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DE3208086A1 - Verfahren zur herstellung von schichten aus amorphem silizium und verwendung einer plasmakanone zur durchfuehrung dieses verfahrens - Google Patents

Verfahren zur herstellung von schichten aus amorphem silizium und verwendung einer plasmakanone zur durchfuehrung dieses verfahrens

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DE3208086A1
DE3208086A1 DE19823208086 DE3208086A DE3208086A1 DE 3208086 A1 DE3208086 A1 DE 3208086A1 DE 19823208086 DE19823208086 DE 19823208086 DE 3208086 A DE3208086 A DE 3208086A DE 3208086 A1 DE3208086 A1 DE 3208086A1
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DE
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silicon
atomic
substrate
hydrogen
bombardment
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DE19823208086
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Lotar Dr. 7303 Neuhausen Liebing
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Deutsches Zentrum fuer Luft und Raumfahrt eV
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Deutsches Zentrum fuer Luft und Raumfahrt eV
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Description

  • Beschreibung
  • Verfahren zur Herstellung von Schichten aus amorphem Silizium und Verwendung einer Plasmakanone zur Durchführung dieses Verfahrens Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung von Schichten aus amorphem, hydrogeniertem Silizium, bei welchem man Silizium im Vakuum verdampft und auf einem Substrat niederschlägt und bei welchem man das Substrat mit dem Siliziumniederschlag mit atomarem Wasserstoff beschießt, sowie die Verwendung einer für dieses Verfahren besonders geeigneten Plasmakanone.
  • Schichten aus amorphem Silizium, denen zur Absättigung freier Bindungen Wasserstoff, Sauerstoff oder Fluor zugegeben ist, gewinnen in der Halbleitertechnologie zunehmend an Bedeutung, speziell auf dem Gebiet der Dünnschichtsolarzellen. Bei der Herstellung dieser Schichten ist es wesentlich, daß der Wasserstoff, der Sauerstoff oder das Fluor in atomarer Form mit dem Silizium in Berührung kommen, damit die in dem amorphen Silizium vorhandenen offenen Bindungen effektiv abgesättigt werden.
  • Bisher sind zwei Verfahren zur Herstellung solcher Schichten bekannt, nämlich die Abscheidung von atomarem Wasserstoff aus einer Silan-Glimmentladung (M.H. Brodsky et al in Appl.Phys.Letters, Band 30, Nr.11, 1. Juni 1977, Seiten 561 bis 563) oder das Sputtern in einer Wasserstoffentladung mit Zugabe von Edelgasen (W.T. Pawlewicz, J.Appl.Phys.
  • 49(11), November 1978, Seiten 5595 bis 5600). Bei dem zuerst genannten Verfahren der Abscheidung aus einer Silan-Glimmentladung ergibt sich ein nachteilig hoher Energieverbrauch. Dies liegt daran, daß pro Siliziumatom weniger als ein Wasserstoffatom angelagert werden kann, so daß also pro Silan-Molekül im Mittel mindestens drei Wasserstoffatome dissoziiert werden müssen. Außerdem ist der Dissoziationswirkungsgrad durch Elektronenstoß in der Glimmentladung aufgrund des kleinen Massenverhältnisses von Elektron zu Silan-Molekül gering. Weiter kommt hinzu, daß wegen der relativ hohen Teilchendichte in der Glimmentladung mehrere Rekombinationen stattfinden, bevor ein Siliziumatom und ein Wasserstoffatom endgültig das Substrat erreichen. Bei der Abscheidung aus der Silan-Glimmentladung reichert sich Wasserstoffgas in der Silanentladung an, da pro Siliziumatom weniger als ein Wasserstoffatom benötigt wird. Bei konstanter Gaszusammensetzung muß daher das Entladungsgas ständig ausgetauscht werden.
  • Bei dem Sputter-Verfahren ist der Energieverbrauch ebenfalls außerordentlich hoch, da das Sputtergas ionisiert und beschleunigt werden muß, da weiterhin der Wirkungsgrad des Sputter-Prozesses schlecht ist und da gesputterte Siliziumatome mit den Teilchen der Sputter-Entladung Stöße ausführen, bevor die Siliziumatome das Substrat erreichen.
  • Es ist auch bekannt, amorphes, hydrogeniertes Silizium dadurch herzustellen, daß Silizium im Vakuum verdampft und auf ein Substrat niedergeschlagen wird, während Wasserstoffatome gegen das Substrat geschossen werden (David L.
  • Miller et al, J.Appl.Phys. 49(12), Dezember 1978, Seiten 6192 und 6193). Bei diesem bekannten Verfahren werden die Wasserstoffatome durch thermische Dissoziation von Wasserstoffgas hergestellt. Dieses Verfahren ist apparativ sehr aufwendig, da Temperaturen in der Größenordnung von 20000C notwendig sind, weiterhin ergeben sich für die Wasserstoffatome nicht die für den Einbau in die Siliziumschicht optimalen kinetischen Energien.
  • Es ist Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren der gattungsgemäßen Art derart zu verbessern, daß der Einbau von freie.
  • Bindungen im Silizium absättigenden Atomen mit geringerem apparativem Aufwand und mit besserem Wirkungsgrad erfolgen kann.
  • Diese Aufgabe wird bei einem Verfahren der eingangs beschriebenen Art erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß man den atomaren Wasserstoff durch Dissoziation von molekularem Wasserstoff oder einem anderen, Wasserstoff enthaltenden Gas in einer Bogenentladung von geringem Ionisationsgrad erhält und durch dieselbe Bogenentladung thermisch, elektrisch und/oder elektromagnetisch gegen das Substrat beschleunigt.
  • Man kann das Substrat mit dem Siliziumniederschlag statt mit atomarem Wasserstoff auch mit atomarem Fluor oder atomarem Sauerstoff beschießen, den man in der gleichen Weise erzeugt wie den atomaren Wasserstoff.
  • Wichtig ist bei diesem Verfahren, daß der atomare Wasserstoff, der atomare Sauerstoff bzw. der atomare Fluor durch Dissoziation in einer Bogenentladung hergestellt und durch dieselbe Entladung auf das Substrat hin beschleunigt werden. Bei diesem Verfahren ist der Energieverbrauch gering, ferner tritt eine Anreicherung von Wasserstoffgas in der Entladung nicht auf. Die benötigte Energie besteht aus der Schmelz- und Verdampfungsenergie des Siliziums, die relativgering sind. Der Energiebedarf der Bogenentladung ist ebenfalls gering, wenn die Bogenentladung so eingestellt wird, daß der Ionisationsgrad nur etwa 10% beträgt und die Entladung selbst nahezu im Gleichgewicht ist. Der wesentliche Teil der Energie geht dann in die Dissoziation des Wasserstoffmoleküls bzw. in die Dissoziation des Wasserstoff, Sauerstoff oder Fluor enthaltenden Gasmoleküls über.
  • Die Beschleunigung auf das Substrat erfolgt thermisch oder elektrisch oder elektromagnetisch. Bei der elektrischen oder der elektromagnetischen Beschleunigung wird das schwach ionisierte Plasma global beschleunigt, wobei Ladungsaustausch die wesentliche Rolle spielt. Bei diesen Arten der Beschleunigung ist der Energieverbrauch nur wenig größer als es der Endgeschwindigkeit der Beschußatome entspricht (z.B. 1 eV pro Atom).
  • Vorteilhaft ist weiterhin, daß die Siliziumaufdampfrate und die Beschußrate unabhängig voneinander auf das optimale Verhältnis von Silizium zu Wasserstoff bzw. Sauerstoff bzw.
  • Fluor eingestellt werden können. Dadurch werden die Komponenten im richtigen Verhältnis verbraucht und es tritt keine Anreicherung einer der Komponenten auf.
  • Vorteilhaft ist es, wenn man auf dem Substrat abwechselnd Silizium niederschlägt und atomaren Wasserstoff, Sauerstoff oder atomares Fluor auftreffen läßt. Dadurch erhält man einen schichtförmigen Aufbau des amorphen Siliziums und kann auf diese Weise die Bandabstände in der Siliziumschicht entsprechend den jeweiligen Anforderungen variieren.
  • Vorteilhaft ist es auch, wenn man die Bogenentladung im Impulsbetrieb arbeiten läßt.
  • Bei einer bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung ist vorgesehen, daß man gleichzeitig mit dem Beschuß des Substrates mit dem Siliziumniederschlag mit atomarem Wasserstoff, Sauerstoff oder Fluor eine Dotierung des Siliziumniederschlages mit Bor, Phosphor oder Indium vornimmt, welches in atomarer Form durch die Bogenentladung auf das Substrat mit dem Siliziumniederschlag gelenkt wird. Dabei kann man der Bogenentladung Gase zuführen, die sowohl die Dotierungsatome als auch die Beschußatome enthalten, z.B. Diboran oder Phosphin.
  • Diese Gase werden in der Bogenentladung in das atomare Beschußgas und in das Dotierungsgas zerlegt, die dann gleichzeitig dem Silizium zugeführt werden.
  • Gemäß der Erfindung wird weiterhin vorgeschlagen, zur Erzeugung der atomaren Beschußatome des beschriebenen Verfahrens eine Plasmakanone zu verwenden, wie sie im Anspruch 7 beschrieben ist. Mit einer solchen Plasmakanone kann man einen Beschußplasmastrahl (atomaren Wasserstoffstrahl, atomaren Sauerstoffstrahl, atomaren Fluorstrahl) erzeugen, in dem das Beschußplasma auf eine kinetische Energie von 10 bis 100 eV mit großer Ausbeute beschleunigt werden kann, wobei dieses Plasma keine Verunreinigung durch Kathodenerosion aufweist.
  • Die nachfolgende Beschreibung bevorzugter Ausführungsbeispiele der Erfindung dient im Zusammenhang mit der Zeichnung der näheren Erläuterung. Es zeigen: Fig. 1 eine schematische Ansicht einer Vorrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens und Fig. 2 eine schematische Ansicht einer Plasmakanone zur Verwendung in dem erfindungsgemäßen Verfahren.
  • In einem evakuierten Gefäß, von dem in Fig. 1 nur ein Teil der Wand 1 dargestellt ist, sind mehrere Substrate 2 angeordnet, auf denen die Schicht des amorphen Siliziums gebildet wird.
  • Im-Inneren des Gefäßes befindet sich ein Behälter 3, in dem Silizium 4 enthalten ist. Dieses wird in dem Behälter erwärmt und dadurch verdampft, beispielsweise durch eine Widerstandsheizung oder - wie in Fig. 1 angedeutet - durch Elektronenbeschuß. Der entstehende Siliziumdampf trifft auf das Substrat 2 auf und ~wird dort niedergeschlagen.
  • Weiterhin ist im Innern des Behälters eine Plasmakanone 5 angeordnet, mittels welcher ein Strahl aus atomarem Wasserstoff, atomarem Sauerstoff oder atomarem Fluor auf das Substrat 2 gelenkt wird, so daß diese Gasatome in die Ablagerungsschicht des Siliziums eintreten und dort freie Bindungen absättigen können.
  • Verdampfung und Betrieb der Plasmakanone können gleichzeitig erfolgen, für bestimmte Anwendungsfälle kann es günstig sein, diese alternierend zu betreiben, so daß auf dem Substrat ein Schichtaufbau entsteht, der die Ausbildung unterschiedlicher Bandstrukturen in der niedergeschlagenen Schicht ermöglicht.
  • In der Plasmakanone 5 werden die atomaren Beschußgase in einer Bogenentladung mit relativ niedrigem Ionisationsgrad (z.B. 10%) erzeugt, die Beschleunigung der atomaren Beschußgase erfolgt dabei thermisch, elektrisch oder elektromagnetisch durch die Bogenentladung selbst.
  • In Fig. 2 ist ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel einer Plasmakanone dargestellt, welche zur Erzeugung eines atomaren Beschußgases und gegebenenfalls einer Dotierungskomponente besonders gut geeignet ist.
  • In einem allseits abgeschlossenen Raum 11 mit isolierenden Wänden 12 befindet sich auf einer Seite eine in der Zeichnung nicht vollständig dargestellte metallische Kathode 13 sowie auf der gegenüberliegenden Seite eine ebenfalls metallische Hilfsanode 14. Diese weist eine sie durchsetzende Gaszufuhr 15 auf, die mit einer Zufuhrleitung 16 in Verbindung steht.
  • In der Seitenwand des Raumes 11 befindet sich am kathodenseitigen Ende der.Brennstrecke zwischen Kathode und Hilfsanode eine öffnung 17, die mit einem senkrecht zur Brennstrecke verlaufenden Kanal 18 in Verbindung steht. Die Wände 19 des Kanals 18 bestehen ebenfalls aus elektrisch isolierendem Material und sind von einer wendelförmigen Kühlschlange 20 umgeben, durch die ein Kühlmittel geleitet werden kann, welches die Wände 19 kühlt.
  • In das Innere des Kanals 18 mündet eine Gaszufuhr 21 ein.
  • In einem weiteren abgeschlossenen Raum 22 mit Wänden 23 aus elektrisch isolierendem Material ist eine Anode 24 mit einem zentralen Zuführkanal 25 angeordnet. In der Verlängerung des Zuführkanals 25 befindet sich in der Stirnwand des Raumes 22 eine öffnung 26, welche den zwischen Anode 24 und Wand 23 angeordneten Anodenraum 27 mit der Umgebung verbindet.
  • Im Betrieb werden sowohl der Raum 11 mit Kathode und Hilfsanode und dem daran anschließenden Kanal als auch der Raum 22 mit der Anode in ein evakuiertes Gefäß gebracht. Die Zufuhrleitung 16, die Gaszufuhr 21 und der Zuführkanal 25 werden in aus der Zeichnung nicht ersichtlicher Weise mit entsprechenden Gasquellen verbunden, vorzugsweise mit derselben Gasquelle. Außerdem werden die Elektroden mit geeigneten Spannungsquellen verbunden; dies ist in der Zeichnung ebenfalls nicht dargestellt.
  • Beim Anlegen einer Spannung entsteht zwischen der Kathode 13 einerseits und der Anode 24 andererseits eine Bogenentladung, wobei als Träger der Bogenentladung im Raum vor der Kathode ein aufgrund der Kathodenerosion gebildetes Metallplasma sowie das.durch.die Zufuhrleitung 16 zugeführte Gas dienen. In dem rohrförmigen Kanal 18 gelten im kathodenseitigen Einlaßbereich ähnliche Verhältnisse. Durch die Kühlung der Wand 19 kondensiert das mit dieser gekühlten Fläche in Berührung kommende Metallplasma an der Innenwand des Kanals 18, so daß durch diese Kondensation die Teilchendichte im Kanal 18 kontinuierlich abnimmt. Dies wird durch die Zufuhr von Gas durch die Gaszufuhr 21 ausgeglichen, so daß im kathodenfernen Ende des rohrförmigen Kanals 18 die Entladung ausschließlich von dem über die Gaszuführung 21 eingeleiteten Gas getragen wird.
  • Durch die Entladung wird in dem über den Zuführkanal 25 in den Anodenraum eingeleiteten Betriebsgas sowohl eine Ionisierung als auch eine Dissoziation von Molekülen eintreten, so daß ein Plasma entsteht, das im folgenden als Beschußplasma bezeichnet wird. Dieses Beschußplasma bildet einen durch die Öffnung 26 austretenden Beschußplasmastrahl aus, der sich in Richtung des Pfeiles A ausbreitet. In diesem Beschußplasmastrahl sind Ionen enthalten, die durch das Entladungsfeld beschleunigt worden sind. Durch Umladungseffekte und durch thermische Stöße wird diese Beschleunigung auf die anderen Teilchen in dem Beschußgas übertragen, so daß insgesamt die Teilchen in dem Beschußplasmastrahl die gewünschte kinetische Energieverteilung erhalten. Beispielsweise wurden im Fall einer mit molekularem Wasserstoff betriebenen Plasmakanone mittlere kinetische Energien in der Größenordnung von 20 eV gemessen. Die Dissoziation und die teilweise erfolgende Ionisation des Beschußgases finden im wesentlichen im Anodenraum und im Bereich der Öffnung 26 statt.
  • Durch den relativ hohen Ionisationsgrad wird ein großer Teil des Beschußgases..beschleunigt, so daß die Ausbeute des Beschußplasmastrahles groß ist, die Belastung des Vakuums durch nicht beschleunigtes Gas bleibt jedoch gering.
  • Die relative Anordnung des Kathodenraums mit dem rohrförmigen Kanal zu dem Anodenraum ist derart getroffen, daß das aus dem rohrförmigen Kanal 18 austretende Gas im wesentlichen senkrecht auf den BeschuBplasmastrahl trifft.
  • Diese Maßnahme erhöht die Reinheit des Beschußplasmas, denn selbst wenn sich in dem durch den Kanal strömenden Verbindungsplasma noch Metallplasmateilchen aus der Kathode befinden sollten, fliegen diese senkrecht durch den Beschußplasmastrahl hindurch und gelangen somit nicht auf das zu behandelnde Substrat, welches stromabwärts in den Beschußplasmastrahl gebracht wird.
  • Man erhält somit eine zweifache Sicherung gegen die Verunreinigung des Beschußplasmas, und zwar einmal durch das Niederschlagen des Metallplasmas an den gekühlten Wänden des Kanals und zum anderen durch die senkrechte Einleitung des Verbindungsplasmas in dem Beschußplasmastrahl.
  • Als Betriebsgas lassen sich verschiedene Gase verwenden, günstig ist beispielsweise die Verwendung von Wasserstoff, Fluor, Sauerstoff oder von Dotierungsgasen wie Phosphin oder Diboran. Die elektrisch isolierenden Wände der Räume 11 und 12 sowie des Kanals 18 bestehen vorzugsweise aus Keramik, insbesondere aus Aluminium-Oxid-Keramik.

Claims (7)

  1. Patentansprüche Verfahren zur Herstellung von Schichten aus amorphem, hydrogeniertem Silizium, bei welchem man Silizium im Vakuum verdampft und auf einem Substrat niederschlägt und bei welchem man das Substrat mit dem Silizium-Niederschlag mit atomarem Wasserstoff beschießt, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , daß man den Wasserstoff durch Dissoziation von molekularem Wasserstoff oder einem anderen, Wasserstoff enthaltenden Gas in einer Bogenentladung von geringem Ionisationsgrad erhält und durch dieselbe Bogenentladung thermisch, elektrisch und/oder elektromagnetisch gegen das Substrat beschleunigt.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß man das Substrat mit dem Siliziumniederschlag statt mit atomarem Wasserstoff mit atomarem Fluor oder Sauerstoff beschießt, den man in gleicher Weise erzeugt wie den atomaren Wasserstoff.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß man auf dem Substrat abwechselnd Silizium niederschlägt und atomaren Wasserstoff, Sauerstoff oder atomares Fluor auftreffen läßt.
  4. 4. Verfahren nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß man die Bogenentladung im Impulsbetrieb arbeiten läßt.
  5. 5. Verfahren nach einem der voranstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß man gleichzeitig mit dem Beschuß des Substrates mit dem Siliziumniederschlag mit atomarem Wasserstoff, Sauerstoff oder Fluor eine Dotierung des Siliziumniederschlages mit Bor, Phosphor oder Indium vornimmt, welches in atomarer Form durch die Bogenentladung auf das Substrat mit dem Siliziumniederschlag gelenkt wird.
  6. 6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß man der Bogenentladung Gase zuführt, die sowohl die Dotierungsatome als auch die Beschußatome enthalten, z.B. Diboran oder Phosphin.
  7. 7. Verwendung einer Plasmakanone mit einer Kathode und einer Anode, der eine Zufuhr für das Betriebsgas eines Beschußplasmastrahls in den Anodenbereich zugeordnet ist, wobei die Kathode seitlich vom Beschußplasmastrahl angeordnet ist, bei welcher das Verbindungsplasma zwischen Kathode und Beschußplasmastrahl durch einen Kanal geführt wird, in dessen Bereich mindestens eine gekühlte Fläche vorgesehen ist, an welcher Kathodenmaterial aus dem Verbindungsplasma niedergeschlagen wird, und wobei dem Kanal eine Gaszufuhr zugeordnet ist, durch welche zur Aufrechterhaltung einer im wesentlichen konstanten Teilchendichte im Verbindungsplasma Gas als Ersatz des niedergeschlagenen Kathodenmaterials zuführbar ist, zur Erzeugung der atomaren Beschußatome für das Verfahren der Ansprüche 1 bis 6.
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