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DE602004007906T2 - Testeinrichtung und einstellverfahren - Google Patents

Testeinrichtung und einstellverfahren Download PDF

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DE602004007906T2
DE602004007906T2 DE602004007906T DE602004007906T DE602004007906T2 DE 602004007906 T2 DE602004007906 T2 DE 602004007906T2 DE 602004007906 T DE602004007906 T DE 602004007906T DE 602004007906 T DE602004007906 T DE 602004007906T DE 602004007906 T2 DE602004007906 T2 DE 602004007906T2
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DE
Germany
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setting
setting condition
memory
channel selection
signal input
Prior art date
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Expired - Lifetime
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DE602004007906T
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English (en)
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DE602004007906D1 (de
Inventor
Takeshi Nerima-ku YAGUCHI
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Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
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Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
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Application granted granted Critical
Publication of DE602004007906T2 publication Critical patent/DE602004007906T2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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    • GPHYSICS
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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31908Tester set-up, e.g. configuring the tester to the device under test [DUT], down loading test patterns
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
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    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • H10P74/00

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  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Description

  • Technisches Gebiet
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Prüfvorrichtung und ein Einstellverfahren hierfür. Insbesondere bezieht sich die vorliegende Erfindung auf eine Prüfvorrichtung zum Prüfen einer elektrischen Vorrichtung und ein Einstellverfahren zum Einstellen einer Signaleingabe-/-ausgabeeinheit, die in der Prüfvorrichtung enthalten ist.
  • Stand der Technik
  • Eine herkömmliche Prüfvorrichtung weist eine Prüfsteuereinheit an, Einstellbedingungen in Abhängigkeit von Prüfelementen von einer Plattenvorrichtung zu lesen und die Einstellbedingungen zu einem mit einer elektrischen Vorrichtung verbundenen Kanal zu übertragen, um die Einstellung durchzuführen. Obgleich eine derartige Prüfvorrichtung wiederholt elektrische Vorrichtungen desselben Typs prüft, liest sie die Einstellbedingungen von der Plattenvorrichtung und überträgt die Einstellbedingungen zu dem Kanal über einen Systembus bei jeder Prüfung, und somit benötigt die Prüfvorrichtung viel Zeit, um Daten von der Prüfvorrichtung zu lesen und die Daten zu übertragen.
  • Demgemäß war, um die Prüfzeit zu verkürzen, eine Prüfvorrichtung bekannt, die eine Befehlsanalyseeinheit zum Analysieren eines Befehl von der Prüfsteuereinheit und zum Einstellen der Bedingung eines Kanals enthält, wie beispielsweise in der Japanischen Patentanmeldungs-Offenlegungsschrift Nr. 1995-218602 (Patentdokument 19 offenbart ist. Die in diesem Stand der Technik offenbarte Prüfvorrichtung überträgt und die speichert die Einstellbedingung einer Plattenvorrichtung in einem in der Befehlsanalyseeinheit enthaltenen Speicher vor der Prüfung über einen Systembus. Die Prüfsteuereinheit überträgt die Einstellbedingung über den Systembus zu der Befehlsanalyseeinheit, um die Einstellbedingung zu dem Kanal zu übertragen und einzustellen.
  • Jedoch kann die in dem Patentdokument 1 offenbarte Prüfvorrichtung nur dieselbe Einstellbedingung zu mehreren Kanälen übertragen, aber nicht unterschiedliche Einstellbedingungen zu den Kanälen übertragen, wenn die mit einer Befehlsanalyseeinheit verbundenen Kanäle eingestellt werden. Zusätzlich kann die im Patentdokument 1 offenbarte Prüfvorrichtung nicht die Anzahl der Bedingungsdaten in Abhängigkeit von den Prüfelementen einstellen oder ändern.
  • Die US 2003/005359 A1 offenbart ein System zum Prüfen elektronischer Vorrichtungen, das einen Prüfstellencomputer, einen Takt, einen Mustergenerator, eine An zahl von Stiftelektronik(PE)-Kanälen und eine Anzahl von Taktgeneratoren und Formatschaltungen (T/Fs), die zwischen dem Mustergenerator und die PE-Kanäle gekoppelt sind, enthält. Der Mustergenerator enthält einen Musterspeicher und einen Musterverwürfler. Der Musterspeicher enthält einen Treiber-/Erwartungsdaten-Musterspeicher, einen Strobesteuer-Musterspeicher und einen I/O-Steuermusterspeicher zum Vorsehen von Treiber-/Erwartungsdatensignalen, Strobestreuersignalen bzw. I/O-Steuersignalen für den Musterverwürfler. Der Musterverwürfler enthält drei Schalterkreise für jeden PE-Kanal und ist in der Lage, beliebige einer vorbestimmten Anzahl von Musterspeicherausgängen mit einer vorbestimmten Anzahl von PE-Kanälen durch ein assoziiertes TIF zu verbinden. Es ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Prüfvorrichtung und ein Einstellverfahren hierfür vorzusehen, die in der Lage sind, die vorgenannten, den Stand der Technik begleitenden Nachteile zu überwinden. Die obige und andere Aufgaben können durch in den unabhängigen Ansprüchen beschriebene Kombinationen gelöst werden. Die abhängigen Ansprüche definieren weitere vorteilhafte und beispielhafte Kombinationen der vorliegenden Erfindung.
  • Beschreibung der Erfindung
  • Gemäß dem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung enthält eine Prüfvorrichtung zum Prüfen einer elektrischen Vorrichtung mehrere Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten zum Eingeben und/oder Ausgeben eindeutiger Prüfsignale in Abhängigkeit von der individuellen elektronischen Vorrichtung, als Antwort auf jeweils eine entsprechende Vielzahl von Anschlüssen, die in der elektrischen Vorrichtung enthalten sind, einen Kanalauswahlspeicher zum Speichern von Stücken von Kanalauswahlinformationen, die anzeigen, ob jede der Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten eine Einstellung auf der Grundlage einer Einstellbedingung durchführen sollte oder nicht, einen Einstellbedingungsspeicher zum Speichern der Einstellbedingung mit Bezug auf die Signaleingabe-/-ausgabeeinheit, und eine Steuerschaltung zum Zuführen der Einstellbedingung und der Kanalauswahlinformationen zu den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten, worin die Steuereinheit eine Einstellbedingungs-Abrufeinheit, eine Auswahlinformations-Abrufeinheit und eine Einstellbedingungs-Zuführungseinheit enthält; die Einstellbedingungs-Abrufeinheit zum Abrufen der Einstellbedingung aus dem Einstellbedingungsspeicher vorgesehen ist; die Auswahlinformations-Abrufeinheit zum Abrufen der Kanalauswahlinformationen aus dem Kanalauswahlspeicher vorgesehen ist; die Einstellbedingungs-Zuführungseinheit zum Zuführen sowohl der von der Einstellbedingungs-Abrufeinheit abgerufenen Einstellbedingungen als auch der von der Auswahlinformations-Abrufeinheit abgerufenen Kanalauswahlinformationen zu den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten auf der Grundlage eines Einstellungsbefehls vorgesehen ist, wenn der Einstellungsbefehl zum Setzen der Einstellungsbedingung für die Signaleingabe-/-ausgabeeinheit empfangen wird, wobei, wenn zumindest eine der Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten von den von der Steuerschaltung gelieferten Kanalauswahlinformationen ausgewählt wird, diese eine der Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten auf der Grundlage der von der Steuereinheit gelieferten Einstellungsbedingung gesetzt wird. Die Einstellbedingungs-Abrufeinheit kann vorgesehen sein zum Abrufen der Einstellbedingung und der Adresse des Kanalauswahlspeichers aus dem Einstellbedingungsspeicher, und die Auswahlinformations-Abrufeinheit kann vorgesehen sein zum Abrufen der Kanalauswahlinformationen aus dem Kanalauswahl speicher auf der Grundlage der von der Einstellbedingungs-Abrufeinheit abgerufenen Adresse des Kanalauswahlspeichers.
  • Die Einstellbedingungs-Abrufeinheit kann die Einstellbedingung enthaltend Stücke von Einstelldaten und die Adressen des Kanalauswahlspeichers als Antwort auf jedes der Stücke von Einstellungsdaten aus dem Einstellbedingungsspeicher abrufen, die Auswahlinformations-Abrufeinheit kann Stücke der Kanalauswahlinformationen aus dem Kanalauswahlspeicher auf der Grundlage der durch die Einstellbedingungs-Abrufeinheit abgerufenen Adressen des Kanalauswahlspeichers abrufen, und die Einstellbedingungs-Zuführungseinheit kann die Stücke von durch die Einstellbedingungs-Abrufeinheit abgerufenen Einstellungsdaten und die von der Auswahlinformations-Abrufeinheit abgerufenen Stücke von Kanalauswahlinformationen zu den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten liefern.
  • Der Einstellbedingungsspeicher kann weiterhin eine Adresse und die Größe des Einstellbedingungsspeichers in einer entsprechenden Weise speichern, und die Einstellbedingungs-Abrufeinheit kann die Adresse und die Größe des Einstellbedingungsspeichers aus dem Einstellbedingungsspeicher sowie die Stücke von Einstellungsdaten und die Adressen des Kanalauswahlspeichers in einer Anzahl, die durch die abgerufene Größe angezeigt wird, aus der abgerufenen Adresse des Einstellbedingungsspeichers abrufen.
  • Der Kanalauswahlspeicher kann die Kanalauswahlinformationen derart speichern, dass ein Kennzeichen "1" als Antwort darauf, dass die Signaleingabe-/-ausgabeeinheit eine Einstellung durchzuführen hat, gehalten wird, während ein Kennzeichen "0" als Antwort darauf, dass die Signaleingabe-/-ausgabeeinheit ein Einstellung nicht durchzuführen hat, gehalten wird, und die Einstellbedingungs-Zuführungseinheit kann die durch die Einstellbedingungs-Abrufeinheit abgerufene Einstellbedingung nicht zu den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten liefern, wenn eine logische Summe der in den von der Auswahlinformations-Abrufeinheit abgerufenen Kanalauswahlinformationen gehaltenen Kennzeichen gleich "0" ist.
  • Die Prüfvorrichtung kann weiterhin mehrere Prüfmodule enthalten, von denen jedes aufweist: die mehreren Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten, den Kanalauswahlspeicher, den Einstellbedingungsspeicher, die Einstellbedingungs-Abrufeinheit, die Auswahlinformations-Abrufeinheit und die Einstellbedingungs-Zuführungseinheit, und einen Prüfprozessor zum Zuführen des Einstellungsbefehls zu den Prüfmodulen, um die Einstellbedingungen der Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten zu setzen, wobei die jeweils in den Prüfmodulen enthaltenen Einstellbedingungsspeicher unterschiedliche Einstellbedingungen in Bereichen derselben Adresse speichern können, die Einstellbedingungen jeweils von den Einstellbedingungsspeichern auf der Grundlage der Adresse des Einstellbedingungsspeichers enthalten durch den von dem Prüfprozessor gelieferten Einstellungsbefehl, und die Einstellbedingungs-Zuführungseinheiten können die durch die Einstellbedingungs-Abrufeinheiten jeweils abgerufenen Einstellbedingungen zu den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten liefern.
  • Gemäß dem zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung enthält ein Verfahren zum Einstellen einer Einstellbedingung von zumindest einer von Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten, die in einer Prüfvorrichtung zum Eingeben und/oder Ausgeben eindeutiger Prüfsignale in Abhängigkeit von einer individuellen elektronischen Vorrichtung enthalten sind, als Antwort auf jeden einer entsprechenden Vielzahl von Anschlüssen, die in einer elektronischen Vorrichtung enthalten sind, die Schritte des Abrufens der Einstellbedingung der Signaleingabe-/-ausgabeeinheit aus einem Einstellbedingungsspeicher, des Abrufens von Kanalauswahlinformationen, die anzeigen, ob jede der Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten eine Einstellung auf der Grundlage der Einstellbedingung durchführen sollte oder nicht, aus einem Kanalauswahlspeicher, des Zuführens der aus dem Einstellbedingungsspeicher abgerufenen Einstellbedingung und der aus dem Kanalauswahlspeicher abgerufenen Kanalauswahlinformationen zu den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten, und des Einstellens zumindest einer der Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten auf der Grundlage der zugeführten Einstellbedingung, wenn die Signaleingabe-/-ausgabeeinheit durch die zugeführten Kanalauswahlinformationen ausgewählt ist, wobei Stücke von Kanalauswahlinformationen gespeichert werden, die anzeigen, ob jede der Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten eine Einstellung auf der Grundlage einer Einstellbedingung durchführen sollte oder nicht, und diese Einstellbedingung mit Bezug auf diese Signaleingabe-/-ausgabeeinheit gespeichert wird.
  • Die Zusammenfassung der Erfindung beschreibt nicht notwendigerweise alle erforderlichen Merkmale der vorliegenden Erfindung. Die vorliegende Erfindung kann auch eine Unterkombination der vorbeschriebenen Merkmale sein. Die vorstehenden und andere Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden augenscheinlicher anhand der folgenden Beschreibung der Ausführungsbeispiele, die in Verbindung mit den begleitenden Zeichnungen gegeben wird.
  • KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • 1 zeigt ein Beispiel für die Konfiguration einer Prüfvorrichtung 100, die auf ein Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung bezogen ist.
  • 2 zeit ein Beispiel für die Datenkonfiguration eines Einstellbedingungsspeichers 118 und eines Kanalauswahlspeichers 116.
  • 3 zeigt ein Beispiel für eine in einem Kanalauswahlspeicher 116 gespeicherte Auswahlbitanordnung.
  • 4 zeigt ein Beispiel für die Datenkonfiguration eines Schreibbefehls mit Bezug auf eine gemeinsame Bedingung.
  • BESTE ART ZUM AUSFÜHREN DER ERFINDUNG
  • Die Erfindung wird nun auf der Grundlage bevorzugter Ausführungsbeispiele beschrieben, die den Bereich der vorliegenden Erfindung nicht beschränken, sondern die Erfindung veranschaulichen sollen. Alle Merkmale und deren Kombinationen, die in dem Ausführungsbeispiel beschrieben sind, sind nicht notwendigerweise wesentlich für die Erfindung.
  • 1 zeigt ein Beispiel für die Konfiguration einer auf ein Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung bezogenen Prüfvorrichtung 100. Die Prüfvorrichtung 100 gibt ein Prüfsignal in eine elektrische Vorrichtung ein und beurteilt die Qualität der elektrischen Vorrichtung, um die elektrische Vorrichtung zu prüfen. Die Prüfvorrichtung 100 kann die Einstellung eines Wellenformgenerators oder Wellenformkomparators als Antwort auf jede der Prüfbedingungen ändern, um eine Verschiedenheit von Typen von Prüfungen durchzuführen. Demgemäß ist es eine Aufgabe der Prüfvorrichtung 100 nach der vorliegenden Erfindung, die Einstellzeit der Prüfbedingungen zu verkürzen.
  • Die Prüfvorrichtung 100 enthält einen Prüfprozessor 102 zum Erzeugen eines Einstellungsbefehls zum Setzen einer vorgeschriebenen Einstellbedingung sowie mehrere Prüfmodule 104 zum Setzen der Einstellbedingung auf der Grundlage des von dem Prüfprozessor 102 erzeugten Einstellungsbefehls. Der Prüfprozessor 102 liefert den Einstellungsbefehl zu mehreren der Prüfmodule über einen Systembus 106 mit einer Rundsendefunktion. Jedes der Prüfmodule 104 enthält mehrere Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 für die Eingabe oder Ausgabe der Prüfsignale als Antwort auf jeden einer Vielzahl von in der elektrischen Vorrichtung enthaltenen Anschlüssen, einen Kanalauswahlspeicher 116 zum Speichern mehrerer Stücke von Kanalauswahlinformationen, die anzeigen, ob jede der Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 eine Einstellung auf der Grundlage der Einstellbedingungen durchführt oder nicht, einen Einstellbedingungsspeicher 118 zum Speichern sowohl der Einstellbedingungen der Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 als auch der logischen Adressen des Kanalauswahlspeichers 116 in einer entsprechenden Weise, und eine Steuerschaltung 120 zum Abrufen und Liefern der Kanalauswahlinformationen und der Einstellbedingungen zu den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 auf der Grundlage der von dem Prüfprozessor 102 gelieferten Einstellungsbefehle. Die Steuerschaltung 120, die ein Beispiel für Steuermittel nach diesem Ausführungsbeispiel ist, ruft die in dem Einstellbedingungsspeicher 118 gespeicherten Einstellbedingungen und die in dem Kanalauswahlspeicher 116 gespeicherten Kanalauswahlinformationen auf der Grundlage des Einstellungsbefehls ab und liefert sie über den internen Bus 109 zu den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108, wenn der Einstellungsbefehl zum Setzen der Einstellbedingungen der Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 empfangen wird.
  • Jede der Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 enthält einen Wellenformgenerator 110 zum Erzeugen des in die elektrische Vorrichtung eingegebenen Prüfsignals, einen Wellenformkomparator 112 zum Vergleichen des von der elektrischen Vorrichtung als Antwort auf das eingegebene Prüfsignal ausgegebenen Signals mit einem erwarteten Signal, und eine Gleichspannungs-Messvorrichtung 114 zum Messen der an die elektrische Vorrichtung angelegten Gleichspannung oder der von der elektrischen Vorrichtung ausgegebenen Gleichspannung. Zusätzlich enthält die Steuerschaltung 120 eine Einstellbedingungs-Abrufeinheit 122 zum Abrufen der Einstellbedingungen aus dem Einstellbedingungsspeicher 118, eine Auswahlinformations-Abrufeinheit 124 zum Abrufen der Kanalauswahlinformationen aus dem Kanalauswahlspeicher 116, und eine Einstellbedingungs-Zuführungseinheit 126 zum Zuführen sowohl der von der Einstellbedingungs-Abrufeinheit 122 abgerufenen Einstellbedingungen und der von der Auswahlinformations-Abrufeinheit 124 abgerufenen Kanalauswahlinformationen zu den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108.
  • Der Prüfprozessor 102 liefert den Einstellungsbefehl zu den Prüfmodulen 104, um die Einstellbedingungen der Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 zu setzen. Die Einstellbedingungs-Abrufeinheit 122 empfängt den Einstellungsbefehl enthaltend die logischen Adressen des Einstellbedingungsspeichers 118 von dem Prüfprozessor 102. Wenn die Einstellbedingungs-Abrufeinheit 122 den Einstellungsbefehl empfängt, ruft sie die Einstellbedingungen und die logischen Adressen des Kanalauswahlspeichers 116 aus dem Einstellbedingungsspeicher 118 auf der Grundlage der von dem Prüfprozessor 102 gelieferten logischen Adressen des Einstellbedingungsspeichers 118 ab. Die Auswahlinformationsabrufeinheit 124 ruft die Kanalauswahlinformationen aus dem Kanalauswahlspeicher 116 auf der Grundlage der von der Einstellbedingungs-Abrufeinheit 122 abgerufenen logischen Adressen des Kanalauswahlspeichers 116 ab. Die Einstellbedingungs-Zuführungseinheit 126 liefert sowohl die von der Einstellbedingungs-Abrufeinheit 122 abgerufenen Einstellbedingungen als auch die von der Auswahlinformations-Abrufeinheit 124 abgerufenen Kanalauswahlinformationen zu den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108.
  • Jede der Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 beurteilt, ob sie durch die von der Einstellbedingungs-Zuführungseinheit 126 zugeführten Kanalauswahlinformationen ausgewählt ist oder nicht. Wenn sie durch die Kanalauswahlinformationen ausgewählt ist, wird jede der Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 gesetzt auf der Grundlage der von der Einstellbedingungs-Zuführungseinheit 126 gelieferten Einstellbedingungen. Insbesondere werden eine angelegte Spannung, ein Prüfmodus, ein Prüfumfeld usw. gesetzt.
  • 2 zeigt ein Beispiel für die Datenkonfiguration des Einstellbedingungsspeichers 118 und des Kanalauswahlspeichers 116. Der Einstellbedingungsspeicher 118 enthält eine Bedingungsgruppen-Zuweisungsschaltung (b1, b2, b3, b4 ...) zum Bestimmen der Speicherorte der Einstellbedingungen, eine Aufzeichnungsschaltung (b21, b22, b23, b24 ...) für gemeinsame Bedingungen zum Speichern der gemeinsamen Einstellbedingungen als Antwort auf die Prüfmodule 104, und eine Aufzeichnungsschaltung (b41, b42, b43, b44 ...) für eine eindeutige Bedingung zum Speichern der unterschiedlichen Einstellbedingungen als Antwort auf die Prüfmodule 104.
  • Der Einstellbedingungsspeicher 118 speichert die logische Adresse und die Datengröße des Einstellbedingungsspeichers 118 entsprechend in der Bedingungsgruppen-Zuweisungsschaltung. Die Kombination der logischen Adresse und der Datengröße wird für jede Einstellbedingung gebildet. Insbesondere speichert der Einstellbedingungsspeicher 118 "Bedingung 1 – Logische Adresse" und "Bedingung 1 – Datengröße", und "Bedingung 2 – Logische Adresse" und "Bedingung 2 – Datengröße" entsprechend.
  • Zusätzlich speichert der Einstellbedingungsspeicher 118 entsprechend "Praktische Adresse" und "Praktische Daten" in der Aufzeichnungsschaltung für gemeinsame Bedingungen. die "Praktische Adresse" enthält die logischen Adressen des Kanalauswahlspeichers 116 und Einstelladressen, die bestimmt sind für Einstellorte in den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108, und die "Praktischen Daten" sind Einstelldaten, die die Einstellbedingungen anzeigen. Beispielsweise sind die für Einstellorte in den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 bestimmten Einstelladressen die Identifikationsinformationen der Gleichspannungs-Messvorrichtung und die die Einstellbedingungen anzeigenden Einstelldaten sind die angelegte Spannung. Mehrere Einstellbedingungsspeicher 118, die jeweils in den Prüfmodulen 104 enthalten sind, speichern die gemeinsamen Einstellbedingungen in den Bereichen derselben logischen Adressen als die "praktische Adresse" und die "praktischen Daten".
  • Der Einstellbedingungsspeicher 118 speichert "Praktische Adresse für Korrektur" und "Praktische Daten für Korrektur" entsprechend in der Aufzeichnungsschaltung für eindeutige Bedingungen. Die "Praktische Adresse für Korrektur" enthält die logischen Adressen des Kanalauswahlspeichers 116 und Einstelladressen, die für Einstellorte in den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 bestimmt sind, und die "Praktischen Daten für Korrektur" sind Einstelldaten, die die Einstellbedingungen anzeigen. Mehrere Einstellbedingungsspeicher 118, die jeweils in den Prüfmodulen 104 enthalten sind, speichern die unterschiedlichen Einstellbedingungen als Antwort auf jede Charakteristik der Signaleingabe-/-ausgabeeinheit 108, die in den Prüfmodulen 104 enthalten sind, in den Bereichen derselben logischen Adressen als die "Praktische Adresse für Korrektur" und "Praktischen Daten für Korrektur".
  • Die Einstellbedingungs-Abrufeinheit 122 ruft die logische Adresse und die Datengröße des Einstellbedingungsspeichers 118 aus dem Einstellbedingungsspeicher 118 ab. Beispielsweise ruft sie "Bedingung 1 – Logische Adresse" und "Bedingung 1 – Datengröße" ab. Die Einstellbedingungs-Abrufeinheit 122 ruft die Einstellbedingungen enthaltend die Einstelldaten aus dem Einstellbedingungsspeicher 118 und die logischen Adressen des Kanalauswahlspeichers 116 für die jeweiligen Einstelldaten ab. Insbesondere ruft die Einstellbedingungs-Abrufeinheit 122 die "Praktische Adresse" und "Praktische Daten" so oft wie die durch die abgerufene Datengröße angezeigte Anzahl aus den abgerufenen logischen Adressen des Einstellbedingungsspeichers 118 ab. Wenn beispielsweise die "Bedingung 1 – Datengröße" gleich "4" ist, ruft sie "Praktische Adresse (1-1)", "Praktische Daten (1-1)", "Praktische Adresse (1-2)" und "Praktische Daten (1-2)" ab.
  • Dann ruft die Auswahlinformations-Abrufeinheit 124 mehrere Stücke der Kanalauswahlinformationen aus dem Kanalauswahlspeicher 116 ab auf der Grundlage der logischen Adressen des Kanalauswahlspeichers 116, die jeweils in den durch die Einstellbedingungs-Abrufeinheit 122 abgerufenen praktischen Adressen enthalten sind. Wenn beispielsweise die logische Adresse des Kanalauswahlspeichers 116, die in der "Praktischen Adresse (1-1)" enthalten ist, gleich "a1" ist, ruft sie "Auswahlbitanordnung 1" ab, die die Kanalauswahlinformationen sind, und wenn die logische Adresse des Kanalauswahlspeichers 116, die in der "Praktischen Adresse (1-2)" enthalten ist, gleich "a2" ist, ruft sie die "Auswahlbitanordnung 2" ab, die die Kanalauswahlinformationen sind.
  • Dann liefert die Einstellbedingungs-Zuführungseinheit 126 beide Stücke der durch die Einstellbedingungs-Abrufeinheit 122 abgerufenen Einstelldaten und mehrerer durch die Auswahlinformations-Abrufeinheit 124 abgerufener Kanalauswahlinformationen zu den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108. Beispielsweise liefert sie die "Praktische Adresse (1-1)", "Praktische Daten (1-1)" und "Auswahlbitanordnung 1" zusammen mit "Praktische Adresse (1-2)", "Praktische Daten (1-2)" und "Auswahlbitanordnung 2" zu den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108. Wenn eine der Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 durch die "Auswahlbitanordnung 1" ausgewählt wird, setzt sie den durch die Einstelladresse, die in der "Praktische Adresse (1-1)" enthalten ist, bezeichneten Einstellort auf der Grundlage der "Praktischen Daten (1-1)".
  • Weiterhin kann jede von mehreren Einstellbedingungs-Abrufeinheiten 122 die "Praktische Adresse für Korrektur" und "Praktische Daten für Korrektur", die mehrere unterschiedliche Einstellbedingungen sind, jeweils aus mehreren Einstellbedingungsspeichern 118 abrufen auf der Grundlage der logischen Adressen in dem Einstellbedingungsspeicher 118, die in dem von dem Prüfprozessor 102 gelieferten Einstellungsbefehl enthalten sind. Die Einstellbedingungs-Zuführungseinheiten 126 können die "Praktische Adresse für Korrektur" und "Praktische Daten für Korrektur", die mehrere unterschiedliche Einstellbedingungen sind, die jeweils von jeder der Einstellbedingungs-Abrufeinheiten 122 abgerufen wurden, zu den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 liefern. Wie vorstehend kann, da die Einstellbedingungsspeicher 118 unterschiedliche Einstellbedingungen für jede der Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 speichern kann, der Wirkungsgrad der Verwendung des Speichers verbessert werden.
  • 3 zeigt ein Beispiel für die in dem Kanalauswahlspeicher 116 gespeicherte Auswahlbitanordnung. Der Kanalauswahlspeicher 116 speichert die Informationen, die anzeigen, ob die Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 in einer entsprechenden Weise zu setzen sind. Beispielsweise speichert der Kanalauswahlspeicher 116 die Kanalauswahlinformationen derart, dass ein Kennzeichen "1" gehalten wird als Antwort auf die Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108, die die Einstellung durchführen sollen, während ein Kennzeichen "0" gehalten wird als Antwort auf die Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108, die die Einstellung nicht durchführen sollen.
  • Die Einstellbedingungs-Zuführungseinheit 126 berech net die logische Summe der Kennzeichen, die von den durch die Auswahlinformations-Abrufeinheit 124 abgerufenen Kanalauswahlinformationen gehalten werden. Wenn die berechnete logische Summe gleich "1" ist, liefert die Einstellbedingungs-Zuführungseinheit 126 die Einstellbedingungen und die Kanalauswahlinformationen zu den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108. Unterdessen liefert, wenn die berechnete logische Summe gleich "0" ist, die Einstellbedingungs-Zuführungseinheit 126 die Einstellbedingungen und die Kanalauswahlinformationen nicht zu den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108. Auf diese Weise kann, da die Einstellbedingungs-Zuführungseinheit 126 vorher die Einstellbedingungen verwirft, die verworfen werden, ohne von den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 verwendet zu werden, die über den internen Bus 109 übertragene Datenmenge reduziert werden.
  • 4 zeigt ein Beispiel für die Datenkonfiguration eines Schreibbefehls mit Bezug auf die Aufzeichnungsschaltung für gemeinsame Bedingungen des Einstellbedingungsspeichers 118, der von dem Prüfprozessor 102 erzeugt wurde. Der Prüfprozessor 102 erzeugt einen Schreibbefehl als Antwort auf einen der Einstellbedingungsspeicher 118 der Testmodule 104, bevor die Prüfung der elektrischen Vorrichtung beginnt, und schreibt die in einer Plattenvorrichtung wie einer Festplatte gespeicherten Einstellbedingungen in die Aufzeichnungsschaltung für gemeinsame Bedingungen des in jedem der Prüfmodule 104 enthaltenen Einstellbedingungsspeichers 118.
  • Der Prüfprozessor 102 liefert, wie in 4(a) gezeigt ist, den Schreibbefehl über die Einstellbedingungs-Abrufeinheit 122 zu dem Einstellbedingungsspeicher 118, wobei der Schreibbefehl sowohl einen Adres senabschnitt zum Halten der physikalischen Adresse der Prüfmodule 104 und der logischen Adresse des Einstellbedingungsspeichers 118 als auch einen Datenabschnitt zum Halten der praktischen Adresse enthaltend die logische Adresse des Kanalauswahlspeichers 116 und die Einstelladresse des Einstellorts in den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 enthält. Zusätzlich liefert der Prüfprozessor 102, wie in 4(b) gezeigt ist, den Schreibbefehl über die Einstellbedingungs-Abrufeinheit 122 zu dem Einstellbedingungsspeicher 118, wobei der Schreibbefehl sowohl einen Adressenabschnitt zum Halten der physikalischen Adresse der Prüfmodule 104 und der logischen Adresse des Setzbedingungsspeichers 118 als auch einen Datenabschnitt zum Halten der praktischen Daten, die die die Einstellbedingungen anzeigenden Einstelldaten sind, enthält. Der Setzbedingungsspeicher 118 hält die "Praktische Adresse" enthalten die logische Adresse des Kanalauswahlspeichers 116 und die Einstelladresse des Einstellorts in den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 in dem Bereich der logischen Adresse des Einstellbedingungsspeichers 118 der durch den in 4(a) gezeigten Adressenabschnitt bestimmten Testmodule 104. Zusätzlich hält der Einstellbedingungsspeicher 118 die "Praktischen Daten", die die die Einstellbedingungen anzeigenden Einstelldaten sind, in dem Bereich der logischen Adresse des Einstellbedingungsspeichers 118 der durch den in 4(b) gezeigten Adressenabschnitt bezeichneten Prüfmodule 104.
  • Wie vorstehend beschrieben ist, kann, da die Einstellbedingungen vorher in den jeweils in den Prüfmodulen 104 enthaltenen Einstellbedingungsspeichern 118 gespeichert werden, die Zusatzzeit, die zum Erzeugen des Schreibbefehls durch den Prüfprozessors 102 benötigt wird, und die Übertragungszeit über den System bus 106 durch das Schreiben der Einstellbedingungen gekürzt werden. Demgemäß kann die gesamte Prüfzeit verringert werden.
  • Zusätzlich kann, während die Einstellbedingungen von dem Einstellbedingungsspeicher 118 zu den Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 so geliefert werden, dass die Signaleingabe-/-ausgabeeinheiten 108 gesetzt werden, der Prüfprozessor 102 andere Zugriffe wie die Analyse des Prüfergebnisses durchführen. Demgemäß können die parallelen Prüfprozesse verbessert werden und die gesamte Prüfzeit kann verkürzt werden.
  • Gewerbliche Anwendbarkeit
  • Wie aus der vorstehenden Beschreibung ersichtlich ist, kann gemäß der vorliegenden Erfindung die Prüfzeit verkürzt werden und Einstellbedingungen, die für jeden Kanal unterschiedlich sind, können gesetzt werden.

Claims (7)

  1. Prüfvorrichtung (100) zum Prüfen einer elektrischen Vorrichtung, welche aufweist: mehrere Signaleingabe-/Ausgabeeinheiten (108) für die Eingabe und/oder Ausgabe eindeutiger Prüfsignale in Abhängigkeit von der individuellen elektronischen Vorrichtung, für jeweils eine entsprechende Vielzahl von Anschlüssen, die die elektrische Vorrichtung aufweist; einen Kanalauswahlspeicher (116) zum Speichern von Stücken von Kanalauswahlinformationen, die anzeigen, ob jede der Signaleingabe-/Ausgabeeinheiten (108) eine Einstellung auf der Grundlage einer Einstellbedingung durchführen sollte oder nicht; einen Einstellbedingungsspeicher (118) zum Speichern der Einstellbedingung mit Bezug auf die Signaleingabe-/Ausgabeeinheit (108); und eine Steuerschaltung (120) zum Zuführen der Einstellbedingung und der Kanalauswahlinformationen zu den Signaleingabe-/Ausgabeeinheiten (108), dadurch gekennzeichnet, dass die Steuereinheit (120) eine Einstellbedingungs-Abrufeinheit (122), eine Auswahlinformations-Abrufeinheit (124) und eine Einstellbedingungs-Zuführungseinheit (126) enthält; wobei die Einstellbedingungs-Abrufeinheit (122) zum Abrufen der Einstellbedingung aus dem Einstellbedingungsspeicher (118) vorgesehen ist; die Auswahlinformations-Abrufeinheit (124) zum Abrufen der Kanalauswahlinformationen aus dem Kanalauswahlspeicher (116) vorgesehen ist; die Einstellbedingungs-Zuführeinheit (126) zum Zuführen sowohl der von der Einstellbedingungs-Abrufeinheit (122) abgerufenen Einstellbedingungen als auch der von der Auswahlinformations-Abrufeinheit (124) abgerufenen Kanalauswahlinformationen zu den Signaleingabe-/Ausgabeeinheiten (108) auf der Grundlage eines Einstellbefehls vorgesehen ist, wenn die Einstellbefehle für die Einstellbedingung der Signaleingabe-/Ausgabeeinheit (108) empfangen werden, und wobei, wenn zumindest eine der Signaleingabe-/Ausgabeeinheiten (108) von den von der Steuerschaltung (120) gelieferten Kanalauswahlinformationen ausgewählt wird, diese eine der Signaleingabe-/Ausgabeeinheiten (108) auf der Grundlage der von der Steuerschaltung (120) gelieferten Einstellbedingung eingestellt wird.
  2. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, bei der der Einstellbedingungsspeicher (118) die Einstellbedingung der Signaleingabe-/Ausgabeeinheit (108) und eine Adresse des Kanalauswahlspeichers (116) in einer entsprechenden Weise speichert, die Einstellbedingungs-Abrufeinheit (122) zum Abrufen der Einstellbedingung und der Adresse des Kanalauswahlspeichers (116) aus dem Einstellbedingungsspeicher (118) vorgesehen ist; und die Auswahlinformations-Abrufeinheit (124) zum Abrufen der Kanalauswahlinformationen aus dem Kanalauswahlspeicher (116) auf der Grundlage der Adresse des Kanalauswahlspeichers (116), die von der Einstellbedingungs-Abrufeinheit (122) abgerufen wurde, vorgesehen ist.
  3. Prüfvorrichtung nach Anspruch 2, bei der die Einstellbedingungs-Abrufeinheit (122) die Einstellbedingung, die Stücke von Einstelldaten und die Adressen des Kanalauswahlspeichers (116) aufweist, als Antwort auf jedes der Stücke von Einstelldaten aus dem Einstellbedingungsspeicher (118) abruft, die Auswahlinformations-Abrufeinheit (124) Stücke der Kanalauswahlinformationen aus dem Kanalauswahlspeicher (116) abruft auf der Grundlage der Adressen des Kanalauswahlspeichers (116), die durch die Einstellbedingungs-Abrufeinheit (122) abgerufen wurden und die Einstellbedingungs-Zuführungseinheit (126) die Stücke von Einstelldaten, die von der Einstellbedingungs-Abrufeinheit (122) abgerufen wurden, und die Stücke von Kanalauswahlinformationen, die von der Auswahlinformations-Abrufeinheit (124) abgerufen wurden, zu den Signaleingabe-/Ausgabeeinheiten (108) liefert.
  4. Prüfvorrichtung nach Anspruch 3, bei der der Einstellbedingungsspeicher (118) weiterhin eine Adresse und die Größe des Einstellbedingungsspeichers (118) in einer entsprechenden Weise speichert, und die Einstellbedingungs-Abrufeinheit (122) die Adresse und die Größe des Einstellbedingungsspeichers (118) aus dem Einstellbedingungsspeicher (118) und die Stücke von Einstelldaten und die Adressen des Kanalauswahlspeichers (116) in einer Anzahl, die durch die abgerufene Größe von der abgerufenen Adresse des Einstellbedingungsspeichers angezeigt wird, abruft.
  5. Prüfvorrichtung nach Anspruch 2, bei der der Kanalauswahlspeicher (116) die Kanalauswahlinformationen derart speichert, dass ein Kennzeichen "1" als Antwort darauf, dass die Signaleingabe-/Ausgabeeinheit (108) eine Einstellung durchzuführen hat, gehalten wird, während ein Kennzeichen "0" als Antwort darauf, dass die Signaleingabe-/Ausgabeeinheit (108) eine Einstellung nicht durchzuführen hat, gehalten wird, und die Einstellbedingungs-Zuführungseinheit (126) die von der Einstellbedingungs-Abrufeinheit (122) abgerufene Einstellbedingung nicht zu den Signaleingabe-/Ausgabeeinheiten (108) liefert, wenn eine logische Summe der in den von der Auswahlinformations-Abrufeinheit (124) abgerufenen Kanalauswahlinformationen gehaltenen Kennzeichen gleich "0" ist.
  6. Prüfvorrichtung nach Anspruch 2, weiterhin aufweisend: mehrere Prüfmodule (104), von denen jedes aufweist: die mehreren Signaleingabe-/Ausgabeeinheiten (108); den Kanalauswahlspeicher (116); den Einstellbedingungsspeicher (118); die Einstellbedingungs-Abrufeinheit (122); die Auswahlinformations-Abrufeinheit (124); und die Einstellbedingungs-Zuführungseinheit (126), und einen Prüfprozessor (102) zum Zuführen des Einstellbefehls zum Einstellen der Einstellbedingungen der Signaleingabe-Ausgabeeinheiten (108) zu den Prüfmodulen (104), wobei die Einstellbedingungsspeicher (118), die die Prüfmodule (104) jeweils aufweisen, unterschiedliche Einstellbedingungen in Bereichen einer selben Adresse speichern, die Einstellbedingungs-Abrufeinheiten (122) die unterschiedlichen Einstellbedingungen jeweils aus den Einstellbedingungsspeichern (118) abrufen auf der Grundlage der Adresse des Einstellbedingungsspeichers (118), die der von dem Prüfprozessor (102) gelieferte Einstellbefehl aufweist, und die Einstellbedingungs-Zuführungseinheiten (126) die von den Einstellbedingungs-Abrufeinheiten (122) abgerufenen Einstellbedingungen jeweils zu den Signaleingabe-/Ausgabeeinheiten (108) liefern.
  7. Verfahren zum Einstellen einer Einstellbedingung von zumindest einer von Signaleingabe-/Ausgabeeinheiten (108), die durch eine Prüfvorrichtung (100) zum Eingeben und/oder Ausgeben eindeutiger Prüfsignale vorgesehen sind, in Abhängigkeit von einer individuellen elektronischen Vorrichtung als Antwort auf jeden einer entsprechenden Vielzahl von Anschlüssen, die eine elektrische Vorrichtung aufweist, aufweisend die Schritte: Abrufen der Einstellbedingung der Signaleingabe-/Ausgabeeinheit (108) aus einem Einstellbedingungsspeicher (118); Abrufen von Kanalauswahlinformationen, die anzeigen, ob jede der Signaleingabe-/Ausgabeeinheiten (108) eine Einstellung auf der Grundlage der Einstellbedingung durchführen sollte oder nicht, aus einem Kanalauswahlspeicher (116); Zuführen der von dem Einstellbedingungsspeicher (118) abgerufenen Einstellbedingung und der aus dem Kanalauswahlspeicher (116) abgerufenen Kanalauswahlinformationen zu den Signaleingabe-/Ausgabeeinheiten (108); und Einstellen zumindest einer der Signaleingabe-/ Ausgabeeinheiten (108) auf der Grundlage der zugeführten Einstellbedingung, wenn die Signaleingabe-/Ausgabeeinheit (108) durch die zugeführten Kanalauswahlinformationen ausgewählt ist, gekennzeichnet durch Speichern von Stücken von Kanalauswahlinformationen, die anzeigen, ob jede der Signaleingabe-/Ausgabeeinheiten (108) eine Einstellung auf der Grundlage einer Einstellbedingung durchführen sollte oder nicht; und Speichern der Einstellbedingung mit Bezug auf die Signaleingabe-/Ausgabeeinheit (108).
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