DE4334380A1 - Verfahren zur Kalibrierung eines Sensors - Google Patents
Verfahren zur Kalibrierung eines SensorsInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Kalibrie
ren eines Sensors, bei dem höchstens so viele das Meßergebnis
beeinflussende sogenannte Einflußgrößen berücksichtigt werden,
wie Meßgrößen von dem Sensor erfaßt werden, wobei sich die
Menge der Einflußgrößen aus mindestens einer die Messung beein
flussenden Störgröße und mindestens einer aus den Meßgrößen zu
ermittelnden Zielgröße zusammensetzt. Die vorliegende Erfindung
betrifft insbesondere ein Verfahren zur Kalibrierung eines Wir
belstromsensors zur Abstandsmessung und zur Materialprüfung.
Zum Messen nicht elektrischer, vor allem mechanischer Größen
werden in modernen, automatisierten Fertigungsprozessen in
steigendem Maße elektronische Sensoren als Führungssensoren,
insbesondere berührungslos arbeitende Abstandssensoren, einge
setzt. Neben dem nahezu rückwirkungsfreien Erfassen der Meß
größen liegen weitere Vorteile solcher Sensoren im praktisch
verzögerungsfreien Ansprechen, in der Unempfindlichkeit gegen
Erschütterungen, Staub, Feuchtigkeit und chemisch aggressive
Dämpfe sowie in der weitgehenden Wartungsfreiheit.
Wichtige Vertreter dieser Gruppe sind die Wirbelstromsensoren,
die für das Messen kleiner Wege und Abstände unter schwierigen
Umgebungsbedingungen besonders geeignet sind. Ähnlich wie bei
einer Vielzahl anderer Meßverfahren werden bei der Abstandsmes
sung mit Hilfe des Wirbelstrommeßprinzips die Meßgrößen nicht
nur von der Zielgröße, dem Abstand, beeinflußt, sondern hängen
im gleichen Maße von einer ganzen Reihe anderer Einflußgrößen
ab. Neben den bei der Messung bekannten oder einstellbaren Fak
toren, wie z. B. Geometrie von Spule und Meßobjekt, Frequenz und
Amplitude des Spulenstroms, bereiten Einflüsse der meist unbe
kannten Materialeigenschaften des Meßobjektes die größten Pro
bleme. Hier sind vor allem Inhomogenitäten in der Leitfähigkeit
und der Permeabilität sowie Temperaturschwankungen und Materi
alfehler zu nennen. Die Leitfähigkeit und die Permeabilität des
Meßobjektes bzw. des Targets werden im folgenden als Störgrößen
bezeichnet.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein Kalibrierverfah
ren für einen beliebigen Sensor und insbesondere für einen Wir
belstromsensor anzugeben, das eine Unterdrückung von Störgrößen
ermöglicht.
Das erfindungsgemäße Verfahren, bei dem die zuvor aufgezeigte
Aufgabe gelöst ist, ist durch die Merkmale des Patentanspruchs
1 beschrieben. Danach werden zum Kalibrieren eines Sensors
zunächst mehrere Werte der Zielgröße und mehrere durch die
Störgröße bzw. Störgrößen charakterisierte Zustände definiert.
Für alle Kombinationen von definierten Werten der Zielgröße mit
definierten Zuständen werden die korrespondierenden Werte der
Meßgrößen erfaßt. Schließlich werden aus jedem der definierten
Werte der Zielgröße und den korrespondierenden Werten der Meß
größen für alle definierten Zustände jeweils ein Koeffizienten
satz bestimmt. Im Ergebnis erhält man also so viele Koeffizien
tensätze, wie Werte der Zielgröße definiert sind. Diese Koeffi
zientensätze werden jeweils dem entsprechenden Wert der Ziel
größe zugeordnet und abgespeichert.
Erfindungsgemäß ist erkannt worden, daß die so ermittelten Ko
effizientensätze den Einfluß von Störgrößenänderungen auf die
Meßgrößen wiedergeben und daß die Störgrößen mit Hilfe der er
mittelten Koeffizientensätze und einer speziellen Meßwertverar
beitung eliminiert werden können.
Voraussetzung für eine solche Kalibrierung ist das Vorhanden
sein von mindestens so vielen Meßgrößen, wie Einflußgrößen be
rücksichtigt werden sollen. Wird der zu kalibrierende Sensor
mit Wechselspannung betrieben, so können in vorteilhafter Weise
zusätzliche Meßgrößen durch Betreiben des Sensors bei verschie
denen Kalibrierfrequenzen, im sogenannten Mehrfrequenz- oder
Impulsverfahren, realisiert werden.
Als Ergänzung zu dem erfindungsgemäßen Verfahren zur Kalibrie
rung eines Sensors und zur Meßwertverarbeitung, d. h. zur Er
mittlung eines unbekannten Wertes der Zielgröße, wird vorge
schlagen, zunächst die zu dem unbekannten Wert der Zielgröße
korrespondierenden Werte der Meßgröße zu erfassen. Diese erfaß
ten Werte der Meßgröße werden dann mit den abgespeicherten Ko
effizientensätzen verrechnet, indem die erfaßten Werte der Meß
größe mit jedem der abgespeicherten Koeffizientensätze multi
pliziert und jeweils zu einer Zwischensumme aufaddiert werden,
wobei die Zwischensumme demselben definierten Wert der Ziel
gruppe zugeordnet wird, wie der jeweilige Koeffizientensatz.
Als Wertebereich für die unbekannte Zielgröße kann dann ein
Wertebereich zwischen zwei aufeinanderfolgenden Werten der
Zielgröße bestimmt werden, wobei für einen dieser beiden defi
nierten Werte der Zielgröße die Abweichung von der zu korre
spondierenden Zwischensumme positiv ist, während die Abweichung
von der korrespondierenden Zwischensumme für den anderen dieser
beiden definierten Werte der Zielgröße negativ ist.
In einem weiteren Auswertungsschritt werden die Differenzen
zwischen den definierten Werten der Zielgröße und den korre
spondierenden Zwischensummen als Werte einer Fehlerfunktion in
Abhängigkeit von der Zielgröße interpretiert. Der unbekannte
Wert der Zielgröße kann dann als Wert der Zielgröße am Null
durchgang der Fehlerfunktion geschätzt werden.
Es gibt nun verschiedene Möglichkeiten zur Bestimmung des Null
durchganges der Fehlerfunktion. Dafür bieten sich entweder In
terpolations- oder Approximationsverfahren an. Diese Verfahren
liefern unterschiedlich gute Ergebnisse und unterscheiden sich
sehr stark im notwendigen Rechenaufwand. Ein weiteres Gütekri
terium, das vor allem bei den Interpolationsverfahren eine
Rolle spielt, ist die Welligkeit der Funktionen zwischen den
Stützpunkten. Als eine direkte Methode wird eine Linearinterpo
lation der Fehlerfunktion vorgeschlagen, bei der die einzelnen
Stützpunkte durch Geradenstücke miteinander verbunden werden.
Da nur der Nulldurchgang dieser abschnittsweise definierten li
nearen Funktion interessiert, genügt es, lediglich die beiden
Stützpunkte zu betrachten, zwischen denen der Vorzeichenwechsel
stattfindet. Die Berechnung der Nullstelle ist in diesem Fall
völlig unproblematisch.
Eine andere Möglichkeit, die allerdings wesentlich aufwendiger
ist, stellt die sogenannte Spline-Interpolation der Fehlerfunk
tion dar. Auch dabei wird die Fehlerfunktion abschnittsweise
definiert. Zwischen je zwei Stützpunkten wird ein Polynom bspw.
dritten Grades so gelegt, daß benachbarte Polynome an ihrem ge
meinsamen Stützpunkt im Funktionswert und in den Ableitungen
übereinstimmen. Abhängig von der gewünschten Auflösung reicht
es hierbei nicht aus, nur das Intervall, indem der Nulldurch
gang liegt, zu betrachten. Gute Ergebnisse wurden mit jeweils
drei zusätzlichen Intervallen oberhalb und unterhalb des Null
durchgangs, also mit acht Stützpunkten, erzielt. Die Null
punktsbestimmung kann über ein direktes Berechnungsverfahren
für Polynome dritter Ordnung erfolgen, oder aber durch eine nu
merische Methode, z. B. das Newtonverfahren. Als Startwert kann
das Ergebnis der bereits beschriebenen linearen Methode verwen
det werden. Durch die besondere Konstruktion der Splines hat es
sich als sinnvoll erwiesen, an den Intervallgrenzen des Meßbe
reichs jeweils noch eine Stützstelle hinzuzufügen. Dadurch wird
ein glatter Kurvenverlauf im gesamten Meßbereich gewährleistet.
Zusammenfassend kann festgestellt werden, daß ein Interpolati
onsverfahren immer dann vorzuziehen ist, wenn davon ausgegangen
werden kann, daß die aufgenommenen Meßwerte rauschfrei sind.
Ansonsten ist ein Approximationsverfahren vorzuziehen. Die Vor
teile der Linear-Interpolation liegen in der sehr einfachen und
schnellen Berechnung der Kurvenparameter und der Stelle des
Nulldurchgangs. Der Rechenaufwand ist bei der Spline-Interpola
tion wesentlich höher, der maximale Schätzfehler für den unbe
kannten Wert der Zielgröße ist dafür aber auch um den Faktor 5
kleiner gegenüber der Linear-Interpolation. Eine Approximation
der Fehlerfunktion könnte bspw. im Sinne der kleinsten Fehler
quadrate durchgeführt werden.
Das voranstehend allgemeine, d. h. für einen beliebigen Sensor
beschriebene Kalibrierverfahren und die in diesem Zusammenhang
beschriebene Meßwertverarbeitung sollen im folgenden nochmals
am konkreten Beispiel der Kalibrierung eines Wirbelstromsensors
mit mindestens einer Meßspule beschrieben werden. Als Meßgrößen
dienen hierbei der Real- und der Imaginärteil der Spulenimpe
danz bei verschiedenen Frequenzen. Diese Meßgrößen hängen von
vielen Einflußgrößen ab. Alle geometrischen Abmessungen und
elektrischen Grunddaten des Sensors sind feste Größen und wer
den daher nicht als Einflußgrößen in dem Kalibriervorgang mit
einbezogen. Vorausgesetzt wird ferner, daß die Oberfläche der
eingesetzten Targets eben, parallel zum Sensor und groß gegen
über dem Sensordurchmesser sein soll. Zudem sollen die Targets
eine Dicke besitzen, die größer ist als die Eindringtiefe der
Wirbelströme. Ferner sollen die Targets frei von Oberflächen
fehlern sein. Für die Kalibrierung verbleiben dann drei wesent
liche Einflußgrößen, wobei der Abstand d zwischen Sensor und
Target die zu beschreibende Zielgröße und die elektrische Leit
fähigkeit und die effektive Permeabilität die zu unterdrücken
den Störgrößen darstellen. Diese Störgrößen sind deshalb beson
ders zu berücksichtigen, weil sich Materialfehler sowie Ände
rungen der Temperatur zu einem großen Teil in Schwankungen der
elektrischen Leitfähigkeit und der effektiven Permeabilität
niederschlagen bzw. gleiche Meßveränderungen wie diese zur
Folge haben.
Erfindungsgemäß werden nun mehrere Abstandswerte di und mehrere
durch die elektrische Leitfähigkeit und die effektive Permeabi
lität des Targests charakterisierte Zustände bzw. Zustandskom
binationen ZKj definiert, wobei ihre Werte jeweils aus physika
lisch sinnvollen Bereichen gewählt werden. Für den Abstand d
ist dies der gewählte Meßbereich. Für die Zustandskombinationen
ZK sind dies die Erwartungsbereiche der elektrischen Leitfähig
keit und der Permeabilität. Es werden nunmehr für alle Kombina
tionen von Abstandswerten di mit Zustandskombinationen ZKj die
korrespondierenden Meßgrößen M₁ erfaßt. Dann werden jeweils aus
einem der Abstandswerte di und den korrespondierenden Werten
der Meßgröße M₁ für alle Zustandskombinationen ZKj ein Koeffi
zientensatz ki bestimmt. Die so bestimmten Koeffizientensätze
ki werden zur späteren Meßwertverarbeitung jeweils den entspre
chenden Abstandswerten di zugeordnet abgespeichert.
Nimmt man für einen bestimmten Abstand d insgesamt m Meßwerte,
also den Real- und Imaginärteil der Spulenimpedanz bei m halbe
Frequenzen mit einer festen Zustandskombination ZK auf, so be
rechnet sich der Abstand d als Summe
d = k₁₁ + k₂₂ + . . . + km m
Führt man nun diese Messung für den festen Abstand d und k ver
schiedene Zustandskombinationen ZK durch, so stehen k Gleichun
gen zur Bestimmung von m unbekannten Koeffizienten zur Verfü
gung. Auf diese Weise lassen sich also bei entsprechender Wahl
von k der Anzahl von Zuständen bzw. Zustandskombinationen ZK
und m der Anzahl von Meßgrößen die Koeffizientensätze ki be
stimmen.
Erfolgt mit einem solcherart kalibrierten Sensor eine Abstands
messung, so teilt sich die Abstandsschätzung in mehrere
Schritte auf. Zunächst ordnet man mit Hilfe der für den unbe
kannten, zu bestimmenden Abstand d erfaßten Meßwerte m jedem
Kalibrierabstand, d. h. jedem der definierten Abstandswerte di
einen Fehlerwert Φ (di) gemäß der Gleichung
zu.
In einem zweiten Schritt erzeugt man aus diesen Punkten durch
Interpolation oder Approximation eine Funktion Φ (d). Die Stelle
dx, an der diese Funktion ihren Nulldurchgang hat, stellt eine
gute Schätzung des gesuchten Abstandes d dar. Die Genauigkeit
der Abstandsschätzung hängt im wesentlichen von der Qualität
der berechneten Koeffizientensätze ki ab.
Mit dem vorab beschriebenen Kalibrierverfahren sind Abstands
messungen bis in den Mikrometerbereich und unabhängig von den
Schwankungen der elektrischen Leitfähigkeit und der effektiven
Permeabilität möglich. Voraussetzung dafür sind, wie bereits
erwähnt, die Bestimmung sehr guter Koeffizientensätze und die
richtige Auswertung der erfaßten Meßwerte. Im folgenden werden
vorteilhafte Ausgestaltungen dieses Verfahrens beschrieben und
insbesondere die Auswirkungen unterschiedlicher Parameterwahlen
erläutert.
Als besonders vorteilhaft erweist es sich, mindestens sechs
Meßgrößen M₁ zu verwenden, d. h. den Real- und Imaginärteil der
Impedanz der Meßspule bei mindestens drei verschiedenen Kali
brierfrequenzen zu erfassen, da Untersuchungen ergeben haben,
daß dann eine Auflösung von weniger als zehn Mikrometern erhal
ten werden kann.
Die Wahl der Zustandskombinationen ZK hat in zweifacher Hin
sicht Einfluß auf den Schätzfehler für eine unbekannte, zu be
stimmende Zielgröße, wie z. B. den Abstand d. Dabei spielen zum
einen deren Verteilung über die Erwartungsbereiche der Stör
größen, zum anderen deren Anzahl k eine Rolle. Da die Zusammen
hänge zwischen den Stör- und Meßgrößen nicht linear sind, ist
es vorteilhaft, die Zustandskombinationen nicht gleichmäßig
über die Erwartungsbereiche der Störgrößen zu verteilen. Beson
ders vorteilhaft ist es, wenn mehr der definierten Zustandskom
binationen in den Bereichen kleiner elektrischer Leitfähigkei
ten und effektiver Permeabilitäten liegen als in den Bereichen
mit größeren Werten. Zur Erzielung von guten Meßergebnissen ist
es außerdem vorteilhaft, wenn die Anzahl k der definierten Zu
standskombinationen ZK größer gewählt wird als die doppelte An
zahl der verwendeten Kalibrierfrequenzen. Die optimale Wahl der
Anzahl k hängt ganz wesentlich von der Anzahl und Größe der Ka
librierfrequenzen ab. Bei höheren Frequenzen kommt man mit we
niger Zustandskombinationen aus als bei niedrigen. Grundsätz
lich ist eine möglichst kleine Anzahl k von definierten Zu
standskombinationen ZK anzustreben, da sich bei der technischen
Umsetzung dieses Verfahrens mit wachsendem k der Kalibrierauf
wand erheblich erhöht.
Eine Verkleinerung des Schätzfehlers kann bei der Kalibrierung
nicht nur durch die Hinzunahme zusätzlicher definierter Zu
standskombinationen ZK, sondern auch durch dichtere Kali
brierabstände, d. h. durch eine Erhöhung der Anzahl der defi
nierten Abstandswerte di erreicht werden. Im Gegensatz zu den
definierten Zustandskombinationen ZK können die definierten Ab
standswerte di äquidistant gewählt werden.
Im Hinblick auf das Erfassen und Auswerten von Meßdaten sei
noch darauf hingewiesen, daß die Konstanz der Meßfrequenzen
sehr wichtig für ein gutes Meßergebnis ist. Die Meßfrequenzen
müssen sehr genau den festen Kalibrierfrequenzen entsprechen,
da bereits kleine Abweichungen große Fehlerwerte zur Folge ha
ben. So führt bspw. eine Schwankung von lediglich 0,5% der
Sollwerte zu einer Erhöhung des Fehlers um mehr als den Faktor
50.
Es sei schließlich noch darauf hingewiesen, daß ein Wirbel
stromsensor durch eine Kalibrierung nach dem erfindungsgemäßen
Verfahren auch zur Materialprüfung mit dem Vorteil der Ab
standsunabhängigkeit verwendet werden kann, wenn als Zielgrößen
die elektrische Leitfähigkeit und die effektive magnetische
Permeabilität des Targetmaterials angenommen werden und als
Störgröße der Abstand zwischen dem Sensor und der Targetober
fläche. Eine solche Materialprüfung könnte bspw. in der Über
prüfung der Homogenität des Targetmaterials oder auch in der
Erkennung von Schäden in der Struktur der Oberfläche eines Tar
gets bestehen.
Es gibt nun verschiedene Möglichkeiten, den Gegenstand der
vorliegenden Erfindung in vorteilhafter Weise auszugestalten
und weiterzubilden. Dazu ist einerseits auf die nachgeordneten
Patentansprüche, andererseits auf die nachfolgende Erläuterung
von Ausführungsbeispiels der Erfindung anhand der Zeichnung zu
verweisen. In Verbindung mit der Erläuterung der bevorzugten
Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung werden
auch im allgemeinen bevorzugte Ausgestaltungen der Lehre erläu
tert. In der Zeichnung zeigt
Fig. 1 den Verlauf einer nach dem erfindungsgemäßen Verfah
ren bestimmten Fehlerfunktion Φ (von d) am Beispiel
einer Abstandsmessung mit d = 0,921 mm,
Fig. 2 den Einfluß der Interpolationsverfahren auf den
Schätzfehler,
Fig. 3 den Einfluß der Anzahl k von definierten Zustandskom
binationen auf den Schätzfehler,
Fig. 4 den Einfluß von der Anzahl n der definierten Ab
standswerte di auf den Schätzfehler,
Fig. 5 eine Bestimmung eines Kalibrierkoeffizientensatzes
und
Fig. 6 Fehlerspannen für elf ausgewählte Targets über einen
Meßbereich.
Alle Figuren beziehen sich auf beispielhaft zu Testzwecken
durchgeführte Abstandsmessungen mit Hilfe eines erfindungsgemäß
kalibrierten Wirbelstromsensors. Fig. 1 zeigt den Verlauf einer
mit Hilfe eines Approximations- oder Interpolationsverfahrens
bestimmten Fehlerfunktion Φ (d). Eine solche Fehlerfunktion kann
nach dem im allgemeinen Teil der Beschreibung erläuterten Ver
fahren aufgrund der Meßwerterfassung zu einem unbekannten, zu
bestimmenden Abstand ermittelt werden. Der zu bestimmende Ab
stand ergibt sich dann als Nulldurchgang der Fehlerfunktion
Φ (dd), in diesem Falle als dx = 0,921 mm.
In Fig. 2 ist am Beispiel des Vergleichs zwischen Linear- und
Spline-Interpolation der Fehlerfunktion Φ (d) der Einfluß der
Verfahrensauswahl dargestellt. Sowohl zur Kalibrierung als auch
zur Abstandsbestimmung wurden simulierte Werte bei den Frequen
zen 0,3 MHz, 0,6 MHz, 1,2 MHz und 2,4 MHz verwendet. Im Bereich
von 0,5 mm bis 1,5 mm wurde der Schätzfehler für 33 verschie
dene Abstände mit beiden Interpolationsarten bestimmt. Dieses
Beispiel zeigt, daß der maximale Schätzfehler bei der Verwen
dung des Spline-Interpolationsverfahrens um den Faktor 5 klei
ner gegenüber der Linear-Interpolation ist.
In Fig. 3 wurden dieselben Kalibrierdaten verwendet wie in Fig.
2. Außerdem wurde die Spline-Interpolation eingesetzt. Die bei
den Kurven zeigen, daß eine Vergrößerung der Anzahl der defi
nierten Zustandskombinationen um den Faktor 12 im Mittel eine
Verkleinerung des Schätzfehlers um den Faktor 2 hervorruft.
Fig. 4 erläutert durch zwei Kurven mit äquidistanten Kali
brierabständen, daß auch durch die Wahl dichterer Kalibrierab
stände, also eine Vergrößerung der Anzahl n der definierten Ab
standswerte di, eine Verringerung des Schätzfehlers zur Folge
hat. In beiden Fällen wurde als Anzahl k der Zustandskombina
tionen neun gewählt und die Spline-Interpolation gewählt. Man
erkennt, daß die Halbierung des Abstandsintervalls, was einer
Verdopplung der Anzahl n der definierten Abstandswerte di ent
spricht, zu einer mittleren Verkleinerung des Schätzfehlers um
den Faktor 1,7 führt.
In diesem Zusammenhang sei noch darauf hingewiesen, daß die
Meßergebnisse, die mit einem nach dem erfindungsgemäßen Verfah
ren kalibrierten Sensor erzielt werden können, in besonderem
Maße vom Aufbau der Meßspule abhängen. Meßspule und Meßverfah
ren müssen sehr genaue Messungen der Spulenimpedanz garantie
ren, da das vorgestellte Kalibrierverfahren sich sehr empfind
lich gegenüber Meßwertschwankungen verhält. Ändert sich die
Spulenimpedanz um 0,03% während einer Messung, so kann dies zu
einer Meßunsicherheit von 0,1% des Meßergebnisses führen. Diese
Eigenschaft des Verfahrens stellt hohe Anforderungen an Spule
und Meßverfahren in bezug auf eine sehr effektive Kompensation
von Temperatur- und parasitären Einflüssen.
Um die Wirksamkeit des erfindungsgemäßen Kalibrierverfahrens
zur Unterdrückung großer Störgrößenschwankungen auch dokumen
tieren zu können, wurde das folgende Experiment durchgeführt.
Für Kalibrierung und Messung wurde eine Tastspule mit den Ab
messungen
| Außenradius:|3,81 mm | |
| Innenradius: | 3,00 mm |
| Wickelhöhe: | 0,63 mm |
| Eigeninduktivität: | 31,37 µH |
| Widerstand bei 200 kHz: | 5,31 Ω |
verwendet. Es wurden zehn Zustandskombinationen ZK bei den vier
Frequenzen 200 kHz, 400 kHz, 1 MHz sowie 2 MHz zur Kalibrierung
herangezogen. Als Kalibrierabstände, d. h. definierte Abstands
werte wurden 0,3 mm, 0,4 mm, . . ., 3,0 mm, 3,2 mm, d. h. n = 30
ausgewählt. Als Target wurden die zehn Werkstoffe aus der fol
genden Tabelle eingesetzt, wobei Aluminium nur für die Messun
gen verwendet wurde.
Für jeden der dreißig Kalibrierabstände wurde ein Koeffizien
tensatz berechnet. In Fig. 5 ist die Wirkungsweise dieser Koef
fizientensätze am Beispiel des Kalibrierabstands d = 2 mm dar
gestellt. Mit Hilfe der vier Frequenzen und der zehn Targets
werden die vierzig, mit einem "x" gekennzeichneten Kalibrier
punkte, erzeugt. Der zu diesem speziellen Kalibrierabstand ge
hörende Koeffizientensatz bestimmt eine Bestkurve durch diese
Punkte, die das Verhalten des Sensors bei diesem Abstand wi
derspiegelt. Die Punkte müssen theoretisch alle auf dieser
Kurve liegen. Das dies nicht so ist, ist dadurch bedingt, daß
das Anfahren des Nullpunktes, an dem der Abstand zwischen Sen
sor und Target also null ist, nicht automatisch, sondern von
Hand erfolgte und daß die Kapazität des Zuleitungskabels nicht
ausreichend kompensiert wurde. Solche Meßfehler beeinträchtigen
die Kalibrierung erheblich, was sich auch im Meßergebnis able
sen läßt.
Mit dem kalibrierten Sensor wurden gegen alle Targets der Ta
belle Messungen durchgeführt. Als Meßbereich wurden das Inter
vall von 0,5 mm bis 3,0 mm festgelegt. Innerhalb dieses Inter
valls wurden alle 50 µm bei den vier Frequenzen Meßwerte aufge
nommen, mit denen der jeweilige Abstand geschätzt wurde. Fig. 6
zeigt das Ergebnis dieser Schätzungen. Für die elf Targets ist
der Bereich markiert, in dem sich die Abweichungen bzw. der
Schätzfehler für alle vermessenen Abstände bewegen. Der maxi
male Schätzfehler von 24 µm über alle Messungen ergab sich für
Nickel bei einem Meßabstand von 1,85 mm. Dies bedeutet, daß
trotz der nicht optimalen Kalibriermessungen eine Bestimmung
des Abstandes auf 50 µm genau über den gesamten Meßbereich und
unabhängig vom Targetmaterial erreicht wurde.
Abschließend sei darauf hingewiesen, daß die erfindungsgemäße
Lehre in der voranstehenden Beschreibung lediglich beispielhaft
anhand eines Wirbelstromsensors beschrieben worden ist. Die er
findungsgemäße Lehre ist nicht auf die Anwendung im Zusammen
hang mit einem Wirbelstromsensor beschränkt, sondern läßt sich
prinzipiell auch mit anderen Sensortypen realisieren.
Claims (20)
1. Verfahren zur Kalibrierung eines Sensors, bei dem
höchstens so viele das Meßergebnis beeinflussende, sog. Ein
flußgrößen, berücksichtigt werden wie Meßgrößen von dem Sensor
erfaßt werden, wobei sich die Menge der Einflußgrößen aus min
destens einer die Messung beeinflussenden Störgröße und minde
stens einer aus den Meßgrößen zu ermittelnden Zielgröße zusam
mensetzt,
dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Werte
der Zielgröße und mehrere durch die Störgröße charakterisierte
Zustände definiert werden, daß für alle Kombinationen von defi
nierten Werten der Zielgröße mit definierten Zuständen die kor
respondierenden Werte der Meßgrößen erfaßt werden, daß jeweils
aus einem der definierten Werte der Zielgröße und den korre
spondierenden Werten der Meßgrößen für alle definierten Zustän
den ein Koeffizientensatz bestimmt wird, und daß die Koeffi
zientensätze jeweils dem entsprechenden Wert der Zielgröße zu
geordnet abgespeichert werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der
Sensor mit Wechselspannung betrieben wird und zusätzliche Meß
größen durch Betreiben des Sensors bei verschiedenen Kalibrier
frequenzen, im sogenannten Mehrfrequenz- oder Impulsverfahren,
realisiert werden.
3. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß zur Ermittlung eines unbekannten Wertes der
Zielgröße die korrespondierenden Werte der Meßgrößen erfaßt
werden, daß die erfaßten Werte der Meßgrößen mit jedem der ab
gespeicherten Koeffizientensätze multipliziert und jeweils zu
einer Zwischensumme aufaddiert werden, wobei die Zwischensumme
demselben definierten Wert der Zielgröße zugeordnet wird wie
der jeweilige Koeffizientensatz, und daß als Wertebereich für
die unbekannte Zielgröße ein Wertebereich zwischen zwei aufein
anderfolgenden definierten Werten der Zielgröße bestimmt wird,
wobei für einen dieser beiden definierten Werte der Zielgröße
die Abweichung von der korrespondierenden Zwischensummen posi
tiv ist, während die Abweichung von der korrespondierenden Zwi
schensummen für den anderen dieser beiden definierten Werte der
Zielgröße negativ ist.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
die Differenzen zwischen den definierten Werten der Zielgröße
und den korrespondierenden Zwischensummen als Werte einer Feh
lerfunktion in Abhängigkeit von der Zielgröße interpretiert
werden und daß der unbekannte Wert der Zielgröße als Wert der
Zielgröße am Nulldurchgang der Fehlerfunktion geschätzt wird.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
eine Interpolation der Fehlerfunktion zur Ermittlung ihres
Nulldurchgangs durchgeführt wird.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
eine Linear-Interpolation der Fehlerfunktion durchgeführt wird.
7. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
eine Spline-Interpolation der Fehlerfunktion durchgeführt wird.
8. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
eine Approximation der Fehlerfunktion zur Ermittlung ihres
Nulldurchgangs durchgeführt wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
eine Approximation im Sinne der kleinsten Fehlerquadrate durch
geführt wird.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9 zur Kalibrie
rung eines Wirbelstromsensors mit mindestens einer Meßspule,
wobei der Abstand d zwischen dem Wirbelstromsensor und einem
Target die Zielgröße bildet, die elektrische Leitfähigkeit und
die effiktive Permeabilität des Targets als Störgrößen berück
sichtigt werden und der Real- und Imaginärteil der Impedanz der
Meßspule bei verschiedenen Frequenzen als Meßgrößen M₁
(l = 1, . . ., m) erfaßt werden,
dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Abstandswerte di
(i = 1, . . ., n) und mehrere durch die elektrische Leitfähigkeit und
die effiktive Permeabilität des Targets charakterisierte Zu
stände bzw. Zustandskombinationen ZKj (j = 1, . . ., k) definiert
werden, daß für alle Kombinationen von Abstandswerten di mit
Zustandskombinationen ZKj die korrespondierenden Meßgrößen M₁
erfaßt werden, daß jeweils aus einem der Abstandswerte di und
den korrespondierenden Werten der Meßgrößen M₁ für alle Zu
standskombinationen ZKj ein Koeffizientensatz ki
(ki = (ki1, . . ., kim)) (i = 1 , . . ., n) bestimmt wird, und daß die Koef
fizientensätze ki jeweils dem entsprechenden Abstandswert di
zugeordnet abgespeichert werden.
11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß
mindestens sechs Meßgrößen M₁ verwendet werden (m < = 6), d. h. daß
der Real- und Imaginärteil der Impedanz der Meßspule bei minde
stens drei verschiedenen Kalibrierfrequenzen erfaßt werden.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 oder 11, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Zustandskombinationen ZKj aus einem Er
wartungsbereich von physikalisch sinnvollen Zustandskombinatio
nen gewählt werden und daß mehr Zustandskombinationen ZKj aus
den Bereichen kleiner elektrischer Leitfähigkeiten und effekti
ver Permeabilitäten gewählt werden als aus den Bereichen größe
rer elektrischer Leitfähigkeiten und effektiver Permeabilitä
ten.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 12, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Anzahl k der Zustandskombinationen ZKj
größer gewählt wird als die doppelte Anzahl der verwendeten Ka
librierfrequenzen.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 13, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Anzahl k der Zustandskombinationen ZKj um
so kleiner gewählt wird je höher die verwendeten Kalibrierfre
quenzen sind.
15. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 14, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Abstandswerte di äquidistant gewählt wer
den.
16. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 15, dadurch ge
kennzeichnet, daß zur Verbesserung des Meßergebnisses die An
zahl n der Abstandswerte di erhöht wird.
17. Verfahren zur Erfassung und Auswertung der Meßdaten eines
nach einem der Ansprüche 10 bis 16 kalibrierten Sensors, da
durch gekennzeichnet, daß das Erfassen der Meßgrößen zur Be
stimmung der Koeffizientensätze ki bei denselben Meßfrequenzen
erfolgt wie das Erfassen der Meßgrößen zur Bestimmung eines un
bekannten oder bekannten Abstandes d.
18. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9 zur Kalibrie
rung eines Wirbelstromsensors mit mindestens einer Meßspule,
dadurch gekennzeichnet, daß der Abstand d zwischen dem Wirbel
stromsensor und einem Target als Störgröße berücksichtigt wird,
die elektrische Leitfähigkeit und die effiktive Permeabilität
des Targets die Zielgrößen bilden und der Real- und Imaginär
teil der Impedanz der Meßspule bei verschiedenen Frequenzen als
Meßgrößen M₁ (l = 1, . . ., m) erfaßt werden.
19. Verfahren nach einem der Anspruch 18, dadurch gekennzeich
net, daß es zur Prüfung des Targetmaterials verwendet wird.
20. Verfahren nach einem der Ansprüche 18 oder 19, dadurch ge
kennzeichnet, daß es zur Überprüfung der Homogenität des Tar
getmaterials oder zur Erkennung von Schäden in der Struktur der
Oberfläche eines Targets verwendet wird.
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|---|---|---|---|
| DE4334380A DE4334380C2 (de) | 1993-10-08 | 1993-10-08 | Verfahren zur Kalibrierung eines Sensors und zur Meßwertverarbeitung |
| US08/319,882 US5559431A (en) | 1993-10-08 | 1994-10-07 | Method of calibrating a sensor |
| JP6270204A JP3028275B2 (ja) | 1993-10-08 | 1994-10-11 | センサの較正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE4334380A1 true DE4334380A1 (de) | 1995-04-20 |
| DE4334380C2 DE4334380C2 (de) | 2000-10-26 |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE4334380A Expired - Fee Related DE4334380C2 (de) | 1993-10-08 | 1993-10-08 | Verfahren zur Kalibrierung eines Sensors und zur Meßwertverarbeitung |
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|---|---|
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19832387A1 (de) * | 1998-07-18 | 2000-01-20 | Asea Brown Boveri | Verfahren zum Feststellen von Einbau- und/oder Kalibrierungsfehlern einer Mehrzahl von Signalauskopplungseinheiten eines oder mehrerer Teilentladungsmeßsysteme |
Families Citing this family (28)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5708368A (en) * | 1996-03-07 | 1998-01-13 | Ade Corporation | Method and apparatus for emulation of a linear variable differential transducer by a capacitive gaging system |
| US6326908B1 (en) | 1998-09-04 | 2001-12-04 | Trilogy Systems Corp | Precision position encoder using coarse position indicator |
| US20070188168A1 (en) * | 1999-08-26 | 2007-08-16 | Stanley James G | Magnetic sensor |
| US7514917B2 (en) * | 2003-09-19 | 2009-04-07 | Automotive Systems Laboratory, Inc. | Magnetic crash sensor |
| US6304827B1 (en) * | 1999-09-16 | 2001-10-16 | Sensonor Asa | Sensor calibration |
| US6549006B2 (en) * | 2000-04-07 | 2003-04-15 | Cuong Duy Le | Eddy current measurements of thin-film metal coatings using a selectable calibration standard |
| US20030210041A1 (en) * | 2000-04-07 | 2003-11-13 | Le Cuong Duy | Eddy current measuring system for monitoring and controlling a chemical vapor deposition (CVD) process |
| US6762604B2 (en) | 2000-04-07 | 2004-07-13 | Cuong Duy Le | Standalone eddy current measuring system for thickness estimation of conductive films |
| US6741076B2 (en) | 2000-04-07 | 2004-05-25 | Cuong Duy Le | Eddy current measuring system for monitoring and controlling a CMP process |
| US6553326B1 (en) * | 2000-04-07 | 2003-04-22 | Northern Digital Inc. | Errors in systems using magnetic fields to locate objects |
| US6563309B2 (en) * | 2001-09-28 | 2003-05-13 | The Boeing Company | Use of eddy current to non-destructively measure crack depth |
| US6661223B2 (en) | 2002-01-07 | 2003-12-09 | International Business Machines Corporation | Method of testing for response abnormalities in a magnetic sensor |
| US7463987B2 (en) * | 2003-09-19 | 2008-12-09 | Takata Holdings, Inc. | Magnetic sensing system and method |
| EP1663707A4 (de) * | 2003-09-19 | 2007-03-14 | Automotive Systems Lab | Magnetischer aufprallsensor |
| CN1852818A (zh) * | 2003-09-19 | 2006-10-25 | 汽车系统实验室公司 | 磁碰撞感测方法 |
| DE10352043A1 (de) * | 2003-11-07 | 2005-06-09 | Continental Aktiengesellschaft | Verfahren zur Kalibrierung einer Schichtdicken-Messmaschine |
| JP2007524539A (ja) * | 2003-12-21 | 2007-08-30 | オートモーティブ システムズ ラボラトリー インコーポレーテッド | 磁気センサ |
| US7312607B2 (en) * | 2004-07-20 | 2007-12-25 | General Inspection Llc | Eddy current part inspection system |
| EP1915585A2 (de) * | 2005-07-29 | 2008-04-30 | Automotive Systems Laboratory Inc. | Magnetischer kollisionssensor |
| US7633635B2 (en) * | 2006-08-07 | 2009-12-15 | GII Acquisitions, LLC | Method and system for automatically identifying non-labeled, manufactured parts |
| US20120206143A1 (en) * | 2011-02-14 | 2012-08-16 | Mcgushion Kevin D | Resonant electromagnetic sensor |
| DE102011110666A1 (de) * | 2011-05-11 | 2012-11-15 | Micro-Epsilon Messtechnik Gmbh & Co. Kg | Sensor, System mit einem Sensor und einem Messobjekt sowie Verfahren zur Temperaturmessung mittels Sensor |
| WO2013142121A1 (en) * | 2012-03-20 | 2013-09-26 | World Heart Corporation | Method and apparatus for sensing of levitated rotor position |
| US9581674B2 (en) * | 2015-07-30 | 2017-02-28 | Hamilton Sundstrand Corporation | Dynamic calibrating current sensor |
| CN106442712B (zh) * | 2016-08-29 | 2019-04-19 | 爱德森(厦门)电子有限公司 | 一种自动校准涡流检测灵敏度的装置及方法 |
| CN106441407A (zh) * | 2016-11-23 | 2017-02-22 | 国网浙江省电力公司电力科学研究院 | 一种非接触式电涡流传感器校准装置及其自动校准方法 |
| CN116720622B (zh) * | 2023-06-14 | 2024-07-09 | 国网湖北省电力有限公司营销服务中心(计量中心) | 一种电流互感器计量误差值预测方法 |
| CN119395441B (zh) * | 2025-01-03 | 2025-03-28 | 陕西正泽生物技术有限公司 | 一种医用回旋加速器加速电压冷腔测试方法及系统 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3116690C2 (de) * | 1981-04-28 | 1983-09-15 | Rohde & Schwarz GmbH & Co KG, 8000 München | Einrichtung zum Messen von physikalischen Grössen |
| US4673870A (en) * | 1985-08-07 | 1987-06-16 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Automated calibration technique for non-field perturbing (electrically small) electromagnetic field sensors |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4390949A (en) * | 1981-05-26 | 1983-06-28 | Rockwell International Corporation | Electronic system and method for self-calibration of instrument landing systems |
| US4771237A (en) * | 1986-02-19 | 1988-09-13 | Panametrics | Method and apparatus for calibrating a displacement probe using a polynomial equation to generate a displacement look-up table |
| JPH0526731A (ja) * | 1991-07-23 | 1993-02-02 | Minolta Camera Co Ltd | 光電色彩計 |
| US5394084A (en) * | 1991-12-23 | 1995-02-28 | The Boeing Company | Method and apparatus for reducing errors in eddy-current conductivity measurements due to lift-off by interpolating between a plurality of reference conductivity measurements |
| US5311125A (en) * | 1992-03-18 | 1994-05-10 | Lake Shore Cryotronics, Inc. | Magnetic property characterization system employing a single sensing coil arrangement to measure AC susceptibility and DC moment of a sample |
-
1993
- 1993-10-08 DE DE4334380A patent/DE4334380C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1994
- 1994-10-07 US US08/319,882 patent/US5559431A/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-10-11 JP JP6270204A patent/JP3028275B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3116690C2 (de) * | 1981-04-28 | 1983-09-15 | Rohde & Schwarz GmbH & Co KG, 8000 München | Einrichtung zum Messen von physikalischen Grössen |
| US4673870A (en) * | 1985-08-07 | 1987-06-16 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Automated calibration technique for non-field perturbing (electrically small) electromagnetic field sensors |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19832387A1 (de) * | 1998-07-18 | 2000-01-20 | Asea Brown Boveri | Verfahren zum Feststellen von Einbau- und/oder Kalibrierungsfehlern einer Mehrzahl von Signalauskopplungseinheiten eines oder mehrerer Teilentladungsmeßsysteme |
| US6345236B1 (en) | 1998-07-18 | 2002-02-05 | Asea Brown Boveri Ag | Method for detecting installation and/or calibration errors in a plurality of signal output units of one or more partial-discharge measurement systems |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3028275B2 (ja) | 2000-04-04 |
| JPH07253339A (ja) | 1995-10-03 |
| DE4334380C2 (de) | 2000-10-26 |
| US5559431A (en) | 1996-09-24 |
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