählt, zentriert ist, wie in Fig. 2 dargestellt.
  • Wird mit α der Einfallwinkel der Lichtquelle zum Meßgrößenaufnehmer 1 bezeichnet, d.h. der Winkel, den das Bündel 9 mit der Oberfläche der (z. B. horizontalen) Wandung 5 einschließt, und mit β der Azimut der Lichtquelle zu diesem Meßgrößenaufnehmer, d. h. der Winkel, den die Projektion des Bündels 9 auf der Oberfläche der Wandung 5 mit einer Bezugsrichtung 13 einschließt, kann in einer ersten Annäherung, wie im Falle eines Rasternetzes aus quadratischen, durch das kreisrunde Bündel unterbrochenen Photoelementen gezeigt werden, daß
  • worin I&sub1; die Größe des Ausgangsstroms des Photoelements i ist,
  • n die Anzahl der Zeilen und Spalten des Rasternetzes ist, im vorliegenden Fall n=4,
  • und pi ein Gewichtungsfaktor ist, der von den Koordinaten jedes Photoelements abhängt, wobei für das Photoelement i
  • pi=l/2+(i-1)(e+l)
  • gilt, worin l der Seitenwert eines jeden, als quadratisch angenommenen Photoelements 6, und e die Breite des Zwischenraums zwischen zwei benachbarten Photoelementen ist.
  • Beispielhaft kann der Radius der Öffnung 8 den Wert
  • r=l/2+e
  • und der Abstand zwischen der Wandung 5 und dem Rasternetz aus Photoelementen 6 den Wert
  • haben, wenn h für die Größe i des Einfallwinkels vom Bündel 9 optimiert werden soll.
  • Diese Höhe ermöglicht es, einen festen Maximalwinkel zu nutzen. Die Höhe kann jedoch auch reduziert werden, um die Genauigkeit zu erhöhen.
  • Bezeichnet man mit x&sub0; und y&sub0; die Koordinaten des Zentrums des Rasternetzes, so kann gezeigt werden, daß dann
  • wenn yM-y&sub0;≤0
  • ist, und
  • sowie
  • Die Ausgangswerte des Meßgrößenaufnehmers der Fig. 1 und 2 ermöglichen es folglich, den Wert des Einfallwinkels und des Azimuts der Lichtquelle zu bestimmen.
  • Es sei jedoch angemerkt, daß die Winkelauflösung vom Wert des Einfallwinkels abhängt.
  • Dieser Nachteil kann durch ein Rasternetz vom Typ nach Fig. 3 vermieden werden, bei welchem die Abmessungen der Photoelemente in Richtung vom Zentrum des Rasternetzes zu seinem Umfang hin abnehmen.
  • Es kann in der Tat gezeigt werden, daß, wenn eine konstante Veränderbarkeit des in Abhängigkeit vom tatsächlichen Einfallwinkels gemessen Einfallwinkels gewtinscht ist, die Abmessung jedes Photoelements in Abhängigkeit seines Abstands vom Zentrum des Rasternetzes so berechnet werden muß, daß dD/di für jeden Einfallwinkel i konstant ist, wobei
  • worin D der Abstand eines Photoelements vom Zentrum des Rasternetzes ist.
  • Die geeigneten Korrekturen zum Erlangen der gewünschten konstanten Veränderung können neben der besonderen Anordnung der Photoelemente auch numerisch und/oder optisch erreicht werden, indem die Wände der Öffnung geeignet gestaltet und/oder die Eigenschaften der lichtbrechenden Schicht beeinflußt werden (Form, Dicke, Index).
  • Die Auflösung des Meßgrößenaufnehmers kann auch mit Hilfe eines Rasternetzes aus Photoelementen wie in Fig. 4 erhöht werden, welches eine sehr hohe Anzahl an Photoelementen mit geringen Abmessungen, verglichen mit den Abmessungen der Öffnung, aufweist.
  • Bei einem Analogmeßgrößenaufnehmer wie in Fig. 1 bis 3 beschrieben, wird der Wert des Einfallwinkels und des Azimuts wie oben angegeben berechnet.
  • Es ist auch möglich, einen numerischen Meßgrößenaufnehmer des Typs CCD oder eines Rasternetzes aus Photodioden zu verwenden, wodurch die Werte xM und yM wesentlich leichter zu erhalten sind.
  • Bei einem Rasternetz wie in Fig. 4 beschrieben, das einer Öffnung mit Abmessungen in derselben Größenordnung wie die Abmessungen der einzelnen Photoelemente zugeordnet ist, sind die Koordinaten der Abbildung der Lichtquelle direkt die Koordinaten des belichteten Photoelements oder der kleinen Gruppe von belichteten Photoelementen. Diese Koordinaten werden zur Berechnung der Position der Lichtquelle wie oben beschrieben verwendet.
  • Schließlich zeigt Fig. 5 ein Rasternetz mit einer großen Anzahl an Photoelementen, wobei dieses Rasternetz radial zu seinem Zentrum angeordnet ist.
  • In diesem Fall können die Werte des Azimuts und des Einfallwinkels umgehend von den radialen Koordinaten des belichteten Photoelements oder der kleinen Gruppe von belichteten Photoelementen abgezogen werden.
  • Bei Betrachtung von Fig. 6 stellt 20 einen Analogmeßgrößenaufnehmer dar, welcher z. B. ein Rasternetz aus Photoelementen nach Art von Fig. 2 oder Fig. 3 ist, dessen Ausgang mit einem Multiplexer 21 verbunden ist. Der analoge Ausgang des Multiplexers 21 wird in einem Analog-Digital-Wandler 22 umgewandelt, dessen Ausgang einem Prozessor 23 zugeführt wird, welcher zum Berechnen von xM und yM und dann der Winkel α und β gemäß der oben genannten Formeln programmiert ist.
  • Es wird festgestellt, daß eine solche Vorrichtung zwar einen einfachen Meßgrößenaufnehmer aber eine relativ aufwendige Elektronik benötigt, und folglich insbesondere in Systemen angewandt wird, die bereits einen Rechenprozessor aufweisen.
  • Bei Fig. 7 wird ein Meßgrößenaufnehmer 25 verwendet, welcher mit einem Rasternetz aus Photoelementen mit numerischen Ausgang vom Typ CCD arbeitet, wobei der Ausgang des Meßgrößenaufnehmers einem Multiplexer 26 zugeführt wird. Der Ausgang des Multiplexers 26 ermöglicht bei 27 die Bestimmung der Werte xM und yM durch eine einfache numerische Analyse, wobei diese Werte einem Prozessor 28 zugeführt werden, welcher zum Berechnen des Einfallwinkels und des Azimuts programmiert ist.
  • Schließlich zeigt Fig. 8 einen Meßgrößenaufnehmer 30 vom Typ wie in Fig. 5 dargestellt, dessen numerischer Ausgang es ermöglicht, direkt bei 31 die Werte der gesuchten Winkel zu erhalten.

