DE3019875C2 - Verfahren zur Reinigung von Silizium aus einer Silizium-Metall-Schmelze durch fraktionierte Kristallisation - Google Patents
Verfahren zur Reinigung von Silizium aus einer Silizium-Metall-Schmelze durch fraktionierte KristallisationInfo
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Description
3 4
Dieses Verfahren ist besonders gut geeignet zum Reini- pe Zinn, Zink, Aluminium, Silber oder Blei vor (oder gibt
gen von mit Bor verunreinigtem Silizium. es zu), das als Lösungsmittel für das Siliziummaterial
Bekannt ist schließlich noch ein Verfahren zum Reini- wirkt Beispielsweise kann man Silber zugeben, so daß
gen von Silizium und Ferrosilizium mit gasförmigen man eine Legierung erhält, deren Schmelzpunkt im BeKohlendioxid
zum Entfernen des Aluminiums und CaI- 5 reich von etwa 880 bis 14000C liegt Weiterhin lassen
ciums durch Oxidation (US-PS 28 66 701). sich als Lösungsmaterial Legierungen wie Zinn-Blei-Le-
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Ver- gieningen verwenden. Typischerweise bestehen diese
fahren der eingangs erwähnten Art so zu gestalten, daß Zinn-Blei-Legierungen aus etwa 20 bis 50% Blei und 50
ein Reinigen von Silizium aus einer Silizium-Metall- bis 80% Zinn, etwa 80% Zinn und 20% Blei stellen eine
Schmelze in äußerst wirtschaftlicher Weise in erhebli- 10 geeignete Zusammensetzung dar. Auch andere Metallchen
Mengen bei sehr hohen Reinheitsgraden möglich zusammensetzungen wie beispielsweise Zinn-Zink könwird.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch ge- nen eingesetzt werden. Von den einsetzbaren Metallen
löst, daß ist Aluminium bevorzugt Eine verwendbare siliziumrei
che Legierung kann bis zu 87,4 Gew.-% Aluminium ent-
d) die feste Phase geschmolzen wird, und daß 15 halten. Kleinere Aluminiumanteile sind weniger bevor-
e) mindestens ein Teil des geschmolzenen Phasenma- zugt, da bei kleineren Anteilen sich der Schmelzpunkt
terials von der festen Phase abgetrennt wird. nach oben verschiebt Für eine wirkungsvolle Durchführung
des Verfahrens mit Aluminium kann sich daher
Vorteilhafte Weiterbildungen des erfindungsgemä- eine typische siliziumreiche Legierung aus 20 bis
Ben Verfahrens ergeben sich aus den Unteransprüchen. 20 80 Gew.-% Si, Rest Aluminium und Verunreinigungen,
Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren ist ein Reini- zusammensetzen.
Sj gen von Silizium zu Reinheitsgraden von ecwa Ist das zu reinigende Silizium zu 99,UGew.-% rein,
ψ 99,99 Gew.-% und mehr möglich. Der Anteil des Lö- kann es sich bei dem Aluminium (das, wie erwähnt, zu-
.< sungsmetalis — z. B. Aluminium — läßt sich vorteilhaf- gegeben werden kann) um eine handelsübliche Qualität
t, terweise im Kristallbett bis auf sehr geringe Werte ver- 25 mit beispielsweise 99,5 Gew.-% Reinheit handeln. Ein
ringern. Das im Bett verbleibende Aluminium kann Aluminium einer Reinheit von 993 Gew.-% wird jedoch
dann von den Kristallen mit Salzsäure leicht gelöst wer- bevorzugt da dann der Gehalt an Verunreinigungen im
]% den, so daß ein System erhalten wird, das sehr wirt- System geringer ist
£ schaftlich arbeitet da nur eine geringe Menge Salzsäure Weiterhin ist einzusehen, daß Al-Si-Legierungen mit
y erforderlich ist Es müssen keine Aluminiumverluste in 30 hohen Si-Anteilen eingesetzt werden können, ohne die
»' Kauf genommen werden, da das Aluminium in großen Qualität des aus dem Prozeß erhaltenen gereinigten Si-,
Mengen von der Salzsäure gelöst wird. Dient weiterhin liziums zu beeinträchtigen. Andere Stoffe, die bezüglich
Aluminium als Lösungsmittel zum Anreichern von SiIi- des Siliziums als Verunreinigungen gelten, sollten in eizium,
ist die nach der Kristallisation zuerst abgelassene nigen Fällen unter Kontrolle gehalten werden, um hoch-Schmelze
beispielsweise für den Aluminiumguß ver- 35 reines Silizium wirtschaftlich herstellen zu können. Bei
L wendbar, so daß die Wirtschaftlichkeit des Systems wei- Verwendung von Aluminium als Lösungsmetall sollte
, ter steigt der Eisenanteil in der Schmelze bzw. Legierung so ein-Im
Gegensatz zu dem bekannten Verfahren nach der gestellt werden, daß während der fraktionierten Kristal-US-PS
24 71 899, bei dem die Schmelze einzig und allein lisation die doppelte Sättigungslinie A-B der Fig. 1
zur Erzielung einer gleichförmigen Temperatur in der 40 nicht erreicht wird. Indem der Eisengehalt der Legiegesamten
Schmelze intensiv gemischt wird, dient bei run^sschmelze eingestellt wird, werden intermetallische
dem erfindungsgemäßen Verfahren das Mischen in völ- Kristalle wie FeSi2AU vermieden, wodurch ein Siliziumlig
unterschiedlicher Weise zum Aufbrechen einer Kri- produkt höherer Reinheit gewährleistet wird. Beispielsstallschicht
auf der Oberfläche der Schmelze, die durch weise sollte der Eisenar.teil in der fraktioniert zu kristal-Wärmeabzug
gebildet ist Hierbei werden die Kristalle 45 Iisierenden Schmelze einen Wert von 0,δ Gew.-% nicht
