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Die
vorliegende Erfindung betrifft
ein Verfahren zum Zünden und
Betreiben einer Niederspannungs-Bogenentladung nach dem Oberbegriff
von Anspruch 1
eine Kathodenkammer zur Erzeugung einer Niederspannungs-Bogenentladung
nach dem Oberbegriff von Anspruch 6, sowie
Verwendungen davon.
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Für verschiedene
Vakuumbehandlungsprozesse ist es bekannt, Niederspannungs-Bogenentladungen
einzusetzen. Beispielsweise aus der
CH 456 294 A oder der
CH 551 497 A , weiter auch
der
CH 645 137 A oder
aus ”Ein
Produktionsverfahren zur Herstellung dünner Schichten durch Kathodenzerstäubung im
Hochvakuumbereich”,
F. Gaydou, Sonderdruck aus Vakuumtechnik, Rudolf A. Lang Verlag, Wiesbaden,
Heft 7/66, S. 161–164,
oder aus ”Ein Verfahren
zur Herstellung dünner
Schichten durch Ionenzerstäubung
im 10E – 4
Torr Bereich”,
F. P. Gaydou, Balzers Aktiengesellschaft, FL-Balzers, aus Sonderdruck
aus Mikroelektronik 2, Oldenburg/München-Wien 1967, S. 183–192, ist
es bekannt, zur Erzeugung einer Niederspannungs-Bogenentladung in einer
Vakuumbehandlungskammer, an diese über eine Blendenanordnung eine
Kathodenkammer anzukoppeln, worin eine thermionische Kathode angeordnet
ist. Die Niederspannungs-Bogenentladung wird üblicherweise in der Kathodenkammer
mit Hilfe einer separaten Zündelektrode
gezündet,
welche mit Bezug auf die thermionische Kathode auf positives, anodisches
Zündpotential
gelegt wird.
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Nach
dem Zünden
der Niederspannungsentladung in der Kathodenkammer wird die Entladung primär zwischen
der thermionischen Kathode und einer behandlungskammerseitig angeordneten
Anode unterhalten. Dabei kann die behandlungskammerseitig vorgesehene
Anode durch mindestens Teile der Innenwand der Behandlungskammer
gebildet sein, oder es kann eine separate Anodenanordnung in der Behandlungskammer
angeordnet sein, von der Wandung der Behandlungskammer elektrisch
isoliert, derart, dass Behandlungskammer und die erwähnte Anodenanordnung
elektrisch getrennt potentialbetrieben werden können. Eine solche Anodenanordnung
kann z. B. durch einen Substratträger gebildet sein.
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In
gewissen Anwendungsfällen,
wie beispielsweise aus der
CH
551 497 A bekannt, wird die Blendenanordnung elektrisch
potentialschwebend betrieben, in anderen, wie beispielsweise aus
CH 456 294 A oder
DE 33 30 144 C2 bekannt,
wird sie kurzzeitig oder ständig
auf das Potential der Behandlungskammerwand bzw. deren Anodenpotential
gelegt.
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Es
hat sich gezeigt, dass sich bei einer derartigen Anordnung Funkenentladungen,
bekannt unter dem Ausdruck ”arcing”, insbesondere
an Partien der Behandlungskammer-Innenwand ausbilden, und zwar desto
ausgeprägter,
je mehr solche Partien der Entladung ausgesetzt sind und je höher die
elektrische Feldstärke
an solchen Partien ist.
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Derartige
Funkenentladungen bewirken eine Belastung der elektrischen Speisegeräte, die
für den Unterhalt
der Entladung vorgesehen sind, unkontrolliertes Prozessverhalten,
wie Unterbrechungen und Verunreinigungen, z. B. durch Gasausbrüche,- Abstäuben bzw.
Verdampfen von nicht erwünschten Materialien
etc. Dadurch kann die Prozessführung gänzlich unmöglich werden.
Eine Abstäubung
der vom arcing betroffenen Wandungspartien führt bei heiklen Behandlungsprozessen,
bei welchen eine kontrolliert hoch reine Behandlungsatmosphäre erforderlich
ist, zu intolerabler Kontamination.
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Dies
führte
dazu, dass die erwähnten
Behandlungsprozesse mit Niederspannungs-Bogenentladung, welche an
sich für
manche Anwendungen, dank der tiefen kinetischen Energie der Ladungsträger in der
Niederspannungs-Bogenentladung bei gleichzeitig hoher Ladungsträgerdichte
höchst
vorteilhaft wären
für manche
Behandlungsprozesse, bei denen die erwähnten Kontaminationen nicht
tolerabel sind, nicht eingesetzt wurden.
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Die
in der Stammanmeldung beanspruchte Erfindung setzt sich unter ihrem
Hauptaspekt zum Ziel, dieses Problem zu lösen, mit anderen Worten, Verfahren
mit einer Niederspannungs-Bogenentladung – also einer
Niederspannungs-Hochstrom-Entladung – so zu verbessern, dass sie
auch für
Behandlungsprozesse einsetzbar werden, welche bezüglich Behandlungsatmosphäre hohe
Anforderungen stellen.
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Zu
diesem Zweck zeichnet sich das Verfahren eingangs genannter Gattung
nach dem kennzeichnenden Teil von Anspruch 1 der Stammanmeldung
aus.
