DE2140335C3 - Photometer - Google Patents
PhotometerInfo
- Publication number
- DE2140335C3 DE2140335C3 DE19712140335 DE2140335A DE2140335C3 DE 2140335 C3 DE2140335 C3 DE 2140335C3 DE 19712140335 DE19712140335 DE 19712140335 DE 2140335 A DE2140335 A DE 2140335A DE 2140335 C3 DE2140335 C3 DE 2140335C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- measuring
- photoelectric
- receiving device
- reference beam
- beam splitter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 4
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims 1
- 238000005375 photometry Methods 0.000 claims 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 239000000779 smoke Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Description
dessen Verstärkung mittels einer Regelschaltung in Abhängigkeit von der Amplitude des vom Referenzstrahl
abgeleiteten Signals regelbar ist, d a durch gekennzeichnet, daß die photoelektrische
Empfangseinrichtung zwei getrennte photoelektrische Wandler (14, 15) enthält, die in einem
gemeinsamen Gehäuse an der ersten bzw. zweiten Stelle angeordnet und jeweils von dem Meß- bzw.
Referenzstrahl (12 bzw. 13) in Form von Gleichlichtstrahlen beaufschlagt sind, und daß einer der
beiden photoelektrischen Wandler (14 bzw. 15) direkt und der andere über einen Zerhacker (32) an
den Verstärker (29) angeschlossen ist.
toelektrischer Wandler verwendet wird, indem ein Meß- und ein Vergleichsstrahl entweder abwechselnd
auf den photoelektrischen Wandler gegeben werden oder auch gleichzeitig jedoch mit unterschiedlichen
Frequenzen moduliert (DT-AS 17 72 064). Die Signale werden dann elektrisch voneinander getrennt, und es
wird aus ihnen der Quotient gebildet.
Bei einem bekannten Zweistrahl-Photometer mit nur einem photoelektrischen Wandler (DT-AS 12 81 170)
werden der Meß- und Referenzstrahl durch einen etwas gekippten Spiegel im Referenzstrahlengang an eng
benachbarte Stellen eines Modulators gelenkt, der aus
2. Photometer nach Anspruch !.dadurch gekenn- 35 einer Schwingblende besteht und Meß- und Referenz
zeichnet, daß der Zerhacker (32) in die Leitung von dem das Referenzsignal liefernden photoelektrischen
Wandler (15) zum Regelverstärker (29) eingeschaltet ist, und daß zwischen jeden der photoelektrischen
Wandler (14 bzw. 15) und den Regelverstärker (29) bzw. den Zerhacker (32) jeweils ein
Tiefpaß (30.31) eingeschaltet ist.
3. Photometer nach Anspruch 1. dadurch gekennzeichnet,
daß der Zerhacker (32) in die Leitung von strahl periodisch zeitlich nacheinander auf den photoelektrischen
Wandler lenkt. Die dadurch verursachten Lichtschwankungen werden durch den Empfänger in
elektrische Impulse umgewandelt, die gemeinsam über einen geregelten Wechselspannungsverstärker versiärkt
und anschließend mit Hilfe eines elektronischen Schalters phasenrichtig demoduliert werden. Dadurch
werden Meß- und Referenzkanal elektrisch getrennt. Durch Amplitudenvergleich der Vergleichsspannung
id i Rl
dem das Meßsignal liefernden photoelektrischen 45 mit einem Sollwert wird eir.e Regelspannung gewon-Wandler
(14) zum Regel verstärker (29) eingeschal nen. die die Verstärkung des gemeinsamen Wechsel
tet und der das Referenzsignal liefernde photoelektrische Wandler (15) über einen Tiefpaß (31) an den
() p
Regelverstärker (29) angeschlossen ist. h
spannungsverstärkers so regelt, daß die Vergleichsamplitude stets konstant bleibt. Die bekannten mit nur
einem photoelektrischen Wandler arbeitenden Photoi jh li hh h
4. Photometer nach einem der vorhergehenden 5° meter bedingen jedoch einen relativ hohen technischen
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß vor den photoelektrischen Wandlern (14, 15) Sammellinsen
(14a, 15a) angeordnet sind, die das auf sie konzentrierte Licht im zugeordneten photoelektrischen
Wandler (14,15) vereinigen.
5. Photometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß unmittelbar
vor den photoelektrischen Wandlern (14, 15) ein Korrekturfilter (IC) angeordnet ist.
Die Erfindung betrifft ein Zweistrahl-Photometer mit Aufwand und erfordern außerdem mechanisch ständig
in Bewegung befindliche Teile wie Schwingblenden, Lochscheiben od. dgl. Das Erfordernis derartiger Elemente
ist besonders bei solchen Photometern unangenehm, die monatelang ohne Wartung auskommen müssen,
wie dies beispielsweise bei an Kaminen angebrachten Rauchdichte-Meßgeräten der Fall ist.
Es sind auch schon Zweizellen-Photometer bekanntgeworden, bei denen mit der Vergleichszelle über einen
Servomotor eine verstellbare Blende auf Gleichheit der zu vergleichenden Lichtströme eingestellt wird. Die
mechanische Stellung der Blende ist dann ein Maß für die Transmission. Der Nachteil dieser bekannten Anordnung
besteht darin, daß auf Grund der mechani-
einer Lichtquelle, mit einem im Strahlengang der Licht- 65 sehen Regelung die Ansprechzeiten relativ gering sind,
quelle angeordneten Strahlenteiler zur Erzeugung eines Meß- und eines Referenzstrahles, mit einem im
Wege des Meßstrahls hinter einer Meßstrecke andie Beeinflussung der am Teilerspiegel reflektierten
bzw durch ihn hindurchgehenden Lichtstrahlen ungleich ist und bei veränderlichen Temperaturen die hei-
den Photozellen unterschiedlich beeinflußt werden.
Das Ziel der Erfindung besieht darin, ein Photometer
der eingangs genannten Gattung zu schaffen, das bei einem relativ geringen technischen Aufwand hinsichtlich
der mechanischen Teile und der elektronischen > Schaltung dennoch eine hohe Genauigkeit aufweist.
Zur Lösung dieser Aufgabe sie/it die Erfindung vor,
daß die photoelektrische Empfangseinrichtung zwei getrennte photoelektrische Wandler enthält, die in
einem gemeinsamen Gehäuse an der ersten bzw. zweiten Stelle angeordnet und jeweils von dem Meß- bzw.
Referenzstrahl in Form von Gleich'ichtstruhlen beaufschlagt
sind, und daß einer der beiden photoelektrischen
Wandler direkt und der andere über einen Zerhacker an den Verstärker angeschlossen ist.
Durch die Verwendung von zwei photoelektrischen Wandlern erübrigen sich mechanisch bewegte Teile im
optischen Strahlengang, wobei gleichwohl die hohen Anforderungen an die Temperaturkonstanz der beiden
photoelektrischen Wandler durch deren unmittelbare Nebeneinander-Anordnung in eine"i gemeinsamen Gehäuse
ebenfalls erfüllt werden. Auch die sich anschließende elektronische Schaltung ist von einfachem Aufbau,
weil insbesondere auf Maßnahmen zur Synchronisation und Korrektur mechanisch bewegter Teile sowie
zur Beseitigung eines unterschiedlichen Temperaturverhaltens der photoelektrischen Wandler verzichtet
werden kann. Auf diese Weise kann das erfindungsgemäße Photometer wirtschaftlich hergestellt werden
und auch über längere Zeiträume ohne Wartung auskommen.
Nach einer ersten vorteilhaften Ausführurgsform ist
vorgesehen, daß der Zerhacker in die Leitung von dem das Referenzsignal liefernden photoelektrischen Wandler
zum Regelverstärker eingeschaltet ist und daG zwisehen
jeden der photoelektrischen Wandler und den Regelverstärker bzw. den Zerhacker jeweils ein Tiefpaß
eingeschaltet ist. Die beiden Tiefpässe dienen dabei für die Ausfilterung des 100-Hz-Brumms, der durch die
Speisung dei Lichtquelle mit normalem Netzwechselstrom bedingt ist
Eine weitere Ausführungsform kennzeichnet sich dadurch, daß der Zerhacker in die Leitung von dem das
Meßsignal liefernden photoelektrischen Wandler zum Regelverstärker eingeschaltet und der das Referenzsignal
liefernde photoelektrische Wandler über einen Tiefpaß an den Regelverstärker angeschlossen ist. Der
bei dieser Ausführungsform vorgesehene Tiefpaß braucht nur dann vorgesehen zu sein, wenn die verwendete
Lichtquelle nicht stabilisiert ist.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung kennzeichnen sich dadurch, daß vor den photoelektrischen
Wandlern Sammellinsen angeordnet sind, die das auf sie konzentrierte Licht im zugeordneten photoelektrischen
Wandler vereinigen, sowie dadurch, daß unmittelbar vor den photoelektrischen Wandlern ein
Korrekturfilter angeordnet isL
Die Erfindung wird im folgenden beispielsweise an Hand der Zeichnung beschrieben; in dieser zeigt
F i g. 1 eine schematische Darstellung des Strahlenganges
eines Photometers,
F i g. 2 das Blockschaltbild einer dafür geeigneten Auswerteschaltung und
F i g. 3 ein Blockschaltbild einer weiteren möglichen Auswerteschaltung.
Mach F i g. 1 wird die Wendel einer z. B. vom Wechselstromnetz gespeisten Lichtquelle 11 durch eine Linse
23 in das Objektiv 25 abgebildet, das sich am Beginn der Meßstrecke 24 befindet. Am Ende der Meßstrecke
ist ein z. B. durch einen Tripelspiegel gebildeter Reflektor 18 aufgestellt, der das Meßstrahlenbündel 12 in sich
zurückwirft.
Zwischen Linse 23 und Objektiv 25 ist ein Teilerspiegel 17, /. B. ein halbdurchlässiger Spiegel, angeordnet,
welcher einen Teil des Lichtstrahlenbündels 16 nach oben zu einem sphärischen Spiegel 19 reflektiert.
Der zurückgeworfene Teil des Meßstiahles 12 wird ebenfalls am Teilerspiegel 17 teilreflektiert und gelangt
über eine Sammellinse 14a zu einem photoelektrischen Meßwandler 14.
Der Spiegel 19 ist so gekippt, daß das Vergleichsstrahlenbündel 13 nicht in sich selbst, sondern unter
einem kleinen Winkel zurückreflektiert wird. Es gelangt auf diese Weise zwar noch auf den Teilerspiegel
17, was wesentlich ist, nicht aber zum photoelektrischen Meßwandler 14. sondern über eine Sammellinse
15a zu einem dicht daneben angeordneten photoelekirischen Vergleichswand/er 15. Die Sammellinsen t4a.
15a sind nebeneinander angeordnet und es ist zwischen sie und die photoelektrischen Wandler 14. 15 ein Korrekturfilter
10 geschaltet. Beide photoelektrische Wandler 14, 15 sind also von Gleichlicht beaufschlagt.
Auf diese Weise durchlaufen Meß- und Vergleichsstrahl den Teilerspiegel 17 je einmal und werden je einmal
an ihm reflektiert. Die Beeinflussung beider Strahlen durch den Teilerspiegel ist also die gleiche.
Der Spiegel 19 ist derart sphärisch ausgebildet, daß das auf ihn fallende Licht auf die Sammellinse 15a und
damit auf den photoelektrischen Wandler 15 konzentriert wird. Der Spiegel 19 liegt unmittelbar neben dem
Teilerspiegel 17 auf der entgegengesetzten Seite wie die photoelektrischen Wandler 14, 15, so daß der Vergleichsstrahlengang
auf kleinem Raum untergebracht ist und nur ein Minimum an optischen Elementen erfordert.
Die an den Ausgängen der photoelektrischen Wandler 14, 15 erscheinenden elektrischen Gleichsignale
werden nach F i g. 2 an Tiefpässe 30,31 für die Ausfilterung
des 100-Hz-Brumms angelegt. Das Vergleichssignal wird außerdem noch über einen Zerhacker 32 mit
einer Frequenz von z. B. 1 kHz geleitet, um anschließend dem Regelverstärker 29 zugeführt zu werden.
Im Anschluß an den Regelverstärker 29 sind in der gezeigten Weise ein Tiefpaß 38. ein Hochpaß 39, ein
Demodulator 40, ein weiterer Tiefpaß 41 und ein Regler 42 angeordnet, welcher das Steuersignal für den Regelverstärker
29 liefert.
Die Schaltung nach F i g. 2 ist besonders für langsam veränderliche Meßsignale geeignet. Die Lampe 11
braucht hier nicht stabilisiert zu sein.
Die Schaltung nach F i g. 3 ist besonders für schnell veränderliche Meßsignale bestimmt. In diesem Falle ist
die Lampe stabilisiert, weswegen der Tiefpaß 31 für das Vergleichssignal nicht unbedingt vorgesehen sein muß.
Die Frequenz des mit dem Meßsignal beaufschlagten Zerhackers 32 soll möglichst hoch sein.
Im Anschluß an den Regelverstärker 29 sind in der dargestellten Weise ein Hochpaß 43, eine Signalverarbeitungsstufe
44, ein Tiefpaß 45 und ein Regler 46 angeordnet, der das Steuersignal für den Regelverstärker
29 liefert.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentansprüche:!. Zweistrahl-Photometer mit einer Lichtquelle, mit einem im Strahlengang der Lichtquelle angeordneten Strahlenteiler zur Erzeugung eines Meß- und eines Referenzstrahles, mit einem im Wege des Meßstrahls hinter einer Meßstrecke angeordneten Reflektor, durch den der Meßstrahl zum Strahlenteiler und von diesem zu einer ersten Stelle einer photoelektrischen Empfangseinrichtung reflektiert wird, mit einem Spiegel im Wege des vom Strahlteiler ausgehenden Referenzstrahls, der so angeordnet ist, daß der Referenzstrahl durch den geordneten Reflektor, durch den der Meßstrahl zum Strahlenteiler und von diesem zu einer ersten Stelle einer photoelektrischen Empfangseinrichtung reflektiert wird, mit einem Spiegel im Wege des vom Strahlteiler ausgehenden Referenzstrahls, der so angeordnet ist daß der Referenzstrahl durch den Strahlenteiler hindurch zu einer zweiten, der ersten Stelle nahe benachbarten Stelle der photoelektrischen Empfangseinrichtung reflektiert wird, und mit einer an die photoelektrische Empfangseinrichtung angeschlossenen Auswerteschaltung, die einen für die von Meß- und Referenzstrahl abgeleiteten elektrischen Signale gemeinsamen Verstärker besitzt, dessen Verstärkung mittels einer Regelschaltung in Abhängigkeit von der Amplitufhl bli SilStrahlenteiler hindurch zu einer zweiten, der ersten 15 de des vom Referenzstrahl abgeleiteten Signals regelbar ist.Bei genauen photometrischen Messungen tritt gewöhnlich das Problem der Kompensation von Lichtquelle und photoelektrischem Wandler gegen Tempe-die von Meß- und Refei enzstrahl abgeleiteten elek- 20 ratur- und Spannungsänderungen sowie gegen Altetrischen Signale gemeinsamen Verstärker besitzt, rung auf. Zur Lösung dieses Problems sind bereitsZweisirah)-Verfahren bekannt, bei denen nur ein pho-Stelle nahe benachbarten Stelle der photoelektrischen Empfang'seinrichtung reflektiert wird, und mit einer an die photoelektrische Empfangseinrichtung angeschlossenen Auswerteschaitung, die einen für
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19712140335 DE2140335C3 (de) | 1971-08-11 | Photometer | |
| US00277615A US3790290A (en) | 1971-08-11 | 1972-08-03 | Single modulated light beam photometer |
| CH1154372A CH549206A (de) | 1971-08-11 | 1972-08-03 | Photometer. |
| IT27913/72A IT963763B (it) | 1971-08-11 | 1972-08-04 | Fotometro |
| FR7228791A FR2148576B1 (de) | 1971-08-11 | 1972-08-09 | |
| GB3756272A GB1387607A (en) | 1971-08-11 | 1972-08-11 | Photometer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19712140335 DE2140335C3 (de) | 1971-08-11 | Photometer |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2140335A1 DE2140335A1 (de) | 1973-02-22 |
| DE2140335B2 DE2140335B2 (de) | 1976-01-02 |
| DE2140335C3 true DE2140335C3 (de) | 1976-08-05 |
Family
ID=
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE3524368C2 (de) | ||
| EP0101474A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der refraktion | |
| DE3207479C2 (de) | ||
| DE2847718A1 (de) | Vorrichtung zur gleichzeitigen fluchtungs- und richtungsmessung | |
| DE2733081A1 (de) | Schaltungsanordnung zum messen von zahnauslenkungen | |
| DE2140335C3 (de) | Photometer | |
| DE2636769B1 (de) | Vorrichtung zur messung der geschwindigkeit und/oder der bewegungsrichtung einer bildstruktur | |
| EP0255552A1 (de) | Verfahren und Anordnung zur berührungslosen Messung von Längenänderungen an Bauteilen | |
| EP0165325A1 (de) | Verfahren und Einrichtung zur akustischen Kontrolle von Justiervorgängen an optischen Vorrichtungen | |
| DE2140335B2 (de) | Photometer | |
| DE2804975A1 (de) | Vorrichtung zum messen der porositaet einer bewegten bahn aus papier oder einem aehnlichen luftdurchlaessigen material | |
| DE2221894C2 (de) | Einrichtung zur Geschwindigkeitsmessung aufgrund der Dopplerfrequenzverschiebung einer Meßstrahlung | |
| DE2719214A1 (de) | Verfahren zum selbsttaetigen fokussieren eines kameraobjektives sowie vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens | |
| DE1218169B (de) | Vorrichtung zum Pruefen der Wandstaerke von Glasrohren | |
| DE3838820C2 (de) | ||
| DE2745011C2 (de) | Farbpyrometer | |
| DE1623131B1 (de) | Vorrichtung zur Überwachung von Verfahren zur Oberflächenbehandlung optischer Gläser in geschlossenen Behältern | |
| DE3322713A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur laufenden messung des rollwinkels eines beweglichen maschinenteiles | |
| DE2218536A1 (de) | Truebungsmessgeraet fuer gase und fluessigkeiten | |
| DE10162180A1 (de) | Interferometrische Messvorrichtung | |
| CH278323A (de) | Strahlungstemperaturmessgerät. | |
| DE691441C (de) | Photoelektrischer Polarisationsapparat | |
| DE1623131C (de) | Vorrichtung zur Überwachung von Ver fahren zur Oberflachenbehandlung optischer Glaser in geschlossenen Behaltern | |
| DE1808054C2 (de) | Einrichtung zur beruehrungslosen Messung der Bewegung eines Objekts | |
| DE2033290A1 (en) | Self testing analyzer - esp dual beam infra red gas-analyzer |