[go: up one dir, main page]

DE3034598A1 - Metalldrahtkathode fuer elektronenstrahlgeraet - Google Patents

Metalldrahtkathode fuer elektronenstrahlgeraet

Info

Publication number
DE3034598A1
DE3034598A1 DE19803034598 DE3034598A DE3034598A1 DE 3034598 A1 DE3034598 A1 DE 3034598A1 DE 19803034598 DE19803034598 DE 19803034598 DE 3034598 A DE3034598 A DE 3034598A DE 3034598 A1 DE3034598 A1 DE 3034598A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
wire
electron beam
metal wire
beam device
electron
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19803034598
Other languages
English (en)
Other versions
DE3034598C2 (de
Inventor
Heico Jan Delft Frima
Jan Bart le Voorschoten Poole
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Gloeilampenfabrieken NV filed Critical Philips Gloeilampenfabrieken NV
Publication of DE3034598A1 publication Critical patent/DE3034598A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3034598C2 publication Critical patent/DE3034598C2/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/04Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the discharge, e.g. electron-optical arrangement or ion-optical arrangement
    • H01J37/06Electron sources; Electron guns
    • H01J37/075Electron guns using thermionic emission from cathodes heated by particle bombardment or by irradiation, e.g. by laser

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)
  • Lasers (AREA)

Description

N.V. Philips · PHN 9588
Metalldrahtkathode für Elektronenstrahlgerat
Die Erfindimg betrifft ein Elektronenstrahlgerat mit einer Elektronenquelle, die einen in der Längsrichtung verschiebbaren, stellenweise durch einen Energiestrahl zu erhitzenden Metalldraht und eine nahe dem Draht angeordnete, gegen den Draht positives Potential führende, bündelbegrenzende Blende enthält.
Ein derartiges Elektronenstrahlgerat ist aus der US-PS 3,745,342 bekannt. In einem darin beschriebenen Gerät wird ein beispielsweise durch ein Elektronenbündel oder durch einen Laserstrahl erhitzter Metalldraht als Kathode für das Gerät benutzt. Um der Quelle eine ausreichend lange Lebensdauer zu geben, wird der Metalldraht im Betrieb in der Längsrichtung verschoben.
Ein aus einer äußerst schmalen Linie eines derartigen Metalldrahts herrührender Elektronenstrom weist bei einem Draht mit einem kreisförmigen Querschnitt geringer Abmessung eine verhältnismäßig große Streuung in der Austrittsrichtung auf. Da eine Linse, die das Elektronenbündel weiter verarbeiten muß, mit einer gegen die Liniendicke verhältnismäßig große sphärische Aberration behaftet ist, um einen Auftrefffleck mit einer wenigstens in einer Richtung geringen Abmessung verwirklichen zu können, ist die Verwendung einer den Bündeldurchschnitt beschränkende Blende notwendig. Durch die erwähnte große Richtungsstreuung läßt eine derartige Blende bereits schnell einen zu geringen Teil des Bündelstroms durch, was selbstverständlich in vielerlei Hinsicht unvorteilhaft ist. Im bekannten Elektronenstrahlgerät müssen hierdurch zum Erhalt einer annehmbaren Lebensdauer der Quelle der zu erreichenden Auftreff-
130015/0830
^ PHN 9588
■ k-
fleckqualitäts-Einschränkungen gesetzt werden, d.h. der Höchststromdichte und ihrer Mindestabmessung.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Elektronenstrahlgerät zu schaffen, in dem diese Einschränkungen wesentlich geschwächt sind und daher unter Beibehaltung einer annehmbaren Lebensdauer der Quelle ein Auftrefffleck höherer Qualität verwirklicht werden kann. Diese Aufgabe wird bei einem eingangs erwähnten Elektronenstrahlgerät dadurch gelöst, daß Vorkehrungen zur Reduzierung von Richtungsstreuung in einem vom Metalldraht zu emittierenden Elektronenbündel getroffen sind.
Zum Reduzieren der Richtungsstreuung im Elektroneribündel kann ein stark fokussierendes Feld verwendet werden, das nahe dem Metalldraht angelegt werden kann. Hierzu kann zum Anlegen eines elektrostatischen Feldes der Draht zwischen zwei grundsätzlich parallel verlaufenden Platten mit einem gegenseitig großen Potentialunterschied montiert werden; beispielsweise eine erste Platte stark negativ gegen den Draht und eine zweite mit einer Durchlaßöffnung versehene Platte stark positiv gegen den Draht. Es stellt sich jedoch heraus, daß dabei die Potentialdifferenzen für eine gute Wirkung unpraktisch hoch werden. Durch die Verwendung eines magnetischen Quadrupolfelds zum Nachrichten kann dieser Nachteil beseitigt werden, aber diese Lösung erfordert eine äußerst genaue Positionierung des Drahts im Magnetfeld, wodurch die Stabilität der Quelle beeinträchtigt wird. Die erforderliche Stärke der Linsenwirkung nahe der Kathode in den beiden erwähnten Lösungen ist ebenfalls ein unvorteilhafter Faktor.
In einer bevorzugten Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Elektronenstrahlgeräts ist das Querprofil des Drahts derart gebildet, daß das zu emittierende Elektronenbündel bereits bei der Emission eine geringere Richtungsstreuung
130015/0830
Ύ PHN 9588
aufweist. Hierbei zeigt es sich, daß ein streifenförmiger handelsüblicher Metalldraht beim starken örtlichen Erhitzen nicht stabil ist, wodurch die Position und die Form der emittierenden Oberfläche gegen die bündelbegrenzende Blende unkontrolliert variieren kann. Dabei wird die Feldstärke nahe der Oberfläche, die zum Absaugen der emittierten Elektronen erforderlich ist, verhältnismäßig klein. Die Feldstärke an einer Oberfläche in einem Feldraum ist bekanntlich stark vom Krümmungsradius der Oberfläche abhängig.
ig Eine vorteilhafte Ausführung für den Metalldraht besteht im Abflachen der Manteloberfläche, an der Stelle, an der die Elektronenemission auftreten wird, wobei von einem runden Draht ausgegangen wird. Dies läßt sich beispielsweise durch Walzen eines kreisförmigen Drahtes erreichen. Das Maß der Abflachung ermöglicht einen vorteilhaften Kompromiß zwischen der Oberflächenfeldstärke und der restlichen Richtungsstreuung. Eine Eliptizität von etwa 1,5 bis 2,5 arbeitet dabei in einer Konfiguration der Quelle nach der Beschreibung in der US-PS 3,74-5,342 zweckmäßig«
Einige bevorzugte Ausführungsformen eines erfindungsgemäßen Elektronenstrahlgerätes werden nachstehend anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen Fig. 1 eine bevorzugte Ausführung in Form eines Elektronenstrombearbeitungsgeräts,
Fig. 2 eine Ausführungsform einer Elektronenquelle dazu und
Fig. 3 einige Ausführungsformen von Kathodendrähten für eins derartige Elektrodenquelle im Schnitt.
Ein Elektronenstrahlbearbeitungsgerät nach Fig. 1 enthält eine Elektronenquelle 1 mit einer Drahtkathode 2 und einer Anodenhülse 3* eine zweita Anode h und eine Kondensorlinse 5. Weiter enthält das Gerät eine erste Blende 6 und eine zweite Blende 7, deren Draufsichten zur Erläuterung dargestellt sind. Durch ein elektronenoptisohes Linsensystem 8
,30015/0830
If PHN 9583
■6-
kann die erste Blende 6 auf der zweiten Blende 7 abgebildet werden. Diese Abbildung kann dabei mit einer Bltndelablenkanordnung 9 in der Ebene der zweiten Blende 7 verschoben werden, um die Mitte des Bündels mit dem Zentrum der Blendenöffnung zusammenfallen zu lassen. Ein von der zweiten Blende 7 durchgelassener Bündelteil 10 des Elektronenbündels 11 kann mit einer sammelnden Linse 12 an einer Oberfläche 13 eines zu bearbeitenden Objekts 14 stark ver kleinert abgebildet werden. Für die Bearbeitung der Oberfläche 13 kann das Bündel mit einem Bündelablenksystero in einem wahlfreien Muste" über die Oberfläche verschoben werden. Die erste Blende 6 hat beispielsweise die Form eines Rechtecks, dessen zwei Seiten 16 bündelbegrenzend sind. Diese Blende 6 wird auf der zweiten Blende 7 abgebildet, die hier ebenfalls die Form eines Rechtecks hat. Dessen Seiten 17 sind auch bündelbegrenzend, so daß das Bündel hinter den beiden Blenden£u einem von den Seiten 17 der Blende 7 und einer Abbildung 18 der Blende 6 gebildeten und einstellbaren Durchlaßöffnung 19 eingeschränkt ist. Die Funktion der Elektronenquelle besteht in der Verwirklichung einer hohen Stromstärke in diesem Bünde?..
Die Kathode 2 wird hier durch einen mindestens an einer Mantelseite abgeflachten Metalldraht gebildet, der in Fig.
senkrecht auf der Zeichenebene gedacht werden muß. Dieεsr Metalldraht wird durch eine Öffnung 20 von der Seite he: mit einem Elektronenstrahl 21 angestrahlt, der durch eine Quelle 22 erzeugt und mit einer Spule 23 gerichtet wird. Der Draht wird somit stellenweise auf eine Temperatur beispielsweise von 34000C für einen Wolframdraht erhitzt, für den üblicherweise eine Emissionstemperatur von etwa 28000C eingehalten wird.
In Fig. 2 ist die Elektronenquelle 1 der bevorzugten Ausführung nach Fig. 1 perspektivisch schematisch dargestellt.
Der Metalldraht 2 steht unter einer in der Längsrichtung
130015/0830
<y PHN 9588
wirkenden Zugkraft, die den Draht unter allen Umständen zwischen einer Spule 25 mit einer Führung 26 und einer Spule 27 mit einer Führung 28 gespannt hält. Um den Metall draht herum befinden sich ein Trägerblock 29 mit einer V-Rinne 31 und ein Trägerblock 30 mit einer V-Rinne 32,die für eine genaue Führung des Metalldrahts 2 in der Längsrichtung sorgen. Anlaufflächen in den Trägerblöcken 29 und 30, die vorzugsweise an das Drahtprofil angepaßt sind, ver hindern, daß sich der Draht zwischen den Trägerblöcken 29 und 30 dreht, wodurch der abgeflachte Teil bereits genau auf eine Durchlaßöffnung 24 in der Anodenbuchse 3 gerichtet bleibt. Vorzugsweise haben die Trägerblöcke 29 und 30 einen guten Wärmekontakt mit dem Metalldraht 2 und sie bestehen aus einem Metall mit guten wärmeleitenden Eigenschaften, beispielsweise Silber. Zwischen den Trägerblöcken befindet sich um den Draht herum die Anode 3, die die Form eines Hohlzylinders mit einem Innendurchmesser von z.B. 0,5 bis 2 mm und einer Wanddicke 35 von z.B. 0,2 bis 0,5 mm hat, und hier eine Einheit mit den Trägerplatten bildet. Die Öffnung 24 kann an die Wünsche für die Abmessungen der Elektronenquelle in der Längsrichtung angepaßt werden und mißt z.B. 50 χ 500 /um . Im Betrieb führt die Anode 3 bei Nullpotential des Metalldrahts 2 ein Potential von z.B. + 300 bis + 700 V.
Die Erfindung ist zwar für ein ■ Elektronenstrahlbearbeitungsgerät für MikrοSchaltungen beschrieben und eignet sich dazu auch besonders, aber ihr Anwendungsbereich umfaßt z.B. auch Elektronenstrahlbearbeitungsgeräte für Materialbearbeitung, z.B. zum Bohren genau definierter Löcher oder Muster.
In einem derartigen Gerät können nach Bedarf die Länge und die Breite der Auftrefffläche an eine erste Abmessung einer zu schreibenden Struktur angepaßt werden, wodurch für die Bearbeitung viel Zeit erspart wird. Die Länge und die Breite des AuftrefiHecks können durch die elektronenoptische An-
130015/0830
.8-
PHN 9588
Ordnung nach der Beschreibung anhand der Fig. 1 bestimmt werden. Es ist dabei möglich, mit einer runden Öffnung 24 dennoch einen viereckigen oder länglichen Auftrefffleck zu bilden.
In Fig. 3 sind einige Profile eines Kathodendrahts dargestellt. Fig. 3a zeigt ein Profil 40 in Form einer Ellipse hier mit einer Elliptizität von 1,5· Eine emittierende Oberfläche 41 befindet sich zentral auf einem fichsten Teil der Ellipse, während der Draht beispielsweise in einer ebenfalls elliptischen Fläche 42 für die Erhitzung angestrahlt wird. Ein Profil 43 in Fig. 3b zeigt eine Ellipsfläche 44 als emittierende Fläche, während die gegenüberliegende Fläche 45 kreisförmig gehalten ist. In Fig. 3c ist ein Profil 46 dargestellt, in dem ein emittierender Teil einen flachen Teil aufweist. Hierbei kann die gegenüberliegende Fläche 48 gleich der emittierenden Fläche ellipsförmig oder kreisförmig sein. Ein jedes dieser drei Profile kann durch das Walzen eines ursprünglich runden Drahts gebildet werden, wobei die gegenseitigen Unterschiede im emittierenden Teil und im gegenüberliegenden Teil durch die Wahl der Härte und/oder die Form der zu benutzenden Walzrollenflächen erreicht werden. Obgleich für viele Anwendungen durch die verhältnismäßig großen Bündelfehler weniger geeignet, kann also auch eine emittierende Hohlfläche verwirklicht werden. In Fig. 3e ist ein Querschnitt 49 für den Draht angegeben, bei dem von einem rechteckigen Band ausgegangen wurde. Eine emittierende Fläche 50 kann dabei etwas gerundet sein, während eine gegenüberliegende Fläche 51 völlig gerade gehalten sein kann und als solche eine gut brauchbare Richtfläche für den Draht ergibt.
130015/0830

Claims (6)

  1. 9588
    PATENTANSPRÜCHE:
    Λ I Elektronenstrahlgerät mit einer Elektronenquelle, die eine Kathode mit einem in der Längsrichtung verschiebbaren, stellenweise durch einen Energiestrahl zu erhitzenden Metalldraht und eine nahe dem Draht angeordneten, gegen den Draht positives Potential führende bündelbegrenzende Blende enthält, dadurch gekennzeichnet, daß Vorkehrungen zur Reduktion von Richtungsstreuung zwischen dem Metalldraht und der Blende in einem vom Draht auszusendenden Elektronenbündel getroffen sind.
  2. 2. Elektronenstrahlgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorkehrungen zum Reduzieren der Richtungsstreuung durch ein mindestens in einer Richtung stark fokussierendes elektrostatisches oder elektromagnetisches Feld gebildet werden.
  3. 3· Elektronenstrahlgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Metalldraht ein die Richtungsstreuung des zu emittierenden Bündels in einer Richtung senkrecht auf der Längsrichtung des Drahts reduzierendes Profil hat.
  4. 4. Elektronenstrahlgerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Draht einen grundsätzlich ellipsförmigen Querschnitt mit einer Elliptizität zwischen etwa 1,5 und 2,5 hat.
  5. 5· Elektronenstrahlgerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Querschnitt des Drahts an einer Emissionsseite ein abgeflachtes Profil hat.
  6. 6. Elektronenstrahlgerät nach einem der vorangehenden
    130015/0830
    PHN 9588
    Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Kathodendraht aus einem walzbaren Material mit einer hohen Schmelztempe ratur und mit einer nahe der Schmelztemperatur verhältnis mäßig niedrigen Dampfspannung besteht.
    130015/0830
DE3034598A 1979-09-19 1980-09-13 Elektronenstrahlgerät Expired DE3034598C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL7906958A NL7906958A (nl) 1979-09-19 1979-09-19 Metaaldraadkathode voor elektronenstraalapparaat.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3034598A1 true DE3034598A1 (de) 1981-04-09
DE3034598C2 DE3034598C2 (de) 1985-05-15

Family

ID=19833868

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3034598A Expired DE3034598C2 (de) 1979-09-19 1980-09-13 Elektronenstrahlgerät

Country Status (11)

Country Link
US (1) US4419561A (de)
JP (1) JPS5652856A (de)
BR (1) BR8008838A (de)
CA (1) CA1151320A (de)
DE (1) DE3034598C2 (de)
FR (1) FR2466096A1 (de)
GB (1) GB2059149B (de)
IT (1) IT1141056B (de)
NL (1) NL7906958A (de)
SE (1) SE437585B (de)
WO (1) WO1981000929A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0221657A1 (de) * 1985-09-27 1987-05-13 AT&T Corp. Lithographie mit einem Strahl geladener Teilchen

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL8302275A (nl) * 1983-06-28 1985-01-16 Philips Nv Electronenstraalapparaat met metaaldraadbron.

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3745342A (en) * 1970-12-23 1973-07-10 Philips Corp Electron beam apparatus comprising a cathode to be heated by an energy beam

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL74193C (de) * 1948-05-10
US3466487A (en) * 1967-06-16 1969-09-09 United Aircraft Corp Device for moving a beam of charged particles
JPS4929969A (de) * 1972-07-20 1974-03-16
JPS5357760A (en) * 1976-11-04 1978-05-25 Fujitsu Ltd Electron beam exposure apparatus
JPS5412675A (en) * 1977-06-30 1979-01-30 Jeol Ltd Electon beam exposure method

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3745342A (en) * 1970-12-23 1973-07-10 Philips Corp Electron beam apparatus comprising a cathode to be heated by an energy beam

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0221657A1 (de) * 1985-09-27 1987-05-13 AT&T Corp. Lithographie mit einem Strahl geladener Teilchen

Also Published As

Publication number Publication date
IT1141056B (it) 1986-10-01
GB2059149B (en) 1984-01-18
IT8024696A0 (it) 1980-09-16
FR2466096B1 (de) 1984-12-14
JPS6329782B2 (de) 1988-06-15
DE3034598C2 (de) 1985-05-15
NL7906958A (nl) 1981-03-23
SE8006463L (sv) 1981-03-20
FR2466096A1 (fr) 1981-03-27
JPS5652856A (en) 1981-05-12
US4419561A (en) 1983-12-06
WO1981000929A1 (en) 1981-04-02
BR8008838A (pt) 1981-06-30
CA1151320A (en) 1983-08-02
GB2059149A (en) 1981-04-15
SE437585B (sv) 1985-03-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE862640C (de) Elektronen-Entladungseinrichtung
DE2727907C2 (de)
DE1639464B2 (de) Kathodenstrahlroehre
DE3219573C2 (de) Elektronenstrahlunterbrecher
EP0096824A1 (de) Feinfokus-Röntgenröhre und Verfahren zur Bildung eines Mikrofokus der Elektronenemission einer Röntgenröhren-Glühkathode
DE3123418C2 (de) Doppelfokussierendes Massenspektrometer
DE2556694A1 (de) Elektronenschleuder
DE2311369A1 (de) Elektronenstrahlroehre mit einem nichtrotationssymmetrischen element
EP0036618B1 (de) Hochstrom-Elektronenquelle
DE3514700A1 (de) Roentgenroehre
DE3011979A1 (de) Elektronenrohr fuer ein richtstrahl- elektronenstrahlbegrenzungssystem
DE3034598A1 (de) Metalldrahtkathode fuer elektronenstrahlgeraet
DE2161027C3 (de) Elektronenstrahlerzeuger mit einer durch einen Energiestrahl zu erhitzenden Kathode
DE2438234C3 (de) Elektrodenbaugruppe für Mehrstrahlerzeugersysteme und Verfahren zum Betrieb dieser Baugruppe
AT393759B (de) Kathodenstrahlroehre
DE2815478A1 (de) Strahlerzeugungssystem fuer ein technisches ladungstraegerstrahlgeraet
DE3305415C2 (de)
EP3053182B1 (de) Strahlungserzeugungsanlage
DE1212645B (de) Elektronenstrahlroehre mit einer vierpoligen elektrostatischen Elektronenlinse
EP0168777B1 (de) Röntgenröhre
DE3123301C2 (de) Vorrichtung zum Einstellen von Elektronenstrahlen einer Kathodenstrahlröhre
DE3304209C2 (de) Inline-Elektronenstrahlerzeugungssystem einer Farbbildröhre
DE1950872B2 (de) Elektronenstrahlerzeugungssystem
DE2726663C2 (de) Elektronenstrahlerzeugungssystem
DE2336851C3 (de) Glühemlssions-Elektronenquelle

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
8128 New person/name/address of the agent

Representative=s name: DAVID, G., 2000 HAMBURG

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee