DE2012946A1 - Device for determining the distance of an object in relation to a defined position by means of radiation emitted by a transmitter - Google Patents
Device for determining the distance of an object in relation to a defined position by means of radiation emitted by a transmitterInfo
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Description
PHN.PHN.
j_ 3954 j _ 3954
Anmeldung vom« 17 .Mär Z 1970Registration from “March 17, 1970
"Vorrichtung zur Bestimmung des Abstandes eines Gegenstandes in bezug auf eine definierte Lage mittels einer von einem Sender ausgesandten Strahlung!1."Device for determining the distance of an object in relation to a defined position by means of radiation emitted by a transmitter! 1 .
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Bestimmung des Abstandes eines Gegenstandes in bezug auf eine definierte Lage mittels einer von einem Sender ausgesandten Strahlung,die nach der Wechselwirkung mit dem Gegenstand einem Empfänger zugeführt wird.The invention relates to a device for determining the distance of an object with respect to a defined position by means of a radiation emitted by a transmitter, which after the interaction with the object is fed to a receiver.
Eine solche Vorrichtung ist bekannt. In der bekannten Vorrichtung wird die Strahlung in Form von Impulsen ausgesandt und wird der Zeitpunkt der dem Empfänger zugeführten Impulse mit dem Zeitpunkt der ausgesandten Impulse verglichen. Von diesen Zeitpunktten und der Geschwindigkeit der Strahlung in dem Medium, in dem die Strahlung sich fortpflanzt, lässt sich der zu messende Abstand ableiten» Der Nachteil der bekannten Vorrichtung ist der, dass die Zeitpunkte äusserst genau gemessen werden sollen, wenn derSuch a device is known. In the well-known Device receives radiation in the form of pulses sent out and the point in time of the pulses supplied to the receiver with the point in time of the transmitted pulses compared. From those times and the speed the radiation in the medium in which the radiation is propagates, the distance to be measured can be derived »The disadvantage of the known device is that the Points in time should be measured extremely precisely if the
0098407144400984071444
BAD ORIGINALBATH ORIGINAL
Abstand sehr genau gemessen werden soll. Eine verwickelte Apparatur ist in diesem FaILe unentbehrlich.Distance should be measured very precisely. An intricate apparatus is indispensable in this case.
Die Erfindung bezweckt, diesen Nachteil zu beheben, Sie ist dadurch gekennzeichnet, dass die Frequenc der vom Sender ausgesandten Strahlung um einen mittleren Wert schwankt, welche Strahlung um einen mittleren Wert schwankt, welche Strahlung einem Interferometer zugeführt wird, das in einem der zwei Arme einen mit dem Gegenstand mechanisch fest verbundenen Reflektor enthält.The invention aims to overcome this disadvantage. It is characterized in that the frequencies of the Radiation emitted by the transmitter fluctuates around a mean value, which radiation fluctuates around a mean value, which Radiation is fed to an interferometer that has one of the two arms that is mechanically fixed to the object Includes reflector.
Es ist vorteilhaft, einen ein polarisiertesIt is beneficial to have a polarized one
Strahlungsbündel emittierenden Sender anzuwenden und in einem der Arme des Interferometers eine (n + 1) \/h Platte (n = ganze Zahl) aufzunehmen. Es werden dann zwei zueinander orthogonal polarisierte Teilbündel auf den Empfänger gerichtet, so dass genaue Messungen ermöglicht werden. Dank der Modulation des Polarisationszustandes sind genaue Messungen möglich, da der Abstand von dem Polarisationszustand der aus dem Interferometer heraustretenden und dem Empfänger zugeführten Strahlung abgeleitet wird. Dieser Polarisationszustand ist wenig empfindlich für Störungen.Apply radiation beam emitting transmitter and in one of the arms of the interferometer take a (n + 1) \ / h plate (n = integer). Two sub-bundles, polarized orthogonally to one another, are then directed at the receiver so that precise measurements are made possible. Thanks to the modulation of the polarization state, precise measurements are possible, since the distance is derived from the polarization state of the radiation emerging from the interferometer and fed to the receiver. This polarization state is not very sensitive to disturbances.
Gemäss einem vorteilhaften Merkmal der Erfindung werden zwei Strahlungsbündel ausgesandt, deren Frequenzunterschied um einen Mittelwert schwankt. Dies ermöglicht, bei der Verarbeitung der im Empfänger erzeugten elektrischen Signale einen einfacheren elektrischen Kreis zu verwenden.According to an advantageous feature of the invention two bundles of radiation are emitted, the frequency difference of which fluctuates around a mean value. This enables Processing of the electrical signals generated in the receiver to use a simpler electrical circuit.
Die Erfindung wird an Hand der Zeichnung beispielsweise näher erläutert, die in Fig. 1 eine erste Aus-The invention is explained in more detail with reference to the drawing, for example, which shows a first embodiment in FIG.
BAD ORlGiNAlBAD ORlGiNAl
009840/UU WNAL 009840 / UU WNAL
-3- PHN. 395h -3- PHN. 395h
führungsform eines Abstandsmeters nach der Erfindung und in Fig. 2 eine zweite Ausführungsform darstellt.management form of a distance meter according to the invention and in Figure 2 illustrates a second embodiment.
Nach Fig. 1 trifft das aus der StrahlungsquelleAccording to Fig. 1, this occurs from the radiation source
stammende Strahlungsbündel den isotropen Teilenspiegel 3 eines Interferometers. Das am Teilspiegel reflektierte Teilbündel wird von einem retrodirektiven Element 11 reflektiert, das aus der Linse k und dem in der Brennebene der Linse angeordneten Hohlspiegel 5 besteht. Das retrodirektive Element 11 befindet sich in einem verhältriismässig kurzen Abstand von dem Teilspiegel 2. ,radiation beam originating from the isotropic partial mirror 3 of an interferometer. The partial bundle reflected on the partial mirror is reflected by a retrodirective element 11, which consists of the lens k and the concave mirror 5 arranged in the focal plane of the lens. The retro-directional element 11 is located at a relatively short distance from the partial mirror 2.,
Das von dem Teislpiegel durchgelassene Teilbündel wird an einem retrodirektiven Element 12 reflektiert, das aus der Linse 6 und dem in deren Brennebene angeordneten Hohlspiegel .7 besteht. Das retrodirektive Element 12 befindet sich in einem verhältnxsmässig grossen Abstand von dem Teilspiegel 3 und ist starr mit dem (nicht dargestellten) Gegenstand verbunden, dessen Abstand von einem definierten Punkt gemessen werden soll. Dieser in der Ebene 2 liegende Punkt befindet sich in einem optischen Abstand vom Teilspiegel 3 gleich dem optischen Abstand des Elementes 11 von dem Teilspiegel.The partial bundle let through by the partial mirror is reflected on a retrodirective element 12, which from the lens 6 and the concave mirror arranged in their focal plane .7 consists. The retro-directive element 12 is located at a relatively large distance from the partial mirror 3 and is rigidly connected to the object (not shown), its distance from a defined point should be measured. This point on level 2 is the same at an optical distance from the partial mirror 3 the optical distance of the element 11 from the partial mirror.
Das am retroduktiven Element 11 reflektierteThat reflected on the retro-productive element 11
Bündel wd,rd. vom Teilspiegel, 3 teilweise zum strahlungsempfindlichen Element 8, durchgelassen; das am retroduktiven Element 12 reflektierte Bündel wird vom Teilspiegel 3 teilweise zum strahlungsempfindlichen Element 8 reflektiert.Bundle wd, approx. from the partial mirror 3 partially transmitted to the radiation-sensitive element 8; the most retro-productive Element 12 is reflected beam from the partial mirror 3 partially to the radiation-sensitive element 8 is reflected.
An der Stelle de.s Elementes 8 kann die Strahlungs— , amplitude als Funktion der Zeit t durch:At the place of the element 8 the radiation, amplitude as a function of time t by:
009840/UU BADORIGINAL009840 / UU BAD ORIGINAL
PHN. 395k PHN. 395k
A = sin iC t + sin ü& (t- V ) = 2
dargestellt werden. Dabei bezeichnet w^/2 ^C die Lichtfrequenz
und L die Zeit, während der das dem retroduktiven Element zugehende Teilbündel sich zwischen der Ebene 2 und dem Element
12 befindet, also: t = 2z/c, wenn ζ der Abstand zwischen der
Ebene 2 und dem Element 12, und c die Geschwindigkeit der
Fortpflanzung der Strahlung sind.A = sin iC t + sin ü & (t- V ) = 2
being represented. Here, w ^ / 2 ^ C denotes the light frequency and L the time during which the partial bundle going to the retroductive element is between level 2 and element 12, i.e.: t = 2z / c, if ζ is the distance between level 2 and the element 12, and c is the speed of the
Propagation of radiation are.
Das im Element 8 erzeugte elektrische Signal B,The electrical signal B generated in element 8,
das dem Quadrat der Amplitude proportional ist, ist proportional zu:which is proportional to the square of the amplitude is proportional to:
cos toT/2, also zu: 1 + cos lo'l. cos toT / 2, i.e. to: 1 + cos lo'l.
Ändert man die Kreisfrequenz der von der Strahlungsquelle 1 ausgesandten Strahlung z.B. entsprechend der Beziehung LO = to (1 + f sin-A.t), so bildet sich der veränderliche Teil B1 des Signals B aus wie:If the angular frequency of the radiation emitted by the radiation source 1 is changed, e.g. according to the relationship LO = to (1 + f sin-At), the variable part B 1 of the signal B is formed as follows:
cos 2Jf ~ ( 1 + f sin/Lt),
Xo cos 2Jf ~ (1 + f sin / Lt),
Xo
wobei Xn= —■where X n = - ■
Die Anzahl von Nu11durchgängen N dieser cos-Funktion während einer Periode T = Z^/fL· beträgt: N = 4~ fThe number of Nu11 passages N of this cos function during a period T = Z ^ / fL · is: N = 4 ~ f
Stellt man N in dem an das Element angeschlossenen Zähler 9 ein, so kann man bei einem bekannten Wert von f den Abstand ζ berechnen.If one puts N in the one attached to the element Counter 9, one can calculate the distance ζ given a known value of f.
In einem Ausführungsbeispiel war:A = 0,5 /um,In one embodiment: A = 0.5 / µm,
Δ to 7 Δ to 7
f = -— =0,1 und N = 1,6.10 . Man berechnet ζ = 5 m.f = - = 0.1 and N = 1.6.10. One calculates ζ = 5 m.
Statt einer sinusförmigen Änderung der Kreisfrequenz kann man auch eine sägezahnförmige Änderung durch-Instead of a sinusoidal change in the angular frequency, a sawtooth change can also be made.
009840/1444009840/1444
-5- PHN. 395^-5- PHN. 395 ^
führen, z.B. entsprechend der Beziehung:lead, e.g. according to the relationship:
; ^ = ^g(i +■ f ψϊ~. ■.-■-■; ^ = ^ g (i + ■ f ψϊ ~. ■ .- ■ - ■
Der veränderliche Teil B1 des Signals B bildet sich dann aus wie: ·The variable part B 1 of the signal B is then formed as follows:
cos ζΧψ. (τ + f |). cos ζΧψ. (τ + f |).
-\o-\O
Während der Zeit t = T der Sägezahnperiode erhält man: N = -=r—fDuring the time t = T of the sawtooth period one obtains: N = - = r-f
durchgänge.passages.
Die Vorrichtung nach Fig. 2 1st der nach Fig.The device according to FIG. 2 is that according to FIG.
sehr ähnlich. Entsprechende Einzelteile haben in beiden Figuren die gleichen Bezugsziffern. Die Strahlungsquelle 1 sendet linear polarisierte Strahlung aus, die von dem isotropen Teilspiegel des Interferometers in zwei Teilbünde1 aufgespaltet wird. In dem kurzen Arm des Interferometers ist eine Ji/k Platte 21 angebracht. Der Winkel zwischen der optischen Achse der Jt/h Platte und der Polarisationsebene des auffallenden Teilbündels beträgt k3 . Nach Reflexion, ara diem retroduiktiven Element ti; durchläuft das Teilbündel im fcurzett Arm wieder die ^i/4 Platte 21. Insgesamt hat dieses Teilbündel J(^/Z Platte durchlaufen.= Dole Polar! satiouEseVbene des im kttrzeat Arm; zum Teil spiegel 3 zttrückkehrendein; T@ilbünd!els dLst daheir über ^&^ in be^zug: auf dii.ee des; hiHilatEfendieiiai Temlbündels; gedireht* Έ&& Po ebene; dies ans uetEödÄti^ea Element ΐ2" r/eflefctiefrtem 'ämd&vt sieh nicht« Efas; van· dem! dls©trogen- Teilspmegel % gelassene Teilb&Me?!. B^ vo?n· diem Tz&t&o,&±&efc±±vi&m Element Tl Is havfc eine B®1 arris at Aomsefee-HEe,. d^£e 2». täer" de-Si ant Teils|>iieg;el r;e~ TeilbüMdiels; Bu yg&m amm !-etrodrireifeti^ren Eleiaenit; f2f -very similar. Corresponding individual parts have the same reference numbers in both figures. The radiation source 1 emits linearly polarized radiation, which is split into two sub-bundles 1 by the isotropic partial mirror of the interferometer. A Ji / k plate 21 is attached in the short arm of the interferometer. The angle between the optical axis of the Jt / h plate and the plane of polarization of the incident partial beam is k3 . After reflection, ara the retro-productive element ti; the partial bundle in the fcurzett arm passes through the ^ i / 4 plate 21 again. Overall, this partial bundle has traversed J (^ / Z plate. = Dole Polar! satiouEseVbene des in the kttrzeat arm; partly mirror 3 zttrrückendein; T @ ilbünd! els dLst daheir about ^ & ^ in relation to: on dii.ee des; hiHilatEfendieiiai Temlbündels; gedireht * Έ && Po level; this to uetEödÄti ^ ea element ΐ2 "r / eflefctiefrtem 'ämd & vt don't see« Efas; van · dem! dls © trogen- Teilspmegel % let Teilb & Me?!. B ^ vo? N · diem Tz & t & o, & ± & efc ± ± vi & m Element Tl Is havfc a B®1 arris at Aomsefee-HEe,. D ^ £ e 2 ». Taer" de-Si ant Part |>iieg; el r; e ~ TeilbüMdiels; Bu yg & m amm ! -Etrodrireifeti ^ ren Eleiaenit; f2f -
!.»■&* IM.e f eilb^Sntdlel BL- TüESdi, Bu dhasr/ciilamffeiE eiuie Jl /k !. »■ & * IM.ef eilb ^ Sntdlel BL- TüESdi, Bu dhasr / ciilamffeiE eiuie Jl / k
£U ι 29Α6£ U ι 29Α6
Platte 28, deren Hauptrichtung einen Winkel von 45 mit der Polarisationsrichtung jedes der Teilbündel einschliesst. Die J-/k Platte 28 wandelt die zwei linear polarisierten Teilbündel in ein rechts- bzw. linksdrehend polarisiertes Strahlungsbündel um. Bei Zusammenfügung ergeben diese Strahlungsbündel ein linear oder nahezu linear polarisiertes Strahlungsbündel, dessen Azimut von der gegenseitigen Phase der kreispolarisierten Strahlungsbündel abhängt, oder mit anderen Worten, eine Verschiebung von 12 äussert sich in Form einer Drehung der Polarisationsebene. Dieses linear polarisierte Strahlungsbündel trifft darauf den isotropen Teilspiegel 22, der einen Teil des linear polarisierten Strahlungsbündels durchlässt und einen äderen Teil reflektiert. Der durchgelassene Teil passiert den Polarisator 23, dessen Polarisationsebene einen Winkel O^ mit einer gewählten X-Achse einschliesst, so dass die Amplitude des das strahlungsempfindliche Element 25 treffenden Strahlungsempfindliche Element 25 treffenden Strahlungsbündels durch: Plate 28, the main direction of which forms an angle of 45 ° with the direction of polarization of each of the partial bundles. The J / k plate 28 converts the two linearly polarized partial bundles into a right and left-handed polarized radiation bundle. When combined, these radiation bundles result in a linearly or almost linearly polarized radiation bundle, the azimuth of which depends on the mutual phase of the circularly polarized radiation bundles, or in other words, a shift of 12 is expressed in the form of a rotation of the plane of polarization. This linearly polarized radiation beam hits the isotropic partial mirror 22, which transmits part of the linearly polarized radiation beam and reflects a veined part. The transmitted part passes the polarizer 23, the plane of polarization of which includes an angle O ^ with a selected X-axis, so that the amplitude of the radiation beam striking the radiation-sensitive element 25 is determined by:
cos (to t - 0-i) + cos I' ( u>t - ^ ) + Q λ ιcos ( to t - 0-i) + cos I '(u> t - ^) + Q λ ι
dargestellt werden kann, so dass das im Element 25 erzeugte elektrische Signal:can be displayed so that the electrical signal generated in element 25:
1 + cos (tat - 2 / ) ist.1 + cos (tat - 2 / ) is.
Der reflektierte Teil passiert den Polarisator Zkt dessen Polarisationsebene einen Winkel ^ mit der erwähnten X-Achse einschliesst. Die Amplitude des das strahlungsempfind— liehe Element 27 treffenden Strahlungsbündels kann durch;The reflected part passes the polarizer Zk t whose plane of polarization includes an angle ^ with the mentioned X-axis. The amplitude of the radiation beam striking the radiation-sensitive element 27 can be through;
cos (uJ t - f 2 cos (uJ t - f 2
+ cos j {u>t -Ί?) + /2 I+ cos j {u> t -Ί?) + / 2 I
und somit das im strahlungsempfindlichen Element 27 erzeugte,and thus the generated in the radiation-sensitive element 27,
00984Q/U4400984Q / U44
elektrische Signal durch:electrical signal through:
1 + cos (ω t dargestellt werden.1 + cos (ω t can be represented.
Wählt man 4λ - O und /2 = k$ , so lässt sich das im Element 25 erzeugte Signal durch:If one chooses 4λ - O and / 2 = k $ , the signal generated in element 25 can be given by:
1 + cos u> L>
und das im Element 27 erzeugte Signal durch:1 + cos u>L>
and the signal generated in element 27 by:
1 + sin u» L·
angeben. .1 + sin u » L
indicate. .
Statt eines Signals wie in der Vorrichtung nach Fig. T hat man dann zwei Signale, deren veränderliche Teile einen 90 Phasenunterschied aufweisen. Wird die Kreisfrequenz IP auf die an Hand der Vorrichtung nach Fig. 1 beschriebene Weise geändert, so entsteht eine Anzahl 1 von Nulldurchgängen N, die zweimal grosser ist als die Anzahl, die in der erwähnten Vorrichtung entsteht. Diese Nulldurchgänge werden im Zähler 26 verarbeitet.Instead of one signal as in the device according to FIG. T, one then has two signals, the variable parts of which have a phase difference of 90 °. If the angular frequency IP is changed in the manner described with reference to the device according to FIG. 1, a number 1 of zero crossings N occurs, which is twice greater than the number that occurs in the device mentioned. These zero crossings are processed in the counter 26.
Man kann die Lage der Polarisationsebene des aus der A/ij Platte 28 heraustretenden, linear polarisierten Strahlungsbündels welche Lage von der gegenseitigen Phase der die Λ./4 Platte 28 treffenden, linear polarisierten Bündel abhängt ,auch afuf die Weise bestimmen, die in der älteren Patentanmeldung (PHN. 290*0 beschrieben ist. Dann muss zwischen der X/k Platte und dem Teilspiegel 22 die Reihenschaltung zweier -^/h Platten mit gleicher Orientierung angebracht werden, zwischen denen ein elektrooptischer Kristall mit einer Orientierungsrichtung angeordnet ist, die einen Unterschied von ^5The position of the plane of polarization of the linearly polarized radiation beam emerging from the A / ij plate 28, which position depends on the mutual phase of the linearly polarized bundles hitting the Λ. / 4 plate 28, can also be determined in the same way as in the older one Patent application (PHN. 290 * 0 is described. Then the series connection of two - ^ / h plates with the same orientation must be attached between the X / k plate and the partial mirror 22, between which an electro-optical crystal is arranged with an orientation direction that differs from ^ 5
009840/1444009840/1444
mit der der Λ/4 Platten aufweist, welchem Kristall eine angemessene elektrische Wechselspannung zugeführt wird. Verhältnismassig langsame Änderungen der Lage der Polarisationsebene des aus der X/k Platte 28 heraustretenden, linear polarisierten Strahlungsbündels lassen sich dann bequem messen.with which the Λ / 4 plate has, which crystal is supplied with an appropriate electrical alternating voltage. Relatively slow changes in the position of the plane of polarization of the linearly polarized radiation beam emerging from the X / k plate 28 can then be conveniently measured.
Ein Vorteil der Ausführungsform nach Fig. 2 ist, dass Absorptionsverluste in einem der Arme des Interferometers keinen Einfluss auf das Azimut der Polarisationsellipse des betreffenden Strahlungsbündels ausüben.An advantage of the embodiment according to FIG. 2 is, that absorption losses in one of the arms of the interferometer do not affect the azimuth of the polarization ellipse of the exercise the radiation beam concerned.
In der Vorrichtung nach Fig. 2 kann die Strahlungsquelle 1 durch eine Strahlungsquelle ersetzt werden, die kreispolarisierte Strahlung aussendet. Die X./h Platte 28 muss dann weggelassen werden.In the device according to FIG. 2, the radiation source 1 can be replaced by a radiation source which emits circularly polarized radiation. The X./h plate 28 must then be omitted.
Man kann in der Vorrichtung nach Fig. 1 dieYou can in the device of Fig. 1 the
Strahlungsquelle 1 durch eine Strahlungsquelle ersetzen, die Strahlungsbündel von zwei Kreisfrequenzen U> 1 und lü ? aussendet, welche Strahlungsbündel den gleichen Polarisationszustand aufweisen. An der Stelle des Elementes 8 kann die Amplitude der Strahlung durch:Replace radiation source 1 with a radiation source that has radiation bundles of two circular frequencies U> 1 and lü ? emits which radiation beams have the same polarization state. At the point of element 8, the amplitude of the radiation can be determined by:
A=2 sin U^1 (t- /?/2) cos to, ΊΪ/2. + 2
angegeben werden.A = 2 sin U ^ 1 (t- / ? / 2) cos to, ΊΪ / 2. + 2
can be specified.
Das im" Element 8 erzeugte elektrische Signal B ist dem zeitlichen Mittelwert des Quadrats der Amplitude der Strahlung proportional.The electrical signal B generated in the "element 8" is the mean value over time of the square of the amplitude of the Radiation proportional.
Man berechnet:One calculates:
B=( 1+cosAa·^) (1+cos <Λ>ο f) + (i-cos^lo^) ( 1-cos u> = 2(1 + m cosui T?) , B = (1 + cosAa ^) (1 + cos <Λ> ο f) + (i-cos ^ lo ^) (1-cos u> = 2 (1 + m cosui T?),
009840/UU009840 / UU
Dabei ist 2u>q =W^ +U>2,äU> =l>>^ - u>2 und m = cos^W |CHere 2u> q = W ^ + U> 2 , äU> = l >> ^ - u> 2 and m = cos ^ W | C
Es sei bemerkt, dass das Element 8 zwar schnell, aber AWJ in bezug auf die Abschneidefrequenz des Elementes gross ist.It should be noted that element 8, while fast, is AWJ in with respect to the cutoff frequency of the element is large.
Ändert man die Kreisfrequenz der von der Strahlungsquelle ausgesandten Strahlungsbündel und zwar gemäss der Beziehung:If you change the angular frequency of the radiation source emitted radiation beam according to the Relationship:
AiAJ = u>o f sinJTLt,
so wird, AiAJ = u> o f sinJTLt,
so will
B/2=1+cos ( «■> f Tj- siiUi.t) cos LO "C= 1 + m1 cos ί-° <-.B / 2 = 1 + cos («■> f Tj- siiUi.t) cos LO " C = 1 + m 1 cos ί- ° <-.
Die Modulationstiefe m1 ändert sich periodisch.The modulation depth m 1 changes periodically.
Nicht die Nulldurchgänge von cos U>f sondern die von cosNot the zero crossings of cos U> f but those of cos
If ■ "■'■-. ' If ■ "■ '■ -.'
(it? f ~ sinJLt) werden gezählt.(it? f ~ sinJLt) are counted.
Man kann in der Vorrichtung nach Fig. 2 dieYou can in the device of Fig. 2 the
Strahlungsquelle 1 durch eine Strahlungsquelle ersetzen, die polarisierte Strahlungsbündel mit zwei Kreisfrequenzen tu« und ^2 aussendet. Die Polarisationsebenen beider Strahlungsbündel können dieselben sein oder zueinander senkrecht stehen.Replace radiation source 1 with a radiation source which emits polarized radiation beams with two circular frequencies tu «and ^ 2 . The planes of polarization of both radiation beams can be the same or can be perpendicular to one another.
Wird der Winkel /^ = 0 und der Winkel /^ = gewählt, so kann das im Element 25 erzeugte, elektrische Signal durch ·If the angle / ^ = 0 and the angle / ^ = are selected, the electrical signal generated in element 25 can be
1 + Gös^^i cos a?..^ und das im Elentent 27 erzeugte Signal durchi1 + Gös ^^ i cos a? .. ^ and the signal generated in element 27 through i
<£ O<£ O
Wieder ist 2i^ = (^ + Again, 2i ^ = (^ +
2 0123 4 62 0123 4 6
Man hat zwei amplitudenmodulierte Signale, deren amplitudenmodulierte Teile einen Phasenunterschied von 90 aufweisen» Die Anzahl von Nulldurchgängen der amplitudenmodulierten Teile, die im Zähler 26 verarbeitet wird, ist zweimal der Anzahl in der Vorrichtung nach Fig. 1 mit zwei Strahlungsquellen. You have two amplitude-modulated signals whose amplitude-modulated parts have a phase difference of 90 have »The number of zero crossings of the amplitude-modulated Parts that are processed in the counter 26 is twice the number in the apparatus of FIG. 1 with two radiation sources.
Man kann in der Vorrichtung nach Fig. 1 dieYou can in the device of Fig. 1 the
Strahlungsquelle 1 durch zwei Strahlungsquellen mit zueinander senkrechten Polarisationsebenen ersetzen. Wird in dem Strahlungsweg zwischen dem isotropen Teilspiegel 3 und dem strahlungsempfindlichen Element 8 ein Analysator angeordnet, dessen Polarisationsebene einen Winkel α mit der der Strahlungsquelle der Strahlung mit der Kreisfrequenz U) macht, so kann das im Element 8 erzeugte, elektrische Signal B durch:Replace radiation source 1 with two radiation sources with mutually perpendicular planes of polarization. If an analyzer is arranged in the radiation path between the isotropic partial mirror 3 and the radiation-sensitive element 8, the plane of polarization of which makes an angle α with that of the radiation source of the radiation with the angular frequency U) , the electrical signal B generated in the element 8 can be generated by:
2 ν Sy^ 2 / s VO C i2 ν Sy ^ 2 / s VO C i
B = 1 + cos WL cos /+ cos VO C sin <f B = 1 + cos WL cos / + cos VO C sin <f
angegeben werden. Bei 6=0 ist: B = 1 + cos 6χΛ. u, bei σ ~ 90 istcan be specified. If 6 = 0 is: B = 1 + cos 6χΛ. u , at σ ~ 90
B = 1 + cos LO uund bei f = 45° ist: B = 1 + cos —— UosaiB = 1 + cos LO u and at f = 45 °: B = 1 + cos - - Uosai
° ist: B = 1 cs Wieder ist 2 U) = ά> +^2 undyja) = U? " ° is: B = 1 cs Again is 2 U) = ά> + ^ 2 undyja) = U? "
009846/1444009846/1444
Claims (3)
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL6904621A NL6904621A (en) | 1969-03-25 | 1969-03-25 | |
| NL6904621 | 1969-03-25 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE2012946A1 true DE2012946A1 (en) | 1970-10-01 |
| DE2012946B2 DE2012946B2 (en) | 1975-07-24 |
| DE2012946C3 DE2012946C3 (en) | 1976-02-26 |
Family
ID=
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0008104A1 (en) * | 1978-08-10 | 1980-02-20 | Honeywell Gmbh | Distance and velocity measuring apparatus using a noise-frequency modulated transmitter |
| FR2579766A1 (en) * | 1985-03-28 | 1986-10-03 | Shibuya Kogyo Co Ltd | METHOD AND APPARATUS FOR DISTANCE MEASUREMENT WITH A LASER BEAM |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0008104A1 (en) * | 1978-08-10 | 1980-02-20 | Honeywell Gmbh | Distance and velocity measuring apparatus using a noise-frequency modulated transmitter |
| FR2579766A1 (en) * | 1985-03-28 | 1986-10-03 | Shibuya Kogyo Co Ltd | METHOD AND APPARATUS FOR DISTANCE MEASUREMENT WITH A LASER BEAM |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2035878B1 (en) | 1974-09-20 |
| DE2012946B2 (en) | 1975-07-24 |
| CH520319A (en) | 1972-03-15 |
| GB1308957A (en) | 1973-03-07 |
| FR2035878A1 (en) | 1970-12-24 |
| NL6904621A (en) | 1970-09-29 |
| BE747836A (en) | 1970-09-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
| E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
| 8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |