DE2431943A1 - Schaltvorrichtung mit halleffekt - Google Patents
Schaltvorrichtung mit halleffektInfo
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Description
VaA-VH. 13.6.197
Anmelder: UV. PttLto1 LLÜH
Akte: Ptf
Anmeldung vom» 7 ^ ι C, -^w
Anmeldung vom» 7 ^ ι C, -^w
Schaltvorrichtung mit IIalleffekt
Die vorliegende Erfindung bezieht sicli auf eine
Halbleiteranordnung mit einem Schalter mit einem Hallelement
und einer Differentialschalteinheit, die mindestens zv/ei
stabile Zustände aufweist und eine Eingangsstufe mit zwei
Transistoren entha.lt, deren Basiszonen, die den gleichen
Leitfähigkeitstyp aufweisen, mit dem Hallelement gekoppelt sind, wodurch die genannte Einheit mit Hilfe eines Magnetfeldes
gesteuert v/erden kann, das mindestens zwei verschiedene Werte aufweisen kann und von dem im Hallelement eine HaIl-spannung
erzeugt wird.
Es sind Schankvorrichtungen bekannt, die den Halleffekt benutzen, wobei eine gegenseitige Verschiebung
zwischen zwei Lagen einer :;.agne ti sehen Masse, in deren Feld
sich eine Hallzelle befindet, eine Aendertmg des Zustancies
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- 2 - 13.6.7ζί-.
eines Systems, z.B. einer bistabilen Vorrichtung, herbeiführt,
Diese Schaltvorrichturißeii vrcrden dadurch hergestellt, class
in einem Halbleiterkörper mindestens ein Teil der Elemente des Systems, das von dem Potentia!unterschied (nachstehend
3.1s Hallspannung bezeichnet), gesteuert wird, der durch den Haileffekt in der Zelle herbeigeführt wird, und manchmal
auch diese Zelle selber gebildet wird. Das bistabile System, das von dem Uebergang von einem zu dem anderen Wert des
Magnetfeldes gesteuert wird, "enthält meist eine erste DifferentiaistufeV
z.B*. 'einen' symmetrischen Diff erentialverstark'er
oder eine bistabile Kippschaltung mit Differentialstruktür
vom Schmitt-Typ. : " " " - ■ . .
Die Eingangseleiiiente einer derartigen Differentialstufe
vferden im wesentlichen durch zwei gleiche Transistoren
gebildet, deren Basiszonen mit den Ausgangsklemmen der HaIlz'elie
elektrisch verbunden, und deren. Emitter'in der Regel' χ"
miteinander urjl mit einem gemeinsamen Pnnlcf verbunden sind,
der oft mit einer Stromquelle gekoppelt ist. Ia Entile eiiier
symmetrischen' Schaltung kann"-'die""den?Kollektoren"iäer 'TrarLsis-%6renv
entnommene Spannung eiixcr b'istabileri' Detektibnsstuf ef"?i ""_
mit SchWelieneffekt zugeführt i/erdeit^ "Ίπι Falle einer asymme-
trisehen'Schaltung mit Rückkopplung zwischen"crein:LKollektor" 'seines
Transistors .uhd; der Basis des änderen1 Transistors, J"
(welche' Schaitung die Eigenscnäften einer'bistabilen Kippschaitung
aufweisen" kann) ,"kania* das dem KoÜektoir des^^'"'
zweiten"Transistors entnommene Signal' mittels einer" beliebigen
Terstärkerstufe vorstSrkt v;erden* ·* . · - : =ϊ/ ;-..,'..
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copy ■ * ■ . - ."■-■■-"
- 3 - 13.0» r;i. _
Fig, 1 dor· "beiliegenden reiclinunß· r-roägt ein Dint~ranr.i
pi it Kurve 1, d Je 'die tliooretd sclie Kennl:Ln:i e der Halli-.pannuais
,V , die doi.i Λτ·!5{~οαΐ{·; eines Kali elements eiitnor.ir.ien und gegebenenfalls
verstärkt ν erden karin und die Eingangsspannung
des bistabilen Syst cris nut Schvullenef f elrt bilden karji, aiii
!•iniktiuu der· I'-rtgnetf elr.<.;r>
H darstellt, dem die Zelle iraiervori'ou
vi-i'd 4 Box der industriellen Herstellung l?lf;;:t sicJi
eine fjev.'isse Streuung dieser Kejitilini e, z.B. zwischen den
durch die Linien 2 und 3 dargestellten Frenzen, feststellen,
1,'obsi eine ICuIlspannung V = O einer ganzen Reihe von Ve.rten
'des Feldes zwischen EL1 und Hn ent sprechen ke.nn.
Diese Streuung ist verschiedenen Faktoren, ide der
Geometrie, der Zelle, dex* Inlior.iogenitcit des Materials, der·
Anordnung der Kontaktie!emmen und csp^^^nenfalls der Eigenstreuung·
der Teile einer VerstUrkersttife, zuzuschreiben«
Andererseits vreist ein bistabiles S3rstem mit Schvelleneffekt
gevfShnlich- eine Hystereseei-scheinung in dem Sinne auf, dass
ζ,Β. die Schwelle der Aenderunc des Zustandes bei zunehmender
Spannung höher als. die Schwelle der Aenderung des Zustandes
bei abnehmer.cior Spannung ist. Das System vreist iia allgemeinen
auch eine Streuung in deix Bestandteilen der Triggerstufe auf.
Der Ztistand des Systeme ist nicht exakt für eine bestimmte
Reihe von■ JBiis^-sngsspaniinngen» z.B. .ζλ/j sehen V. und V , bekannt.
Diese w'erts Y, und "7_ entsprechen möglichen Werten, des
Ka£5xietfelcles zv.'i&ch.en H. und II. . Dabei sollen die Ungewissheiten
über die /Werte des «iagnetf e.ldes, dem die Zelle tatsächlich
unterworfen ist, berücksi-chtigt werden. Streufelder
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COPY 1
BAD ORIGINAL
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FPUS". 71 - h - 13.6.71W
oder Restfelder können sich dem Feld zusetzen und es grosser
oder kleiner scheinen lassen als es in Wirklichkeit ist.
Zusammenfassend lSsst sich sagen, dass, unter Berücksichtigung
all dieser Streuungen, der Zustand des bistabilen Systems nur für Magnetfelder .exakt bekannt ist, die
¥erte aufv/eisen, die ausserhalb des Intervalls H-EL liegen.
¥enn die Zustandsanderungen des bistabilen Systems genau
dem Uebergang von einem zu dem anderen ¥ert entsprechen,
die :vom Magnetfeld angenommen werden können, kann vorteilhaft
eine Verschiebung der Kennlinie-V = f(H) der Hallzelle,
gegebenenfalls in Verbindung mit einer Verstärkerstufe, bewirkt werden, so dass die beiden Ferte, die das Magnetfeld
annehmen kann, Werten der Spannung entsprechen, die zu beiden Seiten und in verhältnismässig grosser Entfernung
von der Reihe von Spannungen liegen, innerhalb deren die Möglichkeit der Zustandsänderung des bistabilen Systems
besteht. Im Falle der Anordnung, deren Kennlinie in Fig. dargestellt ist, muss die Kurve z.B. über einen Abstand Δ Η
verschoben werden.
Ein bekanntes Verfahren zum Erhalten einer derartigen
Verschiebung ist u.a. in der USA-Patentschrift 3 596 11*t
beschrieben. Dieses Verfahren besteht in der Anwendung einer Vorspannung bei der Differentia!stufe, die sich am
Ausgang einer Hallzelle befindet "und durch eine Verschiebung
der Kontaktklemmen erhalten wird, denen die Hallspannung entnommen wird. Diese Verschiebung der Kontaktklemmen stellt '
jedoch einen sehr kleinen Abstand im Falle integrierter
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FPHX,7175. * 5 - 13.6,7h.
Schaltungen dar und eine genaue Herstellung ist sehr schwierig.
Die Einstellung einer derartigen Verschiebung ist schwierig, denn es müssen die unvermeidlichen Streuungen "bei jeder indu-
striellen Herstellung und auch die starke gegenseitige Abhängigkeit
der Impedanzen der Hallzelle und der Kennlinie der Schaltung des die Hallspannung empfangenden Systems
berücksichtigt werdenί durch diese Abhängigkeit können' thermi-.
sehe Schwankungen schnell die Kennlinien der Anordnung stören.
Die vorliegende Erfindung bezweckt, diese Nachteile
zu vermeiden·.
Die Erfindung bezweckt u.a., eine genaue, leichte und reproduzierbare Verschiebung der Ausgangsspannungen
eines Systems mit Differentialstruktur, das mit den Klemmen
einer Hallzelle verbunden ist zu erzielen.
Weiter bezweckt die Erfindung, eine zu integrierende Schaltung mit mindestens einer Stufe mit Differentialstrulrfcur
zu schaffen, die die Spannung empfängt, die von einer Hallzelle
geliefert wird und mit deren Hilfe in einem bistabilen System zwei verschiedene Zustände für zwei Werte des Magnetfeldes
erhalten werden können, dem die Zelle unterworfen ist, wobei die Streuungen der Kennlinie der Zelle, der
Kennlinie des Systems mit Differentialstruktur und der Werte des Magnetfeldes berücksichtigt werden.
Die Erfindung bezweckt, das Aequivalent einer Verschiebung des Bezugspotentials der aufzuprägenden der Hallzelle
entnommenen Spannung anzugeben, um z.B. eine bestimmte
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FPIIN. 7175.
- 6 ·> 13.6.72^.
Verschiebung· rait dem Gleichgewichtszustand in einer Diffe—
rentialvcrstärkerstufe beim Fehlen 'eines Magnetfeldes zu
erzielen.
Nach der Erfindung ist eine Vorrichtung der eingangs
beschriebenen Art.dadurch gekennzeichnet, dass zum Erhalten eines Vorzugszustandes in der Differentialschalteinheit die
Oberflächen der Basis-Emitter-Uebergänge in den Transistoren
voneinander verschieden sind, wodurch der Bereich von der
Eingangsstufe zuzuführenden Spannungen, in dem in der Schalteinheit ein Uebergang von einem· Zustand zu dem anderen. Ζην stand auftritt, zwischen den vom Hallelement gelieferten
Eingangs spannungen liegt, die den beiden genannten Werten des Magnetfeldes entsprechen.
Das Verhältnis zwischen den Oberflächen der Eraitter-Basis-Uebergänge
der beiden Transistoren, die im " übrigen einander gleich sind, bestimmt einen Unterschied zwischen
den inneren Spannungsabfällen über diesen Uebex-gangen.
Es ist ja bekannt, dass der innere Spannungsabfall V eines
Emitter-Basis-Uebergangs eines Transistors für einen Strom I
IcT X
durch Anwendung der Gleichung V = —— log =— geschätzt
e Q j_s
werden kann, wobei k die Boltzmann-Konstante, T die Absoluttemperatur,
q die Ladung der Elektronen und Xs der Sättigungsstrom
der Emitter-Basis-Diode ist.
Bei einem gleichen Strom I v/erden zwei Transistoren,
die, ausgenommen in bezug auf die Oberflächen der Emitter-Basis-Uebex-gcliige,
einander völlig gleich sind, Spannungs-
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FPIEi. 71 - 7 - ·13.6.7^.
abfalle über den Emitter-Basis-Uebergangen aufweisen, die
kV J = { ~- log =r— J voneinander verschieden sind, wobei
I^.und I- die Sättigungsströme der· respektiven Eraitter-Easis-Dioden
sind« Diese Sättigungsströme sind den Oberflächen
dieser Uebergänge proportional; dadurch wirdjÄ V \ = | — log ^rerhalten,
wobei S„ und S.. die respektiven Oberflächen der
Emitter-Basis-Uebergänge der beiden Transistoren sind, die als Eingangselemente des bistabilen Systems wirken.
Da die Emitter mit einem gemeinsamen Punkt verbunden
sind, ergibt sich aus diesem bestimmten Unterschied zwischen
den Spannungsabfällen eine bestimmte Verschiebung der von der durch die beiden Transistoren gebildeten Stufe gelieferten
Spannungen, Falls die Transistoren als eine Differentialverstärkerstufe
angeordnet sind, weist diese eine bestimmte Verschiebung aus dem Gleichgewichtszustand beim Fehlen des
Magnetfeldes auf, dem die- Zelle unterworfen werden muss. Falls die Transistoren als eine bistabile feippstufe angeordnet
sind, sind die Umklappschwellen über einen bestimmten
¥ert verschoben.· Wenn das Verhältnis zwischen den Oberflächen der Emitter-Basis-Ubergänge der beiden Transistoren
richtig gewählt ist, sind die Werte der den Zustandsänderungen des bistabilen Systems entsprechenden Spannungen
in genügendem Masse verschoben, um sich zwischen den Spannungswerten zvl befinden, die den beiden Werten entsprechen,
die vom Magnetfeld erreicht werden können.
Insbesondere im Falle eines bistabilen Systems,
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FPHN.7175. - $ - . 13.6.72U
dessen Schwellwerte sich gewöhnlich um den Wert V=O befinden
land dessen Zustand für ein Magnetfeld mit einer
Intensität in der Nähe von Null nicht exakt bekannt wäre, wird das Ungewissheitsgebiet der Schwellwerte in bezug auf
das Ungewissheitsgebiet der Felder durch den Unterschied zwischen den Oberflächen der Emitter-Basis-Uebergänge der
beiden Transistoren verschoben. In diesem Falle kann das
Verhältnis zwischen diesen Oberflächen verhältnismässig
stark von 1 verschieden sein/ Dies ergibt sich, wenn die
Vorrichtung die An- oder Ab%\resenheit eines Magnetfeldes
detektieren muss.
Die Erfindung benutzt einen Unterschied zwischen den Oberflächen der Emitter-Basis-Uebergänge, der sich nach
dem ,Stand eier Technik ohne Schwierigkeiten einfach erzielen
lässt. Eine einfache lokale Modifikation einer Diffusions-
maske kann z.B. in der gewünschten Richtung wirken. Dabei kann ein wichtiger Unterschied zwischen den Oberflächen
einem sehr kleinen Spannungsunterschied entsprechen und die gewünschte Verschiebung lässt sich leicht durch eine einfache
lokale Aenderung einer Diffusionsmaske erzielen. Dabei beeinträchtigt diese Aenderung die anderen Bestandteile des
Systems nicht. Die Verstärkung wird z.B. nicht geändert.
Die Einstellung der Schwellen der Zustandsänderung
in bezug auf die möglichen Werte des Magnetfeldes nach der Erfindung hat keine Modifikation- der Bearbeitungen bei
\ der Herstellung der Vorrichtungen zur Folge. Falls die
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FPHN. 7175. - 9 ■· 13.6.7^.
Vorrichtung nach der Technologie der integrierten Schaltungen
hergestellt wird, muss ein Fenster einer Diffusionsraaske lokal geändert werden.
Vorzugsweise sind die beiden Transistoren, die als Eingangselemente des bistabilen S3rstems wirken, Transistoren
vom planaren Typ und sind sie in demselben einkristallinen Halbleiterkörper integriert.
Vorteilhaft ist das Ha3.1element in derselben Halbleiterscheibe wie die genannten Transistoren integriert,
deren Emitter-Basis-Uebergänge verschiedene Oberflächen aufweisen und deren Kollektor- und Basis-Elektroden einander
gleich sind. Die Nachteile von Verbindungen grosser Länge werden auf diese Weise vermieden und es wird eine Vorrichtung
geringen Umfangs erhalten, die durch die üblichen Verfahren
zur Herstellung integrierter Schaltungen hergestellt werden kann»
Nach einer weiteren bevorzugten Ausftthrungsform der
Erfindung werden auch Widerstände, die' in Zusammenarbeit mit den beiden oben angegebenen Transistoren einen Differentialverstärker
bilden, in derselben einkristallinen Scheibe wie die genannten Transistoren integriert; als Beispiel sei
erwähnt: zwei praktisch gleiche Widerstände, die je einen der beiden Kollektoren der Transistoren mit einem Kontaktmittel
einer Spannungsquelle verbinden, und ein dritter Widerstand, der das Gebilde der beiden Emitter der Transistoren
mit einem anderen Kontaktmittel einer Stromquelle verbindet,
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- . FPHN.7175.
- 10 - 13.6.71U
Vorteilhaft wird dieselbe Energiequelle als Stromquelle zur Speisung der Hallzelle und zur Vorspannung der Transistoren
benutzt. Es wird also ein gedrängtes Gebilde erhalten, das die Vorteile der integrierten Schaltungen aufweist
und durch die für die integrierten Schaltungen verwendeten Techniken hergestellt werden kann,
Nach einer weiteren Ausführungsforra der Erfindung
werden auch !Widerstände, die in Zusammenarbeit mit den
beiden obengenannten Transistoren eine Stufe einer Schmitt-Kippschaltung bilden, in derselben einkristallinen Scheibe
wie diese Transistoren integriert: ein Widerstand verbindet das Gebilde der beiden Emitter mit einem Kontaktmittel einer
äusseren Spaniiungsquelle und ein Widerstand verbindet den
Kollektor eines Transistors mit einem anderen Kontaktmittel einer äusseren Spannungsqueile, wobei die Basis desselben
Transistors mit dem Kollektor des anderen Transistors verbunden ist. Vorteilhaft dient dieselbe Energiequelle als
Stromquelle zur Speisung der Hallzelle und zum Vorspannen der Transistoren. Es wird also wiederum ein gedrängtes
Gebilde erhalten, das die Vorteile der integrierten Schaltungen aufweist.
Nach einer weiteren Ausführungsform der Erfindung
werden auch in derselben einkristallinen Halbleiterscheibe neben einer Hallzelle ein Verstärker und eine bistabile
Kippschaltung integriert; der Ausgang des genannten Differentialverstärkers, der mit den Kollektoren der Transistoren
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FPiKT. 7175. - 11 - 13.6.72W
verbunden ist, ist an den Eingang der genannten Kippstufe angeschlossen, oder der Verstärker befindet sich am Ausgang
der Kippstufe, So ist ein vollständiges und gedrängtes Gebilde erhalten, das einen bistabilen Schalter bildet und
das durch die üblichen Techniken zur Herstellung intgrierter Schaltungen erzielt werden kann.
Bei einer besonderen Ausführungsform einer Vorrichtung
nach der Erfindung weisen die Emitter der beiden Transistoren Oberflächen mit einer gleichen Breite und mit verschiedenen
Längen auf, wobei die Längsrichtung als sich parallel zu den Kontakten erstreckend aufzufassen ist.
Dadurch ist es- möglich, dass, insbesondere wenn die
Breite klein ist, die Verhältnisse zwischen den Oberflächen der Emitter und den Umfangen der Emitter vorteilhaft einander
praktisch gleich sind.
Die Transistoren des Differentialverstärkers können durch die üblichen Verfahren, u.a. durch Diffusion, hergestellt
werden; in diesem Falle werden die Emitter der beiden Transistoren bis zu derselben Tiefe in gleichen Basisgebieten
oder in gleichen Abständen von dem Basiskontakt diffundiert.
Die Erfindung lässt sich zur Herstellung von Schaltvorrichtungen verwenden, die den Halleffekt benutzen.
Insbesondere lässt sich die Erfindung zur Herstellung integrierter Kleinstanordnungen in einer monolithischen Halbleiterscheibe
verwenden, welche Anordnungen z.B. für ein
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FPHN.7175. - 12 - . 13.6.74.
Glied mit Handbedienung, z.B. einen kontaktlosen Druckknopf,
bestimmt sind. Tasten eines Tastenbretts, die logische
Niveaus elektronischer Rechenmaschinen betätigen, können vorteilhaft gemäss der Erfindung hergestellt werden.
Die Erfindung kann in all denjenigen Fällen verwendet werden, in denen sich an ein Hallelement eine Stufe
mit Differentialstruktur mit mindestens zwei Transistoren anschliesst, deren Basiszonen mit dem Ausgang des HaIlelements
gekoppelt sind.
Die Erfindung wird nachstehend beispielsweise an Hand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 2 ein Schaltbild einer Vorrichtung nach der Erfindung mit einer Differentialverstärkerstufe,
Fig. 3 ein Schaltbild einer Vorrichtung nach der Erfindung mit einer Schmitt—Kippschaltung,
Fig. h teilweise eine Draufsicht auf ein Schaltgebilde
mit mindestens einem Hallelement, zwei" Transistoren und ¥iderständen eines Differentialverstärkers, und
Fig. 5 teilweise einen Schnitt längs der Linie X-X durch den in Fig. h in Draufsicht dargestellten Teil des
Schalters»
Das Schaltbild nach Fig. 2 bezieht sich auf eine
Hallzelle 10, durch die ein Strom I zwischen den Kontakten und 12 bei einer Spannung in der Gr'dssenordnung von einigen
Volts fliesst. Beim Vorhandensein eines Magnetfeldes, das
senkrecht auf der Zeichnungsebene steht, erscheint eine
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FPHN.7175. - 13 - 13.6.72U
243Ί943
Hallspannung zwischen den Kontaktklemmen 13 und 14, die rait
den Basis-Elektroden der Transistoren T1 und T2 verbunden sind. Diese Transistoren sind praktisch, einander gleich,
mit Ausnahme ihrer Emitterzonen El und E2, die verschiedene Oberflächen aufweisen. Die Emitterzonen sind mit einem
Widerstand R3 und die Kollektoren mit den Widerständen R1
bzw. R2 verbunden, wobei das Ganze zwischen den Klemmen + und - einer Stromquelle eingeschaltet ist.
Die Ausgangsklemmen der Vorrichtung sind mit A und B bezeichnet und können mit einem bistabilen Element, z.B.
einer Schmitt-Kippschaltung, verbunden werden.
Wenn die bistabile Stufe, die von der zwischen A
und B verfügbaren Spannung gesteuert wird, mit der Polarität der Eingangsspannung umklappt und wenn dabei diese Stufe
entsprechend der An- oder Abwesenheit eines Magnetfeldes ' umklappen muss, muss die Kennlinie V = f(H) der Spannung
zwischen A und B als Funktion des Magnetfeldes, dem die
Zelle 10 unterworfen ist, derart verschoben werden, dass die Abwesenheit eines Feldes einer Spannung entspricht,
deren Polarität der der Spannung entgegengesetzt ist, die durch das verfügbare Magnetfeld, herbeigeführt wird.
Indem für die Emitter E2 des Transistors T2 und E1 des Transistors T1 Oberflächen in einem geeigneten
gegenseitigen Verhältnis gewählt werden, wird eine Verschiebung der Kennlinie V = f(h) in der gewünschten Richtung
herbeigeführt. So kann z.B. der Emitter E2 eine Oberfläche aufweisen, die gleich dem Zweifachen der Oberfläche des
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FPHN. 71 75.
Emitters E1 ist: bei einer Absoluttemperatur in der Grössen-
KT Ordnung von 3000K, bei der der Koeffizient gleich 26 mV
ist, ist der Unterschied zwischen den inneren Spannungsabfällen des Basis-Emitter-Uebergangs etwa 18 mV, Durch diesen
Unterschied erscheint zwischen A und B in Abwesenheit eines Magnetfeldes eine Spannung, deren Polarität der der Spannung
entgegengesetzt ist, die in der Zelle nach Fig. 2 durch ein Magnetfeld senkrecht zu der Zeiehnungsebene herbeigeführt
wird .
Das Schaltbild nach Fig. 3 bezieht sich auf eine Hallvorrichtung 20, durch die ein konstanter Strom zwischen
den Kontakten 21 und 22 fliesst. In Anwesenheit eines Magnetfeldes
senkrecht zu der Zeichnungsebene erscheint eine
Hallspannung zwischen den Klemmen 23 und 24, die mit den Basis-Elektroden der Transistoren TM und Tf2 verbunden sind.
Diese Transistoren sind einander gleich, mit Ausnahme ihrer Emitterzonen E.M. und E*2, deren Oberflächen verschieden sind
und ein bestimmtes gegenseitiges Verhältnis aufweisen, das verschieden von 1 ist. Die Emitterzonen EM und E*2 sind
mit einem Widerstand R*3 verbunden. Der Kollektor von TM
ist mit einem ¥iderstand R 4 und die Basis von TM ist mit
dem Kollektor von Tf2 verbunden. Das Ganze ist zwischen
den Klemmen + und - einer Spannungsquelle eingeschaltet. Das Ausgangssignal wird dem Punkt C entnommen und kann
einem Verstärker zugeführt werden. Die Strom-Spannungs-Kennlinie I = f(v) der Schaltung am Ausgang der Hallzelle
409885/1272
FPHN.7175. - 15 - 13.6,72U
kann mit geeigneten Widerstandswerten ein Gebiet mit einem negativen Widerstand zur Erzielung des Umklappeffekts aufweisen.
Das Verhältnis zwischen den Oberflächen der Emitterzonen E'1 und E12 ist derart gewählt, dass dieses Gebiet
mit negativem Widerstand sich zwischen den Spannungswerten befindet, die den zwei möglichen Werten des Magnetfeldes
entsprechen, wobei einer der Werte O sein kann.
Eine Halbleiteranordnung, derennSchaltbild dem nach
Fig. 2 entspricht j ist in Draufsicht in Fig. h und teilweise
in Fig. 5. in einem Schnitt längs der Linie X-X der Fig» h dargestellt.
Die Vorrichtung ist durch die übliche Technik zur Herstellung integrierter Schaltungen erhalten, wobei von ·
einer Scheibe 51 aus p-leitendem Silicium ausgegangen ist,
die als Substrat dient und auf der eine epitaktische η-leitende Schicht 52 niedergeschlagen ist. In diese Schicht
werden Isplierzonen 53 "vom p+-vTyp eind if fundiert, die in
der Schicht 52 η-leitende Inseln bilden, wobei die Insel
den HalikSrper eines Hallelementes bildet} andere Inseln 15»
dienen zur Bildung von Transistoren T1 und T2 und die Inseln 17, 18 zur Bildung der Widerstände RI, R2 und R3.
Die Kontakte 11 und 12, die durch lokale η -Diffusionen gebildet werden, sind mit den Kontaktflächen 41 und k2
verbunden, Die Kontakte 13 und lh, die gleichfalls durch '
lokale n+-Diffusionen gebildet sind, bilden die Kontaktklemmen,
denen die Hallspannung entnommen wird, und sind
4098 85/1272
FPHN". 7175.
- 16 - '13.6.74.
2437943
mit den Basis-Blektroden B1 und B2 der Transistoren ΤΊ bzw. T2
verbunden. Diese Transistoren T1 und T2 sind einander gleich, abgesehen von der· Länge ihrer Emitter E1 und E2, Aus dem
Schnitt nach Fig. 5 geht hervor, dass der Emitter E2 eine erheblich grössere Länge als der-Emitter E1 aufweist.
Die mit gestrichelten Linien in Fig. 4 dargestellten
Verbindungen, wie 43» 44, 56, können durch Niederschlagen
im Vakuum von Aluminium erhalten v.-erden.
Die Fenster 55 zum Kontaktieren der Emit'ter können
in beiden Transistoren gleich sein. Die Verbindung 56, die auf der Isolierschicht 54 niedergeschlagen ist und die die
beiden Emitter mit dem Widerstand R3 verbindet, behält so
ihre Symmetrie bei.
409885/1272
Claims (7)
1. Halbleiteranordnung mit einem Schalter mit einem
Hallelement und einer Differentialschalteinheit, die
mindestens zwei stabile Zustände aufweist und eine Eingangsstufe mit zwei Transistoren enthält, deren Basiszonen, die
vom gleichen Leitfähigkeitstyp sind, mit dem Hallelement
gekoppelt sind, wodurch die genannte Einheit mit Hilfe eines Magnetfeldes gesteuert werden kann, das mindestens
(zwei verschiedene Werte aufweisen kann, und von dem im Hallelement eine Hallspannung erzeugt wird, dadurch gekennzeichnet,
dass zum Erhalten eines Vorzugszustandes in der Differentialschalteinheit die Oberflächen der Basis-Emitter-Uebergänge
in den Transistoren voneinander verschieden sind, wodurch der Bereich von der Eingangsstufe zuzuführenden
Spannungen, in dem in der Schalteinheit ein Uebergang von einem Zustand zu dem anderen Zustand auftritt, zwischen
den vom Hallelement gelieferten Eingangsspannungen liegt,
die den zwei genannten Werten des Magnetfeldes entsprechen,
2, Halbleiteranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
dass die Transistoren durch je einen planaren in einem Halbleiterkörper angebrachten Transistor gebildet
werden, wobei das Verhältnis zwischen den Oberflächen der Emitter-Basis-Uebergänge wenigstens in wesentlichen durch
diejenigen Teile der Uebergänge bestimmt wird, die sich parallel zu den Hauptoberflächen des Halbleiterkörpers erstrecken.
409885/1272
.7175. -18- 13.6.72U
3. Halbleiteranordirung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
dass die beiden Transistoren in demselben Halbleiterkörper integriert sind.
4. Halbleiteranordnung nach Anspruch 3» dadurch gekenn«
zeichnet, dass das Hallelement ebenfalls in dem genannten Halbleiterkörper integriert ist und durch einen inseiförmigen
Teil des Halbleiterkörpers gebildet wird,
5. Halbleiteranordnung nach einera oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadiirch gekennzeichnet, dass die
genannte Differentialschalteinheit einen Differentialverstärker
enthält, dessen Eingang mit dein Hallelement und
dessen Ausgang mit einer Kippschaltung gekoppelt ist.
6. Halbleiteranox'dnung nach einem oder mehreren der·
Ansprüche 1 bis ht dadurch gekennzeichnet, dass die Differentialschalteinheit
eine Schmitt-Kippschaltung enthält, deren Eingang mit dem Halleleraent gekoppelt ist und der sich eine
Verstärkerstufe anschliesst, wobei die Schmitt-Kippschaltung
eine Strom-Spannungs-Kennlinie mit einem Gebiet mit negativem
¥iderstand aufweist, das zwischen den vom Hallelement gelieferten Spannungen liegt, die den zwei genannten Werten
des Magnetfeldes entsprechen.
7. Halbleiteranordnung nach einem oder mehreren der vorstehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die
Emitterzonen der Transistoren durch in die Basiszonen
eingebettete langgestreckte Zonen gebildet werden, die praktisch die gleichen Breiten, aber verschiedene Längen
aufweisen.
409885/127 2
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