Claims (3)

1. Vorrichtung zur Bestimmung der Winkelposition einer Lichtquelle, wobei die Vorrichtung die folgenden Merkmale aufweist: einen Meßgrößenaufnehmer (7) mit einer ersten Oberfläche (4), welche mit einem zweidimensionalen Rasternetz aus Photoelementen (6) mit numerischem Ausgang und einer zweiten Oberfläche (5) ausgerüstet ist, welche opak und gegenüber der ersten Oberfläche angeordnet ist, worin eine ebenfalls zweidimensionale Öffnung (8) zum Abbilden der Lichtquelle auf dem Rasternetz ausgespart ist und Mittel zum Berechnen des Einfallwinkels der (Licht)-Quelle auf Basis von Ausgängen der Photoelemente (6) vorhanden sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Photoelemente (6) entsprechend einem Netz aus Polarkoordinaten angeordnet sind, wobei die Abmessungen der Öffnung (8) in derselben Größenordnung wie die Abmessungen der Photoelemente (6) liegen und die Mittel zum Berechnen (31) in der Weise ausgerichtet sind, daß der Azimut und die Einfallrichtung der Lichtquelle von oben auf Basis der Erkennung durch ein oder mehrere von der Quelle belichtete(s) Element(e) ermittelt werden.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sie zwischen der Öffnung und der ersten Oberfläche des Meßgrößenaufnehmers ein lichtbrechendes Medium aufweist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Oberfläche des hinter der Öffnung gelegenen lichtbrechenden Mediums einer Antireflexbehandlung unterzogen wurde.
DE1991621853 1990-12-03 1991-12-03 Gerät zur Bestimmung des Azimuts und der Höhe einer Lichtquelle Expired - Fee Related DE69121853T2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR9015094A FR2670000B1 (fr) 1990-12-03 1990-12-03 Capteur et dispositif pour la determination de l'azimut et de la hauteur d'une source lumineuse.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE69121853D1 DE69121853D1 (de) 1996-10-10
DE69121853T2 true DE69121853T2 (de) 1997-03-06

Family

ID=9402827

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1991621853 Expired - Fee Related DE69121853T2 (de) 1990-12-03 1991-12-03 Gerät zur Bestimmung des Azimuts und der Höhe einer Lichtquelle

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP0489644B1 (de)
DE (1) DE69121853T2 (de)
FR (1) FR2670000B1 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008007681A1 (de) * 2008-02-06 2009-09-10 Delight Union Limited Doppel-Schlitz-Photodetektor
DE102018001181B3 (de) 2018-02-15 2019-07-11 Azur Space Solar Power Gmbh Sonnenstandssensor

