DE2058555A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Informationsverarbeitung von Daten eines Analysegeraetes - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Informationsverarbeitung von Daten eines AnalysegeraetesInfo
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Description
2058555 Patentanwalt Dipl.-Phys.Gerhard Liedl 8 München 22 Steinsdorfstr.21-22 Tel.298462
B 4920
NIHON DENSHI KABUSHIKI KAISHA 1418 Nakagami-maehi, Akishima-shi, Tokyo /Japan
eines Analysegerätes.
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Informationsverarbeitung
der von einem Analysegerät erzeugten Daten.
Weiterhin betrifft die Erfindung Vorrichtungen zur Durchführung des
Verfahrens. Die von dem Analysegerät erhaltenen Daten sollen in eine Form übergeführt werden, in der sie leicht unterschieden werden
können.
Die von einem Analyseinstrument erhaltenen Daten werden im allgemeinen
auf einem Papierbogen als zweidimensionales Spektrum aufge-
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Dr. D/hu
Dr. D/hu
2 Π S 8 ;Ί
zeichnet. Bei einem NMR-Gerät ist beispielsweise auf der Abszisse
des aufgezeichneten Spektrums die veränderte Hochfrequenz und auf der Ordinate die Signalintensität dargestellt. Das auf diese Weise
erhaltene Spektrum enthält eine MikroinformaHon der Probe, wobei diese Information durch einen Vergleich des Spektrums mit Spektren
einer bekannten Probe analysiert wird. Der Vergleich erfolgt meistens direkt durch die Beurteilung des an dem Versuch interessierten
Forscher. Wenn jedoch die Spektren der bekannten und der unbekannten Probe ähnliche Peaks aufweisen, ist es sehr schwer,
einen genauen Vergleich durchzuführen, Das Verfahren ist somit außerordentlich zeitraubend, insbesondere als das unbekannte Spektrum
mit einer großen Anzahl von bekannten Spektren verglichen werden muß.
Eine weitere Methode zur Informationsverarbeitung liefert das Interferenzspektrometer. Bei diesem wird ein von einer Lichtquelle
erzeugter Lichtstrahl in zwei Strahlengänge aufgespalten, von denen einer an einem beweglichen Reflektor, der andere in einem festen
Reflektor gespiegelt wird. Die beiden Lichtstrahlen werden anschließend von einem Strahlenteiler wieder überlagert. Man erhält daher aufgrund
der Interferenz der beiden Strahlenbündel ein Anwachsen und Abfallen der Lichtintensität, die von einem Detektor gemessen wird.
Wenn man zudem eine Abtastung mit dem beweglichen Reflektor durchführt, läßt sich auch die Änderung des Interferenzmusters in Abhängigkeit
von dem Unterschied der optischen Weglänge feststellen. Die Vorteile eines derartigen Spektrometers sind ein hohes S/N-Verhältnis
und eine kurze Meßzeit. Das Verfahren weist jedoch auch Nachteile auf, da, wie im oben erwähnten Fall die Informationsverarbeitung
sehr zeitraubend ist, was darauf zurückgeht, daß das gemessene
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Spektrum ein Smrier-transformiertes Spektrum des von der Lichtwelle
erzeugten Lichtes ist.
Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde,die genannten
Nachteile der Informationsverarbeitung der Daten von Analysegeräten zu beheben. Diese Aufgabe wurde dadurch gelöst, daß von
einer Probe ein der Information-entsprechendes Signal erzeugt wird,
daß dieses Signal in ein eindimensionales Spektrum übergeführt wird und daß von diesem eindimensionalen Spektrum ein Hologram"gebildet
wird. "
Gemäß der vorliegenden Erfindung wird daher das Ausgangssignal von
irgendeinem Analysegerät in ein eindimensionales Spektrum , wie ein Hell- Dunkel- oder ein unstetiges Spektrum übergeführt. Anschließend
wird ein Hologram von einem solchen Spektrum gebildet, das mittels Korrelation zu Vergleichsholograinen die Erkennung der Probe ermöglicht.
Die Korrelation wird dadurch herbeigeführt, daß zwei Hologramme miteinander verbunden und anschließend mit einem
Laserstrahl beleuchtet werden. Hierdurch wird das von dem Analysegerät erhaltene Spektrum automatisch rasch und leicht analysiert. Es
sollte jedoch an dieser Stelle betont werden, daß, da sich die Muster "
von zweidimensionalen Spektren aufgrund des Unterschiedes in der Proben-Quantität
und Dichte unterscheiden, es unmöglich ist, daß Hologrammmuster durch eine Korrelation von derartigen zweidimensionalen
Spektren zu erkennen.
Gemäß der vorliegenden Erfindung wird das Ausgangssignal von einem
Interferenzspektrometer in gleicher Weise in ein eindimensionales Spektrum, wie ein Hell- Dunkel- oder ein unstetiges Spektrum umgewandelt,
wobei dieses Spektrum als Hologramm dient. Das Erkennen
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des Musters wird ebenfalls über die Korrelation durchgeführt. Da in diesem Fall durch eine Fraunhofer-Beugung das Hologramm eine
Fourier - Umkehr erfährt, lassen sich die von dem Interferenzspektrometer
erhaltenen Daten rasch und leicht optisch analysieren.
Weiterhe Einzelheiten und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden
aus der Beschreibung von speziellen Ausführungaforrnen anhand der beiliegenden Zeichnung ersichtlich.
™ Darin zeigen:
Fig. 1 eine NMR-Vorrichtung gemäß der vorliegenden E rf indung;
Fig. 2 ein auf einem Papierbogen aufgezeichnetes Ausgangssignal der NMR-Vorrichtung;
Fig. 3 ein. Hell- Dunkel-Spektrum, das von der Vorrichtung
gemäß Figur 1 erhalten ist;
™ Fig. 4 ein optisches System zur Herstellung eines
Hologramms;
Fig. 5 ein optisches System zur Korrelationsbildung von zwei beliebigen Hologrammen;
Fig. 6 eine weitere Ausführungsform von einer Vorrichtung
zur Erzeugung eines eindimensionalen
Spektrums;
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Fig. 7 ein Massenspektrometer gemäß der vorliegenden
Erfindung;
Fig. 8 einen Flüssigkeitschromatographen gemäß der vorliegenden Erfindung;
Fig. 9 ein Spektrometer gemäß der vorliegenden Erfindung;
Fig. 10 ein Interferenzspektrometer gemäß der vorliegenden
Erfindung;
Fig. 11 ein Hell- Dunkel -Spektrum, wie es mit dem
Spektrometer gemäß Figur 10 erhalten wird;
Fig. 12 ein optisches System für die Durchführung einer
Fraunhofer-Beugung.
Bei der NMR-Vorrichtung von Figur 1 enthält eine Sonde 1 eine Probe.
Von einem Elektromagnet 2 und einer Hochfrequenzspule 3 werden f
Gleichstrom- und Hochfrequenzmagnetfelder in der Umgebung der Probe erzeugt. Der Hochfrquenzspule 3 wird hierbei von einem Kippgenerator
4 eine Hochfrequenz angelegt. Durch dus Wobbein der Hochfrequenz wird bei bestimmten Frequenzen Energie von der Probe absorbiert.
Das Absürblionssignal wird von einer Schaltung 5 und einem
Detektor 6 gernessen. Figur 2 zeigt das Ausgangssignal von dem Detektor
6. Normalerweise wird das in Figur 2 gezeigte Spektrum von einem Aufzeichnungsgerät erhalten. Gemäß üvr ν or liegenden Erfindung
wird ji'clocl) das Spektrum in ein Helldunkel Spektrum oder ein
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unstetiges Spektrum (light and shade or uneven spectrum) umgewandelt,
indem das Ausgangssignal des Detektors 6 einer Elektronenstrahlbelichtungseinheit
7 zugeführt wird.
Von einem Heizdraht 8 wird ein E lektronenstrahl erzeugt, der von einem Gitter 9 in einer Schaltung mit dem Detektor 8 geregelt wird.
Der Elektronenstrahl wird von einer Anode IG beschleunigt und von
einer Elektrodenlinse 11 fokussiert. Der fokussierte Elektronenstrahl wird von einer Ablenkspule 12 abgelenkt und auf eine bewegliche Plat-
w te 13 abgebildet, die auf Rollen H so angeordnet ist, daß der Elektronenstrahl
im rechten Winkel zu der Richtung der Plattenbewegung abgetastet wird. Hierdurch wird ein Heildunkeispektrum wie aus
Figur 3 ersichtlich auf der Platte 13 aufgezeichnet entsprechend der Intensität des Elektronenstrallies.
Dieses Helldunkelspektrum wird anschließend in ein Hologramm umgewandelt.
Figur 4 zeigt eine Vorrichtung, mit der ein derartiges Hologramm gebildet wird. Wie aus Figur 4 hervorgeht, wird ein Laserstrahl
der von einem Laser 21 wie beispielsweise einem Helium-Neon-Laser erhalten wird, in zwei Strahlen von einem Strahlenteiler 22 auf-™
geleilt. Ein Strahl wird von einer Platte 23 gebeugt, auf der das HeIl-
Dunkel-Spektrum aufgezeichnet ist und dann auf eine Filmplatte 24 geworfen. Der andere Strahl wird von einem Reflektor 25 reflektiert,
von einem Prisma 26 abgelenkt, so daß er schließlieh ebenfalls aui die
Filmplatte 24 gelangt. Hierdurch wird durch die beiden Strahlen ein Interferenzmuster bzw. ein Hologramm erzeugt, das auf der Filmplatte
24 aufgezeichnet wird.
Die Erkennung des von dem Analysegeräl erzeugten Spektrums kami
dahei gemäß cU'i vorliegenden Erfindung durch ein Hologramm erfolgen.
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Eine Korrelation zwischen zwei Hologrammen wird dadurch erzeugt,
daß man beide zusammenlegt und von einem Laserstrahl beleuchtet. In Figur 5 werden die miteinander verbundenen Hologramme
31 und 32 von einem Laserstrahl beleuchtet, der durch die
Hologramme gebeugt wird. Der gebeugte Laserstrahl wird dann auf einen Bildschirm 33 von einer Zylinderlinse ?A fokussiert. Wenn beide
Hologramme 31 und 32 dasselbe Muster geben, entsteht ein Lichtspektrum auf dem Bildschirm 33. Wenn sich dagegen die beiden Muster
voneinander unterscheiden, erscheint kein Lichtspektrum auf dem -
Bildschirm. Wenn man daher ein Hologramm von einer unbekannten Probe als das Hologramm 31 verwendet und ein Hologramm von einer
bekannten Probe als das Hologramm 32 läßt sich die Probe qualitativ
analysieren.
Man kann jedoch auch eine quantitative Analyse der unbekannten Probe
erhalten. Die Dichte des Interferencmusters ändert - ; : ·-. r ;. der
Intensität des Ausgangssignales,, das von dem Analys* gerat erzeugt
wird. Wenn daher bei der Bildung der Kurrelation die beiden Muster
der Hologramme zwar übereinstimmen,aber Unterschiede in dem Schwärzungsgrad oder Dichte der Hologramme bestehen, ändert sich *
die Helligkeit des Spektrums auf dem Bildschirm gem£ß dem Unterschied
der Dichten der beiden Hologramme. Hierdurch läßt sich eine unbekannte Probe auch quantitativ analysieren, indem man die Heiligkeit
des Spektrums feststellt.
Figur 6 zeigt eine weitere Ausführungsform, einer V-λ richtung zur
Herstellung eines eindimensionalen Spektrums, bei der ein elektro- . optisches Element verwendet wird, um ein Hell- Dunkel- oöar unstetiges
Spektrum zu erzeugen. Ein von einer Lichtquelle 41 erzeugtes monochromatisches
Licht durchfallt ein elektro. — optisches Element 42, wie
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beispielsweise ein Kaliumhydrogenphosphat (XDP) oder ein ADP-Element.
Der Lichtstrahl wird von einer Zylinderlinse 47 fokussiert und anschließend an eine mit Silberhalogeniden überzogene Platte 43 abgebildet,
die von einem Motor 44 bewegt wird.
Wenn die Ausgangsspannung des Detektors 6 an die Elektroden 45 und
46 angelegt wird, ändert sich die Lichtdurchlässigkeit des elektrooptischen Elementes gemäß der Ausgangsspannung des Detektors 6,
so daß ein Hell- Dunkel- Spektrum auf der Platte 43 aufgezeichnet wird.
Wenn man die Plattenoberfläche mit einem Photo wider stand anstatt
mit Silberhalogeniden überzieht, kann man auf der Platte ein unstetiges Spektrum (uneven Spektrum) erhalten.
Figur 7 zeigt ein Massenspektrometer gemäß der vorliegenden Eriindung.
Ein von einer Ionenquelle 51 ausgeher der Ionenstrahl wird von Beschleunigungsschlitzen 52 beschleunigt. Anschließend durchläuft
er ein Magnetfeld, das von einem Elektromagnet 53 erzeugt wird, an dem ein Erregerstrom von einer varriablen Spannungsquelle 54 angelegt
ist. Der beschleunigte Ionenstrahl erfährt eine Dispersion gemäß dein Verhältnis von Masse zu Ladung (m/e) im Magnetfeld. Nur Ionen
mit einem bestimmten Verhältnis von Masse zu Ladung durchlaufen einen Schlitz 55. Diese Ionen werden von einem lonenkollektor 56 gemessen.
Das Ausgangssignal des Ionenkollektors 56 wird der Elektronenstrahl
belichtungsvorrichtung 7 über einen Verstärker 57 zugeführt. Durch eine Veränderung der Intensität des von dem Elektromagneten
53 erzeugten Magnetfeldes kann man ein Hell- Dunkeloder unstetiges Spektrum von der Elektronenstrahlbelichtungseinheit
erzeugen. Dieses Spektrum wird anschließend von dem in Figur 4 gezeigten optischen System in ein Hologramm verwandelt.
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Figur 8 zeigt einen Flüssigkeitschromatographen gemäß der vorliegenden
Erfindung. Ein Eluat 61 von einem Eluatreservoif 62 wird in eine
Säule 63 eingegeben, welche eine feste Phase 64, wie ein lonenaustauscherharz
enthalten. Die Zufuhr erfolgt über ein Rohr 65 von einer Pumpe 66. Über eine Probeneinlaßöffnung 67 wird eine flüssige Probe
in die Säule 63 eingegeben. Die Probe wird anschließend in ihre verschiedenen .Komponenten von der festen Phase aufgrund des chromatographischen
Effektes der Säule zerlegt. Die getrennten Komponenten werden anschließend von einem Detektor 68 gemessen, wobei das Eluat
und die flüssige Probe, die durch den Detektor 68 gelangt sind, in einem Reservoir 69 aufgefangen werden. Das von dem Detektor 68 erzeugte
Signal wird einer Elektronenstrahlbelichtungseinheit 7 über einen Verstärker
70 zugeführt, so daß ein eindi mensionales Spektrum aufgezeichnet wird.
Figur 9 zeigt ein Spektrometer in erfindungsgemäßer Ausbildung. Von
einer nichtgezeigten Lichtquelle fällt Licht über einen Eingangsspalt
81 auf einen Monochromator 82. Das Licht wird von einem Reflektor 83 reflektiert und gelangt auf ein drehbares Gitter 84, so daß
eine Dispersion dieses Lichtes gemäß der Wellenlänge auftritt. Das
auf diese Weise zerlegte Licht wird von einem Reflektor 85 reflektiert und gelangt durch einen Auslaßspalt 86 auf einen Detektor 87, wie
beispielsweise einen Photomultiplier. Das erhaltene elektrische Signal wird einer Elektronenstrahlbelichtungseinheit 7 über einen Verstärker
88 zugeführt, so daß ein eindimensionales Spektrum, wie ein Helldunkel- oder ein unstetiges Spektrum erhalten wird.
Figur 10 zeigt ein Interferenzspektrometer und eine Ausbildung gemäß
der vorliegenden Erfindung. Von einer Lichtquelle 91 ausgehendes
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Licht wird von einer Linse 92 zu einem parallelen Strahlenbündel geformt.
Das parallele Strahlenbündel wird in zwei Strahlengänge von einem Strahlenteiler 93 derart aufgeteilt, daß die erzeugten Teilstrahlen
zu einem beweglichen und einem festen Spiegel 94 und 95 geleitet werden. Der bewegliche Spiegel 94 wird mit einer konstanten
Geschwindigkeit von einem Motor 96 bewegt, Das von dem beweglichen Spiegel 94 reflektierte Licht durchläuft den Strahlenteiler 93 und wird
auf einem Detektor 97 von einer Linse 98 fokussiert. Die Amplitude Fa ( ν ) dieses Lichts kann durch folgenden Ausdruck beschrieben
werden:
Fa (v) CX A (v) cos 2 π (f t - 2 Iv)
Hierin bedeutet A (ν ) die Amplitude des von der Lichtquelle 91 erzeugten
Lichtes, f die Frequenz des Lichtes, ν die Wellenzahl des Lichtes und 1 den Abstand des Strahlenteilers 93 von dem beweglichen
Spiegel 94.
Andererseits läßt sich die Amplitude Fb (ν ) des an dem festen
Spiegel 95 reflektierten Lichtes, das zudem an dem Strahlenteiler 93 reflektiert und auf dem Detektor 97 von der Linse 98 abgebildet wird,
durch folgenden Ausdruck darstellen:
Fb ( v) ex A ( v) cos 2 π /f t - 2 ( 1 + Δ
worin δ die halbe optische Wegdifferenz zwischen den beiden Lichtstrahlen
bedeutet«
Die beiden Lichtstrahlen bewirken eine Interferenz auf dem Detektorschirm,
wobei sich die Amplitude F(A) des gemessenen Lichtes
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2058S5-5 -Ii-
durch folgenden Ausdruck wiedergeben läßt:
F(A) = /(Fa(v) +Fb(V)J- dv
Y A (ν )[ cos 2π ff t - 2 1 ν ) ^
+ cos 2 π |fi-2-(lJ. a)v!J d ν
Die Energie dieses Lichtes ist F ( δ ) und läßt sich durch folgende
Gleichung darstellen:
Ί (Δ ) 'F2{ Δ )
Da I (Δ ) proportional dem Quadrat des Mittelwertes der optischen
Störung ( Optical Disturbance) ist, verschwindet der zeitabhängige
Faktor bei der Amplitude F( Δ ).
I ( Δ ) stellt ein Interferogramm dar, das ein Fourier transioiiiuci-.e«
Spektrum der Energieverteilung des von der Lichtquelle erzeugten
Wgllen-
Lichtes ist. Ein derselben}Zahl entsprechendes Spektrum wird erhalten,
wenn man die Fourier Transformation von Ii Δ) umkehrt. f
Normalerweise wird I ( Δ ) von einem elektronischen Campfiter transformiert,
wobei jedoch die Durchführung der Fourier Transform
hierbei ausgesprochen schwierig und mühevoll ist. Eine opi ,s-he
Transformation, wie sie umgekehrt gemäß der vor lieg=and'.r Tüfi
durchgeführt wird, vereinfacht diesen Prozeß erhebt ii.
Das von dem Detektor 97 empfangene Signal wird von einem Verstärker
99 verstärkt und der Elektronenstrahlbelieht^gsci^ii f ?
zugeführt. Das resultierte Helldunkel-Spektrum, das siischi;>.:iK'-.
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der Platte 100 aufgenommen wird, ist in Figur 11 dargestellt. Die hierin enthaltene Informationsintensität (information intensity) läßt
sich durch folgenden Ausdruck darstellen:
Ιγ (χ) = Γα + Ja2(v ) cos (2π Mv χ)
Hierin bedeutet V den Gradienten des linearen Teiles der Plattenübertragungskurve
(plate transfer curve). X ist hierbei durch den
Ausdruck 2 Δ definiert, Wobei M eine Konstante ist.
Da das auf der Platte 100 aufgezeichnete Helldunkel-Spektrum das Interferenzmuster wiedergibt, d. h, das von den beiden Licht -
/läßt sich
strahlen erzeugte Hologramm/ das Fourier-Umkehr-Spektrum hieraus durch Fraunhofer Beugung erhalten. Figur 12 zeigt das optische System für diese Beugung. Mit einem monochromatischen Licht 101, wie beispielsweise laserlicht, wird die Platte 100 beleuchtet, auf der das Helldunkel-Spektrum aufgezeichnet ist. Das parallele Licht wird an dieser Platte gebeugt. Das gebeugte Licht wird anschließend auf einem Schirm 102 von einer Zylinderlinse 103 fokussiert.
strahlen erzeugte Hologramm/ das Fourier-Umkehr-Spektrum hieraus durch Fraunhofer Beugung erhalten. Figur 12 zeigt das optische System für diese Beugung. Mit einem monochromatischen Licht 101, wie beispielsweise laserlicht, wird die Platte 100 beleuchtet, auf der das Helldunkel-Spektrum aufgezeichnet ist. Das parallele Licht wird an dieser Platte gebeugt. Das gebeugte Licht wird anschließend auf einem Schirm 102 von einer Zylinderlinse 103 fokussiert.
Bei diesem System, läßt sich die Amplitude T (x) des gebeugten Lichtes
durch folgende Gleichung darstellen:
T(x)oc II(z)H 2
= (A + JA ( ν ) cos (2π M ν χ) d vj
oC 2A -γ. JA ( v) cos (2 π Mv χ ) dv
Gemäß der Fraunhoferjschen Beugungstheorie ergibt sich hieraus
die Amplitude D (S) des auf dem Bildschirm 102 projezierten Spek-
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trums durch den folgenden Ausdruck:
D (Ξ ) OCJl 2Α - yJa2(v ) cos 2 π Mv χ) d y]e(ik χΞ) dx
= 4rc Αδ (β ) -π γ Α2( ν ) δ (ν - Ξ ν» )
Mf
-π γ Α(ν )δ (ν + -JUt-)
Hierin bedeutet Ξ den Abstand von dem Bildschirmmittelpunkt ,O. k
eine Konstante, die durch den Ausdruck 2 η \? definiert ist,
ν die Wellenzahl des einfallenden Lichtes 101'und V die Brennweite
der Zylinderlinse 103. Die EnergieverteilungI ( Ξ) des auf
2 den Bildschirm projezierten Lichtes ist D (Ξ ) und läßt sich
durch folgenden Ausdruck darstellen:
I (Ξ ) = D2 ( Ξ )
I (Ξ ) = D2 ( Ξ )
OC I671 2A2 δ( Ξ)
In obiger Gleichung bedeutet der erste Ausdruck die nullte Ordnung
des durchgelassenen gebeugten Lichtes, der zweite Ausdruck die + erste Ordnung des gebeu-tfen Lichtes und der dritte Ausdruck - erste
Ordnung des gebeugten Lichtes. Betrachtet man die + erste Ordnung ^
des gebeugten Lichtes, wenn
V - if OX6i"|^ ) 1
ist, so wird Licht mit einer Energie von Tl l· A ( ν) auf dem
Bildschirm 102 projeziert. Hieraus folgt, daß bei der Projektion eines Lichtpunktes auf einen Punkt der einen Abstand d von dem
Mittelpunkt O hat, die Wellenzahl des Spektrums des Lichtpunktes
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_14_ 205855B
aus folgendem Ausdruck berechnet werden kann:
d ν
ν =
Man erhält daher das gesamte Spektrum, indem man die Wellenzahl von jedem Lichtpunktspektrum berechnet, das auf dem Bildschirm
auftaucht. Da die gebeugten Lichtstrahlen der +1 und -1 Ordnung symmetrisch zueinander liegen, genügt es, die Rechnung für eine der
Ordnungen allein durchzuführen. Zusätzlich kann das Muster des Spektrums mittels eines Hologrammes festgestellt werden, indem man das
optische, in Fig. 5 gezeigte System verwendet.
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Claims (1)
- Patentansprüche1. Verfahren zur Informationsverarbeitung der von einem Analysegerät erzeugten Daten, dadurch gekennzeichnet, daß von einer Probe ein der Information entsprechendes Signal erzeugt wird, daß diesesSignal in ein eindimensionales Spektrum über geführt wird und daß von idiesem eindimensionalen Spektrum ein Hologramm gebildet wird.2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das eindimensionale Spektrum ein Hell- Dunkel- Spektrum ist.3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das eindimensionale Spektrum ein unstetiges Spektrum ist.4. Analysegerät gekennzeichnet durch eine Vorrichtung zur Erzeugung eines der Information der Probe entsprechenden Signales,durch einen Detektor um ein elektrisches Signal hieraus zu erzeugen %sowie durch eine "Umwandlungsvorrichtung, um das elektrische Signal in ein eindimensionales Spektrum umzuwandeln.5. Analysegerät nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Umwandlungsvorrichtung eine Elektronenstrahlbelichtungseinheit ist.6. Analysegerät nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Umwandlungsvorrichtung eine monochromatische Lichtquelle,. ein elektrooptisches Element mit zwei Elektroden an jedem Ende des109826/1515elektrooptischen Elementes, an welche die Ausgangsspannung des Detektors angelegt wird und bei dem sich die Lichtdurchlässigkeit entsprechend der angelegten Spannung ändert, sowie eine bewegliche Platte enthält, auf welche das von der monochromatischen Lichtquelle erzeugte Licht nach dem Durchgang durch das elektrooptische Element auftrifft.7. NMR-Gerät, bei dem einer Probe Gleichstrom-und Hochfrequenzmagnetfelder angelegt werden, dadurch gekennzeichnet, daß ein Detek-P tor vorgesehen ist, der ein elektrisches Signal erzeugt, das der vonder Probe absorbierten Energie entspricht, sowie eine Umwandlungsvorrichtung, um das von dem Detektor erhaltene Ausgangssignal in ein eindimensionales Spektrum umzuwandeln.8. Massenspektrometer mit einer Ionenquelle einer Disperionsvorrichtung für den von der Ionenquelle erzeugten Ionenstrahl gemäß dem Verhältnis von Mass zu La/ äaÖurch gekennzeichnet, daß ein Detektor vorgesehen ist, welcher ein elektrisches Siganl entsprechend dem dispergierten Ionenstrahl erzeugt,sowie eine Umwandlungsvorrichtung, die dieses elektrische von dem Detektor herrührendeP Signal in ein eindimensionales Spektrum umwandelt.9. Flüssigkeitschromatograph mit einer eine feste Phase enthaltenden Säule, in welche eine flüssige Probe eingegeben wird, die dort in ihre verschiedenen Komponenten gemäß der chromatographischen Wirkung der Säule getrennt wird , dadurch gekennzeichnet, daß ein Detektor vorgesehen ist, der die getrennten Komponenten in Form eines elektrischen Signales mißt, sowie eine Umwandlungsvorrichtung, die das von dem Detektor erhaltene elektrische Signal in ein eindimensionales Spektrum umwandelt.4920 10 9 8 2 6/1515ιο. Spektrometer mit einer drehbaren Beugungsvorrichtung zur Beugung des Lichtes gemäß seinen Wellenlängen, dadurch gekennzeichnet, daß ein Detektor vorgesehen ist, der das gebeugte Licht in ein elektrisches Signal umwandelt, sowie eine Umwandlungsvorrichtung, welche das elektrische Signal des Detektors in ein eindimensionales Spektrum umformt.11. Verfahren zur Informationsverarbeitung bei einem Interferencspektrometer, in welchem der von einer Lichtquelle erzeugte Lichtstrahl in zwei Strahlenlängen aufgespaltet wird, die anschließend i wieder überlagert werden, wobei die beiden Strahlen eine Interferenz erzeugen, dadurch gekennzeichnet, daß ein Anwachsen und Abfallen der Lichtintensität entsprechend den Interferenzerscheinungen gemessen und dieses gemessene Signal in ein eindimensionales Spektrum umgewandelt wird.12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß das eindimensionale Spektrum ein Helldunkelspektrum ist.13. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daßdas eindimensionale Spektrum ein unstetiges Spektrum ist. f14. InterferenZspektrometer mit einem Strahlenteiler zur Aufteilung des von einer Lichtquelle erzeugten Strahlenbündels in zwei Strahlenbündel, die anschließend wieder überlagert werden, so daß die beiden Strahlenbündel Interferenzerscheinungen bilden, dadurch gekennzeichnet, daß ein Detektor vorgesehen ist, der die Zunahme oder Abnahme der Lichtintensität gemäß der Interferencerscheinungen mißt, sowie Umwandlungsvorrichtungen, welche das von dem Detektor erhaltene Signal in ein eindimensionales Spektrum überführen.4920 10 9 8 2 6/1515Leerseite
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