DE3317963A1 - Keramikkondensator mit schichtaufbau - Google Patents
Keramikkondensator mit schichtaufbauInfo
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- 239000003985 ceramic capacitor Substances 0.000 title claims description 40
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 36
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 36
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 34
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 34
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 33
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 20
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 18
- ZFZQOKHLXAVJIF-UHFFFAOYSA-N zinc;boric acid;dihydroxy(dioxido)silane Chemical compound [Zn+2].OB(O)O.O[Si](O)([O-])[O-] ZFZQOKHLXAVJIF-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 claims description 15
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 14
- 239000010953 base metal Substances 0.000 claims description 10
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 claims description 7
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 239000010970 precious metal Substances 0.000 claims description 6
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 19
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 15
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 14
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 14
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 9
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 8
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 2-ethoxyethanol Chemical compound CCOCCO ZNQVEEAIQZEUHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001252 Pd alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910002113 barium titanate Inorganic materials 0.000 description 3
- JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N barium titanate Chemical compound [Ba+2].[Ba+2].[O-][Ti]([O-])([O-])[O-] JRPBQTZRNDNNOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229920002678 cellulose Polymers 0.000 description 3
- 239000001913 cellulose Substances 0.000 description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 3
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 3
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 3
- SWELZOZIOHGSPA-UHFFFAOYSA-N palladium silver Chemical compound [Pd].[Ag] SWELZOZIOHGSPA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 3
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 3
- 229910018068 Li 2 O Inorganic materials 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 2
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 2
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 2
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N Copper oxide Chemical compound [Cu]=O QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005751 Copper oxide Substances 0.000 description 1
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005407 aluminoborosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 1
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 description 1
- -1 barium aluminosilicate derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 239000012671 ceramic insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229910000431 copper oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013530 defoamer Substances 0.000 description 1
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 description 1
- 238000007606 doctor blade method Methods 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/002—Details
- H01G4/228—Terminals
- H01G4/232—Terminals electrically connecting two or more layers of a stacked or rolled capacitor
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Description
TER MEER · MÖLLER · STEINMEISTER ' -Murat·? Ma-riuf . ~ FP-I
Beschreibung
Gegenstand der Erfindung ist ein Keramikkondensator mit Schichtaufbau und insbesondere ein Keramikschichtkondensator
mit inneren Elektroden aus einem Nichtedelmetall und mit den inneren Elektroden verbundenen gebrannten
äußeren Kupferelektroden..
Ein Keramikkondensator mit Schichtaufbau, wie er in der Fig. 1 dargestellt ist, umfaßt typischerweise eine Vielzahl
von inneren Elektroden 1. Zwischen den inneren Elektroden 1 sind Keramikschichten 2 angeordnet. Die inneren
Elektroden 1 sind mit jeweils einer der äußeren Elektroden 3 verbunden.
Zur Herstellung eines solchen Keramikkondensators mit Schichtaufbau kann man beispielsweise das folgende Verfahren
anwenden. Man bildet mit Hilfe eines Siebdruck-Verfahrens, eines Rakelverfahrens, eines Sprühverfahrens
oder dergleichen ungebrannte Keramikschichten oder -blätter mit einer Dicke von etwa 50 bis 100 μΐη und bedruckt diese ungebrannten
Keramikschichten mit einer Paste, die ein Metallpulver enthält, welches die inneren Elektroden bilden
soll. Dann wird eine Vielzahl der in dieser Weise erhaltenen bedruckten Keramikschichten aufeinandergestapelt
und durch Anwendung von Wärme und Druck zu einem monolithischen Aufbau verbunden. Der in dieser Weise
erhaltene monolithischen Aufbau wird bei einer Temperatur im Bereich von 1250 bis 14000C in der natürlichen Umgebungsatmosphäre
unter Bildung eines Sinterkörpers gebrannt, dessen Endoberflächen mit einer Paste bestrichen
werden, die dann zur Bildung der mit den entsprechenden inneren Elektroden 1 verbundenen äußeren Elektroden
3 gebrannt wird.
-A-
In diesem Fall ist es erforderlich, daß die Materialien zur Ausbildung der inneren Elektroden die folgenden Anforderungen
erfüllen:
(1) Die Materialien müssen Schmelzpunkte aufweisen, die oberhalb der Temperatur liegen, bei der das Keramikmaterial
zu sintern beginnt.
(2) Die Materialien dürfen im Kontakt mit dem Keramikmaterial nicht oxidieren oder damit reagieren, selbst
wenn sie in der natürlichen Umgebungsatmosphäre auf eine Temperatur von etwa 13000C erhitzt werden.
Die Materialien zur Bildung der inneren Elektroden 1, die
die oben angesprochenen Anforderungen erfüllen, umfassen Edelmetalle, wie Palladium, Platin, Silber-Palladium-Legierungen
und dergleichen. Solche Edelmetalle werden für die inneren Elektroden 1 von vielen herkömmlichen Keramikkondensatoren
mit Schichtaufbau verwendet. · 20
Wenngleich die oben angesprochenen Edelmetalle ausgezeichnete
Eigenschaften als Materialien für die inneren Elektroden 1 besitzen, hat der Anteil der Edelmetalle
an den Kosten des Keramikkondensators mit Schichtaufbau aufgrund ihres hohen Preises 20 bis 50 % erreicht, was
zu einer entsprechenden Preiserhöhung führt.
Zur Lösung dieser Probleme sind Versuche unternommen wor-. den, billige Nichtedelmetalle als Materialien für die
inneren Elektroden 1 zu verwenden. Wenn beispielsweise. Nickel als Nichtedelmetall verwendet wird, wird es beim
Erhitzen in einer oxidierenden Atmosphäre bei einer Temperatur oberhalb 3000C oxidiert und reagiert mit dem Keramikmaterial,
so daß es nicht möglich ist, in geeigneter Weise innere Elektroden zu bilden. Zur Verhinderung
TER MEER · MÜLLER · STEINMElSTEi= · - Murata" Manuf. - FP-181 1
der Oxidation des Nickels sollte das Keramikmaterial zusammen
mit dem Material für die inneren Nickelelektroden 1 in einer neutralen oder reduzierenden Atmosphäre gebrannt
werden, wobei jedoch im allgemeinen die Keramikmaterialien derart stark reduziert werden, daß ihr spe-
zifischer Widerstand auf 10 bis 10 Cl «cm vermindert wird,
so daß es nicht möglich ist, sie als Isolierstoff für Kondensatoren zu verwenden.
Andererseits werden die oben beschriebenen äußeren Elektroden 3 durch einen Brennvorgang gebildet. Im allgemeinen
wird als Material zur Herstellung dieser äußeren Elektroden 3 eine Silber oder eine Silber-Palladium-Legierung
enthaltende Paste verwendet. Die Paste wird aufgetragen und dann gebrannt. Dies ist das allgemeine Verfahren.
Ebenso wie im Fall der inneren Elektroden 1 ist jedoch die Verwendung der kostspieligen Edelmetalle für
den Preisanstieg solcher Keramikkondensatoren mit Schichtaufbau verantwortlich. Weiterhin ergeben sich
Nachteile dadurch, daß, wenn ein solcher Keramikkondensator mit Schichtaufbau in Form eines Chip-artigen Bestandteils
auf eine bedruckte Leiterplatte oder dergleichen aufgelötet werden soll, eine erhebliche Menge des
die äußeren Elektroden 3 bildenden Silbers oder der Silber-Palladium-Legierung durch Eindiffundieren in das
Lotmaterial verlorengeht. Wenn weiterhin ein Nichtedelmetall, wie Nickel, Eisen, Kobalt und dergleichen in der
oben beschriebenen Weise zur Ausbildung der inneren Elektroden 1 verwendet wird, ergeben sich Schwierigkeiten
durch eine schlechte elektrische Verbindung, da diese Nichtedelmetalle eine schlechte Affinität für die Edelmetalle
der äußeren Elektroden 3 aufweisen.
Zur Lösung dieser Probleme der äußeren Elektroden 3 ist der Versuch unternommen worden, billiges Kupfer als Ma-
vj ν? ι / α α ο
TER MEER · MÜLLER · STEINMEISTER Mura-.a Manuf. . - FP-181
terial für die äußeren Elektroden 3 uu verwenden. Die
Bildung der äußeren Elektroden 3 aus Kupfer durch Brennen einer Kupferpaste hängt jedoch wesentlich von der
Entwicklung der zusammen mit dem Kupferpulver in einer solchen Paste enthaltenen Glasfritte ab. Wenn die äußeren
Kupferelektroden 3 durch Brennen einer Kupferpaste in der natürlichen Umgebungsatmosphäre unter Verwendung
von Bleiborosilikat, einem repräsentativen Vertreter einer Glasfritte, hergestellt werden, wird das Kupfer
unter Bildung von Kupferoxid oxidiert. Daher ist dieses Material wegen der Steigerung des elektrischen Widerstands
nicht zur Bildung der Elektroden geeignet. Wenngleich man daran denken könnte, eine Kupferpaste in einer
neutralen oder schwach reduzierenden Atmosphäre zu brennen, ergeben sich auch in diesem Fall Nachteile,
wie eine Reduktion des Keramikmaterials, eine Verminderung des Isolationswiderstands des Keramikmaterials und
eine Steigerung des dielektrischen Verlusts.
Zur Lösung dieses Problems schlägt die US-PS 4 353 153 vor, eine Nickel- oder Kupferpaste auf die Endoberflächen
des ungebrannten Keramikkörpers, mit Schichtaufbau, . der nichtreduzierende Substanzen als isolierendes Material
enthält, aufzutragen und dann in einer neutralen oder schwach reduzierenden Atmosphäre zu brennen,
Die in dieser Patentschrift beschriebene Paste ist in der Weise gebildet, daß man pulverförmiges Nickel oder
Kupfer, eine Glasfritte aus Bariumborosilikat oder Bariumalumosilikat
und Mangan unter Bildung eines An-Strichmaterials mit einem organischen Träger vermischt.
Nach der Lehre dieser Patentschrift wird ein Keramikkondensator mit Schichtaufbau in der Weise gebildet,
daß man eine Nickel- oder Kupferpaste auf eine isolierende Schicht aus einer ungebrannten Keramik, die aus
BaTiO3, CaZrO3, BaCO3 und MnO2 besteht, aufträgt, dann
TER MEER -MÜLLER · STEINMEISTFR Muratn Msnuf . - FP-1811
durch Aufeinanderstapeln einer Vielzahl solcher ungebrannter Schichten einen Körper mit Schichtaufbau bildet,
dann die oben beschriebene Nickelpaste auf die Endoberflächen des Schichtkörpers aufträgt und anschließend
den erhaltenen Aufbau während 5 Stunden in einer Argonatmosphäre bei 135O0C brennt.
Wenngleich dieses Verfahren in dem Fall erfolgreich sein kann, daß zur Ausbildung der Anschlußelektroden eine
Nickelpaste verwendet wird, ist es für die Anwendung einer Kupferpaste nicht geeignet, da der Schmelzpunkt
des Kupfers mit 10830C niedriger ist als derjenige von
nickel (1453°C), so daß die Bildung der Elektroden unmöglich ist, da das Kupfer dann schmilzt, wenn die Anschlußelektroden
zusammen mit dem ungebrannten Keramikkörper mit Schichtaufbau gebrannt werden, wie es
oben erläutert worden ist. Wenngleich die Nickelelektroden an sich verwendet werden können, besitzen sie
den Nachteil, daß sie in der Praxis nicht durch Löten mit einer Schaltkreisplatte verbunden werden können, so
daß sich die Notwendigkeit ergibt, eine für den Lötvorgang geeignete Metallschicht, wie eine Silberschicht
oder dergleichen, auf den Nickelelektroden auszubilden.
Andererseits ist ein Verfahren als möglich anzusehen, bei dem zur Ausbildung der äußeren Elektroden eine Kupferpaste
auf den Endoberflächen des Schichtkörpers aus einer nichtreduzierenden Keramik, der bereits gebrannt
worden und innere Elektroden aus einem Nichtedelmetall aufweist, gebrannt wird. In diesem Fall sind Bariumalumosilikat-Derivate
als Glasfritte verwendet worden. Bei Anwendung einer solchen Glasfritte können jedoch äußere
Elektroden mit zufriedenstellenden elektrischen Eigenschaften nicht auf dem Schichtkörper aus der nichtreduzierenden
Keramik gebildet werden.
ο ο i /α υ ο
TER MEER · MÜLLER · STEINMEISTER - Murata Manuf. - FP-1811
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht nun darin, einen Keramikkondensator mit Schichtaufbau der eingangs
angegebenen Gattung zu bilden/ der die Nachteile der oben angesprochenen herkömmlichen Keramikkondensatoren
dieser Art nicht aufweist und unter Anwendung billiger und einfacher Ausgangsmaterialien hergestellt werden
kann.
Diese Aufgabe wird nun gelöst durch die kennzeichnenden merkmale des Keramikkondensators gemäß Hauptanspruch.
Die Unteransprüche betreffen besonders bevorzugte Ausführungsformen dieses Erfindungsgegenstands.
Die Erfindung betrifft somit einen Keramikkondensator mit Schichtaufbau oder Keramikschichtkondensator, der
auf einem Schichtkörper aus einer nichtreduzierenden isolierenden Keramik mit inneren Elektroden aus einem
Nichtedelmetall, wie Nickel, Eisen, Kobalt oder dergleichen, äußere Elektroden aus gebranntem Kupfer bzw. einer
gebrannten Kupferpaste, aufweist.
Erfindungsgemäß wird in den gebrannten Kupferelektroden
als Glas eine Zinkborosilxkatglasfritte verwendet. Durch die Anwendung der Zinkborosilikatglasfritte kann man
einen Keramikkondensator mit Schichtaufbau.erhalten, der ausgezeichnete elektrische Eigenschaften aufweist.
Der erfindungsgemäße Keramikkondensator mit Schichtaufbau
umfaßt isolierende Schichten aus einer nichtreduzierenden Keramik, innere Elektroden aus einem Nichtedelmetall,
wie Nickel, Eisen, Kobalt oder dergleichen, und äußere Elektroden aus gebranntem Kupfer bzw. einer
gebrannten Kupferpaste, die ein Zinkborosilikatglas enthält. Im Vergleich zu Keramikkondensatoren, die unter
Anwendung anderer Glasfritten hergestellt worden sind,
TER MEER ■ MÜLLER · STEINMEISTER . " Murata Mänaf. - FP-1811
besitzt der erfindungsgemäße Keramikkondensator mit Schichtaufbau die Eigenschaft, daß die elektrischen
Eigenschaften von nichtreduzierenden schichtförmigen
Keramikisolierstoffen in wirksamer Weise genützt werden können.
Die Erfindung sei im folgenden näher unter Bezugnahme auf die beigefügte Zeichnung erläutert. In der einzigen
10
10
Fig. 1 ist eine Schnittansicht eines typischen Aufbaus eines Keramikkondensators mit
Schichtaufbau wiedergegeben.
Bei dem in der Fig. 1 dargestellten erfindungsgemäßen
Keramikkondensator werden als Materialien zur Bildung der inneren Elektroden 1 billige Nichtedelmetalle, wie
Nickel, Eisen, Kobalt oder dergleichen verwendet.
Im Fall von Nickel, Eisen, Kobalt und dergleichen als Materialien zur Ausbildung der inneren Elektroden 1
wird, ähnlich wie bei der üblichen Methode, eine Paste, die mindestens eines dieser Metalle in Pulverform enthält,
auf ein ungebranntes Keramikblatt oder eine ungebrannte Keramikschicht aufgedruckt, wonach die Keramikschichten
zusammen mit der Metallpaste in einer neutralen oder reduzierenden Atmosphäre gebrannt werden.
Zur Vermeidung der sich durch die Reduktion der Keramikmaterialien ergebenden Probleme werden nichtreduzierende,
isolierende Keramikmassen verwendet. Im folgenden sind Beispiele solcher nichtreduzierenden
isolierenden Keramikmassen angegeben.
(1) Nichtreduzierende, isolierende Keramikmassen auf der Grundlage von Bariumtitanat-Keramikmaterialien
OJ I /300 TER MEER · MÖLLER · STEINMEISTER - Muräta Manuf. - FP-1811
der folgenden Summenformel:
· (Ti Zr )0„,
in. der m, χ und y innerhalb der folgenden Bereiche liegen: .
1,005 = m = 1,03,
0,02 ^ χ = 0,22 u ο < y = 0,20.
(2) Nichtreduzierende, isolierende Keramikmassen auf der Grundlage von Bariumtitanat-Keramikmaterialien
der folgenden Summenformel: 15
((Ba1^yCaxSr7)O]1n - TiO.,,
in der m, χ und y innerhalb der folgenden Bereiche liegen:
20
20
1,005 = m = 1,03,
0,02 = χ = 0,22 und 0,05 ^y= 0,35'.
(3) Nichtreduzierende, isolierende Keramikmassen auf der Grundlage von Bariumtitanat-Keramikmaterialien
der folgenden Summenformel:
in der m, x, y und ζ innerhalb der folgenden Be reiche liegen:
1,005 = m = 1,03,
0,02 = χ = 0,22,
TER meer -möller · Steinmeister Murata Manuf. - FP-1811
- 11 -
0,05 = y = 0,35 und
0,00 < ζ = 0,20.
0,00 < ζ = 0,20.
(4) Nichtreduzierende, isolierende Keramikmassen, die
CaZrO3 und MnO2 enthalten und der folgenden allgemeinen
Formel entsprechen:
Ca ZrO-, + VMhO0,
XJ. £
in der χ des Bestandteils Ca ZrO, innerhalb des
nachfolgend angegebenen Bereichs liegt und MnO„
in der folgenden Gewichtsmenge (= y) vorhanden ist, wenn das Gewicht von CaxZrO3 als 1,00 angesetzt
wird:
15
15
0,85 = χ = 1,30
0,05 = y = 0,08 (Gewichtsverhältnis).
(5) Nichtreduzierende, isolierende Keramikmassen, die (BaCa)ZrO3 und MnO2 enthalten und der folgenden
allgemeinen Formel entsprechen:
(BaxCa1_x)yZrO3 + zMnO2,
in der χ und y des Bestandteils (Ba Ca1- ) ZrO.,
X I ™"X y j
innerhalb der nachfolgend angegebenen Bereiche liegen und der Bestandteil MnO2 (= z) in den angegebenen
Mengenverhältnissen enthalten ist, wenn die Menge des Bestandteils (BaCa, )„ZrO-, als 1,00
X I X Jj" Jj
angenommen wird:
0 < χ = 0,20
0,85 = y = 1,30
0,85 = y = 1,30
0,005 = ζ =0,08 (Gewichtsverhältnis). 35
J\5 17 31-O J
TER MEER · MÜLLER · STEINMEISTER ' : M.uräta Manuf. - FP-1 81
Das Brennen dieser nichtreduzierenden, isolierenden Keramikmassen
(1) bis (5) selbst in einer neutralen oder reduzierenden Atmosphäre führt nicht zu einer Verminderung
des Isolationswiderstands oder zu einer Steigerung des dielektrischen Verlusts der Keramik. Da diese
nichtreduzierenden, isolierenden Keramikmassen (1) bis (5) in einer neutralen oder reduzierenden Atmosphäre
gebrannt werden können, kann man Nichtedelmetalle, wie Nickel, Eisen, Kobalt oder dergleichen zur Bildung der
inneren Elektroden verwenden, da in dieser Weise verhindert wird, daß die Nichtedelmetalle oxidieren oder mit
den Keramikmaterialien reagieren.
Zinkborosilikat wird als Glasfritte in der Kupferpaste
verwendet, die erfindungsgemäß zur Ausbildung der äußeren Elektroden 3 eingesetzt wird. Durch die Anwendung
einer Glasfritte der nachfolgend angegebenen Zusammensetzung wird es möglich, die Kupferpaste vorteilhafterweise
in einer neutralen oder reduzierenden Atmosphäre zu brennen.
Konkrete Zusammensetzungen dieser Zinkborosilikatglasfritte
sind die folgenden:
30 bis 55 Gew.-% ZnO,
25 bis 45 Gew.-% B3O3,
5 bis 15 Gew.-% SiO2,
1 bis 10 Gew.-% mindestens eines Vertreters der
Li3O, Na3O und K3O umfassenden Gruppe und
2 bis 20 Gew.-% mindestens eines Vertreters der
MgO, CaO und BaO umfassenden Gruppe.
Weiterhin kann man Glasfritten der obigen Zusammensetzung verwenden, die die folgenden zusätzlichen Bestandteile
enthalten:
TER MEER · MÜLLER · STEINMEISTER " Murata Mandf. - FP-1811
- 13 -
2 bis 8 Gew.-% CdO,
2 bis 10 Gew.-%
2 bis 10 Gew.-%
Im folgenden ist ein weiteres konkretes Beispiel einer Zinkborosilikatglasfritte angegeben:
25 bis 40 Mol-% ZnO,
15 bis 40 Mol-% B3O3,
15 bis 40 Mol-% SiO2,
5 bis 30 Mol-% (CaO + MgO),
0 bis 5 Mol-% Al2O3 und
0 bis 10 Mol-% Li2O.
Durch Vermischen der nachfolgend angegebenen Bestandteile in dem angegebenen Mengenverhältnis bildet man eine die
Zinkborosilikatglasfritte enthaltende Kupferpaste:
57 bis 82 Gew.-% Kupferpulver (Teilchengröße: 0,5 bis 10 μΐη)
2 bis 8 Gew.-% Glasfritte
(Teilchengröße: 0,5 bis 2 μπι) und
15 bis 35 Gew.-% eines organischen Trägers.
Die folgenden Beispiele dienen der weiteren Erläuterung der Erfindung.
Man bereitet eine Rohmaterialaufschlämmung in der Weise,
daß man 15 Gew.-% einer gemischten wäßrigen Lösung eines organischen Bindemittels, eines Dispergiermittels
und eines Entschäumers und 50 Gew.-% Wasser zu einem vorgebrannten Rohmaterial der folgenden Summenformel:
i(Ba0,91Ca0,10)O}i,01 (Ti0,84Zr0,16>°2
OO I / Ό TER MEER · MÜLLER - STEINMEISTFR . Murati Maiiuf. -FP-1811
zusetzt/ wonach man die Aulschlämmung mit 50 Gew.-%
Wasser in einer Kugelmühle vermahlt und vermischt. Durch Anwendung dieser Rohmaterialaufschlämmung bereitet
man mit Hilfe eines Rakelverfahrens ungebrannte Keramikblätter mit einer Dicke von 60 um. Die ungebrannten
keramikblätter werden zur Bildung der inneren Elektrodenmuster mit einer pulverförmiges Nickel
mit einer Teilchengröße von etwa 1 μΐη enthaltenden Paste
bedruckt. Anschließend werden 20 solcher ungebrannter Keramikblätter aufeinandergestapelt, wobei die inneren
Elektroden einander gegenüberliegen, und durch Anwendung von Wärme und Druck zu einem monolithischen
Aufbau zusammengefügt. Der monolithische Aufbau wird zunächst an der Luft auf 5000C erhitzt, um das in den
ungebrannten Keramikblättern und der Paste für die inneren Elektroden enthaltende organische Bindemittel zu
verbrennen, und werden kann in einer reduzierenden Wasserstoff/Stickstoff-Atmosphäre
(H2/N2 = 2/100) mit einer
Temperatursteigerungsgeschwindigkeit von 1000C pro Stunde auf 13400C erhitzt. Nach dem 2-stündigen Aufrechterhalten
der Temperatur von 13400C wird das Material
mit einer Abkühlgeschwindigkeit von 1000C pro Stunde auf 8000C abgekühlt, wonach man das Material
sich in der Atmosphäre auf Raumtemperatur abkühlen läßt.