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0625692B2 (de) 1992-11-06 2004-05-19 Denso Corporation Pyrheliometrischer sensor
DE4302442A1 (de) * 1993-01-29 1994-08-04 Fahrzeugklimaregelung Gmbh Sensor zur Erfassung der Bestrahlungsstärke und des Einfallwinkels der Sonnenstrahlung
FR2726903B1 (fr) * 1994-11-10 1996-12-06 Thomson Csf Ecartometre integre
DE69617482T2 (de) * 1995-01-25 2002-06-13 Control Devices, Inc. Photosensor zur Erkennung der Einfallsrichtung und Intensität von optischer Strahlung
DE102010064140A1 (de) 2010-12-23 2012-06-28 Silicon Micro Sensors Gmbh Strahlungsrichtungssensor und Verfahren zur Ermittlung des Einfallswinkels einer Strahlungsquelle
DE102011101058B4 (de) * 2011-05-09 2013-02-28 Ophthalmosystem Gmbh Verfahren und Positionsdetektor zum Bestimmen der relativen Position einer Strahlungsquelle

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1522467A (fr) * 1967-03-15 1968-04-26 Dba Sa Cellules perfectionnées, notamment photovoltaïques, pour dispositifs électrooptiques de repérage
FR1547763A (fr) * 1967-10-20 1968-11-29 Trw Inc Capteur de lumière perfectionné
DE2916195A1 (de) * 1979-04-21 1980-10-30 Philips Patentverwaltung Anordnung zur bestimmung der koordinaten eines waermeobjekts
JPS5664611A (en) * 1979-10-31 1981-06-01 Nec Corp Device for measuring solar angle
GB2198007B (en) * 1986-09-10 1990-08-15 Marconi Co Ltd Radiation detector
US4767937A (en) * 1986-12-30 1988-08-30 The Boeing Company Scanning system with low scan rate and high effective frame rate
DE3736616C1 (de) * 1987-10-29 1989-02-09 Messerschmitt Boelkow Blohm Optischer Weitwinkel-Sensorkopf
US4857721A (en) * 1988-03-28 1989-08-15 The Perkin-Elmer Corporation Optical direction sensor having gray code mask spaced from a plurality of interdigitated detectors
USH746H (en) * 1989-08-11 1990-02-06 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Solar reference flight roll position sensor

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008007681A1 (de) * 2008-02-06 2009-09-10 Delight Union Limited Doppel-Schlitz-Photodetektor
DE102018001181B3 (de) 2018-02-15 2019-07-11 Azur Space Solar Power Gmbh Sonnenstandssensor

Also Published As

Publication number Publication date
FR2670000A1 (fr) 1992-06-05
EP0489644B1 (de) 1996-09-04
DE69121853D1 (de) 1996-10-10
EP0489644A2 (de) 1992-06-10
FR2670000B1 (fr) 1994-06-03
EP0489644A3 (en) 1992-09-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3818229C1 (de)
EP0291729B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Schussfaden- oder Maschenreihenlage von Textilbahnen
EP0982600A2 (de) Einrichtung zur Bestimmung des Einfallwinkels einer Lichtquelle, insbesondere der Sonne
DE2814265C3 (de) Vorrichtung zum automatischen Nachführen der Einstellung eines Mikroskops
DE10046785C2 (de) Anordnung zur Bestimmung des Einfallswinkels von Licht
DE19638727A1 (de) Verfahren zur Erhöhung der Signifikanz der dreidimensionalen Vermessung von Objekten
EP0250768A2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Walzspaltmessung und Regelung
DE2238413B2 (de) Vorrichtung zum Messen der Verschiebung zweier gegeneinander beweglicher Teile
DE2637960A1 (de) Winkelstellungsmessfuehler
DE1448431A1 (de) Koordinaten-Messsystem,insbesondere zur Bestimmung der Koordination von Messpunkten eines Objektes
DE2209667B2 (de) Einrichtung zur berührungslosen Messung
DE1962099A1 (de) Durchlaessiges Indexgitter
DE2354141A1 (de) Verfahren zum untersuchen einer oberflaeche und vorrichtung zur durchfuehrung dieses verfahrens
DE69121853T2 (de) Gerät zur Bestimmung des Azimuts und der Höhe einer Lichtquelle
DE1905392A1 (de) Vorrichtung zum Erzeugen von elektrischen Signalen mittels eines Skalengitters,das relativ zu einem Indexgitter bewegbar ist
DE68907440T2 (de) Beobachtungsvorrichtung durch abtastung eines raumkoerpers und messung der winkelgeschwindigkeit eines raumfahrzeuges, beobachtungssystem fuer seine anwendung und raumfahrzeug mit diesem system.
EP1477774B1 (de) Positionsmesseinrichtung
DE3203788C2 (de)
DE2546253A1 (de) Photoempfaenger fuer ein spektralanalyse- und farbmessgeraet mit mehreren lichtempfindlichen empfaengern
DE3308578C2 (de) Lichtbrechungskörper zum Konzentrieren von Sonnenstrahlen auf eine Sammelfläche
DE1813743A1 (de) Anordnung zur Abtastung eines Feldes in zwei Richtungen
DE2526110B2 (de) Vorrichtung zum Messen kleiner Auslenkungen eines Lichtbündels
EP2502087B1 (de) Vorrichtung und verfahren zum lokalisieren von modulierten, optischen strahlungsquellen
DE19610941A1 (de) Zweiachsiger Neigungsmesser
DE3382596T2 (de) Dreidimensionale entfernungsmessvorrichtung.

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee