DE19936333A1 - Strahlungsempfindliche Zusammensetzungen für Druckplatten zur Steigerung der Chemikalien- und Entwicklerresistenz - Google Patents
Strahlungsempfindliche Zusammensetzungen für Druckplatten zur Steigerung der Chemikalien- und EntwicklerresistenzInfo
- Publication number
- DE19936333A1 DE19936333A1 DE1999136333 DE19936333A DE19936333A1 DE 19936333 A1 DE19936333 A1 DE 19936333A1 DE 1999136333 DE1999136333 DE 1999136333 DE 19936333 A DE19936333 A DE 19936333A DE 19936333 A1 DE19936333 A1 DE 19936333A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- radiation
- sensitive composition
- copolymer
- unit
- radical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
- 239000000203 mixture Substances 0.000 title claims abstract description 96
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 52
- 238000007639 printing Methods 0.000 title claims abstract description 46
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 claims abstract description 102
- 229920003986 novolac Polymers 0.000 claims abstract description 46
- QVEIBLDXZNGPHR-UHFFFAOYSA-N naphthalene-1,4-dione;diazide Chemical class [N-]=[N+]=[N-].[N-]=[N+]=[N-].C1=CC=C2C(=O)C=CC(=O)C2=C1 QVEIBLDXZNGPHR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 20
- 229920001519 homopolymer Polymers 0.000 claims abstract description 12
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 claims abstract description 9
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims abstract description 3
- -1 (C 1 -C 12 ) alkyl radical Chemical class 0.000 claims description 50
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 claims description 20
- 125000005843 halogen group Chemical group 0.000 claims description 17
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 claims description 15
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims description 13
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 11
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 claims description 10
- 150000005840 aryl radicals Chemical class 0.000 claims description 9
- 125000004400 (C1-C12) alkyl group Chemical group 0.000 claims description 5
- 239000002253 acid Substances 0.000 claims description 5
- 239000000049 pigment Substances 0.000 claims description 5
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 claims description 4
- 125000003178 carboxy group Chemical group [H]OC(*)=O 0.000 claims description 4
- 239000000975 dye Substances 0.000 claims description 4
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 claims description 4
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 claims description 4
- 239000004014 plasticizer Substances 0.000 claims description 4
- 125000000565 sulfonamide group Chemical group 0.000 claims description 3
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 2
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 125000006552 (C3-C8) cycloalkyl group Chemical group 0.000 claims 1
- 125000004421 aryl sulphonamide group Chemical group 0.000 claims 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 abstract description 2
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 abstract 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 34
- 239000003599 detergent Substances 0.000 description 23
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 16
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 16
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 16
- 206010034972 Photosensitivity reaction Diseases 0.000 description 13
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 13
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 description 13
- 230000036211 photosensitivity Effects 0.000 description 13
- 238000009472 formulation Methods 0.000 description 12
- 239000000976 ink Substances 0.000 description 12
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000011161 development Methods 0.000 description 6
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 6
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 6
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 6
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 5
- 238000007645 offset printing Methods 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 206010034960 Photophobia Diseases 0.000 description 4
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- SWXVUIWOUIDPGS-UHFFFAOYSA-N diacetone alcohol Chemical compound CC(=O)CC(C)(C)O SWXVUIWOUIDPGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 4
- 239000011888 foil Substances 0.000 description 4
- 208000013469 light sensitivity Diseases 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N Ethylene glycol Chemical compound OCCO LYCAIKOWRPUZTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N Formaldehyde Chemical compound O=C WSFSSNUMVMOOMR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 238000003848 UV Light-Curing Methods 0.000 description 3
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 3
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 3
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 3
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 3
- 239000003999 initiator Substances 0.000 description 3
- 239000002985 plastic film Substances 0.000 description 3
- 229920006255 plastic film Polymers 0.000 description 3
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 3
- OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 2-(2-cyanopropan-2-yldiazenyl)-2-methylpropanenitrile Chemical compound N#CC(C)(C)N=NC(C)(C)C#N OZAIFHULBGXAKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XNWFRZJHXBZDAG-UHFFFAOYSA-N 2-METHOXYETHANOL Chemical compound COCCO XNWFRZJHXBZDAG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PLXMOAALOJOTIY-FPTXNFDTSA-N Aesculin Natural products OC[C@@H]1[C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](O)[C@H](O)[C@H]1Oc2cc3C=CC(=O)Oc3cc2O PLXMOAALOJOTIY-FPTXNFDTSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KHBQMWCZKVMBLN-UHFFFAOYSA-N Benzenesulfonamide Chemical group NS(=O)(=O)C1=CC=CC=C1 KHBQMWCZKVMBLN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- MQIUGAXCHLFZKX-UHFFFAOYSA-N Di-n-octyl phthalate Natural products CCCCCCCCOC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCCCCCCCC MQIUGAXCHLFZKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N Methacrylic acid Chemical compound CC(=C)C(O)=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 description 2
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 2
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 2
- 239000002585 base Substances 0.000 description 2
- BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N bis(2-ethylhexyl) phthalate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC(CC)CCCC BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001680 brushing effect Effects 0.000 description 2
- 229920002301 cellulose acetate Polymers 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 125000000753 cycloalkyl group Chemical group 0.000 description 2
- DOIRQSBPFJWKBE-UHFFFAOYSA-N dibutyl phthalate Chemical compound CCCCOC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCCCC DOIRQSBPFJWKBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000839 emulsion Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 125000004464 hydroxyphenyl group Chemical group 0.000 description 2
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 2
- 238000009533 lab test Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 2
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 2
- 239000003755 preservative agent Substances 0.000 description 2
- NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N sodium silicate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-][Si]([O-])=O NTHWMYGWWRZVTN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 2
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 2
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 2
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- 229920002818 (Hydroxyethyl)methacrylate Polymers 0.000 description 1
- BQTPKSBXMONSJI-UHFFFAOYSA-N 1-cyclohexylpyrrole-2,5-dione Chemical compound O=C1C=CC(=O)N1C1CCCCC1 BQTPKSBXMONSJI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HIDBROSJWZYGSZ-UHFFFAOYSA-N 1-phenylpyrrole-2,5-dione Chemical compound O=C1C=CC(=O)N1C1=CC=CC=C1 HIDBROSJWZYGSZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HTQNYBBTZSBWKL-UHFFFAOYSA-N 2,3,4-trihydroxbenzophenone Chemical compound OC1=C(O)C(O)=CC=C1C(=O)C1=CC=CC=C1 HTQNYBBTZSBWKL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZXDDPOHVAMWLBH-UHFFFAOYSA-N 2,4-Dihydroxybenzophenone Chemical compound OC1=CC(O)=CC=C1C(=O)C1=CC=CC=C1 ZXDDPOHVAMWLBH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QFPKSTNFHFEHJL-UHFFFAOYSA-N 2-(2-methylprop-2-enoyloxy)benzoic acid Chemical compound CC(=C)C(=O)OC1=CC=CC=C1C(O)=O QFPKSTNFHFEHJL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BGNGWHSBYQYVRX-UHFFFAOYSA-N 4-(dimethylamino)benzaldehyde Chemical compound CN(C)C1=CC=C(C=O)C=C1 BGNGWHSBYQYVRX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N Bromine atom Chemical compound [Br] WKBOTKDWSSQWDR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001747 Cellulose diacetate Polymers 0.000 description 1
- DQEFEBPAPFSJLV-UHFFFAOYSA-N Cellulose propionate Chemical compound CCC(=O)OCC1OC(OC(=O)CC)C(OC(=O)CC)C(OC(=O)CC)C1OC1C(OC(=O)CC)C(OC(=O)CC)C(OC(=O)CC)C(COC(=O)CC)O1 DQEFEBPAPFSJLV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002284 Cellulose triacetate Polymers 0.000 description 1
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WOBHKFSMXKNTIM-UHFFFAOYSA-N Hydroxyethyl methacrylate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCCO WOBHKFSMXKNTIM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKIZCWYLBDKLSU-UHFFFAOYSA-M N,N,N-Trimethylmethanaminium chloride Chemical compound [Cl-].C[N+](C)(C)C OKIZCWYLBDKLSU-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000000020 Nitrocellulose Substances 0.000 description 1
- 229910019142 PO4 Inorganic materials 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 239000004115 Sodium Silicate Substances 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NNLVGZFZQQXQNW-ADJNRHBOSA-N [(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5-diacetyloxy-3-[(2s,3r,4s,5r,6r)-3,4,5-triacetyloxy-6-(acetyloxymethyl)oxan-2-yl]oxy-6-[(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5,6-triacetyloxy-2-(acetyloxymethyl)oxan-3-yl]oxyoxan-2-yl]methyl acetate Chemical compound O([C@@H]1O[C@@H]([C@H]([C@H](OC(C)=O)[C@H]1OC(C)=O)O[C@H]1[C@@H]([C@@H](OC(C)=O)[C@H](OC(C)=O)[C@@H](COC(C)=O)O1)OC(C)=O)COC(=O)C)[C@@H]1[C@@H](COC(C)=O)O[C@@H](OC(C)=O)[C@H](OC(C)=O)[C@H]1OC(C)=O NNLVGZFZQQXQNW-ADJNRHBOSA-N 0.000 description 1
- FJWGYAHXMCUOOM-QHOUIDNNSA-N [(2s,3r,4s,5r,6r)-2-[(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5-dinitrooxy-2-(nitrooxymethyl)-6-[(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5,6-trinitrooxy-2-(nitrooxymethyl)oxan-3-yl]oxyoxan-3-yl]oxy-3,5-dinitrooxy-6-(nitrooxymethyl)oxan-4-yl] nitrate Chemical compound O([C@@H]1O[C@@H]([C@H]([C@H](O[N+]([O-])=O)[C@H]1O[N+]([O-])=O)O[C@H]1[C@@H]([C@@H](O[N+]([O-])=O)[C@H](O[N+]([O-])=O)[C@@H](CO[N+]([O-])=O)O1)O[N+]([O-])=O)CO[N+](=O)[O-])[C@@H]1[C@@H](CO[N+]([O-])=O)O[C@@H](O[N+]([O-])=O)[C@H](O[N+]([O-])=O)[C@H]1O[N+]([O-])=O FJWGYAHXMCUOOM-QHOUIDNNSA-N 0.000 description 1
