DE3342947A1

DE3342947A1 - Verfahren zur behandlung der daten eines binaeren grafischen musters und system dafuer

Info

Publication number: DE3342947A1
Application number: DE19833342947
Authority: DE
Inventors: Shuichi Kyoto Araki; Hideshi Kashiyama; Michio Otsu Shiga Ogura
Original assignee: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Current assignee: Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Priority date: 1982-12-01
Filing date: 1983-11-26
Publication date: 1984-06-07
Also published as: GB8331729D0; US4573201A; FR2537305A1; FR2537305B1; DE3342947C2; GB2131660A; JPH059834B2; JPS59101969A; GB2131660B

Description

24. N'Öv'eiflBer 1 "9*83'" P 9189 - nrs

ö OA \Μ*Λ»τΛΛοτ- 1"0·«^*· ·

Dainippon Screen Seizo Kabushiki kaisha

1-1 Tenjin-kitamachi, Teranouchi-agaru 4-chome, Horikawa-dori, Kamigyo-ku, Kyoto, Japan.

Verfahren zur Behandlung der Daten eines binären grafischen

Musters und System dafür

Die Erfindung bezieht sich auf ein Datenverarbeitungsverfahren zur' Umwandlung von in Form von binären Signalen ausgedrückten Daten eines grafischen Musters, beispielsweise eines Schrifttypensatzes, in eindimensionale, zeitlich serielle Daten, um das grafische Muster durch ein sukzessives Scannen desselben wiederzugeben, sowie ein zur Durchführung des Datenverarbeitungsverfahrens geeignetes System. Insbesondere betrifft die vorliegende Erfindung ein Datenverarbeitungsverfahren zur Belichtung und Wiedergabe von Lettern, Zeichen, Bildmustern u. ä., die an der Eingabestation einer computergesteuerten Fototypiesätzmaschine ausgelegt sind, um mittels einer eindimensionalen Ausgabeeinheit (beispielsweise einer Bildabtast- und Wiedergabevorrichtung wie z. B. einem elektronischen Farbscanner) einen einzelnen Bildrahmen (picture frame) auf einem fotoempfindlichen Material wie beispielsweise fotografischem Film oder Papier vollständig zu erstellen, sowie ein System,

das für eine Verwendung bei der Durchführung des Datenverarbeitungsverfahrens geeignet ist.

Mit dem hier verwendeten Ausdruck "Letter" sind allgemein chinesische Schriftzeichen, "Hiragana"-Zeichen, "Katakana"-Zeichen, lateinische Buchstaben usw. gemeint. Der Ausdruck "Zeichen" beinhaltet gezeichnete Lettern und Buchstaben, wie z. B. Logotypen o. ä. , sowie auch andere Zeichen. Andererseits werden mit dem Ausdruck "Formelemente" verschiedene, insbesondere krummlinig begrenzte Bildmuster, wie z. B. Kreise, Ellipsen usw. bezeichnet, die durch eine Kurvengleichung dargestellt werden können.

Vorrichtungen, die mittels einer eindimensionalen Ausgabeeinheit in einem einzigen Schritt ein Muster wiedergeben können, das Lettern, Zeichen, Formelemente u. ä. in Kombination enthält, sind nach dem Stand der Technik nicht bekannt. Vergleichbare Einrichtungen wurden insbesondere bislang dort nicht geschaffen, wo die Abmessungen des aufzuzeichnenden Bildrahmens relativ groß sind, und beispielsweise die Größe einer Zeitungsseite haben.

Demgemäß wird diese Forderung üblicherweise wie folgt erfüllt: Man zeichnet die Zeichen, Muster usw. beispielsweise mittels eines Koordinatenplotters, und die Lettern, Ziffern, Symbole u. ä. werden auf der anderen Seite in der gewünschten Zusammenstellung mittels einer Lichtsetzmaschine gesetzt und aufgezeichnet. Die so gezeichneten Zeichen, Muster u. ä. und die so aufgezeichnete Zusammenstellung werden

dann entsprechend einem vorgegebenen Layout auf einem Unterlagebogen arrangiert und fest auf diesen aufgeklebt, so daß sie ein Originalplattenmuster bilden, das eine einer ganzen Seite entsprechende Größe hat.

Mit diesem üblichen Verfahren gehen nun aber verschiedene Nachteile einher. Es ist eine beträchtliche Zeit erforderlich, um die Lettern, Muster u. ä. als individuelle BiIdeinheiten vorzubereiten, sie auf dem Unterlagebogen zu positionieren und sie dann auf dem Unterlagebogen zu verkleben. Dies führt unvermeidlich zu hohen Gestehungskosten, und die Genauigkeit der Positionierung der Bildeinheiten beim Festkleben ist gering. Aufgabe der Erfindung ist es, diesen Nachteilen des nach dem Stand der Technik bekannten Verfahrens abzuhelfen und ein neuartiges Verfahren zur Umwandlung eines verschiedene binäre Bilder wie beispielsweise Lettern, Zeichen und Formelemente enthaltenden. Musters in eindimensionale, zeitlich serielle Daten anzugeben, um so eine Bearbeitung des Musters in einem einzigen Schritt zu ermöglichen.

Weiterhin ist Aufgabe der Erfindung, ein geeignetes System zur Durchführung des o. g. Verfahrens anzugeben.

Erfindungsgemäß wurde gefunden, daß diese Aufgabe durch folgende Verfahrensschritte gelöst werden kann:

Man speichert Daten bezüglich der charakteristischen Punkte auf den Umrißlinien von Bildeinheiten wie z. B. Lettern,

BAp ORIGINAL

Zeichen, Formelementen u. ä. in einem Speicher; man liest die Daten bei Bedarf aus; man unterwirft die so ausgelesenen Daten einem den Abbildungsmaßstab ändernden Verfahren,ζ. B. einer Vergrößerung oder Verkleinerung, Drehung o. ä.;

man ordnet die resultierenden Bildeinheitsdaten gemäß einem vorgegebenen Layout an, so daß die gewünschte Positionsbeziehung zwischen den Bildeinheiten hergestellt wird; und man wandelt die so angeordneten Musterdaten in eindimensionale, zeitlich serielle Daten um, um damit die Ein-Aus-Steuerung der Abtast- und Belichtungseinrichtung einer eindimensionalen Ausgabeeinheit vorzunehmen. Die vorliegende Erfindung wurde auf der Grundlage der obigen Erkenntnisse vollendet.

Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung wird also ein Verfahren zur Umwandlung eines in Form von Binärsignalen ausgedrückten grafischen Musters in Lauflängendaten (run length data) geschaffen, um so das grafische Muster zu duplizieren und aufzuzeichnen, bei dem man das grafische Muster auf der Grundlage von Daten bezüglich seiner Umrißlinien in einem Speicher speichert und die Ausgabe einer eindimensionalen Ausgabeeinheit entsprechend den letzteren Daten steuert, das durch folgende Verfahrensschritte gekennzeichnet ist:

Man gibt Daten zu jedem der Liniensegmente aus, die jeweils der Reihe nach benachbarte charakteristische Punkte auf den Umrißlinien des grafischen Musters verbinden, und zwar

_ κ —

gemäß den Koordinatenwerten der einander benachbarten beiden charakteristischen Punkte, zwischen denen sich das Liniensegment erstreckt;

man bestimmt den Y-Koordinatenwert des Schnittpunkts zwischen allen in Y-Achsenrichtung verlaufenden Scan-Linien und allen Liniensegmenten in der eindimensionalen Ausgabeeinheit;

gestützt auf die Reihenfolge aller charakteristischen Punkte und die relative Größe des X-Koordinatenwerts aller benachbarten charakteristischen Punkte unterscheidet man, ob sich der Schnittpunkt bezüglich der Abtastrichtung der Scan-Linie entweder am vorwärtigen Randabschnitt oder rückwärtigen Randabschnitt des schwarzen Bereichs des Musters befindet; und

man steuert die Ausgabe der eindimensionalen Ausgabeeinheit anhand des Y-Koordinatenwerts des Schnittpunkts und des Ergebnisses der Unterscheidung.

Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung wird auch ein System zur Datenverarbeitung an einem binären grafischen Muster geschaffen, das aufweist:

Einen ersten Speicher, der geeignet ist, das in Form von binären Signalen ausgedrückte grafische Muster anhand der X-Y-Koordinatenwerte aller charakteristischen Punkte auf allen Umrißlinien des grafischen Musters zu speichern;

- 6 ORIGINAL

eine Datenumwandlungseinheit, die geeignet ist, in dem ersten Speicher gespeicherte Daten auszulesen und diese in Übereinstimmung mit einem gewünschten Layout umzuwandeln;

einen zweiten' Speicher, der geeignet ist, die so umgewandelten Daten zu speichern;

eine Einheit, die geeignet ist, auf der Grundlage der Daten aus dem zweiten Speicher Daten zu erstellen, die angeben, ob sich die Liniensegmente, die jeweils einander benachbarte charakteristische Punkte des grafischen Musters verbinden, im einzelnen auf der Anfangs- oder Endseite der Aufzeichnung bezüglich der Abtastrichtung einer Scan-Linie befinden;

einen dritten Speicher, der geeignet ist, die die Liniensegmente betreffenden Daten zu speichern;

eine Scan-Linien-Kontrolleinheit, die geeignet ist, Scan-Linien-Steuerdaten zu erzeugen, so daß die Fläche des Layouts sukzessive in Y-Achsrichtung abgetastet wird;

eine Einheit, die geeignet ist, auf der Grundlage der in dem dritten Speicher gespeicherten Liniensegmentdaten und der Scan-Linien-Steuerdaten die Y-Koordinatenwertc aller Schnittpunkte der Scan-Linien und Liniensegmente zu berechnen;

einen vierten Speicher, der geeignet ist, die Y-Koordinaten-

werte zu speichern; und

eine Einheit, die geeignet ist, in Übereinstimmung mit den in dem vierten Speicher gespeicherten Y-Koordinatenwerten und den Daten, die angeben, ob sich die Schnittpunkte jeweils entweder auf der Anfangs- oder Endseite der Aufzeichnung befinden, Lauflängendaten zur Steuerung einer Aufzeichnungs-Ausgabeeinheit zu erzeugen.

Die vorliegende Erfindung stellt somit ein Verfahren bereit, mit dem jeweils als digitale Daten in einer sogenannten computergesteuerten Typiesatzmaschine gespeicherte, einzelne Satζtypen, z. B. Lettern, Zeichen, Formelemente o.a., in die zugehörigen Lauflängendaten verwandelt werden können, die erforderlich sind, um ein in Übereinstimmung mit einem vorgeschriebenen Layout angeordnetes Muster beispielsweise mittels einer eindimensionalen Ausgabeeinheit wie z. B. einem elektronischen Farbscanner abzutasten. Das erfindungsgemäße Verfahren ist in hohem Maße nützlich, weil es eine fehlerfreie Datenumwandlung und die freie Wahl von Schwarzzu Weiß- oder Weiß- zu Schwarz-Änderungen in überlappten Bereichen der Muster erlaubt.

Weitere Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung ergeben sich aus der folgenden Beschreibung und den Ansprüchen in Verbindung mit den beiliegenden Zeichnungen. Es zeigen:

Fig. 1 ein Beispiel eines Musters, z. B. einer Satztype,

BAP

die in Form von binären Signalen auszudrücken ist;

Fig. 2 Abwandlungen des Musters gemäß Fig. 1; dabei ist Fig. 2 (A) eine Darstellung des Originalmusters, Fig. 2 (B) zeigt ein Muster, das man erhält, indem man das Originalmuster einem Vergrößerungsprozeß unterwirft;

Fig. 2 (C) zeigt ein Muster, das man erhält, indem man das Originalmuster in Vertikalrichtung streckt, Fig. 2 (D) illustriert ein Muster, das man durch Abflachen oder Abplatten des Originalmusters erhält, Fig. 2 (E) weist ein Muster aus, das man erhält, indem man das Originalmuster neigt, und Fig. 2 (F) zeigt ein Muster, das man durch ein Drehen des Originalmusters erhält;

Fig. 3 ein Verfahren zur Ableitung von die Belichtung steuernden Daten;

Fig. 4 exemlarisch ein Verfahren, in dem zwei rechteckige Muster überlagert werden, um sie in einem synthetisierten Muster zusammenzusetzen;

Fig. 5 (A) und 5 (B)

ein Verfahren, bei dem eine Mehrzahl von Mustern zusammengesetzt werden und der überlappte Bereich dadurch dargestellt wird, daß man ihn als weißes Fach bzw. weiße Tasche beläßt;

Fig. 6 ein Verfahren, in dem eine Mehrzahl von Mustern zusammengesetzt werden und die überlappten Bereiche dadurch dargestellt werden, daß man ihre Farben einer "Schwarz-Weiß-Umkehr" unterwirft;

Fig. 7 ähnelt Fig. 5 (A) und illustriert Lauflangendaten;

Fig. 8 zeigt das Blockdiagramm eines Ausführungsbeispiels eines Systems zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens und

Fig. 9 ein Flußdiagramm des Systems gemäß Fig. 8.

Ein Muster, wie z. B. eine Satztype o. ä., die in Form von binären Signalen ausgedrückt werden soll, kann als ein einzelner geschlossener Bereich oder eine Kombination von mehreren geschlossenen Bereichen dargestellt werden. Der in Fig. 1 dargestellte Buchstabe "A" ist beispielsweise ein Muster, das zwei geschlossene Bereiche besitzt; diese werden von je einer Umrißlinie gebildet, von denen eine die Punkte P, bis P₀ und die andere die Punkte P_n

ι ο y

bis P.« verbindet. In diesem Fall sind alle Punkte P, bis P₁₉ charakteristische Punkte, die erforderlich sind, um den Buchstaben "A" zu definieren.

Da in dem obigen Beispiel beide Umrißlinien aus Geraden zusammengesetzt sind, ist es nur erforderlich, alle Ecken der Umrißlinien zu spezifizieren. Wenn eine Umrißlinie aus Kurven besteht, werden die Scheitelpunkte eines geeig-

BAD INAL

¹V?

neten, in den Umriß ein- oder um ihn herum geschriebenen Polygons als charakteristische Punkte ausgewählt.

Die Daten aller Lettern, Zeichen, Formelemente o. ä. werden in Form von Koordinatenwerten in einem Speicher (Original-Satztypenspeicher) gespeichert. Die Koordinatenwerte stellen dabei die Positionen von charakteristischen Punkten in einem internen Koordinatensystem dar, das der Satztype zu eigen ist. In allen, geschlossene Schleifen bildende Umrißlinien wird in diesem Fall die jeweilige Reihenfolge der charakteristischen Punkte bestimmt. Die Reihenfolge, bzw. der Rang jedes charakteristischen Punkts, wird festgelegt, indem man zunächst die Richtung seiner entsprechenden Umrißlinie bestimmt. Diese ergibt sich ihrerseits durch eine Feststellung, auf welcher Seite eines den charakteristischen Punkt mit seinem benachbarten charakteristischen Punkt verbindenden Liniensegments sich der schwarze Bereich des Musters befindet. Ausgehend von der Richtung der Umrißlinie, wird dann die Reihenfolge der charakteristischen Punkte bestimmt.

In dem Speicher wird zusätzlich die Anzahl der geschlossenen Schleifen und die Zahl der charakteristischen Punkte in jeder geschlossenen Schleife als die Satztype charakterisierende Daten gespeichert. In dem in Fig. 1 illustrierten Beispiel wird in Kombination mit den Koordinatenwerten der zwölf charakteristischen Punkte "2" als Zahl der geschlossenen Schleifen, "8" als Zahl der charakteristischen Punkte auf der ersten geschlossenen Schleife und "4" als

·:■■ . -11-

^ —

AO

Zahl der charakteristischen Punkte auf der zweiten geschlossenen Schleife in dem Speicher gespeichert.

Indem man das oben beschriebene Verfahren ablaufen läßt, werden Satztypendaten der nötigen Lettern, Zeichen, Formelemente u. ä. allesamt in einem Speicher gespeichert. Wenn man nun eine bestimmte Zusammenstellung entwirft, werden die erforderlichen Satztypendaten ausgelesen und dann gemäß einer Anordnung, die mit dem Layout der Zusammenstellung übereinstimmt, in einen weiteren Speicher geschrieben, wodurch sie als Bildbelichtungsdaten gespeichert werden.

Da die Daten jeder Satztype in einem ersten Speicher (im folgenden "Original-Satztypenspeicher" genannt) in Form von Koordinatenwerten gespeichert sind, die ihren Ursprung in dem Bereich des jeweiligen Satztypenmusters haben, werden sie zuerst in Koordinatenwerte umgewandelt, die die Satztype chaiakfcerisifiiHi,wenn sie gemäß einem vorgegebenen Layout angeordnet ist. Die so umgewandelten Satztypendaten werden in einen Belichtungsbild-Datenspeicher eingeschrieben. Genauer gesagt, ist es für diese Koordinaten-Transformation nur erforderlich, daß man zu den ursprünglichen Koordinatenwerten aller charakteristischen Punkte die Koordinatenwerte des Ursprungs hinzuaddiert, die dem Ort des Ursprungs entsprechen, wenn sich das Satztypenmuster in seiner Position gemäß dem Layout befindet.

Wenn Verfahrensschritte zur Änderung des Abbildungsmaßstabs, Winkeltransformation, Drehung o. ä· erforderlich sind,

- 12 -

BAD ORlQi^

sollten die Bildbelichtungsdaten aus Daten aufgebaut sein, die man nach Durchführung derartiger Verfahrensschritte erhält. Diese Verfahrensschritte werden durchgeführt, um Schrifttypenmuster in der wirklichen Fototypiesatzarbeit zu verwenden, nachdem die Schrifttypenmuster in Übereinstimmung mit dem jeweiligen Layout-Design verformt wurden. Verschiedene Beispiele solcher Modifikationen sind in Fig.2 illustriert.

Fig. 2 (B) illustriert schematisch ein Muster, das einem Verfahrensschritt zur Änderung des Abbildungsmaßstabs unterworfen wurde. Das dargestellte Muster wurde durch eine Vergrößerung des Originalmusters erhalten; das Originalmuster kann aber auch in seiner Größe vermindert werden.

(C) illustriert schematisch ein durch vertikales Strecken des Originalmusters (A) erhaltenes Muster, ein durch Abflachen oder Abplatten des Originalmusters (A) erhaltenes Muster (D), ein durch Neigen des Originalmusters (A) erhaltenes Muster (E) und ein Muster (F), das man durch eine Drehung des Originalmusters (A) erhält. Diese Verfahrensschritte können im einzelnen auf folgende Art und Weise ausgeführt werden.

Das vergrößerte Muster (B) wird erhalten, indem man alle X-Y-Koordinatenwerte der charakteristischen Punkte des Originalmusters (A) mit einem gewünschten Wert multipliziert, um so neue Koordinatenwerte zu erhalten.

Das gestreckte Muster (C) und abgeplattete Muster (D) wird

- 13 ■

Λ ft * « β ♦ ν«

erhalten, indem man nur die X-Koordinatenwerte bzw. die Y-Koordinatenwerte mit gewünschten Faktoren multipliziert, um so jeweils neue Koordxnatenwerte zu erhalten.

Wenn die X-Koordinatenwerte jeweils um Beträge geändert werden, die ihren zugehörigen Y-Koordinatenwerten proportional sind, ergibt sich ein geneigtes Muster (E).

Das gedrehte Muster (F), das durch eine Drehung um einen Drehwinkel θ aus dem Originalmuster (A) hervorgeht, wird erhalten, indem man neue Koordxnatenwerte des gedrehten Musters (F) gemäß der folgenden Gleichung bestimmt:

x¹ = cos θ . χ - sin θ . y
y' = sin θ . χ - cos θ . y

(χ, y): Koordxnatenwerte eines charakteristischen Punkts auf einem Originalmuster;

(x',y"):Koordxnatenwerte des entsprechenden charakteristischen Punkts auf einem gedrehten Muster; und
Θ: Drehwinkel.

Bezüglich grafischer Formelemente, die keine Lettern sind, z. B. Kreisen oder Ellipsen, ist es von einem praktischen Gesichtspunkt aus von Vorteil, die Daten der jeweiligen Kontur auf der Grundlage ihrer Kurvengleichung zu bestimmen.

- 14 -

BAD

Es ist selbstverständlich möglich, diese grafischen Muster in dem Satztypenspeicher mit demselben Verfahren zu speichern, wie die oben beschriebenen Schrifttypen. Vorzugsweise werden aber die Daten bezüglich des Umrisses aller solcher Formelemente in den gewünschten Abmessungen als Bildbelichtungsdaten bei Bedarf rechnerisch erstellt, da bei einer Vergrößerung der Bildelemente eines Originalmusters der diskontinuierliche (nicht-glatte) Verlauf aller Umrißlinien ■ bemerkbar wird. Die Bildqualität wird also beeinträchtigt, wenn das Originalmuster einem Verfahrensschritt zur Änderung des Abbildungsmaßstabs, und insbesondere einer Vergrößerung, unterworfen wird.

Auf der Grundlage der Daten, die in dem Belichtungsbild-Datenspeicher gespeichert wurden und Lettern, Muster u. ä. in einer Anordnung gemäß dem geforderten Layout enthalten, wird die eindimensionale Ausgabeeinheit gesteuert. Um das gemäß der obigen Beschreibung erstellte Muster zu scannen und zu belichten, ist es erforderlich, als Steuerdaten Informationen bezüglich der Koordinatenwerte von Punkten bereitzustellen, an denen die Scan-Linie in jedem Abtastzyklus der Ausgabeeinheit die Umrißlinien des Musters schneidet. Außerdem wird für alle Schnittpunkte eine Information darüber benötigt, ob an diesem Punkt die Belichtung beginnt oder endet.

Diese Information kann auf folgende Art und Weise erhalten werden.

- 15 -

- 18 -

Nimmt man das in Fig. 1 dargestellte Muster als Beispiel, so kann man annehmen, daß die Richtung aller Scan-Linien parallel zu der Y-Achse verläuft und das Muster von oben nach unten abgetastet wird. Weiterhin wird angenommen, daß die Scan-Linie pro einzelnen Abtastzyklus um jeweils einen Schritt (Ganghöhe) in Richtung der X-Achse von links nach rechts wandert. Die Daten aller Umrißlinien werden als Daten bezüglich der Liniensegmente erhalten, die sukzessive die charakaterxstischen Punkte verbinden, die unter Angabe ihrer jeweiligen X-Y-Koordinatenwerte gespeichert sind. Unter der Voraussetzung, daß der X-Koordinatenwert "x" der Scan-Linie bestimmt ist, erhält man daher einen Y-Koordinatenwert "y" des Schnittpunkts zwischen einer Scan-Linie und der Umrißlinie gemäß der folgenden Gleichung.

y = (ÄyxN) +y_n

- ^yn

Ay= "χ " " χ
¹ η + 1 - η

hierbei sind

(x , y ): die Koordinatenwerte eines charakten η

ristischen Punkts P ;

(x .,,y ,.): die Koordinatenwerte des charakten+ι η+ι

ristischen Punkts P .. ;

N: die Anzahl der Abtast-Operationen, in denen der Punkt P als Anfangspunkt auftritt x-x

ρ - 16 -

ßÄD

P: die Schrittweite (Ganghöhe) der Scan-Linien.

Da Ay für jedes Liniensegment eines Abschnitts einen konstanten Wert annimmt, kann die Rechenoperation vereinfacht werden, indem man diesen konstanten Wert sukzessive zu dem Y-Koordinatenwert "y " der ersten Scan-Linie (d.h.

der durch den Punkt P verlaufenden Scan-Linie) hinzuaddiert.

Die Unterscheidung, ob der jeweilige Schnittpunkt ein Anfangsoder Endpunkt der Belichtung ist, wird durchgeführt, indem man feststellt, ob sich das entsprechende Liniensegment ober- oder unterhalb des schwarzen Bereichs des Musters befindet.

Im folgenden wird ein Liniensegment, das sich an der Oberrandseite eines Musters befindet, als "unten schwarz" bezeichnet, während ein an der Unterrandseite des Musters befindliches Liniensegment die Bezeichnung "unten weiß" erhalt. Man erkennt ohne weiteres, daß ein Schnittpunkt auf einem "unten schwarz"-Liniensegment ein Anfangspunkt für die Belichtung und ein Schnittpunkt auf einem "unten weiß"-Liniensegment ein Endpunkt für die Belichtung wird.

Die Unterscheidung, ob ein benachbarte charakteristische Punkte verbindendes Liniensegment "unten schwarz" oder "unten weiß" ist, wird durchgeführt, indem man die Größe der X-Koordinatenwerte der charakteristischen Punkte unter

- 17 -

- yt -

• ι*

Berücksichtigung der Reihenfolge bzw. Rangordnung der charakteristischen Punkte vergleicht.

Die X-Koordinatenwerte der benachbarten charakteristischen Punkte werden also miteinander verglichen. Wenn der X-Koordinatenwert des ranghöheren charakteristischen Punkts kleiner ist als der des rangniedrigeren charakteristischen Punkts, wird das Liniensegment als "unten schwarz"-Liniensegment bestimmt. Anderseits wird das Liniensegment als "unten weiß"-Liniensegment bestimmt, wenn der X-Koordinatenwert des ranghöheren charakteristischen Punkts größer ist als der des rangniedrigeren charakteristischen Punkts. Hierbei wird der letztrangige charakteristische Punkt einer einzelnen geschlossenen Schleife bezüglich des charakteristischen Punkts mit dem Rang eins in derselben geschlossenen Schleife so behandelt, als ob er diesem im Rang voranginge.

Die folgende Tabelle zeigt "unten schwarz"-Liniensegmente und "unten weiß"-Liniensegmente mit Bezug auf das in Fig. 1 dargestellte Beispiel.

	^P6	^P7'	Erste	V	Schleife	Zweite	Schleife
"unten schwarz"-	^P1	P₂,		^P3'
"unten weiß"- Liniensegmente	^P4	^P5'	^P7	^P6	^P3 ^P4'	ρ ρ 9 12	ρ ρ ^1O ^11'
		^P2		ρ ρ *9 ^F10'
		^P5	ρ ρ *11 12

BAD ORIOINAL

- 18 -

1 f> _

ZS

m ψ « *

33429A7

Auf die oben beschriebene Weise kann ein die gewünschten Lettern, Zeichen u. a. Formelemente enthaltendes grafisches Muster in Form von binären Daten wiedergegeben werden, indem man die Belichtung mit einer eindimensionalen Ausgabeeinheit steuert. Dies erfolgt auf der Grundlage der Y-Koordinatenwerte der Punkte, an denen sich eine einen ganz bestimmten X-Koordinatenwert aufweisende Scan-Linie mit dem Umriß all der Satztypen-Muster von Lettern, Zeichen u. ä. kreuzt, die gemäß einem gewünschten Layout angeordnet sind, sowie auf der Grundlage von Informationen darüber, ob diese Schnittpunkte Anfangs- oder Endpunkte der Belichtung sind.

Nimmt man an, daß der Y-Koordinatenwert eines Start-Bits, bei dem das Scannen beginnt, "y " ist, die Y-Koordinaten-

III cLX

werte der Anfangspunkte der Belichtung "y,","y," ... und die Y-Koordinatenwerte der Endpunkte der Belichtung "y₂"/ "y₄", .... sind, wie dies in Fig. 3 gezeigt ist, so können die die Belichtung steuernden Daten als Belichtungssteuerungs-Lauflängendaten (run-length data) erhalten werden, und "zwar auf der Grundlage der Daten bezüglich dieser Koordinatenwerte und der jeweiligen Anzahl von Bits in dem Belichtungsbereich und dem Nicht-Belichtungsbereich.

In anderen Worten, werden die Koordinatenwerte aller Schnittpunkte in Abhängigkeit davon sortiert, ob sie Anfangsoder Endpunkte der Belichtung sind. Die so sortierten Koordinatenwerte werden dann in ansteigender (oder abfallender) Reihenfolge verschmolzen (merged), um Lauflängendaten zu erhalten. -^Viii^rtO £|A8

- 19 -

Das obige Verfahren kann wie folgt illustriert werden, wobei man die Darstellung von Fig. 3 als Beispiel nimmt.

Sortieren

Verschmelzen

"unten schwarz" y . , y _ ,

"unten weiß"

W W

^[max

B W BW

...»y _ry ₂,y ₃,y ₄,

4'

Die Koordinatenwerte sind hier mit den Buchstaben "B" und "W" indiziert, um anzuzeigen, ob die zu den Koordinatenwerten gehörenden Schnittpunkte Anfangs- oder Endpunkte der Belichtung sind.

In einem einzelnen Satztypenmuster treten offensichtlich Anfangs- und Endpunkte der Belichtung abwechselnd auf. In bestimmten Layout-Designs läßt man aber oft eine Mehrzahl von Mustern überlappen, um so ein zusammengesetztes oder synthetisiertes Muster zu erhalten.

Ein höchst einfaches Beispiel dafür ist in Fig. 4 gezeigt, in der zwei rechteckige Muster überlagert sind, um ein synthetisiertes Muster zu erhalten. Die Durchführung des Sortierens und Verschmelzens gemäß dem oben beschriebenen Verfahren kann hier wie folgt illustriert werden:

Sortieren

"unten schwarz" y ,, y

"unten weiß"

2'

Verschmelzen

- 20 -

BAD ORIGINAL

* 9 » m • <*

In dem letzteren Stadium treten nämlich in dem obigen Beispiel zwei Anfangspunkte der Belichtung ("unten schwarz") hintereinander auf und ebenso zwei Endpunkte der Belichtung ("unten weiß"). In diesem Fall werden die Zwischenwerte "y ₃" und "y „" ignoriert, und die Belichtung wird durch

Lauf langendaten gesteuert, die "y .," als Anfangspunkt und

W
"y ." als Endpunkt verwenden.

In bestimmten Layout-Designs wird eine Mehrzahl von Mustern zusammengebracht, wie dies in Fig. 5 oder Fig. 6 illustriert ist, und die einander überlappenden Teile werden als "weiße Fächer" oder "Fächer mit Schwarz-Weiß-Umkehr" (pocket) dargestellt.

Um Daten zur Steuerung eines solchen Musters zu erhalten, wird zunächst angenommen, daß Schichten, die jeweils eine der zusammenzubringenden, einzelnen Bildeinheiten enthalten, überlagert werden. Man gibt jeder Schicht ein Attribut, das die Daten der darunter befindlichen Schicht beherrscht, wodurch die gewünschten Steuerdaten erzeugt werden können. (Im Gegensatz zu den logischen Operationen, die an Daten in solchen verschiedenen Schichten durchgeführt werden, können die logischen Operationen in einem Fall, wie er in Fig. 4 illustriert ist, als logische Operationen innerhalb ein und derselben Schicht betrachtet werden).

Jeder der Schichten wird eines der folgenden drei Attribute gegeben:

(I) Mache den von einer geschlossenen Schleife umrandeten Bereich des in der darunterliegenden Schicht befindlichen Musters schwarz;

(II) mache den von einer geschlossenen Schleife umrandeten Bereich des in der darunterliegenden Schicht befindlichen Musters weiß; und

(III) kehre in dem von einer geschlossenen Schleife umrandeten Bereich des in der darunterliegenden Schicht befindlichen Musters Schwarz in Weiß bzw. Weiß in Schwarz um.

In dem in Fig. 5 gezeigten Beispiel wird angenommen, daß die erforderlichen Bildeinheiten jeweils in drei in Fig.

5 (B) dargestellten Schichten enthalten sind, um ein Muster zu erzeugen, wie es in Fig. 5 (A) abgebildet ist. Der untersten Schicht 4, die einen Kreis 1 enthält, ist das Attribut "I" zugeordnet. Der mittleren Schicht 5, die ein Dreieck 2 enthält, ist das Attribut "II" gegeben; das Dreieck 2 entspricht einem Bereich des Zirkels 1, in dem die schwarze Farbe in weiße Farbe umgekehrt ist. Der obersten Schicht

6 schließlich, die ein dem Farbumkehrbereich zu überlagerndes Dreieck 3 enthält, ist das Attribut "I" zugeordnet. Durch Ausführung einer logischen Operation erhält man BiIdbelichtungsdaten, die dem in Fig. 5 (A) gezeigten, synthetisierten Muster entsprechen.

In dem in Fig. 6 dargestellten Beispiel ist der untersten

- 22 BAD ORIGINAL

Schicht 7 das Attribut "I" zugeordnet, während sowohl der mittleren Schicht 8 als auch der obersten Schicht 9 jeweils das Attribut "III" gegeben ist. Wo sich zwei oder mehr, das Attribut "III" tragende Schichten überlappen, wird die Schwarz-Weiß-Umkehr für jede Schicht ausgeführt, wodurch man ein synthetisiertes Muster erhält, wie es im unteren Teil der Zeichnung dargestellt ist.

Die genannten logischen Operationen können wie folgt ausgeführt werden.

Fig. 8 ist ein Blockdiagramm, das ein zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens geeignetes System zeigt. Das System wird noch nachstehend im einzelnen beschrieben. Es besitzt drei Speicher, nämlich einen Speicher 23 für in derselben Schicht verschmolzene Y-Koordinatenwerte, einen ersten Speicher 25 für zwischen verschiedenen Schichten verschmolzene. Y-Koordinatenwerte und einen zweiten Speicher 26 für zwischen verschiedenen Schichten verschmolzene Y-Koordinatenwerte. Im Interesse eines einfacheren Verständnisses der Beschreibung werden diese Speicher im folgenden jeweils als "Zwischenschichtspeicher 23", "erster Zwischenschichtspeicher 25" und "zweiter Zwischenschichtspeicher 26" abgekürzt.

Man nehme nun an, daß eine Stückzahl "i" von jeweils die nötigen Bildeinheiten enthaltenden Schichten überlagert werden, um ein gewünschtes, synthetisiertes Muster zu bilden. Hinsichtlich der Muster beginnend mit der ersten bis hin

"to

zur (i-1 )tai Schicht sei angenonutien, daß die zugehörigen, zwischen den Schichten ablaufenden logischen Operationen vollendet sind, und daß das Ergebnis dieser Operationen bereits in dem ersten Zwischenschichtspeicher 25 (oder in dem zweiten Zwischenschichtspeicher 26) abgespeichert ■■ ist. Andererseits wird auch angenommen, daß für die letzte, 14b Schicht bereits eine schichtinterne logische Operation abgelaufen ist, und daß das Ergebnis in dem Zwischenschichtspeicher 23 abgespeichert ist.

Die Y-Koordinatenwerte "y- , y₂, y₃, y " sind dabei

in der richtigen Reihenfolge im ersten Zwischenschichtspeicher 25 und dem Zwischenschichtspeicher 23 gespeichert. Die Y-Koordinatenwerte sind so angeordnet, daß "unten weiß" und "unten schwarz" abwechselnd auftritt.

Die in den beiden Speichern 23, 25 gespeicherten Y-Koordinatenwerte werden unter Berücksichtigung des derWhiSchicht zugeordneten Attributs "I", "II" oder "III" einem Verschmelzungsprozeß (merge) unterworfen. Die Ergebnisse dieses Verschmelzungsprozesses werden in dem zweiten Zwischen-

schichtspeicher 26 abgespeichert (oder in dem ersten Zwischenschichtspeicher 25 , wenn sich die Resultate der an der ersten bis (i-i)ten Schicht durchgeführten logischen Operationen in dem zweiten Zwischenschichtspeicher 26 befinden). Dieser Verschmelzungsprozeß wird in Abhängigkeit von dem jeweiligen Attribut und der Art und Weise der Überlagerung von Mustern wie folgt durchgeführt.

- 24 BAD ORIGINAL

(1) Wenn der i-im Schicht das Attribut "I" ("mache die darunterliegende Schicht schwarz") gegeben wurde, und

(1-1) wenn der schwarze Abschnitt (y\/ υ\₊ι ) ^^η den weißen Abschnitt (yj- , y ^₊₁) des Arbeitsergebnisses ausgehend von der ersten Schicht bis zur (i-1 )ten Schicht (im folgenden abgekürzt als "Σ¹") fällt, so werden die Werte wie folgt verschmolzen:

(1-2) wenn sich der schwarze Abschnitt (y ,, y in der i-ten Schicht über den weißen Abschnitt {y £ , Υ»,-,) von Σ und seinen anschließenden schwarzen Abschnitt iy α,-, t Υ σ.ι) erstreckt, werden die Werte wie folgt verschmolzen:

(1-3) wenn sich der schwarze Abschnitt (y . , y , - ) in der i-ten Schicht über den schwarzen Abschnitt (y -_/ Y^- P₊-,) von Σ und seinen anschließenden weißen Abschnitt (y λ ₁ , y /7 p) erstreckt, werden die Werte wie folgt verschmolzen:

t- ϊ v-

; und

(1-4) wenn eine der schwarzen Abschnitte den anderen schwarzen Abschnitt in seiner Gesamtheit enthält, wird .der so enthaltene schwarze Abschnitt ignoriert.

zi -

(2) Wenn der i-ten Schicht das Attribut "II" ("mache die darunterliegende Schicht weiß") zugeordnet ist, und

(2-1) wenn der schwarze Abschnitt der i-ten Schicht in den weißen Abschnitt (γ α , von Σ fällt, so wird der schwarze Abschnitt ignoriert;

(2-2) wenn sich der schwarze Abschnitt (y¹, , y¹, .₁)

K K+ I

in der i-ten Schicht über den weißen Abschnitt (y^/> ,

g) und den sich daran anschließenden schwarzen Abschnitt

Y^ a₊2^ erstreckt, werden die Werte wie folgt verschmolzen:

r Yg t Y _k+1 ' Y

(2-3) wenn sich der schwarze Abschnitt (y , , y -, . in der i-ten Schicht über den schwarzen Abschnitt (γ^-f ι Y Ο +ι ) ^un<^ ^^en sich daran anschließenden weißen Abschnitt (y^ ρ Y P+2^ ^von ^" ^{L erstrec}kt, werden die Werte

wie folgt verschmolzen: y^ y\ y¹

k+Γ υ - ^und

(2-4) wenn der schwarze Abschnitt (y¹^, y¹, -) in

der i-ten Schicht innerhalb des schwarzen Abschnitts

(Υ ^? ' Υ ö ,i) von Σ enthalten ist, werden die Werte

wie folgt verschmolzen:

··' ^y ' ^YV y\i' ^γΣε^' ···

(3) wenn der i-ten Schicht das Attribut "III" (Umkehr der Farben Schwarz und Weiß in der unteren Schicht) gegeben

- 26 BAD ORIQ)NAt

• · ft ·

♦ *

wurde, werden die "y" von Σ in der ansteigenden (oder abfallenden) Reihenfolge verschmolzen.

Die logische Operation zwischen Daten in verschiedenen Schichten kann auf die oben beschriebene Art und Weise ausgeführt werden, nämlich indem man ihre Verschmelzung in geeigneter Weise in Übereinstimmung mit dem der i-ten Schicht gegegebenen Attribut und der Art und Weise der Überlappung der Muster durchführt.

Wenn die mit den Musterdaten durchgeführten logischen Operationen innerhalb der Schichten und zwischen den Schichten abgeschlossen sind, erhält man die Y-Koordinatenwerte der Anfangs- und Endpunkte der Belichtung für das komplette Muster, wie es schließlich belichtet und aufgezeichnet werden soll, und zwar in Form der verschmolzenen y-Werte. Auf der Grundlage dieser so verschmolzenen y-Werte werden dann Lauflängendaten erstellt, die geeignet sind, die eindimensionale Ausgabeeinheit zu steuern.

Die erwähnten Lauflängendaten werden als Differenz zwischen den y-Werten und ihren benachbarten y-Werten angegeben, und dann in die Lauflängendaten für eine einzelne Scan-Linie umgewandelt, indem man den Maximalwert "y " der y-Werte in dem belichteten Bildbereich zu dem Anfang der Differenzen hinzuaddiert.

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Für ein übliches Muster nehmen die Lauflangendaten ihren Ausgang von weißen Daten, deren Scan-Startbit auf "ON" gedreht wurde. Im Fall des in Fig. 7 dargestellten Musters, das mit dem in Fig. 5 gezeigten Muster identisch ist, werden die Lauflangendaten beispielsweise wie folgt angegeben:

Kontrollwert Bereich Lauflänge

^{16 weiß} W - ^yi

91 schwarz y₁ - y„

ΘΘ weiß Y₂ - y₃

Θ1 schwarz y, - y.

ΘΘ weiß y. - y₅

Θ1 schwarz y_c - y_c

D D

In der obigen Tabelle zeigt der Kontrollwert (1Θ) die Farbe Weiß (unbelichtet) an, die bei dem Scan-Startpunkt beginnt. Andererseits zeigen (Θ1) und (ΘΘ) jeweils die Farben Schwarz (belichtet) und Weiß (unbelichtet) an.

Fig. 8 ist ein Blockdiagramm, das den Aufbau eines Systems zeigt, wie es nützlicherweise bei der Durchführung des oben beschriebenen Datenverarbeitungsverfahrens verwendet werden kann.

Ein Original-Satztypenspeicher 10 ist ein Speicher, in dem Daten einzelner Muster wie z. B. Lettern, Zeichen u.a. gespeichert sind. Wie mit Bezug auf Fig. 1 beschrieben,

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BAD

enthält der Original-Satztypenspeicher 10 die Koordinatenwerte von charakteristischen Punkten solcher Satztypen, wobei die Koordinatenwerte mit Bezug auf ein internes/ jeweils den Satztypen eigenes Koordinatensystem bestimmt sind, die Anzahl geschlossener Schleifen und die Zahl von charakteristischen Punkten auf jeder geschlossenen Schleife. Durch den Eingriff einer Bedienungsperson werden die Daten einer ausgewählten Satztype ausgegeben und einer Original-Satztypen-Umwandlungseinheit 13 zugeführt. Wenn eine Verschmelzungsoperation zwischen verschiedenen Schichten durchgeführt werden soll, stellen die vorerwähnten drei Typen von Attributen ebenfalls Eingabedaten dar.

Eine Einheit 11 zur Erzeugung grafischer Satztypen dient dazu, Daten bezüglich geometrischer Muster zu liefern, die durch Kurvengleichungen dargestellt werden können. Diese Daten werden, wie oben beschrieben, in Übereinstimmung mit einem vorgegebenen Layout in einen Belichtungs-Ausgabebild-Setzdatenspeicher 14 eingespeist.

Bei dieser Datengewinnung ist es aber von Vorteil, die erforderlichen Kurven mit entsprechenden Polygonen zu approximieren und das erfindungsgemäße Verfahren genauso durchzuführen, wie bei Schriftsatztypen, wobei man die Scheitelpunkte der Polygone als ihre charakteristischen Punkte verwendet, so daß sie auf dieselbe Art und Weise wie Schriftsatztypen o. ä. verarbeitet werden können.

Gelegentlich werden in der Einheit 11 zur Erzeugung grafischer Satztypen auch Daten bezüglich gerader Linien, Striche, Balken o. ä. erzeugt.

Ein Steuerdatenspeicher 12 für Lettern/Zeichen/Muster erstellt gemäß den Anweisungen der Bedienungsperson Datenproduktions-Steuersignale für die Einheit 11 zur Erzeugung grafischer Satztypen und Datenumwandlungs-Steuersignale für die Original-Satztypen-Umwandlungseinheit 13.

Die Original-Satztypen-Umwandlungseinheit 13 unterwirft alle von dem Original-Satztypenspeicher 10 eingegebenen Satztypendaten in Übereinstimmung mit einem vorgegebenen Layout bestimmten grafischen Transformationen, z. B. Verfahrensschritten zur Änderung des Abbildungsmaßstabs, Winkeltransformationen, Drehungen u. ä. Überdies bestimmt die Original-Satztypen-Umwandlungseinheit 13 im Betrieb die Koordinatenwerte aller charakteristischen Punkte gemäß der Anordnung jeder Satztype auf der Fläche des vorgegebenen Layouts, und sie führt die Ergebnisse der Operation der nächsten Stufe zu, nämlich dem Belichtungs-Ausgabebild-Setzdatenspeicher 14. Die Satztypen, z. B. Lettern, Zeichen, Muster u. ä. werden also gemäß einem vorgegebenen Layout angeordnet, so daß sie einen vollen Bildrahmen komplettieren. Die entsprechenden Daten sind in Form von Koordinatenwerten der jeweils zugehörigen charakteristischen Punkte in dem Belichtungs-Ausgabebild-Setzdatenspeicher 14 gespeichert.

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BAPO*

Diese charakteristischen Punkte sind bereits in jeder Satztype numeriert. Eine Erzeugungseinheit 15 für Liniensegmentdaten erhält im Betrieb Daten von Liniensegmenten, die sukzessive benachbarte charakteristische Punkte verbinden, und die Operationsergebnisse werden dann in die nachfolgende Einheit, einen Liniensegment-Datenspeicher 16, eingespeist und dort gespeichert. Die Daten aller Liniensegmente sind als Gleichung einer Liniensegment-Geraden angegeben, die die jeweiligen beiden Punkte verbindet, und sie enthalten überdies, wie oben erwähnt, je eines der drei Attribute, wenn für das Liniensegment eine Unterscheidung_fob es "unten schwarz" oder "unten weiß" ist, und eine schichtenverknüpfende logische Additionsoperation erforderlich ist.

Eine Scanlinien-Kontrolleinheit 17 gibt Daten bezüglich der X-Koordinatenwerte von Scan-Linien aus, die sukzessive die Fläche des oben erwähnten Layouts in der Richtung der Y-Achse abtasten. Eine Berechnungseinheit 18 für Liniensegment-Y-Koordinatenwerte berechnet gestützt auf die in dem Speicher 16 gespeicherten Liniensegmentdaten und die X-Koordinatenwertdaten der Scan-Linien die Y-Koordinatenwerte der Schnittpunkte (im folgenden kurz "Y-Werte") zwischen den Scan-Linien und den Umrißlinien der Satztypen. Die Y-Werte werden in einen Y-Wert-Speicher 19 eingegeben und dort gespeichert.

Eine Y-Wert-Sortiereinheit 20 sortiert die in dem Y-Wert-Speicher 19 abgespeicherten Y-Koordinatenwerte der Schnittpunkte in Abhängigkeit davon, ob die Schnittpunkte Anfangs-

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38-

punkte (unten schwarz) oder Endpunkte (unten weiß) der Belichtung sind. Das Ergebnis des Sortiervorgangs wird in einem Speicher 21 für sortierte Y-Werte gespeichert. Diese Daten werden dann in einer schichtinternverknüpfenden logischen Additionseinheit 22 einem Verschmelzungsprozeß unterworfen, der bereits mit Bezug auf Fig. 4 beschrieben wurde. Die resultierenden Daten werden dann in einem Speicher 23 für schichtintern verschmolzene Y-Werte gespeichert.

Die schichtenverknüpfende logische Additionseinheit 24 und der erste und zweite Speicher 25, 26 für zwischen Schichten verschmolzene Y-Werte wurden schon oben beschrieben.

Eine Lauflängendaten-Erzeugungseinheit 27 erstellt auf der Grundlage der in diesen Speichern 25, 26 gespeicherten Y-Koordinatenwerte Daten betreffend die Y-Koordinatenwerte von Anfangspunkten der Belichtung und der zu belichtenden Längen (der Anzahl von Bildelementen). Die so erzeugten Daten werden anschließend in dem nachfolgenden Lauflängendaten-Speicher 28 gespeichert. Diese Lauflängendaten werden dann in Synchronisation mit der Scanbewegung der eindimensionalen Ausgabeeinheit ausgelesen, die zur Bildwiedergabe dient, wobei die Belichtung dieser Einheit gesteuert und ein binäres (zweiwertiges)Bildmuster aufgezeichnet wird, das in seiner Anordnung einem vorgegebenen Layout entspricht.

Die Erfindung ist nicht auf die beschriebene Ausführungsform beschränkt. Einem Fachmann sind vielmehr im Rahmen der vorliegenden Erfindung zahlreiche Änderungen und Abwandlungen möglich.

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Leerseite

Claims

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33429A7

24. November 1983 P 9189 - nrs

Dainippön Screen Seizo Kabushiki kaisha

1-1 Tenjin-kitamachi, Teranouchi-agaru 4-chome, Horikawa-dori, Kamigyo-ku, Kyoto, Japan.

Verfahren zur Behandlung der Daten eines binären grafischen

Musters und System dafür

Ansprüche

Oy Verfahren zur Umwandlung eines in Form von Binärsignalen ausgedrückten grafischen Musters in Lauflängendaten, um das grafische Muster zu duplizieren und aufzuzeichnen, bei dem man das grafische Muster auf der Grundlage von Daten bezüglich seiner Umrißlinien in einem Speicher speichert und die Ausgabe einer eindimensionalen Ausgabe-Einheit entsprechend den letzteren Daten steuert, gekennzeichnet durch folgende Verfahrensschritte:

Man gibt Daten zu jedem der Liniensegmente aus, die jeweils der Reihe nach benachbarte charakteristische Punkte auf den Umrißlinien des grafischen Musters verbinden, und zwar gemäß den Koordinatenwerten der einander benachbarten beiden charakteristischen Punkte, zwischen denen sich das Linien-

W · β

segment erstreckt;

man bestimmt den Y-Koordinatenwert des Schnittpunkts zwischen allen in Y-Achsenrichtung verlaufenden Scan-Linien und allen Liniensegmenten in der eindimensionalen Ausgabeeinheit;

gestützt auf die Reihenfolge aller charakteristischen Punkte und die relative Größe des X-Koordinatenwerts aller benachbarten charakteristischen Punkte unterscheidet man, ob sich der Schnittpunkt bezüglich der Abtast-Richtung der Scan-Linie entweder am vorwärtigen Randabschnitt oder rückwärtigen Randabschnitt des schwarzen Bereichs des Musters befindet; und

man steuert die Ausgabe der eindimensionalen Ausgabeeinheit anhand des Y-Koordinatenwerts des Schnittpunkts und des Ergebnisses der Unterscheidung.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,

daß man die Reihenfolge aller charakteristischen Punkte bestimmt, indem man ihre zugehörige Umrißlinie derart verfolgt, daß der schwarze Bereich des Musters an der linken Seite (oder an der rechten Seite) der Umrißlinie zu liegen kommt,

daß man die X-Koordinatenwerte der jeweils benachbarten beiden charakteristischen Punkte miteinander vergleicht,

- 3 ORIGINAL

« *· * » * k ft
γ Afc • · * r * *

und daß man die Unterscheidung, daß der Schnittpunkt auf dem die beiden charakteristischen Punkte verbindenden Liniensegment sich.an dem vorwärtigen Randabschnitt des schwarzen Bereichs des Musters befindet, dann trifft, wenn der X-Koordinatenwert des ranghöheren charakteristischen Punkts kleiner (oder größer) als der X-Koordinatenwert des rangniedrigeren charakteristischen Punkts ist,

wahrend man umgekehrt die Unterscheidung, daß der Schnittpunkt auf dem die beiden charakteristischen Punkte verbindenden Liniensegment sich an dem rückwärtigen Randabschnitt
des schwarzen Bereichs des Musters befindet, dann trifft, wenn der X-Koordinatenwert des ranghöheren charakteristischen Punkts größer (oder kleiner) als der X-Koordinatenwert des rangniedrigeren charakteristischen Punkts ist.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß man den Schnittpunkt in dem vorwärtigen Randabschnitt des schwarzen Bereichs des Musters als Anfangspunkt einer Aufzeichnung und den Schnittpunkt in dem rückwärtigen Randabschnitt des schwarzen Bereichs des Zeichens als Endpunkt der Aufzeichnung wählt, beides mittels einer eindimensionalen Ausgabeeinheit.
4, Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,

daß eine Vielzahl von Typen grafischer Muster einzeln unter Verwendung je eines spezifischen X-Y-Koordinatensystems

in einem Speicher gespeichert sind, daß man nach Bedarf aus dieser Vielzahl eines oder mehrere dieser grafischen Muster herausgreift und gemäß einem gewünschten Layout anordnet und

daß man die X-Y-Koordinatenwerte aller so angeordneter grafischer Muster gemäß der Position jedes grafischen Musters auf dem Layout in zu einem Koordinatensystem auf dem Layout gehörige Koordinatenwerte umwandelt, um die X-Y-Koordinatenwerte aller so angeordneter grafischer Muster zu verarbeiten.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Anordnung jedes grafischen Musters auf dem Layout die Bestimmung seines Orts diesbezüglich sowie eine Vielfalt von Modifikationen beinhaltet.
6. Verfahren nach Anspruch 5, gekennzeichnet durch aus folgender Gruppe ausgewählte Modifikationen: Modifikation in der Vergrößerung; Strecken in der Vertikalrichtung; Abflachen bzw. Abplatten; Neigen; Drehen.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet,

daß man eine Mehrzahl grafischer Muster übereinander in demselben Teil des Layouts anordnet,

daß man die Y-Koordinatenwerte der Schnittpunkte in dem

BAD ORIGINAL

grafischen Muster gemäß einem Standard sortiert, je nachdem, ob die Schnittpunkte Anfangs- oder Endpunkte der Aufzeichnung sind,

und daß man die so sortierten Y-Koordinatenwerte anschließend einem Verschmelzungsprozeß unterwirft, um so die Lauflängendaten zu erhalten.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet,

daß man eine Mehrzahl grafischer Muster übereinander in demselben Bereich auf einem Layout anordnet,

daß man die Positionsreihenfolge der grafischen Muster bestimmt

und daß man jedem grafischen Muster ein Attribut hinzufügt, das geeignet ist, die Aufzeichnung des darunterliegenden grafischen Musters zu steuern, um dadurch die Wiedergabe oder Nicht-Wiedergabe eines Bereichs des reproduzierten Musters zu kontrollieren, der dem schwarzen Bereich des oberen Musters entspricht.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß man für das Attribut eine Wahl aus drei Typen von Attributen trifft, die aus "unten schwarz", "unten weiß" und "unten schwarz/weiß vertauscht" bestehen.

— 6 — * · ·
10. System zur Datenbehandlung an einem binären grafischen Muster, gekennzeichnet durch

einen ersten Speicher, der geeignet ist, das in Form von binären Signalen ausgedrückte grafische Muster anhand der X-Y-Koordinatenwerte aller charakteristischen Punkte auf allen Umrißlinien des grafischen Musters zu speichern;

eine Datenumwandlungseinheit, die geeignet ist, in dem ersten Speicher gespeicherte Daten auszulesen und diese in Übereinstimmung mit einem gewünschten Layout umzuwandeln;

einen zweiten Speicher, der geeignet ist, die so umgewandelten Daten zu speichern;

eine erste Einheit, die geeignet ist, auf der Grundlage der Daten aus dem zweiten Speicher Daten zu erstellen, die angeben, ob sich die Liniensegmente, die jeweils einander benachbarte charakteristische Punkte des grafischen Musters verbinden, im einzelnen auf der Anfangs- oder Endseite der Aufzeichnung bezüglich der Abtastrichtung einer Scan-Linie befinden;

einen dritten Speicher, der geeignet ist, die die Liniensegmente betreffenden Daten zu speichern;

eine Scanlinien-Kontrolleinheit, die geeignet ist, Scanlinien-Steuerdaten zu erzeugen, so daß die Fläche des Layouts sukzessive in Y-Achsrichtung abgetastet wird;

BAP ORIGINAL

eine Einheit, die geeignet ist, auf der Grundlage der in dem dritten Speicher gespeicherten Liniensegmentdaten und der Scanlinien-Steuerdaten die Y-Koordinatenwerte aller Schnittpunkte der Scan-Linien und Liniensegmente zu berechnen;

ein vierter Speicher, der geeignet ist, die Y-Koordinatenwerte zu speichern; und

eine zweite Einheit, die geeignet ist, in Übereinstimmung mit den in dem vierten Speicher gespeicherten Daten und den Daten, die angeben, ob sich die Schnittpunkte jeweils auf der Anfangs- oder Endseite der Aufzeichnung befinden, Lauflängendaten zur Steuerung einer Aufzeichnungs-Ausgabeeinheit zu erzeugen.