nach unten durch die Schmelze bewegt Die Kristalle übersteigen, wenn die Temperatur der Legierungskönnen in einem Bett in der Nähe des Bodens eines · schmelze auf ihre eutektische Temperatur — d. h. etwa
Behälters gesammelt werden. 577° C - reduziert werden soll. Normalerweise ist es
Das erfindungsgemäße Verfahren wird nun anhand erwünscht der eutektischen Temperatur nahe zu komder
Zeichnungen erläutert In letzteren sind 50 men, um einen hohen Ertrag an Si-Produktkristallen zu
F i g. 1 ein Phasendiagramm eines Aluminium-Silizi- erzielen. Je höher jedoch die Temperatur über dem euum-Eisen-Systems,
tektischen Punkt bei der der Vorgang der fraktionier-F i g. 2 ein schematisierter Vertikalschnitt eines Kri- ten Kristallisation zum Stillstand kommt desto höher
stallisierungsofens, der bei der Durchführung des Ver- du· Eisenanteil, der in der Legierungsschmelze toleriert
fahrens verwendbar ist 55 werden kann. Wird beispielsweise die Kristallisation bei
Fig.3 ein Vertikalschnitt durch einen Kristallisie- etwa 660cC unterbrochen, kann der Eisenanteil bis zu
rungsofen, mit Mitteln zum Einführen von Gasen in den 1,5 Gew.-% betragen, ohne daß beispielsweise interme-Ofen
und tallische Kristalle wie FeSi2AU enthaltende Phasen und
F i g. 4 ein Diagramm, das den Siliziumertrag und die die mit ihnen zusammenhängenden Reinheitsprobleme
Eisengrenzwerte a!s Funktion des anfänglichen Silizi- ω auftreten. Diese eisenhaltige Phasen sollte daher am beumanteils
der Legierung zeigt sten überhaupt vermieden werden. Wird Eisen so kon-
* * Ein Material, das sich anreichern läßt um gereinigtes trolliert, daß es in der Legierung vorliegt, wie oben ausSilizium
zu gewinnen, kann bis zu etwa 99,0 Gew.-% Si geführt läßt der Eisenanteil sich in einer Stufe des Vf renthalten,
wobei der Rest Verunreinigungen bezüglich fahrens nach der Behandlung mit beispielsweise HCL
des Siliziums darstellt Wie ersichtlich, ist der Schmelz- 65 auf weniger als 1 pp η absenken. Läßt man Eisen oberpunkt
von 99,0%igem Silizium etwa 14100C. Um bei halb dieser Grenzen zu, kann der Anteil der Verunreininiedrigeren
Temperaturen arbeiten zu können, sieht gungen in den Siliziumkristallen erheblich ansteigen. Ist
man daher im Silizium mindestens ein Metall der Grup- der Eisenanteil in der fraktioniert zu kristallisierenden
Legierung beispielsweise 3 Gew.-%, tritt im Kristallbett
ebenfalls ein sehr hoher Eisenanteil auf und auch nach dem Auswaschen bleibt der Eisenanteil höher, als vom
Gesichtpunkt der Herstellung eines gereinigten Siliziums erwünscht wäre.
Aus diesen Darlegungeri ist einzusehen, daß die Kontrolle
der Verunreinigungen wie beispielsweise Eisen für die Erzielung eines hochreinen Siliziumproduktes
auf wirtschaftliche Weise mit hohem Ertrag wichtig ist Der Eisenanteil in den Bestandteilen der zu behandelnden Schmelze muß also kontrolliert bzw. gesteuert werden.
Wird 99,0 Gew.-% Si und handelsübliche Aluminium zur Herstellung der Schmelze verwendet, so sollte
der Eisenanteil sowohl des Siliziums als auch des Aluminiums kontrolliert werden, um den maximalen Ertrag zu
erzielen. Ist der Eisenanteil in der eingesetzten Si-Quelle hoch, so sollte das eingesetzte Aluminium nach seinem
Fe-A η teil so ausgewählt werden, daß beispielsweise der
aus dem Verfahren zu erreichende Si-Ertrag maximiert
wird, ohne daß die weniger bevorzugten Eisen-Aluminium-Silizium-Kristallphasen
auftreten. Die Wichtigkeit einer Kontrolle des Eisengehalts läßt sich aus Fig.4
erkennen. Soll beispielsweise 99,0 Gew.-% Si mit etwa 03 Gew.-% Fe, Rest Verunreinigungen, gereinigt werden,
so lassen sich die zuzugebende Al-Menge und deren Eisenanteil bestimmen, der toleriert werden kann,
um das Silizium in der bevorzugten Weise zu reinigen. Aus der F i g. 4 ist zu ersehen, daß, wenn das dem Silizium
zuzugebende Aluminium 0,04 Gew.-% Fe enthält die Si-Anfangsmenge in der Legierung bis zu
63 Gew.-% betragen kann, wobei ein Ertrag des gereinigten Siliziums von etwa 58% erreicht wird, ohne
schädliche Eisenmengen hinnehmen zu müssen. Beträgt im Vergleich der Fe-Anteil im Aluminium 0,2 Gew.-%,
enthält die Legierung anfänglich etwa 59% und es wird etwa 53% des gereinigten Siliziums erreicht Für F i g. 4
ist angenommen, daß während der Kristallisation die Legierungsschmelze auf einen Wert abgekühlt wird, der
einige Grade über der eutektischen Temperatur liegt Wie bereits erwähnt ist die im Verfahren tolerierbare
Eisenmenge um so höher, je höher der Kristallisisationsvorgang über der eutektischen Temperatur gehalten
wird.
Eine weitere Verunreinigung, deren Anteil gering zu halten ist, ist Bor, dessen Gegenwart in Photozellen
nachteilig ist Soll gereinigtes Silizium für Halbleiterelemente verwendet werden, so muß der Boranteil normalerweise
sehr niedrig gehalten werden — für einige Anwendungen auf 0,1 ppm oder weniger. Es hat sich jedoch herausgestellt daß zwar die fraktionierte Kristallisation
eine erhebliche Senkung des Boranteils bewirkt es aber erwünscht sein kann, diese Verfahren zu ergänzen.
Indem die siliziumreiche Al-Legierung mit einem Metall aus der Gruppe Titan, Vanadium, Zirkonium versetzt
wird, kann der Boranteil auf sehr niedrige Werte gesenkt werden. Das heißt daS die Zugabe von Titan,
Vanadium oder Zirkonium zu der geschmolzenen siliziumreichen Legierung zu einem Niederschlag eines borhaltigen
Reaktionsprodukts führt das sich zum Boden der Legierungsschmelze absetzt und dort abgetrennt
und entfernt werden kann.
Das zur Behandlung der Schmelze zum Entfernen von Bor bevorzugte Metall ist Titan. Die zugegebene
Titanmenge sollte 0,2Gew.-%, vorzugsweise
0,1 Gew.-% nicht übersteigen. Diese Grenzwerte sollten
streng eingehalten werden, da zu hohe Titanmengen während der fraktionierten Kristallisation wieder zur
Bildung von intermetallischen Kristallen fahren kann, wie es auch beim Eisen der Fall ist.
Bei der Behandlung einer siliziumreichen Al-Legierung
zum Entfernen von Bor wird die Legierung geschmolzen und die Temperatur verhältnismäßig nahe
am Schmelzpunkt gehalten. Das heißt, daß das Entfernen des Bors durch niedrigere Temperaturen unterstützt
wird. Normalerweise sollte die Temperatur den Schmelzpunkt der siliziumreichen Legierung um nicht
mehr als etwa 1000C übersteigen. Es ist einzusehen, daß
für ein Al-Si-System der Schmelzpunkt zwischen etwa 580° C und etwa 1420° C liegen kann, abhängig von der
Reinheit der anzureichernden Si-Legierung. Weiterhin wird darauf verwiesen, daß in einem Si-Al-System bei
einem Schmelzpunkt von etwa 580° C die Legierung reich an Aluminium und arm an Silizium ist. So enthält
ein Al-Si-System mit etwa 580° C etwa 12,6 Gew.-% Si,
Rest Aluminium und Verunreinigungen. Schließlich ist für den Zweck einer fraktionierten Kristallisation der
Si-Anteil in einem Al-Si-System höher als etwa 12,6Gew.-%.
Das Metall kann in einer größeren Menge zugegeben v/erden, als zur Reaktion mit dem Bor erforderlich, da
der Überschuß vorteilhafterweise bei der fraktionierten Kristallisation entfernt werden kann. Um das Reaktionsprodukt
zu entfernen, wird die geschmolzene Legierung etwa 1 bis 4 Std. ruhig stehen gelassen, damit
das Resktionsprodukt sich absetzen kann; danach läßt es sich von der Schmelze abtrennen. Das Reaktionsprodukt
kann auch auf andere Weise (Filtern; Verwendung eines Kühlgases, das das Reaktionsprodukt an die Oberfläche
der Schmelze trägt) entfernt werden.
Vorzugsweise wird das Bor bereits aus der Si-Al-Legierung
und nicht aus dem angereicherten Silizium entfernt da auf diese Weise eine mögliche Verunreinigung
mit dem das Bor entfernenden Metall nach dem Kristallisationsschritt vermieden wird.
Ein weiterer Bestandteil, der bei der fraktionierten
Kristallisation nicht ausreichend ausgezogen wird, ist Phosphor — eine für Sonnenzellenanwendungen des
Siliziums wichtige Verunreinigung. Damit Silizium für diesen Zweck geeignet ist darf der Phosphoranteil nur
sehr niedrig sein. Es hat sich herausgestellt daß bei Behandlung der siliziumreichen Legierung im Zustand der
Schmelze mit einer Chlorquelle der Phosphoranteil sich stark absenken läßt Eine bevorzugt verwendbare
Chlorquelle ist Cb. Es lassen sich jedoch auch andere
chlorhaltige Stoffe wie COCl2 und CCl4 verwenden. Vorzugsweise
liegt die Chlorquelle als Gas vor.
Bei der Behandlung des Siliziums zum Entfernen von so Phosphor wird das Silizium zunächst in einer Metallschmelze
beispielsweise aus Aluminium gelöst um eine Schmelze von etwa 50 Gew.-% und 50 Gew.-% AI herzustellen.
Dann wird Chlorgas am Boden der Schmelze zugegeben, das über eine gewisse Zeitspanne durchperlt
(F i g. 3), um den Phosphor durch Konzentration an der Oberfläche der Schmelze mit in der Schmelze etwa
vorhandener Schlacke zu entfernen. Danach kann die Schmelze fraktioniert kristallisiert werden, um die Siliziumkristalle
auszubilden.
Zusätzlich zum Eisen und Bor sollten auch die Anteile anderer Verunreinigungen — z. B. Titan — kontrolliert
werden. Andere Beispiele für sorgfältig zu kontrollierende Metalle sind Mangan und-Chrom, deren Anteile
maximal auf weniger als etwa 2Gew.-% bzw. 0,4 Gew.-% gehalten werden sollten. Für das Silizium
sollten andere Verunreinigungen als das Lösungsnietall (beispielsweise Aluminium) in ihrer Menge so niedrig
gehalten werden, daß sie bei der fraktionierten Kristalli-
sation keine intermetallischen Kristalle bilden, wie bereits zum Eisen dargelegt ist Die Bildung derartiger
Verbindungen kann zu erheblichen Schwierigkeiten hinsichtlich der zu erreichenden Reinheit des Produkts
führen. Beispielsweise hat sich herausgestellt daß sich Titan nicht leicht entfernen läßt indem das Kristallbett,
wie üblich, mit Salzsäure behandelt wird, um das Aluminium und wesentliche Eisenmengen aus den Kristallen
zu entfernen. Wird jedoch die Temperatur wie beim Eisen während des Vorgangs ausreichend weit über
dem eutektischen Punkt gehalten, so können im System größere Mengen an Verunreinigungen toleriert werden,
ohne daß sie während des Kristallbildungsvorgangs intermetallische Verbindungen bilden und Probleme hinsichtlich
der Reinheit aufwerfen.
Bei einer Ausführungsform der fraktionierten Kristallisation wird Wärme aus der Si-reichen Schmelze abgezogen,
um eine feste Phase zu erzeugen, die Silizium in Kristaiiform mit hoher Reinheit enthält, indem das Silizium
verunreinigende Stoffe in der geschmolzenen Phase konzentriert werden. Die Einschränkung bezüglich
der Anfangstemperaturen wird durch die in der Legierungsschmelze vorhandene Si-Menge bestimmt Je höher
der Si-Anteü, desto höher auch der Schmelzpunkt der Legierung und folglich die Anfangstemperatur, von
der aus die Schmelze abgekühlt wird. Je höher der Si-Anteil in der Ausgangslegierung, desto höher auch die
Ausbeute an gereinigten Si-Kristallen — insbesondere
wenn die Temperatur auf oder nahe der eutektischen Temperatur des Systems gehalten wird. Beispielsweise
betragt bei einer Konzentration von etwa 90 Gew.-% Si in der Legierung die Ausgangstemperatur, beispielsweise
der Schmelzpunkt etwa 13700C. Ein Betrieb bei dieser Temperatur kann sich wegen Einschränkungen hinsichtlich
der eingesetzten Materialien und der Neigung zur Bildung von Oxiden oder Nitriden als schwierig er-'itSisciu
Ansonsten ist dieser Betrieb ohne ^""^eres iüö9-lich
und führt zu erheblichen Ausbeuten an hochreinen Siliziumkristallen.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform der fraktionierten Kristallisation wird eine Schmelze 8 des siliziumreichen
Metalls vorgesehen, aus dem das Silizium gewonnen werden soll (F i g. 2\ wobei die Schmelze eine
freie obere Oberfläche tO hat von der sich Wärme abziehen läßt um die die Siliziumlcristalle enthaltende
feste Phase zu bildea Die Schmelze ist in einem Gefäß 60 mit der isolierenden Wandung 62 enthalten, die bei
Bedarf beheizt werden kann. Vorzugsweise werden die Wärmeverluste durch die Wandung des Gefäßes so gering
wie möglich gehalten, damit sich dort keine Siliziumkristalle ablagern können. Der Behälter hat vorzugsweise
eine Schicht 64 aus Aluminiumpulver, die eine Sperre für die Schmelze darstellt, die die Innenwand 66
durchdringen kann. Die Wand 66 sollte aus einem Werkstoff bestehen, aus dem keine Verunreinigungen in die
Schmelze 8 eintreten können. Handelt es sich bei dem Lösungsmetall um Aluminium, besteht die Wand 66 vorzugsweise
aus temperaturfesten Stoffen auf der Basis von Aluminiumoxid hoher Reinheit — beispielsweise
mindestens 90Gew.-% und vorzugsweise 92 bis
99Gew.-% Aluminiumoxid. Dieses Material für die
Wand 66 liegt als Pulver vor, wird verdichtet und dann gesintert, um es starr zu machen. Auf diese Weise wird
eine einheitliche starre Auskleidung erhalten, die die Al-Schmelze weniger wahrscheinlich durchdringt und
daher für das System besser geeignet ist
Der Wärmeabzug aus der süraumreichen Schmelze
durch die freie Oberfläche 10 hindurch läßt sich zweckmäßig durch Gaskühlung steuern. Aus einer Gaskühlvorrichtung
24 wird ein Gas wie beispielsweise Luft über die Oberfläche 10 geschickt um Siliziumkristalle in
einer Schicht erstarren zu lassen, die im wesentlichen parallel zu und an der Oberfläche 10 liegt, wie schematisiert
in F i g. 2 gezeigt ist.
In einer alternativen Ausführungsform kann Wärme entzogen werden, indem ein Gas durch die Schmelze
perlt, wie im wesentlichen in F i g. 3 gezeigt ist Die siliziumreiche Schmelze 8 befindet sich dabei in einem Gefäß
ähnlich dem in F i g. 2 gezeigten. In der Schmelze befindet sich eine Gasverteilereinrichtung 50, die ein Perlen
eines Inertgases wie beispielsweise Argon bzw. eines bezüglich Aluminium und Silizium inerten Gases durch
die Schmelze zuläßt, um dieser Wärme zu entziehen. Weiterhin ist ein Deckel 52 vorgesehen, der das Gas am
Entweichen an die Atmosphäre hindert. Durch die Leitung 54 kann somit Gas zu einer Sammelkammer 56
geführt werden, aus der es in die Schmelze eingelassen wird. Das Gas kühlt das Metall und es bilden sich dabei
vermutlich Siliziumkristalle 51 an den Grenzflächen zwischen den Gasperlen und der Schmelze, wie in
Fig.3 dargestellt ist Die Verteilereinrichtung 50 erlaubt
eine Gaskühlung und kann zusätzlich zum Entfernen der Siliziumlcristalle durch eine solche Lagerung
dienen, daß sie aufwärts aus dem Gefäß herausgezogen werden kann (nicht gezeigt). Ein erneutes Schmelzen
aller Kristalle zwecks Entfernung aus dem Gefäß kann wegen der dazu erforderlichen hohen Temperaturen
unwirtschaftlich sein.
Während des Wärmeentzuges aus der Schmelze ist ein gewisses Durchmischen günstig. Dieses Durchmischen
läßt sich durchführen, indem die ausgebildeten Kristalle mit einer Klinge 26 (F i g. 2) gestampft werden,
die die Kristalle an bzw. nahe der Oberfläche der Schmelze unter den Schmelzenspiegel drückt. Beim
Stampfen brechen die massiven Kristallaggregate auf,
die sich an der Oberfläche bilden können, und die Kristalle werden nach unten gedrückt so daß frisches siliziumreiches
Metall an die Oberfläche gelangen kann. Dieses Stampfen läßt sich während der Kristallisation etwa
10 bis 40 mal in der Minute durchführen. Auch andere Mischarten sind möglich. So kann z. B. die Mischwirkung
ausgenutzt werden, die durch Einführen des Kühlgases in die Schmelze entsteht (F i g. 31). F i g. 2 zeigt die
Klinge 26 an einem Schaft 28 befestigt der zum Stampfen verwendet werden kann.
Die ausgebildeten Kristalle weisen eine im wesentlichen der Dichte der Schmelze entsprachende Dichte auf
und bleiben daher in der Schmelze — insbesondere bei Aluminium als Lösungsmetall — in der Schwebe. So
scheinen sich keine wesentlichen Kristallansammlungen am Boden des Gefäßes zu bilden, auch wenn die Kristalle
durch das Stampfen in dieser Richtung bewegt werdea Vielmehr scheinen die Kristalle regellos in der
Schmelze verteilt zu sein, wobei sich größere Mengen nur an bzw. nahe der Oberfläche befinden.
Nachdem die Kristallbildung ein gewünschtes Ausmaß erreicht hat wird die verbleibende Schmelze vorzugsweise
durch Ablassen von den Siliziumkristallen abgetrennt Dies läßt sich bewerkstelligen, indem der
Verschluß 34 aus der Öffnung 36 entfernt und die Verunreinigungen enthaltende Restschmelze abgelassen
wird, wobei eine erhebliche Menge an Verunreinigungen abgeht Ein großer Teil des Lösungsmetalls läßt sich
auf diese Weise entfernen und der unwirtschaftliche und
schwierige Schritt erstarrtes Metall aus den Kristallen mit großen Mengen von beispielsweise Salzsäure auszu-
waschen, wird auf diese Weise umgangen. Es wird so viel Lösungsmetall — einschließlich der Verunreinigungen
— wie möglich entfernt, während die Temperatur der Kristallphase vorzugsweise Ober der eutektischen
Temperatur gehalten wird Vorteilhafterweise wird die Temperatur der Schmelze etwa Ober der eutektischen
Temperatur gehalten, damit der Ablaßvorgang leichter abläuft Dies laßt sich teilweise durch Verwendung von
Widerstandsdrähten bzw. Silitstäben UO erreichen, die in Rohren 100 (F i g. 2) enthalten sind. Zusätzlich werden
vorzugsweise die verbleibenden Kristalle einer Verdichtungsbehandlung unterworfen, um den Wirkungsgrad
des Entfernens der Schmelze zu erhöhen. Während des Verdichtens wird vorzugsweise die Temperatur der
Siliziumkristalle typischerweise um etwa 5 bis 50° C über dem Schmelzpunkt des Eutektikums (etwa 578° C
für Si-Al-Systeme) gehalten, obgleich höhere Temperaturen
nicht als schädlich gelten und auch günstig sein können. Indsm die Kristalle auf diese Weise ablaufen,
wird ein erheblicher Teil der verbleibenden Schmelze entfernt Ein Rest der Schmelze haftet aber weiterhin an
den Kristallen und kann bis zu 50 Gew.-%, typischerweise etwa 30Gew.-%, des Betts ausmachen. Dieser
Wert hängt in gewissen Ausmaß von der vorliegenden Legierung ab. Es ist erwünscht, diesen Schmelzanteil so
gering wie möglich zu halten, da er nicht nur eine Verunreinigung bezüglich des Siliziums darstellt, sondern
auch zahlreiche andere Verunreinigungen enthält Entsprechend hat sich erwiesen, daß durch Drücken bzw.
Verdichten der Kristalle der Abgang der Restschmelze aus dem Knstallbett unterstützt wird.
Das Verdichten erfolgt zweckmäßigerweise mit der Klinge 26 (F i g. 2). Um das Ablassen der Schmelze aus
dem Gefäß 60 zu erleichtern, wird die Klinge 26 auf das Kristallbett abgesenkt und aufgedrückt Eine geeignete
hydraulische Vorrichtimg kann verwendet werden, um die Klinge abzusenken und gesteuerten Druck aufzubringen.
Drücke, die geeignete Resultate erbringen, liegen in der Größenordnung von 0,7 bis 2,1 bar.
Der Metallrest der beim Ablassen der Schmelze aus dem Gefäß an der Oberfläche der Kristalle haften
bleibt, muß so gering wie möglich gehalten werden, um
auf wirtschaftliche Weise hochreines Silizium herstellen zu können. In dem Al-Si-System besteht die im Knstallbett verbleibende Phase hauptsächlich aus Aluminium
und Silizium. Das in der Phase vorliegende Aluminium kann durch Behandeln mit einer Salzsäurelösung entfernt
werden. Werden jedoch die Siliziumkristalle mit anhaftender Ai-Si-Phase einer gesteuerten Erwärmung
unterworfen, um die Phase und einen kleinen Teil der. Siliziumkristalle erneut aufzuschmelzen, so wird auf diese
Weise ein Siliziumkristallbett erhalten, in dem das Lösungsmetall gewöhnlich nicht mehr als 15% des Bettgewichts
ausmacht Das Schmelzen kann erfolgen, indem ein oberer Teil des Kristallbetts geschmolzen wird
und dieser durch den restlichen Teil des Betts abläuft, so daß ein Teil der an den Siliziumkristallen haftenden Al-Si-Phase
abgeht Werden jedoch die Kristalle erwähnt, indem beispielsweise Gasflammen unmittelbar auf das
Knstallbett auftreffen, so können sich Oxide bilden and
der Unterteil des Betts erstarrt, so daß sämtliche Kristalle erneut aufgeschmolzen werden müssen, um diese
Oxide zu entfernen.
Vorzugsweise werden die die Metall-SUizium-Phase
— beispielsweise Al-Si-Phase — enthaltenden Siliziumkristaüe
einer Wärmebehandiung unterworfen, bei der die gesamte Phase gleichzeitig und damit gleichmäßiger
erwärmt wird als bei der direkten Flammbeaufschlagung von oben- Das heißt die Wärmezufuhr wird vorzugsweise
so gesteuert daß die gesamte Kristallphase etwa gleich stark erwärmt wird. Dies läßt sich beispielsweise
mit einer elektrischen Beheizung erreichen. Wird
s ein elektrischer Strom durch die Kristailphase geschickt,
erwärmt sich vorzugsweise die Al-Si-Phase (im Gegensatz zu den Si-Kristallen) und ein Teil der festen
Phase schmilzt Diese vorzugsweise Erwärmung erfolgt, da der spezifische Widerstand der Al-Si-Phase zwischen
den bzw. auf den Kristallen weit geringer als der der Siliziumkristalle ist Typischerweise hat die Al-Si-Phase
mit Verunreinigungen einen spezifischen Widerstand in der Größenordnung von 30 μπι Ohm · cm. wogegen der
der Siliziumkristalle allein weit höher ist d. h. mehr als beispielsweise 3000 μπι Ohm · cm beträgt Da die zwischen
und auf den Kristallen verbleibende Al-Si-Pha:·-
durch das gesamte Kristallbctt hindurch mehr oder weniger
kontinuierlich verläuft und eine verhältnismäßig hohe elektrische und thermische Leitfähigkeit ha;, iiießi
der elektrische Strom vorzugsweise durch die Al-Si-Phase und erlaubt diese gleichmäßiger aufzuheizen als
mit offenen Gasflammen von oben. Durch Konzentration der Wärme können in der Lösungsmetallphase höhere
Reinheiten erzielt werden, während sie die Kristallausbeute nur geringfügig reduziert da nur ein kleiner
Anteil der Kristalle aufgelöst wird.
Die am Kristallbett haftende bzw. in ihm zurückbleibende Phase wird vorzugsweise durch Induktionsbeheizung
erwärmt obgleich in vielen Fallen eine Wider-Standsbeheizung ohne weiteres möglich ist F i g. 2 zeigt
eine Induktionsheizspule 80, die zum Zusammenwirken mit einem Kristallisationsgefäß konittruiert ist um auf
elektrischem Wege Wärme an das Bett weiterzugeben. In F i g. 2 ist das Gefäß 60 mit der Iisduktionsheizspule
80 gezeigt die unmittelbar über dem und um das Zapfloch
36 auf einer Seite und zum Boden auf der anderen Seite verläuft Die Induktionsheizspule 80 ist weiterhin
um das Gefäß gelegt und verläuft dessen Seiten hinauf zu einer Höhe, die der des Kristallbetts entspricht Wie
aus Fig.2 zu ersehen, kann die Induktionsheizspuie 80
unter der isolierschicht 62 liegen.
In bestimmten Fällen können größere Wärmemengen an der Gefäßwand als im Bett auftreten. Dieses Phänomen,
das sich in bestimmtem Ausmaß steuern läßt hat den Vorteil, daß sich an der Gefäßinnenwand haftende
Kristalle und Legierungsphase leicht schmelzen lassen, und gestattet gegebenenfalls ein leichtes Entfernen des
restlichen Kristallbetts, ohne daß Schaden an der Wand
aus temperaturfestem Material zu befürchten sind.
so Eine Erwärmung entlang dec Wand mit einem Induktionssystem hängt in gewissem Ausmaß von der Frequenz
des Stromes in der Induktionsheizspule 80 ab. Höherfrequente Systeme, die mit beispielsweise 10 kHz
arbeiten, erzeugen an bzw. in der Nähe der Wand eine
stärkere Erwärmung als niederfrequente Systeme mit beispielsweiie 180 Hz. Die gewerbeüblichen Frequenzen
liegen vorzugsweise im Bereich von 60 Hz bis etwa 180 Hz, wobei die höheren Frequenzen wegen der nicht
so gleichmäßigen Durchwärmung weniger bevorzugt sind Hohe Frequenzen sind jedoch erforderlich, wenn
ein kleines Gefäß verwendet wird um dieses ausreichend zu durchwärmen. Ein Gefäß mit einer Kapazität
von nur etwa 2^5 bis 5 kg kann dabei eine Frequenz von
1 bis 10 kHz fordern. Diese Art der Beheizung bat sich wirkungsvoller als andere erwiesen.
- Zum Entfernen der erneut geschmolzenen Al-Si-Phase
werden die Siliziumkristalle vorzugsweise verdichtet Der Verdichtungsdruck kann im wesentlichen gleichzei-
tig mit der Schmelzbehandlung aufgebracht werden
insbesondere beim Einsatz der Induktionsheizung. Das Verdichten und das Erwärmen können gleichzeitig erfolgen,
so daß erhebliche Mengen des geschmolzenen Materials aus dem Kristallbett herausgedrück* werden,
und zwar sowohl unreine Lösungsmetaliphase als auch Silizium von teilgeschmolzenen Kristallen. Das Verdichten
kann auch nach dem Beginn der Induktionserwärmung durchgeführt werden. Auf jeden Fall macht das
verbleibende Lösungsmetall im allgemeinen nicht mehr als 10 Gew.-% des Betts aus. Vorzugsweise wird es soweit
entfernt, daß es nicht mehr als 2 Gew.-% des Kristallbetts darstellt
Während der Erwärmung der Kristalle und der zwischen ihnen vsrbleibenden unreinen Phase kann der geschmolzene
Anteil vom Kristallbett im wesentlichen kontinuierlich oder in einigen Fällen intermittierend abgelassen
werden. Die Temperatur des Kristallbetts, bei der der geschmolzene Anteil entfernt wird, liegt vorzugsweise
in Bereich von etwa 750 bis 1300°C. Das intermittierende Ablassen hat den Vorteil, die Kristalle
im Bett in eine Schmelze zunehmender Reinheit zu bringen. Dieser Umstand kann die Anreicherung unterstützen,
indem eine Schmelze höherer Reinheit in Berührung mit den Kristallen im Bett geraten kann. Es wird
angenommen, daß die Berührung der hochreinen Schmelze mit den Kristallen einen Massenübergang der
Verunreinigung von den Kristallen zur flüssigen Schmelze bewirkt, so daß die Reinheit der Kristalle weiter
steigt.
Die folgenden Beispiele sollen das Verfahren weiter erläutern.
Silizium einer Reinheit von etwa 99,0 Gew.-% wurde zu Aluminium von etwa 995 Gew.-% Reinheit gegeben,
um eine Mischung von 907 kg mit etwa 25 Gew.-% Silizium und etwa 74 Gew.-% Aluminium, Rest Verunreinigungen,
herzustellen. Das Silizium wurde im Aluminium durch Erwärmen auf etwa 8500C in einem Behälter gelöst,
wie er im wesentlichen in Fig.2 geze·- -t Der
Füllstand im Gefäß betrug etwa 457 mm. . „cn dem
Lösen des Siliziums wurde die Mischung mit etwa 2° CV min bis zu einer Temperatur von etwa 5850C gekühlt
Das Kühlen erfolgte durch Aufblasen von Luft auf die Oberfläche der Mischung, wie in F i g. 2 gezeigt Während
des Kühlens und zur Unterstützung der Wärmeabfuhr wurde eine Stampfklinge, wie in Fig.2 gezeigt,
etwa 30mal pro Minute abwärts gestoßen, um Kristalle von der Oberfläche wegzudrücken und eine gewisse
Mischwirkung zu erzielen. Eine Probe der gebildeten Kristalle wurde aus dem Gefäß entnommen und enthielt,
wie sich bei der Analyse ergab, etwa 74 Gew.-% AL Danach wurde des Aluminium vom Kristallbett abgelassen, während das Bett auf einer Temperatur von
etwa 580° C gehalten wurde, um den Abgang des Aluminiums zu unterstützen. Die Analyse zeigte, daß nach
dem Ablassen etwa 49 Gew.-% Al im Kristallbett verblieben
waren. Aus diesem Versuch ist zu ersehen, daß sich mit dem Ablassen — im Gegensatz zu einem einfachen
Ausheben — der Siliziumkristalle aus dem Gefäß
ein Anreicherungseffekt ergibt Entsprechend war die von den Kristallen nach dem Ablassen noch zu entfernende
Al-Menge geringer geworden.
Dieses Beispiel wurde wie das Beispiel 1 durchgeführt,
wobei jedoch nach dem Ablassen das Bett der Kristalle und des dort verbliebenden Aluminiums teilweise
erneut geschmolzen wurde, indem eine offene Gasflamme auf die Bettoberfläche gerichtet wurde. Die
im Bett enthaltende Al-Menge wurde im Durchschnitt auf eiwa 12 Gew.-% gesenkt In bestimmten Bereichen
des Betts nahm der Al-Anteil jedoch drastiscn ab. Beispielsweise
ergab sich im mittleren oberen Bettbereich ein Al-Anteil von nur 7 Gew.-%, in den oberen Randbereichen
von etwa 19 Gew.-%. Dieses Beispiel zeigt, daC
ίο der Al-Anteil im Kristallbett sich durch Aufbringen von
Wärme erheblich senken läßt Der Unterschied der ermittelten Al-Anteile ist der Schwierigkeit zuzuschreiben,
das gesamte Bett gleichmäßig zu erwärmen. Es stellte sich beispielsweise heraus, daß während des
Schmelzens die Temperatur an der Oberfläche über 900° C, am Boden aber nur etwa 700° C betrug.
Dieses Beispiel wurde durchgeführt, um zu bestimmen, ob das Kristallbett und das in ihm enthaltene Aluminium
sich gleichmäßiger würden beheizen lassen, um das Aluminium und die Verunreinigungen wirkungsvoller
von den Siliziumkristallen zu trennen. Entsprechend wurde eine Schmelze aus 33,4 Gew.-% Silizium (metallurgische
Qualität), Rest Aluminium und Verunreinigungen in einem kleinen Gefäß mit 2,25 kg Kapazität angesetzt.
Nachdem Wärme aus der Einheit abgezogen und die Temperatur auf etwa 580° C gesunken war, wurde
die Legierung abgelassen.
Wegen der geringen Größe der Einheit wurde nur eine verhältnismäßig kleine Menge der Schmelze entfernt
Die verbleibenden Kristalle und die Legierung wurden dann induktionserwärmt, um das Aluminium
besser von den Siliziumkristallen zu trennen. Mit einer 30-kW-lnduktionsstromeinheit von 1OkHz Arbeitsfrequenz
wurde die Temperatur im Bett mehr oder weniger gleichmäßig auf etwa 1100°C erhöht. Nach dem
Ablassen blieben nur etwa 35 Gew.-% Aluminium im
Dieses Ergebnis zeigt deutlich, daß die im Kristallbett enthaltene Al-Legierung sich gleichmäßig erwärmen
läßt, um eine Schmelze herzustellen, die sich von den Siliziumkristallen leicht trennen läßt Mit einev.s. größeren
Gefäß von beispielsweise 907 kg Kapazität läßt sich eine weit stärkere Trennung erreichen. Mit einem solchen
Gefäß und einer 250-kW-Induktionsstromversorgung bei einer Arbeitsfrequenz von etwa 180Hz läßt
die Temperatur im Bett sich in etwa 30 bis 45 min auf etwa 10000C steigern. Bei Verwendung einer Stampf klinge,
um die Kristalle während des anfänglichen Ablassens und während der Induktionsbeheizung zu quetschen,
sollten nach Berechnungen nur etwa 12 Gew.-%
Aluminium im gesamten Kristallbett verbleiben. Das beim Induktionserwärmen abgelassene Material kann
siliziumreich sein, d.h. es kann beispielsweise
45 Gew.-% Si enthalten, da die Siliziumkristalle zu einem
gewissen Grad ebenfalls schmelzen. Derartiges Material kann in eine spätere Schmelze zur Kristallisation
aufgenommen werden.
Claims (6)
1. Verfahren zur Reinigung von Silizium aus einer b) aus der Schmelze Wärme abgeführt wird zwecks
Silizium-Metall-Schmelze durch fraktionierte Kri- 5 Erzeugung einer Silizium in Kristallform enthaltenstallisation.bei
dem den Phase sowie zur Konzentration der Verunreinigungen
in einer geschmolzenen Phase und
a) eine Schmelze aus Silizium und darin gelösten c) danach ein Teil der geschmolzenen Phase aus der
Verunreinigungen hergestellt wird, wobei das die Siliziumkristalle enthaltenden festen Phase entSilizium
in einer größeren Menge als dem Eu- to femtwird.
tektikum der Silizium-Meiall-Kombination entsprechend
vorliegt, Das Interesse an der direkten Umwandlung des Son-
b) aus der Schmelze Wärme abgeführt wird nenlichts in Elektrizität unter Anwendung von Photozwecks
Erzeugung einer Silizium in Kristall- zellen nimmt ständig zu, daher auch der Bedarf an Halbform enthaltenden Phase sowie zur Konzentra- is leiterstoffen wie Silizium. Für diese Anwendung muß
tion der Verunreinigungen in einer geschmohe- das Silizium sehr rein sein — d.h. zu beispielsweise
nen Phase und 99,99 Gew.-% oder mehr — und wird daher sehr teuer.
c) danach ein Teil der geschmolzenen Phase aus Um derartige Zellen mit anderen Elektrizitätsquellen
der die Siliziumkristalle enthaltenen festen Pha- wettbewerbsfähig zu machen, besteht Bedarf an einem
seeatfttrntwird, 20 Verfahren zur wirtschaftlichen Herstellung hochreinen
Siliziums.
dadurch gekennzeichnet, daß Bei einem bekannten Verfahren der eingangs er
wähnten Art (US-PS 24 71 899) wird die Metallschmelze
d) die feste Phase geschmolzen wird, und daß in intensiver gleichmäßiger Bewegung gehalten, um in
e) mindestens ein Teil des geschmolzenen Phasen- 25 der gesamten Metallschmelze eine gleichförmige Temmaterials
von der festen Phase abgetrennt wird. peratur aufrechtzuerhalten. Mittels der gekohlten oder
Kristallisierungsoberfläche wird der SchmeJze so viel
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn- Wärme pro Zeiteinheit entzogen, daß sich die gesamte
zeichnet, daß die die Schmelze einfassenden Wan· höherschmelzende Phase nur an der Kristallisierungsdungen
auf einer Temperatur gehalten werden, die 30 oberfäche in verhältnismäßig kurzer Zeit und als sehr
hoch genug ist, daß sich an ihnen keine Kristalle kompakte Schicht absetzt Die Legierung aus Siliziun,
niederschlagen. Aluminium und geringen Mengen anderer Metalle, wo-
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge- bei Silizium zu 314% vorliegt, wird in einem Temperakennzeichnet,
daß eine auf ?er Oberfläche der turbereich von 840° bis 591°C (Endtemperatur) fraktio-Schmelze
durch Wärmeabzug gebildete Kristall- 35 niert kristallisiert Ist die Temperatur des Gefrierpunkschicht
aufgebrochen wird und daß Kristalle von der tes der gsvsrüRschten Phase der geschmolzenen Legieaufgebrochenen
Kristallschicht nach unten durch die rung auf der Kristallisierungsoberfläche erreicht so bil-Schmelze
bewegt werden. det der höherschmelzende Bestandteil eine feste Phase.
4. Verfahren nach einem der vorangehenden An- Bei weiter absinkender Temperatui vird die feste Phase
Sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die feste Pha- 40 abgetrennt und die verbleibende flüssige Phase wird
se verdichtet und damit die in der festen Phase ver- reicher an dem niedriger schmelzenden Bestandteil. Sobleibende
Menge der flüssigen Phase minimier bald die flüssige Phase die gewünschte Zusammensetwird.
zung erreicht hat wird die Abkühlung gestoppt und die
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden An- abgetrennte feste Phase von der verbleibenden Schmelsprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß nach dem 45 ze entfernt Ein Bett aus gereinigten Siliziumkristallen
Entfernen mindestens eines Teils der geschmolzenen wird bei diesem bekannten Verfahren nicht hergestellt.
Phase von der festen Phase letztere erwärmt wird, Außerdem müssen Aluminiumverluste in Kauf genomwobei
mindestens ein Teil der festen Phase durch men werden.
Induktionsheizung geschmolzen wird. Es ist weiterhin bekannt (Vortrag »Crystallization of
6. Verfahren nach einem der vorhergehenden An- 50 Pure Silicon From Molten Aluminium« von Litz u. a,
Sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß bei Senkung gehalten beim Second Joint AICheE Meeting,
der Temperatur auf einen Wert bis geringfügig über !9-22 May, 1968, (Prepint 37B) die Reinigung von SiIider
eutektischen Temperatur mindestens eine der zium durch kontinuierliche Rekristallisierung von hanfolgenden
Verunreinigungen in der Schmelze einge- delsüblichem Silizium aus Aluminiumschmelzen unter
stellt wird, und zwar Eisen auf nicht mehr als 55 Verwendung eines Wärmeverbindungskreislaufs durch-0,8
Gew.-%, Titan auf nicht mehr als 0, 2 Gew.-%, zuführen. Hierbei entsteht jedoch die Zugkraft die die
Mangan auf nicht mehr als 2,0Gew.-% und/oder Strömungsmittel im System im Umlauf hält, aus dem
Chrom auf nicht mehr als 0,4 Gew.-%. Dichtegefälle, das ein in der Vertikalen aufrechterhaltendes
Temperaturgefälle verursacht, und der maximale
60 Temperaturunterschied 20°C wird nicht überstiegen.
Bekannt ist weiterhin (US-PS 30 08 887), daß Spurenverunreinigungen
enthaltendes elementares Silizium
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Reinigung sich reinigen läßt, indem das Silizium in einem geschlosvon
Silizium aus einer Silizium-Metall-Schmelze durch senen Reaktionsgefäß wasserfrei und in Gegenwart von
fraktionierte Kristallisation, bei dem 65 dissoziiertem atomarem Wasserstoff geschmolzen wird,
der in direktem Kontakt mit sich bildendem geschmol-
a) eine Schmelze aus Silizium und darin gelösten Ver- zenen Silizium gehalten wird, worauf die verdampften
unreinigiingen hergestellt wird, wobei das Silizium verunreinigenden Reaktionsprodukte entfernt werden.
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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