- 235000010489 acacia gum Nutrition 0.000 description 1
- 239000001785 acacia senegal l. willd gum Substances 0.000 description 1
- GAMPNQJDUFQVQO-UHFFFAOYSA-N acetic acid;phthalic acid Chemical class CC(O)=O.OC(=O)C1=CC=CC=C1C(O)=O GAMPNQJDUFQVQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007171 acid catalysis Methods 0.000 description 1
- 230000001476 alcoholic effect Effects 0.000 description 1
- PYKYMHQGRFAEBM-UHFFFAOYSA-N anthraquinone Natural products CCC(=O)c1c(O)c2C(=O)C3C(C=CC=C3O)C(=O)c2cc1CC(=O)OC PYKYMHQGRFAEBM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004056 anthraquinones Chemical class 0.000 description 1
- 125000005428 anthryl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C2C([H])=C3C(*)=C([H])C([H])=C([H])C3=C([H])C2=C1[H] 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000987 azo dye Substances 0.000 description 1
- DMLAVOWQYNRWNQ-UHFFFAOYSA-N azobenzene Chemical compound C1=CC=CC=C1N=NC1=CC=CC=C1 DMLAVOWQYNRWNQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005282 brightening Methods 0.000 description 1
- GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N bromine Substances BrBr GDTBXPJZTBHREO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052794 bromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012662 bulk polymerization Methods 0.000 description 1
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 1
- 229920006217 cellulose acetate butyrate Polymers 0.000 description 1
- 229920006218 cellulose propionate Polymers 0.000 description 1
- 238000007705 chemical test Methods 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 239000000994 contrast dye Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- ZXJXZNDDNMQXFV-UHFFFAOYSA-M crystal violet Chemical compound [Cl-].C1=CC(N(C)C)=CC=C1[C+](C=1C=CC(=CC=1)N(C)C)C1=CC=C(N(C)C)C=C1 ZXJXZNDDNMQXFV-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000113 cyclohexyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])C1([H])[H] 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007720 emulsion polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 229920001480 hydrophilic copolymer Polymers 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001507 metal halide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000005309 metal halides Chemical class 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- FQPSGWSUVKBHSU-UHFFFAOYSA-N methacrylamide Chemical compound CC(=C)C(N)=O FQPSGWSUVKBHSU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VXLFYNFOITWQPM-UHFFFAOYSA-N n-phenyl-4-phenyldiazenylaniline Chemical compound C=1C=C(N=NC=2C=CC=CC=2)C=CC=1NC1=CC=CC=C1 VXLFYNFOITWQPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000001624 naphthyl group Chemical group 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 229920001220 nitrocellulos Polymers 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003791 organic solvent mixture Substances 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N phenol group Chemical group C1(=CC=CC=C1)O ISWSIDIOOBJBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002989 phenols Chemical class 0.000 description 1
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K phosphate Chemical compound [O-]P([O-])([O-])=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 239000010452 phosphate Substances 0.000 description 1
- 239000001007 phthalocyanine dye Substances 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 238000006068 polycondensation reaction Methods 0.000 description 1
- 229920002689 polyvinyl acetate Polymers 0.000 description 1
- 239000011118 polyvinyl acetate Substances 0.000 description 1
- 235000019353 potassium silicate Nutrition 0.000 description 1
- 230000002335 preservative effect Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 238000001226 reprecipitation Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 239000001022 rhodamine dye Substances 0.000 description 1
- 238000007788 roughening Methods 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- ORFSSYGWXNGVFB-UHFFFAOYSA-N sodium 4-amino-6-[[4-[4-[(8-amino-1-hydroxy-5,7-disulfonaphthalen-2-yl)diazenyl]-3-methoxyphenyl]-2-methoxyphenyl]diazenyl]-5-hydroxynaphthalene-1,3-disulfonic acid Chemical compound COC1=C(C=CC(=C1)C2=CC(=C(C=C2)N=NC3=C(C4=C(C=C3)C(=CC(=C4N)S(=O)(=O)O)S(=O)(=O)O)O)OC)N=NC5=C(C6=C(C=C5)C(=CC(=C6N)S(=O)(=O)O)S(=O)(=O)O)O.[Na+] ORFSSYGWXNGVFB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052911 sodium silicate Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011877 solvent mixture Substances 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 238000010557 suspension polymerization reaction Methods 0.000 description 1
- 229920001897 terpolymer Polymers 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 239000001003 triarylmethane dye Substances 0.000 description 1
- JEVGKYBUANQAKG-UHFFFAOYSA-N victoria blue R Chemical compound [Cl-].C12=CC=CC=C2C(=[NH+]CC)C=CC1=C(C=1C=CC(=CC=1)N(C)C)C1=CC=C(N(C)C)C=C1 JEVGKYBUANQAKG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004580 weight loss Effects 0.000 description 1
- 239000000080 wetting agent Substances 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/022—Quinonediazides
- G03F7/023—Macromolecular quinonediazides; Macromolecular additives, e.g. binders
- G03F7/0233—Macromolecular quinonediazides; Macromolecular additives, e.g. binders characterised by the polymeric binders or the macromolecular additives other than the macromolecular quinonediazides
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
Abstract
Es werden strahlungsempfindliche Zusammensetzungen beschrieben, die mindestens einen Novolak, mindestens ein Naphthochinondiazid-Derivat und ein Copolymer umfassen; das Copolymer besteht dabei aus den Einheiten A, B und C DOLLAR F1 wobei A in einem Anteil von 5 bis maximal 50 Mol-% vorliegt und R 1 und R 4 so gewählt sind, daß das Homopolymer von A alkalilöslich ist, DOLLAR A B in einem Anteil von 20-70 Mol-% vorliegt und R 2 , R 6 und R 7 so gewählt sind, daß das Homopolymer von B eine hohe Glasübergangstemperatur aufweist, und C in einem Anteil von 10-50 Mol-% vorliegt und R 3 und R 5 so gewählt sind, daß das Homopolymer von C wasserlöslich ist und Einheit A von Einheit C verschieden ist.
Description
Die Erfindung betrifft strahlungsempfindliche Zusammensetzungen sowie deren
Verwendung zur Herstellung von positiv arbeitenden Druckplatten, Leiterplatten
für integrierte Schaltungen und Photomasken; insbesondere betrifft die Erfindung
strahlungsempfindliche Zusammensetzungen, die zu einer höheren Chemikalien-
und Entwicklerresistenz von positiv arbeitenden Druckplatten, u. ä. führen.
An die Beständigkeit von Offsetdruckplatten gegenüber Lösemitteln und den
gängigen Druckraumchemikalien wie Plattenreiniger oder Gummituchwaschmittel
und Alkoholersatzstoffen im Feuchtwasser werden in letzter Zeit immer höhere
Anforderungen gestellt. Insbesondere beim Druck mit UV-härtenden Farben, wo
Auswaschmittel mit einem hohen Gehalt an Estern, Ethern oder Ketonen zum
Einsatz kommen, reicht die chemische Resistenz herkömmlicher Positivplatten
ohne spezielle Stabilisierungsverfahren nicht mehr aus. Zur Verbesserung der
chemischen Widerstandsfähigkeit von positiv arbeitenden Offsetplatten werden im
wesentlichen drei Wege diskutiert.
- 1. Positiv arbeitende Offsetdruckplatten bestehen im einfachsten Fall aus zwei Komponenten, nämlich einem Naphthochinondiazid-Derivat (NQD-Derivat) und einem Novolak. Ein Weg ist es, das NQD chemisch so zu verändern, daß es eine höhere Chemikalien- und Lösemittelresistenz bekommt (siehe US-A- 5609983). Der Nachteil dieser Methode ist, daß sich die Resistenz einer daraus hergestellten Druckplatte durch Erhöhung des NQD-Anteils nicht beliebig steigern läßt, da der NQD-Gehalt nur in einem bestimmten Bereich anwendungstechnisch vernünftig ist.
- 2. Ein weiterer Weg besteht darin, eine konventionelle positiv arbeitende
Druckplatte (basierend auf Novolak und NQD) thermisch zu stabilisieren. Dies
kann entweder durch "Einbrennen", oder das PulsarTM-Verfahren geschehen.
Beim Einbrennen wird eine fertig entwickelte Druckform einige Minuten auf etwa
230°C erhitzt, wobei die meist phenolischen Bindemittel vernetzen. Dadurch wird
eine extrem hohe chemische und mechanische Widerstandsfähigkeit erzielt. Bei
dem anderen thermischen Verfahren (PulsarTM-Verfahren) wird die entwickelte
Druckplatte einer kurzzeitigen "Schockerhitzung" auf etwa 175°C unterzogen.
Dabei kommt es zu einer leichten Vernetzung (und damit zu einer Erhöhung der chemischen Resistenz) der Bildbereiche.
Die beiden thermischen Stabilisierungsverfahren haben für den Anwender den entscheidenden Nachteil, daß sie einen hohen apparativen - und damit finanziellen - Aufwand erfordern. - 3. Ein dritter Weg befaßt sich mit der Veränderung des Bindemittelanteils einer strahlungsempfindlichen Zusammensetzung. So kann man z. B. Additive zu der Formulierung zugeben. Allerdings ist dieser Anteil bei kommerziell erhältlichen Additiven oft begrenzt, da diese Stoffe nicht auf die Zusammensetzung abgestimmt sind und daher die Eigenschaften der Druckplatte bei zu hohen Konzentrationen meistens negativ beeinflussen.
Eine andere, oft gebrauchte Methode ist der Einsatz von höhermolekularen
Novolaken; dies führt aber zu einer Verschlechterung der Lichtempfindlichkeit der
Zusammensetzung, was besonders bei hohem Plattendurchsatz oder beim
Einsatz von Step & Repeat Belichtern einen starken Zeitverlust für den Anwender
bedeutet.
Weiterhin kann man die Eigenschaften der Bindemittel in der
strahlungsempfindlichen Zusammensetzung durch chemische Veränderung
verbessern. Da solche speziellen Bindemittel mit hoher chemischer Resistenz
kommerziell nicht oder nur zu einem sehr hohen Preis erhältlich sind (z. B. EP-A-
0737896), ist man meistens auf Eigenentwicklungen angewiesen. Damit dieser
Weg nicht mit zu hohen Kosten verbunden ist, muß der synthetische Aufwand zur
Herstellung solcher maßgeschneiderter Hochleistungsbindemittel möglichst
gering gehalten werden.
Trotz der intensiven Forschungen auf dem Gebiet chemisch resistenter
Bindemittel für Offsetdruckplatten lassen also die bestehenden Lösungsansätze
noch Verbesserungen, insbesondere bezüglich flexiblerer einsetzbarer und
preisgünstigerer Bindemittel, wünschenswert erscheinen.
Es ist daher die Aufgabe dieser Erfindung, strahlungsempfindliche
Zusammensetzungen bereitzustellen, die bei Druckformen, Leiterplatten für
integrierte Schaltungen und Photomasken, die chemische Resistenz signifikant
erhöhen, ohne die oben beschriebenen Nachteile in Kauf nehmen zu müssen,
wobei außerdem eine Entwicklung mit herkömmlichen Entwicklern möglich sein,
sowie hohe Strahlungsempfindlichkeiten und hohe Auflösungen sowie eine
schnelle Farbannahme gewährleistet sein soll; die einzusetzenden Bindemittel
sollten außerdem preisgünstig sein.
Eine weitere Aufgabe der Erfindung ist es, Verfahren zur Herstellung solcher
strahlungsempfindlichen Zusammensetzungen bereitzustellen.
Diese Aufgabe wird gelöst durch eine strahlungsempfindliche Zusammensetzung
umfassend
- a) mindestens einen Novolak,
- b) mindestens ein Naphthochinondiazid-Derivat und
- c) ein Copolymer bestehend aus den Einheiten A, B und C, wobei die Einheit
A in einem Anteil von mindestens 5 und maximal 50 mol% vorliegt und
folgende Formel aufweist
in der R1 und R4 so gewählt sind, daß das Homopolymer von A alkalilöslich ist,
die Einheit B in einem Anteil von 20-70 mol% vorliegt und folgende Formel aufweist
in der R2, R6 und R7 so gewählt sind, daß das Homopolymer von B eine hohe Glasübergangstemperatur aufweist,
und die Einheit C in einem Anteil von 10-50 mol% vorliegt und folgende Formel aufweist
in der R3 und R5 so gewählt sind, daß das Homopolymer von C wasserlöslich ist,
mit der Maßgabe, daß Einheit C verschieden von Einheit A ist.
Fig. 1 zeigt das Entwicklerresistenzverhalten und die Lichtempfindlichkeit einer
Mischungsreihe Novolak/Copolymer. Der Gehalt an NQD ist über die Reihe
konstant bei 21 Gew.-% gehalten. Die gepunktete Linie zeigt den erwarteten
Kurvenverlauf der Entwicklerresistenz, die durchgezogene Linie die experimentell
gefundenen Werte. Die gestrichelte Linie zeigt die Lichtempfindlichkeit (d. h. die
freien Graukeilstufen).
Fig. 2 zeigt den Einfluß des Gehalts an Einheit A im Copolymer auf
Entwicklerresistenz, Lichtempfindlichkeit und chemischer Resistenz bei
konstantem NQD-Gehalt der Zusammensetzung (21 Gew.-%).
Fig. 3 zeigt die Lichtempfindlichkeit der Zusammensetzungen von konvertierten
Platten mit (gepunktete) und ohne (durchgezogene Linie) Copolymer P3 in
Abhängigkeit von der Konvertiertemperatur.
Das Copolymer ist ein Terpolymer, wobei jede Einheit (A-C)
eine besondere Funktion im Copolymer hat.
Struktureinheit A ist für die Alkalilöslichkeit des Copolymers verantwortlich. Dies
setzt voraus, daß das Homopolymer des Monomer A alkalilöslich ist; es kann,
muß aber nicht wasserlöslich sein.
Struktureinheit B trägt hauptsächlich zu einer hohen Glastemperatur des
Copolymers bei und verhindert damit auch eine zu schnelle Penetration von
organischen Lösemitteln. Dies setzt voraus, daß das Homopolymer von B eine
hohe Glasübergangstemperatur aufweist.
Struktureinheit C sorgt für eine ausreichende Hydrophilie des Copolymers, so daß
das Copolymer rasch und vollständig entwickelbar ist und es nicht zu der
gefürchteten Hautbildung während des Entwicklungsvorgangs kommt.
Voraussetzung dafür ist, daß das Homopolymer der Struktureinheit C
wasserlöslich ist; dies bringt häufig auch eine Alkalilöslichkeit mit sich.
Im folgenden gilt:
Sofern nicht anders definiert, steht in dieser Anmeldung der Ausdruck "Alkyl" für geradkettige oder verzweigte Alkylreste mit 1-12 Kohlenstoffatomen, vorzugsweise 1-4 Kohlenstoffatomen,
der Ausdruck "Cycloalkyl" für Cycloalkylreste mit 3-8 Ringkohlenstoffatomen, vorzugsweise 5 oder 6 Ringkohlenstoffatomen,
der Ausdruck "Aryl" für Phenyl, Naphthyl, Anthryl oder einen N-substituierten Carbazolrest, und
der Ausdruck "Halogen" für Fluor, Chlor, Brom oder Jod.
Sofern nicht anders definiert, steht in dieser Anmeldung der Ausdruck "Alkyl" für geradkettige oder verzweigte Alkylreste mit 1-12 Kohlenstoffatomen, vorzugsweise 1-4 Kohlenstoffatomen,
der Ausdruck "Cycloalkyl" für Cycloalkylreste mit 3-8 Ringkohlenstoffatomen, vorzugsweise 5 oder 6 Ringkohlenstoffatomen,
der Ausdruck "Aryl" für Phenyl, Naphthyl, Anthryl oder einen N-substituierten Carbazolrest, und
der Ausdruck "Halogen" für Fluor, Chlor, Brom oder Jod.
Sofern nicht anders angegeben, umfassen die Ausdrücke "Alkyl" und "Cycloalkyl"
unsubstitutierte Alkylreste/Cycloalkylreste sowie Alkylreste/Cycloalkylreste, die
mindestens einen Substituenten ausgewählt aus Halogenatomen und -NO2
aufweisen.
Außerdem umfaßt der Ausdruck "Aryl" in dieser Anmeldung - sofern nicht anders
angegeben - unsubstituierte Arylreste, sowie mit mindestens einem Substituenten
ausgewählt aus Halogenatomen, Alkylresten und -NO2 substituierte Arylreste.
Der Ausdruck "Alkoxyrest" umfaßt Alkoxyreste mit 1-12 Kohlenstoffatomen, die
Alkyleinheit der Alkoxyreste kann verzweigt, geradkettig oder cyclisch sein und
gegebenenfalls einen oder mehrere Substituenten ausgewählt aus -OH
Halogenatom, Alkylrest und Arylrest aufweisen.
Bevorzugt ist R1 ein Wasserstoffatom, ein Arylrest, der mindestens einen
Substituenten ausgewählt aus Hydroxyl- und Carboxylgruppe, und
gegebenenfalls außerdem mindestens einen Substituenten ausgewählt aus
Halogenatom, (C1-C12)-Alkylrest und -NO2 aufweist, ein Arylsulfonamidrest, oder
ein (C1-C12)-Alkylrest, der mindestens eine Carboxylgruppe aufweist.
Besonders bevorzugt steht R1 für ein Wasserstoffatom, eine
Hydroxyphenylgruppe, eine Carboxyphenylgruppe, eine Phenylsulfonamidgruppe
oder einen Carboxy-(C1-C4)alkylrest.
R4 und R5 sind unabhängig voneinander vorzugsweise ein Wasserstoffatom, ein
Halogenatom oder ein (C1-C12)-Alkylrest.
R4 ist besonders bevorzugt H oder -CH3; das gleiche gilt für R5.
R2 ist vorzugsweise ein Wasserstoffatom, ein Arylrest, der gegebenenfalls einen
oder mehrere Substituenten ausgewählt aus Halogenatom, Alkylrest, -NO2 und
-OH aufweist, ein Alkylrest, ein Cycloalkylrest, ein Arylsulfonamidrest oder eine
Sulfonamidgruppe.
Besonders bevorzugt ist R2 ein Wasserstoffatom, eine Phenylgruppe, eine
Cyclohexylgruppe, eine Hydroxyphenylgruppe, eine Phenylsulfonamidgruppe
oder Sulfonamidgruppe.
R6 und R7 sind unabhängig voneinander vorzugsweise ein Wasserstoffatom, ein
Halogenatom, ein (C1-C4)-Alkylrest oder eine Phenylgruppe.
Besonders bevorzugt sind R6 und R7 beide ein Wasserstoffatom.
R3 ist vorzugsweise ein Wasserstoffatom, ein (C1-C12)-Alkylrest, der mindestens
eine Hydroxygruppe und gegebenenfalls außerdem einen oder mehrere
Substituenten ausgewählt aus Halogenatom und -NO2 aufweist, ein (C3-C8)-
Cycloalkylrest, der mindestens eine Hydroxygruppe und gegebenenfalls
außerdem einen oder mehrere Substituenten ausgewählt aus Halogenatom und
-NO2 aufweist, ein Arylrest, der mindestens eine Hydroxygruppe und
gegebenenfalls einen oder mehrere Substituenten ausgewählt aus Halogenatom,
(C1-C12)-Alkyl und -NO2 aufweist; ein (C1-C12)-Alkylsulfonamidrest, ein
Arylsulfonamidrest, -NH(CH2)nO-Alkyl (wobei n eine ganze Zahl von 1-20 ist),
-NHR8 (wobei R8 für Wasserstoff, (C1-C12)-Alkyl oder Aryl steht) oder ein (C1-C12)-
Alkoxyrest, der gegebenenfalls mindestens eine Hydroxygruppe aufweist.
Besonders bevorzugt steht R3 für -NH2 oder -CH2-CH2-OH.
Der Anteil der Monomereinheit A im Copolymer beträgt mindestens 5 und
maximal 50 mol% bezogen auf das Copolymer; vorzugsweise ist der Anteil von A
7-40 mol%, besonders bevorzugt 10-30 mol%.
Der Anteil der Einheit B beträgt 20-70 mol% bezogen auf das Copolymer,
vorzugsweise 35-60 mol%.
Der Anteil der Einheit C beträgt 10-50 mol% bezogen auf das Copolymer,
vorzugsweise 25-45 mol%.
Der Gewichtsmittel des Molekulargewichts des Copolymers beträgt vorzugsweise
500 bis 1000000, besonders bevorzugt 2000 bis 250000.
Das Copolymer kann aus den Monomeren A', B' und C'
wobei R1-R7 wie für A, B und C definiert sind, durch bekannte
Polymerisationsverfahren (z. B. Polymerisation in Lösung, Massepolymerisation,
Emulsions- und Suspensionspolymerisation) hergestellt werden. Vorzugsweise
wird eine Lösung enthaltend die Monomere A', B' und C' erwärmt und dann ein
üblicher Initiator zugegeben. Es ist auch möglich den Initiator zu dem
Monomerengemisch zu geben, dann ein organisches Lösungsmittel zuzugeben
und die erhaltene Lösung anschließend zu erwärmen.
Besonders bevorzugte Monomere A' sind Methacrylsäure und
Carboxyphenylmethacrylat.
Besonders bevorzugte Monomere B' sind N-Phenylmaleimid und
N-Cyclohexylmaleimid.
Besonders bevorzugte Monomere C' sind Methacrylamid,
Hydroxyethylmethacrylat und N-Methoxymethylmethacrylat.
Das Copolymer kann sowohl als "stand-alone" Bindemittel, d. h. als einziges
Bindemittel, als auch als Additiv, d. h. neben einem oder mehreren weiteren
Bindemitteln in den erfindungsgemäßen strahlungsempfindlichen
Zusammensetzungen verwendet werden.
Das Copolymer ist billig herzustellen und kann synthetisch sehr einfach an die
jeweilige Zusammensetzung angepaßt werden, d. h. vor allem kann es daran
angepaßt werden, ob es als "stand-alone" Bindemittel oder als Additiv verwendet
wird.
Druckformen etc., die mit solchen strahlungsempfindlichen Zusammensetzungen
hergestellt werden, zeichnen sich durch sehr hohe chemische Resistenz, d. h.
Resistenz gegenüber Druckraumchemikalien und Entwicklerchemikalien, aus.
Um die Vorteile der erfindungsgemäßen strahlungsempfindlichen
Zusammensetzungen voll ausreizen zu können, ist es sinnvoll, die Copolymere
ihrem Verwendungszweck - ob sie also als Additiv oder stand-alone Bindemittel
eingesetzt werden - anzupassen. Diese Anpassung geschieht z. B. einfach durch
eine Veränderung des Gehaltes an Monomer A; damit wird in erster Linie die
Alkalilöslichkeit beeinflußt. Für eine Verwendung als resistenzsteigerndes Additiv
in einer üblichen positiv arbeitenden Formulierung empfiehlt sich ein höherer
Gehalt an Einheit A im Copolymer, vorzugsweise 20-40 mol%, als für einen
Einsatz als alleiniges Bindemittel für UV-Farbendruckplatten (vorzugsweise 5-20
mol%). Dabei spielt ein wichtiger Effekt eine ganz entscheidende Rolle, den nur
die Gruppe dieser Copolymere zeigt und der im folgenden näher beschrieben
werden soll.
Grundlegendes Arbeitsprinzip eines positiv arbeitenden Systems wie z. B. einer
Druckplatte ist die unterschiedliche Lösungsgeschwindigkeit von belichteten und
unbelichteten Bildelementen im Entwickler. Dabei sollen die belichteten Stellen
möglichst rasch, die unbelichteten Stellen am besten überhaupt nicht im
Entwickler löslich sein. Die Lösungsgeschwindigkeit der belichteten Elemente
bestimmt die Lichtempfindlichkeit (oder die "Geschwindigkeit") einer Druckplatte;
die Lösungsgeschwindigkeit der unbelichteten Platte ist nichts anderes als die
Entwicklerresistenz. In der Praxis liegen meist 1-4 Minuten zwischen dem
Zeitpunkt, bei dem die belichteten Stellen vollständig ausentwickelt sind und dem
Zeitpunkt, bei dem die unbelichteten Stellen durch den Entwickler aufgelöst
werden. Diese Zeitspanne wird auch als Entwicklerspielraum bezeichnet. Bei
besonders aggressiven Entwicklern kann dieser Spielraum deutlich reduziert
werden, so daß er oft nur unwesentlich größer ist als die eigentliche
Entwicklungszeit (15-30 s).
In den erfindungsgemäßen strahlungsempfindlichen Zusammensetzungen sind
die Copolymere in der Lage, in Kombination mit Novolaken und
Naphthochinondiazid-Derivaten den Entwicklungsspielraum deutlich zu erhöhen,
ohne dabei gleichzeitig die Lichtempfindlichkeit zu verringern. Wie Fig. 1 zeigt, tritt
in einer Mischungsreihe Novolak/Copolymer ein Maximum der Entwicklerresistenz
(durchgezogene Linie) im Mittelbereich auf. Dieses nicht-lineare Verhaften weicht
von der erwarteten Kurve (gepunktete Linie) deutlich ab. Im Gegensatz dazu zeigt
die Lichtempfindlichkeit (gestrichelte Linie) der Mischungsreihe kein Minimum, wie
man es üblicherweise erwartet hätte, da Formulierungen mit hoher
Entwicklerresistenz im allgemeinen weniger lichtempfindlich sind.
Dieses Phänomen eines Resistenzmaximums tritt nicht auf bei einer Mischung
Novolak/Copolymer, bei der das NQD fehlt; hier erhält man einen linearen
Kurvenverlauf. Da bei diesem Effekt alle drei Komponenten, also Novolak,
Copolymer und NQD einen Insolubilisations-Synergismus zeigen, wird der oben
beschriebene Effekt im folgenden auch "cross-insolubilisation" genannt.
Geht man von einer Zusammensetzung aus, die nur das Copolymer und NQD
enthält und bewegt sich zu Mischungen mit steigendem Novolak-Anteil,
vervielfacht sich die Entwicklerresistenz. Dies ist besonders interessant für
Druckplatten, die im UV-Farbendruck eingesetzt werden; dafür geeignete
Zusammensetzungen benötigen höchste Chemikalienresistenz und guten
Entwicklungsspielraum.
Bei erfindungsgemäßen strahlungsempfindlichen Zusammensetzungen, die auf
Novolak und NQD basieren und lediglich in ihrer chemischen Resistenz durch das
Copolymer-Additiv verbessert werden sollen, empfiehlt es sich, im Copolymer den
Anteil von Einheit A zu erhöhen (siehe Fig. 2). Nimmt man ein Polymer mit
niedrigem Anteil an Einheit A (z. B. 15 mol%), würde die Lichtempfindlichkeit der
Platte beeinträchtigt (wie in Fig. 2a). Obwohl das Bindemittel als stand-alone
Binder mit einem NQD (siehe Fig. 2b) so gut wie keine Entwicklerresistenz in
einer Zusammensetzung zeigt, ermöglicht es der "cross-insolubilisation" Effekt,
daß bei einem Anteil von bis zu 50% Copolymer (bezogen auf die Gesamtmenge
von Copolymer und Novolak) eine gute Entwicklerresistenz erhalten wird, ohne
dabei die Lichtempfindlichkeit entscheidend zu verschlechtern, wenn der Anteil in
Einheit A erhöht wird (z. B. auf 20% oder mehr). Bei kommerziell üblichen
Additiven (z. B. Celluloseacetathydrogenphthalate) mit hohem Anteil an
alkalilöslichen Gruppen zur Steigerung der chemischen Resistenz würde sich ein
rasch abfallender Verlauf der Entwicklerresistenz ergeben, wie in Fig. 2b mit der
gepunkteten Linie skizziert. Die Copolymere sind jedoch in der Lage, durch den
"cross-insolubilisation" Effekt sowohl Empfindlichkeit als auch Entwicklerresistenz
über einen weiten Bereich konstant zu halten; erst ab hohen Anteilen an
Copolymeren in der Zusammensetzung "kippt" das System um. Man erhält durch
die speziellen Copolymere einen signifikant vergrößerten Formulierungsspielraum
im Vergleich zu üblichen resistenzsteigernden Additiven.
Die Resistenz gegen aggressive Chemikalien wird signifikant gesteigert, wie in
Fig. 2b entnommen werden kann (in einigen Fällen um das 100-fache). In den
strahlungsempfindlichen Zusammensetzungen spielt es für die Resistenz
gegenüber Druckraumchemikalien keine Rolle, ob das polymere Bindemittel mehr
oder weniger Anteile an z. B. Einheit A enthält.
Außerdem hat sich gezeigt, daß solche positiv arbeitenden
strahlungsempfindlichen Zusammensetzungen, wenn sie konvertierbar (auch:
umkehrbar oder geminisierbar) sind, einen deutlich verbreiterten
Konvertierspielraum zeigen. In den untersuchten Fällen konnte ebenfalls die
Konvertiertemperatur nach unten verschoben werden, was durch Wegfall von
Oxidations- und Vernetzungsprozessen bei höheren Temperaturen einen
anwendungstechnischen Vorteil bedeutet.
Man hat mit den Copolymeren einerseits Additive zur Verfügung, mit denen es
möglich ist, die chemische Resistenz z. B. gegenüber Druckraumchemikalien
eines positiv arbeitenden Systems wie z. B. Druckplatte drastisch zu steigern ohne
die Lichtempfindlichkeit und die Entwicklerresistenz negativ zu beeinflussen.
Andererseits kann man diese Copolymere ebensogut als
Hauptbindemittelbestandteil bei einer positiv arbeitenden Druckplatte mit höchster
chemischer Resistenz für UV-härtende Farben einsetzen.
Dabei ist die Fähigkeit der Copolymere, zusammen mit Novolak und NQD einen
Insolubilisations-Synergismus ("cross-insolubilisation" Effekt) zu induzieren, der
Schlüssel zu dieser sehr flexiblen Einsetzbarkeit.
Als Novolake können alle dem Fachmann bekannten Polykondensationsprodukte
aus Formaldehyd und Phenolen, die durch Säurekatalyse oder neutrale
Katalysatoren hergestellt wurden, verwendet werden.
Als Naphthochinondiazid-Derivate könne alle dem Fachmann bekannten
eingesetzt werden. Beispiele hierfür sind der Ester aus Naphthochinon-1,2-
diazido-5-sulfonsäurechlorid oder -4-sulfonsäurechlorid und 2,4-
Dihydroxybenzophenon bzw. 2,3,4-Trihydroxybenzophenon.
Es ist bei der vorliegenden Erfindung nicht nötig, Novolak(e) und
Naphthochinondiazid-Derivat(e) als getrennte Komponenten in der
erfindungsgemäßen Zusammensetzung zu verwenden; es können auch mit
Novolak(en) umgesetzte(s) Naphthochinondiazid-Derivat(e) (sog. "two-in-one
Systeme") eingesetzt werden.
Das Gewichtsverhältnis von Novolak zu Copolymer in der erfindungsgemäßen
Zusammensetzung ist vorzugsweise im Bereich von 90 : 10 bis 10 : 90.
Prinzipiell kann das Copolymer in jedem Verhältnis mit einer üblichen positiv
arbeitenden Zusammensetzung auf der Basis von NQD und Novolak gemischt
werden. Bei einem Verhältnis Novolak/Copolymer von nahezu 100/0 bis etwa
60/40 (Gew.-%) kann man das Copolymer noch als Additiv bezeichnen. Eine
damit hergestellte positiv arbeitende Druckplatte zeigt signifikant verbesserte
chemische Resistenz gegenüber einer Druckplatte, deren strahlungsempfindliche
Zusammensetzung das Copolymer nicht enthält. Verwendet man
Zusammensetzungen mit dem Verhältnis Novolak/Copolymer von etwa 40/60 bis
nahezu 0/100 (Gew.-%) zur Herstellung von positiv arbeitenden Druckplatten, so
erhält man Druckplatten höchster Chemikalienresistenz, die sich bestens für den
Druck mit UV-härtenden Farben eignen.
Die erfindungsgemäßen strahlungsempfindlichen Zusammensetzungen können
neben den essentiellen Bestandteilen (Copolymer, Novolak und NQD) außerdem
noch ein oder mehrere weitere Komponenten enthalten, die ausgewählt werden
aus strahlungsempfindlichen Säurespendern, Farbstoffen oder Pigmenten zur
Erhöhung des Bildkontrastes, Belichtungsindikatoren, Weichmachern und
Gemischen davon.
Die in den erfindungsgemäßen strahlungsempfindlichen Zusammensetzungen
verwendbaren Belichtungsindikatoren sind dem Fachmann bekannt. Bevorzugt
sind Belichtungsindikatoren aus der Reihe der Triarylmethanfarbstoffe (wie
Viktoriareinblau BO, Viktoriablau R, Kristallviolett) oder Azofarbstoffe (wie 4-
Phenylazodiphenylamin, Azobenzol oder 4-N,N-Dimethylaminoazobenzol). Die
Belichtungsindikatoren können in der Zusammensetzung in einem Anteil von 0,02
bis 10 Gew.-%, besonders bevorzugt 0,5 bis 6 Gew.-% vorhanden sein.
Als Farbstoffe zur Erhöhung des Bildkontrastes eignen sich solche, die sich gut in
dem zur Beschichtung verwendeten Lösungsmittel oder Lösungsmittelgemisch
lösen oder als Pigment in disperser Form eingebracht werden können. Zu den
geeigneten Kontrastfarbstoffen gehören u. a. Rhodaminfarbstoffe, Methylviolett,
Anthrachinon-Pigmente und Phthalocyaninfarbstoffe bzw. -pigmente.
Geeignete Weichmacher sind u. a. Dibutylphthalat, Triaylphosphat und
Dioctylphthalat. Dioctylphthalat ist besonders bevorzugt. Die Einsatzmengen an
Weichmacher sind vorzugsweise 0,25 bis 2 Gew.-%.
Bezogen auf die Gesamteinwaage enthält die strahlungsempfindliche
Zusammensetzung vorzugsweise 2-90 Gew.-% des Copolymers, besonders
bevorzugt 7-80 Gew.-%, weiter bevorzugt 10-70 Gew.-%.
Die erfindungsgemäßen strahlungsempfindlichen Zusammensetzungen können
zur Herstellung von Druckformen (insbesondere Offsetdruckplatten), Leiterplatten
für integrierte Schaltungen und Photomasken verwendet werden.
Der bei der Druckplatte zu verwendende Träger ist vorzugsweise ein
dimensionsbeständiges platten- bzw. folienförmiges Material. Als ein solches
dimensionsbeständiges Platten- bzw. Folienmaterial wird vorzugsweise eines
verwendet, das bereits bisher als Träger für Drucksachen verwendet worden ist.
Zu Beispielen für einen solchen Träger gehören Papier, Papier, das mit
Kunststoffen (wie Polyethylen, Polypropylen, Polystyrol) beschichtet ist, eine
Metallplatte oder -folie, wie z. B. Aluminium (einschließlich Aluminiumlegierungen),
Zink- und Kupferplatten, Kunststoffilme aus beispielsweise Cellulosediacetat,
Cellulosetriacetat, Cellulosepropionat, Celluloseacetat, Celluloseacetatbutyrat,
Cellulosenitrat, Polyethylentheraphthalat, Polyethlyen, Polystyrol, Polypropylen,
Polycarbonat und Polyvinylacetat, und ein Laminat aus Papier oder einem
Kunststoffilm und einem der obengenannten Metalle oder ein
Papier/Kunststoffilm, der durch Aufdampfen metallisiert worden ist. Unter diesen
Trägern ist eine Aluminiumplatte oder -folie besonders bevorzugt, da sie
bemerkenswert dimensionsbeständig und billig ist und außerdem eine
ausgezeichnete Haftung der strahlungsempfindlichen Schicht zeigt. Außerdem
kann eine Verbundfolie verwendet werden, in der eine Aluminiumfolie auf einen
Polyethylenterephthalatfilm auflaminiert ist.
Ein Metallträger, insbesondere ein Aluminiumträger, wird vorzugsweise einer
Oberflächenbehandlung, beispielsweise einer Aufrauhung durch Bürsten im
trockenen Zustand, oder Bürsten mit Schleifmittel-Suspensionen oder auf
elektrochemischen Wege, z. B. einem Salzsäureelektrolyten, und gegebenenfalls
einer anodischen Oxidation, unterworfen.
Außerdem kann zur Verbesserung der hydrophilen Eigenschaften der Oberfläche
des aufgerauhten und gegebenenfalls anodisch in Schwefel- oder Phosphorsäure
oxydierten Metallträgers dieser einer Nachbehandlung mit einer wäßrigen Lösung
von Natriumsilicat, Calziumzirkoniumfluorid, Polyvinylphosphonsäure oder
Phosphorsäure unterworfen werden.
Die Details der o. g. Substratvorbehandlung sind dem Fachmann hinlänglich
bekannt.
Die anschließend getrockneten Platten werden mit den strahlungsempfindlichen
Schichten aus organischen Lösungsmitteln bzw. Lösungsmittelgemischen so
beschichtet, daß Trockenschichtgewichte vorzugsweise im Bereich von 0,5 bis 4 g/m2,
besonders bevorzugt 0,8 bis 3 g/m2 erhalten werden.
In einigen Fällen kann das zusätzliche Aufbringen einer sauerstoff- und/oder
feuchtigkeitssperrenden Deckschicht auf die strahlungsempfindliche Schicht von
Vorteil sein.
Die so hergestellten Druckplatten werden in der dem Fachmann bekannten,
üblichen Weise belichtet und entwickelt. Die entwickelten Platten werden
üblicherweise mit einem Konservierungsmittel behandelt ("Gummierung"). Die
Konservierungsmittel sind wäßrige Lösungen von hydrophilen Copolymeren,
Netzmitteln und weiteren bekannten Zusätzen.
Die Erfindung wird anhand der folgenden Beispiele näher erläutert.
Mit den in Tabelle 1 aufgeführten Monomeren wurden Copolymere hergestellt.
Zur Polymerisation wurden die Monomere in einem Kolben mit Rührer und
Stickstoffüberleitung bei 60°C in Methylglycol (Gesamtmonomerkonzentration
2.5 mol/l) vorgelegt und dann 0.1 mol% Azobisisobutyronitril als Initiator
zugegeben. Die Umfällung erfolgte in der dreifachen Menge Methanol. Die
erhaltenen Copolymere wurden 48 h bei 50°C getrocknet.
Die Copolymere VP1, VP2 und VP3 sind Vergleichscopolymere. VP1 ist in EP-A-
0 737 896 beschrieben. VP2 enthält ein Monomer vom Typ A', welches in DE-A-
44 26 141 beschrieben ist. VP3 ist in UK 9811813.6 beschrieben.
Die Copolymere P1-P7 sind sehr billig herzustellen; der Rohstoffpreis der
Monomere reicht von 5-25 DM/kg. Auch die Lösungsmittelabfälle sind gering, da
in hohen Konzentrationen und mit wenig Fällmittel gearbeitet wird. Bei den
Vergleichscopolymeren VP2 und VP3 liegen die Rohstoffkosten deutlich höher,
insbesondere das APK-Monomer in VP2 muß aufwendig über die teure
Zwischenstufe Methacryloyloxyethylisocanat hergestellt werden.
Die im Synthesebeispiel erhaltenen Copolymere wurden zu positiv arbeitenden
strahlungsempfindlichen Standardzusammensetzungen für Druckplatten
gegeben. Diese Standardzusammensetzungen enthalten neben einem
Naphthochinondiazid und einem Novolak noch einen lichtempfindlichen
Säurespender und einen Farbstoff, um den Bildkontrast zwischen belichteter und
unbelichteter Stelle zu erhöhen (siehe Tabelle 2).
Von den Ansätzen A0-A5 werden die Feststoff-Komponenten mit Methylglykol zu
einer 10%-igen Lösung aufgelöst. Nach Filtrieren der Lösung wird sie auf eine
elektrochemisch aufgerauhte und anodisierte Aluminiumbasis, die mit
Polyvinylphosphonsäure nachbehandelt worden ist, mit üblichen Verfahren
aufgebracht und zunächst ohne Luftzufuhr und ohne Erwärmen getrocknet. Die
Nachtrocknung erfolgte 5 min. bei 100°C. Das Trockenschichtgewicht betrug in
allen Fällen 2 g/m2.
Die Kopierschicht wird unter einem Silberfilm-Halbtonstufenkeil (UGRA-Graukeil)
mit einem Dichteumfang von 0.15 bis 1.95, wobei die Dichteinkremente 0.15
betragen, als Positivvorlage mit einer Metallhalogenidlampe (MH-Brenner 5000 W,
Fa. Sack) mit 800 mJ/cm2 belichtet.
Die belichtete Schicht wird mit einer Entwicklerlösung bestehend aus
87.79 Gew.-% demineralisiertes Wasser
9.20 Gew.-% Natronwasserglas
2.10 Gew.-% Natriumhydroxid
0.90 Gew.-% Ethylenglykol
0.01 Gew.-% Tetramethylammoniumchlorid (50%-ige wässr. Lsg.)
15 s behandelt. Anschließend wird die Entwicklerlösung nochmals 5 s mit einem feuchten Tuch auf der Oberfläche verrieben und dann die gesamte Platte mit Wasser abgespült. Nach dieser Behandlung verbleiben die unbelichteten Teile auf der Platte. Zur Bewertung der Lichtempfindlichkeit und der Farbannahme wird die Platte im nassen Zustand mit einer Druckfarbe eingeschwärzt. Als Druckfarbe wurden die Produkte PC 904TM (Fa. Polychrome) und RC 43TM (Fa. Hoechst) verwendet. Die Ergebnisse sind in Tabelle 3 aufgeführt. Bei den Einträgen in der Tabelle, die mit "soakloss" gekennzeichnet sind, war eine Auswertung nicht möglich, da diese Proben durch den Entwickler bereits angegriffen waren.
87.79 Gew.-% demineralisiertes Wasser
9.20 Gew.-% Natronwasserglas
2.10 Gew.-% Natriumhydroxid
0.90 Gew.-% Ethylenglykol
0.01 Gew.-% Tetramethylammoniumchlorid (50%-ige wässr. Lsg.)
15 s behandelt. Anschließend wird die Entwicklerlösung nochmals 5 s mit einem feuchten Tuch auf der Oberfläche verrieben und dann die gesamte Platte mit Wasser abgespült. Nach dieser Behandlung verbleiben die unbelichteten Teile auf der Platte. Zur Bewertung der Lichtempfindlichkeit und der Farbannahme wird die Platte im nassen Zustand mit einer Druckfarbe eingeschwärzt. Als Druckfarbe wurden die Produkte PC 904TM (Fa. Polychrome) und RC 43TM (Fa. Hoechst) verwendet. Die Ergebnisse sind in Tabelle 3 aufgeführt. Bei den Einträgen in der Tabelle, die mit "soakloss" gekennzeichnet sind, war eine Auswertung nicht möglich, da diese Proben durch den Entwickler bereits angegriffen waren.
Wie aus Tabelle 3 hervorgeht, zeigt Copolymer P3 eine konstante
Lichtempfindlichkeit bis über ein Novolak/P3-Verhältnis von über 40/60 [Gew.-%]
hinaus. Dieses Copolymer eignet sich also besonders gut als
Chemikalien/Lösungsmittel resistenzsteigerndes Additiv, ohne daß die
Entwicklerresistenz/Lichtempfindlichkeit dadurch verschlechtert würde (was in der
nachfolgenden Tabelle 4 noch weiter erläutert wird).
Um die Entwickelbarkeit der belichteten Schicht zu prüfen und sie mit anderen
Formulierungen vergleichen zu können, wird wie folgt verfahren: in Zeitabständen
von 5 s wird die belichtete Platte mit Hilfe einer Pipette streifenweise mit obiger
Entwicklerlösung beladen. Nach einer Einwirkzeit von 20 s wird die gesamte
Platte schnell mit Wasser abgespült, mit Druckfarbe eingeschwärzt und dann
getrocknet. Es wird die Zeit der Entwicklereinwirkung ermittelt, bei der die Schicht
nach Einschwärzung keine Farbe mehr annimmt (Dieser Test wird im folgenden
als Droptest bezeichnet).
Bei allen Proben A0-A5 war bereits nach 5 sec. die Platte voll ausentwickelt.
Um die Resistenz der unbelichteten Schicht (der Bildstellen) gegen Entwickler zu
prüfen, wird eine unbelichtete Platte alle 30 s mit Hilfe einer Pipette streifenweise
mit obiger Entwicklerlösung beladen. Nach einer Einwirkzeit von 4 min wird die
gesamte Platte schnell mit Wasser abgespült. Im Bedarfsfall kann diese Zeit auch
verlängert werden. Es wird der Zeitpunkt der Entwicklereinwirkung ermittelt, bei
der die Schicht deutliche Aufhellungen zeigt (Dieser Test wird im folgenden als
Soaktest bezeichnet).
In Tabelle 4 sind die Entwicklerresistenzen von positiv arbeitenden
Formulierungen aus Tabelle 2 mit verschiedenen Copolymeren aus Tabelle 1
über dem Verhältnis Novolak/Copolymer aufgeführt.
Um die Resistenz der strahlungsempfindlichen Schicht gegen aggressive, meist
alkoholhaltige Waschmittel (z. B. für Film- und Glasreiniger und im Drucksaal für
Druckformen, Gummituch und Walzen) zu prüfen, wird ein Labortestwaschmittel
(WM) herangezogen. Dieser Test gibt ebenfalls zuverlässige Aussagen über die
chemische Resistenz gegenüber anderen organischen Solventien. Die
Zusammensetzung dieses Testwaschmittels ist: 20 Gew.-% Isopropanol
(Wassergehalt unter 0,1%), 85 Gew.-% Benzin 135/180 (auch: Typ K21) und 1 Gew.-%
Wasser. Der endgültige Wassergehalt wird mit Karl Fischer bestimmt und
darf eine Differenz von ±0,1% aufweisen.
Zur Durchführung wird ein Druckplattenprobenstück von etwa 10 × 10 cm im
oberen Drittel belichtet und in eine trockene Petrischale, die mit dem Waschmittel
gefüllt und auf ~25°C temperiert ist eingetaucht. Im Abstand von 1, 2, 3 und 4 min
(bei Bedarf kann diese Zeit auch verlängert werden) wird mit einem Tuch unter
kräftigem Druck von oben nach unten über die Probe gewischt. Die unbelichtete
Hälfte wird beurteilt. Es wird die Zeit in Minuten notiert, bei der ein deutlicher
Kontrastverlust zu sehen ist (ca. 30% Kontrastverlust). Nur in den Fällen, wo der
belichtete Teil länger als 0.5 min resistent ist, wird auch dieser Wert festgehalten.
Um die Resistenz der strahlungsempfindlichen Schicht gegen die äußerst
aggressiven, meist stark lösemittelhaltigen Auswaschmittel (Ether, Ester, Ketone
etc.), wie sie im Druck mit UV-Farben Anwendung finden, zu prüfen, wird ein
Labortestwaschmittel herangezogen. Die Zusammensetzung dieses
Testwaschmittels ist: 80 Gew.-% Diacetonalkohol (DAA) und 20 Gew.-% Wasser.
Zur Durchführung wird ein Druckplattenprobenstück von etwa 18 × 6 cm im
oberen Drittel belichtet und im Abstand von 30 sec. mit Hilfe einer Pipette
streifenweise mit obigem UV-Waschmittel beladen. Nach einer Einwirkzeit von 2
min wird die gesamte Platte schnell mit Wasser abgespült und mit einem feuchten
Tuch nachgewischt. Bei Bedarf kann diese Zeit auch verlängert werden. Es wird
der Zeitpunkt der Einwirkung ermittelt, bei der die Schicht deutliche Aufhellungen
zeigt. In den Fällen, wo zwei Proben die gleiche Resistenz auf der unbelichteten
Seite aufweisen, wird auch der Wert des belichteten Drittels herangezogen.
Tabelle 5 zeigt die chemische Resistenz der einzelnen Zusammensetzungen
gegenüber den üblichen Plattenauswaschmitteln. Dabei wurden die einzelnen
Mischungsreihen für die Waschmitteltests aufgeteilt:
Die Mischungen mit einem Verhältnis Copolymer/Novolak von 0/100 bis
einschließlich 40/60 Gew.-% wurden mit dem "normalen" benzinischen
Auswaschmittel behandelt. Proben mit noch höheren Copolymeranteilen lagen in
ihrer Resistenz zu hoch, um mit dem Testwaschmittel innerhalb eines
vernünftigen Zeitrahmens auswertbar zu sein.
Die Proben mit einem einem Copolymer/Novolak von 60/40 bis 100/0 Gew.-%
wurden mit dem UV-Waschmittel auf ihre Resistenz getestet. Hier machte es
wenig Sinn, auch Proben mit einem Copolymeranteil < 60 Gew.-% zu
untersuchen, da diese zu früh angegriffen wurden, um vernünftig auswertbar zu
sein.
Wie die Tabelle zeigt, liegt die chemische Resistenz der erfindungsgemäßen
Copolymere auf einem hohem Niveau, wobei der unterschiedliche Gehalt an
Methacrylsäure in den Copolymeren wenig Einfluß auf die
Resistenzeigenschaften hat. Die Vergleichscopolymere zeigen eine deutlich
geringere chemische Resistenz. Die Felder, in denen kein Wert eingetragen ist,
wurden nicht ausgewertet, da diese Platten keine ausreichende
Entwicklerresistenz haben (siehe Tabelle 4).
Zur Bereitung einer Druckplatte wird, wie in Anwendungsbeispiel 1 angegeben,
eine Kopierschicht auf die Aluminiumbasis aufgebracht, belichtet, entwickelt und
die Platte nach dem Spülen mit Wasser abgerakelt und mit einer wässrigen
Lösung von 0.5%iger Phosphorsäure und 6%igem Gummi arabicum abgerieben.
Die so hergestellte Platte wird in die Bogenoffset-Druckmaschine (Typ Favorit,
MAN Roland) eingespannt und unter den üblichen Bedingungen gedruckt.
Während des Druckens wird die Maschine alle 10.000 Umdrehungen angehalten
und die Platte mit einem Plattenwaschmittel, bestehend aus 85 Vol.-% Benzin und
15 Vol.-% Isopropanol abgewaschen. Die erzielten Druckauflagen einiger Platten
aus Anwendungsbeispiel 1, Tabelle 1, sind in Tabelle 6 dargestellt.
Um die Resistenz gegen aggressive Alkoholersatzstoffe im Feuchtmittel zu
testen, wurde mit einem stark aufkonzentrierten Ersatzstoff im Feuchtwasser (5%
SubstifixTM + 5% Isopropanol) gearbeitet. Die mit diesem Feuchtwasser erzielten
Druckauflagen einiger Platten aus Anwendungsbeispiel 1, Tabelle 1, sind in
Tabelle 7 dargestellt.
Um die Resistenz der Druckformen gegen UV-Farben zu testen, wurde alle
10.000 Umdrehungen anstelle des normalen Plattenwaschmittels mit einem
aggressivem Auswaschmittel abgewaschen. Die erzielten Druckauflagen einiger
Platten aus Anwendungsbeispiel 1, Tabelle 1, sind in Tabelle 8 dargestellt.
In allen drei Fällen zeigt sich, daß die Druckauflagen der Platten mit den
erfindungsgemäßen Copolymere deutlich höher ist als die von Druckplatten, die
kein Copolymer oder die Vergleichscopolymere enthalten. Copolymer P1 zeigt
gegenüber VP2 einen Vorsprung, der umso höher zu wichten ist, da die
Herstellungskosten von P1 etwa um den Faktor 10 niedriger sind.
Zum thermischen Stabilisieren (Einbrennen) der Proben wurden diese in einem
Ofen 8 min. auf 250°C erhitzt.
Zur Bestimmung der mechanischen Abriebsfestigkeit wurden die Druckplatten
einem Abrasionstest unterzogen. Bei diesem Test reibt ein mit einer wässrigen
Schleifmittelsuspension getränktes Tuch eine definierte Zeit lang (15 min) in
oszillierenden Bewegungen über die Druckplatte. Je geringer die
Gewichtsverluste bei dieser Methode sind, desto höher ist die mechanische
Widerstandsfähigkeit einer Probe. Dieser Test wurde über die Auswahl der
Schleifmittelemulsion so eingestellt, daß mit ihm eine qualitative Voraussage über
die Auflagenhöhe der Druckplatte in einer Druckmaschine getroffen werden kann.
Die mechanische Stabilität wird indirekt über einen chemischen Test bestimmt.
Dazu läßt man ein Korrekturmittel für Positivplatten (Typ 243, Kodak Polychrome)
15 min auf die Schicht einwirken. Wenn kein Angriff zu sehen ist, ist die
Vernetzung der Bindemittelbestandteile und damit die chemische (und
mechanische) Resistenz ausreichend.
Die Ergebnisse der vorstehend erläuterten Tests sind in Tab. 9 dargestellt.
Probe A4 mit P1 stellt quasi eine UV-Farbendruckplatte dar, Probe A1 mit P3 eine
hochwaschmittelresistente konventionelle Positivplatte.
Interessant ist, daß die UV-Farbenplatte (Probe P1) zwar mechanisch die gleiche
Festigkeit erreicht hat wie eine normale Positivdruckplatte, chemisch aber noch
auf Korrekturmittel anspricht. Hier liegt ein fast ideales Verhalten vor: die
Druckplatte hat höchste mechanische Festigkeit, ist aber noch korrigierbar. Diese
Eigenschaft ist sehr anwenderfreundlich, da sie auch die nachträgliche Korrektur
einer eingebrannten Platte erlaubt, die man sonst hätte verwerfen müssen.
Um zu zeigen, daß die erfindungsgemäßen Copolymere nicht nur auf einen
bestimmten Novolaktyp bzw. NQD zugeschnitten sind, wurden die
entsprechenden Komponenten aus Tabelle 2 durch verschiedenartig aufgebaute
und strukturierte Derivate, wie in Tabelle 10-12 gezeigt, ersetzt. Das Copolymer
für diese Reihe wurde nicht variiert, hier wurde P1 in allen Formulierungen
verwendet.
Einen Sonderfall stellen die polymeranalog mit einem Novolak veresterte
Naphthochinondiazide dar, d. h., diese Substanzklasse trägt das NQD bereits in
der Hauptkette des Novolaks, so daß hier keine Zuführung von NQD's nötig ist.
Diese beiden Substanzen ersetzen also nicht nur den Novolakanteil, sondern
zusätzlich auch den NQD-Anteil der Formulierungen in Tabelle 2. Hierbei muß
man berücksichtigen, daß eine Zugabe von Copolymer zu der Zusammensetzung
den NQD-Anteil automatisch mit absenkt, was bei den anderen
Zusammensetzungen nicht der Fall ist. Daher macht es keinen Sinn,
Formulierungen mit mehr als 60% Copolymer zu untersuchen.
Wie aus Tabelle 10 zu sehen ist, ist im mittleren Zusammensetzungsbereich
Novolak/Copolymer eine deutlich erhöhte Entwicklerresistenz zu beobachten
(ähnlich wie in Fig. 2a gezeigt). Dies zeigt, daß die erfindungsgemäßen
Copolymere auch mit verschieden aufgebauten Novolaken einen "cross-
insolubilisation" Effekt zeigen.
Der "cross-insolubilisation"-Effekt ist bei kurzkettigen Novolaken etwas schwächer
ausgeprägt als bei langkettigen Varianten.
Wie aus Tabelle 11 zu sehen ist, verhalten sich alle Novolake ähnlich im Verlauf
der Belichtungszeiten mit steigendem Copolymer/Novolak-Verhältnis.
Wie aus Tabelle 12 zu sehen ist, sind spätestens ab etwa 40% Copolymergehalt
alle Proben ausreichend resistent gegen das Testwaschmittel.
Die erfindungsgemäßen Copolymere zeigen bei positiv arbeitenden
Zusammensetzungen, wie sie in konvertierbaren Druckplatten eingesetzt werden,
eine Erweiterung des Konvertierspielraums und eine Absenkung der unteren
Konvertiertemperatur. Zwei verschiedene Systeme sind in Tabelle 13 und 15, die
Resultate in Tabelle 14 und 16 aufgeführt.
Mit den Zusammensetzungen aus Tabelle 13 wurden Platten beschichtet, diese
belichtet und anschließend für 5 min bei verschiedenen Temperaturen, wie in
Tabelle 14 beschrieben, temperiert. Im nächsten Schritt wurde die Druckplatte
flutbelichtet. Anschließend wurde die Platte entwickelt.
Die Probe mit dem Copolymeren P3 zeigt gegenüber der Referenz einen
verbreiterten, zu niedrigeren Temperaturen hin verschobenen
Konvertierspielraum. Die Probe mit dem Vergleichspolymeren ist wegen des
schmalen Bereiches, innerhalb dessen eine Konvertierung möglich ist, nur
bedingt für diesen Anwendungszweck zu empfehlen.
Auch die Lichtempfindlichkeit der Formulierung mit dem erfindungsgemäßen
Copolymer ist gegenüber der Referenz verbessert: Die Feststufen im UGRA-
Graukeil sind etwa 1 Stufe voller (auf der konvertierten Seite). Die Probe mit dem
Vergleichspolymeren wurde nicht berücksichtigt.
Mit den Zusammensetzungen aus Tabelle 15 wurden Platten beschichtet, diese
belichtet und anschließend für 5 min bei verschiedenen Temperaturen, wie in
Tabelle 16 beschrieben, temperiert. Im nächsten Schritt wurde die Druckplatte
flutbelichtet. Anschließend wurde die Platte entwickelt.
Die Probe mit dem Copolymeren P1 zeigt gegenüber der Referenz einen
verbreiterten, zu niedrigeren Temperaturen hin verschobenen
Konvertierspielraum. Dies stimmt mit den in Tabelle 14 gemachten
Beobachtungen überein. Die Probe mit dem Vergleichspolymeren ist wegen des
schmalen Bereiches, innerhalb dessen eine Konvertierung möglich ist, nur
bedingt für diesen Anwendungszweck zu empfehlen.
Auch die Lichtempfindlichkeit der Zusammensetzung mit dem
erfindungsgemäßen Copolymer ist gegenüber der Referenz verbessert: Die
Feststufen im UGRA-Graukeil sind etwa 1 Stufe voller (auf der konvertierten
Seite). Die Probe mit dem Vergleichspolymeren wurde nicht berücksichtigt.
In Fig. 3 sind die vollen UGRA-Graukeilstufen als Maß für die Lichtempfindlichkeit
der Zusammensetzungen (aus Tabelle 14 und 16) mit (gepunktete Linie) und
ohne (durchgezogene Linie) dem erfindungsgemäßen Copolymer skizziert.
Aus Fig. 3 wird ersichtlich, daß die Formulierungen mit dem erfindungsgemäßen
Copolymer einen breiteren und flacheren Arbeitsbereich aufzeigen. Hierbei ist
also der Temperaturspielraum für die Konvertierung höher. Die Proben ohne
Copolymer zeigen einen relativ gleichmäßigen Anstieg der Lichtempfindlichkeiten
mit steigender Temperatur, was anwendungstechnisch wenig erwünscht ist.
Claims (17)
1. Strahlungsempfindliche Zusammensetzung, umfassend
die Einheit B in einem Anteil von 20-70 mol% vorliegt und die folgende Formel aufweist
in der R2, R6 und R7 so gewählt sind, daß das Homopolymer von B eine hohe Glasübergangstemperatur aufweist
und die Einheit C in einem Anteil von 10-50 mol% vorliegt und die folgende Formel aufweist
in der R3 und R5 so gewählt sind, daß das Homopolymer von C wasserlöslich ist,
mit der Maßgabe, daß Einheit C verschieden von Einheit A ist.
- a) mindestens ein Naphthochinondiazid-Derivat,
- b) mindestens einen Novolak und
- c) ein Copolymer bestehend aus den Einheiten A, B, und C, wobei die
Einheit A in einem Anteil von 5 bis maximal 50 mol% vorliegt und
folgende Formel aufweist:
die Einheit B in einem Anteil von 20-70 mol% vorliegt und die folgende Formel aufweist
in der R2, R6 und R7 so gewählt sind, daß das Homopolymer von B eine hohe Glasübergangstemperatur aufweist
und die Einheit C in einem Anteil von 10-50 mol% vorliegt und die folgende Formel aufweist
in der R3 und R5 so gewählt sind, daß das Homopolymer von C wasserlöslich ist,
mit der Maßgabe, daß Einheit C verschieden von Einheit A ist.
2. Strahlungsempfindliche Zusammensetzung nach Anspruch 1, wobei das
Gewichtsverhältnis von Novolak zu Copolymer im Bereich von 90 : 10 bis
10 : 90 liegt.
3. Strahlungsempfindliche Zusammensetzung nach Anspruch 2, wobei der
Anteil des Copolymers mindestens 60 Gew.-% bezogen auf die
Gesamtmenge von Copolymer und Novolak beträgt.
4. Strahlungsempfindliche Zusammensetzung nach einem der Ansprüche 1 bis
3, wobei die Zusammensetzung kein weiteres Bindemittel enthält.
5. Strahlungsempfindliche Zusammensetzung nach einem der Ansprüche 1 bis
4, wobei die Zusammensetzung außerdem mindestens eine weitere
Komponente ausgewählt aus strahlungsempfindlichen Säurespendern,
Farbstoffen oder Pigmenten zur Erhöhung des Bildkontrastes,
Belichtungsindikatoren und Weichmachern umfaßt.
6. Strahlungsempfindliche Zusammensetzung nach einem der Ansprüche 1 bis
5, wobei R1 in der Einheit A des Copolymers ein Wasserstoffatom, ein
Arylrest, der mindestens einen Substituenten ausgewählt aus Hydroxyl- und
Carboxylgruppe und gegebenenfalls außerdem mindestens einen
Substituenten ausgewählt aus Halogenatom, (C1-C12)-Alkylrest und -NO2
aufweist, ein Arylsulfonamidrest, oder ein (C1-C12)-Alkylrest, der mindestens
eine Carboxylgruppe aufweist, ist.
7. Strahlungsempfindliche Zusammensetzung nach einem der Ansprüche 1 bis
6, wobei R4 in der Einheit A und R5 in der Einheit C unabhängig voneinander
ein Wasserstoffatom, ein Halogenatom oder einen C1-C12-Alkylrest
darstellen.
8. Strahlungsempfindliche Zusammensetzung nach einem der Ansprüche 1 bis
7, wobei R2 in der Einheit B des Copolymers ein Wasserstoffatom, ein
Arylrest, der gegebenenfalls mindestens einen Substituenten ausgewählt
aus Halogenatom, (C1-C12)-Alkylrest, -NO2 und -OH aufweist, ein (C1-C12)-
Alkylrest, (C3-C8)-Cycloalkylrest, ein Arylsulfonamidrest oder eine
Sulfonamidgruppe ist.
9. Strahlungsempfindliche Zusammensetzung nach einem der Ansprüche 1 bis
8, wobei R3 in der Einheit C des Copolymers ein Wasserstoffatom, ein (C1-
C12)-Alkylrest, der mindestens eine Hydroxygruppe und gegebenenfalls
einen oder mehrere Substituenten ausgewählt aus Halogenatom und -NO2
aufweist, ein (C3-C8)-Cycloalkylrest, der mindestens eine Hydroxygruppe
und gegebenenfalls einen oder mehrere Substituenten ausgewählt aus
Halogenatom und -NO2 aufweist, ein Arylrest, der mindestens eine
Hydroxygruppe und gegebenenfalls einen oder mehrere Substituenten
ausgewählt aus Halogenatom, (C1-C12)-Alkyl und -NO2 aufweist, ein (C1-
C12)-Alkylsulfonamidrest, ein Arylsulfonamidrest, -NH(CH2)nO-Alkyl (wobei n
eine ganze Zahl von 1-20 ist), -NHR8 (wobei R8 für Wasserstoff, (C1-C12)-
Alkyl oder Aryl steht) oder ein (C1-C12)-Alkoxyrest, der gegebenenfalls
mindestens eine Hydroxygruppe aufweist, ist.
10. Strahlungsempfindliche Zusammensetzung nach einem der Ansprüche 1 bis
9, wobei R6 und R7 in der Einheit B des Copolymers unabhängig
voneinander ein Wasserstoffatom, ein Halogenatom, einen (C1-C4)-Alkylrest
oder eine Phenylgruppe darstellen.
11. Strahlungsempfindliche Zusammensetzung nach einem der Ansprüche 1 bis
10, wobei das Copolymer ein Gewichtsmittel des Molekulargewichts im
Bereich von 500 bis 1000000 aufweist.
12. Strahlungsempfindliche Zusammensetzung nach einem der Ansprüche 1 bis
11, wobei Novolak(e) und Naphthochinondiazid-Derivat(e) nicht als
getrennte Komponenten eingesetzt werden, sondern in Form von mit
Novolak(en) umgesetzten(s) Naphthochinondiazid-Derivat(en).
13. Verwendung einer strahlungsempfindlichen Zusammensetzung nach einem
der Ansprüche 1 bis 12 zur Herstellung von Druckplatten.
14. Verwendung einer strahlungsempfindlichen Zusammensetzung nach einem
der Ansprüche 1 bis 12 zur Herstellung von Leiterplatten für integrierte
Schaltungen.
15. Verwendung einer strahlungsempfindlichen Zusammensetzung nach einem
der Ansprüche 1 bis 12 zur Herstellung von Photomasken.
16. Verfahren zur Herstellung einer strahlungsempfindlichen Zusammensetzung
nach einem der Ansprüche 1 bis 12, umfassend das Mischen von
mindestens einem Novolak, mindestens einem Naphthochinondiazid-Derivat
und einem Copolymer wie in einem der Ansprüche 1 und 6 bis 12 definiert in
dem gewünschten Mengenverhältnis und anschließendes Lösen der
Feststoff-Komponenten in einem organischen Lösungsmittel.
17. Verfahren zur Herstellung einer strahlungsempfindlichen Zusammensetzung
nach einem der Ansprüche 1 bis 12, umfassend das getrennte Lösen der
einzelnen Komponenten in einem organischen Lösungsmittel und
anschließendes Mischen der Lösungen.
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE1999136333 DE19936333A1 (de) | 1999-08-02 | 1999-08-02 | Strahlungsempfindliche Zusammensetzungen für Druckplatten zur Steigerung der Chemikalien- und Entwicklerresistenz |
| EP00116172A EP1074887B1 (de) | 1999-08-02 | 2000-08-01 | Strahlungsempfindliche Zusammensetzungen für Druckplatten mit verbesserter chemischer Beständigkeit und Entwickler-Beständigkeit und mit diesen Zusammensetzungen hergestellte Druckplatten |
| DE60014536T DE60014536T2 (de) | 1999-08-02 | 2000-08-01 | Strahlungsempfindliche Zusammensetzungen für Druckplatten mit verbesserter chemischer Beständigkeit und Entwickler-Beständigkeit und mit diesen Zusammensetzungen hergestellte Druckplatten |
| US09/630,920 US6475692B1 (en) | 1999-08-02 | 2000-08-02 | Radiation-sensitive compositions for printing plates for improving their chemical and developer resistance and printing plates comprising such compositions |
| JP2000234922A JP2001109148A (ja) | 1999-08-02 | 2000-08-02 | 化学的安定性及び現像剤安定性を改良するための印刷版用放射感受性組成物、並びに上記組成物を含む印刷版 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE1999136333 DE19936333A1 (de) | 1999-08-02 | 1999-08-02 | Strahlungsempfindliche Zusammensetzungen für Druckplatten zur Steigerung der Chemikalien- und Entwicklerresistenz |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19936333A1 true DE19936333A1 (de) | 2001-03-15 |
Family
ID=7916910
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE1999136333 Ceased DE19936333A1 (de) | 1999-08-02 | 1999-08-02 | Strahlungsempfindliche Zusammensetzungen für Druckplatten zur Steigerung der Chemikalien- und Entwicklerresistenz |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| DE (1) | DE19936333A1 (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6517988B1 (en) | 2001-07-12 | 2003-02-11 | Kodak Polychrome Graphics Llc | Radiation-sensitive, positive working coating composition based on carboxylic copolymers |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0347660A2 (de) * | 1988-06-18 | 1989-12-27 | Hoechst Aktiengesellschaft | Strahlungsempfindliches Gemisch und hieraus hergestelltes strahlungsempfindliches Aufzeichnungsmaterial |
| DE4231324A1 (de) * | 1991-09-20 | 1993-04-01 | Fuji Photo Film Co Ltd | Lichtempfindliche zusammensetzung |
| DE3742387C2 (de) * | 1986-12-15 | 1995-05-24 | Fuji Photo Film Co Ltd | Positiv wirkendes lichtempfindliches Gemisch |
| DE3633456C2 (de) * | 1985-10-01 | 1995-06-01 | Fuji Photo Film Co Ltd | Lichtempfindliches Gemisch mit einem Diazoharz |
| EP0679950A2 (de) * | 1994-04-25 | 1995-11-02 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Lichtempfindliche lithographische Druckplatte |
| EP0933682A2 (de) * | 1998-01-30 | 1999-08-04 | Agfa-Gevaert AG | Polymere mit Einheiten aus N-substituiertem Maleimid und deren Verwendung in strahlungsempfindlichen Gemischen |
-
1999
- 1999-08-02 DE DE1999136333 patent/DE19936333A1/de not_active Ceased
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3633456C2 (de) * | 1985-10-01 | 1995-06-01 | Fuji Photo Film Co Ltd | Lichtempfindliches Gemisch mit einem Diazoharz |
| DE3742387C2 (de) * | 1986-12-15 | 1995-05-24 | Fuji Photo Film Co Ltd | Positiv wirkendes lichtempfindliches Gemisch |
| EP0347660A2 (de) * | 1988-06-18 | 1989-12-27 | Hoechst Aktiengesellschaft | Strahlungsempfindliches Gemisch und hieraus hergestelltes strahlungsempfindliches Aufzeichnungsmaterial |
| DE4231324A1 (de) * | 1991-09-20 | 1993-04-01 | Fuji Photo Film Co Ltd | Lichtempfindliche zusammensetzung |
| EP0679950A2 (de) * | 1994-04-25 | 1995-11-02 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Lichtempfindliche lithographische Druckplatte |
| EP0933682A2 (de) * | 1998-01-30 | 1999-08-04 | Agfa-Gevaert AG | Polymere mit Einheiten aus N-substituiertem Maleimid und deren Verwendung in strahlungsempfindlichen Gemischen |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6517988B1 (en) | 2001-07-12 | 2003-02-11 | Kodak Polychrome Graphics Llc | Radiation-sensitive, positive working coating composition based on carboxylic copolymers |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE60014536T2 (de) | Strahlungsempfindliche Zusammensetzungen für Druckplatten mit verbesserter chemischer Beständigkeit und Entwickler-Beständigkeit und mit diesen Zusammensetzungen hergestellte Druckplatten | |
| DE19936331B4 (de) | Copolymer zur Erhöhung der Chemikalien- und Entwicklerresistenz von positiv arbeitenden Druckplatten | |
| EP0978375B1 (de) | Strahlungsempfindliches Gemisch mit IR-absorbierenden, anionischen Cyaninfarbstoffen und damit hergestelltes Aufzeichnungsmaterial | |
| EP0978376B1 (de) | Strahlungsempfindlisches Aufzeichnungsmaterial mit IR-absorbierenden, betainischen oder betainisch-anionischen Cyaninfarbstoffen und damit hergestelltes Aufzeichnungsmaterial | |
| DE3751555T2 (de) | Photoempfindliche Zusammensetzung. | |
| DE3633456C2 (de) | Lichtempfindliches Gemisch mit einem Diazoharz | |
| EP0689941B1 (de) | Hydrophiliertes Trägermaterial und damit hergestelltes Aufzeichungsmaterial | |
| EP0274075B1 (de) | Polyvinylacetal, dieses enthaltendes lichtempfindliches Gemisch und daraus hergestelltes Aufzeichnungsmaterial | |
| DE10022786B4 (de) | Auf der Druckmaschine entwickelbare Druckplatte | |
| EP0042104B1 (de) | Lichtempfindliches Kopiermaterial und Verfahren zu seiner Herstellung | |
| DE1622301C2 (de) | Mit Alkali entwickelbare Kopierschicht | |
| DE2924294C2 (de) | Lichtempfindliche lithographische Druckplatte | |
| DE3222484A1 (de) | Zusammensetzung zur erzielung eines vor der entwicklung gut sichtbaren bildes nach der bestrahlung | |
| DE3710210C2 (de) | Lichtempfindliches bilderzeugendes Material | |
| EP0024298B1 (de) | Schlussbehandlungslösung für Flachdruckplatten und Verfahren zum Behandeln einer entwickelten Flachdruckplatte | |
| DE3009873A1 (de) | Photoempfindliche masse | |
| DE3007212A1 (de) | Lichtempfindliche masse | |
| DE3222485A1 (de) | Positiv abbildende, strahlungsempfindliche und gegenueber waessrigem alkali empfindliche masse | |
| DE3587246T2 (de) | Photoempfindliche Zusammensetzung. | |
| EP0135026A2 (de) | Lichthärtbares Gemisch und daraus hergestelltes lichtempfindliches Aufzeichnungsmaterial | |
| DE69206806T2 (de) | Sauere-substituierte ternaere-acetalpolymere und verwendung zu lichtempfindlichen gemischen und lithographischen druckplatten | |
| DE2729173A1 (de) | Lichtempfindliche diazomasse | |
| DE69605766T2 (de) | Auf der druckpress entwickelbare druckplatten mit ausbildendem wasserstoffbrücken entwicklungstabilisator | |
| DE2305231C3 (de) | Verfahren zur Herstellung einer vorsensibilisierten lithographischen Druckplatte | |
| DE69309013T2 (de) | Wässriger Entwickler für lithographische Druckplatten, der zu verbesserter Oleophilie führt |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| 8131 | Rejection |