DE69713304T2

DE69713304T2 - Abschirmvorrichtung für röntgen oder gammastrahlen

Info

Publication number: DE69713304T2
Application number: DE69713304T
Authority: DE
Inventors: Yoshitaka Iizuka; Masahiro Izutsu
Original assignee: Ebara Corp
Current assignee: Ebara Corp
Priority date: 1996-03-12
Filing date: 1997-03-12
Publication date: 2003-01-30
Anticipated expiration: 2017-03-13
Also published as: PL185245B1; BG63177B1; WO1997034305A1; BG102734A; EP0888622B1; BR9707904A; DE69713304D1; PL328797A1; EP0888622A1

Description

Technisches Gebiet

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Abschirmanlage bzw. Abschirmanordnung für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen und insbesondere bezieht sich die Erfindung auf eine Abschirmanlage zur Verhinderung des Austretens von Röntgenstrahlen oder γ- Strahlen, die beispielsweise bei der Elektronenstrahlbestrahlung auftreten, aus einer Öffnung durch einen Abschirmdurchlass.

Hintergrund

Um Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen abzuschirmen, die von einer Strahlungsquelle abgestrahlt werden, war es bislang üblich, eine Abschirmanlage zu verwenden, die die Quelle umgibt, und zwar durch Abschirmwände aus Beton, Blei oder Eisen, um dadurch eine Dämpfung für die abgestrahlten Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen vorzusehen, wenn diese durch die Abschirmwände laufen und um dadurch zu verhindern, dass sie "herauslecken". In dem Falle jedoch, wo eine Substanz oder Material in die Abschirmanlage hinein- oder aus dieser herausgebracht wird, wird das Innere der Abschirmanlage belüftet, oder es wird ein Zugang zum Inneren der Abschirmanlage erforderlich, wodurch es notwendig ist, dass die Abschirmanlage eine Öffnung besitzt. Daher kann die Strahlungsquelle nicht vollständig abgedichtet oder versiegelt werden.
Ein Beispiel für den obigen Fall liegt dort vor, wo die Strahlungsquelle in einer Produktionslinie vorgesehen ist, wo durch die Strahlungsquelle zu bestrahlendes Material in das Innere der Abschirmanlage gebracht wird und wobei ferner die durch die Strahlungsquelle verarbeiteten Produkte durch eine Öffnung in der Abschirmanlage herausgenommen werden. Oder aber ein anderer Fall liegt dort vor, wo Abgase oder Abwasser in das Innere einer Abschirmanlage eingebracht werden, durch die Strahlungsquelle bestrahlt werden und sodann aus der Abschirmanlage herausgeführt werden. Ein anderer Fall ist der, wo die Abgase oder das Abwasser in ein Prozessgefäß in der Abschirmanlage eingeführt werden, mit Elektronenstrahlen bestrahlt werden und sodann aus der Abschirmanlage herausgeführt werden. Insbesondere im Falle der Bestrahlung durch Elektronenstrahlen werden sekundäre Röntgenstrahlen dann erzeugt, wenn der Elektronenstrahl mit dem Ziel - oder Targetgas oder dergleichen kollidiert, auf welche Weise das Verarbeitungsgefäß und die Abgase oder das Abwasser, die mit dem Elektronenstrahl bestrahlt wurden, eine Strahlungsquelle für Röntgenstrahlen werden. In solchen Fällen ist es notwendig eine bestimmte Struktur dazu zu verwenden, die Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen abzuschirmen, sodass sie nicht durch die Öffnung heraus austreten.
Im Allgemeinen werden die zu den elektromagnetischen Wellen gehörenden Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen dann gedämpft, wenn sie durch eine Substanz laufen. Sie werden schwächer, wenn die Distanz von der Strahlungsquelle ansteigt, und sie werden jedesmal dann gedämpft, wenn sie von einer Oberfläche einer Substanz reflektiert werden. Es ist daher üblich, dass man zur Verhinderung des Austretens von Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen durch eine Öffnung einen Durchlass von der Strahlungsquelle zur Öffnung durch Abschirmwände umgibt, die gegenüber dem Lecken von Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen einen hohen Widerstand zeigen, wobei die Länge des Durchlasses vergrößert wird und der Durchlass gekrümmt verläuft. In der Beschreibung wird der durch die Abschirmwände, die gegenüber dem Lecken von Röntgenstrahlen oder γ- Strahlen hochresistent sind, als ein "Abschirmdurchlass" definiert.
Fig. 14A der beigefügten Zeichnungen zeigt eine bekannte Abschirmanlage. Die Abschirmanlage gemäß Fig. 14A besitzt äußere Abschirmwände 22, die eine Mittelkammer definieren, die eine Strahlungsquelle 21 enthält, welche Röntgenstrahlen oder γ- Strahlen erzeugt. Eine der Wände 22 besitzt eine mit einer großen Tür 27 abgedeckte Öffnung 26. Die Öffnung 26 wird hauptsächlich für den Zugang zum Inneren der Abschirmanlage verwendet. Da es jedoch erforderlich ist, dass die Tür eine Abschirmfähigkeit im Wesentlichen gleich derjenigen der Abschirmwand besitzt, um so zu verhindern, dass Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen durch die Tür austreten oder durch die Tür herauslecken, so wird die Tür außerordentlich teuer. Da die Tür nur dann geöffnet werden kann, wenn keine Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen erzeugt werden, kann diese Art einer Abschirmanlage nicht in einem Falle verwendet werden, wo die Substanz oder das Material in die Abschirmanlage hinein- und aus dieser herausgebracht wird, während die Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen erzeugt werden oder in einem Falle, wo die Abschirmanlage ventiliert wird.
Fig. 14B der Zeichnungen zeigt eine bekannte Abschirmanlage, mit einem gebogenen oder abgewinkelten Abschirmdurchlass, und zwar umgeben durch Abschirmwände. Die Abschirmanlage besitzt äußere Abschirmwände 22, die eine Kammer definieren, welche eine Strahlungsquelle 21 zur Erzeugung von Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen umgibt. Die Abschirmwände 22 definieren darinnen einen verwickelten oder komplizierten Abschirmdurchlass 23, der sich von der Kammer zu einer Öffnung 28 erstreckt, die in einer der Abschirmwände 22 definiert ist und die durch eine Tür 29 abgeschlossen ist. Die Tür 26 ist eine übliche Tür und, wenn keine Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen erzeugt werden, kann die Tür geöffnet werden und der Zugang zum Inneren der Abschirmanlage kann durch den Abschirmdurchlass durch Öffnen der Tür bewirkt werden. Dadurch, dass man die Tür offenlassen kann, wird das Innere der Abschirmanlage ventiliert, während Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen erzeugt werden.
Fig. 15 der beigefügten Zeichnungen zeigt eine andere bekannte Abschirmanlage mit einem gebogenen Abschirmdurchlass, und zwar umgeben durch Abschirmwände. Abschirmdurchlässe 23A und 23B sind durch die äußeren Abschirmwände 22 definiert und eine Mittelkammer in den Abschirmwänden 22 enthält eine Strahlungsquelle 21, die Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen erzeugt. Die Abschirmdurchlässe 23A und 23B können jeweils auch Öffnungen 24 bzw. 25 an entgegengesetzten Enden davon aufweisen. Während die Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen erzeugt werden, wird die Substanz oder das Material in das Innere des Abschirmdurchlasses gebracht, und zwar durch den Abschirmdurchlass 23A, das Material bzw. die Substanz wird aus dem Inneren des Abschirmdurchlasses durch den Abschirmdurchlass 23B gebracht.
Wenn die Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen durch einen Abschirmdurchlass laufen, werden sie, abhängig von dem Abstand, den sie durchlaufen haben, gedämpft, d. h. abhängig von der Länge des Abschirmdurchlasses, und Reflexionen, denen sie ausgesetzt wurden, bringen ebenfalls eine Dämpfung hervor. Wenn die Intensität der Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen am Auslass des Abschirmdurchlasses 1/100 der Intensität der Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen am Einlass des Abschirmdurchlasses ist, sodann wird das Dämpfungsverhältnis für die Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen als 100 ausgedrückt. Zur Berechnung des Dämpfungsverhältnisses wird eine unten angegebene empirische Gleichung (1) verwendet und die Abschirmdurchlässe werden unter Verwendung dieser Gleichung (1) konstruiert.
I = I&sub0; · L&supmin;² · R-N, (1)
dabei ist I&sub0; die Intensität der Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen an Punkten, die eine Einheitslänge von der Mitte einer Strahlungsquelle entfernt liegen, I ist die Intensität der Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen an einer Auslassöffnung des Abschirmdurchlasses, L ist der Abstand von der Mitte der Strahlungsquelle zur Auslassöffnung, R ist das Dämpfungsverhältnis pro Reflexion der Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen und N ist die Anzahl der Male, mit der die Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen über die Distanz von der Quelle zur Auslassöffnung reflektiert wurden. Daher ist das Dämpfungsverhältnis η für die Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen an der Öffnung proportional zum Quadrat des Abstandes (L) von der Strahlungsquelle und ebenfalls proportional zur Anzahl der Reflexionen hoch N. Das heißt, der Dämpfungsfaktor η wird durch die folgende Gleichung gegeben.
η = L² · RN (2)
Da das Dämpfungsverhältnis η für die Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen von dem Abstand und der Anzahl der Reflexionen, die durch die obige Gleichung (2) angegeben ist, abhängt, braucht eine Abschirmanlage mit einem Abschirmdurchlass mit einer Öffnung eine größeren Raum und mehr Material zur Abschirmung der Röntgenstrahlen oder γ- Strahlen als eine Abschirmanlage, die vollständig umschlossen ist. Dies kann ohne Weiteres aus einem Vergleich zwischen den Fig. 15A und 154B erkannt werden. Wenn Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen in einer größeren Menge erzeugt werden und eine höhere Energie besitzen, ist eine größere Distanz und eine größere Anzahl von Reflexionen für die Dämpfung erforderlich und somit ein größerer Raum und mehr Material zur Abschirmung. Wenn die Menge der Substanz oder des Materials, das in die Abschirmanlage hineingebracht oder aus dieser herausgebracht wird, ansteigt, so steigt auch die Querschnittsfläche des Abschirmdurchlasses an, was eine Vergrößerung des Raums und des Abschirmmaterials zur Folge hat. Insbesondere im Falle eines Abgasbehandlungsverfahrens, bei dem Abgase mit einem Elektronenstrahl in der Abschirmanlage bestrahlt werden, liegt die Fläche oder das Gebiet des Abschirmdurchlasses im Bereich von mehreren m² bis zu mehreren 10 m², da die Menge an Abgasen, die behandelt werden muss, extrem groß ist. Der vergrößerte Raum auferlegt eine Einschränkung hinsichtlich des Layouts der Abschirmanlage und das in erhöhtem Maße erforderliche Abschirmmaterial vergrößert die Kosten der Abschirmanlage, und das Gewicht derselben, was eine Erhöhung der Kosten für das Fundament zur Folge hat, auf der die Abschirmanlage installiert werden muss.
DATABASE WPI, Section Ch, Week 7538, Derwent Publications, Ltd, London, GB, Class Jo4, AN 75-636743W XP002031906 & SU 448 373 A (UKR STEEL ALLOYS), 15. Dezember 1974, offenbart einen Strahlungsabschirmungskanal, der ein zylindrisches Kanalgehäuse und eine Schraube aufweist. Ein gebogener spiralförmiger Strömungsdurchlass ist in dem Kanalgehäuse geformt und geeignet Strömungsmittel hindurchzulassen und deckt ferner die gesamte Querschnittsfläche des Kanalgehäuses ab und erstreckt sich axial vom Kanalgehäuse.
DATABASE WPI, Section Ch, Week 7644, Derwent Publications, Ltd, London, GB, Class A32, AN 76-82227X, XP002031905 & JP 51 105 599 A (NIPPON ELECTROCURE), 18. September 1976, offenbart eine Elektronenstrahl-Bestrahlungsvorrichtung, wo bemalte Gegenstände kontinuierlich durch ein Hängeförderband transportiert werden und die Farbschichten durch einen Elektronenstrahl gehärtet werden. Die Aufrechterhaltung einer Atmosphäre aus inertem Gas in der Elektronenstrahl- Bestrahlungsvorrichtung erfolgt durch die Anordnung von Unterteilungswänden innerhalb eines Durchlassweges zum Abschirmen der Strahlung in der Vorrichtung und zur Abdeckung der Unterteilungswandteile einer Gasstromvorhangsschicht.
Gemäß der vorliegenden Erfindung wird eine Abschirmanlage für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen gemäß Anspruch 1 oder Anspruch 6 vorgesehen. Bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den abhängigen Ansprüchen offenbart.

Offenbarung der Erfindung

Es ist ein Ziel der vorliegenden Erfindung eine Abschirmanlage für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen vorzusehen, die im großen Umfange den Raum- und Materialbedarf für einen darinnen definierten Abschirmdurchlass vermindert.
Um das obige Ziel zu erreichen, sieht ein erster Aspekt der Erfindung eine Abschirmanlage für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen vor, die Folgendes aufweist: eine Abschirmwand, die darinnen mindestens einen Abschirmdurchlass definiert, einschließlich einer Einlassöffnung und einer Auslassöffnung, wobei die Abschirmwand geeignet ist, eine Quelle unterzubringen, die Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen erzeugt, und die an der Seite der Einlassöffnung des Abschirmdurchlasses positioniert ist; und mindestens eine Innenplatte oder Wand angeordnet in mindestens einem Teil des Abschirmdurchlasses, wobei die Innenplatte oder Wand sich in der Richtung von der Einlassöffnung zu der Auslassöffnung des Abschirmdurchlasses erstreckt und mindestens einmal in dem Abschirmdurchlass gebogen bzw. abgewinkelt ist.
Die Innenplatte oder Wand kann in dem Abschirmdurchlass derart angeordnet werden, dass die Auslassöffnung des Abschirmdurchlasses visuell von der Einlassöffnung des Abschirmdurchlasses her abgedeckt ist.
Die Innenplatte oder Wand kann eine Teilungs- oder Unterteilungsplatte oder eine Teilungs- oder Unterteilungswand aufweisen, durch die der Abschirmdurchlass in eine Vielzahl von Durchlasspfaden oder Durchlasswegen unterteilt ist.
Die Teilungsplatte oder Unterteilungswand kann in der Form eines Faltschirms vorgesehen sein, und zwar mit mindestens einer Faltung. Die Innenplatte oder Wand kann eine Spiralplatte oder Wand sein oder aufweisen.
Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen können durch Bestrahlung des Elektronenstrahls erzeugt werden. Der Elektronenstrahl kann zur Behandlung von Abgas verwendet werden.
Gemäß einem zweiten Aspekt der Erfindung ist eine Abschirmanlage für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen vorgesehen, die Folgendes aufweist: eine Abschirmwand, die darinnen mindestens einen Abschirmdurchlass definiert, und zwar einschließlich einer Einlassöffnung und einer Auslassöffnung, wobei die Abschirmwand geeignet ist, eine Quelle, die Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen erzeugt unterzubringen, und zwar positioniert an der Seite der Einlassöffnung des Abschirmdurchlasses, wobei der Abschirmdurchlass von einer gebogenen oder abgewinkelten Konfiguration ist; und mindestens eine Teilungsplatte oder Unterteilungswand, angeordnet in mindestens einem Teil des Abschirmdurchlasses, um den Abschirmdurchlass in eine Vielzahl von Durchlasswegen zu unterteilen.
Die Teilungsplatte oder Unterteilungswand kann eine Dicke besitzten, die im Wesentlichen mindestens ein Zwanzigstel und höchstens das Zehnfache der Halbwertschicht eines Materials der Teilungsplatte oder Unterteilungswand ist.
Bislang wurde davon ausgegangen, dass gemäß dem Konstruktionsverfahren verwendet zur Konstruktion einer Abschirmanlage, basierend auf der obigen Gleichung (1), das Dämpfungsverhältnis für die Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen sich nicht ändert, selbst wenn der Abschirmdurchlass unterteilt ist, da der Abstand von der Quelle und die Anzahl der Reflexionen unverändert bleiben. Die Erfinder dieser Anmeldung haben jedoch herausgefunden, dass das Dämpfungsverhältnis für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen vergrößert werden kann, wenn der Abschirmdurchlass in eine Vielzahl von Durchlasswegen unterteilt wird, und zwar durch eine Teilungsplatte oder Unterteilungswand. Es wurde auch bestätigt, dass das Dämpfungsverhältnis selbst dann vergrößert wird, wenn die Teilungsplatte oder Unterteilungswand eine Dicke besitzt, die nicht groß genug ist, um selbst die Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen abzuschirmen.

Kurze Beschreibung der Zeichnungen

Fig. 1 ist eine horizontale Querschnittsansicht einer Abschirmanordnung bzw. Abschirmanlage für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel eines ersten Aspekts der vorliegenden Erfindung;
Fig. 2 ist eine vergrößerte perspektivische Ansicht der Teilungsplatten oder Unterteilungswände der Abschirmanlage bzw. Abschirmanordnung für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel des ersten Aspekts der vorliegenden Erfindung;
Fig. 3 ist eine horizontale Querschnittsansicht einer Abschirmanaordnung bzw. Abschirmanlage für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel des ersten Aspekts der vorliegenden Erfindung;
Fig. 4 ist eine graphische Darstellung, die die Röntgenstrahlen-Dämpfungsverhältnisse zeigt, und zwar bezüglich der Dicke/Halbwertschichtverhältnisse;
Fig. 5 ist eine graphische Darstellung, die die Röntgenstrahlen-Dämpfungsverhältnisse zeigt, und zwar bezüglich der Anzahl von Einheiten von Teilungsplatten oder Unterteilungswänden;
Fig. 6 ist eine horizontale Querschnittsansicht eines Abschirmdurchlasses, der dazu verwendet wird, um die Gleichung (2) und (3) zu erklären;
Fig. 7 ist eine schematische Ansicht, die ein Beispiel zeigt, bei dem eine Abschirmanlage für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen der Erfindung bei einem Elektronenstrahlgasbehandlungssystem angewandt wird;
Fig. 8 ist eine perspektivische Ansicht einer Abschirmanordnung oder -anlage für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen, die einen Abschirmdurchlass aufweist, und zwar unterteilt durch Teilungsplatten oder Unterteilungswände gemäß einem Ausführungsbeispiel eines zweiten Aspekts der vorliegenden Erfindung;
Fig. 9 ist eine horizontale Querschnittsansicht eines Beispiels einer Abschirmanlage;
Fig. 10 ist eine Teilvertikalschnittansicht des Beispiels gemäß Fig. 9;
Fig. 11 ist eine graphische Darstellung, die Röntgenstrahlen-Daämpfungsverhältnisse zeigt, und zwar bezüglich der Dicke/Halbwertsschichtverhältnisse;
Fig. 12 ist eine graphische Darstellung der Röntgenstrahlen-Dämpfungsverhältnisse bezüglich L²/S.
Fig. 13 ist eine vergrößerte perspektivische Ansicht der Teilungsplatten oder Unterteilungswände der Abschirmanlage für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen gemäß einem Ausführungsbeispiel einer Kombination der ersten und zweiten Aspekte der Erfindung;
Fig. 14A ist eine horizontale Querschnittsansicht einer konventionellen Abschirmanlage für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen;
Fig. 14B ist eine horizontale Querschnittsansicht einer weiteren konventionellen Abschirmanlage für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen;
Fig. 15 ist eine horizontale Querschnittsansicht von einer weiteren konventionellen Abschirmanlage für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen.

Beste Art und Weise zur Ausführung der Erfindung

Ausführungsbeispiele des ersten Aspekts der vorliegenden Erfindung werden unten im Einzelnen unter Bezugnahme auf die Fig. 1 bis 6 beschrieben.
Fig. 1 zeigt eine Abschirmanordnung oder Abschirmanlage für Röntgenstrahlen oder γ- Strahlen gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel des ersten Aspekts der vorliegenden Erfindung. Wie in Fig. 1 gezeigt, enthält die Abschirmanlage eine Strahlungsquelle 1, wie beispielsweise eine Substanz oder ein Material bestrahlt durch Elektronenstrahl, wobei sekundäre Röntgenstrahlen auftreten; die Abschirmanlage besitzt ferner Abschirmwände 2, die darinnen einen Abschirmdurchlass 3 definieren. Die Abschirmwände 2 bringen die Einheiten 4-1 und 4-2 der Teilungsplatten oder Unterteilungswände darinnen unter. Der Abschirmdurchlass 3 besitzt einen Einlass A für Röntgenstrahlen, und zwar positioniert an einem Ende davon, benachbart zu der Quelle 1, und einen Auslass B für Röntgenstrahlen, positioniert an einem entgegengesetzten Ende davon, und zwar entfernt gegenüber der Quelle 1. Der Auslass B ist normalerweise durch eine Abschirmtür 2d abgeschlossen. Die Einheiten 4-1 und 4-2 der Teilungsplatten oder Unterteilungswände sind in dem Abschirmdurchlass 3 derart untergebracht, dass der Einlass A visuell gegenüber dem Auslass B abgedeckt ist.
Fig. 2 zeigt in einem vergrößerten Maßstab jede der Einheiten 4-1 und 4-2 der Teilungsplatten oder Unterteilungswände. Wie in Fig. 2 gezeigt, weist jede Einheit eine obere Platte 5, eine untere Platte 6, beabstandet nach unten gegenüber der oberen Platte 5, und eine Vielzahl von Teilungsplatten oder vertikalen Unterteilungswänden 7- 1, 7-2 und 7-3 auf, und zwar sich erstreckend zwischen den oberen und unteren Platten 5 und 6 und horizontal in einer Richtung senkrecht zur Längsachse des Abschirmdurchlasses 3 (vgl. Fig. 1) beabstandet. Die Abschirmwände 2 kontaktieren eng die obere Platte 5 und die untere Platte 6 derart, dass verhindert wird, dass Röntgenstrahlen aus den kontaktierenden Teilen der Abschirmwände 2 und der oberen und unteren Platten 5 und 6 heraustreten oder herauslecken. Die Teilungsplatte oder Unterteilungswand 7-1, 7-2 oder 7-3 bilden eine Innenplatte oder Wand und unterteilen den Abschirmdurchlass 3 in eine Vielzahl von seitlich benachbarten Durchlassbahnen, wie es in Fig. 2 gezeigt ist. Jede der Teilungsplatten oder Unterteilungswände 7-1, 7-2 und 7-3 liegt in der Form eines Faltschirms vor und besitzt eine 90º abgebogene Gestalt mit einer mittigen vertikalen Faltlinie, die sich zwischen den oberen und unteren Enden erstreckt, die befestigt sind bezüglich der oberen und unteren Platten 5 und 6. Obwohl jede der Teilungsplatten oder Unterteilungswände 7-1, 7-2 und 7-3 nur eine Faltung 7f in Fig. 2 besitzt, kann eine oder mehrere Faltungen vorgesehen sein.
Fig. 3 zeigt eine Abschirmanordnung oder Abschirmanlage für Röntgenstrahlen oder γ- Strahlen gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung. In dem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung gemäß Fig. 3 besitzt die Abschirmanlage eine spiralförmige Unterteilungswand 8, und zwar angeordnet in dem Abschirmdurchlass 3 und sich erstreckend zwischen dem Einlass A und dem Auslass B. Die Unterteilungswand 8 ist um eine Mittellinie CL spulenartig herumgeführt, wobei sich diese in einer Längsrichtung des Abschirmdurchlasses 3 erstreckt, und zwar in einer sich konstant ändernden Reihe von Ebenen. Andere Einzelheiten der Abschirmanlage gemäß Fig. 3 sind identisch zu der Abschirmanlage gemäß Fig. 1. Diese Teile und Komponenten in Fig. 3, die strukturell und funktionell identisch mit den entsprechenden Teilen der Fig. 1 sind, sind mit den gleichen Bezugszeichen versehen.
Es wurde ein Experiment an der Abschirmanlage gemäß Fig. 1 ausgeführt, was im Folgenden beschrieben wird.
In dem Experiment wurden zwei der Einheiten von Teilungsplatten oder Unterteilungswänden gemäß Fig. 2 in der Abschirmanlage, wie in Fig. 1 gezeigt, angeordnet und ein Röntgenstrahlen-Abschirmtest wurde an der Abschirmanlage ausgeführt, um die sekundären Röntgenstrahlen, erzeugt durch die Elektronenstrahlbestrahlung abzuschirmen. Bei dem Röntgenstrahlen-Abschirmtest wurden Röntgenstrahlen von dem bestrahlten Material mit maximal Energien von 0,5 MeV und 0,8 MeV emittiert. Die Unterteilungswände waren aus verschiedenen Materialien, einschließlich Eisen und Blei, hergestellt und hatten unterschiedliche Dicken, wie das in Tabelle 1 unten angegeben ist. Die Dicke/Halbwertschichtverhältnisse in Tabelle 1 sind definiert als die Verhältnissse der Dicke der Unterteilungswände zu den Halbwertschichten gemäß Fig. 2 und die Halbwertschicht wird definiert als die Dicke eines Flächenelements des Materials, welches die Intensität der hindurchgehenden Röntgenstrahlen auf eine Hälfte ihres Anfangswertes reduziert, und zwar hängt dies von der Art des Materials und der Maximalenergie der Röntgenstrahlen ab. Tabelle 1 (Unterteilungswände, verwendet in dem Experiment) Tabelle 2 (Halbwertsschicht bezüglich Röntgenstrahlen)
Die Gesamtabsorptionskoeffizienten der in der Berechnung der Halbwertsschichten verwendeten Materialien wurden der folgenden Publikation entnommen: "Radiation", veröffentlicht von Kyoritsu Shuppan und die Dichten der Materialien wurden zitiert aus "Rika Nenpyo" (Scientific Almanac), veröffentlicht von Maruzen.
Wenn man annimmt, dass die Röntgenstrahlenintensitäten am Einlass A und am Auslass B des Abschirmdurchlasses durch IA bzw. IB repräsentiert werden, sodann wird das Dämpfungsverhältnis η der Abschirmanlage angegeben durch η = IA/IB. Fig. 4 zeigt die Röntgenstrahlendämpfungsverhältnisse bezüglich der Dicke/Halbwertsschichtverhältnissse, die für unterschiedliche Materialien und Dicken von Teilungsplatten oder Unterteilungswänden gemessen wurden und mit unterschiedlichen aufgebrachten Röntgenstrahlenenergien. Es wurde aus Fig. 4 bestätigt, dass jedwede übertragenen Röntgenstrahlen unterdrückt wurden, wenn die Unterteilungswände eine Dicke besaßen, die das 2,5-fache (bei einem Dämpfungsverhältnis von 22,5 = 5,7) der Halbwertsschicht betrugen. Es wurde ebenfalls bestätigt, dass selbst dann, wenn die Unterteilungswände eine Dicke besaßen, die kleiner war als das 2,5-fache der Halbwertsschicht, ein größerer Dämpfungseffekt erreicht wurde als im Falle, wo keine Unterteilungswand verwendet wurde. Selbst für beispielsweise ein Dicken/Halbwertsschichtverhältnis von 0,1 wurde das Dämpfungsverhältnis im Bereich von 50 bis 100 erreicht, was einen großen Dämpfungseffekt zeigt. Anstiege bei der Dicke der Unterteilungswände variieren den Dämpfungseffekt nicht, aber machen die Abschirmanlage nachteiliger im Hinblick auf Betrachtungen bezüglich des Installationsverfahrens und der Wirtschaftlichkeit. In der Praxis kann daher die Dicke der Unterteilungswände höchstens mehrfach das Zehnfache der Halbwertsschicht sein.
Bei einem weiteren Röntgenstrahlenabschirmtest wurde die Anzahl der Einheiten der Teilungsplatten oder Unterteilungswände vergrößert (eine zusätzliche Einheit der Teilungsplatten oder Unterteilungswände wurde, wie durch die gestrichelten Linien in Figur, 1 gezeigt, vorgesehen), aber die Dicke der Unterteilungswände wurde nicht verändert. Die Röntgenstrahlen wurden von der Röntgenstrahlquelle 1 mit einer maximalen Energie von 0,5 MeV erzeugt, die Unterteilungswände aus Blei hatten eine Dicke von 20 mm und die Dämpfungsverhältnisse für die entsprechenden ersten, zweiten und dritten Einheiten von Teilungsplatten oder Unterteilungswänden wurden gemessen. Die Ergebnisse sind in Fig. 5 gezeigt. Da die Unterteilungwände aus Blei eine Dicke von 20 mm hatten, ist nur ein Dämpfungseffekt an den reflektierten Röntgenstrahlen, die durch die übertragenen Röntgenstrahlen nicht beeinflusst, in Fig. 5 gezeigt. Es wurde bestätigt, dass die Beziehung zwischen der Anzahl von Einheiten von Teilungsplatten oder Unterteilungwänden und dem Dämpfungsverhältnis nicht der obigen Gleichung (1), aber der folgenden Gleichung (3) Genüge tut, die die Erfinder der vorliegenden Erfindung fanden.
In = In-1 · [(α · Ln²/Sn) + β]&supmin;¹ (3)
Die obige Gleichung (3) wird unten beschrieben.
Wenn angenommen wird, dass, wie in Figur gezeigt, die Intensitäten der Röntgenstrahlen von einer Strahlungsquelle 1 an den entsprechenden Biegungen P&sub1;, P&sub2; ... Pn eines Abschirmdurchlasses 3, definiert durch die äußeren Abschirmwände 2, repräsentiert werden durch I&sub1; bzw. I&sub2; ... bzw. In, dann kann die Röntgenstrahlenintensität In an der Abwinklung bzw. Biegung Pn aus der Röntgenstrahlenintensität In-1 an der vorhergehenden Biegung Pn-1 gemäß der obigen Gleichung 3 berechnet werden, wobei Sn die Querschnittsfläche des Abschirmdurchflusses von der Biegung Pn-1 zur Biegung Pn ist, Ln ist der Abstand von der Biegung Pn-1 zur Biegung Pn und α und β sind Konstanten, abhängig von der Querschnittsform des Abschirmdurchlasses. In der Gleichung (3) bedeutet [(α · Ln²/Sn) + β] das Dämpfungsverhältnis pro Biegung. Die Gleichung (3) zeigt, dass das Dämpfungsverhältnis an einer Biegung des Abschirmdurchlasses proportional ist zum Quadrat des Abstandes von einem Reflexionspunkt und umgekehrt proportional zur Querschnittsfläche des Abschirmdurchlasses. Es folgt daher, dass der Dämpfungseffekt des Abschirmdurchlasses vergrößert werden kann durch Vermindern der Querschnittsfläche des Abschirmdurchlasses infolge beispielsweise der Verminderung der Steigung der Unterteilungswände, wie auch durch Erhöhen der Anzahl von Reflexionen und des Abstandes.
Die in Fig. 3 gezeigte Abschrimanlage wurde ebenfalls einem Röntgenstrahl- Abschirmtest durch Elektronenstrahlbestrahlung ausgesetzt. Die spiralförmige Unterteilungswand wurde aus Eisen hergestellt und besaß eine Dicke von 10 mm. Die Röntgenstrahlen wurden von der Röntgenstrahlenquelle 1 mit Maximalenergien von 0,5 Mev bis 0,8 Mev erzeugt. In dem Röntgenstrahlen-Abschirmtest wurde ein Röntgenstrahlen- Dämpfungsverhältnis η(=IA/IB) von 200 bei 0,5 MeV und 1500 bei 0,8 MeV vorgesehen. Daher erzeugte die Abschirmanlage gemäß Fig. 3 den gleichen Dämpfungseffekt wie die Abschirmanlage gemäß Fig. 1.
Da die Abschirmanlage für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen gemäß dem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung Teilungsplatten oder Unterteilungswände, angeordnet in dem Abschirmdurchlass, aufweist, wird die Abschirmeffizienz der Abschirmanlage bezüglich der Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen vergrößert und der Einbauraum für die Abschirmanlage und die Konstruktionskosten für die Abschirmanlage können stark vermindert werden.
Fig. 7 zeigt ein Beispiel, bei dem eine Abschirmanlage für Röntgenstrahlen und γ- Strahlen gemäß der Erfindung bei einem Elektronenstrahlgasbehandlungssystem angewandt wird. Das zu behandelnde oder zu verarbeitende Gas wird über einen Einlasskanal 31 in ein Prozess- oder Verarbeitungsgefäß 32 eingeführt, in dem das Gas mit Elektronenstrahlen bestrahlt wird, deren Energie im Bereich von mehreren 10 keV nis mehreren MeV liegt, und zwar von einem Elektronenstrahlgenerator 33. Nach der Bestrahlung des Elektronenstrahls wird das Gas aus einem Auslasskanal 34 herausgeführt. Die sekundären Röntgenstrahlen, deren Maximalenergie gleich der Energie des Elektronenstrahls ist, werden dann erzeugt, wenn der Elektronenstrahl mit dem Targetgas kollidiert. Daher wird die Abschirmanlage für Röntgenstrahlen derart installiert, dass die Abschirmwände 2 das Prozessgefäß 32, den Einlasskanal 31 und den Auslasskanal 34 umgeben, um das Lecken von sekundären Röntgenstrahlen zu verhindern. Um das Lecken der sekundären Röntgenstrahlen aus den Öffnungen des Einlasskanals 31 und Auslasskanals 33 zu verhindern, besitzen die Unterteilungswände 7-1, 7-2 und 7-3 eine Vielzahl von Faltungen, und zwar vorgesehen in den Einlass- und Auslasskanälen 31 und 33 derart, dass die in Einlassöffnungen 31A und 32A für die Röntgenstrahlen visuell von den Auslassöffnungen 31B bzw. 32B für die Röntgenstrahlen verdeckt oder abgedeckt sind. Die Unterteilungswände 7-1, 7-2 und 7-3 werden durch ein Abschirmmaterial aus Beton, Eisen oder Blei geformt und die Dicke der Abschirmwände liegt im Bereich von mehreren Zehnteln bis mehreren Zehnen der Halbwertsschicht des Abschirmmaterials. Die Dicke der Unterteilungswand wird auf der Basis des Abschirmmaterials und der maximalen, durch die Röntgenstrahlen erzeugten, Energie bestimmt. Der Elektronenstrahlgenerator 33 ist von einer selbstabschirmenden Bauart, bei dem die erzeugten Röntgenstrahlen daran gehindert werden, von selbst herauszulecken, und zwar aus einer Durchführung 37.
Als nächstes wird ein Ausführungsbeispiel des zweiten Aspekts der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die Fig. 8 bis 12 beschrieben.
Fig. 8 zeigt perspektivisch eine Abschirmanordnung für Röntgenstrahlen oder γ- Strahlen gemäß einem Ausführungsbeispiel des zweiten Aspekts der vorliegenden Erfindung. Wie in Fig. 8 gezeigt, weist die Abschirmanlage einen Abschirmdurchlass auf, und zwar mit einem Einlass 11 für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen und einem Auslass 12 für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen, und zwar definiert durch äußere Abschirmwände 13. Der Abschirmdurchlass ist unter einem Winkel von 90º gebogen oder abgewinkelt. Der Einlass 11 bzw. der Auslass 12 sind an entgegengesetzten Enden des Abschirmdurchlasses positioniert. Die Abschirmanlage besitzt auch Teilungsplatten oder Unterteilungswände 14, angeordnet in dem Abschirmdurchlass. Die Teilungsplatten oder Unterteilungswände 14 umfassen vertikale und horizontale Teilungsplatten oder Unterteilungswände, die zusammen kombiniert sind, um den Abschirmdurchlass in eine Vielzahl von parallelen Durchlassbahnen oder Durchlasswegen 18 zu unterteilen, wobei jeder einen rechteckigen Querschnitt besitzt. Wie oben beschrieben, zeigt die obige Gleichung (3), dass das Dämpfungsverhältnis an einer Biegung oder Abwinkelung des Abschirmdurchlasses proportional ist zum Quadrat des Abstandes von einem Reflexionspunkt und umgekehrt proportional zur Querschnittsfläche des Abschirmdurchlasses. Daraus folgt, dass der Dämpfungseffekt des Abschirmdurchlasses dadurch vergrößert werden kann, und dass man die Querschnittsfläche des Abschirmdurchlasses vermindert und auch dadurch dass man die Anzahl der Reflexionen und den Abstand vergrößert.
Wenn beispielsweise die Unterteilungswände 14 den Abschirmdurchlass in neun gleiche parallele Durchlasswege 18 unterteilen, wie dies in Fig. 8 gezeigt ist, sodann wird der Dämpfungseffekt pro Biegung ungefähr neun mal größer als der Dämpfungseffekt, der erreicht würde ohne die Unterteilungswände 14. Wenn daher der Abschirmdurchlass fünf Biegungen besitzt und in neun gleiche parallele Durchlasswege unterteilt würde, sodann wäre der Dämpfungseffekt in diesem Falle ungefähr 60.000 (=9&sup5;) mal größer, obwohl das Volumen des Abschirmdurchlasses im Wesentlichen ungeändert bleibt. Es wurde experimentell nachgewiesen, dass der obige Dämpfungseffekt dann erhalten wird, wenn die Dicke jeder der Unterteilungswände 14 mindestens ungefähr ein Zwanzigstel (1/20) der Halbwertsschicht bezüglich der Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen ist, die durch die Unterteilungswände 14 laufen. Infolgedessen können die Unterteilungswände 14 eine sehr kleine Dicke aufweisen. Dies ist eine weitere wichtige Tatsache, die durch die Erfinder dieser Anmeldung gefunden wurde.
Es wurde ein Experiment an der Abschirmanlage gemäß der vorliegenden Erfindung durchgeführt, wie dies im Folgenden beschrieben wird.
Fig. 9 zeigt eine Röntgenstrahlenabschirmanlage mit äußeren Abschirmwänden 13, die darinnen einen Abschirmdurchlass definieren, und zwar mit einer Röntgenstrahlenquelle 15 (durch ein elektronenstrahlbestrahlte Substanz oder Material) darinnen positioniert. Wie in Fig. 10 gezeigt, wurde eine Unterteilungswand 14 in einer Zone oder Region 16 (gestrichelt in Fig. 9 gezeigt) des Abschirmdurchlasses angeordnet, und zwar parallel zum Boden des Abschirmdurchlasses. In Fig. 9 bezieht sich das Bezugszeichen 17 auf eine Auslassöffnung. Der Abschirmdurchlass besitzt eine Breite von 900 mm und eine Höhe von 3000 mm und die Unterteilungswand 14 ist beabstandet mit 1000 mm nach oben gegenüber dem Boden, um den Abschirmdurchlass in zwei Durchlassbahnen oder Durchlasswege 18 zu unterteilen, deren Querschnittsflächen ein Verhältnis von 2 : 1 besitzen. Röntgenstrahlen wurden aus der Röntgenstrahlenquelle 15 mit Maximalenergien von 0,5 Mev und 0,8 MeV erzeugt. Die Unterteilungswand 14 wurde aus verschiedenen Materialien hergestellt, einschließlich Aluminium, Eisen und Blei und sie besaß unterschiedliche Dicken, wie dies in der Tabelle 3 unten gezeigt ist. Die Dicken/Halbwertsschichtverhältnisse in Tabelle 3 bedeuten die Verhältnisse der Dicken der Unterteilungswände zu den Halbwertsschichten, wie dies in Tabelle 4 gezeigt ist. Tabelle 3 (Unterteilungswände verwendet in dem Experiment) Tabelle 4 (Halbwertsschicht bezüglich Röntgenstrahlen)
Die Gesamtabsorptionskoeffizienten der in der Berechnung der Halbwertsschichten verwendeten Materialien wurden als Zitate aus der folgenden Literaturstelle entnommen: "Radiation", publiziert von Kyoritsu Shuppan und die Dichten der Materialien wurden zitiert aus "Rika Nenpyo" (Scientific Almanac), veröffentlicht von Maruzen.
Die Röntgenstrahlenintensitäten I&sub1; und I&sub3; (vgl. Fig. 9) an dem Einlass und dem Auslass des Abschirmdurchlasses wurden gemessen und die Dämpfungsverhältnisse η (=I&sub1;/I&sub3;) wurden berechnet, um die Dämpfungseffekte des Abschirmdurchlasses gemäß der Erfindung mit einem Abschirmdurchlass ohne Unterteilungswand zu vergleichen.
Fig. 11 zeigt die Röntgenstrahlendämpfungsverhältnisse bezüglich der Dicke/Halbwertsschichtverhältnisse. In Fig. 11 repräsentiert der Punkt (α) die Röntgenstrahlendämpfungsverhältnisse bezüglich der Halbwertsschichten für den Abschirmdurchlass (mit einer Querschnittsfläche von 2,7 m²) und keiner Unterteilungswand, O repräsentiert die Röntgenstrahlendämpfungsverhältnisse bezüglich der Halbwertsschichten für den oberen Durchlassweg (mit einer Querschnittsfläche von 1,8 m²) in dem Abschirmdurchlass mit der Unterteilungswand und Δ repräsentiert die Röntgenstrahlendämpfungsverhältnisse bezüglich der Halbwertsschichten für den unteren Durchlassweg (mit einer Querschnittsfläche von 0,9 m²) in dem Abschirmdurchlass mit der Unterteilungswand. Eine Betrachtung der Fig. 11 zeigt, dass das Dämpfungsverhältnis größer ist, wenn die Querschnittsfläche kleiner ist bei dem gleichen Abstand von der Röntgenstrahlenquelle und der gleichen Anzahl von Reflexionen, und dass der Dämpfungseffekt ansteigt, wenn der Abschirmdurchlass durch die Unterteilungswand unterteilt wird.
Fig. 12 zeigt die Röntgenstrahlendämpfungsverhältnisse (I&sub1;/I&sub2;) gemessen für eine Reflexion in dem Abschirmdurchlass gemäß Fig. 9. Die Gleichung (3), wie oben beschrieben, kann aus den Daten gemäß Fig. 12, abgeleitet werden. Es wurde aus Fig. 11 bestätigt, dass der Dämpfungseffekt sich selbst dann nicht ändert, wenn die Dicke der Unterteilungswand auf ein Zehntel der Halbwertsschicht reduziert wird (die Unterteilungswand aus Eisen hat eine Dicke von 1 mm bezüglich der maximalen Röntgenstrahlenenergie von 0,5 MeV). Wenn die Dicke der Unterteilungswand auf das 0,08- fache der Halbwertsschicht reduziert wird (die Unterteilungswand aus Eisen hat eine Dicke von 1 mm bezüglich der maximalen Röntgenstrahlenenergie von 0,8 Mev), so wird der Dämpfungseffekt leicht abgesenkt, aber sie ist weiterhin effektiv hinsichtlich der Vergrößerung der Dämpungseffizienz ohne die Form des Abschirmdurchlasses zu variieren. Weitere Anstiege der Dicke der Unterteilungswand variieren oder verändern den Dämpfungseffekt nicht, aber machen die Abschirmanlage unvorteilhafter im Hinblick auf Betrachtungen bezüglich des Einbauverfahrens oder bezüglich ökonomischer Gesichtspunkte. Aus praktischen Gründen kann daher die Dicke der Unterteilungswand höchstens ungefähr das Zehnfache der Halbwertsschicht sein.
Gemäß dem zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung wird, da die Abschirmanlage für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen den Abschirmdurchlass durch Teilungsplatten oder Unterteilungswände unterteilt hat, die Abschirmeffizienz der Abschirmanlage bezüglich Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen erhöht und die Abschirmanlage braucht einen relativ geringen Einbauraum und kann mit relativ geringen Mitteln konstruiert werden.
Als nächstes wird ein Ausführungsbeispiel einer Kombination der ersten und zweiten Aspekte der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die Fig. 13 beschrieben. Die Kombination der ersten und zweiten Aspekte der vorliegenden Erfindung sieht einen größeren Effekt für die Dämpfung der Röntgenstrahlen und γ-Strahlen vor.
Fig. 13 zeigt mit einem vergrößerten Maßstab eine Einheit 4-1 (oder 4-2) von Teilungsplatten oder Unterteilungswänden und entspricht der Fig. 2. Die Einheit 4-1 (oder 4-2) gemäß Fig. 13 ist identisch zu der Einheit 4-1 (oder 4-2) gemäß Fig. 2, mit der Ausnahme, dass sie eine Vielzahl von Teilungsplatten oder Unterteilungswänden 9 aufweist, die sich zwischen der Unterteilungswand 7-1 und der Unterteilungswand 7-3 erstrecken und die vertikal beabstandet sind, und zwar in einer Längsrichtung des Abschirmdurchlasses 3 (vgl. Fig. 1). Diese Teilungsplatte oder Unterteilungswand 9 bildet eine zweite Unterteilungswand. Das heißt, wie in Fig. 13 gezeigt, der Abschirmdurchlass 3 (vgl. Fig. 1) wird in eine Vielzahl von seitlich benachbarten Durchlasswegen oder Durchlassbahnen (Kanäle) unterteilt, und zwar durch die Teilungsplatte oder Unterteilungwand 7-1, 7-2 oder 7-3, und der obige Durchlassweg wird in eine Vielzahl von vertikal benachbarten Subdurchlasswegen unterteilt, deren jeder einen rechteckigen Querschnitt besitzt, und zwar geschieht dies durch die Teilungsplatte oder Unterteilungswand 9. Infolgedessen kann das Dämpfungsverhältnis weiter günstig entwickelt werden.
Obwohl bestimmte bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung gezeigt und im Einzelnen beschrieben wurden, ist es doch klar, dass verschiedene Änderungen und Modifikationen vorgenommen werden können ohne den Rahmen der beigefügten Ansprüche zu verlassen.

Industrielle Anwendbarkeit

Die vorliegende Erfindung ist geeignet für eine Abschirmanordnung oder Abschirmanlage, in der eine Strahlungsquelle vorhanden ist, die Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen abstrahlt, und die nicht vollständig abgedichtet werden kann, da es erforderlich ist, eine Substanz oder Material in die Anlage hinein- und aus dieser herauszubringen, während die Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen von der Quelle erzeugt werden. Die vorliegende Erfindung ist bevorzugt anwendbar bei einem Abgasbehandlungssystem, bei dem Röntgenstrahlen erzeugt werden, wenn Elektronenstrahlen mit dem Abgas, welches behandelt werden soll, kollidieren und das behandelte Gas oder Beiprodukt aus einer Öffnung eines Abschirmdurchlasses heraus abgegeben werden muss.

Claims

1. Eine Abschirmanordnung für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen wobei Folgendes vorgesehen ist:

Eine äußere Abschirmwand (2), die darinnen mindestens einen Abschirmdurchlaß (3) definiert einschließlich einer Einlaßöffnung und einer Auslaßöffnung, wobei die Abschirmwand geeignet ist, um eine Quelle (1) unterzubringen, die Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen erzeugt, und an der Seite der Einlaßöffnung des Abschirmdurchlasses positioniert ist; und

mindestens eine Innenplatte oder Wand (7-1, 7-2, 7-3) angeordnet in mindestens einem Teil des Abschirmdurchlasses, wobei die Innenplatte oder Wand sich in die Richtung von der erwähnten Einlaßöffnung zu der erwähnten Auslaßöffnung des Abschirmdurchlasses erstreckt und mindestens einmal in dem Abschirmdurchlaß abgewinkelt bzw. gebogen ist, wobei die innere Platte oder Wand in dem Abschirmdurchlaß derart angeordnet ist, daß die erwähnte Auslaßöffnung visuell von der Einlaßöffnung verdeckt ist und eine Teilungsplatte oder Unterteilungswand aufweist, durch die der Abschirmdurchlaß in eine Vielzahl von Durchlasswegen (Kanälen) aufgeteilt ist.

2. Abschirmanordnung nach Anspruch 1, wobei die Teilungsplatte oder Unterteilungswand (7-1, 7-2, 7-3) in der Form eines Faltschirms mit mindestens einer Faltung vorgesehen ist.

3. Abschirmanordnung nach Anspruch 1 oder 2, wobei ferner mindestens eine zweite Teilungsplatte oder Unterteilungswand (9) in mindestens einem Teil des Abschirmdurchlasses angeordnet ist, um den Durchlaß in eine Vielzahl von Subdurchlässen oder Subkanälen zu teilen.

4. Abschirmanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei die erwähnten Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen durch Bestrahlung mit Elektronenstrahl erzeugt werden.

5. Abschirmanordnung nach Anspruch 4, wobei der Elektronenstrahl zum Behandeln von Abgas (flue gas) verwendet wird.

6. Abschirmanordnung für Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen wobei Folgendes vorgesehen ist:

Eine äußere Abschirmwand (13), die darinnen mindestens einen Abschirmdurchlaß (3) definiert, und zwar einschließlich einer Einlaßöffnung und einer Auslaßöffnung, wobei die Abschirmwand geeignet ist um eine Quelle (1) unterzubringen, die Röntgenstrahlen oder γ-Strahlen erzeugt und αn der Seite der Einlaßöffnung des erwähnten Abschirmdurchlasses positioniert ist, wobei der Abschirmdurchlaß eine gebogene Konfiguration besitzt; und

mindestens eine Teilungsplatte oder Unterteilungswand (14) angeordnet in mindestens einem Teil des Abschirmdurchlasses um den Abschirmdurchlaß in eine Vielzahl von Durchlasswegen (Kanäle) (18) zu teilen.

7. Abschirmanordnung nach Anspruch 6, wobei die Röntgenstrahlen oder γ- Strahlen durch Elektronenstrahlbestrahlung erzeugt werden.

8. Abschirmanordnung nach Anspruch 7, wobei der Elektronenstrahl verwendet wird um Abgas (flue gas) zu behandeln.

9. Abschirmanordnung nach einem der Ansprüche 6 bis 9, wobei die Teilungsplatte oder Unterteilungswand (14) eine Dicke besitzt, die im Wesentlichen mindestens ein Zwanzigstel der Halbwertsschicht eines Materials der Teilungsplatte oder Unterteilungswand ist.