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Kathodenkammern
zur Erzeugung einer Niederspannungs-Bogenentladung mit einer auf
Niederspannungspotential liegenden termionischen Kathode, bei denen
Teile der Wandung der Kathodenkammer für den Betrieb als Zündelektrode
auf ein Festpotential gelegt sind, sind aus
DE 33 30 144 C2 sowie
DE 28 23 876 A1 bekannt.
Sie offenbaren jedoch keinen auf Dunkelraumabstand vorgelagerten
Schirm.
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Die
dem arcing meist ausgesetzten Partien der Behandlungskammer-Innenwand
sind um die Blendenanordnung herum situiert. Ein Vorsehen des erfindungsgemäßen Schirmes
verhindert das Auftreten der erwähnten
Funken in diesem Bereich. Damit ergibt sich nun die Möglichkeit,
ein Verfahren der erwähnten
Gattung auch für
Prozesse einzusetzen, welche höchsten
Anforderungen bezüglich
Behandlungsatmosphäre
gerecht werden müssen.
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Die
obgenannten Probleme bezüglich
Funkenentladung entstehen bei den bekannten Vorgehen sowohl bei
potentialschwebend betriebenen Partien mit der Blendenanordnung
wie auch in noch stärkerem
Maße,
wenn die genannten Partien auf Festpotential betrieben werden.
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Dank
des erfindungsgemäßen Vorgehens wird
es aber möglich,
diese erwähnten
Partien auf Festpotential zu betreiben, was bezüglich der Flexibilität der elektrischen
Beschaltung bzw. Potentiallegung von Kathodenkammer, Behandlungskammer sowie
von Partien um die Blendenanordnung herum, höchst vorteilhaft ist.
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Insbesondere
wird dadurch gemäß der vorliegenden
Erfindung ermöglicht,
die erwähnten
Partien mit bzw. um die Blendenanordnung als Zündelektrode für die Niederspannungsentla dung
zu betreiben. Hierzu werden sie zum Zünden und dann während des
Betriebes der Niederspannungsentladung auf unterschiedliche elektrische
Potentiale gelegt. Damit wird der Vorteil erwirkt, dass in der Kathodenkammer
nicht zusätzlich
eine Zündelektrode
vorgesehen und elektrisch isoliert durch die Kathodenkammerwand
geführt
werden muss, sondern, dass ohnehin vorgesehene Elemente, nämlich die
erwähnten Partien,
gleichzeitig auch als Zündelektrode
eingesetzt werden können.
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Eine
höchst
einfache Verfahrensvariante ergibt sich dabei, indem die erwähnten Partien über ein passives
Strombegrenzungs-Schaltelement, wie insbesondere über ein
Widerstandselement, gegebenenfalls auch über ein Diodenelement, auf
ein Festpotential gelegt werden. Ein Teil des Entladungsstromes
bewirkt im Entladungsbetrieb daran einen Spannungsabfall, derart,
dass die erwähnten
Partien während
des Betriebes der Niederspannungsentladung bezüglich ihres Zündpotentials
auf negativeres Potential gelegt werden. An dieser Stelle sei erwähnt, dass
der Begriff ”Potential” im Sinne
der Feldtheorie verwendet wird, also bezuglos (Bezug → ∞).
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Es
ist aber auch durchaus möglich,
ergänzend
zu dem erwähnten
passiven Schaltelement oder an dessen Statt, die erwähnten Partien
als Zündelektrode über eine
stromgesteuerte Spannungsquelle auf ein Festpotential zu legen.
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Insbesondere
bei der gezielten Beaufschlagung der erwähnten Partien mit vorbestimmten
elektrischen Potentialen ist es weiter vorteilhaft, dies unabhängig davon
realisieren zu können,
wie die Behandlungskammerwandung potentialgelegt bzw. -geführt wird.
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Hierzu
wird vorgeschlagen, die erwähnten Partien
von der Wand der Behandlungskammer elektrisch zu isolieren.
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Weiter
werden bevorzugterweise die erwähnten
Partien durch die Kathodenkammerwand gebildet. Dies eröffnet insbesondere
die Möglichkeit, die
die Blendenanordnung bildenden und die mindestens eine eigentliche
Blendenöffnung
umschließenden
Partien als Zündelektrode
zu verwenden.
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Bei
isolierter Montage der Behandlungskammer von den erwähnten Partien
werden letztere bevorzugterweise auf unterschiedlichem elektrischem Potential
betrieben bezüglich
der Behandlungskammer-Innenwand. Damit wird ermöglicht, die Hauptentladung,
nach deren Zünden,
durch die Blendenanordnung in die Behandlungskammer zu ziehen, auch
wenn die erwähnten
Partien vorgängig
als Zündelektrode
beschaltet wurden.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausbildungsvariante werden Kathodenkammer
und Behandlungskammer auf unterschiedlichen Betriebsdrucken betrieben,
und es wird die Blendenanordnung gleichzeitig als Druckstufe zwischen
den erwähnten
Kammern ausgebildet. Dadurch wird ermöglicht, insbesondere kathodenkammerseitig
einen höheren
Betriebsdruck aufzubauen, um eine Gasströmung während des Entladungsbetriebes
durch die Blendenanordnung strömen
zu lassen, nach Maßgabe
der Druckstufenwirkung der Blendenanordnung.
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Um
eine möglichst
gute druckmäßige Entkopplung
von Kathodenkammer und Behandlungskammer zu erzielen, wird weiter
vorgeschlagen, kathodenkammerseitig und/oder behandlungskammerseitig
die mindestens eine Öffnung
der Blendenanordnung mit einem Rohrstutzen als Strömungswiderstand
zu versehen, womit deren Druckstufenwirkung erhöht wird.
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Um
druckmäßig Kathodenkammer
und Behandlungskammer zu entkoppeln, wird weiter vorgeschlagen,
zwei Blendenanordnungen und dazwischen eine Absaugung vorzusehen.
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In
einer weiteren bevorzugten Ausführungsvariante
wird der erfindungsgemäß vorgesehene Schirm
bis unmittelbar um die mindestens eine Öffnung der Blendenanordnung
geführt,
und es kann dieser Schirm als Rohrstutzen weitergeführt werden, um
mit ihm die erwähnte
Druckstufenwirkung zu erhöhen.
Das Vorsehen der erwähnten
Rohrstutzen ist insbesondere auch beim diffentiellen Pumpen vorteilhaft.
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Es
hat sich gezeigt, dass bereits ein Umschließen der erwähnten Partien, auch beabstandet von
der mindestens einen Öffnung
der Blendenanordnung, eine ganz wesentliche Verbesserung bezüglich Funkenbildung
an der Innenwand der Behandlungskammer ergibt.
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Unter
dem zweiten Aspekt der Erfindung, der Gegenstand der vorliegenden
Teilanmeldung ist und der sich, wie sich ohne weiteres ergeben wird,
in optimaler Weise mit dem ersten Aspekt, der Gegenstand der Stammanmeldung
ist, kombinieren lässt, wird
ein Verfahren zum Zünden und
Betreiben einer Niederspannungs-Bogenentladung der Eingangs erwähnten Art
vorgeschlagen, welches die Merkmale von Anspruch 1 aufweist.
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Damit
wird grundsätzlich
ermöglicht,
dass an der Kathodenkammer keine eigens dafür vorgesehene Zündelektrode
eingebaut werden muss, und weiter wird dadurch, dass die nun als
Zündelektrode
wirkende Partie der Kathodenkammer-Innenwand über ein passives Schaltelement
auf ein Festpotential gelegt wird, auf einfache Art und Weise umgangen, dass
die Zündspannung
mit Hilfe einer steuerbaren Spannungsquelle an die Zündelektrode
angelegt werden muss, die steuerbar ist, um nach dem Zünden der
Entladung die Entladung primär
zwischen der thermionischen Kathode und einer wo auch immer angeordneten
Betriebsanode unterhalten zu können.
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Eine
Kathodenkammer zur Erzeugung einer Niederspannungs-Bogenentladung
der eingangs erwähnten
Art ist im Anspruch 6 angegeben.
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Eine
Vakuumbehandlungsanlage, welche die Aufgabe unter dem ersten Aspekt
der vorliegenden Erfindung löst,
ist im Anspruch 9 angegeben.
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Wie
erwähnt
wurde, ergibt sich nun dank des erfindungsgemäßen Vorgehens die Möglichkeit,
Verfahren bzw. Vakuumbehandlungsanlagen der genannten Gattungen
erfindungsgemäß für speziell heikle
Behandlungsprozesse einzusetzen, insbesondere zur Behandlung von
Werkstücken
in der Behandlungskammer mit elektrostatisch und/oder elektrodynamisch
aus der Entladung in der Behandlungskammer herausgezogenen, monopolaren
Ladungsträgern.
Dazu gehören
insbesondere elektronenstimulierte, chemische Reaktionen auf Werkstücken bei hoher
Elektronendichte und kleiner Elektronenenergie bzw. Niedertemperatur-Werkstückbehandlungsprozesse
in der Behandlungskammer und/oder Schichtwachstumsprozesse auf Werkstücken in
der Behandlungskammer, für
Homo- und Hetero-Epitaxie-Beschichtungsprozesse.
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Die
Erfindung wird anschließend
beispielsweise anhand von Figuren erläutert.
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Es
zeigen:
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1 in
Form eines Blockdiagrammes, das Prinzip einer erfindungsgemässen Vakuumbe handlungsanlage
bzw. des erfindungsgemäßen Verfahrens,
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2 schematisch
eine bevorzugte Ausführungsvariante
einer erfindungsgemäßen Vakuumbehandlungsanlage
mit einer erfindungsgemäßen Kathodenkammer,
auch zur Erläuterung
der erfindungsgemäßen Verfahren,
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3 schematisch
einen Teilausschnitt des Überganges
von Kathodenkammer in die Behandlungskammer gemäß 2 in einer
weiteren Ausführungsvariante,
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4a bis 4e Teilausschnitte
des Überganges
zwischen Kathodenkammer und Behandlungskammer gemäß 2 in
weiteren Ausführungsvarianten,
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5 qualitativ
den Verlauf von Potentialen über
der Zeitachse t an einer erfindungsgemäßen Kathodenkammer, wie an
der Anlage gemäß 2 eingesetzt,
zur Erläuterung
des erfindungsgemäßen Zündverfahrens,
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6 schematisch
die Draufsicht auf eine erfindungsgemäße Vakuumbehandlungsanlage
mit Magnetfeldquellen zur gesteuerten Beeinflussung der Plasmaausbreitung
und insbesondere der Elektronenbahnen in der Behandlungskammer,
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7 eine
Anlage analog derjenigen von 2 schematisch
dargestellt, bei welcher ein Werkstückträger außer Sicht bezüglich der
thermionischen Kathode liegt und die Elektronen der Entladung, magnetfeldgesteuert,
gegen den Werkstückträger bzw.
die Werkstücke
umgelenkt werden,
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8 über den
Radius eines nach dem erfindungsgemäßen Verfahren bzw. mittels
einer erfindungsgemäßen Behandlungsanlage
geätzten
Wafers aufgetragen, die Ätzverteilung
in % ohne Magnetablenkung, und
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9 die Ätzverteilung
mit Magnetablenkung,
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10 schematisch
einen Teilausschnitt aus einer Anlage gemäß 2, bei welcher
die Blen denanordnung mit zwei Druckstufen ausgebildet ist und zwischen
den Druckstufen differentiell gepumpt wird.
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In 1 ist
in Form eines Funktionsblockdiagramms die vorliegende Erfindung
unter ihrem ersten Aspekt prinzipiell dargestellt.
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In
einer Kathodenkammer 1 mit einer thermionischen Kathode 3 wird
eine Niederspannungs-Bogenentladung
mittels einer Zündanode 5 gezündet. Die
Niederspannungs-Bogenentladung wird nach ihrem Zünden durch eine Blendenanordnung 7 mit
mindestens einer Blendenöffnung 9 in
eine Vakuumbehandlungskammer 11 gezogen. Dies erfolgt mit
Hilfe einer Hauptanode 13, bezüglich der thermionischen Kathode 3 auf
entsprechend positives anodisches Potential gelegt.
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In
der Vakuumbehandlungskammer 11 sind, je nach durchgeführtem Prozess
potentialschwebend oder potentialgebunden, ein oder mehrere Werkstücke 15 gehaltert.
Gaseinlässe
sowie elektrische Speisungen und Pumpaggregate zu Kathodenkammer 1 bzw.
Behandlungskammer 11 bzw. zwischen den elektrisch als Elektroden
wirkenden kathodenkammerseitigen bzw. behandlungskammerseitigen Aggregaten
sind in 1 nicht eingetragen.
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Die
Erfindung besteht darin, Wandungspartien 17, welche die
mindestens eine Blendenöffnung 9 umgeben
und welche gegen die Behandlungskammer 11 freiliegen, mit
einem Schirm 20 zu versehen, welcher einerseits die mindestens
eine Öffnung 9 der Blendenanordnung
mindestens weitgehend, also, wenn überhaupt, mit nur geringfügigen Unterbrechungen
umschließt
und welcher bezüglich
der Wandungsflächen
der Partien 17, welche der Behandlungskammer 11 zugewandt
sind, auf Dunkelraumabstand d gehalten ist. Dabei kann der Schirm 20 mit
relativ großem
Abstand die erwähnte Öffnung 9 umgeben,
kann aber auch, wie noch ausgeführt werden
soll, bis unmittelbar in den Öffnungsbereich gezogen
sein.
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Durch
das erfindungsgemäße Vorsehen
des Schirmes 20 wird ein arcing auf den erwähnten Wandungsflächen, weitestgehend
verhindert und mithin auf denjenigen Partien der dem Prozessraum
P in der Behandlungskammer 11 ausgesetzten Flächen, welche
dem arcing am meisten ausgesetzt sind.
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In 2 ist
schematisch eine erste bevorzugte Ausführungsvariante einer erfindungsgemäßen Anlage
dargestellt. Es sind Einheiten, die denjenigen entsprechen, welche
bereits anhand von 1 erläutert wurden, mit denselben
Bezugszeichen versehen.
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Die
Partien 17, welche die Blendenanordnung bzw. deren mindestens
eine Öffnung 9 umranden,
sind bei dieser Ausführungsvariante
Teil der Kathodenkammerwand. Die Kathodenkammer 1 ist über Isolationsträger 22 an
der Wand der Behandlungskammer 11 montiert. Hier umschließt der Schirm 20,
der sowohl bezüglich
der Kathodenkammer 1 wie auch bezüglich der Behandlungskammer 11 potentialschwebend
betrieben wird, die erwähnten Partien 17 auf
Dunkelraumabstand d bis unmittelbar in den Bereich der Blendenöffnung 9.
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Die
thermionische Kathode 3 wird mittels einer Quelle 24 mit
dem Heizstrom IH betrieben und ist über eine
Spannungsquelle 26 und, generell gesprochen, eine Einheit 28 auf
mindestens einen Teil der Kathodenkammerwand geführt, bevorzugterweise auf die
Kathodenkammerwand an sich. Die Einheit 28 wirkt als Strombegrenzung
und bewirkt, in Funktion des sie durchfließenden Stromes i, einen Spannungsabfall
u. Sie kann, wie gestrichelt dargestellt, durch eine stromgesteuerte
Spannungsquelle realisiert sein, wird aber bevorzugterweise durch
ein passives Schaltelement, dabei insbesondere durch ein Widerstandselement 30,
realisiert.
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Der
negative Pol der Spannungsquelle 26 kann auf ein Bezugspotential,
sei dies Masse oder ein weiteres vorgegebenes Potential, gelegt
werden oder kann potentialfrei betrieben werden, wie dies rein schematisch
durch den Möglichkeitsumschalter 32 dargestellt
ist. Desgleichen kann, da sie von der Kathodenkammer 1 elektrisch
isoliert ist, die Behandlungskammer 11, wie mit dem Möglichkeitsumschalter 34 rein
schematisch dargestellt, auf Massepotential, auf einem Bezugspotential
oder gegebenenfalls sogar potentialschwebend betrieben werden. Je nach
dem im Prozessraum P durchzuführenden
Prozess wird die Behandlungskammer-Innenwand 36 oder mindestens
Partien davon bezüglich
der thermionischen Kathode 3 als Anode geschaltet, so dass sich
die Entladung hauptsächlich
zwischen der genannten Kathode 3 und den genannten Innenwandungspartien
ausbildet.
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Andernfalls
wird, wie gestrichelt dargestellt, eine separate Anode 8 vorgesehen,
welche über
eine Spannungsquelle 14 mit Bezug auf die thermionische Kathode 3 anodisch,
d. h. positiv, beschaltet wird. Dann ist man bezüglich Potentiallegung der Behandlungskammerwand
pro zessangepasst frei. Als Anode kann dabei irgendein Teil in der
Kammer 11 wirken, insbesondere auch ein Werkstückträger.
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Der
Kathodenkammer 1 und/oder der Behandlungskammer 11 wird über Gaszuspeiseleitungen 40 ein
Ionisierungsgas für
die Niederspannungsentladung zugeführt und gegebenenfalls wird
der Kathodenkammer 1 und/oder bevorzugterweise der Behandlungskammer 11 ein
Reaktivgas, zugeführt,
welches in bekannter Art und Weise in der Glimmentladung chemisch
mit am Prozess beteiligten Materieteilchen, wie verdampften oder
abgeätzten,
im Rahmen eines reaktiven Ätz-
oder Beschichtungsprozesses reagiert.
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Wie
wiederum bei 35 schematisch dargestellt, kann die Gaszuspeiseleitung 40,
entkoppelt vom Potential der Kammerwand, auf Massepotential, auf
einem anderen Potential oder potentialfrei betrieben werden, um
gezielt zusätzliche
Anregungs- oder Ionisationseffekte zu erzeugen.
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Im
weiteren wird die Behandlungskammer 11 mittels eines Pumpaggregates 42 zur
Vakuumlegung betrieben.
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Die
Blendenanordnung mit der mindestens einen Blendenöffnung 9 wirkt
zusätzlich
als Druckstufe zwischen dem Druck in der Kathodenkammer 1 und
dem Druck in der Behandlungskammer 11. Je nach Ausbildung
ihrer Druck-Entkopplungswirkung können die beiden Kammern, im
wesentlichen druckunabhängig
voneinander betrieben werden. Damit kann z. B. der Partialdruck
eines Reaktivgases in der Behandlungskammer 11 wesentlich
höher gehalten
werden als in der Kathodenkammer 1, der mit einem solchen
Gas, z. B. an der Kathode 3, reagieren und deren Standzeit
drastisch reduzieren könnte. Umgekehrt
kann der Partialdruck von Hintergrundgasen, wie z. B. von Ar, in
der Behandlungskammer 11 wesentlich tiefer gehalten werden
als in der Kathodenkammer 1, wo dieses Gas zur Erzeugung
der Entladung notwendig ist.
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Wie
in 2 dargestellt, ist der Schirm 20 unmittelbar
in den Bereich der Blendenöffnung 9 gezogen
und bildet mit Teilen der Kathodenkammerwand einen Zwischenraum.
Gleichzeitig bildet seine Öffnung 9a eine
weitere Blende. Deshalb kann, wie mit 42a dargestellt,
bei dieser Anordnung durch Abpumpen aus dem erwähnten Zwischenraum ein differentielles
Pumpen realisiert werden, womit eine weitere Verbesserung der Druckentkopplung
realisiert wird.
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In 10 ist
ausschnittsweise eine weitere Ausbildung des Blendenanordnungsbereiches
an der Anlage gemäß 2 dargestellt,
wo die Blendenanordnung selbst doppelt ausgebildet ist und im so
gebildeten Zwischenraum 10 differentiell gepumpt wird. Auf
die gemäß 10 bevorzugterweise
vorgesehenen Rohrstutzen an den Blendenöffnungen 9a bzw. 9b wird
im Zusammenhang mit 4 eingegangen.
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In
der in 2 dargestellten Ausführungsvariante ist die Kathodenkammer
in einer für
sich erfinderischen Art und Weise ausgebildet, wie noch erläutert werden
wird. Dies ist zur Realisation der Erfindung unter ihrem ersten
Aspekt, nämlich
Verhinderung des arcings, nicht erforderlich, d. h. ist unabhängig vom
Vorsehen des Schirmes 20, wird aber bevorzugterweise damit
kombiniert.
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Bei
dieser erfindungsgemäßen Kathodenkammer 1 ist
mindestens ein Teil ihrer Innenwandung als Zündelektrode wirksam, bevorzugterweise
in der in 2 dargestellten Art und Weise.
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Die
Funktion des dadurch realisierten Zündens soll anhand von 5 erläutert werden.
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Darin
sind über
der Zeitachse t qualitativ eingetragen:
- ΦB
- das negative Potential
der Quelle 26 gemäß 2,
- ΦA
- das Potential einer
behandlungskammerseitig vorgesehenen Entladungsanode, wie 38 gemäß 2,
oder mindestens von Teilen der Behandlungskammer-Innenwand 36,
- ΦZ
- das Potential mindestens
des Teils der Kathodenkammer-Innenwand, der als Zündelektrode
eingesetzt wird,
- ΦK
- das Potential der
thermionischen Kathode 3, entsprechend dem negativen Pol
der Quelle 26, das in 5 als Bezugspotential
eingesetzt ist.
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Zum
Zünden
der Niederspannungsentladung wird zuerst die thermionische Kathode 3 zur Elektronenemission
mit dem Heizstrom IH aufgeheizt. Es wird
mindestens ein Ionisierungsgas, wie beispielsweise Argon, durch
Leitung 40, über
die Behandlungskammer 11 oder üblicherweise direkt in die Kathodenkammer 1 eingelassen.
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Im
dargestellten Beispiel von 2 wird die ganze
Wand der Kathodenkammer 1 bezüglich der thermionischen Kathode 3 auf
positives Potential gelegt, womit sich zwischen thermionischer Kathode 3 und
Wandung der Kathodenkammer 1, vor Zünden der Entladung, die Zündspannung
Uz gemäss 5 einstellt.
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Aufgrund
des durch die Abstandsrelation zwischen besagter Wand und der Kathode
resultierenden elektrischen Feldes erfolgt die Zündung der Entladung, worauf,
bezüglich
des Elektronenstromes in Gegenrichtung (Stromrichtungskonvention),
ein Strom i entsprechend einem Entladungsstromanteil durch die Einheit 28,
in deren bevorzugter Ausführungsvariante
durch das Widerstandselement 30, fließt.
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Das
Potential ΦZ der Wandung der Kathodenkammer 1 sinkt,
womit gemäß 5 während des
Entladungsbetriebes zwischen der Wandung der Kathodenkammer 1 und
der Kathode 3 sich eine wesentlich reduzierte Spannung
UB einstellt.
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Damit
wirkt im Betrieb die Wandung der Kammer 1 nur noch in vernachlässigbarem
Masse als Anode. Die Primärentladung
wird durch die Blendenanordnung mit der Öffnung 9 zwischen
Kathode 3 und behandlungskammerseitiger Anode aufrechterhalten.
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Um
dieses einfache Vorgehen realisieren zu können, muss mindestens der als
Zündelektrode
verwendete Teil der Kathodenkammerwand dann vom Potential der Behandlungskammerwand
getrennt sein, wenn letztere, wie bevorzugt, als behandlungskammerseitige
Anode eingesetzt wird. Werden dabei in einfacher Art und Weise die
gesamte Wand der Kathodenkammer und mithin auch die Partien 17 als Zündelektrode
eingesetzt, so bleiben diese Partien 17 nach dem Zünden, wie 5 zeigt,
kathodisch, womit sich dieses einfache Vorgehen insbesondere für heikle
Prozesse erst durch das ebenfalls erfindungsgemäße Vorsehen des Schirmes 20 ohne
arcing-Gefahr realisieren lässt.
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In 3 ist
mit Bezug auf die Erfindung unter ihrem ersten Aspekt dargestellt,
dass die Blendenanordnung mit ihrer mindestens einen Öffnung 9 auch durch
die Wandung der Behandlungskammer 11 gebildet sein kann.
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In
den 4a bis 4e sind
weitere, teilweise bevorzugte Ausführungsvarianten des Ausschnittes
gemäß 2 um
die Blendenanordnung dargestellt.
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Gemäß 4a ist
der Schirm 20 an der Anordnung gemäß 2 nicht
bis unmittelbar an die mindestens eine Öffnung 9 der Blendenanordnung gezogen,
sondern umgibt die Partien 17 im Abstand von der Öffnung 9 der
Blendenanordnung. Bereits dadurch wird eine maßgebliche Reduktion des arcings
erzielt, und zwar insbesondere dann, wenn bei Einsatz der erfindungsgemäßen Kathodenkammer diese
bezüglich
der Behandlungskammerwand auf unterschiedlichem Potential betrieben
wird, z. B. wenn letzteres als Anode eingesetzt ist.
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Wie
erwähnt
wurde, ist es äußerst vorteilhaft, dass
mit der Blendenanordnung eine Druckstufe zwischen Kathodenkammer
und Behandlungskammer realisiert wird. Dieser Effekt kann gemäß den 4b bis 4d dadurch
verstärkt
werden, dass an der mindestens einen Blendenöffnung 9 kathodenkammerseitig
und behandlungskammerseitig gemäß 4b je
ein Rohrstutzen 44 bzw. 44B vorgesehen wird
bzw. gemäß 4c nur
kathodenkammerseitig der Stutzen 44K bzw.
gemäß 4b nur
behandlungskammerseitig der Stutzen 44B .
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Gestrichelt
sind in den 4b bis 4d die erfindungsgemäßen Schirme 20 dargestellt.
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Gemäß 4e wird
der Stutzen 44B1 durch den Schirm 20 gebildet,
ist also potentialfliegend, wozu, wie schematisch dargestellt, gegebenenfalls
zusätzliche
Isolationsabstützungen 46 vorgesehen
werden.
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Nach
dem erfindungsgemäßen Verfahren bzw.
mit der erfindungsgemäßen Vakuumbehandlungsanlage
wird eine Niederspannungs-Hochstrom-Gasentladung verwendet bzw.
erzeugt. Dieses Verfahren eignet sich ausgezeichnet für Anwendungen,
bei denen in der Behandlungskammer eine Materialabtragung an einer
Oberfläche
vorgenommen werden soll. Dabei können
entweder Werkstücke oberflächengereinigt
werden, oder es kann die Innenwand der Vakuumkammer 11 gemäß 2 gereinigt
werden. Es hat sich dabei gezeigt, dass ein reakti ver Abtragprozess,
beispielsweise zum Entfernen von Verunreinigungen, die aus Oxid,
Kohlenstoff und auch Kohlenverbindungen bestehen, mit Hilfe von Wasserstoffgas
als Reaktivgas außerordentlich
gute Resultate ergibt. Deshalb wird bei dieser Verwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens
bzw. der entsprechenden Anlage gemäß 2 Wasserstoffgas
in die Behandlungskammer 11 eingelassen und in der Niedervolt-Bogenentladung
aktiviert. Das dadurch realisierte Abtragungsverfahren ermöglicht die Reinigung
von Oberflächen,
auf welche anschließend
haftfeste Schichten höchster
Reinheit abgeschieden werden können.
Dabei ergibt sich eine hohe Abtragrate, was eine hohe Wirtschaftlichkeit des
Verfahrens bedeutet.
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Aufgrund
der hohen Ströme
der Niederspannungsentladung trifft, je nach ihrer Bündelung,
ein Elektronen-Strahl auf die Rezipientenwand, der lokale Erwärmungen
bis beispielsweise 400°C
ergeben kann, was in gewissen Fällen
unzulässig
ist. Trifft der Elektronenstrahl nicht auf die zu reinigende Rezipienteninnenwandung,
sondern auf eine zu reinigende Substratoberfläche auf, so sind selbstverständlich die
erwähnten
Temperaturbelastungen in vielen Fällen ebenfalls unzulässig. Substrattemperaturen,
welche unter anderem von der Prozesszeit abhängen, dürfen vielfach nicht mehr als
110°C betragen,
was oft nach wenigen Minuten bereits erreicht ist. Im weiteren wird
der Elektronenstrahl von Rest-Magnetfeldern der Anlage und Umgebung
sowie vom Erdmagnetfeld abgelenkt. Damit ergeben sich Elektronenflugbahnen
und damit ein Strahlauftreffbereich, der von der lokalen Anlagenorientierung
im Raum abhängt.
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Im
weiteren ergibt sich bei der Oberflächenbehandlung von Substraten
oft und insbesondere bei relativ gebündeltem Plasma der Niederspannungs-Bogenentladung
eine inhomogene Bearbeitungswirkung, wie z. B. eine inhomogene Abtragrate, in
dem Sinne, dass im einen Flächenbereich
des Werkstückes
bzw. Substrates mehr als in einem anderen abgetragen wird, und zwar
relativ unkontrolliert.
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All
diese Probleme, welche sich durch die hohen Werte des Entladungsstromes
von beispielsweise 90 Ampere bei 40 Volt ergeben, lassen sich durch
Anlegen eines zeitkonstanten und/oder zeitvariablen Magnetfeldes
in der Behandlungskammer weitgehend lösen.
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Um
zu verhindern, dass beim Reinigen der Rezipientenwand oder eines
Substrates eine zu hohe lokale Erwärmung auftritt, werden die
Elektronen des Niederspannungs-Entladungs plasmas mittels eines Magnetfeldes
abgelenkt, d. h. der zu reinigende Bereich wird überstrichen oder es wird der Elektronenstrahl
mit Hilfe des Magnetfeldes örtlich oszillierend
betrieben, d. h. gewobbelt. Damit ergibt sich entlang der gereinigten
Oberfläche
ein Temperaturausgleich.
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Einflüsse des
Erdmagnetfeldes und von Restmagnetfeldern auf die Bahn der Elektronen
werden, nachdem eine Anlage an ihrem Bestimmungsort aufgestellt
ist, mit Hilfe von Kompensationsmagnetfeldern an der Behandlungskammer
kompensiert. Eine inhomogene Wirkungsverteilung der Niederspannungsentladung
auf einem zu bearbeitenden Substrat, insbesondere auf einem zu ätzenden,
beispielsweise reinigungszuätzenden
Substrat, wird ebenfalls durch Anlegen bahnkorrigierender Magnetfelder
mindestens teilweise behoben, wobei mit den erwähnten Magnetfeldern der Elektronenstrahl
auch aufgeweitet werden kann. Der Unterschied eines Ätzprozesses
mit und ohne Magnetablenkung an einer Anlage gemäß 2 ist in
den 8 und 9 veranschaulicht:
Das Ätzprofil
lässt sich
magnetisch steuern.
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Im
weiteren wird durch Anlegen eines Magnetfeldes die Plasmadichte
erhöht.
Erfolgt dies im Bereich eines zu ätzenden Substrates, so wird
durch die lokale Erhöhung
der Plasmadichte die Abtragrate erhöht, ohne dass die kinetische
Energie auftreffender Partikel erhöht würde. Mithin wird dadurch die Ätzrate erhöht und die
Bearbeitungszeit und damit die thermische Belastung des Substrates
reduziert.
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In 6 ist
rein schematisch die Behandlungskammer 11 gemäß 2 dargestellt,
mit einer schematisch dargestellten Elektronenbahn e. Durch Anlegen
des Magnetfeldes B wird die Bahn e, wie gestrichelt eingetragen,
abgelenkt. Die Erzeugung des Magnetfeldes B erfolgt mittels Permanentmagneten oder,
wie dargestellt, mittels Elektromagneten, die als Paar, oder im
Sinne eines Quadrupols, als Doppelpaar entlang der Wandung der Behandlungskammer vorgesehen
sind und zur Optimierung der Elektronenbahnen bzw. des Elektronenstrahls,
eingestellt werden.
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Gemäß 7,
welche im Längsschnitt
schematisch die Anlage gemäß 2 zeigt,
ist ein Werkstückträger 50 in
der Behandlungskammer 11 so angeordnet, dass er außer Sichtverbindung
zur thermionischen Kathode 3 ist. Dies hat den wesentlichen Vorteil,
dass störende Wechselwirkungen
von Kathode und Werkstück
unterbunden sind. Der Elektronenstrahl e wird mittels des Magnetfeldes
B nach Austreten aus der Blende 9 gegen den Werkstückträger 50 bzw.
die Werkstücke
abgelenkt.
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Somit
können
durch Anlegen von Magnetfeldern der Verlauf und/oder die Aufweitung
des Elektronenstrahls im Niederspannungsentladungsplasma gezielt
gestellt werden.
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Rückblickend
auf die Anlage gemäß 2 wurde
weiter ein Widerstandswert für
das Widerstandselement 30 von 22 Ohm eingesetzt, was bei
einem Gesamtentladungsstrom 10 bis 20 Ampere und einer Kathoden/Anoden-Spannung
von 25 Volt zu einem Strom von 1 Ampere durch besagten Widerstand
führte.
Im weiteren muss erwähnt
werden, dass der gefundene starke Einfluss der erwähnten Magnetfelder,
und damit die gute Steuerbarkeit der Elektronenbahnen, wesentlich
dadurch bedingt ist, dass die kinetische Energie der Elektronen
dank der eingesetzten Niederspannungsentladung gering ist.
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Die
erfindungsgemäße Anlage
bzw. das erfindungsgemäße Verfahren
ergeben die Möglichkeit, Niederspannungsentladungen
einzusetzen für
hoch diffizile Anwendungen, wie beispielsweise für die Halbleiterherstellung,
bei denen Prozessgas-Partialdrucke von typisch kleiner als 10–9 mbar
eingesetzt werden müssen.
Das Vorgehen ergibt aber bereits bei wesentlich höheren Prozess-Total-Drücken schon
ab 10–1 mbar
bezüglich
des erwähnten
arcings wesentliche Vorteile.
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Falls
das erfindungsgemäße Vorgehen
für Hochvakuum
oder gar Ultrahochvakuum-Anwendungen eingesetzt wird, werden selbstverständlich die Isolations-
bzw. Dichtungsverbindungen der in 2 prinzipiell
vorzusehenden Teile gemäß den in
den jeweiligen Vakuumbereichen üblichen
Techniken ausgeführt.
Gerade bei Behandlungsprozessen, in welchen extrem tiefe Partialdrucke
der beteiligten Prozessgase bzw. Arbeitsgase sicherzustellen sind,
hat sich die Ausbildung der Blendenanordnung zur Druckstufenbildung
gemäß den 4b bis 4e bzw. 10 ausgezeichnet
bewährt.
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Damit
lassen sich nun die erwähnten
Niederspannungs-Bogenentladungen einsetzen für hoch diffizile Verfahren,
wie insbesondere für
die Behandlung von Werkstücken
mit elektrostatisch aus der Entladung in der Behandlungskammer ausgezogenen
monopolaren Ladungsträgern, wie
für elektronenstimulierte
chemische Reaktionen auf den Werkstücken bei hoher Elektronendichte
und kleiner Elektronenenergie, dabei insbesondere auch für Niedertemperatur-Behandlungsprozesse,
Schichtwachstumsprozesse auf den Werkstücken, so wie Homo- und Hetero-Epitaxie-Beschichtungsprozesse.