DE2211235C3 - MeBmikroskop mit einer Auswertelogik und einer Anzeigevorrichtung zur fotoelektrischen Messung linearer Größen - Google Patents
MeBmikroskop mit einer Auswertelogik und einer Anzeigevorrichtung zur fotoelektrischen Messung linearer GrößenInfo
- Publication number
- DE2211235C3 DE2211235C3 DE19722211235 DE2211235A DE2211235C3 DE 2211235 C3 DE2211235 C3 DE 2211235C3 DE 19722211235 DE19722211235 DE 19722211235 DE 2211235 A DE2211235 A DE 2211235A DE 2211235 C3 DE2211235 C3 DE 2211235C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- measuring
- converter
- level
- diodes
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims description 43
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 title claims description 20
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 12
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 8
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 6
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 3
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 108010014172 Factor V Proteins 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 2
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000011093 chipboard Substances 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 210000003734 kidney Anatomy 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 210000004072 lung Anatomy 0.000 description 1
- 230000003340 mental effect Effects 0.000 description 1
- 238000001208 nuclear magnetic resonance pulse sequence Methods 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000012549 training Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/18—Arrangements with more than one light path, e.g. for comparing two specimens
- G02B21/20—Binocular arrangements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/024—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
ie Erfindung bezieht sich auf ein Meßmikroskop einer Auswertelogik und einer Anzeigevorrich-235
tung zur fotoelektrischen Messung linearer Größen, bei der der zu messende Bereich des Meßobjektes
vererößert und in der Bildebene der Abbildungsoptik abgebildet und dort mittels eines Meßraster
-. und Fotozelle enthaltenden Videosignalgebers h
eine der linearen Größe des Meßobjektes entsprechenden proportionalen Impulsfolge über einen
Spannungs-Pegelumsetzer an einen Zahler gefuhrt
1StEin derartiges Meßmikroskop ist z. B in der
US-PS 3 094 623 beschrieben und dargestellt. Das Meßobjekt wird hier vergrößert in der Bildebene der
Abbildungsoptik abgebildet und dort mittels eines Meßraster und Fotozellen enthaltenden Videosignal-
,s aebers in eine der linearen Größe des Meßobjektes
entsprechenden proportionalen Impulsfolge umgesetzt wobei diese Impulsfolge über einen Spannungsneeeiumsetzer
einer, einen Zähler anzeigenden Anzeigevorrichtung zugeführt wird. Mittels des Pegel-
Umsetzers wird der Spannungspegel für die zu mess-nden
Impulse derart eingestellt, daß sich wahrend eines von einer Schlitzscheibe gesteuerten Abtastvorgang
die sogenannten Hintergrundimpulsc von ObfektWimpulsen
abheben und nur letztere Impulse an
den Zähler und an die Anzeigevorrichtung gelangen. Bei einer anderen bekannten Meßvorrichtung,
ζ B gemäß der DL-PS 58 603, besitzt das Meßmikroskop eine aus fotoelektrischen Wandlern, nämlich
aus lichtempfindlichen Zellen gebildete Raster-
zeile auf der das zu messende Objekt als Schattenbild
abgebildet wird. Von einer umlaufenden, Lichtblit/J
erzeugenden Schlitztrommel wird über ein Objektiv ein paralleles Lichtbündel erzeugt, in dem das
zu messende Objekt gelegen ist; mittels eines weiteren
optischen Systems wird so der Querschnittsschatten des Meßobjektes auf die Wandlcrzeile abgebildet.
Die Lichtblitze erzeugen an den Wandlern des Rasters dem Querschnitt des Meßobjektes entsprechende
Spannung.;- und Stromänderungen, die ver-
-;iärkt und über einen Trigger geführt, einer stabilen
Schaltstufe zugeleitet werden. Je nachdem, ob ein einzelner Wandler des Rasters beleuchtet oder unbeleuchtet
ist, verharrt die Schaltstufe in einem offenen oder geschlossenen Zustand. Diese Zustandsänderun-
gen werden von einem digitalen Analogumsetzer ausgewertet
und analog zur Anzeige gebracht. Die An- ?ahl der unbelichteten Wandler ergibt sich hierbei
aus der bekinnten Zahl der belichteten Wandler;
daraus läßt sich die Profilbreite und somit z. B. der Außendurchmesser eines Rohres oder einer Stange
ermitteln.
In einer älteren Anmeldung (P 20 59 106.4) wurde bereits vorgeschlagen, zum Messen von Strichbreiten,
7. B. in der Ätztechnik, ein Meßmikroskop zu benutzen, in dessen Bildfeld eine Meßstrecke eingeblendet
ist. Das Objektbild wird hier mit der Meßstrecke durch ein Vidikon einer Fernsehanlage abgetastet.
Die Anzahl der Impulse beim Durchlaufen der Meßstrecke wird mit der Anzahl der Impulse
beim Durchlaufen des Objeklbikles verglichen. Aus dem Quotienten der Zählsummen der Impulse und
der optischen sowie der elektronischen Konstanten wird in einer Auswertelogik die Strichbreite ermittelt.
Zum Erfassen von Kantenabständen von einem vorgegebenen Sollmaß ist es bekannt, einen Meßkopf
zu verwenden, in dessen Bildebene eine von einem Schieberegister betriebene Diodenzeile angeordnet
ist. Eine derartige bekannte Diodenzeile besteht aus
2 2ii 235
B. 50 integrierten Lithium-Planar-Fotodioden mit zeile mit Schieberegister ist, deren einzelne Dioden
:mem gegenseu.gen 1 e.lungsabstand von 100 μηι. mlt Ausnahme ihrer beiden Flankendiodcn von emcr
f,Af7nS t der .einze nen D'ode- dient das einen Taktgeber beinhaltenden Ansteuerelektronik
,O-b.t-Schiebereg.ster, das as rr.onohthtischer Bau- ansteuerbar sind und der Video-iügnalgeber mit einem
.te.n gebildet ist Die piodenze.le dient als opto- 5 Video-Pegelumsetzer verbunden ist, der einen ein-
:;ektronischer Bildwandler. Dieser benötigt für die stellbaren Meßpegel aufweist, an dessen Ausgang
:,nzelnen Dioden einen Auflade- und Abtastimpuls einerseits ein die Zählimpulse liefernder Signalumund
emen Daten-Eingangsimpuls, der nach 50 Auf- former mit Maßstabsumrechner sowie der Zähler
ladeimpulsei. auf das Schieberegister gegeben wird. und andererseits eine beim Vorliegen eines Fehlers
Von einem Taktgenerator werden die zur Ansteue- io am Meßobjekt den Zähler zurückstellende und eine
rung der Diodenzetle erforderlichen Impulse erzeugt. Anzeige schaltende, mittels eines Sensor-Pegelumset-Diese
Impulse gelangen über einen Pegelumsetzer in zers auf einen Spannungspegel einstellbare und den
die Diodenzeile. Bei der bekannten Diodenzeile wer- Spannungspegel auf Einbrüche prüfende Sensorlogik
den die einzelnen Dioden beim Anstehen eines Da- angeschlossen ist.
teneingangsimpulses auf eine Sammelleitung ge- 15 bas gemäß der Erfindunsi gebildete Meßmikroskop
schaltet. Die aus der Diodenzeile ausgelesenen arbeitet ohne umlaufende ^Schutzscheibe oder eines
Diodenspannungen sind von der Beleuchtung der Fernsehbildschirmes. Daher verbleibt das Mikroskop
jeweiligen Dioden abhängig. Es entsteht ein söge- auch während des Meßvorganges in Ruhe. Es besitzt
nanntes Videosignal. Dieses Signal wird über einen eine Auflichtbeleuchtungsvorrichtung und ist somit
Impedanzwandler geführt und einem Steuergerät zu- io gut auf das Meßobjekt aufsetz- und ausrichtbar. Das
geleitet. Wird ein derartiger, mit einer Dioden/eile Meßobjekt selbst wird über das Objektiv des Mikroversehener
Meßkopf im Sollrnaßabstand über die skopcs auf die Diodenzeile vergrößert abgebildet. Das
Kante eines bewegten Bandes angeordnet, so wird Auflöse\ ermögen und die Genauigkeit der Messung
beim Auftreten von Schwankungen in der Breite des sind von der Anzahl der Dioden auf der Diodenzeile
Bandes eine entsprechend schwankende An/ah! von j; und von der gewählten Vergrößerung des Meßmikro-Diodcn
beleuchtet, während der Rest der Dioden der skopes abhängig. Die Anzahl der beleuchteten und
Diodenzeile unbeleuchtet bleibt. Auf diesem vcrfah- unbeleuchteten Dioden der Diodenzeile ist, wie bei
rensmäßigen Wege lassen sich Toleranzschwankun- den eingangs genannten Meßmikroskopen, bekannt,
gen in der Bandbreite ermitteln und Ausschußgrößen ein Maß für die gemessene Breite des Meßobjektes,
feststellen. 30 Zur Erkennung von im Meßbereich des Meßobjektes
Sollen mit derartigen Vorrichtungen feine Strich- gelesenen Verunreinigungen, Beschädigungen, z. B.
breiten in der Größenordnung von wenigen ;<m bis Unterbrechungen, dici.i der Sensorpegclumsetzcr und
etwa 200 um gemessen werden, wie solche bei Ätz- die Sensorlogik, wolvi letztere Spannungssignale der
\orlagen von integrierten Schaltkreisen vorkommen, Diodenzeile "in einem vorgewählten Spannungspegel
so ergeben sich Schwierigkeiten. Das Meßmikroskop 35 auf Einbrüche überprüft. Beim Vorliegen von Spanmuß
auf die Ätzvorlage bzw. auf die Schaltungsplatte nungseinbrüchen im Pegel wird einerseits eine Meßaufsetzbar
und ausrichtbar sein. Mit den eingangs wertausaabe verhindert und andererseits das Vorgenannten
Meßvorrichtungen ist ein Messen von liesien eines möglichen Fehlers durch ein Signal an-Leiterbahnbreiten
nicht möglich, denn sie lassen sich nezeigt.
nicht auf eine Ätzvorlage oder Leiterplatte aufsetzen. 40 " Verschmutzungen, z. B. Oxydationen, auf einer
Würde man indessen diese Vorrichtungen dahingc- Leiterbahnoberfläche bedingen eine unterschiedliche
hend abändern, so ergibt sich der Nachteil, daß bei Belichtung der einzelnen Dioden der Diodenzeile im
falsch aufgesetztem Mikroskop, beispielsweise so, Meßintervall. Dies hat zur Folge, daß das Videodaß
zwei Leiterbahnen in das Blickfeld gelangen, als signal innerhalb dieses Meßintervalls Spannungsein-Meßergebnis
die Summe der Breite beider Leiter- 45 brüche aufweist. Diese Spannungseinbrüche sind als
bahnen zur Anzeige gelangt. Entsprechende Fehl- Signalflanken feststellbar. Zeigen sich bei der Mesmessungen
sind möglich, wenn die zu messende Lei- sung eines Objektes mehr als zwei Signalflanken
terbahn oder der zu messende Strich auf einer Ätz- — ^wei Signalflanken müssen vorhanden sein, das
vorlage nur teilweise in der Bildebene des Mikrosko- sind die beiden Begrenzungsflanken des Meßobjekpes
abgebildet wird. Fernerhin darf es auch nicht 50 tes — so ist daraus zu folgern, daß innerhalb des
vorkommen, daß das Mikroskop dann eine falsche Meßbereiches am Meßort eine Verunreinigung oder
Anzeige liefert, wenn zufällig die Leiterbahn oder ein Fehler vorliegt. Bei der Messung werden dr.her
der zu messende Strich, z. B. durch ein Slaubteil- die Anzahl der Flanken innerhalb des Meßintcrvalls
chen am Meßort verunreinigt ist. Ein Kontrast führt gezählt, und sofern mehr als zwei Signalflanken aufzum
Entfall bzw. zur Auslösung ein oder mehrerer 55 treten, wird eine Meßanzeige unterbunden oder bei
Zählimpulse. Auch darf während des Meßvorgangcr, der Verwendung einer Ziffernanzeigevorrichtung
das Meßmikroskop keinen Schwingungen, wie solche wird diese auf Null zurückgesetzt; gleichzeitig leuchbeispielsweisc
durch umlaufende Schlitzscheiben her- tet die Signallampe auf.
vorgerufen werden, ausgesetzt sein. Die gemäß der Erfindung gebildete Meßvorrich-
Ausgehend von dem einleitend genannten Stand 6u tung soll auch zum Messen von kleinen, d. h. in
der Technik liegt der Erfindung die Aufgabe zu- Blickfeld des Mikroskopes erfaßbaren Abständen
gründe, ein für den Werkstattbetrieb geeignetes Meß- z. ß. von benachbarten Leiterbahnen, geeignet sein
mikroskop mit einer Auswertclogik und einer An- Beim Positivbild erscheint der in seiner Breite ν
Zeigevorrichtung zur genauen und insbesondere zur messende Steg hell auf dunklem Grund (Dunkelfeld'
zuverlässigen Messung von Strichbreiten, Leiterbah- 65 soll indessen der Abstand von zwei Leiterbahne
nen, Motivplatten u. dgl. zu schaffen. gemessen werden, so bedient man sich des Kompl
Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung dadurch mentärbildes, d. h. des Negativbildes, wobei hier d
gelöst, daß der Videosignalgeber eine Fotodioden- Breite des dunklen Steges auf hellem Grund gerne
5 6
sen wird. Beide Bildarten kommen z. B. in der Fein- eines Schalters von der Hellfeldmessung auf dii
ätzverdrahtungstechnik vor. Je nach der Meßaufgabe, Dunkelfeldmessung oder umgekehrt umschaltbar.
ob z. B. im Dunkel- oder Hellfeld gemessen werden In den Zeichnungen sind ein gemäß der Erfindun;
soll, werden die Signale in einem Falle unmittelbar gebildetes Meßmikroskop sowie Einzelheiten hierzi
und im anderen Falle durch eine einfache Umschal- 5 dargestellt,
tung invertiert einer Auswertelogik zugeführt. In F i g. I ist ein auf ein ebenes Objekt, z. B. au
Wie an sich bekannt, wird das Schieberegister eine Leittrbahnplatte 6, aufsetzbares Meßmikroskoj
durch eine Ansteuerelektronik betrieben. Das von dargestellt. Das Meßmikroskop besteht aus einen
der Diodenzeile ausgegebene Videosignal gelangt in Sockel 1, einer Zentrierlupe 2, einem Mikroskoptubu:
eine Auswertelogik, wobei die Auswertelogik die An- io und aus einem Meßkopf 4, der eine Diodenzeile i
zahl der beleuchteten oder unbeleuchteten Dioden trägt. Das Meßmikroskop — je nach der gewünsch
zählt und aus dieser Zählgröße unter Berücksichti- ten Vergrößerung auch Meßlupe genannt — win
gung des Rastermaßes der Diodenzeile und des Ab- auf das Meßobjekt aufgesetzt, wobei hier das Meß
bildungsfaktors des Meßmikroskopes die objektive objekt eine Leiterbahn 7 ist, die von einer Auflicht
metrische Anzeigegröße ermittelt. Von der Auswerte- 15 beleuchtungsvorrichtung 8 beleuchtet wird. Die Be
logik wird sodann die Anzeigevorrichtung ange- leuchtungsvorrichtung besteht aus einer Licht
steuert, die die objektive metrische Größe, d. h. die quelle 9, einem Umlenkprisma 10 und einem licht
gemessene Breite des Meßobjektes, anzeigt. durchlässigen, in den Strahlengang des Mikroskope;
Nach einem zusätzlichen Merkmal der Erfindung eingebrachten Umlenkspiegel 11, wobei letzterer dai
besitzt die Meßvorrichtung eine Sensorautomatik, die ao zur Ausleuchtung des Objektes erforderliche Lieh
einerseits über den Sensorpegelumsetzer mit Flan- in Richtung der optischen Achse 12 des Meßmikro
kendioden der Diodenzeile und andererseits mit der skopes einspiegelt. Das vom Meßobjekt reflektieru
Anzeigevorrichtung verbunden ist. Die Sensorauto- Licht 13 gelangt über ein hier nicht dargestelltes Lin
matik verhindert eine Meßanzeige an der Anzeige- sensystem auf die im Meßkopf 4 eingebaute Dioden
vorrichtung, wenn die Flankendioden eine unter- 25 zeile 5. Zum genauen Aufsetzen des Meßmikroskope;
schiedliche Belichtung aufweisen oder auf dem glei- auf das Meßobjekt dient die Zentrierlupe 2, die ir
chen Belichtungspotential liegen, wie alle Dioden einem Lupenfuß 15 am Sockel 1 gehalten ist. Dei
der Diodenzeile. Durch diese zusätzliche Ausbildung Sockel 1 trägt ein Anschlußkabel 16 zum Zuführer
der Meßvorrichtung wird gewährleistet, daß nur dann der Stromversorgung für die Beleuchtungseinrichtung
eine Anzeige des Meßwertes erfolgt, wenn das Meß- 30 sowie die elektrischen Leitungen für den Betrieb dei
objekt vollständig auf der Diodenzeile abgebildet ist. Diodenzeile. Zur besseren Beleuchtung von schwie
Die Auswertelogik beinhaltet den mit der Dioden- rigen Meßobjekten können zusätzliche Auflicht-Be
zeile verbundenen Videopegelumsetzer und den mit leuchtungsvorrichtungen — nicht dargestellt — arr
dem Videopegelumsetzer verbundenen elektronischen Meßmikroskop vorhanden sein. Eine derartige zu-
Zähler sowie einen Umrechner und/oder Impulsum- 35 sätzliche Auflicht-Beleuchtungsvorrichtung soll—wie
setzer. Mittels des Videopegelumsetzers wird der an sich bei Meßmikroskopen bekannt — den naher
Spannungspegel der von den einzelnen Dioden ge- Bereich des Meßortes schattenfrei ausleuchten. Da
lieferten Spannungssignale, nämlich des Videosignals, durch können Fehlmessungen, die z. B. durch
eingestellt. In Höhe dieses Zählpegels ist die Breite »Schlagschatten« entstehen können, vermieden wer
des anstehenden Signals ein proportionales Maß der 40 den.
zu messenden Breite. Während der Dauer eines Meß- Fig. 2 zeigt einen schematischen vereinfachter
zyklusses und somit der Dauer des anstehenden Aufbau des Meßgerätes. Die handelsübliche Dioden-Videosignals
wird eine von einem zentralen Impuls- zeile 5 besteht aus einer Anzahl, z. B. von 50 inte
generator gelieferte Impulsfolge einem Auszähler zu- grierten Silizium-Planar-Fotodioden, wobei die eingeführt,
so daß die Anzahl der vom Auszähler an 45 zelnen Fotodioden in einem Rastermaß R von ζ. Β
den Umrechner gelieferten Impulse der gemessenen 100 μπι angeordnet sind. Die Gesamtbreite der Foto-Breite
ebenfalls proportional ist. diode betii.£t annähernd 5 mm. Die Diodenzeile 5
Die mit den Flankendioden der Diodenzeile ver- wird begrenzt von Flankendioden 17 und 17'. Zui
bundene Sensorautomatik besitzt einen einstellbaren, Ansteuerung der einzelnen Dioden befindet sich in
die Ansprechempfindlichkeit regelnden Sensorpegei- 50 nerhalb des monolithischen Bausteins ein hier niehl
umsetzer sowie eine Vergleichselektronik zum Ver- dargestelltes 50-Bit-Schieberegister. Der optoelektro-
gleich der Meßspannung der beiden Flankendioden. nische Bildwandler benötigt für die einzelnen Dioder
Die Vergleichselektronik ist einerseits mit dem Zäh- einen Auflade- und Abtastimpuls und einen Daten-
ler der Anzeigevorrichtung und andererseits mit eingangsimpuls, der nach 50 Aufladeimpulsen aui
einem Signalgeber verbunden. Der Video- und Sen- 55 das Schieberegister gegeben wird. Hierzu dient ein
sorpegelumsetzer besitzen jeweils eine Handhabe zur Taktgenerator 18 mit einer Taktfrequenz von
Einstellung der Pegelhöhe, d. h. des Schwellwertes. 200 kHz. Diese Impulse werden mittelbar — übei
Vorzugsweise dient als Anzeigevorrichtung ein einen in dieser Figur nicht dargestellten Pegelumset-Zähler
mit einem eine flimmernde Anzeige gewähr- zer — auf die Diodenzeile gegeben. Das Meßleistenden
Zwischenspeicher, der mit einer numeri- 60 objekt 7, dessen Breite L zu messen ist, wird mittels
sehen Ziffernanzeige verbunden ist. des Objektivs 19, dessen Vergrößerungsfaktor z. B.
Das auf das Meßobjekt aufsetzbare Meßmikroskop V betragen soll, auf der Diodenzeile 5 im vergrößerbesteht
aus einem Sockel, einer Zentrierlupe, einem ten Maßstab abgebildet. Im Bereich der Abbildungs-Mikroskop-
oder Lupenrubus, der einen Meßkopf mit breite B werden die gestrichelt dargestellten Dider
darin eingesetzten Diodenzeile trägt. Das Mikro- 65 öden 5' ausgeleuchtet, während die anderen Dioden
skop- oder Lupenobjektiv ist auswechselbar, wobei der Diodenzeile unbeleuchtet bleiben. Das Videoder
jeweilige Vergrößeningsfaktor an der Auswerte- signal wird — wie durch den Pfeil 21 angedeutet —
logik einstellbar ist. Die Meßvorrichtung ist mittels einer Auswertelogik 20 zugeführt, in der unter Be-
rücksichtigung des Vergrößerungsfaktors V und des der gewählten Vergrößerung V des Meßmikroskopes
Rastermaßes R der Diodenzeile das effektive Längen- entsprechenden Faktors multipliziert, so daß eine der
maß L ermittelt wird. In Form von Zählimpulsen realen Meßgröße entsprechende und dieser propor-
wird das von der Auswertelogik ermittelte Zählmaß tionalen Impulsfolge entsteht. Diese Meßgrößeneiner
Anzeigevorrichtung 22 zugeführt, die z. B. An- 5 impulsfolge gelangt in den Zähler 22. Wie ersicht-
zeigeröhrchen 22' besitzt und die gemessene Breite L lieh, besitzt der Umrechner 32 eine Einstellhandhabe
in Ziffern anzeigt. Die Anzeigevorrichtung kann aber 35 zur Ermittlung der gewählten Vergrößerung des
auch aus einem Drucker, Bildschirm, Streifenlocher Meßmikroskopes. Die Ermittlung des Meßwertes ge-
od. dgl. bestehen. schieht wie folgt:
Die Diodenzeile trägt Flankendioden 17 und 17', io Bei einer Leiterbahn der Breite L als Meßobjekt
die nicht mit dem Schieberegister in Verbindung und einem Objektiv mit dem Vergrößerungsfaktor V
stehen. Ist z. B, das Meßmikroskop nicht hinreichend wird auf der Diodenzeile ein Bild
genau auf dem Meßobjekt ausgerichtet, so wird ent- B-VL (W
weder die linke oder die rechte Flankendiode vom * '
reflektierten Auflicht 13 des Meßobjektes beleuchtet. 15 abgebildet (Bild 1).
Die beiden Flankendioden besitzen in diesem Falle
ein unterschiedliches Beleuchtungspotent.al Entspre- kleinstmö Hche Auflösung und wird als Rastermaß R
chenduntersch.edl.ch s.nd auch ihre Signalspannun- bezeichnef Dadurch |t sich eine Anzahl def be_
gen. Diese Signalspannungen werfen einer Sensor- ,euchteten Dioden D
automatik 23 zugeführt, die beim Vorliegen von un- ao
terschiedlichen Signalspannungen — wie durch 24 D = (2)
angedeutet — den Zähler 22 auf Null zurückstellt. R Auch kann es vorkommen, daß das Meßobjekt 7 bei
der gewählten Vergrößerung V eine zu große Abbil- Setzt man Gleichung (1) in Gleichung (2) ein, erdung
B liefert. Die beiden Flankendioden liegen da- as hält man
her auf dem gleichen Belichtungspotential wie alle y. ^ Dioden der Diodenzeile 5. In diesem Falle wird über D = —-- (3) die Auswertelogik 20 der Zähler ebenfalls auf Null R zurückgestellt. Die Anzahl der beleuchteten Dioden ist ein Maß
her auf dem gleichen Belichtungspotential wie alle y. ^ Dioden der Diodenzeile 5. In diesem Falle wird über D = —-- (3) die Auswertelogik 20 der Zähler ebenfalls auf Null R zurückgestellt. Die Anzahl der beleuchteten Dioden ist ein Maß
Fig. 3 zeigt in Form eines Blockschaltbildes den 30 für die Leiterbahnbreite. Um eine Anzeige A in μσι
Datenfluß innerhalb des Meßgerätes. Die Dioden- zu bekommen, muß eine Meßwertkorrektur M erzeile
S wird mittelbar über das Schieberegister von folgen
einer Ansteuerelektronik 14 betrieben, die den zen- A = D-M (W
tralen Taktgenerator 18 beinhaltet. Die Impulse de?. *· '
Taktgenerators werden zunächst einer Diodenzeilen- 35 Löst man eine Gleichung (4) nach D auf und setzt
ansteuerung 26 zugeleitet und gelangen über einen Gleichung (3) und (4) gleich, erhält man
Ansteuerungspegelumsetzer 27 auf das hier nicht V-L A dargestellte Schieberegister der Diodenzeile 5. Mit = - (5)
dem Dateneingangsimpuls werfen die einzelnen Dioden auf eine Sammelleitung geschaltet; von den 40 Nachdem die Anzeige A gleich der Leiterbahneinzelnen
Dioden gelieferte Signale sind von der In- breite L ist, kann man L und A eleminieren. Nach
tensität der Beleuchtung abhängig. Aus den einzel- Umstellung erhält man dann nen Diodenspannungen setzt sich das sogenannte
Videosignal zusammen. Der das Videosignal lie- R = M ■ V = const. (6)
fernde Baustein besitzt einen sehr hohen Innenwider- 45
stand, so daß das Signal nicht unmittelbar vom Meß- Das Rastermaß R ist konstant und durch den Aufmikroskop
an die Auswertelogik 20 geführt werfen bau der Diodenzeile vorgegeben. Es beträgt in diekann.
Daher ist im Meßkopf 4 (Fig. 1) noch ein Sem Falle 100 μπι. Da der Vergrößerungsfaktor der
Impedanzwandler 28 vorgesehen. Das von der Di- Optik vom verwendeten Meßbereich abhängig ist,
odenzeile über den Impedanzwandler ausgegebene 50 muß somit dafür gesorgt werfen, daß mittels der
Spannungssignal gelangt — wie Pfeil 29 zeigt — in Meßwertkorrektur das Produkt M · V konstant geeinen
Meßpegelumsetzer 30 und von dort in einen halten wird. Für wahlweise zu verwendende MeB-Zählimpulse
liefernden Signalumformer 31. Die aus- köpfe mit unterschiedlichen Vergrößerungen ist am
gegebenen Zählimpulse entsprechen der Anzahl der Umrechner 32 der Schalter 35 zum Einstellen de?
beleuchteten Dioden. Die so ermittelte Zählgröße 55 entsprechenden Korrekturwertes M vorgesehen. Be
gelangt nunmehr in einen Impulsumsetzer und Um- einem vorgegebenen Rastermaß von z. B. 100 μη
rechner 32. Der Meßpegelumsetzer 30 besitzt eine und einer zehnfachen Vergrößerung ergibt Sich eir
mit einem Potentiometer in Verbindung stehende Multiplikationsfaktor von M = 10. Da jeder Impul·
Handhabe 33; sie dient zur Einstellung des Meß- der Impulsserie einer beleuchteten Diode entspricht
pegels — wie nachstehend noch näher erläutert. Dem 60 gibt der Umrechner für jeden Impuls zehn Zähl
Signalumformer werfen — wie durch 34 angedeu impulse an die Anzeigevorrichtung 22 weiter,
tet — Taktinipulse des zentralen Taktgenerators iS Die Anzeigevorrichtung besteht hier aus einen
zugeführt. Im Signalumformer wird das Videosignal dreistelligen Zähler 22' und einem Zwischenspeiche
mit dem Abtastimpuls der Ansteuerelektronik derart 36 zur flimmerfreien Anzeige. Der Zählerinhalt win
verknüpft, daß eine Impulsserie entsteht, die der An- 65 durch Ziffernröhrchen angezeigt. Die Abtastfrequen;
zahl der beleuchteten Dioden entspricht. Im Impuls- dieses Meßgerätes beträgt 500 Hz. Es wird kontinu
umsetzer bzw. Umrechner wird nunmehr die vom Si- ierlich gemessen, d. h. jeweils nach 2 ms liegt eil
gnalumformer gelieferte Impulsfolge mit einem, neuer Meßwert vor, solange sich ein meßbares Ob
-ψ
ίο
jekt im Gesichtsfeld befindet. Die Abtastfrequenz Meßbereich einer Leiterbahnoberfläche. Auf dei
kann je nach Anforderung im Prinzip variiert wer- Abszisse sind in steigender Folge die einzelnen Di-
den. öden E der Diodenzeile, hingegen auf der Ordinate
Die Flankendioden 17 und 17' der Diodenzeile die von den einzelnen Dioden abgegebene Spannung
stehen, wie durch Pfeil 37 angedeutet, mit einem 5 aufgetragen. Durch Streulicht liefern auch die an sich
Sensor-Pegelumsetzer 38 in Verbindung. Dieser unbeleuchteten Dioden — wie durch den Verlauf 43
Sensor-Pegelumsetzer besitzt ebenfalls eine Hand- dargestellt — eine bestimmte Spannung U. Das Aufhabe
39 zur Einstellung eines Potentiometers 40, mit- licht wird an den seitlichen Flanken des Meßobjektes
tels dessen der Signalpegel des von den Flanken- gestreut, so daß die an der Meßstrecke B benachbart
dioden gelieferten Spannungssignals einstellbar ist. io liegenden Dioden bereits eine höhere Spannung He-Diese
Sensorautomatik ermöglicht eine Feinstpositio- fern, wie bei 44 und 44' im Diagramm dargestellt,
nierung des Meßmikroskopes auf dem Meßobjekt. Die im Meßintervall B unmittelbar vom reflektierten
wobei ihre Aufgabe darin besteht, eine Meßanzeige Auflicht angeregten Dioden liefern wesentlich höhere
dann zu verhindern, wenn durch falsches Positio- Spannungen, wie bei 45 veranschaulicht. Die Lichtnieren
des Meßkopfes im Bereich des Meßobjektes 15 menge, mit der die einzelnen Dioden beaufschlagt
eine Fehlmessung entstehen könnte. Dies gilt auch werden, ist von der Beschaffenheit der Oberfläche
für eine Messung, bei der das Meßobjekt größer als des Meßobjektes im Meßbereich abhängig und entder
Meßbereich des Meßmikroskopes ist. Die Flan- sprechend davon die gemessenen Spannungen. Ist
kendioden 17 und 17' werden mit dem Eingangs- z. B. eine Leiterbahn innerhalb des Meßbereiches örtimpuls
des Schieberegisters aufgeladen und verhalten ao Hch begrenzt, durch eine Oxydation verunreinigt, so
sich wie die einzelnen Dioden der Diodenzeile. Ihre bewirkt das von der Fehlerstelle reflektierte Licht
Signale werden jedoch getrennt der Sensorautomatik eine entsprechend mindere Belichtung an einer der
zugeführt, wobei nur die in Höhe des Pegels liegen- Dioden. Es entsteht sodann ein merklicher Spanden
Spannungssignale an eine Sensorlogik 41 gelan- nungsabfall, entsprechend dem Einbruch bei 46 im
gen. In Verbindung mit dem Videosignal der Dioden as Diagramm. Der Sensorpegelumsetzer (Fig. 3, 38)
zeile werden die beiden von den Flankendioden ge- bestimmt den Meßpegel 47, in dem die Messung er-Heferten
Signale in der Sensorlogik ausgewertet. Je folgen soll. Während eines Abfragezyklusses Z der
nach dem Ergebnis der Signalauswertung wird — wie Diodenzeile erscheinen im Bereich des Pegels 45 vier
durch die Verbindungslinie 42 angedeutet — der Flanken, nämlich 48 und 49 sowie 50 und 51. Dies
Zwischenspeicher 36 angesteuert und eine Meßwert- 30 hat zur Folge, daß von der Sensorlogik 41, wie bei
ausgabe verhindert oder aber die Meßwertausgabe 24 angedeutet, ein Signal an den Zähler 36 gegeben
freigegeben. Bei einer Messung der Breite einer Lei- wird, wodurch der Zähler 22 auf Null zurückgesetzt
terbahn müssen die beiden Flankendioden unbe- wird. Ferner wird eine Anzeigevorrichtung 52 einleuchtet
bleiben. In diesem Falle wird der Zähler geschaltet. Wenn während eines Abfragezyklusses
über den Zwischenspeicher 36 freigegeben, in allen 35 nur zwei Flanken, nämlich 48 und 51 erscheinen,
anderen Fällen, z. B. wenn eine oder beide Flanken- wird die Messung für gut befunden. In diesem Falle
dioden beleuchtet sind, wird der Zähler gesperrt und gibt der Zwischenspeicher 36 die Ziffernanzeige frei,
die Anzeige auf Null zurückgesetzt. Für die Auswertung von Positiv- oder Negativ-
F i g. 4 zeigt ein Spannungsdiagramm der von den bildern befindet sich ein Umschalter an der Fronteinzelnen
Dioden der Diodenzeile gelieferten Span- 40 platte der Meßvorrichtung. Mittels des Umschalters
nungen beim Vorliegen, z. B. von Verunreinigungen, wird die Sensorautomatik 23 sowie die Auswertelogik
Oxydationen, aber auch von Beschädigungen im 20 von Hell- auf Dunkelfeldmessung umgeschaltet.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (7)
1. Meßmikroskop mit einer Auswertelogik und einer Anzeigevorrichtung zur fotoelektrischen
Messung linearer Größen, bei der der zu messende Bereich des Meßobjektes vergrößert und
in der Bildebene der Abbildungsoptik abgebildet und dort mittels eines Meßraster und Fotozelle
enthaltenden Video-Signalgebers in eine der linearen Größe des Meßobjektes entsprechenden
proportionalen Impulsfolge über einen Spannungspegelumsetzer an einen Zähler geführt ist,
dadurch gekennzeichnet, daß der Video-Signalgeber eine Fotodiodenzeile (S) mit
Schieberegister ist, deren einzelne Dioden (5') mit Ausnahme ihrer beiden Flankendioden (17, 17')
von einer einen Taktgeber (18) beinhaltenden Ansteuerelektronik (14) ansteuerbar sind und der
Video-Signalgeber mit einem Video-Pegelumsetzer (30) verbunden ist, der einen einstellbaren
Meßpegel aufweist, an dessen Ausgang einerseits ein die Zählimpulse liefernder Signalumformer
(31) mit Maßstabsumrechner (32) sowie der Zähler (22) und andererseits eine beim Vorliegen
eines Fehlers am Meßobjekt den Zähler zurückstellende und eine Anzeige (52) schaltende, mittels
eines Sensor-Pegelumseters (38) au! einen
Spannungspegel einstellbare und den Spannungspegel auf Einbrüche prüfende Sensorlogik (41)
angeschlossen ist.
2. Meßmikroskop nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausgänge der Flsnker.
dioden (17, 17') der Fotodiodenzeile (5) ebenfalls mit der die Sensorlogik (41) beinhaltenden Sensorautomatik
(23) verbunden sind.
3. Meßmikroskop nach Ansprüchen I und 2. dadurch gekennzeichnet, daß die Sensorautomatik
(23) einen mittels einer Handhabe (39) auf einen Spannungspegel (47) einstellbaren Sensor-Pegelumsetzer
(38/ aufweist.
4. Meßmikroskop nach Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Diodenzeilen-Spannungsmeßpegel
mittels einer am Videu-Pegelumsetzer (30) angebrachten Handhabe (33)
auf ein Meßpegel-Spannungspotential einstellbar ist.
5. Meßmikroskop nach Ansprüchen 1 bis 4. dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertelogik
von einer Hell- auf eine Dunkelfeldmessung umschaltbar ist.
6. Meßmikroskop nach Ansprüchen 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertelogik
(20) aus einem mit der Dioden/eile (5) verbundenen Video-Pegelumset^er (30). einem mit dem
Video-Pegelumsetzer verbundenen Signalumsetzer (31) sowie aus einem Umrechner und oder
Impulsumsetzer (32) besteht.
7. Meßmikroskop nach Ansprüchen 1 bis 6. dadurch gekennzeichnet, daß der Impulsumsetzer
(32) eine Handhabe (35) zur Einstellung des AIibildungsfaktors
(V) des Meßmikroskops aufweist.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19722211235 DE2211235C3 (de) | 1972-03-08 | 1972-03-08 | MeBmikroskop mit einer Auswertelogik und einer Anzeigevorrichtung zur fotoelektrischen Messung linearer Größen |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19722211235 DE2211235C3 (de) | 1972-03-08 | 1972-03-08 | MeBmikroskop mit einer Auswertelogik und einer Anzeigevorrichtung zur fotoelektrischen Messung linearer Größen |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2211235A1 DE2211235A1 (de) | 1973-09-20 |
| DE2211235B2 DE2211235B2 (de) | 1974-08-08 |
| DE2211235C3 true DE2211235C3 (de) | 1975-04-17 |
Family
ID=5838324
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19722211235 Expired DE2211235C3 (de) | 1972-03-08 | 1972-03-08 | MeBmikroskop mit einer Auswertelogik und einer Anzeigevorrichtung zur fotoelektrischen Messung linearer Größen |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE2211235C3 (de) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2516756A1 (de) * | 1975-04-16 | 1976-10-28 | Betr Forsch Inst Angew Forsch | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung einer flaechenabmessung in einer ebene |
| DE3432252A1 (de) * | 1984-09-01 | 1986-03-06 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Messmikroskop |
| DE3502406C2 (de) * | 1985-01-22 | 1987-04-23 | Dr. Peter + Steinwender Technische Geräte GmbH, 8176 Waakirchen | Verfahren und Einrichtung zur kontinuierlichen, berührungslosen Bestimmung der Länge eines ungeteilten, bewegten Körpers |
| JPS61217704A (ja) * | 1985-03-22 | 1986-09-27 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 線幅測定装置 |
-
1972
- 1972-03-08 DE DE19722211235 patent/DE2211235C3/de not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2211235B2 (de) | 1974-08-08 |
| DE2211235A1 (de) | 1973-09-20 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE2325457C3 (de) | Vorrichtung zum Messen der Dicke eines transparenten Objektes | |
| DE1810188C3 (de) | Vorrichtung zur Abstandsmessung | |
| DE2558392A1 (de) | Partikelanalysator | |
| DE2330415A1 (de) | Verfahren zum beruehrungslosen messen eines bewegten gegenstandes und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens | |
| DE1930111B2 (de) | Optische Vorrichtung zum Messen der Bewegung von gegeneinander bewegten Teilen | |
| DE2555975A1 (de) | Einrichtung zum feststellen bzw. ueberwachen der abmessung eines gegebenenfalls bewegten gegenstandes | |
| DE2847610A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur kontrolle der raender von bedrucktem material auf zentrierung des druckbildes in bezug auf den drucktraeger | |
| DE2506357A1 (de) | Vorrichtung zur messung einer extinktionsaenderung pro zeiteinheit | |
| DE19911654C1 (de) | Einrichtung zur Bestimmung der Geschwindigkeit und der Größe von Partikeln | |
| DE2847718A1 (de) | Vorrichtung zur gleichzeitigen fluchtungs- und richtungsmessung | |
| DE2059106C3 (de) | Verfahren und Hilfsvorrichtung zum selbsttätigen Messen von Strichbreiten oder Kantenabständen kleiner Objekte | |
| CH638724A5 (en) | Register mark evaluation device for sheets or webs printed by multicolour printing machines | |
| DE2335842B2 (de) | Vorrichtung zum Vergleich der spektralen Remission oder Transmission eines Prüflings und eines Standards | |
| DE2211235C3 (de) | MeBmikroskop mit einer Auswertelogik und einer Anzeigevorrichtung zur fotoelektrischen Messung linearer Größen | |
| DE3644866C2 (de) | ||
| DE3302948A1 (de) | Beruehrungslose optische abstandsmessung | |
| DE4027328A1 (de) | 3d-kamera zur erfassung von oberflaechenstrukturen, insbesondere fuer zahnmedizinische zwecke | |
| DE10118323A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Kontrolle des Füllstandes von bewegten, transparenten Behältern | |
| DE1588018B2 (de) | Einrichtung zur x,y-positionierung von kreuztischen | |
| DE2443791A1 (de) | Vorrichtung zur bestimmung mindestens einer koordinate der lage eines punktes | |
| DE3924290C2 (de) | ||
| DE3509871C2 (de) | Positionsmeßeinrichtung | |
| DE4337057A1 (de) | Entfernungsmessvorrichtung für eine Kamera | |
| DE1218169B (de) | Vorrichtung zum Pruefen der Wandstaerke von Glasrohren | |
| DE2537089B2 (de) | Anordnung zur messung des unterschiedes zwischen den farben einer farbprobe und eines farbmusters |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
| E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
| EF | Willingness to grant licences | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |