[go: up one dir, main page]

DE2619739A1 - Durchstrahlungs-raster-korpuskularstrahlmikroskop mit unterteiltem detektor im primaerstrahlkegel - Google Patents

Durchstrahlungs-raster-korpuskularstrahlmikroskop mit unterteiltem detektor im primaerstrahlkegel

Info

Publication number
DE2619739A1
DE2619739A1 DE19762619739 DE2619739A DE2619739A1 DE 2619739 A1 DE2619739 A1 DE 2619739A1 DE 19762619739 DE19762619739 DE 19762619739 DE 2619739 A DE2619739 A DE 2619739A DE 2619739 A1 DE2619739 A1 DE 2619739A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
detector
image
signals
probe
microscope according
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19762619739
Other languages
English (en)
Inventor
Walter Prof Dr Hoppe
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV
Original Assignee
Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV filed Critical Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV
Priority to DE19762619739 priority Critical patent/DE2619739A1/de
Publication of DE2619739A1 publication Critical patent/DE2619739A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/244Detectors; Associated components or circuits therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/02Details
    • H01J37/22Optical, image processing or photographic arrangements associated with the tube
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/26Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes
    • H01J37/28Electron or ion microscopes; Electron or ion diffraction tubes with scanning beams
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/26Electron or ion microscopes
    • H01J2237/2614Holography or phase contrast, phase related imaging in general, e.g. phase plates

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

  • Durchstrahlungs-Raster-Korpuskularstrahlmikroskop
  • mit unterteiltem Detektor im Primärstrah1keel Die Erfindung betrifft ein Durchstrahlungs-Raster-Korpuskularstrahlmikroskop mit unterteiltem Detektor im Primärstrahlkegel, bei dem die Sondenfläche des Korpuskularstrahls in der Objektebene größer als die gewünschte Auflösung ist und bei dem zur Erzeugung eines Bildpunktes die Detektorelementsignale durch Filter modifiziert und anschließend verknüpft sind.
  • Im Durchstrahlungs-Raster-Korpuskularstrahlmikroskop wird ein kleiner Korpuskularfleck auf ein zu untersuchendes Objekt abgebildet. Dieser Korpuskularfleck dient als Sonde, mit deren Hilfe das Objekt in zwei Koordinaten abgerastert werden kann. Das erzeugte Bildsignal kann ähnlich wie das Bildsignal einer Fernsehaufnakmeröhre, z. B. in einer Monitorröhre, wiedergegeben werden.
  • In der üblichen Anordnung entspricht dabei jedem Bildpunkt ein einziges Signal, welches z. B. als Dunkelfeldsignal auf einem ringförmig um den Primärstrahlkegel angeordneten Detektor (Registrierung der Streustranlen) erzeugt werden kann. Bei diesem Verfahren gehen die in den Primärstrahlkegel abgestreuten Streu strahlen verloren, was insbesondere bei hohen Auflösungen (also bei sehr kleinem Sondendurchmesser) it beträchtlichen Intensitätseinbußen verknüpft ist. Ein Durchstrahlungs-Raster-Elektlonenmikroskop (STEM), mit dessen Hilfe man auch diese Information gewinnen kann, ist in einer Arbeit von H. Rose, Phase Contrast in Scanning Transmission Elektron Microscopy, in der Zeitschrift "Optik" 39, 1974, Seiten 416 - 436, beschrieben. Rose geht dabei davon aus, daß bei einem STEM auf einer hinter dem Präparat liegenden Ebene in jedem Zeitpunkt ein Hologramm des bestrahlten Objektelements entsteht, das sich durch Interferenz des vom Objektelement ausgehenden Strahlkegels mit dem Primärstrahlkegel ergibt. Nach Rose ist im abbildenden Strahlkegel eine Detektoranordnung vorgesehen, die aus einem aus Ringzonen zusammengesetzten Teildetektor und einem in dessen Schatten liegenden Vollflächendetektor besteht. Diese Detektoranordnung ist der Interferenzfigur des vom zentralen Punkt der Sondenfläche ausgehenden Strahlkegels mit dem Primärstrahlkegel angepaßt. Bei entsprechender Bemessung nimmt daher der eine dieser Teildetektoren die positiven (konstruktiven), der andere Teildetektor die negativen (destruktiven) Interferenzbereiche auf. Durch diese spezielle Gestaltung der Detektoren stellen diese gleichzeitig ein Filter dar, dessen reelle Funktion von Teildetektor zu Teildetektor ihr Vorzeichen ändert. Durch Kombination der Ausgangssignale der beiden Teildetektoren erhält Rose ein Bildsignal, das die Information über.den zentralen Punkt der Sondenfläche enthält.
  • Darüber hinaus ist es bekannt, Filter mit komplizierteren Funktionen zu verwenden, welche nicht nur das Vorzeichen ändern, sondern auch eine Verstärkung ohne Abschwächung der durchtretenden Strahlung und damit auch der registrierten Detektorströme vorsehen (Veneklasen, On line holographic imaging in the Scanning Transmission Electron Microscopy, Zeitschrift "Optik" 44,4, März 1976, Seiten 447 - 468).
  • Hierbei ist ferner die Filterfunktion nicht durch die Teilung des Detektors starr vorgegeben, sondern durch Verwendung eines Leuchtschirmes, der als Vielkanaldetektor mit einer nur durch sein Auflösungsvermögen beschränkten Anzahl von Detektorelementen aufgefaßt werden kann, beliebig einstellbar. Wie schon bei Rose werden anschließend aber auch hier die einzelnen Detektorelemente nur derart verknüpft, daß für einen einzigen Punkt sich der Phasenkontrast aufaddiert, hingegen für alle anderen Punkte des Sondenfleckes sich kompensiert. Es wird also mit Hilfe dieser Anordnung aus einer größeren Sondenfläche ein zentraler Punkt (bzw. besser ausgedrückt, ein Flächenelement von der Größe der zu erzielenden Auflösung) herausgegriffen. Es ist klar, daß nach diesem Verfahren trotz eines relativ groben Sondenfleckes ein Bild virtuell mit einem kleinen Sondenfleck abgetastet werden kann. Allerdings ist mit diesem Verfahren der Nachteil einer geringeren Lichtstärke verbunden, da außerhalb des virtuellen, durch Bildrekonstruktion definierten Sondenfleckes trotz Bestrahlung des Objektes keine Information übertragen wird. Ist also die Fläche der aktuellen Korpuskularstrahlsonde um den Faktor M grö-Ber, so wird - bei gleichmäßiger Beleuchtung der Sondenfläche -die Strahlenausbeute auf 1/M reduziert.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Gerät der eingangs erwähnten Art anzugeben, das diese Lichtstärkenreduzierung dadurch vermeidet, daß alle Objektpunkte, d. h. Flächenelemente von der Größe der zu erzielenden Auflösung, im beleuchteten Sondenfleck gleichzeitig in ihrer Verteilung gemessen werden.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß zur gleichzeitigen Abbildung mehrerer Objektpunkte der Sondenfläche diesen eine Filteranordnung zugeordnet ist, welche die Detektorelementsignale eines Vielkanaldetektors modifiziert, daß Einrichtungen, die diese Signale zu den Objektpunkten entsprechenden Bildsignalen verknüpfen, und Steuereinrichtungen zur sukzessiven mit der Abtastung synchronen Entnahme dieser Bildsignale vorgesehen sind.
  • Ausgehend von dem oben diskutierten Beispiel werden also zur Messucg M Bildpunkte registriert, welche das Bild des Objektes innerhalb des beleuchteten Sondenfleckes wiedergeben. Durch diese gleichzeitige Messung aller Punkte (statt eines einzigen Punktes wie bisher) wird die Lichtstärke um den Faktor M erhöht. Steuereinrichtungen sorgen dann dafür, daß diese gleichzeitig vorliegenden M Bildsignale nacheinander in der richtigen Reihenfolge zu einem Bild zusammengesetzt werden.
  • Zum besseren Verständnis der Erfindung wird in Fig. 1 zunächst ein STEM gemäß der Erfindung schematisch dargestellt. In Fig. 2 wird die schematische Abbildungsanordnung perspektivisch dargestellt. Anschließend wird die allen Überlegungen zugrunde liegende Theorie skizziert.
  • Im oberen Teil der Figur 1 ist ein übliches STEM dargestellt. Der Elektronenstrahl 1 geht von einer ElektronenquelLe 21 vorzugweise mit Feldemissionskathode, aus. Nach Beschleunigung durch die Anode 4 tritt er durch ein Ablenksystem 5 und wird dann durch die Objektlinse .6 auf das Objekt 7 fokussiert. Das Ablenksystem 5 besteht aus elektrostatischen oder magnetischen Ablenkelementen, von denen zwei Paare in der Figur dargestellt sind. Zwei weitere Paare sind senkrecht zur Zeichnungsebene angeordnet. Der Elektronenstrahl 1 im abgelenkten Zustand ist in der Figur gestrichelt dargestellt und mit 1a bezeichnet.
  • L Elektronenstrahl 1 durchsetzt das Objekt 7 und trifft in Form eine egls Ib auf eine Detektorelementanordnung 3. Der Elektronenstrah 1 ist so abgelenkt, daß der Kegel 1b immer dieselbe Fläche der Detektorelementanordnung 3 bestrahlt. Die Ausgangssignale der einzelnen Detektorelemente werden, wie durch eine Wirkungslinie 8 angedeutet, einer Anordnung 9 zugeführt, die aus diesen Signalen die Bildpunkte rekonstruiert. Die so erhaltenen Bildsignale sind beispielsweise einem Monitor 10 zu dessen Helligkeitssteuerung zugeführt, dessen Ablenksystem 11 synchron mit dem Ablenksystem 5 betrieben ist.
  • Gemäß Fig. 2- erzeugt die Linse 6 auf dem Objekt 7 einen Sondenfleck 12, der wegen der Linsenfehler und wegen der Defokussierung größer ist als die beabsichtigte Auflösung im Rastermikroskop.
  • Das Bild des Objektes im Sondenfleck läßt sich durch die Bildamplituden 8 beschreiben, welche in einem quadratischen Raster angeordnet sein sollen und komplex sind. Ihre Real- bzw. Imaginärteile sind als ap,q bzw. b bezeichnet. Aus strahlengeometrischen Gründen ist der Sondenfleck rotationssymmetrisch, doch empfiehlt es sich, für die theoretische Behandlung eine quadratische Rasterfläche anzunehmen, wie sie in Fig. 2 strichliniert um den Sondenfleck 12 gezeichnet ist, wobei sinngemäß die Bildamplituden in den nichtbeleuchteten Zwickeln gleich Null gesetzt werden. Der Detektor 3 ist als Vielkanaldetektor ausgebildet, wobei es für gewisse Ausführungsformen ebenfalls praktisch ist, ihn bzw. die zugehörigen Detektorelementsignale in ein quadra- tisches Raster zu unterteilen. Die Detektorelementsignale sind mit 1m,n gekennzeichnet. Die Form der Detektorfläche ist im allgemeinen ein Kreis, der einfacheren Verständlichkeit wegen kann man sie aber auch als Quadrat (ebenfalls strichliniert gezeichnet) annehmen, wobei die Detektorelemente in den Zwickeln als Nullelemente aufzufassen sind.
  • Wegen der Linsenfehler und der Defokussierung der Linse 6 ist die Sondenfläche 12 mit ungleichmäßiger Phase und zum Teil auch mit ungleichmäßiger Amplitude beleuchtet. Es sei angenommen, daß-das geometrisch-optische Abbild der Elektronenquelle in 12 so klein ist, daß es neben dem wellenoptischen Bild vernachlässigt werden kann. Dann ist die Beleuchtungsamplitudenverteilung in 12 einfach gleich der Abbildung eines leuchtenden Punktes durch die fehlerhafte Linse 6 mit dem Öffnungsfehler C.. mit einer Strahlung der Wellenlänge # bei der entsprechenden Defokussierung z0. Die Beleuchtungsamplitude L ergibt sich als Fouriertransformierte der Übertragungsfunktion T des Objektivs 6: In dieser Gleichung (1) ist mit 0 der Winkel zur Achse gekennzeichnet. Die Übertragungsfunktion T kann auch als Phasenfilter aufgefaßt werden. Bei der Berechnung von T gemäß Gleichung (1) wurde der chromatische Fehler vernachlässigt. Die zur Berechnung von T notwendigen Größen sind bekannt oder leicht zu ermitteln.
  • Nun werde in der Objektebene ein "unendlich" dünnes Präparat eingeschoben, welches im Sondenbereich M Atome mit den Streuvermögen fj und den Ortsvektoren rj (z.B. bezogen auf den Mittelpunkt der Sonde) enthält. Dann ist jedes der Atome verschieden beleuchtet und man erhält für den Strukturfaktor dieser Atomanordnung die Gleichung: Dabei entsprechen die h1, h2 den Koordinaten in der Detektorebene.
  • Die L. sind die Beleuchtungsamplituden für die entsprechenden j Atome fj. Man beachte, daß die Lj die Phase und die Amplitude der Atome (vergleichen mit der Beleuchtung mit einer Planwelle) verändem. Berechnet man daher aus den Fh h das Objekt zurück (durch eine weitere Fouriertransformation), so muß man berücksichtigen, daß die Bildfunktion komplex ist. Allerdings ist diese Komplexität nicht - wie etwa bei der anomalen Streuung - physikalisch bedingt. Da das L als bekannt vorausgesetzt werden kann, kann man die komplexe Bildfunktion durch Division mit L. in die physikaj lische Bildfunktion umwandeln. Einfacher ist es aber, den Absolutbetrag der Bildfunktion zu berechnen. Dabei muß man jedoch eine gewisse Bildverfälschung wegen der verschiedenen Amplituden von L; in Kauf nehmen, Die gestreuten Strahlen können mit dem Primärstrahl interferieren, d. h. in der Detektorebene summiert sich die durch T beschriebene Primäramplitude zu dem Strukturfaktor F: Durch die Detektoren kann jedoch nur die Itensität .* und nicht die Amplitude selbst gemessen werden: Das erste Glied aus Gleichung (4) ist bei Vernachlässigung des Farbfehlers und der partiellen Kohärenz gleich 1. Bei Berücksichtigung von Farbfehler und partieller Kohärenz zeigt es einen Abfall gegen höhere Streuwinkel. Das letzte Glied kann bei einem schwach streuenden Objekt als Glied höherer Ordnung vernachlässigt werden. Durch Multiplikation von Gleichung (4) mit T erhält man: Die Gleichung (5) zeigt auf der linken Seite Glieder, welche - wie aus der rechten Seite dieser Gleichung zu sehen ist - dem Strukturfaktor nach Gleichung (2) und einem Störglied entsprechen, welches den Strukturfaktor des Zwillingsbildes nach Gabor beschreibt. Wie in Lehrbüchern der Holographie ausgeführt ist, ist dieses Störglied unvermeidbar, wenn man mit in-line Holographie (d. h. der Primärstrahl dient als Referenzstrahl) arbeitet. Allerdings hat hier das Störglied einen geringeren Einfluß als in der ursprünglichen Gaborschen Anordnung. Es zeigt sich nämlich, daß wegen der Modifizierung mit T² die Atome zu großen Kreisscheiben mit einer durch T2 bestimmten inneren Struktur deformiert werden.
  • Dadurch wird das verzerrte Bild sehr viel größer als das unverzerrte Bild. Berechnet man nur die Punkte innerhalb der Sondenfläche, so wird der größte Teil des Störbildes gar nicht berechnet und daher eliminiert. Bei der Verwendung des Gaborschen Prinzips in der Rastermikroskopie beleuchtet man immer nur einen kleinen Fleck gleichzeitig, so daß diese Elimination recht wirksam ist. Beleuchtet man hingegen nach Gabor das ganze Bildfeld, so ist das Störbild nicht sehr viel größer als das echte Bild und kann daher beträchtlich zur Verzerrung beitragen.
  • Der weitere Vorgang besteht darin, daß aus den Strukturfaktoren gemäß Gleichung (5) durch eine weitere Fouriertransformation das echte Bild gewonnen wird: Aus Gleichung (6) erkennt man die Zusammensetzung der Bildfunktion als Summe aus der ungestörten Struktur e und der Störstrukturyx?'y. Die Integrale sind dabei über alle h1, h2 zu erstrecken, welche, wie Gleichung (2) sowie Fig. 2 zeigen, aus der Position der Detektorelemente unmittelbar abzuleiten sind.
  • Der Abstand zweier Detektorelemente ist, wie in Fig. 2 dargestellt, gleich # #. D und die Koordinaten h1 bzw. h2 lassen sich damit schreiben als: (m, n sind ganzzahlig).
  • Wegen der gitterförmigen Anordnung der Detektorelemente und wegen der Integration der Intensität # . #* innerhalb der Detektorelemente ergibt sich: Damit läßt sich das Integral gemäß Gleichung (6) als Summe schreiben: Die Tm,n sind die Werte der Übertragungsfunktion T in der Mitte der Detektorelemente. Diese Näherung (und die Näherung in Gleichung [8]) ist erlaubt, wenn sowohl Streufunktion # wie über tragungsfunktion T genügend langsam veränderlich innerhalb eines Detektorelementes sind.
  • Auch die Bildpunkte #x,y werden ähnlich wie die Strukturfaktoren Fh1h2 in einem Raster ap,q dargestellt: (p,q sind ganzzahlig), so daß man schließlich Gleichung (9) schreiben kann als wobei Um,n sowie # Im.n folgende Abkürzungen bedeuten: In Gleichung (11) wurde die Störung #@@ durch das Zwillingsbild vernachlässigt. Die Um,n, mit denen dieIm,n zu modifizieren p,q sind, sind komplexe Größen. Sie stellen die Filter dar. Ebenso ist auch #p,q komplex. Es muß daher der Realteil und der Imaginärteil von # mit Einsetzen des Realteils und des Imaginärteils von U gesondert berechnet werden: Aus Gleichung (1) und Gleichung (12) ergibt sich unmittelbar: Um die Berechnung der # Im,n aus den Im,n zu vermeiden, welche nach Gleichung (12) eine explizite Berücksichtigung der Tm,n . Tm*,n erfordern würde, werden die αp,qm,n und die ßp,qm,n in ihre positiven und negativen Bestandteile unterteilt. Man bereichnet also getrennt folgende Teilsummen: Es gilt in guter Näherung: Da nämlich T . T* eine um die Linsenachse rotationssymmetrische und nur wenig veränderliche Funktion darstellt (sie beschreibt die Primärintensität auf den Detektorelementen) und da das Integral über die positiven und negativen Beiträge der αp,qm,n bzw.
  • ßp,qm,n gleich groß ist, gilt: und es kompensieren sich die entsprechenden Glieder der rechten Seite von Gleichung (15) bei der Differenzbildung gemäß Gleichung (16).
  • Nach dieser Theorie ist eine erfindungsgemäße Filteranordnung z. B. dadurch gegeben, daß Jedem Objektpunkt mindestens vier Amplitudenfilter zugeordnet sind, die den positiven und negativen Anteilen des Real- und des Imaginärteils der Filterfunktion ent- sprechen. Durch entsprechendes Zusammenfassen der so entstandenen Signale gemäß Gleichung (16) erhält man schließlich Real- und Imaginärteil der Bildamplitude §.
  • Weitere für die Erfindung wesentliche Merkmale sind in den folgenden Ausführungsbeispielen anhand der Figuren 3 bis 15 beschrieben.
  • In der Arbeit von Veneklasen wurde der den Vielkanaldetektor bildende Leuchtschirm durch einen halbdurchlässigen Spiegel zwei fach abgebildet. Da im vorliegenden Fall eine komplexe Bildfunktion registriert werden soll, was ganz entscheidend für die dreidimensionale Bildanalyse ist, müssen, wie die Theorie gezeigt hat, vier Kanäle Je Bildpunkt verwendet werden. Da gleichzeitig mehrere Objektpunkte abgebildet werden sollen, erhöht sich dementsprechend die Zahl der notwendigen Vielfachabbildungen des Vielkanaldetektors.
  • Im Hinblick auf eine einfache Ausgestaltung empfiehlt es sich, daß ein Bildwandler als Vielkanaldetektor vorgesehen ist sowie ein Linsenraster mit ebenso vielen Linsen wie Filtern, welches diesen Bildwandler vielfach abbildet, daß jeder Linse eines der Filter sowie ein den gesamten durch dieses Filter hindurchgelassenen Lichtstrom messender Detektor nachgeordnet ist. Fig. 3 zeigt die entsprechende schematische Anordnung. Im oberen Teil von Fig. 3 ist wiederum das STEM zu sehen, in dem der Elektronenstrahl das Objekt 7 durchsetzt und in Form eines Kegels 1b auf den Bildwandler 20 trifft. Dadurch wird die Intensitätsverteilung 1m,n über eine Fluoreszenzschicht als Lichtintensitätsverteilung wiedergegeben. Zur Erhöhung der Lichtintensität kann ein hier nicht dargestellter Bildverstärker zusätzlich zwischengeschaltet werden. Sollen beispielsweise 9 Objektpunkte gleichzeitig abgebildet werden, so ist wegen der 4 Filter pro ObJektpunkt ein Linsenraster 21 notwendig, das in diesem Beispiel aus einem quadratischen Raster mit 6 x 6 Linsen besteht und damit 36 Vielfachabbildungen 22 mit einer Lichtintensitätsverteilung erzeugt, die der Intensitätsverteilung 1m,n entspricht. Die Filter bestehen aus verschieden lichtdurchlässigen Schablonen 23. Diese Schablonen 23 sind entsprechend den Detektorelementen m,n rasterförmig unterteilt. Die Durchlässigkeit Jedes dieser Rasterelemente ist durch die Filterfunktion bestimmt, die zu dem zugehörigen Detektorelement m,n und dem abzubildenden Objektpunkt p,q gehört. Zu einer Schablone gehört immer nur ein Objektpunkt, jedoch alle Detektorelemente.
  • In Fig. 3 sind für die linke und rechte Schablone 23 beispielhaft Filterfunktionen angegeben. Für die linke Schablone 23, die dem Objektpunkt 1,1 zugeordnet ist und die zur Erzeugung des positiven Anteils des Realteiles des Bildsignals dienen soll, sind die Filterfunktionen I m'n Das bedeutet, daß sich mit den Laufindizes m und n die Filterfunktion und damit die Durchlässigkeit der Schablone ändert. Entsprechend sind für die rechte Schablone 23 die Filterfunktionen durch bon gegeben.
  • Diese Schablonen lassen sich z.B. herstellen, indem die von einem Computer nach Gleichung 14 berechneten Filterfunktionen von einem Plotter gezeichnet und die so entstandenen Schwärzungsverteilungen optisch verkleinert auf eine Fotoplatte übertragen werden.
  • Diese Fotoplatte stellt dann die Schablone dar.
  • Der gesamte Lichtstrom, der durch jede der Schablonen 23 hindurchgelassen wird, wird in einem nachfolgenden Fotoelement 24 gemessen.
  • Dieser Fotostrom ist unmittelbar gleich einer der vier Teilsummen für einen Bildpunkt. Für das linke Fotoelement 24 ergibt sich in diesem Beispiel der positive Anteil des Realteils der Bildamplitude für den ObJektpunkt 1,1, also E9 a1 1 und für das rechte Fotoelement ergibt sich entsprechend für den positiven Anteil des Imaginärteils der Bildamplitude # b1,1.
  • Diese Anordnung hat den zusätzlichen Vorteil, daß die Detektorunterteilung sehr fein ist - sie ist praktisch nur durch die Auflösungsgrenze des Bildwandlers beschränkt -, und es wird daher unmittelbar das Fourierintegral gebildet, so daß die außerhalb des Bildfeldes fallenden Teile des Zwillingsstörbildes völlig eliminiert werden. Für dieses Linsenraster 21 genügen relativ einfache nichtkorrigierte tinsen, wenn man hochempillndlithe llo40 elemente 24 benutzt.
  • Eine optisch besonders saubere Integration erhält man mit einer Anordnung, wie sie in Fig. 4 dargestellt ist. Schematisch ist wieder der Bildwandler 20 dargestellt, der hier der Ubersichtlichkeit halber nur von einer Linse des Linsenrasters 21 nach 22 abgebildet wird. Das anschließend durch die Schablone 23 hindurchgelassene Licht wird bei dieser Anordnung durch eine zusätzliche Kollektorlinse 25 auf dem Fotoelement 24 fokussiert. Bei dieser Anordnung spielt eine verschiedene Ortsempfindlichkeit des Fotoelementes 24 keine Rolle mehr.
  • Weiterhin ist es auch möglich, die Bildsignale auf elektronischem Wege aus den Detektorelementsignalen zu erzeugen. Dazu ist es notwendig, daß für jedes Detektorelement des Vielkanaldetektors eine Anzahl von Kanälen vorgesehen ist, die gleich dem Vierfachen der Zahl der Objektpunkte in der Sondenfläche ist und auf die sich die Detektorelementsignale gleichmäßig aufteilen, und daß Einrichtungen zur Modulation entsprechend der Filterfunktion und zur anschließenden Summation dieser modulierten Signale vorhanden sind.
  • Die Vielzahl der notwendigen Kanäle ergibt sich daraus, daß die positiven bzw. negativen Anteile von Real- und Imaginärteil der Bildamplitude getrennt erzeugt werden müssen. Die folgende Figur 5 zeigt eine entsprechende Verschaltung der Detektorelemente, beschränkt auf den positiven Anteil des Realteils der Bildfunktion, also auf die Erzeugung von #ap,q. Die Sondenfläche 30 ist wiederum in 9 getrennte Objektelemente #p,q eingestellt. Die Indizes p und q laufen dabei Jeweils von 1 bis 3. Die Detektorfläche 31 ist rasterförmig mit den Detektorelementen belegt, deren Ort durch den Laufindex m,n festgelegt ist. Die Detektorelementsignale 1m ,n werden auf M Kanäle - M ist dabei die Zahl der Objektpunkte und in diesem Fall gleich 9 - aufgeteilt, d.h. die Detektorfläche 31 muß neunmal reproduziert werden. In Fig. 5 sind nur zwei dieser neun Blöcke 32 dargestellt. Jeder Block 32 gehört zu einem Objektpunkt. In den Elementen eines solchen Blokkes 32 werden nun die Detektorelementsignale Im,n entsprechend der zu diesem Objektpunkt gehörenden Filterfunktion in verschiedener Weise modifiziert (verstärkt, geschwächt, eventuell im Vorzeichen umgetauscht). Für einige Elemente der Blöcke 32 sind die entsprechenden Filterfunktionen angegeben. Die Summe aller derart modifizierten Elemente eines Blockes 32 ergibt dann in diesem speziellen Beispiel den positiven Anteil des Realteils der Bildamplitude für einen Bildpunkt. In Fig. 5 ergibt der linke Block 32 den Anteil # a1,3 und der rechte Block 32 den Anteil # a2,3. Entsprechende Anordnungen müssen auch für den negativen Anteil von a sowie für den positiven und negativen Anteil von b vorgesehen sein. Damit erhält man dann für jeden Bildpunkt die vier Teilsignale. Aus der Beschreibung dieser Figur ist ersichtlich, daß jedes Teilsignal für ein Bildelement 9p,q durch die Ströme aller Detektorelemente 1m,n charakterisiert wird, wobei allerdings die Verschaltung dieser Ströme (mit Verstärkung, Abschwächung und eventuellem Vorzeichenwechsel) für jedes der Teilsignale verschieden ist. Auf diese Weise ergibt sich aus den Blöcken 32 eine Signalmatrix 33, deren 9 Elemente den 9 Elementen o der Sondenflächen entsprechen.
  • Die notwendige Modifizierung der Detektorlelementsignale 1m,n kann dadurch erreicht werden, daß eine der Zahl der Kanäle entsprechende Anzahl Festwertspeicher und Multiplikationsglieder vorgesehen ist. Die folgende Figur 6 zeigt die Verschaltung für eine dieser Teilsummen in etwas detaillierterer Darstellung. Das Detektorelementsignal Im n wird in einem Multiplikationsglied 35 mit einem einem Festwertspeicher 36 entnommenen Anteil der Filterfunktion, in diesem Beispiel # αp,qm,n, multipliziert end bildet so einen Teilbetrag für die Aufsummierung zu E9 ap q.
  • In Analogietechnik läßt sich die Multiplikation mit einem Festwert dadurch realisieren, daß für diese Multiplikation, wie Fig.
  • 7 zeigt, fest einstellbare Potentiometer 37 vorhanden sind.
  • Selbstverständlich ist auch hier für jedes Detektorelementsignal ein Potentiometer nötig, und erst die Summe aller so erhaltenen Signale gibt einen der vier Anteile zum Bildsignal.
  • Fig. 10 zeigt das Prinzip der Gesamtschaltung nach Fig. 5 mit Summation über Parallelschaltungen von Strömen. Jedes Detektorelementsignal Im,n ist ebensovielen Potentiometern wie Objektpunkten zugeführt. Durch unterschiedliche Abgriffe an diesen Potentiometern wird die Modifikation mit den entsprechenden Filterfunktionen durchgeführt. Alle so entstandenen und zu einem Objektpunkt gehörenden Signale werden einer Parallelschaltung von Widerständen zugeführt, wodurch diese Signale zum Endwert + aufsummiert werden. Sofern die Indizes in dieser Figur mit einem Strich versehen sind, bedeutet das nur, daß es sich um einen anderen Objektpunkt oder ein anderes Detektorelementsignal handelt.
  • Auf diese Art und Weise karin man alle vier Teilbeträge für die Bildsignale erhalten. Um aus diesen Teilbeträgen den Realteil bzw. den Imaginärteil der Bildamplitude zu erhalten, müssen je zwei dieser Teilbeträge, wie Gleichung (16) zeigt, voneinander subtrahiert werden. Die Figur 8 zeigt schematisch die Bildung des Realteils ap,q des Bildsignals aus den TeilsummenD+ap,q undEap,q. zu ap,q. Diese beiden Teilbeträge werden einem Differenzglied 38 zugeführt. Als Ausgangssignal ergibt sich damit der gewünschte Realteil des Bildsignals. In analoger Weise kann man auch den Imaginärteil bp,q des Bildsignal bilden. auf diese Art und Weise erhält man schließlich die zwei Signale für diese komplexe Bildfunktion. Allerdings sind die entsprechenden, etwa auf einem Monitor herausgegebenen Bilder von Realteil und Imaginärteil nicht sehr charakteristisch für die Objektstruktur, da eine Phasenmodulation mit der beleuchteten Wellenfunktion L (vgl.
  • Gleichung (2)) vorliegt. Es gilt: Es kann daher aus a und b der Wert YL t, also die Intensität im Bildpunkt, berechnet und ausgegeben werden. Diese Intensität ist von der beleuchtenden Wellenfunktion unabhängig. Die Figur 9 zeigt die entsprechende schematische Schaltung. Durch die Quadrierglieder 39 bzw. 40 werden die Werte a bzw. b quadriert und durch das Summenglied 41 zu #² vereinigt. Diese Schaltung muß nur ein einziges Mal vorliegen.
  • Die hier aufgeführten Verschaltungen lassen sich mit bekannten Hilfsmitteln der analogen Rechentechnik oder der digitalen Rechentechnik leicht realisieren. Der Aufwand ist beträchtlich, aber nicht prohibitiv. In einem Beispiel sei angenommen, daß ca. 30 Bildpunkte gleichzeitig berechnet werden sollen. Im Prinzip genügt für die Durchführung dieser Rechnung eine Unterteilung des Detektors in 120 Elemente. Um den Rauschanteil zu vermindern (Überlappung aus benachbarten Gebieten), empfiehlt es sich allerdings, mindestens viermal so viele Detektorelemente, also 480 Detektorelemente, vorzusehen. Für eine Teilsumme würden dann 14 400 Festlzertspeicher und Multiplikationsglieder erforderlich sein. Um alle Teilsummen zu berechnen, benötigt man also ca.
  • 60 000 Elemente. Selbst in Digitaltechnik sind Speicherkapazitäten dieser Größenordnung in kleinen Rechenmaschinen heute durchaus üblich. Hierbei ist noch nicht berücksichtigt, daß etwa die Hälfte der Schaltelemente wegfällt wegen der Aufteilung in Plusbeiträge und Minusbeiträge entsprechend Gleichung (15). Es wird sich allerdings empfehlen, die Apparatur in Analogietechnik aufzubauen, da sonst eine große Anzahl von Analog-Digital-Wandlern erforderlich wäre.
  • Die Verknüpfung der Detektorelementsignale zu den Bildsignalen erfolgt - wie Gleichung (6) besonders deutlich zeigt - durch Filterung in der Beugungsebene und gleichzeitige Fouriertransformation. Diese Maßnahmen lassen sich konstruktiv dadurch verwirklichen, daß ein Laserdiffraktometer vorgesehen ist, in dessen parallelem Strahlenbündel sich die aus dem komplexen Phasenfilter T bestehende Filteranordnung sowie ein durch die Detektorelementsignale angesteuertes Lichtrelais befindet. Die prinzipielle Anordnung ist in der Figur 11 dargestellt. Ein paralleler Laserstrahl 50 trifft auf -das nach Gleichung (1) geformte kom- plexe Phasenfilter T und anschließend auf ein Lichtrelais 51, dessen Transparenz durch die Detektorelementsignale gesteuert wird. Die Transparenzverteilung dieses Lichtrelais 51 entspricht damit der Detektorelementsignalverteilung in der Detektorebene.
  • Das STEM bis zur Detektorebene sowie die Ansteuerung des Lichtrelais sind hier der Einfachheit halber nicht dargestellt. Durch eine nachgeschaltete Linse 52 entsteht in der Brennebene 53 dieser Linse 52 die Fouriertransformierte der gefilterten Verteilung 1 n. Durch eine Detektormatrix 54 kann dann unmittelbar die Bildm,n punktverteilung registriert werden. Das notwendige komplexe Phasenfilter T kann auch durch entsprechende Ausbildung der Apparatur mit einer fehlerbehafteten Linse 52 und deren Defokussierung simuliert werden.
  • Mit dieser Anordnung wird die Fourierverteilung aus dem I und nicht aus dem a I berechnet, wodurch ein Hellfelduntergrund entsteht, welcher der unscharfen (Defokus = zO) und fehlerbehafteten Abbildung der Elektronensonde entspricht. Darüber hinaus wird in der Brennebene 28 nicht die Amplitudenverteilung, sondern die Intensitätsverteilung registriert. Die Phase der komplexen Bildfunktion geht also verloren.
  • Mit weiteren holographischen Hilfsmitteln kann man aber auch die komplexe Bildfunktion registrieren. Ein dazu geeignetes Verfahren ist die Einseitenband-Holographie mit komplexen Halbebenen, in welchem man zwei Bilder erzeugt, welche nur mit jeder Hälfte der Funktion Im,n - also z. B. aus Im,n mit m von - # bis + # und n von 0 bis + # und Im,n mit m von - # bis + # und n von 0 bis - oo - aufgebaut sind.
  • Fig. 12 zeigt eine entsprechende Ausführungsform. Der parallele Laserstrahl ist wiederum mit 50 bezeichnet. Die zugehörigen Streustrahlen werden durch einen halbdurchlässigen Spiegel 55 und zwei undurchlässige Blenden 56 bzw. 57 in zwei Hälften aufgeteilt, von denen die nichtabgelenkte Hälfte durch die Linse 58 auf die Detektormatrix 59, die durch den Spiegel 55 abgelenkte Hälfte durch die Linse 60 auf die Detektormatrix 61 abgebildet wird.
  • Die über die beiden Detektormatrizen 59 bzw. 61 ermittelten Bilder entsprechen zwar nicht unmittelbar dem Realteil und dem Imaginärteil der gesuchten Bildfunktion, doch enthalten sie die für deren Bestimmung erforderliche Information, was für die weitere Auswertung, insbesondere für die dreidimensionale Bildrekonstruktion, von entscheidender Bedeutung ist.
  • Bei den Ausführungsformen nach Fig. 11 und Fig. 12 kann die nach Im n modulierte lichtdurchlässige Schicht 51 (Lichtrelais) z. B.
  • aus Flüssigkristallelementen aufgebaut sein. Eine andere Möglichkeit besteht darin, daß als Lichtrelais eine Eidophorröhre benutzt wird.
  • Die Figur 13 zeigt eine entsprechende Anordnung in schematischer Form.
  • Im oberen Teil der Figur 13 ist wiederum ein STEM dargestellt$ an das sich über ein faseroptisches Bündel 65 eine Video-Aufnahmeröhre 66 anschließt. Diese tastet zur Registrierung der Detektorelementsignalverteilung das auf einem Fluoreszenzschirm aufgezeichnete Detektorbild ab. Die so erhaltenen Signale dienen zur Ansteuerung der Eidophorröhre 67, die in diesem Fall aus einem Hohlspiegel 68 sowie einer dünnen Schicht 69 auf diesem Spiegel 68 besteht. Durch das Signal der Aufnahmeröhre 66 wird die Transparenz dieser dünnen Schicht 69 variiert. Diese Schicht 69 stellt somit das eigentliche Lichtrelais dar. Der Spiegel 68 entspricht der Linse 52 in Fig. 11. Das parallele Laserbündel 70 wird durch den Spiegel 68 auf die Detektorebene 71 fokussiert. Im parallelen Laserbündel 70 befindet sich außerdem wiederum das komplexe Phasenfilter T. In der Detektorebene 71 erhält man dann wieder die Intensitätsverteilung in der Bildebene.
  • Man darf dabei nicht vergessen, daß man auf diese Weise zunächst nur die Intensitätsverteilung des Objektes innerhalb der kleinen Sondenfläche, mit der dieses Objekt beleuchtet wird, erhält.
  • Springt nun die Sonde beim Abrastern des gesamten Objektes ein Stück weiter, so ergibt sich in der Detektorebene des STEM eine andere Intensitätsverteilung, die wiederum eine andere Transparenzverteilung des Lichtrelais erfordert. Es kommt also auch darauf an, daß sich das verwendete Lichtrelais möglichst schnell in einen anderen Zustand überführen läßt.
  • Bei den bisher in den Figuren 3 bis 13 behandelten Ausführungsbeispielen wurde immer nur die gleichzeitige Rekonstruktion der Bildsignale mehrerer Objektpunkte innerhalb einer feststehenden Sondenfläche betrachtet. Anders ausgedrückt ging es darum, daß bei einer durch Linsenfehler und Defoknssierung verursachten minimal erreichbaren Sondenfläche Flächenelemente mit einem kleineren Durchmesser als der der Sondenfläche aufgelöst werden können. Weiterhin ging es darum, daß eine Vielzahl.dieser Flächenelemente, kurz als Objektpunkte bezeichnet, innerhalb dieser Sondenfläche liegen und gleichzeitig abgebildet werden..Es wurde bereits eingangs darauf hingewiesen, daß diese gleichzeitig entstehenden mehreren Bildsignale nicht gleichzeitig zur Bilderzeugung, beispielsweiSe auf einem Monitor, herangezogen werden können, sondern nacheinander in der richtigen Reihenfolge zu einem Bild zusammengesetzt werden müssen. Dazu sind erfindungsgemäß Steuereinrichtungen zur sukzessiven mit der Abtastung synchronen Entnahme dieser Bildsignale vorgesehen. Damit diese sukzessive Entnahme möglichst einfach gestaltet werden kann, empfiehlt es sich, daß dem Real- bzw. Imaginärteil jedes Bildsignals ein Speicher zugeordnet ist, der wegen der Verweildauer der Sonde auf dem entsprechenden Objektbereich diese Bildsignale integral abspeichert, daß allen Speichern ein Pufferspeicher nachgeordnet ist, auf dem beim Weiterspringen der Sonde die in den Speichern vorhandene Information gleichzeitig übertragen wird, und daß ein weiterer Großspeicher vorgesehen ist, in den die in den Pufferspeichern enthaltenen Signale sukzessive übertragen werden, während in den ersten Speichern neue Bildsignale abgespeichert werden.
  • Die Figur 14 zeigt ein entsprechendes Ausführungsbeispiel. Zum besseren Verständnis sind die Bildelemente ap,q bzw. bp,q in einer einzigen Zeile angeordnet gezeichnet. Wie in früheren Ausführungsbeispielen sind wiederum 9 Bildelemente entsprechend 9 Objektpunkten verwendet wordcn. Jedem dieser Bildelemente ist ein Speicher 75 bzw. 76 (für die bp,q) zugeordnet. An jeden dieser Speicher wiederum schließt sich je ein Pufferspeicher 77 bzw. 78 an. Die Wirkungsweise dieser Anordnung ist folgende: Während einer vorgegebenen Zeit t bestrahlt die Korpuskularstrahlsonde einen bestimmten Objektbereich von der Größe der Sondenfläche.
  • Während der ganzen Bestrahldauer werden die Bildsignale allmählich aufgebaut und gleichzeitig während dieser Zeit in den Speichern 75 bzw. 76 aufgespeichert. Nach Ablauf dieser Zeit springt die Sonde auf einen benachbarten Objektbereich (Sprungweite ungefahr gleich demSondendurchmesser), gleichzeitig werden die in 75 bzw. 76 gespeicherten Bildsignale auf die nachfolgenden Pufferspeicher 77 bzw. 78 übertragen. Während der Aufnahme der neuen Bildsignale in den Speichern 75 bzw. 76 werden während der -ersten Hälfte des Zeitelementes t die im Pufferspeicher 77 enthaltenen Signale sukzessive, z. B. in ein Magnetbandgerät, analog oder digital übertragen. Diese Ubertragung ist durch den Pfeil 79 angedeutet. Während der zweiten Hälfte des Zeitelementes erfolgt die sukzessive Abfrage der Bildsignale für die Imaginärwerte bp,q. Dieser Vorgang wiederholt sich, bis das ganze Objekt zeilenweise abgerastert ist. Allerdings erfolgt die Abfrage in einer Form, welche eine spätere rechnerische Auswertung erfordUrlic macht. Dies kann vermieden werden, wenn man sich auf die Bildintensitäten Vp2,q beschränkt. In diesem Fall ist es dann auch -möglich, das Bild auf einem Monitor unmittelbar zu betrachten.
  • In Weiterbildung der Erfindung ist daher vorgesehen, daß ein Pufferspeicher mit (u + 1) Zeilen und V Speicherplätzen je Zeile vorgesehen ist, wobei u die Zahl der Objektzeilen in der Sondenfläche und V die Bildpunktzahl im Rasterbild ist, und daß eine synchron mit der Sondenverschiebung arbeitende Steuereinrichtung vorgesehen ist, die gleichen Objektpunkten entsprechende Bildsignale additiv Speicherplätzen zuführt, an denen bereits Bildsignale dieser Objektpunkte abgespeichert sind. Bei einer derartigen Anordnung ist es nicht notwendig, daß die Sprungweite der Sonde gleich dem Durchmesser der Sondenfläche ist. Die Sprungweite kann kleiner sein, sie kann dem Durchmesser der erzielten Auflösung entsprechen. In einem solchen Fall wird jeder Objekt- punkt mehrfach beleuchtet und damit auch mehrfach abgebildet.
  • Da die Beleuchtungsamplitude nicht über die gesamte Sondenfläche einheitlich ist, wird die Beleuchtung der einzelnen Objektpunkte mit unterschiedlicher Beleuchtungsamplitude vorgenommen. Durch die Möglichkeit, sämtliche Bildsignale eines Objektpunktes zur Bildsignalerzeugung heranzuziehen, wird gewissermaßen die unterschiedliche Beleuchtungsamplitude innerhalb der Sondenfläche herausgemittelt.
  • Fig. 15 zeigt schematisch die Verarbeitung der in 80 registrier-2 ten Bildp.unktintensitäten pp q zum Rasterbild. In dem hier behandelten Beispiel besteht das Bildraster 80 wiederum aus 9 Rasterelementen, welche in 3 Zeilen mit je 3 Elementen angeordnet sind. Es sei nun angenommen, daß ein Rasterbild mit U Zeilen registriert werden soll, wobei jede Zeile V Bildpunkte enthält.
  • Mit u bzw. v sei die Zeilenzahl bzw. die Zeilenbildpunktzahl des Bildrasters 80 bezeichnet. In der vorliegenden Figur 15 ist u = 3, v = 3, U beliebig, V = 12. In Figur 15 ist ein Pufferspeicher 81 vorgesehen, der z.B. in bekannter Weise als Digitalspeicher aufgebaut werden kann. Mit diesem Speicher 81 kann man gleichzeitig u Zeilen des Rasterbildes speichern. Der Pufferspeicher 81 besteht daher im vorliegenden Beispiel aus 3 Zeilen von Speicherelementen mit je 12 Bildpunkten. Wie schematisch dargestellt ist, sollen die Bildpunktintensitäten in 80 unmittelbar auf die ersten Speicherelemente des Pufferspeichers 81 additiv einwirken. Dabei kann der Pufferspeicher entweder als Verschieberegisterspeicher oder als Random Access-Speicher aufgebaut sein. Auch eine gemischte Betriebsweise (z. B. Verschieberegister entlang der Zeilen, Random Access-Speicher entland der Sparten) ist möglich. Da die Bildsignale im allgemeinen in analoger Form angeliefert werden, kann man auch einen Analogspeicher (z. B. Magnetplatte mit mehreren Magnetköpfen) verwenden. Bei Benutzung eines Digitalspeichers müssen natürlich die Bildpunktintensitäteng2 durch einen Analog-Digital-Wandler digitalisiert werden. Wie schon erwähnt, erfolgt die Eingabe additiv. Es muß also die Eingabe von 80 in 81 über entsprechende, hier nicht dargestellte Additionsglieder erfolgen.
  • Oberhalb des Pufferspeichers 81 ist noch eine Sonderzeile 82 mit ebenfalls 12 Speicherplatzen vorgesehen.
  • Für die nun folgende Funktionsbeschreibung sei vorausgesetzt, daß der Speicher sowohl in Zeilenrichtung wie in Spaltenrichtung als Verschieberregister aufgebaut ist. Im ersten Schritt werden alle #p,q² gleichzeitig additiv in die in der Figur 15 strichliniert gezeichneten Speicherelemente eingegeben. Im nächsten Schritt erfolgt die Verschiebung der Sonde in Zeilenrichtung nach rechts im Mikroskop, um ein Auflösungselement (also nicht um die volle Sondenbreite). Gleichzeitig wird im Pufferspeicher 81 durch einen Verschiebeimpuis der Speicherinhalt in allen u Zeilen, also in allen 3 Zeilen, um eine Stelle nach links verschoben. Im nächsten Takt wird der Inhalt von 80 wieder simultan eingespeichert. Dieses Spiel zwischen Verschiebung nach links und Einspeichern wiederholt sich, bis die volle Zeile abgearbeitet ist. Während nun im Elektronenmikroskop die Sonde an den Anfang der Zeile zurückspringt und gleichzeitig um ein Auflösungselement in der Spalte weiterschaltet, werden die Register in Fig. 15 durch einen Verschiebeimpuls um eine Zeile nach oben verschoben. Dabei wird der Inhalt der Zeile 85 nicht additiv in die Sonderzeile 82 eingespeichert, während die Zeile 83 mit Nullen aufgefüllt wird.
  • Nun erfolgt wieder eine Zeilenabtastung wie oben beschrieben.
  • Zunächst wirkt nun der Verschiedeimpuls auf die Zeile 82, wobei der Inhalt dieser Zeile 82 nicht wie bei den anderen Zeilen (83 bis 85) zyklisch hinten wieder eingeführt wird, sondern bei 86 unmittelbar abgenommen wird. Das bei 86 austretende Signal ist das Bildsignal. Wie schon erwähnt, ist der zeilenweise Betrieb der Verschieberegister 83 bis 85 zyklisch: Die vorne austretenden Zahlen werden hinten in den Speicher wieder eingelesen (Ringspeicher). Nach Abarbeitung der zweiten Zeile erfolgt die oben schon beschriebene spaltenweise Verschiebung mit Neubeladung der Speicherzeile 82 und Nullbesetzung der Zeile 83. Dieses Spiel wiederholt sich nun für alle Zeilen. Außer am Rande des Bildes sind durch diese Prozedur alle Bildpunkte Summen mit M Einzelwerten (im Beispiel M = 9). Das entspricht der Tatsache, daß bei diesem Abtastvorgang ein Bildpunkt nacheinander an allen Stellen 2 #p,q erscheint.
  • 15 Figuren 10 Ansprüche

Claims (10)

  1. Patentansprüche 1. Durchstrahlung-Raster-Korpuskularstrahlmikroskop mit unteriltem Detektor im Primärstrahlkegel, bei dem die Sondenfläche des Korpuskulars in der Objektebene größer als die gewünschte Auflösung ist und bei dem zur Erzeugung eines Bildpunktes die Detektorelementsignale durch Filter moduliert und anschließend verknüpft sind, dadurch gekennzeichnet, daß zur gleichzeitigen Abbildung mehrerer Objektpunkte (?p q) der Sondenfläche (12) diesen eine Filteranordnung (T, U) zugeordnet ist, welche die Detektorelementsignale (1 ) eines Vielkanaldetektors (3) modim,n fiziert, daß Einrichtungen (21, 23), die diese Signale zu den Objektpunkten (bp,9) entsprechenden Bildsignalen verknüpfen,und Steuereinrichtungen (75-79) zur sukzessiven mit der Abtastung synchronen Entnahme dieser Bildsignale vorgesehen sind.
  2. 2. Korpuskularstrahlmikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß jedem Objektpunkt (9p,q) mindestens 4 Amplitudenfilter (23) zugeordnet sind, die den positiven und negativen Anteilen des Real- und des Imaginärteils einer Filterfunktion entsprechen.
  3. 3. Korpuskularstrahlmikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Bildwandler (20) als Vielkanaldetektor vorgesehen ist sowie ein Linsenraster (21) mit ebensovielen Linsen wie Filtern (23), welches diesen Bildwandler (20) vielfach abbildet, daß jeder Linse eins der Filter (23) sowie ein den gesamten durch dieses Filter (23) hindurchgelassenen Lichtstrom messender Detektor (24) nachgeordnet ist.
  4. 4. Korpuskularstrahlmikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß für jedes Detektorelement des Vielkanaldetektors (3) eine Anzahl von Kanälen vorgesehen sind, die gleich dem Vierfachen der Zahl der Objektpnnkte (bp ) in der Sondenfläche (12) ist und auf die sich die Detektorelementsignale (Im,n) gleichmäßig aufteilen und daß Einrichtungen zur Modifizierung (35, 36) entsprechend der Filterfunktion und zur anschließenden Summation (38) dieser modulierten Signale vorhanden sind.
  5. 5. Korpuskularstrahlmikroskop nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß zur Modifizierung eine der Zahl der Kanäle entsprechende Anzahl Festwertspeicher (36) und Multiplikationsglieder (35) vorgesehen sind.
  6. 6. Korpuskularstrahlmikroskop nach Anspruch 5, bei dem die Multiplikation mit einem Festwert in Analogietechnik durchgeführt wird, dadurch gekennzeichnet, daß für diese Multiplikation fest einstellbare Potentiometer (37) vorhanden sind.
  7. 7. Korpuskularstrahlmikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Laser-Diffraktometer vorgesehen ist, in dessen parallelem Strahlenbündel (50) sich die aus dem komplexen Phasenfilter T bestehende Filteranordnung sowie ein durch die Detektorelementsignale angesteuertes Lichtre].ais (51) befindet.
  8. 8. Korpuskularstrahlmikroskop nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß eine Eidophorröhre (67) das Lichtrelais bildet.
  9. 9. Korpuskularstrahlmikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß dem Real- bzw. Imaginärteil jedes Bildsignals ein Speicher (75, 76) zugeordnet ist, der während der Verweildauer der Sonde auf dem entsprechenden Objektberelch diese Bildsignale integral abspeichert, daß allen Speichern (75, 76) ein Pufferspeicher (77, 78) nachgeordnet ist, auf dem beim Weiterspringen der Sonde die in den Speichern (75, 76) vorhandene Information gleichzeitig übertragen wird, und daß ein weiterer Großspeicher vorgesehen ist, in den die in den Pufferspeichern (77, 78) enthaltenen Signale sukzessive übertragen werden, während in den ersten Speichern (75, 76) neue Bildsignale abgespeichert werden.
  10. 10. Korpuskularstrahlmikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß ein Pufferspeicher (81) mit (u + 1) Zeilen und V Speicherplätzen je Zeile vorgesehen ist, wobei u die Zahl der Objektzeilen in der Sondenfläche (16) und V die Bildpunktzahl im Rasterbild ist, und daß eine synchron mit der Sondenverschiebung arbeitende Steuereinrich-tung vorgesehen ist, die gleichen Objektpunten (##,q) entsprechende Bildsignale additiv Speicherplätzen zuführt, an denen bereits Bildsignale dieser Objektpunkte (gp,'q) abgespeichert sind.
DE19762619739 1976-04-30 1976-04-30 Durchstrahlungs-raster-korpuskularstrahlmikroskop mit unterteiltem detektor im primaerstrahlkegel Pending DE2619739A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19762619739 DE2619739A1 (de) 1976-04-30 1976-04-30 Durchstrahlungs-raster-korpuskularstrahlmikroskop mit unterteiltem detektor im primaerstrahlkegel

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19762619739 DE2619739A1 (de) 1976-04-30 1976-04-30 Durchstrahlungs-raster-korpuskularstrahlmikroskop mit unterteiltem detektor im primaerstrahlkegel

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2619739A1 true DE2619739A1 (de) 1977-11-10

Family

ID=5977070

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19762619739 Pending DE2619739A1 (de) 1976-04-30 1976-04-30 Durchstrahlungs-raster-korpuskularstrahlmikroskop mit unterteiltem detektor im primaerstrahlkegel

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE2619739A1 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3032818A1 (de) * 1979-09-05 1981-04-02 Naamloze Vennootschap Philips' Gloeilampenfabrieken, Eindhoven Durchstrahlungsrasterelektronenmikroskop mit automatischer strahlkorrektur
EP0348992A3 (de) * 1988-07-01 1991-07-31 Hitachi, Ltd. Gerät und Verfahren zum Nachweis von Mustern, die auf einem Transmissions-Rasterelektronenmikroskop basiert sind

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3032818A1 (de) * 1979-09-05 1981-04-02 Naamloze Vennootschap Philips' Gloeilampenfabrieken, Eindhoven Durchstrahlungsrasterelektronenmikroskop mit automatischer strahlkorrektur
EP0348992A3 (de) * 1988-07-01 1991-07-31 Hitachi, Ltd. Gerät und Verfahren zum Nachweis von Mustern, die auf einem Transmissions-Rasterelektronenmikroskop basiert sind

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69022349T2 (de) Verfahren zur Herstellung einer Anzeigevorrichtung mit Beugungsgitterstrukturen.
DE3826288C2 (de)
DE2911375C2 (de) Verfahren zur Herstellung von Schichtbildern eines dreidimensionalen Objektes
DE3024126A1 (de) Verfahren zum hervorheben der reproduktionsbildschaerfe
DE2001723A1 (de) Holographischer Datenspeicher
DE2238700C3 (de) Optisches Filter
DE1932083A1 (de) Optische Anlage zum Speichern und Lesen von Informationen
DE3237572A1 (de) Verfahren zum erzeugen von schichtbildern
DE1572678C3 (de) Verfahren zum Erzeugen von Ultraschall-Hologrammen und Apparat zu dessen Durchführung
DE2441288C2 (de) Korpuskularstrahlmikroskop, insbesondere elektronenmikroskop, mit verstelleinrichtungen zur aenderung der lage des abzubildenen objekts oder des objektbildes
EP0182429B1 (de) Verfahren und Anordnung zum Erzeugen von Schichtbildern eines Objektes
DE2055785A1 (de)
DE2454537A1 (de) Verfahren zur reduzierung des einflusses von streustrahlung und anordnung zur durchfuehrung des verfahrens
DE2619739A1 (de) Durchstrahlungs-raster-korpuskularstrahlmikroskop mit unterteiltem detektor im primaerstrahlkegel
DE1572868B2 (de) Vorrichtung zur vervielfachten Abbildung eines Musterbilds
DE1774419B2 (de) Optische Vergleichvorrichtung
DE1922388A1 (de) Einrichtung zur Erzeugung eines Bildrasters aus mehreren identischen Abbildungen
DE2834391A1 (de) Einrichtung zur erzeugung von zeichenmustern auf einer objektflaeche mittels elektronenstrahlen
DE1572818A1 (de) Einrichtung zur Wiedergabe holographisch aufgezeichneter Information
DE2517268C2 (de) Verfahren zur Erzeugung von verwischungsschattenfreien Röntgen-Schichtbildern und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens
DE2546785C3 (de)
DE2548960C2 (de) Vorrichtung zur Erzeugung von Röntgenschichtaufnahmen
DE2548155C3 (de)
DE940615C (de) Verfahren und Vorrichtung zur roentgenmikroskopischen Darstellung der Struktur mikroskopischer Objekte
DE2016058C3 (de) Verfahren zur Herstellung eines optisch transformierende Eigenschaften aufweisenden Volumenhologramms

Legal Events

Date Code Title Description
OHW Rejection