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DE2733890A1 - Verfahren zum hochgenauen messen von phasen- und frequenzdifferenzen - Google Patents

Verfahren zum hochgenauen messen von phasen- und frequenzdifferenzen

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Publication number
DE2733890A1
DE2733890A1 DE19772733890 DE2733890A DE2733890A1 DE 2733890 A1 DE2733890 A1 DE 2733890A1 DE 19772733890 DE19772733890 DE 19772733890 DE 2733890 A DE2733890 A DE 2733890A DE 2733890 A1 DE2733890 A1 DE 2733890A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
signals
phase
frequency
measurement
time
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE19772733890
Other languages
English (en)
Inventor
Rainer Dr Ing Lueder
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens Corp
Original Assignee
Siemens Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens Corp filed Critical Siemens Corp
Priority to DE19772733890 priority Critical patent/DE2733890A1/de
Publication of DE2733890A1 publication Critical patent/DE2733890A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R25/00Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents
    • G01R25/08Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents by counting of standard pulses
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/02Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage
    • G01R23/10Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage by converting frequency into a train of pulses, which are then counted, i.e. converting the signal into a square wave

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Phase Differences (AREA)
  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
  • Measurement Of Unknown Time Intervals (AREA)

Description

  • Verfahren zum hochgenauen Messen von Phasen- und Frequenzdiffe-
  • renzen.
  • Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum hochgenauen Messen von Phasen- und Frequenzdifferenzen zwischen periodischen Bezugssignalen vorgegebener Folgefrequenz und periodischen Meßsignalen gleicher nomineller Folgefrequenz, sowie auf eine Schaltungsanordnung zum Durchführen des Verfahrens.
  • Zum Messen von Frequenzen ist es allgemein bekannt, Zähler mit einer hohen Zählfrequenz von 10 MHz bis 500 MHz zu verwenden.
  • Mit Hilfe dieser Zähler ist es möglich, eine Auflösung der relativen Frequenzabweichung zwischen Bezugssignalen und Meßsignalen von 10 7 bis 10 9 pro Sekunde Meßzeit zu erreichen. Weiterhin ist es bereits möglich, mit Hilfe einer Frequenzumsetzung und Frequenzvervielfachung der Bezugssignale und der Meßsignale eine Auflösung der relativen Frequenzabweichung von 10 11 bis 10 9 pro Sekunde Meßzeit zu erreichen. Bei dem letzteren bekannten Verfahren werden die von einem Frequenznormal abgegebenen Bezugssignale und die von einem Oszillator abgegebenen Meßsignale jeweils einem Frequenzvervielfacher zugeführt, der die Folgefrequenz der Meßsignale bzw.
  • Bezugssignale um einen Faktor 100 bis 1000 vervielfacht. Die Bezugssignale und die Meßsignale an den Ausgängen der Frequenzvervielfacher werden einem Mischer zur Subtraktion der vervielfachten Frequenzen zugeführt. Dadurch werden die Frequenzabweichungen so vergrößert, daß sie mit hochwertigen Zählern gemessen werden können. Der Aufwand für eine Schaltungsanordnung zum Durchführen dieses bekannten Verfahrens ist jedoch beträchtlich, insbesondere bei einer Frequenzvervielfachung und Mischung im GHz-Bereich. Mit dem bekannten Verfahren ist es außerdem nicht möglich, gleichzeitig Phasen- und Frequenzdifferenzen zwischen den Bezugssignalen und den Meßsignalen zu ermitteln. Weiterhin ist es mit Hilfe des bekannten Verfahrens nicht möglich, gleichzeitig die Phasen- und Frequenzdifferenzen zwischen den Bezugssignalen und einer Mehrzahl von Meßsignalen mit der gewünschten Genauigkeit in einer einzigen Schaltungsanordnung durchzuführen.
  • Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren anzugeben, mit dessen Hilfe auf einfache Weise gleichzeitig die Phasen- und Frequenzdifferenzen zwischen Bezugssignalen und Meßsignalen ermittelt werden können.
  • Erfindungsgemäß wird die Aufgabe bei dem Verfahren der eingangs genannten Art gelöst durch die zeitliche Aufeinanderfolge folgender Verfahrensschritte: a) Es werden den Phasendifferenzen zwischen den Bezugssignalen und den Meßsignalen proportionale Phasensignale erzeugt.
  • b) Die Impulsdauern der Phasensignale werden gemessen.
  • c) Während jeweils einer vorgegebenen Torzeit werden die Mittelwerte der Impulsdauern der Phasensignale gebildet.
  • d) Die zeitlichen Änderungen der Mittelwerte während einer Meßzeit werden ermittelt.
  • e) Aus der Änderung der Mittelwerte wird durch Division durch die Meßzeit die mittlere relative Frequenzdifferenz ermittelt.
  • Das Verfahren gemäß der vorliegenden Erfindung hat den Vorteil, daß es mit dem geringen Aufwand einer Digitalschaltung eine hochgenaue Messung der Phasen- und Frequenzdifferenzen zwischen den Bezugssignalen und den Meßsignalen gestattet. Die Auflösung der mittleren relativen Frequenzdifferenz eines einfachen Frequenzzählers kann durch das Verfahren um zwei bis fünf Zehnerpotenzen erhöht werden. Beispielsweise kann während einer Meßzeit von 1 Sekunde die mittlere relative Frequenzabweichung mit einer Genauigkeit von 10111 und bei einer Meßzeit von 100 Sekunden mit einer Genauigkeit von 10 gemessen werden. Die der Phasendifferenz zwischen den Bezugssignalen und den Meßsignalen proportionalen Phasensignale werden auf einfache Weise mit Hilfe eines Phasendetektors erzeugt. Die Messung der Impulsdauern der Phasensignale und die Bildung der Mittelwerte der Impulsdauern der Phasensignale erfolgt in handelsüblichen Zählern. Die Berechnung der Frequenzdifferenz aus der zeitlichen Änderung der Mittelwerte und der Meßzeit kann beispielsweise mit Hilfe eines handelsüblichen Tischrechners erfolgen.
  • Die Bildung der Mittelwerte der Impulsdauern erfolgt insbesondere dann auf einfache Weise, wenn die Torzeit gleich ist einem ganzzahligen Vielfachen der Periodendauer der Phasensignale.
  • Zur Ermittlung der Frequenzdifferenz aus der Änderung der Mittelwerte und oder Meßzeit ist es vorteilhaft, wenn die Meßzeit gleich ist einem ganzzahligen Vielfachen der Torzeit.
  • Für die Bildung der Mittelwerte der Impulsdauern ist es günstig, wenn die Zählfrequenz des Zählers nicht kohärent ist zum Bezugssignal und zum Meßsignal und/oder einen Phasenjitter aufweist.
  • Eine besonders genaue Messung der Frequenzdifferenz wird erreicht, wenn die Bezugssignale in einem Frequenznormal erzeugt werden.
  • Falls die Nennfrequenz der Bezugssignale und der Meßsignale verschieden sind, ist es von Vorteil, wenn die Folgefrequenz der Bezugssignale und/oder der Meßsignale um vorgegebene Faktoren geteilt werden.
  • Eine vorteilhafte Ausführungsform einer Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens ist dadurch gekennzeichnet, daß ein Phasendetektor vorgesehen ist, an dem die Bezugssignale und die Meßsignale anliegen und der die Phasensignale abgibt und daß ein an sich bekannter Zähler vorgesehen ist, an dem die Phasensignale anliegen, der die Mittelwerte der Impulsdauern der Phasensignale während der Torzeit bildet und der die zeitlichen Änderungen der Mittelwerte während der Meßzeit ermittelt und/oder anzeigt.
  • Falls die relative Frequenzdifferenz selbsttätig ermittelt werden soll, ist es von Vorteil, wenn dem Zähler eine Auswerteeinrichtung nachgeschaltet ist, die die Differenz der Mittelwerte während der Meßzeit bildet, durch die Meßzeit dividiert.
  • Falls die Folgefrequenz der Bezugssignale von dem Nennwert der Folgefrequenz der Meßsignale stark abweicht, ist es, um den Meßbereich zu erweitern, günstig, wenn die Bezugssignale und/oder die Meßsignale über jeweils einen Frequenzteiler dem Phasendetektor zugeführt werden.
  • Eine gleichzeitige Messung der Phasen- und Frequenzdifferenzen zwischen den Bezugssignalen und einer Mehrzahl von Meßsignalen wird auf einfache Weise dadurch erreicht, daß weitere Phasendetektoren vorgesehen sind, an denen die Bezugssignale und weitere Meßsignale anliegen und deren Ausgänge über einen Multiplexer mit dem Zähler verbunden sind, der den Multiplexer steuert.
  • Im folgenden wird das Verfahren gemäß der vorliegenden Erfindung anhand von Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen: Fig. 1 ein Blockschaltbild einer bekannten Schaltungsanordnung zum Messen der Frequenzdifferenzen zwischen Bezugssignalen und Meßsignalen, Fig. 2 ein Blockschaltbild einer Schaltungsanordnung zum Messen der Phasen- und Frequenzdifferenzen entsprechend dem erfindungsgemäßen Verfahren, Fig. 3 Zeitdiagramme von Signalen an verschiedenen Punkten der Schaltungsanordnung, Fig. 4 ein Blockschaltbild einer Schaltungsanordnung zum Messen der Phasen- und Frequenzdifferenzen zwischen den Bezugssignalen und einer Mehrzahl von Meßsignalen nach dem erfindungsgemäßen Verfahren.
  • Die in Fig. 1 dargestellte Schaltungsanordnung enthält zwei Oszillatoren OS1 und OS2, zwei Frequenzvervielfacher V1 und V2, einen Mischer M1 und eine Auswerteeinrichtung Al. Der Oszillator OS1 ist beispielsweise als Frequenznormal ausgebildet und er gibt Be- zugssignale B vorgegebener konstanter Folgefrequenz fO an den Frequenzvervielfacher V1 ab. Der Oszillator OS2 gibt Meßsignale M an den Frequenzvervielfacher V2 ab. Der Nennwert der Folgefrequenz der Meßsignale ist beispielsweise gleich der vorgegebenen konstanten Folgefrequenz fO der Bezugssignale B. Der Frequenzvervielfacher V1 vervielfacht die Folgefrequenz fO um einen Faktor K-l, wobei K beispielsweise einen Wert zwischen 100 und 1000 hat. An seinem Ausgang gibt der Frequenzvervielfacher V1 Bezugssignale B1 mit der vervielfachten Folgefrequenz an den Mischer MR ab. Der Frequenzvervielfacher V2 vervielfacht die Folgefrequenz der Meßsignale M um den Faktor K und gibt an seinem Ausgang Meßsignale M1 mit der vervielfachten Folgefrequenz an den Mischer MR ab. Der Mischer MR gibt an seinem Ausgang Signale S ab, deren Folgefrequenz gleich ist der Summe aus der vorgegebenen konstanten Folgefrequenz fO und der mit dem Faktor K multiplizierten Frequenzdifferenz zwischen den Folgefrequenzen der Meßsignale M und der Bezugssignale B. Die Signale S werden der Auswerteeinrichtung A1 zugeführt, die die Folgefrequenz der Meßsignale M ermittelt. Als Auswerteeinrichtung kann ein handelsüblicher Zähler verwendet werden, dessen Auflösung um den Faktor K erhöht wird. Mit dem im Handel erhältlichen -13 Computing Counter HP 5360A" ist eine Auflösung von 2.10 13 pro Sekunde erzielbar Die in Fig. 2 dargestellte Schaltungsanordnung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens enthält ebenfalls die Oszillatoren OS1 und OS2, die die Bezugssignale B bzw. die Meßsignale M abgeben. Weiterhin enthält die Schaltungsanordnung zwei Frequenzteiler FT1 und FT2, einen Phasendetektor PD, einen Zähler ZA und gegebenenfalls eine Auswerteeinrichtung A2. Die Bezugssignale B mit der vorgegebenen konstanten Folgefrequenz fO werden dem Frequenzteiler FT1 zugeführt. Der Frequenzteiler FT1 gibt an seinem Ausgang Bezugssignale B2 ab, deren Folgefrequenz gleich ist der durch einen vorgegebenen Faktor N geteilten Folgefrequenz fO. Die Meßsignale M liegen am Frequenzteiler FT2 an. Falls der Nennwert der Folgefrequenz der Meßsignale M gleich ist der Folgefrequenz fo, führt der Frequenzteiler FT2 ebenfalls eine Teilung durch den Faktor N durch und gibt an seinem Ausgang Meßsignale M2 ab, deren Folge frequenz gleich ist der durch den Faktor N geteilten Folgefrequenz der Meßsignale M.
  • Die Bezugssignale B2 und die Meßsignale M2 liegen am Phasendetektor PD an, der die Phasendifferenz zwischen den Bezugssignalen B2 und den Meßsignalen M2 bildet. Der Phasendetektor PD ist beispielsweise als Flipflop ausgebildet, an dessen Setzeingang die Bezugssignale B2 und an dessen Rücksetzeingang die Meßsignale M2 anliegen. An seinem Ausgang gibt der Phasendetektor PD Phasensignale P ab, deren Impulsdauern ti proportional sind den Phasendi=-ferenzen zwischen den Bezugssignalen B2 und den Meßsignalen 'I2.
  • Die Folgefrequenz der Phasensignale P ist gleich der Folgefrequenz der Bezugssignale B2. Die Phasensignale P werden dem Zähler ZA zugeführt, der ein handelsüblicher Frequenzzähler, wie beispielsweise der Frequenzzähler HP5327A sein kann. Der Frequenz zähler mißt die Impulsdauern ti der Phasensignale P und führt eine Mittelung der Impulsdauern ti während einer Torzeit T1 durch. Die Torzeit T1 ist vorzugsweise gleich einem ganzzahligen Vielfachen der Periodendauer der Phasensignale P. Die Messung der Mittelwerte tim der Impulsdauern ti wird laufend wiederholt, so daß man eine Meßreihe timl, tim2, tim3 ... erhält. Bei einer hinreichend großen Torzeit T1 ist die Pause, die der Zähler ZA zwischen zwei Messungen macht, dabei vernachlässigbar.
  • Aus der Meßreihe wird die mittlere relative Frequenzabweichung während einer Meßzeit T2, die vorzugsweise gleich ist einem ganzzahligen Vielfachen der Torzeit T1 auf einfache Weise ermittelt.
  • Hierzu ist lediglich eine Division der Änderung des Mittelwertes tim während der Meßzeit T2 durch die Meßzeit T2 erforderlich. Zur Ermittlung der Änderung der Mittelwerte tim wird beispielsweise die Differenz zwischen dem ersten und dem letzten Mittelwert tim während der Meßzeit T2 gebildet.
  • Dem Zähler ZA kann zur selbsttätigen Ermittlung der mittleren relativen Frequenzdifferenz eine Auswerteeinrichtung A2 nachgeschaltet werden. Als Auswerteeinrichtung A2 kann beispielsweise ein Tischrechner und ein graphisches Ausgabegerät für die Darstellung der mittleren relativen Frequenzdifferenz als Funktion der Zeit vorgesehen werden. Der Tischrechner kann aus den Meßwerten tim die Standardabweichung der mittleren relativen Frequenzdifferenz für eine oder mehrere Meßzeiten T2 zugleich berechnen. Die Ermittlung der mittleren relativen Frequenzdifferenz kann auch durch einen Beobachter erfolgen, der die Differenz zwischen zwei aufeinanderfolgenden Mittelwerten tim bildet und diese Differenz durch die Meßzeit T2 dividiert.
  • Falls die nominelle Folgefrequenz der Meßsignale M verschieden ist von der Folgefrequenz der Bezugssignale, sind auch die Faktoren, durch die die Folgefrequenzen mit Hilfe der Frequenzteiler FT1 und FT2 geteilt werden, verschieden. Die Ermittlung der Phasendifferenz erfolgt dann beim größten gemeinsamen Vielfachen der beiden Folgefrequenzen. Es ist auch möglich, die Bezugssignale B und die Meßsignale M dem Phasendetektor PD ohne die Verwendung eines Frequenzteilers FT1 bzw. FT2 zuzuführen.
  • Die Auflösung des Verfahrens hängt davon ab, über wieviel Periodendauern die Impulsdauer ti der Phasensignale P gemittelt werden kann und welcher Zähler ZA für deren Messung verwendet wird. Die Anzahl der Periodendauern wird durch die Folgefrequenz fO, bei der der Phasenvergleich erfolgt und durch die Torzeit T1Nfestgelegt.
  • Falls beispielsweise die Bezugssignale B2 und die Meßsignale M2 eine Folgefrequenz von 1 MHz haben und die Impulsdauern ti über 105 Periodendauern gemittelt werden, so erzielt ein Zähler ZA mit einer Zählfrequenz von 10 MHz eine absolute Auflösung des Mittelwertes tim der Impulsdauern von 1 psec. Die Torzeit T1 beträgt dabei 100 msec. Bei einer Meßzeit T2 von 1 sec besitzt die relative Auflösung der mittleren relativen Frequenzdifferenz den Grenzwert 10'12 und bei einer Meßzeit T2 von 100 sec den Grenzwert von 10'14 Der Grenzwert ist durch statistische Streuung der Mittelwerte tim und durch Phasenänderungen in der Meßeinrichtung nicht zu erzielen; die tatsächliche Meßgenauigkeit ist um den Faktor 5 ... 10 schlechter, die Auflösung des Zählers wird um den Faktor 1 ... 2 ... 104 erhöht. Die Meßgenauigkeit wird durch eine zum Phasensignal P nicht kohärente Zählfrequenz des Zählers wesentlich verbessert.
  • Ein Vorteil des Verfahrens ist die leichte Uberprüfung der Meßgenauigkeit, bei der an beide Eingänge dieselbe Bezugsfrequenz gelegt wird und damit die Frequenzänderungen der gesamten Meßeinrichtung gemessen wird.
  • Bei den in Fig. 3 dargestellten Zeitdiagrammen an verschiedenen Punkten der Schaltungsanordnung sind in Abszissenrichtung die Zeit t und in Ordinatenrichtung die Momentanwerte der Signale dargestellt.
  • Die dargestellten Signale sind Binärsignale, die nur die Werte 0 oder 1 annehmen.
  • Zum Zeitpunkt t1 nimmt das Bezugssignal B2 den Binärwert 1 an.
  • Falls der Phasendetektor PD aus einem Flipflop gebildet wird, dessen Setzeingang die Bezugs signale B2 und dessen Rücksetzeingang die Meßsignale M2 zugeführt werden, wird das Flipflop durch das Bezugssignal B2 zum Zeitpunkt tl gesetzt und das Phasensignal P nimmt zum Zeitpunkt tl den Binärwert 1 an. Zum Zeitpunkt t2 nimmt das Meßsignal M2 ebenfalls den Binärwert 1 an und das Flipflop im Phasendetektor PD wird zurückgesetzt, so daß auch das Phasensignal P zum Zeitpunkt t2 den Binärwert 0 annimmt. Die Zeitdifferenz zwischen den Zeitpunkten tl und t2 stellt die Impulsdauer til des Phasensignals P dar. Es wird angenommen, daß zum Zeitpunkt tl die Torzeit T1 für die Ermittlung des Mittelwertes tim und die Meßzeit T2 beginnen.
  • In ähnlicher Weise wie zum Zeitpunkt t1 werden zu den Zeitpunkten t3 bis t2n-1 Phasensignale P erzeugt, deren Impulsdauern ti2 bis tin für die Mittelung während der Torzeit T1 herangezogen werden.
  • Zum Zeitpunkt t2n endet die Torzeit T1 und am Ausgang des Zählers ZA steht der Mittelwert timl, der Impulsdauern til bis tin zur Verfügung. In ähnlicher Weise werden fortlaufend weitere Mittelwerte tim gebildet. Aus der Differenz zwischen einem Mittelwert und einem nach der Zeit T2 folgenden Mittelwert wird die mittlere relative Frequenzdifferenz gebildet, deren Vorzeichen aus der Schaltungsanordnung eindeutig ermittelt werden kann. Gegebenenfalls kann die Ermittlung der Mittelwerte tim auf den ersten und den letzten Mittelwert tim während jeder Meßzeit T2 beschränkt werden.
  • Die in Fig. 4 dargestellte Schaltungsanordnung dient zum gleichzeitigen Messen der Phasen- und Frequenzdifferenzen zwischen den Bezugssignalen B und einer Mehrzahl von Meßsignalen, die von Oszillatoren OS2 bis OSn abgegeben werden, Den Oszillatoren OS1 bis OSn sind Frequenzteiler FT1 bis FTn nachgeschaltet, um die Folge- frequenzen der vom Oszillator Os1 abgegebenen Bezugssignale B und der von den Oszillatoren OS2 bis OSn abgegebenen Meßsignale einander anzugleichen. Die am Frequenzteiler FT1 abgegebenen Bezugssignale B2 werden ersten Eingängen von Phasendetektoren PD1 bis PD(n-i) zugeführt. An den zweiten Eingängen der Phasendetektoren PD1 bis PDn-1 liegen die von den Frequenzteilern FT2 bis FTn abgegebenen Signale an. Die Ausgänge der Phasendetektoren PD1 bis PD(n-1) sind mit den Eingängen eines Multiplexers MX verbunden, der die von den Phasendetektoren PD1 bis PD(n-1) abgegebenen Phasensignale zeitlich nacheinander zum Messen der jeweiligen Phasendifferenz und zur Mittelung der Impulsdauern der Phasensignale an den Zähler ZA abgibt. Der Zähler ZA steuert mit Hilfe eines Umschaltsignals U, das das Ende der Torzeit T1 angibt, die Durchschaltung der Phasensignale von den Eingängen des Multiplexers MX zu seinem Ausgang. Über einen Eingang des Multiplexers kann dem Zähler außerdem ein mit Hilfe eines Synchronsignalgenerators SG erzeugtes Synchronsignal zugeführt werden, das die eindeutige Zuordnung der Meßwerte tim zum jeweiligen Oszillator ermöglicht.
  • Am Ausgang des Zählers ZA werden zeitlich nacheinander die innerhalb der vorgegebenen Torzeit T1 ermittelten Mittelwerte der Impulsdauern der von jeweils einem der Phasendetektoren PD1 bis PD(n-1) abgegebenen Phasensignale abgegeben. Aus der Änderung der Mittelwerte tim der Impulsdauern ti der von jeweils einem der Phasendetektoren PD1 bis PD(n-1) abgegebenen Phasensignale während der Meßzeit T2 wird die Frequenzdifferenz zwischen den Bezugssignalen B und den jeweiligen Meßsignalen ermittelt. Auch bei dieser Schaltungsanordnung kann dem Zähler ZA eine Auswerteeinrichtung A3 nachgeschaltet werden, die die (n-1) Meßwerte ermittelt und aufzeichnet.
  • 10 Patentansprüche 4 Figuren

Claims (10)

  1. Patentansprüche 1. Verfahren zum hochgenauen Messen von Phasen- und Frequenzdifferenzen zwischen periodischen Bezugssignalen vorgegebener Folge frequenz und periodischen Meßsignaleh gleicher nomineller Folgefrequenz, g e k e n n z e i c h n e t durch die zeitliche Aufeinanderfolge folgender Verfahrensschritte: a) Es werden den Phasendifferenzen zwischen den Bezugs signalen (B, B2) und den Meßsignalen (M, M2) proportionale Phasensignale (P) erzeugt, b) Die Impulsdauern (ti) der Phasensignaie (P) werden gemessen, c) Während jeweils einer vorgegebenen Torzeit (T1) werden die Mittelwerte (tim) der Impulsdauern (ti) der Phasensignale (P) gebildet.
    d) Die zeitlichen Änderungen der Mittelwerte (tim) während einer Meßzeit (T2) werden ermittelt.
    e) Aus der Änderung der Mittelwerte (tim) wird durch Division durch die Meßzeit (T2) die mittlere relative Frequenzdifferenz ermittelt.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Torzeit (T1) gleich ist einem ganzzahligen Vielfachen der Periodendauer der Phasensignale (P).
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Meßzeit (T2) gleich ist einem ganzzahligen Vielfachen der Torzeit (T1).
  4. 4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Zählfrequenz des Zählers (ZA) nicht kohärent ist zum Bezugssignal (B) und zum Meßsignal (M) und/oder einen Phasenjitter aufweist.
  5. 5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Bezugssignale (B) in einem Frequenznormal (OS1) erzeugt werden.
  6. 6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Folgefrequenz (fO) der Bezugssignale (B) und/oder der Meßsignale (M) um vorgegebene Faktoren (N) geteilt werden.
  7. 7. Schaltungsanordnung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Phasendetektor (PD) vorgesehen ist, an dem die Bezugssignale (B, B2) und die Meßsignale (M, M2) anliegen und der die Phasensignale (P) abgibt und daß ein an sich bekannter Zähler (ZA) vorgesehen ist, an dem die Phasensignale (P) anliegen, der die Mittelwerte (tim) der Impulsdauern (ti) der Phasensignale (P) während der Torzeit (T1) bildet und der die zeitlichen Änderungen der Mittelwerte (tim) ermittelt und/ oder anzeigt.
  8. 8. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß dem Zähler (ZA) eine Auswerteeinrichtung (A2) nachgeschaltet ist, die die Differenz der Mittelwerte (tim) bildet und durch die Meßzeit (T2) dividiert.
  9. 9. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7 oder Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Bezugssignale (B) und/oder die Meßsignale (M) über jeweils einen Frequenzteiler (FT1, FT2) dem Phasendetektor (PD) zugeführt werden.
  10. 10. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 7 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß weitere Phasendetektoren (PD2 bis PDn-1) vorgesehen sind, an denen die Bezugssignale (B, B2) und weitere Meßsignale anliegen und deren Ausgänge über einen Multiplexer (MX) mit dem Zähler (ZA) verbunden sind, der den Multiplexer (MX) steuert.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0043407A3 (en) * 1980-07-04 1982-02-17 Deutsche Itt Industries Gmbh Arrangement for the digital measuring of phase difference, its use in a synchronisation circuit and such a synchronisation circuit
EP0050744A3 (en) * 1980-10-24 1983-02-02 Siemens Aktiengesellschaft Device for detecting the frequency drift of an oscillator circuit
FR2538909A1 (fr) * 1982-12-30 1984-07-06 Thomson Csf Comparateur de phase
EP0550360A1 (de) * 1992-01-02 1993-07-07 STMicroelectronics S.A. Verriegelungsdetektor für eine Phasenregelschleife

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0043407A3 (en) * 1980-07-04 1982-02-17 Deutsche Itt Industries Gmbh Arrangement for the digital measuring of phase difference, its use in a synchronisation circuit and such a synchronisation circuit
EP0050744A3 (en) * 1980-10-24 1983-02-02 Siemens Aktiengesellschaft Device for detecting the frequency drift of an oscillator circuit
FR2538909A1 (fr) * 1982-12-30 1984-07-06 Thomson Csf Comparateur de phase
US4634967A (en) * 1982-12-30 1987-01-06 Thomson-Csf Phase comparator
EP0550360A1 (de) * 1992-01-02 1993-07-07 STMicroelectronics S.A. Verriegelungsdetektor für eine Phasenregelschleife

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