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DE202009017866U1 - Schaltungsanordnung mit einem Leistungshalbleiterbauelement und einem Verbindungspartner - Google Patents

Schaltungsanordnung mit einem Leistungshalbleiterbauelement und einem Verbindungspartner Download PDF

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DE202009017866U1
DE202009017866U1 DE202009017866U DE202009017866U DE202009017866U1 DE 202009017866 U1 DE202009017866 U1 DE 202009017866U1 DE 202009017866 U DE202009017866 U DE 202009017866U DE 202009017866 U DE202009017866 U DE 202009017866U DE 202009017866 U1 DE202009017866 U1 DE 202009017866U1
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Semikron Elektronik GmbH and Co KG
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    • H10W72/00
    • H10W72/851
    • H10W70/688
    • H10W72/931
    • H10W90/732

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  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)

Abstract

Schaltungsanordnung mit einem ersten Leistungshalbleiterbauelement (10) und einem Verbindungspartner (30) gebildet aus einem Halbleiterkörper, wobei das erste Leistungshalbleiterbauelement (10) mindestens einen ersten Kontaktbereich (12, 14, 16) aufweist, auf dem eine erste Schicht aus Black Silicon (40, 44, 48) angeordnet ist, der Verbindungspartner (30) einen zweiten Kontaktbereich (32) aufweist, auf dem ebenfalls eine Schicht aus Black Silicon (42, 46) angeordnet ist und wobei jeweils eine erste (40, 44, 48) und zweite Schicht (42, 46) aus Black Silicon miteinander verzahnt sind und eine kraftschlüssige elektrisch leitfähige Verbindung mit einem Übergangswiderstand von weniger als 50 Ohm ausbildet.

Description

  • Die Erfindung beschreibt eine Schaltungsanordnung, die gebildet wird aus wenigstens einem Leistungshalbleiterbauelement und einem weiteren Verbindungspartner, der ebenfalls ein Leistungshalbleiterbauelement sein kann. Derartige Verbindungen sind allgemein aus Leistungshalbleitermodulen bekannt und dienen dort vornehmlich der schaltungsgerechten Verbindung dieser Leistungshalbleiterbauelemente.
  • Aus der DE 40 13 435 A1 ist grundsätzlich ein Leistungshalbleiterbauelement mit einer MESA Randstruktur bekannt bei dem wie auch bei planaren Leistungsbauelementen üblich auf den Kontaktbereichen eine ein- oder mehrschichtige Metallisierung vorgesehen ist. Diese Metallisierung dient der externen elektrisch leitfähigen Verbindung des Leistungshalbleiterbauelements mit den weiteren Leistungshalbleiterbauelementen, mit Leiterbahnen eines Substrats oder einer verschiedenartig ausgestalteten Verbindungseinrichtung.
  • Derartige Metallisierungen sind meist als Mehrschichtkontakte ausgebildet um einerseits eine ausreichende Haftung auf dem Halbleiterkörper des Leistungshalbleiterbauelements zu gewährleisten und anderseits eine Oberfläche zur Verfügung zu stellen, die mit bekannten stoffschlüssigen Verbindungstechniken kompatibel ist. Metallisierungen aus einer Mehrzahl von metallischen Schichten unterschiedlicher Metalle erfüllen diese Aufgabe.
  • Kraftschlüssige Verbindungen von Leistungshalbleiterbauelementen sind aus sog. druckkontaktierten Leistungshalbleitermodulen bekannt, wie sie beispielhaft in der DE 196 51 632 A1 offenbart sind. Dort werden Leistungshalbleiterbauelement mit weiteren metallischen Verbindungspartnern elektrisch leitend verbunden indem mittels einer Druckeinrichtung von außen auf die zu verbindenden Komponenten Druck ausgeübt wird.
  • Weiterhin ist vorzugsweise aus der Mikrosystemtechnik bekannt verschieden Komponenten mittels sog. „Black Silicon” miteinander zu verbinden. Hierbei handelt es sich um eine nadelartige Oberflächenstruktur von Silizium mit einer Nadeldicke von weniger als 1 μm und einer Länge von mindestens 5 μm und eine bevorzugten Anordnung von mehr als 100.000 Nadeln pro Quadratmilimeter.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zu Grunde eine Schaltungsanordnung mit einem Leistungshalbleiterbauelement und einem Verbindungspartner vorzustellen, wobei deren Verbindung kraftschlüssig ausgebildet ist und ohne externe Druckeinrichtung ausbildbar ist.
  • Diese Aufgabe wird gelöst durch eine Schaltungsanordnung gemäß Anspruch 1, wobei spezielle Ausgestaltungen in den abhängigen Ansprüchen genannt sind.
  • Die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung besteht zumindest aus einem ersten Silizium-Leistungshalbleiterbauelement und einem Verbindungspartner, der ebenfalls aus einem Silizium-Halbleiterkörper gebildet ist. Hierbei weist das erste Leistungshalbleiterbauelement mindestens einen ersten Kontaktbereich auf, auf dem eine erste Schicht aus Black Silicon angeordnet ist. Die einzelnen nadelartigen Fortsätze des Siliziumgrundkörpers des Leistungshalbleiterbauelements werden durch geeignete Herstellungsverfahren, wie beispielhaft die Erzeugung mittels hochenergetischen Laserstrahlen oder mittels reaktivem Ionenätzen, direkt aus dem Siliziumgrundkörper heraus ausgebildet.
  • Da der Siliziumgrundkörper eines Leistungshalbleiterbauelements in der Regel mehrere Dotierungen zur Ausbildung mindestens eines p-n-Übergangs aufweist sind die jeweiligen Kontaktbereiche an der Oberfläche des Siliziumgrundkörpers in einem Gebiet einer zugeordneten Dotierung angeordnet. Es ist vorteilhaft die Dotierungskonzentration dieser Dotierung vor der Ausbildung der Schicht aus Black Silicon nicht oder um nicht mehr als zwei Größenordnungen zu verändern.
  • Der Verbindungspartner kann nur einen zweiten oder auch eine Mehrzahl von zweiten Kontaktbereich aufweisen, wobei auf mindestens einem dieser zweiten Kontaktbereiche ebenfalls eine Schicht aus Black Silicon angeordnet ist. Auch hier ist es vorteilhaft um eine ausreichende elektrische Leitfähigkeit sicherzustellen, dass der Siliziumhalbleiterkörper n- oder p-dotiert ist. Folglich sollte auch die zweite Schicht aus Black Silicon eine gleiche Dotierung mit annähernd gleicher Dotierungskonzentration aufweisen wie der Siliziumhalbleiterkörper im zugeordneten zweiten Kontaktbereich.
  • Erfindungsgemäß sind die erste und zweite Schicht aus Black Silicon des ersten Leistungshalbleiterbauelements und seines Verbindungspartners miteinander verzahnt, indem die nadelartigen Fortsätze ineinander greifen. Somit wird eine kraftschlüssige elektrisch leitfähige Verbindung mit einem Übergangswiderstand von weniger als 50 Ohm ausgebildet.
  • Eine besonders vorteilhafte Ausgestaltung der Schaltungsanordnung ergibt sich, wenn der Verbindungspartner ein zweites Leistungshalbleiterbauelement ist. Dies ist speziell dann vorteilhaft, wenn das erste Leistungshalbleiterbauelement ein Transistor und das zweite Leistungshalbleiterbauelement eine Diode ist und der Emitter des Transistors mit der Anode der Diode mittels der jeweiligen Schichten aus Black Silicon kraftschlüssig elektrisch leitend miteinander verbunden sind. Hierdurch ergibt sich somit eine gestapelte Antiparallelschaltung der beiden Leistungshalbleiterbauelemente die häufiger Bestandteil der Schaltung eines Leistungshalbleitermoduls ist.
  • Eine weitere besonders vorteilhafte Ausgestaltung der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung ergibt sich, wenn der Verbindungspartner einen weiteren Kontaktbereich aufweist, der eine ein- oder mehrschichtige Metallisierung aufweist. Hierbei sollten die beiden Kontaktbereiche des Verbindungspartners die gleiche n- oder p-Dotierung aufweisen. Ebenso sollte der erste Kontaktbereich des Leistungshalbleiterbauelements mit dem der zweite Kontaktbereich des Verbindungspartners verbunden ist die gleiche n- oder p-Dotierung aufweisen.
  • Weiterhin bevorzug ist es, wenn die Metallisierung des weiteren Kontaktbereichs eine stoffschlüssige elektrisch leitende Verbindung zu einer Verbindungseinrichtung aufweist. Hierbei kann diese stoffschlüssige Verbindung als eine Drahtbond-, eine Lot- oder eine Drucksinterverbindung ausgebildet sein. Mit einer bevorzugten Ausgestaltung der Verbindungseinrichtung als eine flexible Isolierstoffschicht mit darauf ausgebildeten voneinander elektrisch isolierten Leiterbahnen ergibt sich so eine sehr kompakte Schaltungsanordnung.
  • Ein besonderer Vorteil der genannten erfindungsgemäßen Ausgestaltungen der Schaltungsanordnung ist es, dass das Leistungshalbleiterbauelement und sein Verbindungspartner eine reversible kraftschlüssige Verbindung ausbilden. Hierdurch ergeben sich für mittels dieser Schaltungsanordnung ausgebildete Leistungshalbleitermodule in einem gewissen technisch und wirtschaftlich sinnvollen Rahmen verschiedenartige Reparaturmöglichkeiten.
  • Die Erfindung wird anhand von Ausführungsbeispielen in Verbindung mit den 1 bis 3 näher erläutert.
  • 1 zeigt eine grundlegende Ausgestaltung der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung.
  • 2 zeigt eine erfindungsgemäße Schaltungsanordnung mit einem Transistor und einer antiparallel geschalteten Diode
  • 3 zeigt eine weitere erfindungsgemäße Schaltungsanordnung in einer komplexeren Ausgestaltung.
  • 1 zeigt eine grundlegende Ausgestaltung der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung. Dargestellt ist ein erstes Leistungshalbleiterbauelement (10), hier in Ausgestaltung eines Leistungstransistors mit einer Emitter- (12) einer Kollektor- (16) und einer Gateanschlussfläche (14). Diese Anschlussflächen (12, 14, 16) bilden die ersten Kontaktbereiche des Leistungstransistors (10) aus. Derartige Kontaktbereiche sind gemäß dem Stand der Technik als ein- oder mehrschichtige Metallkontakte ausgebildet.
  • Erfindungsgemäß ist eine ersten Kontaktbereich des Leistungstranistors, hier die Emitteranschlussfläche, nicht mit einem Metallkontakt ausgebildet, sondern mit eine Oberflächenstruktur, einer Schicht, aus Black Silicon (40), die vorzugsweise direkt aus dem Halbleiterkörper Leistungstransistors (10) gebildet ist und somit auch die gleiche Dotierung und Dotierungskonzentration aufweist.
  • Weiterhin dargestellt ist ein Verbindungspartner (30) der hier mit dem Leistungstransistor (10), genauer mit dessen Emitteranschlussfläche (12), verbunden werden soll. Dieser Verbindungspartner (30) besteht in der allgemeinsten Form aus einem dotierten Halbleiterkörper, wobei diese Dotierung vorzugsweise identisch ist mit derjenigen der zu verbindenden ersten Kontaktfläche (12) des Leistungstransistors (10). Dieser Verbindungspartner (30) weist einen zweiten Kontaktbereich (32) auf, auf dem ebenfalls eine Schicht aus Black Silicon (42) angeordnet ist, die vorzugsweise ebenfalls aus dem Halbleiterkörper heraus gebildet wurde.
  • Zur reversiblen Verbindung des Leistungstransistors (10) und des Verbindungspartners (30) sind diese derart zueinander angeordnet, dass die erste und zweite Schicht aus Black Silicon (40, 42) miteinander verzahnt sind. Hieraus ergibt sich eine kraftschlüssige, elektrisch leitfähige Verbindung mit einem bevorzugten Übergangswiderstand von weniger als 0,5 Ohm. Besonders durch die gleichartige Dotierung der des jeweiligen ersten und zweiten Kontaktbereichs (12, 32) ergibt sich diese stabile und ausreichend leitfähige Verbindung.
  • 2 zeigt eine erfindungsgemäße Schaltungsanordnung mit einem Leistungstransistor (10), wobei der Verbindungspartner (30) ein zweites Leistungshalbleiterbauelement ist. Dieses zweite Leistungshalbleiterbauelement ist in diesem Fall eine Leistungsdiode. Eine typische Anwendung derartiger Leistungsdioden (30) ist die einer antiparallel zu einem Leistungstransistor geschalteten Freilaufdiode. Eine ebensolche ist hier dargestellt, wobei die Anode (32) der Leistungsdiode (30) mit dem Emitter (12) des Leistungstransistors (10) verbunden ist.
  • Erfindungsgemäß ist diese Verbindung ausgebildet als eine kraftschlüssige reversible Verbindung der jeweiligen Kontaktbereiche (12, 32) der beiden Leistungshalbleiterbauelement, wobei jeder Kontaktbereich (12, 32) eine Schicht aus Black Silicon (40, 42) aufweist. Zur Verbindung sind diese beiden Schichten (40, 42) miteinander verzahnt, wodurch sich eine gestapelte Antiparallelschaltung der Leistungshalbleiterbauelemente (10, 30) ergibt.
  • Die dargestellte Schaltungsanordnung in Form der elektrisch leitenden Verbindung des Leistungstransistors (10) und der Leistungsdiode (30) ist selbstverständlich erweiterbar auf verschiedene Ausgestaltungen von Verbindungen gleicher oder unterschiedlicher Leistungshalbleiterbauelemente miteinander.
  • 3 zeigt eine weitere erfindungsgemäße Schaltungsanordnung in einer komplexeren Ausgestaltung. Dargestellt ist wiederum ein Leistungstransistor (10) als erstes Leistungshalbleiterbauelement. Hierbei sind allerdings alle ersten Kontaktbereiche, die Emitter- (12), die Kollektor- (16) und die Gateanschlussfläche (14), mit einer Schicht aus Black Silicon (40, 44, 48) ausgebildet. Mit den Schichten aus black Silicon (40, 44) der Kontaktbereichen der Emitter- (12) und der Gateanschlussfläche (14) ist jeweils ein Verbindungspartner (30) ebenfalls mit Schichten aus Black Silicon (42, 46), wie in 1 noch beabstandet dargestellt, verbunden.
  • Die jeweiligen Verbindungspartner (30) weisen an ihrer dem zweiten Kontaktbereich (32) gegenüberliegenden Seite einen weiteren Kontaktbereich (36) zur stoffschlüssige Verbindung (60) zu einer Verbindungseinrichtung (50) auf, die ihrerseits als eine flexible Isolierstoffschicht (56) mit beidseitig darauf angeordneten voneinander elektrisch isolierten Leiterbahnen (52, 54) ausgebildet ist. Die elektrisch leitfähige stoffschlüssige Verbindung (60) ist als eine Drahtbond-, eine Lot- oder bevorzugt als eine Drucksinterverbindung ausgebildet. Hierzu weist der weitere Kontaktbereich (36) eine ein- oder mehrschichtige Metallisierung auf. Es ist offensichtlich bevorzugt erst die stoffschlüssigen Verbindungen (60) innerhalb der Schaltungsanordung auszubilden und anschließend die kraftschlüssigen Verbindungen mittels Black Slicon (40, 42, 44, 46, 48) auszubilden.
  • Die wesentlichen Vorteile der erfindungsgemäßen Schaltungsanordungen ist, dass zur Ausbildung der kraftschlüssigen Verbindung kein Temperartureintrag notwendig ist sowie dass eine hohe Posititoniergenauigkeit erreicht wird, wie sie beispielhaft beim Einsatz von Lotverfahren nicht gegeben ist. Zudem wird die Reihenfolge der Anordnung der einzelnen Verbindungspartner der kraftschlüssigen Verbindungen durch die Verbindungstechnologie nicht vorgegeben.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • - DE 4013435 A1 [0002]
    • - DE 19651632 A1 [0004]

Claims (9)

  1. Schaltungsanordnung mit einem ersten Leistungshalbleiterbauelement (10) und einem Verbindungspartner (30) gebildet aus einem Halbleiterkörper, wobei das erste Leistungshalbleiterbauelement (10) mindestens einen ersten Kontaktbereich (12, 14, 16) aufweist, auf dem eine erste Schicht aus Black Silicon (40, 44, 48) angeordnet ist, der Verbindungspartner (30) einen zweiten Kontaktbereich (32) aufweist, auf dem ebenfalls eine Schicht aus Black Silicon (42, 46) angeordnet ist und wobei jeweils eine erste (40, 44, 48) und zweite Schicht (42, 46) aus Black Silicon miteinander verzahnt sind und eine kraftschlüssige elektrisch leitfähige Verbindung mit einem Übergangswiderstand von weniger als 50 Ohm ausbildet.
  2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, wobei der Verbindungspartner (30) in seinem zweiten Kontaktbereich (32) sowie die erste (40, 44, 48) und die zweite Schicht (42, 46) aus Black Silikon eine n- oder p-Dotierung aufweisen.
  3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 2, wobei die jeweilige Schicht (40, 42, 44, 46, 48) aus Black Silicon die gleiche Dotierung aufweist wie der jeweils zugeordnete Kontaktbereich (12, 14, 16, 32) und die Dotierungskonzentration der Schicht um nicht mehr als zwei Größenordnungen von der Dotierungskonzentration des zugeordneten Kontaktbereichs abweicht.
  4. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, wobei der Übergangswiderstand geringer als 0,5 Ohm ist.
  5. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, wobei der Verbindungspartner (30) ein zweites Leistungshalbleiterbauelement ist.
  6. Schaltungsanordnung nach Anspruch 5, wobei das erste Leistungshalbleiterbauelement (10) ein Transistor und das zweite Leistungshalbleiterbauelement eine Diode ist und der Emitter (12) des Transistors (10) mit der Anode (32) der Diode (30) mittels jeweiliger Schichten (40, 42) aus Black Silicon kraftschlüssig elektrisch leitend miteinander verbunden sind und somit eine gestapelte Antiparallelschaltung der beiden Leistungshalbleiterbauelemente ausgebildet ist.
  7. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, wobei der Verbindungspartner (30) einen weiteren Kontaktbereich (36) aufweist, der eine ein- oder mehrschichtige Metallisierung aufweist und diese Metallisierung eine stoffschlüssige elektrisch leitende Verbindung (60) zu einer Verbindungseinrichtung (50) aufweist.
  8. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, wobei die stoffschlüssige Verbindung (60) eine Drahtbond-, eine Lot- oder eine Drucksinterverbindung ist.
  9. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, wobei die Verbindungseinrichtung (50) als eine flexible Isolierstoffschicht mit (56) darauf angeordneten voneinander elektrisch isolierten Leiterbahnen (52, 54) ausgebildet ist.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4013435A1 (de) 1989-05-31 1990-12-06 Siemens Ag Halbleiterbauelement mit passivierungsschicht
DE19651632A1 (de) 1996-12-12 1998-06-18 Semikron Elektronik Gmbh Leistungshalbleitermodul

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DE4013435A1 (de) 1989-05-31 1990-12-06 Siemens Ag Halbleiterbauelement mit passivierungsschicht
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