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DE3344320A1 - Universelle karte fuer ein kernreaktorschutzsystem - Google Patents

Universelle karte fuer ein kernreaktorschutzsystem

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Publication number
DE3344320A1
DE3344320A1 DE19833344320 DE3344320A DE3344320A1 DE 3344320 A1 DE3344320 A1 DE 3344320A1 DE 19833344320 DE19833344320 DE 19833344320 DE 3344320 A DE3344320 A DE 3344320A DE 3344320 A1 DE3344320 A1 DE 3344320A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
card
test
logic
nuclear reactor
cards
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19833344320
Other languages
English (en)
Inventor
Christian Kent 94043 Mt. View Calif. Apple
William David 95136 San Jose Calif. Hill
Gary Steven 02919 Johnston R.I. Loomis
William Anthony 95008 Campbell Calif. Mercanti Jr.
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
General Electric Co
Original Assignee
General Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by General Electric Co filed Critical General Electric Co
Publication of DE3344320A1 publication Critical patent/DE3344320A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21DNUCLEAR POWER PLANT
    • G21D3/00Control of nuclear power plant
    • G21D3/001Computer implemented control
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21CNUCLEAR REACTORS
    • G21C17/00Monitoring; Testing ; Maintaining
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00Energy generation of nuclear origin
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00Energy generation of nuclear origin
    • Y02E30/30Nuclear fission reactors

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
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  • Theoretical Computer Science (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Programmable Controllers (AREA)
  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)

Description

  • Universelle Karte für ein Kernreaktorschutzsystem
  • Die Erfindung bezieht sich auf Kernreaktoranlagen und betrifft insbesondere ein Kernreaktorschutzsystem und ein Selbsttestsystem. Insbesondere ist im folgenden eine universelle Logikkarte beschrieben, die in eine beliebige Anzahl von Kanälen innerhalb eines solchen Kernreaktorschutzsystems einfügbar ist. Beispielsweise ist zwischen Meßfühlern, wie beispielsweise Kernüberhitzungsfühlern, und einer entsprechenden Sicherheits- oder Betriebsfunktion, wie beispielsweise dem Einführen von Bor zum Abschalten eines Reaktors, die universelle Logikkarte nach der Erfindung angeordnet, wobei die auf ihr enthaltene vorprogrammierbare Digitallogik dem besonderen Kanal angepaßt ist, in den die Karte eingefügt ist. Die Karte, die vorprogrammiert wird, um sie der Kanallogik anzupassen, führt die notwendige Kanallogik zum Aktivieren des Schutzsystems aus, spricht auf einen systemweiten Test an, bei dem Impulse kurzer Dauer benutzt werden, die für das tatsächliche Betriebssystem transparent sind, und führt ständig den Selbsttest aus, wenn entweder das tatsächliche System nicht im Einsatz ist oder die generischen Tests unter dem Systemkontroller nicht ausgeführt werden.
  • Die Erfindung bezieht sich auf ein Selbsttestuntersystem für ein Kernreaktorschutzsystem. Die Anmelderin nimmt hiermit auf ihre ältere deutsche Patentanmeldung P 33 22 509.5 Bezug.
  • Kernreaktorschutzsysteme enthalten elektronische Steuereinrichtungen, die typisch in einem diskreten Digital-und Analog format innerhalb von Schaltungskarten ausgeführt sind. Diese Schaltungskarten sind zwischen Vorrichtungen, wie beispielsweise Meßfühlern (z.B. zum Erkennen einer Kernüberhitzung), und Steuereinrichtungen (z.B. für das Einführen von Bor zum Abschalten eines Reaktors) angeordnet. Gemäß der älteren Anmeldung erfolgt eine ständige Überwachung des Kernreaktorschutzsystems durch einen Systemkontrollermikroprozessor. Dieser Systemkontrollermikroprozessor adressiert seriell Schutzsystemschaltungskarten und lädt sie an vorbestimctten Eingangspunkten mit Testkommandos. Die adressierten Karten werden anschließend durch ein systemweites Kommando gleichzeitig aktiviert. Es wird ein Testimpuls ausgesendet, dessen Dauer so kurz ist, daß er für das Reaktorschutzsystem transparent ist und deshalb nicht den Gesamtreaktorschutzsystembetrieb verursachen kann.
  • Die transparenten Impulse gehen jedoch durch die tatsächlichen betätigenden elektrischen Komponenten der Karten hindurch, um auf dem wirklichen Betätigungsweg die Funktionstüchtigkeit des Systems zu bestätigen. Nach einem geeigneten Ansprechintervall wird der Ausgangszustand des Systems in systemweiten residenten Registern aufgezeichnet. Anschließend wird, wenn die in diesen Registern enthaltenen Antwortdaten in dem aufgezeichneten Zustand festgehalten sind, das Ausgangssignal durch einen Überwachungscomputer gelesen, der typisch der Systemkontrollermikroprozessor ist. Das Ergebnis wird mit dem erwarteten Ausgangssignal verglichen, das bereits in dem Computerspeicher enthalten ist. Wenn die Übereinstimmung zwischen dem Speicherausgangssignal und dem Registerausgangssignal festgestellt wird, wird der nächste sequentielle Satz von Testkommandos ausgeführt. Wenn keine Übereinstimmung festgestellt wird, wird automatisch eine Unterprogrammsuche ausgeführt, um den Fehler aufzufinden. Ein Protokoll der Redundanz sogar innerhalb des Testsystems ist in der älteren Anmeldung beschrieben.
  • In dem oben beschriebenen System muß jeder Kanal innerhalb der Kernreaktoranlage und des Kernreaktorschutzsystems selbst mit diskreten Logikelementen, wie beispielsweise einfachen Gattern und 11Relaisbäumen", diskret verdrahtet werden, und hunderte von solchen Karten müssen für die vielen Kanäle in einem Kernreaktorschutzsystem auf Lager gehalten werden, der Kartenbestand ist groß, und der Aufbau von zahlreichen diskreten festverdrahteten Logikschaltungen macht den Entwurf, die Herstellung und die Lagerhaltung in einer Kernreaktoranlage unnötig kompliziert.
  • Das Ausführen einer Logikschaltungsanordnung in Software ist bekannt. Das Ausführen von Digitallogik in Software für die wesentlichen Funktionen, die bei einer Fehlfunktion die Qualität der Umgebung beeinträchtigen können, beispielsweise durch nukleares Niederschmelzen, Strahlungsleckage oder andere lebensgefährliche Unfälle, ist jedoch bislang nicht angewandt worden. Kurz gesagt, die Softwarelogik ist als Kandidat zum Erset~en einer diskreten Digitalschaltungsanordnung nicht zugelassen worden, weil es nicht möglich ist, das korrekte Arbeiten der Software nachzuprüfen.
  • Die Erfindung schafft eine universelle Logikkarte, die sowohl eine vorprogrammierte Funktionsschaltungsanordnung zum Betätigen der Kanallogik als auch eine zweckbestimmte Testschaltungsanordnung zum Testen der Funktionsschaltungen enthält. Das ermöglicht eine ständige Schleifenabfragung der vorprogrammierten Kanallogik, wenn kein Systemkontrollertest ausgeführt wird. Die Karte nach der Erfindung befindet sich als ein Kanal in einem Reaktorschutz system für eine Kernreaktoranlage. Die Karte ist in einem Software-Festwertspeicher (ROM) vorprogrammiert, um äq#uivalent zu einer diskreten Schaltungsanordnung während des tatsächlichen Anlagenbetriebes zu arbeiten.
  • Darüber hinaus spricht die Karte auf die systemgesteuerte Überwachung des Selbsttestsystems an. Bei der systemgesteuerten Überwachüng adressiert ein zentraler Mikroprozessor seriell Systemschaltungskarten, wie beispielsweise die beschriebene, und lädt an vorbestimmten Eingangspunkten Testkommandos in diese Karten. Die adressierten Karten werden anschließend durch ein systemweites Kommando gleichzeitig aktiviert. Ein Testimpuls, dessen Dauer so kurz ist, daß er für das System transparent ist und deshalb nicht den Gesamtbetrieb verursachen kann, wird ausgelöst. Der Impuls geht durch die vorprogrammierte Kanallogik auf der universellen Karte längs der tatsächlichen programmbetätigten Komponenten hindurch, um auf dem wirklichen Betätigungsweg die Funktionstüchtigkeit des Systems nachzuprüfen.
  • Nach einem geeigneten Antwortintervall wird der Ausgangszustand des Systems in Ausgangsregistern aufgezeichnet und dann unter der Steuerung von dem Kontrollercomputer her gelesen. Schließlich wird die programmierte Karte in Abwesenheit eines systemweiten Tests durch einen Schleifensekundärcomputer überwacht, der sich auf der Karte befindet und ausschließlich für Selbsttestzwecke benutzt wird. Dieser Computer liest die Karteneingangs- und -ausgangssignale, überprüft die RAM (Speicher mit wahlfreiem Zugriff) - und ROM-Speicher, überwacht ständig die Systemzeitgeber und prüft in Abhängigkeit von dem Gesamtzustand die Genauigkeit der Übertragungsfunktion innerhalb der Karte nach. Diese Testschaltungsanordnung wird nur bei einem Systemkontrollertest gesperrt und bleibt sogar während der tatsächlichen Systembetätigung unter Verwendung der programmierten Digitallogik in Betrieb.
  • Die Erfindung schafft eine Karte zum Einfügen in ein Kernreaktorschutzsystem, die programmiert werden kann, so daß sie einer Vielzahl von Steuerkanälen angepaßt werden kann.
  • Die Karte enthält mehrere Digitaleingangskanäle, mehrere Digitalausgangskanäle und eine programmierbare Digitallogik, die dazwischen enthalten ist. Die Digitallogik ist in einem nichtflüchtigten ROM enthalten. Diese Logik wird für den Kunden maßgeschneidert, um eine Analog- und Digitalschaltungsanordnung von diskreten Kanälen entweder in Form von Logikgattern oder von Booleschen Gleichungen zu emulieren, mit denen jeweils Zeitgeberfunktionen unterschiedlicher Dauer verbunden sind. Die vorprogrammierte Karte führt die programmierte Logikfunktion zwischen ihrem Eingang und ihrem Ausgang aus, um die notwendige Reaktion des Kernreaktorschutzsystems durch verwendbare Übertragungsfunktionen zu liefern.
  • Ein Vorteil der beschriebenen programmierbaren Logik ist, daß dieselbe Karte in dem gesamten System universell eingesetzt werden kann. Es braucht nur die Programmierung der verteilten Intelligenz auf der Karte geändert zu werden.
  • Diese Programmierung, die typisch in Form eines programmierbaren ROM erfolgt, paßt die universelle Karte der besonderen Kanallogik in dem System an.
  • Ein weiterer Vorteil der Erfindung ist, daß der Lagerbestand verringert wird. Für viele Verwendungszwecke braucht nur der programmierte ROM der Karte eingefügt zu werden, um die Karte dem Anordnen an irgendeiner Stelle innerhalb eines Kernreaktorschutzsystems anzupassen.
  • Weiter kann die vorprograrntnierbare universelle Logikkarte nach der Erfindung an einem systemweiten Test teilnehmen. Gemäß diesem Aspekt der Erfindung wird eine Testschaltungsanordnung beschrieben. Diese Testschaltungsanordnung ist in der Lage, serielle Daten unter der Steuerung des Selbsttestsystemkontrollers einzulesen und anschließend Systemtests auf das Signal aus dem Selbsttestsystemkontroller hin aus zuführen. Nach dem Systemtest erfolgt das Schreiben an dem Kartenausgang. Das entsprechende Kartenausgangssignal wird anschließend gelesen und mit dem erwarteten Ergebnis durch den Selbsttestsystemkontroller verglichen. Wenn die Korrelation mit dem erwarteten Ergebnis festgestellt wird, ist der Test bestanden, wenn dagegen die Korrelation mit dem erwarteten Ergebnis nicht festgestellt wird, ist der Test nicht bestanden und die Logikkarte wird ausgetauscht.
  • Ein Vorteil dieses Aspekts der Erfindung ist, daß die pr#ogrammierbare Logikkarte wie ihre analogen und diskreten digitalen Vorgänger in der Lage ist, an einem systemweiten Test teilzunehmen. Bei diesem systemweiten Test werden notwendigerweise die tatsächlichen elektronischen Komponenten der programmierten universellen Logikkarte benutzt, die für den tatsächlichen Systemeinsatz erforderlich sein würden.
  • Einfach ausgedrückt, der wirkliche Betätigungsweg des Systems wird getestet.
  • Weiter schafft die Erfindung eine bei Nichtvorhandensein eines Systemtests eingesetzte Überwachungslogik, die sich auf die besondere universelle Logikkarte, die eingefügt wird, beschränkt. Gemäß diesem Aspekt der Erfindung und bei Nichtvorhandensein von Systemtests unter der Steuerung des Systemkontrollers liest die begrenzte Testlogik auf der Karte die Karteneingangssignale, prüft RAM und ROM auf Fehler, prüft den Betriebsstatus der Systemzeitgeber nach, führt tatsächliche Aufrufe an die Systemzeitgeber aus, um deren Betrieb nachzuprüfen, und prüft schließlich die erforderlichen übertragungsfunktionen von digitalen logischen Signalen vom Eingang zum Ausgang der Karte nach.
  • Ein Vorteil dieses Aspekts der Erfindung ist, daß die Karte ihre eigene diskret programmierte Kanallogik testet.
  • Diese Kanallogik wird ständig auf richtiges Arbeiten überprüft, und, wenn das richtige Arbeiten nicht festgestellt wird, wird das System gekennzeichnet, damit die Karte ausgetauscht wird. Anschließend und nach einer Systemabfrage durch den Selbsttestkontroller wird die Karte sofort als fehlerhaft gekennzeichnet.
  • Ein Vorteil dieses Aspekts der Erfindung ist, daß der beschriebene Selbsttest in der universell programmierbaren Karte die digitale Emulation#der Analog- und Digi-#tallogik steigert. Ein höherer Grad an Zuverlässigkeit 8(Schnellübersetzung) wird erreicht, obgleich die universelle Karte mit diskret programmierbarem Speicher benutzt wird, um Analog-und Digital schaltungen zu ersetzen.
  • Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird im folgenden unter Bezugnahme auf die Zeichnungen näher beschrieben.
  • Es zeigen Fig. 1 ein Blockschaltbild eines Kernreaktorschutzsystems, Fig. 2 eine Kartenanordnung in der Logik eines solchen Systems, die Fig. 3, 3A-3D die essentielle Schaltungsanordnung, Fig. 4 ein Logikschaltbild der programmierbaren Analog- und Digitalschaltungsanordnung sowie der Zeitgeber in einem der Kanäle des Kernreaktorschutzsystems, die Fig. 5, 5A-5E den Testschaltungsteil einer Karte einschließlich der Bezeichnung der tatsächlich benutzten Komponenten und Fig. 6 ein Zeitdiagramm der wesentlichen Logikfunktion der Karte, das zeigt, wie der Kartenselbsttest die Stabilität der erfindungsgemäßen vorprogrammierten Digitallogik gewährleistet.
  • Die Zeichnungen enthalten Angaben über verwendbare elektronische Komponenten und deren Verbindungen. In vielen Fällen sind die Stiftnummern auf den Komponenten angegeben.
  • Es wird hier auf die eingangs erwähnte ältere Patentanmeldung P 33 22 509.5 Bezug genommen. Durch Wiederholen der Zusammenfassung dieser älteren Anmeldung wird dem Leser die Umgebung verständlich, in der die Erfindung benutzt wird.
  • Im folgenden ist eine Zusammenfassung des den Gegenstand der älteren Anmeldung bildenden Selbsttestuntersystems für ein Kernreaktorschutzsystem angegeben.
  • Es wird ein Selbsttestsystem für das Kernreaktorschutzsystem einer zur Stromerzeugung verwendeten Kernreaktoranlage zusammenfassend beschrieben. Kernreaktorschutzsysteme sind die elektronischen Steuereinrichtungen, die typisch Schaltungskarten enthalten, welche zwischen Meßfühlern (z.B. zum Erkennen einer Kernüberhitzung) und einer Steuereinrichtung (beispielsweise zur Stabeinführung zum Abschalten eines Reaktors) angeordnet sind. Die ständige Überwachung des Kernreaktorschutzsystems erfolgt durch einen Mikroprozessor, der die Schutzsystemschaltungskarten seriell adressiert und an vorbestimmten Eingangspunkten Testkommandos in diese lädt. Die adressierten Karten werden anschließend gleichzeitig durch ein systemweites Kommando aktiviert. Das Testkommando ist ein Impuls, dessen Dauer so kurz ist, daß seine Auswirkung für das System transparent ist und nicht den Gesamt systembetrieb hervorrufen kann. Der Impuls geht durch die betätigenden elektrischen Komponenten hindurch, um auf dem wirklichen Betätigungsweg die Funktionstüchtigkeit des Systems nachzuprüfen. Nach einem geeigneten Ansprechintervall wird der Ausgangszustand des Systems in systemweiten residenten Registern aufgezeichnet. Anschließend wird, wenn die Ansprechdaten in diesen Registern enthalten und in dem aufgezeichneten Zustand festgehalten sind, das Ausgangssignal gelesen. Das Ergebnis wird mit dem erwarteten Ausgangssignal im Computerspeicher verglichen. Wenn Übereinstimmung zwischen dem Speicherausgangssignal und dem Registerausgangssignal festgestellt wird, wird der nächste sequentielle Satz von Testkommandos gegeben. Wenn keine Übereinstimmung festgestellt wird, wird automatisch eine Unterprogrammsuche ausgeführt, um den Fehler aufzufinden.
  • Das beschriebene Selbsttestuntersystem ist in vier getrennten Abteilungen doppelt ausgeführt, wobei jede Abteilung eines des vier doppelt ausgeführten Schutzsysteme testet. Die drei verbleibenden und im Leerlauf befindlichen Abteilungen überwachen ständig den aktiven Untersystembetrieb. Das Endergebnis ist ein Gesamtsystem, das die mittlere Zeit zum Entdecken eines Fehlers reduziert und so die mittlere Zeit zum Reparieren und zum Maximieren der Schutzsystemverfügbarkeit und -sicherheit minimiert. Die Aufteilung des Schutzsystems in vier duplizierte Abteilungen ist nicht von der beschriebenen Erfindung abhängig, denn die Erfindung kann bei Schutz systemen mit einer anderen Anzahl von Abteilungen verwendet werden.
  • Ein repräsentativer Anspruch aus der älteren Anmeldung, auf die Bezug genommen wird, lautet: 1. Selbsttestsystem für ein Kernreaktorschutzsystem (RPS), gekennzeichnet durch: einen Prozessor zum Erzeugen einer Reihe von Kernreaktorschutzsystemtestmustern und Testvektoren, wobei der Prozessor eine Serie von zugehörigen erwarteten Testergebnissen enthält; mehrere Selbsttestelemente, die mit dem Prozessor verbunden sind, zum Empfangen der Testvektoren und zum Empfangen und Speichern von zugehörigen tatsächlichen Testergebnissen aus dem Kernreaktorschutzsystem; eine erste Einrichtung, die auf Kommandos aus dem Prozessor hin unter den Selbsttestelementen diejenigen Selbsttestelemente auswählt, die den Kernreaktorschutzsystemtestmustern entsprechen; eine zweite Einrichtung, die auf Kommandos aus dem Prozessor hin einen Testimpuls kurzer Dauer erzeugt, der für den Kernreaktorschutzsystembetrieb transparent ist und das Eingeben von Testvektoren in das Kernreaktorschutzsystem durch die Selbsttestelemente bewirkt; eine Einrichtung, die mit den Selbsttestelementen verbunden ist, um die tatsächlichen Testergebnisse zu überwachen, und die mit dem Prozessor verbunden ist, um die tatsächlichen Testergebnisse mit den erwarteten Testergebnissen zu vergleichen; und eine Einrichtung, die mit der Überwachungs- und Vergleichseinrichtung verbunden ist, zum Anzeigen von Differenzen zwischen den tatsächlichen Testergebnissen und den erwarteten Testergebnissen.
  • Die Fig. 1 und 2 sind Kopien der Fig. 1 bzw. 4 der älteren Anmeldung. Ein Selbsttestsystem für ein Kernreaktorschutz system wird, einfach ausgedrückt, aus Sicherheitsgründen in diskrete und oftmals redundante Abteilungen unterteilt, wobei es in dem hier dargestellten Protokoll vier Abteilungen gibt. Jede Systemabteilung enthält einen Selbsttestkontroller (oder Selbstteststeuereinheit) STC, der über ein Interface oder eine Schnittstelle das korrekte Arbeiten des Kernreaktorschutzsystems überwacht und bestätigt. In dieses Kernreaktorschutzsystem NSPS paßt die Karte nach der Erfindung. Jedes System oder jede Abteilung muß eine Schnittstellenverbindung mit den tatsächlichen Steuereinrichtungen haben. Es sind diese Systeme, die Steuerraumanzeigern 43 und dem Bedienungspersonal Ausfälle von verschiedenen Teilen des Systems anzeigen.
  • Der Leser wird bemerken, daß, wenn ein Teil des Systems ausfällt, die vorgesehene Redundanz einer der verbleibenden Abteilungen und mehrdeutigen Schutzsystemelementen gestattet, selbst an die Stelle eines ausgefallenen Elements zu treten. Das zu lösende Problem besteht darin, wie die mittlere Zeit zwischen Ausfällen auf einem Minimum gehalten werden kann.
  • Anhand von Fig. 2 erhält der Leser eine Idee von der Mehrdeutigkeit des Systems. Jede mehrdeutige Abteilung enthält Karten 60. Der Systemtest wird durch einen Kartenwählmonitor 54 gesteuert. Die Systeme werden diskret überwacht und teilen ihren Status seriell über ein Leitung 6 einem gesteuerten Eingabe/Ausgabe-Tor mit. Was hiei im Rahmen der Erfindung beschrieben wird, ist eine Logikfunktionskarte wie die erste Karte in dem System A.
  • Der Leser mag den Aufbau einer solchen Karte betrachten.
  • Bislang und in der Anordnung nach Fig. 4 der Erfindung macht eine Analog- oder Digitalschaltungsanordnung jede Karte aus. Es gibt buchstäblich tausende von solchen Karten in dem Schutz system eines Kernreaktorsicherheitssystems. Aus diesem Grund muß ein umfangreicher Lagerbestand von vielen hunderten von Karten vorhanden sein.
  • Die hier beschriebene Erfindung schafft eine Standardkarte. Diese Karte hat keine diskret verdrahteten analogen oder digitalen Elemente mehr. Statt dessen wird sie digital programmiert. Die Programmierung beinhaltet Zeitgeber. Beispielsweise kann die Analog- und Digitalschaltung nach Fig. 4 digital programmiert werden. Das System ermöglicht, kurz gesagt, das Ersetzen von sämtlichen diskret verdrahteten Karten 60 innerhalb des Hauptteils einer Standardkarte.
  • Nachdem die Umgebung, in der die Erfindung ruht, durch die Bezugnahme auf die ältere Anmeldung und deren zusammenfassende Beschreibung dargelegt worden ist, wird der übrige Teil der Erfindung beschrieben. Zuerst wird unter Bezugnahme auf Fig. 3 die elektronische Auslegung der essentiellen Schaltungsanordnung beschrieben. Dann wird unter Bezugnahme auf Fig. 4 eine typische programmierte Analog- und Digitalschaltung beschrieben. In dieser Beschreibung wird vorausgesetzt, daß der Leser weiß, daß es im Stand der Technik üblich ist, eine Analog- und Digitallogik, die diskrete Zeitgeber enthält, digital zu programmieren. Schließlich wird unter Bezugnahme auf Fig.
  • 5 die Testschaltung beschrieben. Die Testschaltung, ein Bereich von wesentlicher Neuheit, macht die programmierte Analog- und Digitalschaltungsanordnung so zuverlässig, daß diese programmierbare Analog- und Digitalschaltung in der Umgebung eines Schutz systems eines Kernreaktorsicherheitssystems zugelassen werden kann. Zuerst wird das Testen auf den Selbsttestsystemkontroller hin beschrieben. Zweitens wird das Testen in Abwesenheit eines Selbsttestsystemkontrollertests beschrieben.
  • Die Fig. 3, 3A, 3B und 3C zeigen einen 12-Volt-Logikeingang 16 und einen 12-Volt-Logikausgang 18. Der Leser wird bemerken, daß 18 Bits des Logikeingangssignals und 20 Bits des Logikausgangssignals hier betrachtet werden.
  • Diese Eingangs- und Ausgangssignale sind in Abhängigkeit von dem Verwendungszweck variabel. Speicherflipflops 20, 22, 24 sind 8-Bit-Flipflops, wobei 2 Bits an Masse liegen. Diese Speicherflipflops bilden die Eingänge eines kombinierten E/A-RAM- und Zeitgeberchips 26.
  • Der Computeraufbau ist mehr oder weniger herkömmlich.
  • Er enthält ein Adreßspeicherflipflop 30, einen programmierbaren Festwertspeicher (PROM) 32, eine Zentraleinheit 34, einen Speicherflipflopdecodierer 36, einen Pegelschieber 38 und Ausgangsspeicherflipflops 40, 42, 44.
  • Etwas Aufmerksamkeit sollte der Schaltungsanordnung gewidmet werden, die bei der Karte für Trennzwecke benutzt wird. Die Speicherflipflops haben Widerstände 50 relativ großer Impedanz, die sowohl eine Teilerschaltung als auch eine Impedanz für transiente Spannungen, die in das System einzudringen versuchen, bilden. Ein ähnlicher Schutz besteht durch eine Diodenschaltung 60 an dem Systemausgang; die Spannungspegel werden auf Diodendurchlaßpegel nach Masse begrenzt.
  • Nachdem die essentielle Schaltungsanordnung beschrieben worden ist, wird nun auf Fig. 4 Bezug genommen. Fig. 4 zeigt die Analog- und Digitalschaltungsanordnung, die zwischen den Eingängen 16 und den Ausgängen 18 angeordnet ist. Die programmierbare Digitallogik nach der Erfindung schafft diese Möglichkeit. Die hier gezeigte besondere Schaltungsanordnung ist in einer besonderen Karte brauchbar. Beispielsweise sind einige der verwendeten Eingangssignale der Auslösewert bei hohem Reaktordampfdomdruck und der Auslösewert bei niedrigem Reaktorwasserstand. Ausgangssignale sind beispielsweise Signale für den hohen Dampfdomdruckauslösewert, den Auslösewert für niedrigen Wasserstand und zugeordnete Rückstellungen.
  • Es folgt eine analoge logische Kette. Diese Kette enthält UND-Gatter 60, ODER-Gatter 62 und drei diskrete Arten von Zeitgebern 64. Die digitale Programmierung dieser Analoglogik ist bekannt.
  • Anhand von Fig. 5 wird die Testschaltungsanordnung nach der Erfindung verständlich. Zuerst wird der Leser am besten über zwei Arten von diskreten Tests informiert, der die programmierbare Logik dieser Karte ausgesetzt wird.
  • Der erste Typ von Test ist der Test, der in der älteren Patentanmeldung beschrieben ist. Auf Kommando aus einem Selbsttestsystemkontroller werden Abschnitte des Systems sequentiell getestet. Das Testen erfolgt' durch tatsächliche Impulse. Diese tatsächlichen Impulse haben eine ausreichend kurze Dauer, so daß sie für das Betriebssystem transparent sind.
  • Es gibt einen zweiten Typ von Test. Dieser zweite Typ von Test erfolgt unter der Steuerung des in den Fig. 5, 5A-5D dargestellten Mikroprozessors. In Abwesenheit eines Systemtests, der durch den Systemkontroller veranlaßt wird, überwacht der Mikroprozessor nach Fig. 5 ständig den in Fig. 3 gezeigten Mikroprozessor. Diese ständige Überwachung fördert die Zuverlässigkeit der programmierbaren Logik nach Fig. 3 derart, daß sie in einem Kernreaktorsystem zugelassen werden kann.
  • Gemäß Fig. 5 werden Eingangssignale aus dem Logikausgang 18 durch ein Speicherflipflopsystem geleitet, das aus Speicherflipflops 110, 120, 130 und 140 besteht. Diese Speicherflipflops werden ihrerseits durch einen Eingabe/ Ausgabe-RAM-Zeitgeber 115 gesteuert; außerdem enthält das System ein Adreßspeicherflipflop 116, einen programmierbaren Speicher 117 und eine Zentraleinheit 118.
  • Es ist notwendig, daß die Funktionslogik an dem Eingang der Karte gelesen wird. Demgemäß werden die Eingangssignale 122 (vgl. Fig. 3A) in den Mikroprozessor geleitet. Die betreffenden Eingänge 122 befinden sich auf der Ausgangsseite der Speicherflipflops 20, 22 bzw. 24. Wenn das der Fall ist, muß die diskrete Adressierung der Daten aus dem betreffenden Speicherflipflop eingegeben werden.
  • Bezüglich der Einzelheiten bei 131, 132, 133 in den Fig.
  • 3A und 3B finden sich entsprechend numerierte Eingänge in den Fig. 5A, SB, 5C und 5D.
  • Im folgenden wird deutlich werden, daß es notwendig ist, daß der Testprozessor weiß, ob die wesentliche Schaltungsanordnung durch einen vom Hauptkontroller eingeleiteten Test belegt ist. Demgemäß haben Ausgänge 141, 142, 143 eine Verbindung mit den Eingängen 131, 132, 133, wobei diese Eingänge das Einleiten der Selbsttestfunktion des Mikroprozessors gestatten (vgl. Fig.
  • 3A, 5A bzw. 5B). Diese Ausgänge werden wahlweise benutzt, denn in der Praxis ist die Kartenwahl ausreichend, um die verlangte Information zu übertragen.
  • Die verbleibenden Hilfsdaten können nun beschrieben werden.
  • Beim Einleiten von Tests muß der Hauptkontroller Karten aufrufen und wählen. Das erfolgt über den Eingang 270 und das ODER-Gatter 272, das einen Inverter 273 an der zentralen Verarbeitungseinheit hat, um insgesamt ein NAND-Gatter zu bilden. Das sich ergebende NAND-Gatter gestattet dem Systemtakteingangssignal 259 und dem Vergleichstaktsignal 260 (Fig. 5C), die Abgabe von Betriebsstatusdaten zu signalisieren.
  • Die seriellen Daten für den Test werden über die Logik des Eingangs/Ausgangs und den Mikroprozessor in die verschiedenen Eingänge des Systems geladen. Manchmal ist es während eines Tests erwünscht, gewisse Zustände an dem Kartenausgang zu haben. Diese Zustände sind beim Testen von stromabwärtigen Karten brauchbar. Mit Hilfe des Ladens der Eingänge und des Benutzens des Systems zum Übertragen von geeigneten Zuständen zu den Kartenausgängen können stromabwärtige Tests erfolgen.
  • Wenn die Daten für einen Test unter dem Systemkontroller seriell geladen werden, wird ein Testimpuls eingeleitet.
  • Dieser Impuls geht über die Leitung 266 (Fig. 5A) in das System und bewirkt, daß der für das Betriebssystem transparente Impuls die Logik nach Fig. 3 betätigt. Anschliessend und in Abhängigkeit von den Zuständen der Zeitgeber und der besonderen Logik, die in Fig. 4 programmiert ist, wird der Systemausgangszustand gelesen. Typisch werden die gelesenen Daten über einen Ausgang 272 für die Abgabe von seriellen Testdaten (Fig. 5D) abgegeben.
  • Geeignete Sorgfalt muß aufgewendet werden, um sicherzustellen, daß die gewählte Karte die Wahl bestätigt. Demgemäß ist in dem System ein Ausgang 271 für eine Wählbestätigung vorgesehen. Weiter ist in dem System auch ein Testimpulsecho 267 vorgesehen (Fig. 5D). Durch Warten auf die Wählbestätigung und durch Warten auf das Testimpulsecho kann der Systemkontroller feststellen, daß der geeignete Test benutzt worden ist.
  • Die Systemstromversorgung wird nicht beschrieben, mit Ausnahme der Tatsache, daß die Sicherung für die Testschaltungsanordnung von der Sicherung für die essentielle Schaltungsanordnung getrennt ist. Ebenso wird der Leser erkennen, daß sämtliche Eingänge hohe Impedanzen aufweisen. Spannungsstöße in der Testschaltungsanordnung werden somit am Eindringen in die wesentliche Logik gehindert. Gleichzeitig enthalten alle Eingangsspeicherflipflops 110, 120, 130 und 140 (Fig. 5) Spannungsteiler, so daß das 12-yolt-Eingangssignal zur Rauschunterdrückung auf 5-Volt-Logikpegel für den Empfang durch das gesamte System heruntergeteilt werden kann. Nachdem der Aufbau des Systems beschrieben worden ist, wird nun das Blockschaltbild der Computerlogik betrachtet.
  • Die Arbeitsweise der Schaltungsanordnung kann nun beschrieben werden. Gemäß Fig. 5 an dem Vergleichstakteingang 260 bewirkt dieser Abschnitt der beschriebenen Schaltungsanordnung, daß Register, die den Status des Eingangs und des Ausgangs anzeigen, immer dann gelesen werden, wenn ein Vergleichstaktsignal empfangen wird.
  • Dieses Signal kann daher zu jeder Zeit während des Tests oder während des tatsächlichen Anlagenbetriebes gelesen werden.
  • Daten können zu einer besonderen Karte gesendet werden, indem der Kartenwähl- und Taktimpuls betätigt wird. Anschließend kann das Empfangen von tatsächlichen Daten erfolgen, die einer Karte einen vorbestimmten Status geben.
  • Wenn z.B. Teile des Systems getestet werden, entweder unter der Steuerung des Hauptsystemkontrollers oder statt dessen durch manuelle Prüfung eines diskreten Zweiges des Sicherheitssystems durch die Bedienungsperson, können spezifische Daten in die Karte getaktet werden. Typisch werden durch die Karte nach einer bestimmten tibertragungsfunktion hindurchzuleitende Daten in die stromaufwärtigen Karten eingetaktet und stromabwärts abgegeben. Ebenso werden Daten für stromabwärtige Karten in eine diskrete Karte eingetaktet und abgegeben.
  • Wenn angenommen wird, daß ein Testimpuls von kurzer und transparenter Dauer für das tatsächliche Betriebssystem erwünscht ist, wird ein solcher Impuls bei 266 empfangen (Fig. 5A) und zwar typisch mit einem gleichzeitigen Vergleichstaktsignal. Es erfolgt die Ausführung der Übertragung von den Eingängen zu den Ausgängen. Es sei angemerkt, daß während eines Tests sowohl der Eingangs- als auch der Ausgangsspeicherflipflops sowie des Prozessors und der internen Verdrahtung eine Gesamtlesbarkeit des Signals erzielt wird. Weiter wird bei jedem Empfang eines Vergleichstaktsignals der Status des Kartenselbsttests ebenfalls erhalten.
  • Der Status der Karte bei der tatsächlichen Anwendung kann verstanden werden. Da die Testimpulse eine kurze Dauer haben, werden die Impulse für den tatsächlichen Einsatz eine lange Dauer haben. Diese Signale werden an den Eingängen erscheinen, gemäß der entworfenen Analog- und Digitalschaltung durch die programmierte Digitallogik hindurchgeleitet und in Abhängigkeit von dem Gatter- und Zeitgeberstatus an den Ausgängen erscheinen.
  • Das Selbsttesten der Karte unter der Steuerung des Kartenprozessors 118 (Fig. 5) wird am besten anhand von Fig. 6 verständlich, die ein Diagramm der Zeitgeberlogik zeigt.
  • Das Durchlaufen von Schleifen durch die Selbsttestlogik erfolgt zu jeder Zeit, ausgenommen dann, wenn ein Test unter der Steuerung des Systemkontrollers erfolgt. Während des Tests des Systemkontrollers ändert sich die Schleife wie dargestellt.
  • Gemäß Fig. 6 und in dem Kasten 300 testet das System zuerst, ob ein Systemkontrollertest eingeleitet ist. Wenn dem nicht so ist, erfolgt das Schreiben von Ausgangssignalen bei 301. Bei 302 erfolgt ein Rücksetzen des Überwachungszeitgebers, um die Karte ihre gewünschte Schleife zeitgerecht durchlaufen zu lassen. Anschließend und in Übereinstimmung mit einem Fehlerkorrekturcodeprotokoll liest das System bei 303 Eingangssignale und überprüft RAM und ROM mit verschiedenen Prüfsummenprotokollen, um sicherzustellen, daß kein Fehler vorhanden ist. Wenn angenommen wird, daß kein Test vonstatten geht, bringt ein Testabwesenheitssignal das Schleifenprotokoll zu einem Zeitgeber. Das Zeitgeberprotokoll 305 stellt fest, ob auf einer 10-s-Basis der Zeitgeber die Zeitsperre erreicht hat. Wenn angenommen wird, daß der Zeitgeber die Zeitsperre erreicht hat, werden die residenten Zeitgeber bei 306 auf den neuesten Stand gebracht. In Abhängigkeit von dem Zeitgeberstatus und dem Eingangssignal werden dann die Übertragungsfunktionen bei 307 verglichen.
  • Rechts von den Kästen sind Mikrosekundenzeitintervalle angegeben. Diese Mikrosekundenzeitintervalle geben die ungefähre Länge der gesamten Prozedur an.
  • Wenn angenommen wird, daß die Zeitgeber die Zeitsperre nicht erreicht haben, ist zu erkennen, daß die obere Schleife, die aus 300, 301, 302, 303, 304 und 305 besteht, wiederholt wird.
  • Wenn angenommen wird, daß ein Test vonstatten geht, erfolgt kein Schreiben von Ausgangssignalen, da es die Testergebnisse stören würde. Ebenso werden die Ausgangssignale mit irgendwelchen gewünschten Daten eingegeben, so daß der Systemkontrollertest erfolgen kann, vgl. 310 in Fig. 6.

Claims (5)

  1. Patentansprüche.
    Universelle Karte für ein Kernreaktorschutzsystem, kennzeichnet durch: Digitallogikeingänge (16); Digitallogikausgänge (18); eine programmierbare Intelligenz (32), die die Eingänge und Ausgänge verbindet und in der Lage ist, einen zeitgesteuerten Analoglogikweg zwischen den Eingängen und Ausgängen zu emulieren; und einen von der Systemlogik unabhängigen Uberwachungskontroller (34), der zwischen die Eingänge und Ausgänge geschaltet ist und eine periodisch arbeitende Einrichtung zum überwachen der Ubertragungsfunktionen an der programmierbaren Intelligenz enthält.
  2. 2. Karte nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Eingänge (16) und die Ausgänge (18) auf gegenüber der Spannung der Intelligenz (32) erhöhten Spannungspeeln sind.
  3. 3. Karte nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Überwachungskontroller (34) ein Prüfsummenprotokoll für RAM und ROM enthält.
  4. 4. Karte nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Uberwachungskontroller (34) einen Uberwachungszeitgeber zum Zeitsteuern des Schleifenprotokolls des Selbsttestkontrollers enthält.
  5. 5. Karte nach einem der Ansprüche 1 bis 4, gekennzeichnet durch eine mit der Karte (60) verbundene Einrichtung (266) zum Takten von Testdaten in die Karte, durch eine Einrichtung zum Tasten der Testdaten durch die Karte in einem Zeitbereich, der für das Betriebssystem, mit dem die Karte verbunden ist, transparent ist, und durch eine Einrichtung zum Einlesen des Ausgangssignals der Karte in einen Systemkontroller.
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