DE3034598A1 - Metalldrahtkathode fuer elektronenstrahlgeraet - Google Patents
Metalldrahtkathode fuer elektronenstrahlgeraetInfo
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- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 title claims description 21
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims description 21
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims description 22
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005686 electrostatic field Effects 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Description
N.V. Philips · PHN 9588
Metalldrahtkathode für Elektronenstrahlgerat
Die Erfindimg betrifft ein Elektronenstrahlgerat mit einer
Elektronenquelle, die einen in der Längsrichtung verschiebbaren, stellenweise durch einen Energiestrahl zu erhitzenden
Metalldraht und eine nahe dem Draht angeordnete, gegen den Draht positives Potential führende, bündelbegrenzende
Blende enthält.
Ein derartiges Elektronenstrahlgerat ist aus der US-PS 3,745,342 bekannt. In einem darin beschriebenen Gerät
wird ein beispielsweise durch ein Elektronenbündel oder durch einen Laserstrahl erhitzter Metalldraht als Kathode
für das Gerät benutzt. Um der Quelle eine ausreichend lange Lebensdauer zu geben, wird der Metalldraht im Betrieb in
der Längsrichtung verschoben.
Ein aus einer äußerst schmalen Linie eines derartigen Metalldrahts
herrührender Elektronenstrom weist bei einem Draht mit einem kreisförmigen Querschnitt geringer Abmessung
eine verhältnismäßig große Streuung in der Austrittsrichtung auf. Da eine Linse, die das Elektronenbündel weiter
verarbeiten muß, mit einer gegen die Liniendicke verhältnismäßig große sphärische Aberration behaftet ist, um einen
Auftrefffleck mit einer wenigstens in einer Richtung geringen Abmessung verwirklichen zu können, ist die Verwendung
einer den Bündeldurchschnitt beschränkende Blende notwendig. Durch die erwähnte große Richtungsstreuung läßt
eine derartige Blende bereits schnell einen zu geringen Teil des Bündelstroms durch, was selbstverständlich in
vielerlei Hinsicht unvorteilhaft ist. Im bekannten Elektronenstrahlgerät
müssen hierdurch zum Erhalt einer annehmbaren Lebensdauer der Quelle der zu erreichenden Auftreff-
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fleckqualitäts-Einschränkungen gesetzt werden, d.h. der
Höchststromdichte und ihrer Mindestabmessung.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Elektronenstrahlgerät
zu schaffen, in dem diese Einschränkungen wesentlich geschwächt sind und daher unter Beibehaltung
einer annehmbaren Lebensdauer der Quelle ein Auftrefffleck höherer Qualität verwirklicht werden kann. Diese Aufgabe
wird bei einem eingangs erwähnten Elektronenstrahlgerät dadurch gelöst, daß Vorkehrungen zur Reduzierung von Richtungsstreuung
in einem vom Metalldraht zu emittierenden Elektronenbündel getroffen sind.
Zum Reduzieren der Richtungsstreuung im Elektroneribündel
kann ein stark fokussierendes Feld verwendet werden, das nahe dem Metalldraht angelegt werden kann. Hierzu kann zum
Anlegen eines elektrostatischen Feldes der Draht zwischen zwei grundsätzlich parallel verlaufenden Platten mit einem
gegenseitig großen Potentialunterschied montiert werden; beispielsweise eine erste Platte stark negativ gegen den
Draht und eine zweite mit einer Durchlaßöffnung versehene Platte stark positiv gegen den Draht. Es stellt sich jedoch
heraus, daß dabei die Potentialdifferenzen für eine gute Wirkung unpraktisch hoch werden. Durch die Verwendung eines
magnetischen Quadrupolfelds zum Nachrichten kann dieser
Nachteil beseitigt werden, aber diese Lösung erfordert eine äußerst genaue Positionierung des Drahts im Magnetfeld, wodurch
die Stabilität der Quelle beeinträchtigt wird. Die erforderliche Stärke der Linsenwirkung nahe der Kathode in
den beiden erwähnten Lösungen ist ebenfalls ein unvorteilhafter Faktor.
In einer bevorzugten Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Elektronenstrahlgeräts ist das Querprofil des Drahts
derart gebildet, daß das zu emittierende Elektronenbündel bereits bei der Emission eine geringere Richtungsstreuung
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aufweist. Hierbei zeigt es sich, daß ein streifenförmiger
handelsüblicher Metalldraht beim starken örtlichen Erhitzen nicht stabil ist, wodurch die Position und die Form
der emittierenden Oberfläche gegen die bündelbegrenzende Blende unkontrolliert variieren kann. Dabei wird die Feldstärke
nahe der Oberfläche, die zum Absaugen der emittierten Elektronen erforderlich ist, verhältnismäßig klein. Die
Feldstärke an einer Oberfläche in einem Feldraum ist bekanntlich stark vom Krümmungsradius der Oberfläche abhängig.
ig Eine vorteilhafte Ausführung für den Metalldraht besteht
im Abflachen der Manteloberfläche, an der Stelle, an der die Elektronenemission auftreten wird, wobei von einem runden
Draht ausgegangen wird. Dies läßt sich beispielsweise durch Walzen eines kreisförmigen Drahtes erreichen. Das Maß der
Abflachung ermöglicht einen vorteilhaften Kompromiß zwischen der Oberflächenfeldstärke und der restlichen Richtungsstreuung. Eine Eliptizität von etwa 1,5 bis 2,5 arbeitet
dabei in einer Konfiguration der Quelle nach der Beschreibung in der US-PS 3,74-5,342 zweckmäßig«
Einige bevorzugte Ausführungsformen eines erfindungsgemäßen Elektronenstrahlgerätes werden nachstehend anhand der
Zeichnung näher erläutert. Es zeigen Fig. 1 eine bevorzugte Ausführung in Form eines Elektronenstrombearbeitungsgeräts,
Fig. 2 eine Ausführungsform einer Elektronenquelle dazu und
Fig. 3 einige Ausführungsformen von Kathodendrähten für eins derartige Elektrodenquelle im Schnitt.
Ein Elektronenstrahlbearbeitungsgerät nach Fig. 1 enthält eine Elektronenquelle 1 mit einer Drahtkathode 2 und einer
Anodenhülse 3* eine zweita Anode h und eine Kondensorlinse
5. Weiter enthält das Gerät eine erste Blende 6 und eine zweite Blende 7, deren Draufsichten zur Erläuterung dargestellt
sind. Durch ein elektronenoptisohes Linsensystem 8
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kann die erste Blende 6 auf der zweiten Blende 7 abgebildet werden. Diese Abbildung kann dabei mit einer Bltndelablenkanordnung
9 in der Ebene der zweiten Blende 7 verschoben werden, um die Mitte des Bündels mit dem Zentrum
der Blendenöffnung zusammenfallen zu lassen. Ein von der zweiten Blende 7 durchgelassener Bündelteil 10 des Elektronenbündels
11 kann mit einer sammelnden Linse 12 an einer Oberfläche 13 eines zu bearbeitenden Objekts 14 stark ver
kleinert abgebildet werden. Für die Bearbeitung der Oberfläche 13 kann das Bündel mit einem Bündelablenksystero
in einem wahlfreien Muste" über die Oberfläche verschoben
werden. Die erste Blende 6 hat beispielsweise die Form eines Rechtecks, dessen zwei Seiten 16 bündelbegrenzend sind. Diese
Blende 6 wird auf der zweiten Blende 7 abgebildet, die hier ebenfalls die Form eines Rechtecks hat. Dessen Seiten 17
sind auch bündelbegrenzend, so daß das Bündel hinter den beiden Blenden£u einem von den Seiten 17 der Blende 7 und
einer Abbildung 18 der Blende 6 gebildeten und einstellbaren Durchlaßöffnung 19 eingeschränkt ist. Die Funktion
der Elektronenquelle besteht in der Verwirklichung einer hohen Stromstärke in diesem Bünde?..
Die Kathode 2 wird hier durch einen mindestens an einer Mantelseite abgeflachten Metalldraht gebildet, der in Fig.
senkrecht auf der Zeichenebene gedacht werden muß. Dieεsr
Metalldraht wird durch eine Öffnung 20 von der Seite he:
mit einem Elektronenstrahl 21 angestrahlt, der durch eine Quelle 22 erzeugt und mit einer Spule 23 gerichtet wird.
Der Draht wird somit stellenweise auf eine Temperatur beispielsweise von 34000C für einen Wolframdraht erhitzt, für
den üblicherweise eine Emissionstemperatur von etwa 28000C
eingehalten wird.
In Fig. 2 ist die Elektronenquelle 1 der bevorzugten Ausführung nach Fig. 1 perspektivisch schematisch dargestellt.
Der Metalldraht 2 steht unter einer in der Längsrichtung
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wirkenden Zugkraft, die den Draht unter allen Umständen zwischen einer Spule 25 mit einer Führung 26 und einer
Spule 27 mit einer Führung 28 gespannt hält. Um den Metall draht herum befinden sich ein Trägerblock 29 mit einer
V-Rinne 31 und ein Trägerblock 30 mit einer V-Rinne 32,die
für eine genaue Führung des Metalldrahts 2 in der Längsrichtung sorgen. Anlaufflächen in den Trägerblöcken 29 und
30, die vorzugsweise an das Drahtprofil angepaßt sind, ver hindern, daß sich der Draht zwischen den Trägerblöcken 29
und 30 dreht, wodurch der abgeflachte Teil bereits genau auf eine Durchlaßöffnung 24 in der Anodenbuchse 3 gerichtet
bleibt. Vorzugsweise haben die Trägerblöcke 29 und 30 einen guten Wärmekontakt mit dem Metalldraht 2 und sie bestehen
aus einem Metall mit guten wärmeleitenden Eigenschaften, beispielsweise Silber. Zwischen den Trägerblöcken befindet
sich um den Draht herum die Anode 3, die die Form eines Hohlzylinders mit einem Innendurchmesser von z.B. 0,5 bis
2 mm und einer Wanddicke 35 von z.B. 0,2 bis 0,5 mm hat, und hier eine Einheit mit den Trägerplatten bildet. Die
Öffnung 24 kann an die Wünsche für die Abmessungen der Elektronenquelle in der Längsrichtung angepaßt werden und mißt
z.B. 50 χ 500 /um . Im Betrieb führt die Anode 3 bei Nullpotential des Metalldrahts 2 ein Potential von z.B. + 300
bis + 700 V.
Die Erfindung ist zwar für ein ■ Elektronenstrahlbearbeitungsgerät für MikrοSchaltungen beschrieben und eignet sich dazu
auch besonders, aber ihr Anwendungsbereich umfaßt z.B. auch Elektronenstrahlbearbeitungsgeräte für Materialbearbeitung,
z.B. zum Bohren genau definierter Löcher oder Muster.
In einem derartigen Gerät können nach Bedarf die Länge und die Breite der Auftrefffläche an eine erste Abmessung einer
zu schreibenden Struktur angepaßt werden, wodurch für die Bearbeitung viel Zeit erspart wird. Die Länge und die Breite
des AuftrefiHecks können durch die elektronenoptische An-
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Ordnung nach der Beschreibung anhand der Fig. 1 bestimmt werden. Es ist dabei möglich, mit einer runden Öffnung 24
dennoch einen viereckigen oder länglichen Auftrefffleck zu bilden.
In Fig. 3 sind einige Profile eines Kathodendrahts dargestellt. Fig. 3a zeigt ein Profil 40 in Form einer Ellipse
hier mit einer Elliptizität von 1,5· Eine emittierende Oberfläche 41 befindet sich zentral auf einem fichsten Teil
der Ellipse, während der Draht beispielsweise in einer ebenfalls elliptischen Fläche 42 für die Erhitzung angestrahlt
wird. Ein Profil 43 in Fig. 3b zeigt eine Ellipsfläche 44 als emittierende Fläche, während die gegenüberliegende
Fläche 45 kreisförmig gehalten ist. In Fig. 3c ist ein Profil 46 dargestellt, in dem ein emittierender Teil
einen flachen Teil aufweist. Hierbei kann die gegenüberliegende Fläche 48 gleich der emittierenden Fläche ellipsförmig
oder kreisförmig sein. Ein jedes dieser drei Profile kann durch das Walzen eines ursprünglich runden Drahts
gebildet werden, wobei die gegenseitigen Unterschiede im emittierenden Teil und im gegenüberliegenden Teil durch die
Wahl der Härte und/oder die Form der zu benutzenden Walzrollenflächen erreicht werden. Obgleich für viele Anwendungen
durch die verhältnismäßig großen Bündelfehler weniger geeignet, kann also auch eine emittierende Hohlfläche verwirklicht
werden. In Fig. 3e ist ein Querschnitt 49 für den Draht angegeben, bei dem von einem rechteckigen Band ausgegangen
wurde. Eine emittierende Fläche 50 kann dabei etwas gerundet sein, während eine gegenüberliegende Fläche 51
völlig gerade gehalten sein kann und als solche eine gut
brauchbare Richtfläche für den Draht ergibt.
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Claims (6)
- 9588PATENTANSPRÜCHE:Λ I Elektronenstrahlgerät mit einer Elektronenquelle, die eine Kathode mit einem in der Längsrichtung verschiebbaren, stellenweise durch einen Energiestrahl zu erhitzenden Metalldraht und eine nahe dem Draht angeordneten, gegen den Draht positives Potential führende bündelbegrenzende Blende enthält, dadurch gekennzeichnet, daß Vorkehrungen zur Reduktion von Richtungsstreuung zwischen dem Metalldraht und der Blende in einem vom Draht auszusendenden Elektronenbündel getroffen sind.
- 2. Elektronenstrahlgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorkehrungen zum Reduzieren der Richtungsstreuung durch ein mindestens in einer Richtung stark fokussierendes elektrostatisches oder elektromagnetisches Feld gebildet werden.
- 3· Elektronenstrahlgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Metalldraht ein die Richtungsstreuung des zu emittierenden Bündels in einer Richtung senkrecht auf der Längsrichtung des Drahts reduzierendes Profil hat.
- 4. Elektronenstrahlgerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Draht einen grundsätzlich ellipsförmigen Querschnitt mit einer Elliptizität zwischen etwa 1,5 und 2,5 hat.
- 5· Elektronenstrahlgerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Querschnitt des Drahts an einer Emissionsseite ein abgeflachtes Profil hat.
- 6. Elektronenstrahlgerät nach einem der vorangehenden130015/0830PHN 9588Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Kathodendraht aus einem walzbaren Material mit einer hohen Schmelztempe ratur und mit einer nahe der Schmelztemperatur verhältnis mäßig niedrigen Dampfspannung besteht.130015/0830
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL7906958A NL7906958A (nl) | 1979-09-19 | 1979-09-19 | Metaaldraadkathode voor elektronenstraalapparaat. |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3034598A1 true DE3034598A1 (de) | 1981-04-09 |
| DE3034598C2 DE3034598C2 (de) | 1985-05-15 |
Family
ID=19833868
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE3034598A Expired DE3034598C2 (de) | 1979-09-19 | 1980-09-13 | Elektronenstrahlgerät |
Country Status (11)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4419561A (de) |
| JP (1) | JPS5652856A (de) |
| BR (1) | BR8008838A (de) |
| CA (1) | CA1151320A (de) |
| DE (1) | DE3034598C2 (de) |
| FR (1) | FR2466096A1 (de) |
| GB (1) | GB2059149B (de) |
| IT (1) | IT1141056B (de) |
| NL (1) | NL7906958A (de) |
| SE (1) | SE437585B (de) |
| WO (1) | WO1981000929A1 (de) |
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- 1979-09-19 NL NL7906958A patent/NL7906958A/nl not_active Application Discontinuation
-
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- 1980-09-13 DE DE3034598A patent/DE3034598C2/de not_active Expired
- 1980-09-15 FR FR8019846A patent/FR2466096A1/fr active Granted
- 1980-09-15 GB GB8029777A patent/GB2059149B/en not_active Expired
- 1980-09-16 IT IT24696/80A patent/IT1141056B/it active
- 1980-09-16 SE SE8006463A patent/SE437585B/sv not_active IP Right Cessation
- 1980-09-17 CA CA000360401A patent/CA1151320A/en not_active Expired
- 1980-09-18 BR BR8008838A patent/BR8008838A/pt unknown
- 1980-09-18 WO PCT/NL1980/000030 patent/WO1981000929A1/en not_active Ceased
- 1980-09-18 US US06/217,885 patent/US4419561A/en not_active Expired - Lifetime
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| GB2059149B (en) | 1984-01-18 |
| IT8024696A0 (it) | 1980-09-16 |
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| DE3034598C2 (de) | 1985-05-15 |
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| SE8006463L (sv) | 1981-03-20 |
| FR2466096A1 (fr) | 1981-03-27 |
| JPS5652856A (en) | 1981-05-12 |
| US4419561A (en) | 1983-12-06 |
| WO1981000929A1 (en) | 1981-04-02 |
| BR8008838A (pt) | 1981-06-30 |
| CA1151320A (en) | 1983-08-02 |
| GB2059149A (en) | 1981-04-15 |
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Legal Events
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| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| 8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: DAVID, G., 2000 HAMBURG |
|
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |