DE2739529A1 - Verfahren und schaltungsanordnung zum selbsteichen eines voltmeters - Google Patents
Verfahren und schaltungsanordnung zum selbsteichen eines voltmetersInfo
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Description
- Jf-
Int. Az.: Case 1095 22. August 1977
Hewlett-Packard Company
VERFAHREN UND SCHALTUNGSANORDNUNG ZUM SELBSTEICHEN EINES VOLTMETERS
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine zu dessen Durchführung geeignete Schaltungsanordnung zum Selbsteichen
eines Voltmeters gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1. Das Eichen von Voltmetern erfolgt üblicherweise, indem die Ausgangssignale
gemessen werden, welche beim Anlegen von zwei bekannten Referenzspannungen und beim Einstellen der Übertragungsfunktion
des Voltmeters erhalten werden. Typischerweise ist eine der Referenzspannungen geerdet, und die
andere Referenzspannung wird an der oberen Grenze des Meßbereichs gewählt. Die Nachteile dieses Verfahrens bestehen
darin, daß Referenzspannungen für jeden vollen Meßbereich erforderlich sind, daß viele Eichjustierungen
nötig sind und Drifterscheinungen eine periodische Eichung verlangen, um einen hohen Grad der Meßgenauigkeit zu erhalten.
Da das Erzeugen von Referenzspannungen teuer ist, insbesondere wenn es sich um hohe Referenzspannungen handelt,
ist es wünschenswert ein Voltmeter mit mehreren Meßbereichen zu eichen, ohne daß für jeden Bereich eine Referenzspannung
erforderlich ist.
Der Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, ein Voltmeter mit mehreren Meßbereichen zu schaffen, welches geeicht werden
kann, ohne daß für jeden Spannungsbereich eine getrennte Referenzspannung erforderlich ist. Vorzugsweise soll ein
hoher Grad von Genauigkeit mit relativ wenigen Bauteilen hoher Präzision und wenigen Einstellungen erreicht werden.
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-Ji-
Hewlett-Packard Company
Int. Az.: Case 1095 2739529
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst gemäß dem Kennzeichen des Anspruchs 1.
Vorzugsweise werden unabhängig voneinander die Übertragungsfunktionen
von Schaltungselementen des Voltmeters gemessen und logisch die Öbertragungsfunktionen der Kombinationen
der Schaltungselemente abgeleitet, die den Schaltungskonfigurationen des Voltmeters für die entsprechenden
Spannungsbereiche entsprechen. Diese Obertragungsfunktion
wird dann durch Verknüpfungsglieder dem Ausgangssignal hinzugefügt, das beim Anlegen eines unbekannten Signales
erhalten wird, um ein geeichtes Ausgangssignal zu erhalten.
Im folgenden werden bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung erläutert; es stellen dar:
Fig. 1 schematisch ein Schaltungsdiagramm einer Eichschaltung gemäß der Erfindung,
Fig. 2 schematisch ein Schaltungsdiagramm einer herkömmlichen
Eichschaltung für ein lineares Voltmeter, Fig. 3 schematisch einen Gleichstrom-Vorverstärker zur
Messung der Eingangs-Offsetfehler für die ersten drei Spannungsbereiche,
Fig. 4 ein Schaltungsdiagramm eines Abschwächers zur Messung von Eingangs-Offsetfehlern für die vierten und
fünften Spannungsbereiche,
Fig. 5 eine Schaltungsanordnung zur Messung des Verstärkungsfehlers
für den dritten Meßbereich,
Fig. 6 eine Schaltungsanordnung zum Messen des Verstärkungsfehlers für den zweiten Meßbereich,
Fig. 7 eine Schaltungsanordnung zum Messen des zweiten
Offsetfehlers für den zweiten Meßbereich, Fig. 8 eine Schaltungsanorndung zum Messen des Verstärkungsfehlers für den vierten Meßbereich,
Fig. 9 schematisch das Konzept einer selbsteichenden Schaltung.
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Hewlett-Packard Company Int. Az.: Case 1095
Gemäß Fig. 1 ist ein Voltmeter mit 5 Spannungsbereichen vorgesehen. Ein erster Spannungsbereich von 0,1 V ergibt
sich, wenn ein Relaiskontakt Kl und ein FET-Schalter QIl geschlossen werden und der Verstärkungsfaktor 100 an einem
Gleichspannungs-Vorverstärker 10 eingestellt wird. Ein
zweiter Spannungsbereich von 1 V wird eingestellt, indem
am Vorverstärker 10 ein Verstärkungsfaktor 10 eingestellt wird. Ein dritter Spannungsbereich von 10 V wird realisiert,
indem ein Verstärkungsfaktor 1 am Vorverstärker 10 einge
stellt wird. Ein vierter Spannungsbereich von 100 V wird
eingestellt, indem ein Relaiskontakt K2 geschlossen und ein Verstärkungsfaktor 0,1 an einem mittels eines Operationsverstärkers ausgebildeten Abschwächer 20 gewählt wird,
indem ein FET-Schalter Q16 geschlossen und ein Verstärkungs
faktor 1 am Vorverstärker 10 eingestellt wird. Ein fünf
ter Spannungsbereich von 1000 V wird eingestellt, indem ein Verstärkungsfaktor von 0,01 am Abschwächer 20 gewählt
und ein FET-Schalter Q18 geschlossen wird. Einem A/D Umsetzer 30 wird dabei jeweils eine Spannung von 10 V mit
vollem Skalenausschlag zugeführt.
Eine Referenzspannung VREF kann entweder dem Vorverstärker
durch Schließen eines FET-Schalters Q17 oder dem Abschwächer
20 durch Schließen eines Relais-Kontaktes K3 und eines FET-Schalters Q9 zugeführt werden. Massepotential kann in ähnli-
eher Weise dem Vorverstärker 10 zugeführt werden, indem der FET-Schalter Q13 geschlossen wird, oder es kann dem Abschwächer 20 zugeführt werden, indem der Relais-Kontakt K3
und ein FET-Schalter QlO geschlossen wird, und für die kombinierte Eichung des Vorverstärkers 10 in Reihe mit dee
Abschwächer 20 kann in noch zu erläuternder Weise ebenfalls Massepotential angelegt werden.
Aus Fig. 2 geht eine herkömmliche Technik zum Eichen eines
Linear-Voltmeters hervor. Die Anzeige des Voltmeters V
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-Z-
Hewlett-Packard Company
Int. Az.: Case 1095 O 7 Q Q R O Q
folgt der Gleichung
Xi = (Vi + Vo)G (1)
wobei V der Offsetfehler des Voltmeters und G der Verstärkungsfaktor
des Voltmeters ist. Falls ein Schalter S2 geschlossen ist, so daß V. = 0 gilt, ergibt sich für die
Anzeige des Voltmeters V:
X0 = V0 G (2)
Falls ein Schalter Sl geschlossen ist, so daß V. = wird, ergibt sich für die Anzeige des Voltmeters V:
XREF ■ CVREF + V G
Aus den Gleichungen 1, 2 und 3 folgt für die Übertragungsfunktion des Voltmeters bei geschlossenem Schalter S3:
X - X
V = V IN °»n (41
VIN VREF „ „ l4J
AREF " Ao,D
wobei X der Offsetfehler des Voltmeters bei Massepotential
am Eingang und X β der Offsetfehler des Voltmeters in einer
Anordnung vor dem Anlegen der Referenzspannung VREp, in diesem
Fal1 Xo ■ Xo,n * Xo,D ist·
Durch die Verwendung eines Voltmeters mit in hohem Maß
linearen Elementen und den Einsatz einer Verknüpfungsschaltung zum Berechnen der Transfer-Funktionen der Elemente, wenn
diese für die verschiedenen Spannungsbereiche aus den Übertragungsfunktionen
von leicht realisierbaren Eichkonfigurationen zusammengefügt sind, werden vorzugsweise fünf Spannungsbereiche mit nur einer einzigen Referenzspannung und einem
einzigen Präzisions-Widerstandsteiler geeicht.
Aus Fig. 3 geht ein Gleichstrom-Vorverstärker 10 hervor, wobei die Messungen des Eingangs-Offsetfehlers (X ) für
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Hewlett-Packard Company
die ersten drei Spannungsbereiche ausgeführt werden, wenn der Eingang des Vorverstärkers 10 über einen Widerstand
von 100 kn mittels eines FET-Schalters Q13 ausgegeerdet
ist. Für jeden Bereich wird eine getrennte Messung ausgeführt, wobei die entsprechenden Konfigurationen
der FET-Schalter Q31, Q32, Q23 und Q29 hergestellt
werden. Diese Messungen werden nachfolgend als X ' , ι in »
ο η und ο η bezeichnet·
Gemäß dem Schaltungsdiagramm des Abschwächers 20 in Fig. 4 werden die Eingangsoffset-Fehler für die vierten und
fünften Spannungsbereiche (100 V bzw. 1 000 V) erzeugt, wenn der Eingang des Abschwächers 20 über einen Widerstand
von 100 kn durch den Relaiskontakt K3 und den FET-Schalter
QlO geerdet wird. Es erfolgt für jeden Meßbereich eine getrennte Messung. Der vierte Meßbereich wird ausgewählt
durch Schließen von FET-Schaltern Q22 und Q18. Der fünfte
Meßbereich wird ausgewählt durch Schließen von FET-Schaltern, Q21 und Q16. Diese Messungen werden bezeichnet als
X100 bzw X1 00°
Λ ο,η DZW· Λ ο,η*
Unter Verwendung der Schaltungsanordnung gemäß Fig. 5 wird der Verstärkungsfehler für den dritten Meßbereich von
10 V gemessen, indem die interne Präzisions-Referenzspannung Vnpp (+10V) dem Eingang des Gleichspannungs-Vorverstärkers
10 über den FET-Schalter QI7 zugeführt wird. Diese Messung wird bezeichnet als X dcc· Die Eichung des
dritten Spannungsbereichs von 10 V wird dann bestimmt durch die Gleichung:
X - Xt0
vt0 - V IN ο,η
V IN V-
. A REF λ ο,η
da für diese Gleichung X1°o = X10 Q D ist.
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- r-
Mittels der Schaltungsanordnung nach Fig. 6 wird die Messung des Verstärkungsfehlers für den zweiten Meßbereich
von 1 V ausgeführt, indem die interne Präzisions-Referenzspannung VRpp (+10 V) einem Präzisionsteiler von 10:1
(900k/100k) zugeführt wird, wozu die FET-Schalter Q25 und Q20 geschlossen werden. Dem Vorverstärker 10 wird durch
den FET-Schalter Q16 die Ausgangsspannung IV zugeführt. Der Verstärkungsfaktor des Vorverstärkers 10 wird auf
XlO eingestellt, um einen vollen Skalenausschlag zu ergeben. Diese Messung wird als X RFp bezeichnet. Gemäß
Fig. 7 wird eine zweite Messung des Offsetfehlers im Bereich von IV ausgeführt, wobei der Eingang des Vorverstärkers
10 über den Präzisionsteiler 10:1 durch den Feldeffektschalter Q16 geerdet ist. Diese Messung umfaßt
Offsetfehler, welche während der Messung des Verstärkungsfehlers vorliegen können und nachfolgend als X QD bezeichnet
werden. Die Eichung des zweiten Meßbereichs von IV wird daher bestimmt durch die Gleichung:
X - X V IN * VREF/1° —
(6)
Ti - Tt
REF Λ ο,D
Beim ersten Spannungsbereich von 0,1V wird kein getrennter Verstärkungsfehler verursacht, da sich infolge der Meßbereiche
von IV und 0,1V eine genaue Verstärkung von 10 entsprechend dem Teiler 10:1 ergibt. Für die Eichung des
ersten Meßbereichs folgt dabei:
X - X0»1 V0»1 = ν /1OO ?N °»n
= ν /1OO ?
IN VREF/IW^1 „1
Ä REF A o,D
Mit Bezug auf Fig. 8 wird für die Messung des Verstärkungsfehlers des Spannungsbereichs von lOOV die interne Referenzspannung
von 10V dem Eingang des mittels eines Operationsverstärkers aufgebauten Abschwächers 20 durch den FET-
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■β -
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Int. Az.: Case 1095 2739529
Schalter Q9 und den Relais-Kontakt K3 zugeführt. Die Verstärkung des Abschwächers wird durch den FET-Schalter Q22
auf 0,1 eingestellt. Das Ausgangssignal des Abschwächers 20 wird dem Eingang des Vorverstärkers 20 durch den FET-Schalter
Q18 zugeführt. Der Vorverstärker 10 wird auf einen Verstärkungsfaktor
von 10 eingestellt, um einen Skalenvollausschlag von 10V zu ergeben. Diese Messung wird nachfolgend
als X Rpp bezeichnet. Eine zweite Offsetmessung wird im
Bereich von lOOV ausgeführt, um Offsetspannungen zu erfassen,
welche während der Messung der Referenz-Spannung auftreten
100 können. Diese Messung ist identisch zu derjenigen von X ,
O j Il
welche unter Bezug auf Fig. 4 erläutert wurde, mit der Ausnahme, daß der Verstärkungsfaktor des Vorverstärkers 10 auch
100 den Wert 10 hat. Diese Messung wird nachfolgend mit X ~
bezeichnet. Da die Messung bei vollem Skalenausschlag mit einem Verstärkungsfaktor 10 des Vorverstärkers 10 erfolgt
und im Meßbereich von lOOV für den Vorverstärker 10 der Verstärkungsfaktor 1 verwendet wird, wird die Übertragungsfunktion
berichtigt, indem durch den Verstärkungsfaktor 10 geteilt und mit dem Verstärkungsfaktor 1 multipliziert wird.
Somit bestimmt sich die Eichung für den vierten Meßbereich von lOOV gemäß den Gleichungen
X - X100
100 = 10V IN 9_»B
V IN REF
IN REF Y100 Y100
Λ REF"A o,D
X1 - X1 A REF Λ ο,D
Y10 Y10 Λ REF " Λ ο,η
Eine getrennte Messung des Verstärkungsfehlers ist für den Spannungsbereich von 1 000V nicht erforderlich, da der
einzige Unterschied zwischen den Verstärkungsfehlern der Meßbereiche lOOV und 1 000 V in einer genauen Abschwächung
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AO
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von 10 entsprechend dem Teiler 10:1 liegt. Für die Eichung des Meßbereichs von 1 OOOV gilt daher:
Y1000
1UUV
IN ~ Λ ο,η
V IN 1UUVREF 1m (9)
γ ιυυ Y100
Λ REF " A o,D
X1 - X1 Λ REF Λ ο,Ρ
Y10 Υ1Ο Λ REF " Λ ο,η
Aus Fig. 9 geht ein Selbsteichsystem hervor. Die Eingangsspannung und die Referenzspannungen werden wahlweise dem
Eingang einer ausgewählten Konfiguration von Schaltungselementen SC zugeführt. Ein auf das Ausgangssignal der
ausgewählten Konfiguration SC ansprechender Detektor 10 gibt ausgewählte Ausgangssignale an einen Speicher M ab.
Diese Ausgangssignale definieren die Übertragungsfunktion der ausgewählten Konfiguration und können mit anderen
Übertragungsfunktionen verknüpft werden, um die Übertragungsfunktion
der ausgewählten Konfigurationen zu bestimmen, die nicht direkt gemessen werden. Ein Prozessor T verknüpft
dann die geeignete Übertragungsfunktion mit dem gemessenen Ausgangssignal, wenn eine unbekannte Eingangsspannung zugeführt
wird, und gibt ein Ausgangssignal ab, welches normiert ist bezüglich der Übertragungsfunktion der Konfiguration
der Schaltungselemente, die für die Messung verwendet wurden.
Es wird somit eine Schaltungsanordnung zum Selbsteichen vorgesehen, welche nur zwei Präzisionselemente, nämlich
eine Quelle für eine Referenzspannung von 10V und einen Präzisions-Widerstandsteiler umfaßt. Indem der Prozessor
periodisch Korrekturfaktoren während der Messungen abtastet und die korrigierenden Übertragungsfunktionen dem Ausgangs-
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Hewlett-Packard Company O TOO co ο
τ ^ « /ι -1 nn. f
fc / 0 vj 3 ^ ί3
Int. Az.: Case 1095
signal zuführt, das von einer Messung einer unbekannten Spannung erhalten wurde, wird eine extrem genaue Spannungsmessung
erreicht, welche eine permanente Korrektur von Driftfehlern der Bauteile bewirkt und nur eine minimale
Mitwirkung einer Bedienungsperson bei der Eichung erfordert.
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Le
erseite
Claims (2)
1. Verfahren zum Selbsteichen eines Voltmeters mit mehreren im wesentlichen linearen Schaltungselementen, dadurch
gekennzeichnet , daß
eine erste bekannte Spannung dem Eingang eines ersten
Schaltungselementes zugeführt und dessen Ausgangssignal gespeichert wird,
eine zweite bekannte Spannung an den Eingang des ersten Schaltungselementes angelegt und dessen Ausgangssignal
gespeichert wird,
die Eingänge und Ausgänge der ersten und zweiten Schaltungselemente in einer ausgewählten Schaltungskonfiguration verknüpft werden,
die erste bekannte Spannung dem Eingang dieser Schaltungskonfiguration zugeführt und deren Ausgangssignal ge-
speichert wird,
eine zweite bekannte Spannung an den Eingang dieser Schaltungskonfiguration angelegt und deren Ausgangssignal
gespeichert wird,
dem Eingang des zweiten Schaltungselementes eine unbekann
te Spannung zugeführt und
ein für diese unbekannte Spannung signifikantes Signal abgeleitet wird aus dem Ausgangssignal des zweiten
Schaltungselementes beim Anlegen der unbekannten Spannung sowie aus den gespeicherten Ausgangssignalen durch Nor
mierung bezüglich der linearen Funktion des zweiten
Schaltungselementes, welche abgeleitet ist aus den gespeicherten Ausgangssignalen und den Werten der ersten
und zweiten Spannungen.
2. Schaltungsanordnung zum Durchführen des Verfahrens nach Anspruch I1 gekennzeichnet durch erste
und zweite Schaltungselemente mit im wesentlichen linearen
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OR1GlNAU INSPECTED
Hewlett-Packard Company ο
Int. Az.: Case 1095
Int. Az.: Case 1095
Übertragungs funktionen,
eine Quelle für erste und zweite Referenzsignale, eine Einrichtung zur wahlweisen Weiterleitung der ersten und zweiten Referenzsignale an den Eingang des ersten Schaltungselementes,
eine Quelle für erste und zweite Referenzsignale, eine Einrichtung zur wahlweisen Weiterleitung der ersten und zweiten Referenzsignale an den Eingang des ersten Schaltungselementes,
einen mit dem Ausgang des ersten oder des zweiten Schaltungselementes wahlweise verbundenen Detektor
zur Erzeugung eines Signales, welches repäsentativ für das dem Schaltungselement zugeführte Signal ist,
eine Einrichtung zur wahlweisen Verbindung der Eingänge und der Ausgänge der ersten und zweiten Schaltungs
elemente zu einer ausgewählten Konfiguration mit einem Eingang und einem Ausgang,
einen mit dem Detektor verbundenen Speicher, eine Einrichtung zum Verbinden des Eingangssignales mit dem Eingang des zweiten Schaltungselementes und einen Prozessor, welcher einen mit dem Ausgang des Speichers verbundenen Eingang aufweist und ein Ausgangssignal erzeugt, welches für das Eingangssignal repräsentativ ist und normiert ist zur Korrektur der Offset- und Verstärkungsfehler in dem zweiten Schaltungselement, die durch den ausgewählten Inhalt des Speichers bestimmt sind.
einen mit dem Detektor verbundenen Speicher, eine Einrichtung zum Verbinden des Eingangssignales mit dem Eingang des zweiten Schaltungselementes und einen Prozessor, welcher einen mit dem Ausgang des Speichers verbundenen Eingang aufweist und ein Ausgangssignal erzeugt, welches für das Eingangssignal repräsentativ ist und normiert ist zur Korrektur der Offset- und Verstärkungsfehler in dem zweiten Schaltungselement, die durch den ausgewählten Inhalt des Speichers bestimmt sind.
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