Dann trägt man eine Kupferpaste der nachfolgenden Zusammensetzung auf die Endflächen der in'dieser Weise
erhaltenen gebrannten Probe auf. Die Kupferpaste zur Bildung der äußeren Elektroden zur elektrischen Verbindung
des Kondensators besitzt die folgende Zusammensetzung:
75 Gew.-% pulverförmiges Kupfer (Teilchengröße 1 bis 5 μΐη) ,
TER MEER · MÜLLER · STEINMEISTER '■ Mura'ta MaTxUf.".- FP-1 81 1
- 15 -
5 Gew.-% Zinkborosilikatglasfritte (Teilchengröße 0,5 bis 2 um)
20 Gew.-% organischer Träger.
Die in diesem Beispiel verwendete Glasfritte besteht aus einem Zinkborosilikat der folgenden Zusammensetzung:
45 Gew.-% ZnO,
30 Gew.-% B2O3,
10 Gew.-% SiO2,
6 Gew.-% Li2O und
9 Gew.-% BaO.
30 Gew.-% B2O3,
10 Gew.-% SiO2,
6 Gew.-% Li2O und
9 Gew.-% BaO.
Als organischen Träger verwendet man in Cellosolve gelöste Cellulose.
Anschließend brennt man die Kupferpaste während 30 Minuten
in einer schwach reduzierenden Atmosphäre bei 8000C unter Bildung der äußeren Elektroden.
Der in dieser Weise erhaltene Keramikkondensator mit Schichtaufbau besitzt die folgenden Eigenschaften:
Größe: Breite =4,8 mm, Länge 5,6 mm,
Dicke =1,0 mm Kapazität: 0,85 uF
Dielektrischer 2,50 %
Verlust (tan δ) :
Dielektrischer 2,50 %
Verlust (tan δ) :
Isolationswider- 3,0 χ 10 il'cm
stand (IR):
Kapazität χ IR: 2550
Kapazität χ IR: 2550
..OJ ί / y Ö
TER MEER -MÜLLER · STEINMEISTER Mura-ta Manuf. -: FP-1811
" - 16 -
Man trägt Kupferpasten der nachfolgend angegebenen Zusammensetzungen
auf die Endoberflächen des gemäß Beispiel 1 erhaltenen vorgebrannten Materials zur Ausbildung
der äußeren Elektroden auf.
Zusammensetzung der Kupferpaste des Vergleichsbeispiels 1A:
75 Gew.-% pulverförmiges Kupfer (Teilchengröße = 1 bis 5 μΐη)
5 Gew.-% Bariumborosilikatglasfritte (Teilchengröße = 0,5 bis 2 um)
20 Gew.-% organischer Träger. 15
Die in dem Vergleichsbeispiel 1A verwendete Glasfritte des Bariumborosilikat-Typs besitzt die folgende Zusammensetzung:
40 Gew.-% BaO,
50 Gew.-% B3O3 und
50 Gew.-% B3O3 und
10 Gew.-% 2,
während als organischer Träger in Cellosolve gelöste Cellulose eingesetzt wird.
während als organischer Träger in Cellosolve gelöste Cellulose eingesetzt wird.
Die für das Vergleichsbeispiel 1B verwendete Kupferpaste
besitzt die folgende Zusammensetzung:
73 Gew.-% pulverförmiges Kupfer (Teilchengröße = 1 bis 5 um) 7 Gew.-% Alumoborosilikatglasfritte
(Teilchengröße = 0,5 bis 2 um) 20 Gew.-% organischer Träger.
Die in dem Vergleichsbeispiel 1B verwendete Glasfritte
ist eine Fritte des Alumoborosilikat-Typs aus
TER MEER -MÜLLER · STEINMEISTER
Mur.ata- Manuf.'. r FP-1811
- 17 -
40 Gew.-% Al3O3,
50 Gew.-% B3O3 und
10 Gew.-% 2 während als organischer Träger in Cellosolve gelöste
Cellulose eingesetzt wird.
10
Die Proben der Kupferpasten der Vergleichsbeispiele 1A
und 1B werden auf die Endflächen der gebrannten Schicht gefüge aufgetragen und während 30 Minuten in einer
schwach reduzierenden Atmosphäre auf 8000C erhitzt, um an den Endoberflächen gebrannte Kupferelektroden zu bil
den.
Die Eigenschaften der in dieser Weise erhaltenen Keramikkondensatoren
mit Schichtaufbau sind im folgenden angegeben:
| Beispiel | Kapazität | Dielektrischen Verlust tan 6 (%) |
IR (a -cm) | Kapazität χ IR (Mil-uF) |
| 1A 1B |
0,01 (uF) 1200 (pF) |
7,8 4,8 |
4,7 χ 109 7 χ 1011 |
470 840 |
25 Beispiel 2
Man verwendet eine Keramikmasse der folgenden Summenfor mel:
30
Als Glasfritte verwendet man ein Zinkborosilikatglas aus 41 Gew.-% ZnO,
28 Gew.-% B2O,.,
8 Gew.-% SiO-,
TER MEER · MÜLLER · STEINMEISTER
oj ι/üb
Murata Manuf. - FP-1811
- 18 -
7 Gew.-% Na2O,
4 Gew.-% CaO,
6 Gew.-% CdO und
6 Gew.-%
Anschließend bildet man nach der Verfahrensweise von Beispiel 1 Keramikkondensatoren mit Schichtaufbau. Die
Eigenschaften des in dieser Weise erhaltenen Keramikkondensators mit Schichtaufbau sind nachfolgend angegeben:
10
| Beispiel | Kapazität | Dielektrischer Verlust tan 6 (%) |
IR | (ft. | cm) | Kapazität χ IR (ΜΛ.μΓ) |
| 2 | 1 ,05 | 2,40 | 4,8 | X | 109 | 4900 |
15
Unter Anwendung der in Beispiel 2 beschriebenen Materialien und den Bedingungen der Vergleichsbeispiele 1A
bzw. 1B bereitet man Keramikkondensatoren mit Schichtaufbau. Die Eigenschaften der in dieser Weise erhaltenen
Keramikkondensatoren mit Schichtaufbau sind nachfolgend angegeben:
25
25
30
| Beispiel | Kapazität | Dielektrischer Verlust tan 6 |
IR (Λ-cm) | Kapazität χ IR (MiL-uF) |
| 2A 2B |
450 nF 150 pF |
6,9 4,5 |
1,5 χ 109 5,3 χ 1011 |
680 800 |
Man verwendet eine Keramikmasse der folgenden Summen-
TER MEER · MÜLLER ■ STEINMEISTER
Mur-ata Manof . τ FP1811
- 19 -
formel:
i(Ba0,76Ca0,05Sr0,20)O3i,01(Ti0,92Zr0,08)O2
in Kombination mit einer Zinkborosilikatglasfritte der in Beispiel 1 angegebenen Zusammensetzung. Dann bereitet
man nach der Verfahrensweise von Beispiel 1 Keramikkondensatoren mit Schichtaufbau. Die Eigenschaften der
in dieser Weise erhaltenen Keramikkondensatoren mit Schichtaufbau sind im folgenden angegeben:
15
| Beispiel | Kapazität (UF) |
Dielektrischer Verlust tan 6 (%) |
IR | (Xl- | cm) | Kapazität χ IR (Mil-uF) |
| 3 | 0,85 | 2,50 | 4,1 | X | 109 | 3485 |
Unter Anwendung des Rohmaterials der in Beispiel 3 angegebenen Zusammensetzung bildet man unter Anwendung
der Bedingungen der Beispiele 1A bzw. 1B Keramikkondensatoren
mit Schichtaufbau. Die Eigenschaften der in dieser Weise erhaltenen Keramikkondensatoren mit
Schichtaufbau sind nachfolgend angegeben.
Kapazität
Dielektrischer Verlust tan δ
IR (Cl-cm)
Kapazität χ IR
30
3A 3B
540 nF 190 pF
7,5 3,9
7,2 χ 10 1,4x10
8 11
388 26,6
Das hier verwendete Keramikmaterial besitzt die folgende
TER MEER · MÜLLER ■ STEINMEISTER
Murat2 Manuf. - FP1811
- 20 -
Zusammensetzung:
Ca1 nZrO.j + 2 Gew.-% MnO0.
I , U J £·
Man verwendet die in Beispiel 1 beschriebene Zinkborosilikatglasfritte
und stellt unter Anwendung der Verfahrensweise von Beispiel 1 Keramikkondensatoren mit
Schichtaufbau her.
Die Eigenschaften der in dieser Weise erhaltenen Keramikkondensatoren
mit Schichtaufbau sind nachfolgend angegeben:
15
| Beispiel | Kapazität bei 1 MHz |
Q-Wert (1 MHz) |
IR (il'Cm) | Kapazität χ IR (MO, \iF) |
| 4 | 4,2 nF | 8000 | 2,5 χ 1012 | 10500 |
20
Unter Verwendung von Rohmaterialien der in Beispiel 4 angegebenen Zusammensetzung und der Bedingungen der
Vergleichsbeispiele 1A bzw. 1B bildet man Keramikkondensatoren
mit Schichtaufbau. Die Eigenschaften der in dieser Weise erhaltenen Keramikkondensatoren mit
Schichtaufbau sind nachfolgend angegeben.
30
| Beispiel | Kapazität | Q-Wert (1 MHz) |
IR (α-cm) | Kapazität χ IR (Mß-uF) |
| 4A 4B |
800 pF 150 pF |
200 85 |
7 χ 1012 1,0 χ 1013 |
5600 1500 |
35
Man verwendet ein Rohmaterial der folgenden Zusammenset-
TER MEER - MÜLLER · STEINMEISTER
Murats. Mamrf. -- FP1811
- 21 -
zung:
(BaO,1CaO,9*1,0 Zr03 + 3
--% Mn02·
Die verwendete Zinkborosilikatglasfritte entspricht der
in Beispiel 1 verwendeten.
Nach der Verfahrensweise von Beispiel 1 bereitet man Keramikkondensatoren mit Schichtaufbau, deren Eigenschäften
in der nachfolgenden Tabelle angegeben sind.
| Beispiel. | Kapazität | Q-Wert (1 MHz) |
IR (/L-cm) | Kapazität χ IR |
| 5 | 6,7 nF | 12000 | 3,0 χ 1012 | 20100 |
Unter Anwendung des· Rohmaterials der in Beispiel 5 angegebenen
Zusammensetzung und der Bedingungen der Vergleichsbeispiele 1A bzw. 1B bereitet man Keramikkondensatoren
mit Schichtaufbau, deren Eigenschaften nachfolgend angegeben sind.
25 Beispiel
Kapazität
Q-Wert (1 MHz)
IR (il-cm)
Kapazität χ IR (MfL-
5A 5B
1,8 nF 150 pF
750 180
4,2 χ 10 1,7 χ 10
11 13
756 2550
Zl
- Leerseite -
Claims (2)
- 33Ί7963TER MEER-MULLER-STEINMEISTERPATENTANWÄLTE — EUROPEAN PATENT ATTORNEYSDipl.-Chem. Dr. N. ter Meer Dipl.-Ing. H. SteinmeisterDipl.-lng, F. E. Müller Artur-Ladebeck-Strasse 51Tnftstrasse 4,D-8000 MÜNCHEN 22 D-4800 BIELEFELD 1tM/cb 17. Mai 1983Case FP-1811MURATA MANUFACTURING CO., LTD. 26-10, Tenjin 2-chomeNagaokakyo-shi, Kyoto-fu/JapanKeramikkondensator mit SchichtaufbauPriorität: 04. April 1983, Japan, Nr.Patent an s ρ r ü c h e1J Keramikkondensator mit Schichtaufbau mit einer Vielzahl von schichtförmigen inneren Elektroden, Keramikschichten, die zur Schaffung der elektrostatischen Kapazität zwischen jeweils zwei der inneren Elektroden angeordnet sind, und einem Paar äußerer Elektroden, die mit den jeweils zusammengefaßten inneren Elektroden verbunden sind, zur Abführung der elektrostatischen Kapazität, dadurch gekennzeichnet , daß die Keramischichten (2) aus nichtreduzierender Keramik, die inneren Elektroden (1) aus einem Nichtedelmetall und die äußeren Elektroden (.3) aus Zinkborosilikatglas enthaltendem gebranntem Kupfer bestehen.TER MEER · MÜLLER ■ STElNMElSTEiR Mur'aca Mamif... FP-1811
- 2. Keramikkondensator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß die inneren Elektroden (1) aus mindestens einem Nichtedelmetall aus der Nickel,Eisen und Kobalt umfassenden Gruppe bestehen. 53. Keramikkondensator nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß das in den äußeren Elektroden (3) enthaltene Zinkborosilikatglas die folgende Zusammensetzung aufweist:30 bis 55 Gew.-% ZnO,
25 bis 45 Gew.-% B3O3,
5 bis 15 Gew.-% SiO3,1 bis 10 Gew.-% mindestens eines Vertreters der Li 0, Na 0 und K3O umfassendenGruppe und2 bis 20 Gew.-% mindestens eines Vertretersder MgO, CaO und BaO umfassenden Gruppe.
204. Keramikkondensator nach Anspruch 1I, dadurch gekennzeichnet , daß das in den äußeren Elektroden (3) enthaltene Zinkborosilikatglas die folgende Zusammensetzung aufweist:30 bis 55 Gew.-% ZnO,
25 bis 45 Gew.-% B3O3,
5 bis 15 Gew.-% SiO3,1 bis 10 Gew.-% mindestens eines Vertreters der Li„0, Na3O und K3O umfassendenGruppe,2 bis 20 Gew.-% mindestens eines Vertretersder MgO, CaO und BaO umfassenden Gruppe,2 bis 8 Gew.-% CdO und
2 bis 10 Gew.-% SnO3.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
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| DE3317963C2 DE3317963C2 (de) | 1987-01-08 |
Family
ID=13125134
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE3317963A Expired DE3317963C2 (de) | 1983-04-04 | 1983-05-17 | Keramikkondensator mit Schichtaufbau |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4451869A (de) |
| JP (1) | JPS59184511A (de) |
| DE (1) | DE3317963C2 (de) |
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| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
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Ipc: H01G 4/12 |
|
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition |