[go: up one dir, main page]

DE3248034A1 - Circuit arrangement for temperature measurement - Google Patents

Circuit arrangement for temperature measurement

Info

Publication number
DE3248034A1
DE3248034A1 DE19823248034 DE3248034A DE3248034A1 DE 3248034 A1 DE3248034 A1 DE 3248034A1 DE 19823248034 DE19823248034 DE 19823248034 DE 3248034 A DE3248034 A DE 3248034A DE 3248034 A1 DE3248034 A1 DE 3248034A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
voltage
temperature
circuit arrangement
thermistor
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19823248034
Other languages
German (de)
Other versions
DE3248034C2 (en
Inventor
Gerhard Dipl.-Ing. 7301 Weil im Schönbuch Pross
Frank Dipl.-Ing. 7031 Altdorf Rochlitzer
Andreas H. 7036 Schönaich Schober
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hewlett Packard GmbH Germany
Original Assignee
Hewlett Packard GmbH Germany
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hewlett Packard GmbH Germany filed Critical Hewlett Packard GmbH Germany
Priority to DE3248034A priority Critical patent/DE3248034C2/en
Publication of DE3248034A1 publication Critical patent/DE3248034A1/en
Application granted granted Critical
Publication of DE3248034C2 publication Critical patent/DE3248034C2/en
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
    • G01K7/22—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
    • G01K7/24—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
    • G01K7/245—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit in an oscillator circuit
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K13/00—Thermometers specially adapted for specific purposes
    • G01K13/20—Clinical contact thermometers for use with humans or animals

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

The invention relates to a circuit arrangement for temperature measurement, in particular for measuring the body temperature of a patient. Use is made as measurement probe of a thermistor Rv which is connected to the primary side of a transformer T whose secondary winding is a part of an anti-resonant circuit (rejector) 2. The change in the attenuation of the anti-resonant circuit 2 as a function of the respective resistance value of the thermistor Rv is evaluated by means of a processor 1 in order to determine the temperature to be measured. Self-calibration is also possible using this circuit arrangement, as a result of which it is possible to obtain a high measurement accuracy even in the case of varying climatic conditions. <IMAGE>

Description

Schaltungsanordnung zur Temperaturmessung Circuit arrangement for temperature measurement

Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zur Temperaturmessung, wie sie im Oberbegriff des Patentanspruches 1 angegeben ist.The invention relates to a circuit arrangement for temperature measurement, as indicated in the preamble of claim 1.

Für die Messung von Temperaturen ist es bekannt, temperaturabhängige Widerstände, sogenannte Thermistoren, zu verwenden. Die Thermistoren haben in Abhängigkeit von ihrer Temperatur einen charakteristischen Widerstandsverlauf, der es ermöglicht, daß jedem auftretenden Widerstandswert eine bestimmte Term= peratur zugeordnet werden kann. Für spezielle Anwendungsbereiche, insbesondere bei der Messung der Körpertemperatur von Patienten, müssen die als Meßsonden dienenden Thermistoren aus Sicherheitsgründen von der Versorgungsspannung und der übrigen Meßanordnung galvanisch getrennt sein. Um diese Forderung zu erfüllen und um eine hohe Meßgenauigkeit zu erhalten, waren bisher sehr aufwendige Schaltungsanordnungen notwendig. Um eine galvanische Trennung zwischen Meßsonde und der übrigen Meßschaltung zu erhalten, kann beispielsweise eine Leuchtdiode zur Meßsignalübertragung verwendet werden. Eine derartige Schaltung erfordert jedoch einen erheblichen Schaltungsaufwand, um eine geforderte Meßgenauigkeit von f 0,20 C zu erhalten.For the measurement of temperatures it is known to be temperature-dependent To use resistors, so-called thermistors. The thermistors have a dependency a characteristic resistance curve from their temperature, which makes it possible that a certain term = temperature can be assigned to each resistance value that occurs can. For special areas of application, especially when measuring body temperature of patients, the thermistors serving as measuring probes must for safety reasons be galvanically isolated from the supply voltage and the rest of the measuring arrangement. In order to meet this requirement and to obtain a high level of measurement accuracy, were previously very complex circuit arrangements were necessary. About galvanic isolation between the measuring probe and the rest of the measuring circuit, can For example, a light emitting diode can be used for measuring signal transmission. One However, such a circuit requires a considerable amount of circuitry to a The required measurement accuracy of f 0.20 C can be obtained.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine möglichst einfache Schaltungsanordnung für die Temperaturmessung zu schaffen, bei der die Meßsonde von der übrigen Meßanordnung galvanisch getrennt ist.The invention is based on the object as simple as possible To create a circuit arrangement for temperature measurement, in which the measuring probe is galvanically separated from the rest of the measuring arrangement.

Die Lösung dieser Aufgabe wird durch die im Anspruch 1 angegebenen Merkmale erhalten. Der als Meßsonde dienende Thermistor ist der Primärwicklung eines Übertragers parallel geschaltet und beeinflußt damit als temperaturabhängiger Dämpfungswiderstand den sekundärseitigen Schwingkreis. Der vorzugsweise mit konstanter Frequenz angeregte Schwingkreis erfährt dadurch eine von der zu messenden Temperatur abhängige Dämpfung, die zur Bestimmung der jeweils zu messenden Temperatur ausgewertet werden kann. Diese Auswertung kann auf unterschiedliche Arten erfolgen.The solution to this problem is given by those specified in claim 1 Features preserved. The thermistor serving as a measuring probe is the primary winding of a Transformer connected in parallel and thus influences as a temperature-dependent damping resistor the secondary-side oscillating circuit. The one preferably excited at a constant frequency The oscillating circuit experiences a damping depending on the temperature to be measured, which can be evaluated to determine the temperature to be measured in each case. This evaluation can be done in different ways.

Die bevorzugte Ausführungsform der Erfindung sieht vor, daß der Schwingkreis als Parallelschwingkreis ausgebildet ist und zusammen mit einem Widerstand einen Spannungsteiler bildet. Bei dieser Ausführungsform wird der Schwingkreis über den Widerstand vorzugsweise mit einem~Rechtecksignal angeregt. Die zwischen Schwingkreis und Widerstand abgegriffene Spannung wird von einem integrierenden Analog-Digitalwandler und einem nachgeschalteten Prozessor ausgewertet. Zur Auswertung kann im Prozessor wenigstens näherungsweise der von der Temperatur des Thermistors abhängige Dämpfungsverlauf bzw. der Spannungsverlauf mit den zugehörigen Temperaturwerten abgespeichert sein. Die jeweils gemessene Dämpfung bzw. Spannung kann dann mit den abgespeicherten Werten verglichen und daraus die zugehörige Temperatur abgeleitet und zur Anzeige gebracht werden.The preferred embodiment of the invention provides that the resonant circuit is designed as a parallel resonant circuit and together with a resistor a Voltage divider forms. In this embodiment, the resonant circuit is via the Resistance preferably excited with a square wave signal. The one between the oscillating circuit and resistance tapped voltage is obtained by an integrating analog-to-digital converter and evaluated by a downstream processor. To the results can in the processor at least approximately that dependent on the temperature of the thermistor Attenuation curve or the voltage curve with the associated temperature values be saved. The attenuation or voltage measured in each case can then be compared with the the stored values are compared and the associated temperature is derived from them and brought to the display.

Die im Prozessor in codierter Form abgespeicherten Werte für den Spannungs- oder Dämpfungsverlauf des als Meßsonde dienenden Thermistors repräsentieren beispielsweise den theoretischen Spannungsverlauf, der ohne Fertigungstoleranzen und ohne störenden Nebeneinflüsse am Schwingkreis auftreten würde. Um dennoch eine hohe Meßgenauigkeit zu erhalten, ist weiterhin vorgesehen, daß auf der Primärseite des Übertragers eine Umschalteinrichtung angeordnet ist, über die wahlweise der Thermistor oder wenigstens ein Kalibrierwiderstand, der den einer bestimmten Temperatur zugeordneten Widerstandswert hat, der Primärwicklung vorzugsweise parallel geschaltet werden kann, und daß die durch die Kalibrierwiderstände hervorgerufenen Dämpfungen Referenzwerte darstellen, die im Prozessor zur Korrektur des abgespeicherten, theoretischen Spannungs- oder Dämpfungsverlaufes dienen. Die Korrektur. der abgespeicherten Werte kann so erfolgen, daß der durch die abgespeicherten Werte festgelegte Verlauf so verändert wird, daß er durch die Referenzwerte , welche sich bei Anlegen der primäseitigen Kalibrierwiderstände ergeben, hindurchgeht.The values stored in the processor in coded form for the voltage or represent the attenuation curve of the thermistor serving as a measuring probe, for example the theoretical stress curve without manufacturing tolerances and without disruptive Side effects on the resonant circuit would occur. In order to still achieve a high level of measurement accuracy to get, it is also provided that on the primary side of the transformer Switching device is arranged, via which either the thermistor or at least a calibration resistor, the resistance value assigned to a certain temperature has, the primary winding can preferably be connected in parallel, and that the the attenuation caused by the calibration resistors represent reference values, those in the processor to correct the stored, theoretical voltage or Serve attenuation curve. The correction. the stored values can be done that the course determined by the stored values is changed in such a way that he through the reference values, which are when the primary-side calibration resistors are applied surrendered, passes through.

Hierzu können beispielsweise die Amplituden durch einen konstanten Offsetwert und der gesamte Verlauf durch Änderung der Steigung korrigiert werden.For this purpose, for example, the amplitudes can be changed by a constant Offset value and the entire course can be corrected by changing the slope.

Diese Umformatierung des abgespeicherten Spannungs-oder Dämpfungsverlaufes bewirkt quasi eine Verschiebung und Drehung des theoretischen Verlaufes, der an den Referenzpunkten mit den Referenzwerten übereinstimmt. Auf diese Weise lassen sich Fertigungstoleranzen im Bereich der der Meßsonde nachgeschalteten Meßanordnung weitgehend eliminieren. Durch ein getaktetes Umschalten zwischen den Kalibrierwiderständen und dem Thermistor lassen sich während des Betriebs auftretende Meßfehler, bedingt durch die Eigeflerwärmung der Meßanordnung, weitgehend eliminiere, da auf diese Weise in kurzen Zeitabständen eine Korrektur der abgespeicherten Werte möglich ist.This reformatting of the stored voltage or damping curve causes a shift and rotation of the theoretical course, the an the reference points corresponds to the reference values. Leave that way manufacturing tolerances in the area of the measuring arrangement downstream of the measuring probe largely eliminate. With a clocked switchover between the calibration resistors and the thermistor, measurement errors occurring during operation can be conditional by the Eigeflerwärmung the measuring arrangement, largely eliminate, because on this Correction of the stored values is possible in short time intervals.

Die Erfindung wird nachfolgend anhand-der Zeichnung näher erläutert, die eine erfindungsgemäße Schal.tungsanordnung zeigt.The invention is explained in more detail below with reference to the drawing, which shows a circuit arrangement according to the invention.

Ein als Meßsonde dienender Thermistor Rv ist über einen ersten Umschalter S1 an die Primärwicklung eines Übertragers T angeschlossen. Über den Umschalter S1 und einen zweiten Umschalter S2 kann wahlweise einer von zwei Kalibrierwiderständen R1, R2 anstelle des Thermistors Rv zur Primärwicklung des Übertragers T parallel geschaltet werden. Die Umschalter S1 und S2 werden über zwei zugehörige Relais RS1 und RS2 betätigt, die ihrerseits über Steuerleitungen mit einem Prozessor 1 verbunden sind.A thermistor Rv serving as a measuring probe is via a first changeover switch S1 connected to the primary winding of a transformer T. Via the switch S1 and a second switch S2 can optionally be one of two calibration resistors R1, R2 instead of the thermistor Rv to the primary winding of the transformer T in parallel be switched. The changeover switches S1 and S2 are via two associated relays RS1 and RS2 actuated, which in turn are connected to a processor 1 via control lines are.

Die Sekundärwicklung des Übertragers T bildet zusammen mit einem Kondensator C einen Parallelschwingkreis 2, der über einen Widerstand R3 von einem Signal mit konstanter Frequenz f angeregt wird. Dabei handelt es sich vorzugsweise um ein Rechtecksignal, welches von einem hier nicht dargestellten Quarzgene- rator erzeugt wird.The secondary winding of the transformer T forms together with a capacitor C a parallel resonant circuit 2, which has a signal via a resistor R3 constant frequency f is excited. This is preferably a square wave signal, which is from a quartz gene (not shown here) rator generated will.

Der Widerstand R3 und der Parallelschwingkreis 2 bilden einen Spannungsteiler, bei dem die Dämpfung des Parallelschwingkreises 2 von dem jeweils an der Primärwicklung des Übertragers T anliegenden Widerstandes abhängt. Ist der Thermistor R der Primärwicklung pav rallel geschaltet, so wird die Dämpfung des Parallelschwingkreises 2 von der am Thermistor R anliegenden v Temperatur beeinflußt. In Abhängigkeit von der Dämpfung des Parallelschwingkreises 2 ändert sich die an der Verbindungsleitung zwischen dem Widerstand R3 und dem Parallelschwingkreis 2 auftretende Spannung. Die dort jeweils auftretende Spannung ist somit ein Maß für die Dämpfung des Schwingkreises 2 und damit auch ein Maß für die zu messende Temperatur des Thermistors Diese Spannung wird über einen Einweggleichrichter 3 und einem Verstärker 4 dem Eingang eines integrierenden Analog-Digitalwandlers 5 zugeführt. Der Analog-Digitalwandler 5 integriert das seinem Eingang zugeführte Signal und wandelt es mit möglichst hoher Auflösung in binärcodierte Signale um, die dem Prozessor zur Auswertung zugeführt werden. Mittels einer Änzeigevorrichtung 6 oder einer anderen Ausgabeeinheit werden dann die gemessenen Temperaturen zur Anzeige gebracht.The resistor R3 and the parallel resonant circuit 2 form a voltage divider, in which the damping of the parallel resonant circuit 2 is different from that of the primary winding of the transformer T depends on the applied resistance. Is the thermistor R of the primary winding pav connected in parallel, the damping of the parallel resonant circuit 2 is from the the temperature present at the thermistor R is influenced. Depending on the attenuation of the parallel resonant circuit 2 changes on the connecting line between the resistor R3 and the parallel resonant circuit 2 occurring voltage. These The voltage that occurs in each case is therefore a measure of the damping of the resonant circuit 2 and thus also a measure of the temperature to be measured by the thermistor This voltage is the input of an integrating via a half-wave rectifier 3 and an amplifier 4 Analog-digital converter 5 supplied. The analog-to-digital converter 5 integrates his Input signal and converts it into binary coded with the highest possible resolution Signals that are fed to the processor for evaluation. By means of a display device 6 or another output unit, the measured temperatures are then used Display brought.

Für den Thermistor R kann ein idealisierter bzw. theov retischer Widerstandsverlauf angegeben werden , mit dem der Widerstandsverlauf des tatsächlich verwendeten Thermistors möglichst genau übereinstimmen sollte. Dabei kann eine Toleranzgrenze von + 0,10 C in der Praxis durchaus eingehalten werden. Unter Berücksichtigung des theoretischen Widerstandsverlaufs, der eine Funktion der zu messenden Temperatur ist, läßt sich ein entsprechender theoretischer Verlauf- der am Analog-Digitalwandler 5 anliegenden Spannung angeben. Die entsprechende-n binärcodierten Spannungswerte und die jeweils zugehörigen Temperaturen werden in einem im Prozessor 1 vorhandenen Festwertspeicher gespeichert. Die Meßanordnung kann nun dadurch kalibriert werden, daß nacheinander die beiden Kalibrierwiderstände R1 und R2 der Primärwicklung des Übertragers T parallelgeschaltet werden. Jeder der beiden Kalibrierwiderstände R1, R2 repräsentiert einen Widerstandswert, der zu einer bestimmten Temperatur gehört. Der Kalibrierwiderstand Rl kann beispielsweise den Widerstandswert aufweisen, der dem Widerstandswert des Thermistors Rv bei 25,450 C entspricht. Entsprechend kann der Kalibrierwiderstand R2 den Widerstandswert repräsentieren, der dem Widerstandswert des Thermistors Rv bei 400 C entspricht.An idealized or theoretical resistance curve can be used for the thermistor R with which the resistance curve of the thermistor actually used should match as closely as possible. A tolerance limit of + 0.10 can be used C can be adhered to in practice. Taking into account the theoretical Resistance curve, which is a function of the to measuring temperature a corresponding theoretical curve can be found on the analog-digital converter 5 Specify the applied voltage. The corresponding -n binary-coded voltage values and the respective associated temperatures are stored in a processor 1 Read-only memory saved. The measuring arrangement can now be calibrated by that successively the two calibration resistors R1 and R2 of the primary winding of the Transformer T can be connected in parallel. Each of the two calibration resistors R1, R2 represents a resistance value that belongs to a certain temperature. The calibration resistor Rl can, for example, have the resistance value that corresponds to the resistance of the thermistor Rv at 25.450 C. Accordingly can the calibration resistor R2 represent the resistance value that corresponds to the resistance value of the thermistor Rv at 400 C.

Der Prozessor 1 vergleicht die bei Anlegen der Kalibrierwiderstände gemessenen Spannungswerte mit den zugehörigen theoretischen Spannungswerten und nimmt in Abhängigkeit von der Abweichung eine Umformatierung der abgespeicherten theoretischen Charakteristik vor.The processor 1 compares the results when the calibration resistors are applied measured voltage values with the associated theoretical voltage values and takes a reformatting of the stored ones depending on the deviation theoretical characteristic.

Die einzelnen theoretischen Spannungswerte werden dabei so verändert, daß der Verlauf dieser Spannungswerte durch die beiden Referenzwerte hindurchläuft , die bei Anlegen der Kalibrierwiderstände an den Übertrager T gemessen wurden.The individual theoretical stress values are changed in such a way that that the course of these voltage values runs through the two reference values that were measured when the calibration resistors were applied to the transformer T.

Die Kalibrierung der Meßanordnung wird vom Prozessor 1 gesteuert und kann beispielsweise in Zeitabständen zwischen einer Sekunde und fünf Sekunden selbsttätig vorgenommen werden. Dadurch lassen sich auch kurzzeitige Störeinflüsse, beispielsweise während der Erwärmung der Schaltungsanordnung nach dem Einschalten, weit- gehend eliminieren. Es lassen sich dadurch aber auch Fertigungstoleranzen des Übertragers T und der sekundärseitigen Meßanordnung so gut eliminieren, daß ohne zusätzlichen Abgleich eine Meßgenauigkeit von -+ 0,04-° C sichergestellt werden kann.The calibration of the measuring arrangement is controlled by the processor 1 and can, for example, automatically at intervals of between one second and five seconds be made. This also eliminates short-term interference, for example during the heating of the circuit arrangement after switching on, far- going eliminate. However, this also allows manufacturing tolerances of the transformer T and the secondary-side measuring arrangement so well that without additional Adjustment a measuring accuracy of - + 0.04- ° C can be ensured.

Der komplexe Spannungsteiler, bestehend aus dem Parallelschwinqkreis 2 und dem als Speisewiderstand dienenden Widerstand R3, kann so dimensioniert werden, daß zwischen den am Thermistor Rv auftretenden Temperaturen und der am Analog-Digitalwandler 5 anstehenden Spannung ein nahezu Linearer Zusammenhang über den interessierenden Temperaturmeßbereich besteht. Der interessierende Temperaturbereich kann beispielsweise zwischen 0 0C und 0 Widerstand 50 C liegen. Der Widerstand R3 kann beispielsweise einen Widerstandswert von 4,53 Ka, der Kondensato-r C eine Kapazität von 390 nF und der Übertrager T auf der Primär- und Sekundärseite jeweils 340 Windungen haben.The complex voltage divider, consisting of the parallel oscillation circuit 2 and the resistor R3, which serves as a feed resistor, can be dimensioned in such a way that that between the temperatures occurring at the thermistor Rv and that at the analog-digital converter 5 pending voltage an almost linear relationship over the interesting Temperature measuring range. The temperature range of interest can, for example between 0 0C and 0 resistance 50 C. The resistor R3 can, for example a resistance of 4.53 Ka, the capacitor C a capacitance of 390 nF and the transformer T on the primary and secondary sides each have 340 turns.

Die Kombination aus Übertrager, Schwingkreis und integrierendem Analog-Digitalwandler beinhaltet, daß der Parallelschwingkreis 2 mit einem Rechtecksignal gespeist werden kann. Durch den Parallelschwingkreis 2 und die anschließende Integration im Analog-Digitalwandler 5 werden Anteile ungeradzahliger harmonischer Schwingungen unterdrückt.The combination of transformer, resonant circuit and integrating analog-digital converter includes that the parallel resonant circuit 2 are fed with a square wave signal can. Through the parallel resonant circuit 2 and the subsequent integration in the analog-digital converter 5 parts of odd-numbered harmonic oscillations are suppressed.

Die wesentlich aufwendigere Bereitstellung eines sinusförmigen Signals ist daher nicht erforderlich. Außerdem stellt der Über träger die galvanische Trennung zwischen dem die Meßsonde beinhaltenden Schaltungsteil und der übrigen Meßanordnung sicher.The much more complex provision of a sinusoidal signal is therefore not required. In addition, the carrier provides galvanic isolation between the circuit part containing the measuring probe and the rest of the measuring arrangement secure.

Claims (9)

PATENTANSPRÜCHE W Schaltungsanordnung zur Temperaturmessung, insbesondere zur Messung der Körpertemperatur eines Patienten, die als Meßsonde wenigstens einen Thermistor enthält, dessen temperaturabhängige Widerstandsänderung zur Bestimmung der Körpertemperatur verwendet wird, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h.n e t, daß der Thermistor (Rv) an die Primärwicklung eines Übertragers (T) angeschlossen ist, dessen Sekundärwicklung zusammen mit einem Kondensator (C) einen Schwingkreis (2) bildet, und daß die vom Thermistorwiderstand abhängige Spannung oder Dämpfung des Schwingkreises (2) gemessen und zur Bestimmung der zu messenden Temperatur ausgewertet wird. PATENT CLAIMS W circuit arrangement for temperature measurement, in particular for measuring the body temperature of a patient, which as a measuring probe at least one Contains thermistor, whose temperature-dependent change in resistance is used to determine body temperature is used, that the thermistor (Rv) is connected to the primary winding of a transformer (T) is, whose secondary winding together with a capacitor (C) an oscillating circuit (2) forms, and that the thermistor resistance dependent voltage or attenuation of the oscillating circuit (2) and evaluated to determine the temperature to be measured will. 2 Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß wenigstens näherungsweise der von der Temperatur des Thermistors (Rv) abhängige Verlauf der am Schwingkreis (2) auftretenden Spannung mit den zugehörigen Temperaturwerten abgespeichert ist, und daß die jeweils gemessene Spannung mit dem Spannungsverlauf verglichen und der zugehörige Temperaturwert angezeigt wird. 2 Circuit arrangement according to claim 1, d a d u r c h g e k e n n indicate that at least approximately that of the temperature of the thermistor (Rv) dependent curve of the voltage occurring at the resonant circuit (2) with the associated Temperature values is stored, and that the voltage measured in each case with the The voltage curve is compared and the associated temperature value is displayed. 3. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h -n e t, daß der Schwingkreis (2) vorzugsweise als Parallelschwingkreis ausgebildet ist und zusammen mit einem Widerstand (R3) einen Spannungsteiler bildet.3. Circuit arrangement according to one of the preceding claims, d a d u r c h g e k e n n z e i c h -n e t that the resonant circuit (2) is preferred is designed as a parallel resonant circuit and together with a resistor (R3) forms a voltage divider. 4. Schaltungsanordnung nach Anspruch 3, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß der Schwingkreis (2) über den Widerstand (R3) durch ein Rechtecksignal konstanter Frequenz (f) angeregt wird, daß die Spannung am Schwingkreis (2) abgegriffen und über einen Einweggleichrichter (3) einem integrierenden Analog-Digitalwandler (5) zugeführt wird, der ausgangsseitig die codierten Spannungswerte einem Prozessor (1) zuführt, und daß der Prozessor (1) aus diesen Spannungswerten die zugehörige Temperatur bestimmt.4. Circuit arrangement according to claim 3, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that the resonant circuit (2) via the resistor (R3) by a square wave signal constant frequency (f) is excited that the voltage is tapped at the resonant circuit (2) and an integrating analog-digital converter via a half-wave rectifier (3) (5) is fed, the output side of the coded voltage values to a processor (1) supplies, and that the processor (1) from these voltage values the associated Temperature determined. 5. Schaltungsanordnung nach Anspruch 4, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß der Prozessor (1) einen Festwertspeicher enthält, in welchem der zur jeweiligen Meßsonde gehörende theoretische Spannungs- oder Dämpfungsverlauf und die zugehörigen Temperaturwerte abgespeichert sind.5. Circuit arrangement according to claim 4, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that the processor (1) contains a read-only memory in which the theoretical voltage or attenuation curve belonging to the respective measuring probe and the associated temperature values are saved. 6. Schaltungsanordnung nach Anspruch 5, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß auf der Primärseite des Übertragers (T) Umschalter (S1, S2) angeordnet sind, über die wahlweise der Thermistor (Rv) oder wenigstens ein Kalibrierwiderstand (R1; R2), der den einer bestimmten Temperatur zugeordneten Widerstandswert hat, der Primärwicklung parallelgeschaltet werden kann, und daß die durch die Kalibrierwider- stände (R1, R2) hervorgerufenen Dämpfungen Referenzwerte darstellen, die im Prozessor (1) zur Korrektur des abgespeicherten, theoretischen Spannung oder Dämpfungsverlaufes dienen.6. Circuit arrangement according to claim 5, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that on the primary side of the transformer (T) changeover switch (S1, S2) are arranged, via which either the thermistor (Rv) or at least one calibration resistor (R1; R2), which has the resistance value assigned to a certain temperature, the primary winding can be connected in parallel, and that the calibration resistance stands (R1, R2) caused attenuations represent reference values that are stored in the processor (1) to correct the stored, theoretical voltage or damping curve to serve. 7. Schaltungsanordnung nach Anspruch 6, d a- d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß die Umschaltung zwischen den Kalibrierwiderständen (R1, R2) und dem Thermistor (Rv) über vom Prozessor (1) gesteuerte Umschalter (S1, S2) in kurzen, variablen Zeitabständen erfolgt.7. Circuit arrangement according to claim 6, d a- d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that the switchover between the calibration resistors (R1, R2) and the thermistor (Rv) via changeover switches (S1, S2) controlled by the processor (1) in short, variable time intervals. 8. Schaltungsanordnung nach einem der vorherigen Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß der Schwingkreis ein Serienschwingkreis ist.8. Circuit arrangement according to one of the preceding claims, d a d u r c h e k e n n n n n e i c h n e t that the resonant circuit is a series resonant circuit is. 9. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche- 3 bis 8, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t daß der zum Spannungsteiler gehörende Widerstand (R3) so dimensioniert ist, daß sich eine Linearisierung des Spannungs- oder Dämpfungsverlaufs trgibt.9. Circuit arrangement according to one of Claims 3 to 8, d a d u It is indicated that the resistor belonging to the voltage divider (R3) is dimensioned so that there is a linearization of the voltage or damping curve trtributes.
DE3248034A 1982-12-24 1982-12-24 Circuit arrangement for temperature measurement Expired DE3248034C2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3248034A DE3248034C2 (en) 1982-12-24 1982-12-24 Circuit arrangement for temperature measurement

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3248034A DE3248034C2 (en) 1982-12-24 1982-12-24 Circuit arrangement for temperature measurement

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3248034A1 true DE3248034A1 (en) 1984-07-05
DE3248034C2 DE3248034C2 (en) 1985-10-03

Family

ID=6181777

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3248034A Expired DE3248034C2 (en) 1982-12-24 1982-12-24 Circuit arrangement for temperature measurement

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3248034C2 (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19510134A1 (en) * 1995-03-21 1996-10-02 Hydrometer Gmbh Circuit for measuring physical parameters esp. temp. using Thermistor
EP1462724A1 (en) * 2003-03-24 2004-09-29 Siemens Building Technologies AG Apparatus for temperature control or limitation of a heat generator
EP2307866A1 (en) * 2008-07-31 2011-04-13 Siemens Aktiengesellschaft Device, arrangement, and method for determining a temperature
EP2450683A3 (en) * 2010-11-05 2015-09-30 Citizen Holdings Co., Ltd. Temperature measuring device
DE10082058B4 (en) * 1999-07-15 2018-10-31 Roman Koller Method and circuit for loss measurement
CN113588113A (en) * 2021-07-22 2021-11-02 深圳市禾望电气股份有限公司 Temperature detection device

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3007705A1 (en) * 1980-02-29 1981-09-17 Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim Monitoring electromotor rotor temp. - using inductive rotary coupling of coils with stationary coil in HF oscillator

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3007705A1 (en) * 1980-02-29 1981-09-17 Brown, Boveri & Cie Ag, 6800 Mannheim Monitoring electromotor rotor temp. - using inductive rotary coupling of coils with stationary coil in HF oscillator

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19510134A1 (en) * 1995-03-21 1996-10-02 Hydrometer Gmbh Circuit for measuring physical parameters esp. temp. using Thermistor
DE10082058B4 (en) * 1999-07-15 2018-10-31 Roman Koller Method and circuit for loss measurement
EP1462724A1 (en) * 2003-03-24 2004-09-29 Siemens Building Technologies AG Apparatus for temperature control or limitation of a heat generator
WO2004085924A1 (en) * 2003-03-24 2004-10-07 Siemens Building Technologies Ag Device for temperature regulation/limitation in a heat generating installation
EP2307866A1 (en) * 2008-07-31 2011-04-13 Siemens Aktiengesellschaft Device, arrangement, and method for determining a temperature
EP2450683A3 (en) * 2010-11-05 2015-09-30 Citizen Holdings Co., Ltd. Temperature measuring device
CN113588113A (en) * 2021-07-22 2021-11-02 深圳市禾望电气股份有限公司 Temperature detection device

Also Published As

Publication number Publication date
DE3248034C2 (en) 1985-10-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69828247T2 (en) Circuit for temperature compensation of a crystal oscillator
DE3136813C2 (en) Calibration circuit
EP0319470B1 (en) Method and circuit for the reduction of the temperature dependence of the oscillation parameters of an oscillator
DE3248034A1 (en) Circuit arrangement for temperature measurement
DE2221371B2 (en) Device for the wireless transmission of a measured value from a transducer to an evaluation circuit
EP0032358A2 (en) Oscillator with digital temperature compensation
DE69222000T2 (en) Instruments for measuring the frequency and strength of a microwave signal
DE2249206A1 (en) FLOW MEASURING SYSTEM
DE69517353T2 (en) Moment detection device
DE3712140A1 (en) ELECTRONIC THERMOMETER
EP0254707B1 (en) Electronic measuring device
DE3634053A1 (en) Method and circuit arrangement for measuring the resistance values of two series-connected sensor resistors
DE2837937A1 (en) VOLTAGE SOURCE
DE2556181A1 (en) METHOD AND CIRCUIT ARRANGEMENT FOR MEASURING THE RATE ACCURACY OF AN ELECTRIC WATCH
DE3838252A1 (en) Method for tuning the sample head of an NMR spectrometer, and an NMR spectrometer designed for carrying out the method
CH646287A5 (en) Circuit for time offset pulses.
EP0047036A2 (en) Method and arrangement for the radiometric measurement of the noise temperature of a one-port in the field of high-frequency waves and microwaves
DE3824671A1 (en) Method and device for producing at least one signal, which is coded in the time domain, from an analog signal
DE3900179C2 (en)
DE2811127C3 (en) Device for checking the quality of printed coils
DE2923246C2 (en) Pressure measuring device, in particular blood pressure meter
EP0146679A1 (en) Circuit for temperature compensation of a measuring transducer
DE3029517C2 (en) Circuit arrangement for transmitting analog signals
DE961822C (en) Method and device for the semi-automatic capacity tolerance display of fixed capacitors
DE892309C (en) Circuit arrangement for comparing the magnitude of two alternating voltages

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee