DE3006379A1 - Defektpruefsystem - Google Patents
DefektpruefsystemInfo
- Publication number
- DE3006379A1 DE3006379A1 DE19803006379 DE3006379A DE3006379A1 DE 3006379 A1 DE3006379 A1 DE 3006379A1 DE 19803006379 DE19803006379 DE 19803006379 DE 3006379 A DE3006379 A DE 3006379A DE 3006379 A1 DE3006379 A1 DE 3006379A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- detection means
- detection
- signals
- standard pattern
- tested
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F1/00—Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
- G03F1/68—Preparation processes not covered by groups G03F1/20 - G03F1/50
- G03F1/82—Auxiliary processes, e.g. cleaning or inspecting
- G03F1/84—Inspecting
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N21/95607—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
ßi;-i-ir.r. 'ν ;.-■ ■...■ : ..\n-.i 2o. Februar 198o
Dip1-irr J. ;;--;·,- · v^üS
HAJIME INDUSTRIES LTD.
Kudan Sanzen Building 2-5-9 Kudanminami
Chiyoda-kU/ Tokyo/Japan
Defektprüfsystem
03G03Ä/0
Patentanwalts J O O D 3 7
Dipl.-Ing. H. f/MTSCKERUCH
Dip!.-!;-.g. K. -G U .■ J S ί\··| M A M A!
Dip!.-!;-.g. K. -G U .■ J S ί\··| M A M A!
Cr. rc. πει. ;v. Ιίίΐρ,ϋπη
Dipl-Irj. J. C-."JCT- EVERS
Dipl-Irj. J. C-."JCT- EVERS
V" #
HAIJME INDUSTRIES LTD
Kudan Sanzen Building 2-5-9 Kudanminami
Chiyoda-ku, TOKYO/Japan
Die vorliegende Erfindung ist allgemein auf ein Defektprüfsystem bezogen, insbesondere auf ein Defektprüfsystem, das
Defekte in Schablonen oder vergleichbaren Teilen eines zu prüfenden Objekts aufspürt.
5
5
Es ist allgemein üblich,Fotomasken, die eine vorbestimmte
Schablone zum Fertigen von Halbleitern, gedruckten Schaltungen oder vergleichbaren Gegenständen haben, zu benutzen.
In dem Falle, in dem ein Defekt in dem Schablonenteil der Fotomaske vorliegt,wird dies die Herstellung von Ausschußerzeugnissen
verursachen, so daß die Fotomaskenschablonen-Defektprüfung ein wichtiger Vorgang in diesem Bereich ist.
Ein Beispiel für ein Defektprüfsystem für Schablonen, wie
es aus dem Stand der Technik bekannt ist, soll an Hand von Fig.1, 2 und 3 im folgenden erklärt werden.
Fig.1 und 2 zeigen Draufsichten von mittels eines Mikroskops
vergrößerten Fotomaskenbereichen, auf denen 1 bzw.1'
aus transparentem Material, nämlich aus Glas o. ä. hergestellte, aus evaporiertem Metall o. ä., im allgemeinen auf
Fotomasken 1 bzw. 1' geformte Schablonen bezeichnen, wobei 3 der transparente Bereich der transparenten Unterlagenplatte
der Fotomasken 1 und 1' ist und 4 der nichttransparente oder undurchsichtige Bereich der Fotomasken 1 und 1'
- durch das evaporierte Material darauf ausgebildet - sind.
030034/0822
In Fig.2 sind A und B Bereiche, in denen evaporiertes Material
fehlerhafterweise zurückbleibt, während C und D Bereiche sind, wo notwendiges evaporiertes Material fehlt.
Damit übereinstimmend ist die Fotomaske 1', die eine Schablone
2', wie in Fig.2 gezeigt, hat, ein fehlerhaftes Erzeugnis. Andererseits ist die Fotomaske 1, wie in Fig.1 gezeigt,
ein fehlerfreies und normales Erzeugnis.
Um Fotomasken wie solche Fotomasken 1 oder 1', wie in den
Fig.1 und 2 gezeigt, gemäß dem Stand der Technik zu prüfen, wie beispielsweise in Fig.3 gezeigt, wird beispielsweise
eine Standardmaske 6, die eine fehlerfreie Schablone (z. B. eine solche, wie die in Fig.1 gezeigte Schablone 2) hat,
in eine vorbestimmte Position auf der transparenten Unterlage 5 gebracht, während eine zu prüfende Maske 7 (eine
solche, wie die in F.ig.2 gezeigte fehlerhafte Schablone 2') in eine andere vorbestimmte Position auf der Unterlage 5
gebracht, wo beide mittels eines Binokularmikroskops 8 betrachtet werden. In Fig.3, 9 und 10 sind Objektlinsen für
beide, nämlich die Standardmaske 6 und die geprüfte Maske 7 gezeigt.Mit 11 und 12 sind Spiegel für die beiden Masken
6 und 7,mit 13 und 14 Halbspiegel für die beiden Masken 6 und 7,mit 15 eine übliche Okularlinse,mit 16 eine Lichtquelle,die
z.B. Rotlicht auf die Standardmaske abstrahlt,und mit 17 die Lichtquelle für eine rot-komplementäre Farbe,z.B.
Grünlicht,die auf die zu prüfende Maske 7 strahlt,bezeichnet.Die
Lichtstrahlen,die von den Lichtquellen 16 und 17 ausgesendet werden,passieren die Unterlage 5 des Binokularmikroskops
8,die Masken 6 und 7,die Linsen 9 und 10,die
Spiegel 11 und 12,die Halbspiegel 13 und 14 und weiterhin
die Linse 15 bilden ein fokussiertes Abbild bei einem betrachtenden Auge,das die Prüfung einer Maske ermöglicht.
In dem Falle,in dem die geprüfte Maske 7 ein fehlerhaftes
Erzeugnis,wie in Fig. 2 gezeigt,in den Bereichen A und B
030034/0822
ist,ist das Grünlicht von der Lichtquelle 17 durch einen
solchen Bereich A und B abgeschirmt,während nur das Rotlicht der Lichtquelle 16 bei dem betrachtenden Auge 18 eintrifft.
Demzufolge erscheinen die Bereiche A und B in roter Farbe. Andererseits ist,für die Bereiche C und D betrachtet,das
Rotlicht von der Lichtquelle 16 abgeschirmt.Das Grünlicht von der Lichtquelle 17 erreicht jedoch das betrachtende
Auge 18.Demgemäß erscheinen solche Bereiche C und D in grüner
Farbe.Für die anderen Bereiche,wie der transparente Bereich
3,erreichen beide,nämlich das Rotlicht und das Grünlicht von den Lichtquellen 16 und 17 das betrachtende Auge
18 gleichermaßen.Demzufolge erscheint der transparente Bereich
3 im allgemeinen weiß und fernerhin,was den undurchsichtigen Bereich 4 betrifft,werden das Grünlicht und das
Rotlicht abgeschirmt und dringen demzufolge nicht durch, womit der undurchsichtige Bereich im allgemeinen schwarz
erscheint.D.h. in anderen Worten ausgedrückt,daß,wenn die gesamte
Maske weiß oder schwarz erscheint ,.die geprüfte Maske
7 keinen Defekt aufweist,und wenn zumindest ein leichter Schatten in roter oder grüner Farbe erscheint,die geprüfte
Maske ein fehlerhaftes Erzeugnis sein soll.
Das oben erläuterte Defektprüfsystem für Schablonen gemäß
dem Stand der Technik weist den Mangel auf,daß es nicht automatisch
arbeiten kann,da die Prüfung Stück für Stück mit Hilfe des menschlichen Auges durchgeführt wird.Für den Fall,
daß diese Prüfung automatisiert werden sollte,würde eine teure Farbfernsehkamera notwendig werden.
Dementsprechend ist es eine Hauptaufgabe für· die vorliegende
Erfindung,ein Defektprüfsystem zu schaffen,das automatisch
die Prüfung auf Defekte an einem Objekt,das zu prüfen
ist,durchführen kann,ohne daß ein teure Farbfernsehkamera
notwendig ist.Vielmehr soll eine preisgünstigere monochrome Fernsehkamera benutzt werden.
030034/0822
-S-V-
Entsprechend dieser Aufgabe für die vorliegende Erfindung wird ein Defektprüfsystem vorgeschlagen,bei dem eine vergleichende
Prüfung eines Standardmusters mit einem zu prüfenden Objekt vorgenommen wird,das dadurch gekennzeichnet
ist,daß Mittel zur Aufnahme des Standardmusters und des zu prüfenden Objekts in vorbestimmten.Positionen vorgesehen
sind,daß Mittel zum Erstellen eines überlappenden Abbildes
des Standardmusters und des Objekts vorgesehen sind,daß Mittel zum Abtasten des überlappenden Abbildes und zum Erzeugen
eines Videosignals daraus vorgesehen sind,daß eine Vielzahl von Erfassungsmitteln,die mit den Mitteln zum Abtasten
und zum Erzeugen von von dem auf die Zeit bezogenen Maß der Videosignaländerungen bezogenen Signalen verbunden sind,vorgesehen
sind,daß die Empfindlichkeiten der Vielzahl von Erfassungsmitteln.derart
gewählt sind,daß,wenn das Standardmuster und das Objekt miteinander übereinstimmen,alle Erfassungsmittel
aus der Vielzahl der Erfassungmittel Signale erzeugen,jedoch dann,wenn das Objekt unterschiedlich von dem
Standardmuster ist, irgendeins der Erfassungsmittel keinerlei
Signal erzeugt,während die verbleibenden Erfassungsmittel
Signale erzeugen,und daß Mittel,die mit der Vielzahl von
Erfassungsmitteln zum Erzeugen eines Defekt-Erfassungssignals,wenn
irgendwelche der Erfassungmittel keinerlei Signale erzeugen,jedoch das verbleibende Erfassungsmittel Signale
erzeugt,nämlich,wenn das Objekt fehlerhaft ist,verbunden
sind,vorgesehen sind.
Weiterbildungen der Erfindung sind durch die in den Unteransprüchen
angegebenen Merkmale gekennzeichnet. 30
Weitere Aufgaben,Eigenschaften und Vorteile der vorliegenden
Erfindung werden aus der folgenden Beschreibung im Zusammenhang mit der zugehörigen Zeichnung ersichtlich.
Fig. 1 und 2 zeigen jeweils Draufsichten von zu prüfenden
030034/0822
Objekten,die einwandfreie oder fehlerhafte Schablonen
darstellen.
Fig. 3 zeigfceine schematische Ansicht eines Schablonenprüfsystems
gemäß dem Stand der Technik.
Fig. 4 zeigt ein Blockschaltbild für ein Ausführungsbeispiel für die vorliegende Erfindung.
Fig. 5,6 und 7 zeigen jeweils Impulsdiagramme zur Erklärung
der Wirkungsweise des Ausführungsbeispiels für die Erfindung gemäß Fig. 4.
Die vorliegende Erfindung wird im folgenden an Hand der zugehörigen
Zeichnung beschrieben.
Fig. 4 zeigt,wie bereits erläutert,das Blockschaltbild für
ein Ausführungsbeispiel für ein Defektprüfsystem gemäß der
vorliegenden Erfindung.In Fig. 4 bezeichnet 90 eine Defekterfassungseinrichtung
ganz allgemein.In diesem Ausführungs-. beispiel entspricht die Defekterfassungseinrichtung 90 dem
betrachtenden Auge 18 aus Fig. 3.In anderen Worten ausgedrückt
enthält sie eine analoge Verarbeitungsschaltung 91 - beispielsweise einen Verstärker und ein Tiefpaßfilter enthaltend
- die das Videosignal als ein Ausgangssignal von einer monochromen Fernsehkamera 19 empfängt,die ein zu prüfendes
Objekt sowohl als auch ein Standardmuster (beide nicht in Fig. 4 gezeigt) abtastet und dieses Signal verarbeitet,eine
erste und zweite Erfassungseinrichtung 92 und 93 - beide beispielsweise aus einem Pegelkomparator und einem
Ein-Impuls-Multivibtator gebildet -, die das Ausgangssignal
der analogen Verarbeitungsschlatung 91 empfangen,und einen Mischer 94 - beispielsweise ein Exklusiv-ODER-Glied -,der
die Ausgangssignale der beiden Erfassungseinrichtungen 92 und 93 empfängt und sein Ausgangsignal an einen Indikator
030034/0822
95 liefert.
In dem Ausführungsbeispiel für die vorliegende Erfindung, das oben erläutert ist,hat die analoge Verarbeitungsschaltung
91 die Funktionen,das Video- oder Bildsignal von der monochromen Fernsehkamera 19 zu empfangen und das Bildsignal
auf einen ausreichenden Pegel zu verstärken,wie auch die unnötigen
Signalanteile zu unterdrücken.Die erste und zweite Erfassungseinrichtung 92 und 93 werten die Pegelwechsel des
Videosignals in Bezug auf die Zeit jeweils aus.In anderen Worten ausgedrückt,die Erfassungsempfindlichkeit der ersten
Erfassungseinrichtung 92 ist beispielsweise hoch gewählt,während die Erfassungsempfindlichkeit der zweiten Erfassungseinrichtung
93 niedriger als die der ersten Erfassungseinrichtung 92 gewählt ist.Der Mischer 94 hat z.B. eine Funktion
wie ein exklusives Logikglied,das kein Ausgangssignal erzeugt, wenn beide,die erste Erfassungseinerichtung 92 und die zweite
Erfassungseinrichtung 93 ein Ausgangssignal erzeugen,und dann ein Ausgangssignal er zeugt, wenn eine der beiden Erfa'ssungseinrichtungen
kein Ausgangssignal erzeugt.Der Indikator 95 zeigt einen Defekt basierend auf dem gelieferten Ausgangssignal
des Mischers 94 an,wenn ein Defekt bei dem geprüften Objekt vorliegt,was dann eintritt,wenn ein Ausgangssignal
von dem Mischer 94 geliefert wird.
Als nächstes wird ein Beispiel für die Wirkungsweise des Defektprüfsystems gemäß der vorliegenden Erfindung,wie sie
oben erläutert ist,im Zusammenhang mit einer Anwendung zum Prüfen derartiger Schablonen,wie sie in Fig. 1 und 2 gezeigt
sind,beschrieben.In diesem Fall ist die monochrome
Fernsehkamera 19 in Fig. 4 anstatt des betrachtenden Auges
18 aus Fig. 3 angeordnet.Das abgetastete Ausgangssignal,in
anderen Worten ausgedrückt das Bildsignal von der Fernsehkamera 19 hat nur einen bestimmten Pegel jeweils für Weiß
oder Schwarz,wie in Fig. 5A gezeigt,wenn die geprüfte Scha-
030034/0822
Ao.
blone ein einwandfreies Erzeugnis ist (z.B. wie in Fig. 1
und 2 im Zusammenhang mit der horizontalen Periode,wie mit der Linie a^ gezeigt).Wenn jedoch überschüssige hervorstehende
Bereiche A oder B,wie in Fig. 2 gezeigt, auf der geprüften
Schablone vorliegen (z.B. entsprechend der einen horizontalen Periode,als Linie b in Fig. 1 und 2 gezeigt),wird
das Bildsignal zu Pegeln für Weiß und Schwarz mit Halbpegeln A' oder Pegeln dazwischen,wie in Fig. 6A gezeigt.Desweiteren,
wenn Bereiche auf der geprüften Schablone 7 mit Materiallücken,wie
C und D in Fig. 2 vorliegen (z.B. in Übereinstimmung mit einer horizontalen Periode wie die gezeigte
Linie £ in Fig. 1 und 2),wird das Bildsignal zu Pegeln für
Weiß und Schwarz,die einen anderen Halbpegel C' oder einen Pegel dazwischen,wie in Fig. 7A gezeigt,haben.
15
Die erste Erfassungseinrichtung 92 wie auch die zweite Erfassungseinrichtung
93, die das Ausgangssignal von der analogen Verarbeitungsschaltung 91 empfangen, die das Ausgangssignal
der Fernsehkamera 19, wie oben erläutert, empfängt und verarbeitet, nehmen die Pegelwechsel des Bildsignals
in Bezug auf die Zeit auf. Beide sind derart eingerichtet, daß sie verschiedene Erfassungsempfindlichkeiten haben. Darum
liefern die Erfassungseinrichtungen 92 und 93, wenn die Fernsehkamera 19 das Bildsignal mit Wellenformen, wie sie
in Fig.5A, 6A und 7A gezeigt sind, liefert, Erfassungs-Ausgangsimpux^signale,
wie 5b1, 5b2, 5b3, 5b4 bzw. 6b1, 6b2, 6b3, 6b4, 6b5 bzw. 7b1, 7b2, 7b3, 7b4 und 5c1, 5c2, 5c3,
5c4 bzw. 6c1, 6c2, 6c3 bzw. 7c1, 7b2, 7b3, wie in Fig.5B,
6B, 7B und 5C, 6C, 7C gezeigt. In anderen Worten ausgedrückt, während die erste Erfassungseinrichtung 92 die Impulssignale
in Abhängigkeit von allen Anstiegsflanken und Abstiegsflanken des Bildsignals erzeugt, liefert die zweite Erfassungseinrichtung
93 keine Ausgangsimpulssignale bei diesen Bereichen in Bezug auf die Halbpegel-Bereiche A' und C des
Bildsignals, während die Impulssignale bei den anderen Be-
030034/0822
reichen in der gleichen Weise wie durch die erste Erfassungseinrichtung
92 abgegeben werden.
Bei dem Mischer 94, der die Ausgangssignale sowohl von der ersten als auch von der zweiten Erfassungseinrichtung 92
bzw. 93 empfängt, wird, wenn die Ausgangsimpulssignale von beiden Erfassungseinrichtungen 92 und 93 in Koinzidenz angeboten
werden, in anderen Worten ausgedrückt, wenn die geprüfte Schablone ein fehlerfreies Erzeugnis ist, kein Ausgangssignal,
wie in Fig.5D gezeigt, erzeugt. Ferner, wenn eine Erfassungseinrichtung, hier beispielsweise die zweite
Erfassungseinerichtung 93, kein Impulssignal abgibt, während nur die andere Prüfeinrichtung, die die erste Erfassungseinrichtung
92 ist, ein Impulssignal abgibt, in anderen Worten ausgedrückt, wenn ein Defekt bei der geprüften
Schablone vorliegt, werden Erfassungssignale, nämlich Impulssignale 6d1, 6d2 bzw. 7d1, 7d2 von dem Mischer 94 abgegeben,
wie in Fig. 6D und 7D gezeigt. In anderen Worten ausgedrückt gibt die zweite Erfassungseinrichtung 93 bei
dem Bereich A' des Bildsignals, das sich auf den Defekt A der geprüften Schablone,wie in Fig. 6B und 6C gezeigt,bezieht,während
die erste Erfassungseinrichtung 92 Impulssignale 6b1 und 6b2 abgibt,keinerlei Impulssignale ab,so daß
der Mischer 94 Impulssignale 6d1,6d2,wie in Fig. 6D gezeigt, abgibt.In demselben Zusammenhang gibt die zweite Erfassungseinrichtung 93 bei dem Bereich C des Bildsignals,der dem
defekten Bereich C,wie in Fig. 7B und 7C gezeigt,der geprüften
Schablone entspricht,keinerlei Impulssignale ab, während die erste Erfassungseinrichtung 92 Impulssignale
7b1,7b2 abgibt,so daß der Mischer 94 Impulssignale 7d1,7d2, wie in Fig. 7D gezeigt,abgibt.In anderen Worten ausgedrückt
gibt der Mischer 94 nur,wenn Defekte A,B,C und D,wie in Fig.
2 gezeigt,bei der geprüften Schablone vorliegen,ein Defekt-Erfassungsignal
in Form von ImpulsSignalen ab.Daher kann die Defekterfassungsanzeige durch Zuführen des Ausgangssignals
030034/0822
3 O η 6 3 7
-■/- /Il ■
des Mischers 94 zu dem Indikator 95,nämlich einer Lampe,einem
Summer o.a. dann,wenn die geprüfte Schablone ein fehlerhaftes
Erzeugnis ist,automatisch durchgeführt werden.
Ferner kann,obwohl dies nicht in der Zeichnung gezeigt ist,
das Ausgangssignal des Mischers 94 verstärkt werden,um das Prüfsystem derart zu betreiben,daß fehlerhafte Erzeugnisse
automatisch ausgeschieden werden können.
wie oben erklärt,ist durch die vorliegende Erfindung eine
besondere Wirkung gegeben,durch die die Prüfung darauf,ob
ein Defekt bei der geprüften Schablone vorliegt oder nicht vorliegt,automatisch ausgeführt werden kann.Ferner ist es
einfach,durch Ausnutzen der Defekterfassungssignale die fehlerfreien
und fehlerbehafteten Erzeugnisse bei den geprüften Schablonen voneinander zu trennen.
Es wird angemerkt,daß in dem oben angegebenen Ausführungsbeispiel, an Hand dessen die Prüfung einer Schablone,die durch
evaporiertes Metall auf einer transparenten Unterlagenplatte gebildet ist,angewendet und erklärt ist,in dem Fall einer
Schablone,die beispielsweise auf einer undurchsichtigen Grundplatte ausgebildet ist,von dieser reflektiertes Licht
ausgenutzt werden kann.Das letztere Beispiel ist gleichfalls durch die vorliegende Erfindung anwendbar.
Die oben gegebene Beschreibung bezieht sich auf ein einziges bevorzugtes Ausführungsbeispiel für die vorliegende Erfindung.Es
ist jedoch ersichtlich,daß zahlreiche Änderungen und Variationen durch den Fachmann vorgenommen werden
könnten,ohne daß der Schutzumfang oder der allgemeine Erfindungsgedanke
der Erfindung verlassen werden würde.
Patentanwalt .i- --1VLx?
Leerseite
Claims (4)
1.Defektprüfsystem,bei dem eine vergleichende Prüfung eines
Standardmusters mit einem zu prüfenden Objekt vorgenommen wird,dadurch gekennzeichnet ,daß Mittel zur
Aufnahme des Standardmusters (1) und des zu prüfenden Objekts (1') in vorbestimmten Positionen vorgesehen sind,daß
Mittel zum Erstellen eines überlappenden Abbildes des Standardmusters (1) und des Objekts (1') vorgesehen sind,daß
Mittel zum Abtasten des überlappenden Abbildes und zum Erzeugen eines Videosignals daraus vorgesehen sind,daß eine
Vielzahl von Erfassungsmitteln,die mit den Mitteln zum Abtasten und zum Erzeugen von von dem auf die Zeit bezogenen
Maß der Videosignaländerung bezogenen Signalen verbunden sind,vorgesehen sind,daß die Empfindlichkeiten der Vielzahl
von Erfassungsmitteln derart gewählt sind,daß,wenn das
Standardmuster (1) und das Objekt (1') miteinander übereinstimmen,alle
Erfassungsmittel aus der Vielzahl der Erfassungsmittel Signale erzeugen,jedoch dann,wenn das Objekt
(1') unterschiedlich von dem Standardmuster (1) ist,irgendeins der Erfassungsmittel keinerlei Signal erzeugt,während
die verbleibenden Erfassungsmittel Signale erzeugen,und daß
Mittel,die mit der Vielzahl von Erfassungsmitteln zum Erzeugen
eines Defekt-Erfassungssignals,wenn irgendwelche der Erfassungsmittel keinerlei Signale erzeugen,jedoch das verbleibende
Erfassungsmittel Signale erzeugt,nämlich,wenn das
Objekt (1') fehlerhaft ist,verbunden sind,vorgesehen sind.
2.Defektprüfsystem nach Anspruch 1,dadurch gekennzeichnet ,daß weitere Mittel zum Anzeigen eines Alarms
dann,wenn das Objekt (1') fehlerbehaftet ist,mit den Erfassungsmitteln
verbunden sind.
3.Defektprüfsystem nach Anspruch 1,dadurch gekennzeichnet ,daß zusätzliche Mittel,die zwischen die
Ü30034/G822
ORfGlNAi.
Abtastmittel und die Erfassungsmittel eingefügt sind,zum
Verstärken des Videosignals und zum Unterdrücken unnötiger Signalbestandteile vorgesehen sind.
4.Defektprüfsystem nach Anspruch 1,dadurch gekennzeichnet ,daß das Abtastmittel eine monochrome Fernsehkamera
(19) ist.
0 3 0 0 3 A / 0 ! 2 .:
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1886779A JPS55110904A (en) | 1979-02-20 | 1979-02-20 | Defect detecting device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE3006379A1 true DE3006379A1 (de) | 1980-08-21 |
| DE3006379C2 DE3006379C2 (de) | 1988-06-01 |
Family
ID=11983481
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19803006379 Granted DE3006379A1 (de) | 1979-02-20 | 1980-02-20 | Defektpruefsystem |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4277802A (de) |
| JP (1) | JPS55110904A (de) |
| CA (1) | CA1126856A (de) |
| DE (1) | DE3006379A1 (de) |
| FR (1) | FR2449883A1 (de) |
| GB (1) | GB2046433B (de) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3013833A1 (de) * | 1979-04-13 | 1980-10-16 | Hitachi Ltd | Verfahren und vorrichtung zum pruefen von schriftzeichen o.dgl. |
| DE3612256A1 (de) * | 1986-04-11 | 1987-10-22 | Twi Tech Wissenschaftliche Ind | Verfahren und einrichtung zur optoelektronischen qualitaetskontrolle |
| US8009353B2 (en) | 2002-10-31 | 2011-08-30 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Comparison optical system |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4538909A (en) * | 1983-05-24 | 1985-09-03 | Automation Engineering, Inc. | Circuit board inspection apparatus and method |
| DE3937559A1 (de) * | 1989-09-02 | 1991-03-14 | Flachglas Ag | Verfahren zum ermitteln von optischen fehlern in scheiben aus einem transparenten material, insbesondere aus glas |
| US5648915A (en) * | 1995-11-20 | 1997-07-15 | Triangle Research & Development Corporation | Soft tissue damage assessment system |
| US6363296B1 (en) * | 1999-02-24 | 2002-03-26 | Infineon Technologies Ag | System and method for automated defect inspection of photomasks |
| EP1416309B1 (de) * | 2002-10-31 | 2006-11-29 | Leica Microsystems CMS GmbH | Vergleichsmakroskop mit einem Beleuchtungssystem für Objekte |
| CN111604280A (zh) * | 2020-04-03 | 2020-09-01 | 广州超音速自动化科技股份有限公司 | 一种口罩坏件剔除方法、设备及存储介质 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1423597A1 (de) * | 1961-07-11 | 1969-05-22 | Erwin Sick | Vorrichtung zum Vergleichen eines Prueflings mit einem Meisterstueck |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4110048A (en) * | 1974-11-05 | 1978-08-29 | Kawasaki Steel Corporation | Method of and an apparatus for inspecting a traveling sheet material |
| JPS5271289A (en) * | 1975-12-11 | 1977-06-14 | Mitsubishi Electric Corp | Surface inspection device |
| DE2720865A1 (de) * | 1977-05-10 | 1978-11-23 | Philips Patentverwaltung | Anordnung zur untersuchung von objekten |
| JPS5419366A (en) * | 1977-07-14 | 1979-02-14 | Nippon Jidoseigyo Ltd | Device for inspecting fault of pattern |
-
1979
- 1979-02-20 JP JP1886779A patent/JPS55110904A/ja active Granted
-
1980
- 1980-02-14 US US06/121,518 patent/US4277802A/en not_active Expired - Lifetime
- 1980-02-19 CA CA345,974A patent/CA1126856A/en not_active Expired
- 1980-02-20 FR FR8003715A patent/FR2449883A1/fr active Granted
- 1980-02-20 DE DE19803006379 patent/DE3006379A1/de active Granted
- 1980-02-20 GB GB8008765A patent/GB2046433B/en not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1423597A1 (de) * | 1961-07-11 | 1969-05-22 | Erwin Sick | Vorrichtung zum Vergleichen eines Prueflings mit einem Meisterstueck |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3013833A1 (de) * | 1979-04-13 | 1980-10-16 | Hitachi Ltd | Verfahren und vorrichtung zum pruefen von schriftzeichen o.dgl. |
| DE3612256A1 (de) * | 1986-04-11 | 1987-10-22 | Twi Tech Wissenschaftliche Ind | Verfahren und einrichtung zur optoelektronischen qualitaetskontrolle |
| DE3612256C2 (de) * | 1986-04-11 | 1998-05-14 | Twi Tech Wissenschaftliche Ind | Verfahren und Einrichtung zur optoelektronischen Qualitätskontrolle |
| US8009353B2 (en) | 2002-10-31 | 2011-08-30 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Comparison optical system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2449883B1 (de) | 1983-07-29 |
| GB2046433A (en) | 1980-11-12 |
| JPS55110904A (en) | 1980-08-27 |
| GB2046433B (en) | 1983-04-20 |
| DE3006379C2 (de) | 1988-06-01 |
| JPH0157282B2 (de) | 1989-12-05 |
| US4277802A (en) | 1981-07-07 |
| FR2449883A1 (fr) | 1980-09-19 |
| CA1126856A (en) | 1982-06-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE3612233C2 (de) | ||
| EP0095517B1 (de) | Verfahren und Einrichtung zur automatischen optischen Inspektion | |
| DE68929481T2 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Anzeige der Ergebnisse einer Leiterplattenprüfung | |
| DE2830846C2 (de) | Vorrichtung zum Ermitteln von Fehlern in flächenhaften Mustern, insbesondere in Photomasken | |
| DE2508992A1 (de) | Verfahren zur ueberpruefung des einwandfreien zustands von bauteilen | |
| DE69427989T2 (de) | Verfahren und vorrichtung zur prüfung von leiterplatten mit verschiedenen vergrösserungen | |
| EP0309758A2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Feststellen und Auswerten von Oberflächenrissen bei Werkstücken | |
| DE2653590C3 (de) | Vorrichtung zum Ermitteln von Fehlern in flächenhaften Mustern, insbesondere in Photomasken | |
| DE2830871A1 (de) | Vorrichtung zum ermitteln von fehlern in flaechenhaften mustern, insbesondere in photomasken | |
| DE3006379A1 (de) | Defektpruefsystem | |
| DE102010008251A1 (de) | Ausfallanalyseverfahren, -vorrichtung und -programm für integriete Halbleiterschaltung | |
| DE102014225987A1 (de) | Steuervorrichtung für eine Innenprüfungsvorrichtung und Verfahren zum Steuern einer Innenprüfungsvorrichtung | |
| DE2700252A1 (de) | Verfahren zum pruefen definierter strukturen | |
| DE4130373A1 (de) | Pruefverfahren und pruefvorrichtung | |
| DE3226999A1 (de) | Verfahren und geraet fuer die erfassung von anomalien in der wiedergabe eines musters | |
| DE2256617B2 (de) | Einrichtung zur analyse einer vorlage | |
| DE3003133C2 (de) | ||
| DE69935793T2 (de) | Vorrichtung zur bestimmung der leiterbahnstruktur | |
| DE3427981C2 (de) | ||
| DE69226929T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Gewinnung und Verarbeitung von Durchleuchtungsbildern | |
| EP0342318B1 (de) | Automatischer Bildschärfeabgleich von Bildröhren | |
| DE68912900T2 (de) | Verfahren und Gerät zur Inspektion von Schichten. | |
| DE2705936A1 (de) | Verfahren und anordnung zur elektronischen bildanalyse | |
| DE3416919A1 (de) | Verfahren zum pruefen eines musters | |
| DE1941547A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung eines Koerpers mittels einer Bildaufnahmevorrichtung |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| 8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
| D2 | Grant after examination | ||
| 8363 | Opposition against the patent | ||
| 8365 | Fully valid after opposition proceedings | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |