DE19842816C1 - Verfahren zur Herstellung selbstpolarisierter ferroelektrischer Schichten, insbesondere PZT-Schichten, mit rhomboedrischer Kristallstruktur - Google Patents
Verfahren zur Herstellung selbstpolarisierter ferroelektrischer Schichten, insbesondere PZT-Schichten, mit rhomboedrischer KristallstrukturInfo
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Abstract
Es wird ein Verfahren zur Herstellung selbstpolarisierter ferroelektrischer Schichten, insbesondere PZT-Schichten, mit rhomboedrischer Kristallstruktur beschrieben. Eine Selbstpolarisation der Schichten wird erreicht, indem zunächst ein Substrat bereitgestellt und auf eine Temperatur T1 erwärmt wird. Anschließend wird die Schicht mit rhomboedrischer Kristallstruktur - beispielsweise mittels eines Sputter-Verfahrens - auf das Substrat aufgebracht. Diese Schicht weist eine bestimmte Curie-Temperatur TC auf, wobei gilt: T1 > TC. Das Aufbringen der Schicht mit rhomboedrischer Kristallstruktur kann in einer Weise erfolgen, daß zunächst eine Zr-arme Schicht mit einer Curie-Temperatur TC1 auf das Substrat aufgebracht wird und daß anschließend eine Zr-reiche Schicht mit einer Curie-Temperatur TC2 auf die Zr-arme Schicht aufgebracht wird, wobei gilt: TC2 < TC1 < T1. Nach Beendigung des Aufbringvorgangs wird auch die Erwärmung des Substrats eingestellt. Das Substrat kühlt ab, wodurch zunächst die Zr-arme Schicht und danach die Zr-reiche Schicht ihre Curie-Temperatur erreichen, wo sie in die ferroelektrische Phase übergehen und sich dabei selbst polarisieren. Zusätzlich induziert die bereits vorhandene Polarisation in der Zr-armen Schicht die Polarisation in der Zr-reichen Schicht, so daß die gesamte Schicht nach der Abkühlung selbstpolarisiert ist.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur
Herstellung selbstpolarisierter ferroelektrischer Schichten,
insbesondere PZT-Schichten, mit rhomboedrischer
Kristallstruktur. Weiterhin betrifft die Erfindung derartige
Schichten.
Ferroelektrische Schichten finden in der Halbleiterindustrie
vielfältige Anwendung. Beispielsweise werden sie als
keramische Bauelemente in Form von PZT-Schichten
feinstrukturiert in Silizium-IC's (Integrierte Schaltkreise)
integriert. Andere Anwendungsmöglichkeiten derartiger
keramischer Bauelemente können Aktoren oder dergleichen sein.
Unter PZT-Keramiken versteht man in allgemeiner Form
Keramiken aus dem System Bleizirkonat-Bleititanat. PZT-
Keramiken zeichnen sich dadurch aus, daß sie je nach
Zusammensetzung eine rhomboedrische oder eine tetragonale
Struktur aufweisen können.
Damit derartige Keramiken optimal verwendet werden können,
müssen sie sich in der ferroelektrischen Phase befinden, das
heißt polarisiert sein. Bei PZT-Schichten mit tetragonaler
Kristallstruktur ist es möglich, die Polarisierung durch
Selbstpolarisation der Schichten zu erreichen. PZT-Schichten
mit tetragonaler Kristallstruktur weisen beispielsweise einen
Zr-Gehalt (Zirkonium-Gehalt) von kleiner 50%, vorzugsweise
von 10 bis 30%, auf. Ein Übergang in den ferroelektrischen
Zustand erfolgt, wenn die absoluten Temperaturen der PZT-
Schichten deren Curie-Temperaturen unterschreiten. Diese
Möglichkeit ist beispielsweise in dem Aufsatz "Slater model
applied to polarization graded ferroelectrics" von Mantese,
Schubring, Micheli, Catalan, Mohammed, Naik und Auner in der
Zeitschrift "Appl. Phys. Lett. 71 (14), 6 October 1997,
Seiten 2047 bis 2049", beschrieben.
Selbstpolarisierte PZT-Schichten mit Zusammensetzungen der
rhomboedrischen Seite des Phasendiagramms der PZT-Keramiken
konnten jedoch noch nicht hergestellt werden. Derartige
Schichten, die beispielsweise einen Zr-Gehalt von größer oder
gleich 50% aufweisen, müssen bisher unpolarisiert hergestellt
und nachträglich durch Anlegen eines elektrischen Feldes
polarisiert werden, um die gewünschte ferroelektrische
(pyroelektrische) Funktion zu erhalten. Da hierzu ein sehr
hohes elektrisches Feld erforderlich ist, kann die
Polarisierung nur in aufwendiger Weise erfolgen. Weiterhin
kommt es durch das hohe elektrische Feld zu einer hohen
Ausschußrate bei den PZT-Schichten, etwa durch auftretende
elektrische Durchschläge oder dergleichen.
Ausgehend vom genannten Stand der Technik liegt der
vorliegenden Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
bereitzustellen, mit dem selbstpolarisierte ferroelektrische
Schichten, insbesondere PZT-Schichten, mit rhomboedrischer
Kristallstruktur hergestellt werden können. Weiterhin soll
eine entsprechende ferroelektrische Schicht bereitgestellt
werden.
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren zur Herstellung
selbstpolarisierter ferroelektrischer Schichten, insbesondere
PZT-Schichten, mit rhomboedrischer Kristallstruktur gelöst,
das durch folgende Schritte gekennzeichnet ist:
- a) Bereitstellen eines Substrats und Erwärmen des Substrats auf eine Temperatur T1;
- b) Aufbringen einer Schicht (10) mit rhomboedrischer Kristallstruktur, die eine metallarme, selbstpolarisierte Schicht (13) mit einer Curie-Temperatur TC1 und eine metallreiche Schicht (14) mit einer Curie-Temperatur TC2 aufweist, auf das Substrat (11), wobei gilt: T1 < TC1 < TC2;
- c) Beenden der Erwärmung des Substrats und Abkühlen der Schicht mit rhomboedrischer Kristallstruktur nach Beendigung des Aufbringvorgangs.
Durch das Verfahren wird es nunmehr möglich, eine
selbstpolarisierte Schicht zum Induzieren der
ferroelektrischen Polarisation in einem Material zu
verwenden, das sich ansonsten nicht selbst polarisiert. Das
bedeutet, daß selbstpolarisierte ferroelektrische Schichten,
und hier insbesondere PZT-Schichten, mit Zusammensetzungen
der rhomboedrischen Seite des entsprechenden Phasendiagramms
hergestellt werden können.
Das Aufbringen der Schicht, insbesondere der PZT-Schicht,
erfolgt bei Substrattemperaturen, die höher als die Curie-
Temperatur der Schicht liegen. Damit wächst die Schicht mit
kubischer Struktur auf. Erst nach dem eigentlichen
Aufbringprozeß beim Abkühlen der Schicht erfolgt der Übergang
von der paraelektrischen kubischen Phase in die
ferroelektrische Phase.
Selbstpolarisierte rhomboedrische Schichten mit (111)-Textur
haben gegenüber den selbstpolarisierten tetragonalen
Schichten mit (111)-Textur den Vorteil, daß die Polarisation
senkrecht auf der Substratoberfläche steht und dadurch der
pyroelektrische Koeffizient höher wird.
Für das Substrat kann jedes geeignete Material,
beispielsweise Platin oder dergleichen, verwendet werden.
Bevorzugte Ausführungsformen des Verfahrens ergeben sich aus
den Unteransprüchen. Das Aufbringen der Schicht mit
rhomboedrischer Kristallstruktur kann in einer Weise
erfolgen, daß zunächst eine metallarme Schicht mit einer
Curie-Temperatur TC1 auf das Substrat aufgebracht wird und
daß anschließend eine metallreiche Schicht mit einer Curie-
Temperatur TC2 auf die metallarme Schicht aufgebracht wird.
Für die einzelnen Temperaturen gilt die Beziehung TC2 < TC1 < T1.
Die Metallarmut und der Metallreichtum der Schichten bezieht
sich dabei auf die Anwesenheit von wenigstens einem Metall
der vierten Nebengruppe des Periodensystems.
In einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung, die
jedoch nicht ausschließlich zu verstehen ist, ist die
metallarme Schicht als Zr-arme Schicht, und die metallreiche
Schicht als Zr-reiche Schicht ausgebildet.
Nachfolgend wird zum besseren Verständnis deshalb die Bildung
von ferroelektrischen Schichten auf Zr-Basis beschrieben.
Allerdings können die ferroelektrischen Schichten auch auf
Basis anderer Metalle aus der vierten Nebengruppe des
Periodensystems gebildet werden.
Die Herstellung der rhomboedrischen Schichten, insbesondere
der PZT-Schichten, mit induzierter Polung erfolgt derart, daß
zunächst die Zr-arme Schicht auf das Substrat aufgebracht
wird. Nachdem diese Schicht aufgebracht ist, werden während
des Aufbringvorgangs die Parameter an der jeweiligen
Aufbringvorrichtung (beispielsweise einer wie weiter unten
näher beschriebenen Sputter-Vorrichtung) derart geändert, daß
eine Zr-reiche Schicht weiter wächst. Hat die Schicht die
gewünschte Gesamtdicke erreicht, wird der Aufbringvorgang
beendet. Gleichzeitig wird auch die Erwärmung des Substrats
eingestellt, etwa durch Abschalten einer entsprechenden
Substratheizung. Jetzt kühlt das Substrat ab und die Zr-arme
Schicht erreicht als erste ihre Curie-Temperatur, geht in die
ferroelektrische Phase über und polarisiert sich dabei
selbst. Bei der weiteren Abkühlung nähert sich die Temperatur
der Schicht der Curie-Temperatur der Zr-reichen Schicht.
Dabei induziert die bereits vorhandene Polarisierung in der
Zr-armen Schicht die Polarisation in der Zr-reichen Schicht
und die gesamte Schicht ist nach der Abkühlung
selbstpolarisiert. Dabei läßt die niedrigere Curie-Temperatur
der Zr-reichen Schicht im Vergleich zur Zr-armen Schicht
einen höheren pyroelektrischen Koeffizienten erwarten.
Der gleiche Induzierungseffekt kann auch erreicht werden,
wenn die Zr-arme Schicht auf der Zr-reichen Schicht
aufgebracht wird.
Gemäß einer anderen Ausführungsform ist deshalb vorgesehen,
daß das Aufbringen der Schicht mit rhomboedrischer
Kristallstruktur in einer Weise erfolgen kann, daß zunächst
eine metallreiche Schicht mit einer Curie-Temperatur TC2 auf
das Substrat aufgebracht wird und daß anschließend eine
metallarme Schicht mit einer Curie-Temperatur TC1 auf die
metallreiche Schicht aufgebracht wird. Für die einzelnen
Temperaturen gilt die Beziehung TC2 < TC1 < T1. Die Metallarmut
und der Metallreichtum der Schichten bezieht sich dabei auf
die Anwesenheit von wenigstens einem Metall der vierten
Nebengruppe des Periodensystems.
Als bevorzugtes Metall kann vorteilhaft wiederum Zirkonium
(Zr) verwendet werden.
Im Hinblick auf die Anordnungsmöglichkeiten der metallarmen
und der metallreichen Schichten sind auch noch andere
Varianten denkbar. So können beispielsweise abwechselnd
mehrere metallarme und metallreiche Schichten auf dem
Substrat aufgebracht werden. Auch ist es denkbar, daß eine
metallreiche Schicht sandwichartig zwischen zwei metallarmen
Schichten angeordnet ist und daß diese Anordnung über eine
der beiden metallarmen Schichten auf dem Substrat angeordnet
ist. Die Erfindung ist nicht auf die beiden oben näher
beschriebenen Ausführungsformen beschränkt.
Vorteilhaft kann die metallarme Schicht mit einer Dicke von
etwa 100 nm auf dem Substrat und/oder der metallreichen
Schicht aufgebracht werden.
Die Schicht mit der rhomboedrischen Kristallstruktur kann in
einer Gesamtdicke von etwa 1 µm aufgebracht werden. Schichten
mit einer solchen Dicke werden beispielsweise als integrierte
Pyrodetektorarrays verwendet.
Insbesondere ist es von Vorteil, wenn die metallarme Schicht
wesentlich dünner als die metallreiche Schicht ausgebildet
ist.
In weiterer Ausgestaltung wird auf das Substrat zunächst eine
Elektrode aufgebracht. Auf diese Elektrode wird dann
anschließend die Schicht mit rhomboedrischer Kristallstruktur
aufgebracht. Die Elektrode kann mit dem Substrat und der
Schicht über geeignete Isolations- und Haftschichten
verbunden sein.
Vorteilhaft wird die Schicht mit rhomboedrischer
Kristallstruktur mittels eines Sputter-Verfahrens auf das
Substrat aufgebracht. Sputter-Verfahren sind aus dem Stand
der Technik bekannt. Beispielsweise kann ein Multi-Target-
Sputterverfahren verwendet werden.
Bei Verwendung eines Sputterverfahrens kann zunächst eine Zr-
arme Schicht auf das Substrat gesputtert werden. Nachdem die
Schicht aufgebracht ist, werden während des laufenden
Abscheideprozesses die Leistungen an den Targets so geändert,
daß die Zr-reiche Schicht weiterwächst, wie dies weiter oben
bereits in allgemeiner Weise beschrieben worden ist. Im
wesentlichen handelt es sich dabei um eine Erhöhung der
Leistung am Zr- und am Bleitarget (wenn PZT-Schichten
abgeschieden werden).
Das wie vorstehend beschriebene Verfahren kann vorteilhaft
zur Herstellung von selbstpolarisierten, ferroelektrischen,
rhomboedrischen Bleizirkontitanat-Schichten verwendet werden.
Gemäß einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung wird
eine ferroelektrische Schicht, insbesondere eine PZT-Schicht,
mit rhomboedrischer Kristallstruktur bereitgestellt, wobei
die ferroelektrische Schicht auf einem Substrat angeordnet
ist. Diese ferroelektrische Schicht mit rhomboedrischer
Kristallstruktur ist dadurch gekennzeichnet, daß sie
selbstpolarisiert ist.
Dadurch können die im Hinblick auf den oben beschriebenen
Stand der Technik genannten Nachteile vermieden werden. Zu
den Vorteilen, Wirkungen, Effekten und der Funktionsweise der
ferroelektrischen Schicht wird auf die vorstehenden
Ausführungen zum Herstellungsverfahren vollinhaltlich Bezug
genommen und hiermit verwiesen.
Bevorzugte Ausführungsformen ergeben sich aus den
Unteransprüchen.
Die ferroelektrische Schicht kann aus wenigstens einer
metallarmen Schicht mit einer Curie-Temperatur TC1 und einer
metallreichen Schicht mit einer Curie-Temperatur TC2 gebildet
sein, wobei für die Temperaturen gilt: TC2 < TC1 und wobei sich
die Metallarmut und der Metallreichtum der Schichten auf die
Anwesenheit wenigstens eines Metalls aus der vierten
Nebengruppe des Periodensystems bezieht.
In weiterer Ausgestaltung kann die metallarme Schicht auf dem
Substrat und die metallreiche Schicht auf der metallarmen
Schicht angeordnet sein. Gemäß einer anderen Ausführungsform
kann die metallreiche Schicht auf dem Substrat und die
metallarme Schicht auf der metallreichen Schicht angeordnet
sein. Es sind auch die oben beschriebenen anderen
Anordnungsvarianten möglich.
Die metallreichen und metallarmen Schichten können als Zr-
Schichten ausgebildet sein.
Die metallarme Schicht kann vorteilhaft eine Dicke von etwa
100 nm aufweisen. Die ferroelektrische Schicht kann
vorzugsweise eine Gesamtdicke von etwa 1 µm aufweisen.
Zwischen dem Substrat und der ferroelektrischen Schicht mit
rhomboedrischer Kristallstruktur kann eine Elektrode
vorgesehen sein.
Die Erfindung wird nun anhand eines Ausführungsbeispiels
unter Bezugnahme auf die beiliegende Zeichnung näher
erläutert. Es zeigen die Fig. 1 bis 4 in schematischer Ansicht
den Ablauf des Verfahrens.
In den Fig. 1 bis 4 ist die Herstellung einer
selbstpolarisierten ferroelektrischen PZT-Schicht 10
(Bleizirkontitanat-Schicht) mit rhomboedrischer
Kristallstruktur dargestellt.
Aus Fig. 1 wird ersichtlich, daß auf ein Substrat 11 über
geeignete Haft- und Isolationsschichten zunächst eine
Elektrode 12 aufgebracht wird. Das Substrat 11 wird mittels
einer Substratheizung (nicht dargestellt) auf eine Temperatur
T1 erwärmt. Auf der Elektrode 12 wird mittels eines Sputter-
Verfahrens eine Zr-arme Schicht 13 mit einer Curie-Temperatur
TC1 abgeschieden. Dabei gilt das Temperaturverhältnis T1 < TC1.
Im Anschluß wird auf die Zr-arme Schicht 13 eine Zr-reiche
Schicht 14 aufgesputtert, indem die Leistung am nicht
dargestellten Zr- und Bleitarget der ebenfalls nicht
dargestellten Sputter-Vorrichtung erhöht wird. Die Zr-reiche
Schicht 14 hat eine Curie-Temperatur TC2, wobei gilt:
TC2 < TC1 < T1. Dies ist in Fig. 2 dargestellt.
Fig. 3 zeigt die ferroelektrische Schicht 10 nach Beendigung
des Abscheidevorgangs. Zunächst wird die Subtratheizung
abgestellt. Jetzt kühlt das Substrat 11 ab und die Zr-arme
Schicht 13 erreicht als erste die Curie-Temperatur TC1, geht
in die ferroelektrische Phase über und polarisiert sich dabei
selbst, wie dies durch entsprechende Pfeile in Fig. 3
dargestellt ist.
Bei der weiteren Abkühlung, wie sie in Fig. 4 gezeigt ist,
erreicht auch die Zr-reiche Schicht 14 ihre Curie-Temperatur
TC2. Dabei polarisiert sich die Zr-reiche Schicht 14.
Gleichzeitig induziert auch die bereits vorhandene
Polarisation in der Zr-armen Schicht 13 die Polarisation in
der Zr-reichen Schicht 14. Dies ist wiederum durch
entsprechende Pfeile dargestellt.
Nach Beendigung der Abkühlphase ergibt sich eine
ferroelektrische Schicht 10 mit rhomboedrischer
Kristallstruktur, die vollständig selbstpolarisiert ist.
Claims (17)
1. Verfahren zur Herstellung selbstpolarisierter
ferroelektrischer Schichten, insbesondere PZT-Schichten, mit
rhomboedrischer Kristallstruktur, gekennzeichnet
durch folgende Schritte:
- a) Bereitstellen eines Substrats (11) und Erwärmen des Substrats (11) auf eine Temperatur T1;
- b) Aufbringen einer Schicht (10) mit rhomboedrischer Kristallstruktur, die eine metallarme, selbstpolarisierte Schicht (13) mit einer Curie-Temperatur TC1 und eine metallreiche Schicht (14) mit einer Curie-Temperatur TC2 aufweist, auf das Substrat (11), wobei gilt: T1 < TC1 < TC2;
- c) Beenden der Erwärmung des Substrats (11) und Abkühlen der Schicht (10) mit rhomboedrischer Kristallstruktur nach Beendigung des Aufbringvorgangs.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß das Aufbringen der Schicht
(10) mit rhomboedrischer Kristallstruktur in einer Weise
erfolgt, daß zunächst eine metallarme Schicht (13) mit einer
Curie-Temperatur TC1 auf das Substrat (11) aufgebracht wird
und daß anschließend eine metallreiche Schicht (14) mit einer
Curie-Temperatur TC2 auf die metallarme Schicht (13)
aufgebracht wird, wobei gilt: TC2 < TC1 < T1 und wobei sich
die Metallarmut und der Metallreichtum der Schichten (13, 14)
auf die Anwesenheit wenigstens eines Metalls aus der vierten
Nebengruppe des Periodensystems bezieht.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß das Aufbringen der Schicht
(10) mit rhomboedrischer Kristallstruktur in einer Weise
erfolgt, daß zunächst eine metallreiche Schicht (14) mit
einer Curie-Temperatur TC2 auf das Substrat (11) aufgebracht
wird und daß anschließend eine metallarme Schicht (13) mit
einer Curie-Temperatur TC1 auf die metallreiche Schicht (14)
aufgebracht wird, wobei gilt: TC2 < TC1 < T1 und wobei sich
die Metallarmut und der Metallreichtum der Schichten (13, 14)
auf die Anwesenheit wenigstens eines Metalls aus der vierten
Nebengruppe des Periodensystems bezieht.
4. Verfahren nach Anspruch 2 oder 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die metallarme Schicht (13)
als Zr-arme Schicht und die metallreiche Schicht (14) als Zr-
reiche Schicht ausgebildet ist.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß die metallarme Schicht (13)
mit einer Dicke von etwa 100 nm aufgebracht wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß die Schicht (10) mit
rhomboedrischer Kristallstruktur in einer Gesamtdicke von
etwa 1 µm aufgebracht wird.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß auf das Substrat (11)
zunächst eine Elektrode (12) aufgebracht wird und daß
anschließend die Schicht (10) mit rhomboedrischer
Kristallstruktur auf die Elektrode (12) aufgebracht wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch
gekennzeichnet, daß die Schicht (10) mit
rhomboedrischer Kristallstruktur mittels eine Sputter-
Verfahrens auf das Substrat (11) aufgebracht wird.
9. Verwendung eines Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis
8 zur Herstellung selbstpolarisierter, ferroelektrischer,
rhomboedrischer Bleizirkontitanat-Schichten.
10. Ferroelektrische Schicht (10), insbesondere PZT-Schicht,
mit rhomboedrischer Kristallstruktur, wobei die
ferroelektrische Schicht (10) auf einem Substrat (11)
angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet,
daß die ferroelektrische Schicht (10) mit rhomboedrischer
Kristallstruktur selbstpolarisiert ist.
11. Ferroelektrische Schicht nach Anspruch 10, dadurch
gekennzeichnet, daß diese aus wenigstens einer
metallarmen Schicht (13) mit einer Curie-Temperatur TC1 und
wenigstens einer metallreichen Schicht (14) mit einer Curie-
Temperatur TC2 gebildet ist, wobei gilt: TC2 < TC1 und wobei
sich die Metallarmut und der Metallreichtum der Schichten
(13, 14) auf die Anwesenheit wenigstens eines Metalls aus der
vierten Nebengruppe des Periodensystems bezieht.
12. Ferroelektrische Schicht nach Anspruch 11, dadurch
gekennzeichnet, daß die metallarme Schicht (13)
auf dem Substrat (11) angeordnet ist und daß die metallreiche
Schicht (14) auf der metallarmen Schicht (13) angeordnet ist.
13. Ferroelektrische Schicht nach Anspruch 11, dadurch
gekennzeichnet, daß die metallreiche Schicht
(14) auf dem Substrat (11) angeordnet ist und daß die
metallarme Schicht (13) auf der metallreichen Schicht (14)
angeordnet ist.
14. Ferroelektrische Schicht nach einem der Ansprüche 11 bis
13, dadurch gekennzeichnet, daß die
metallarme Schicht (13) eine Zr-arme Schicht ist und daß die
metallreiche Schicht (14) eine Zr-reiche Schicht ist.
15. Ferroelektrische Schicht nach einem der Ansprüche 11 bis
14, dadurch gekennzeichnet, daß die
metallarme Schicht (13) eine Dicke von etwa 100 nm aufweist.
16. Ferroelektrische Schicht nach einem der Ansprüche 10 bis
15, dadurch gekennzeichnet, daß diese
eine Gesamtdicke von etwa 1 µm aufweist.
17. Ferroelektrische Schicht nach einem der Ansprüche 10 bis
16, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen
dem Substrat (11) und der ferroelektrischen Schicht (10) eine
Elektrode (12) vorgesehen ist.
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19842816A DE19842816C1 (de) | 1998-09-18 | 1998-09-18 | Verfahren zur Herstellung selbstpolarisierter ferroelektrischer Schichten, insbesondere PZT-Schichten, mit rhomboedrischer Kristallstruktur |
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| PCT/DE1999/002754 WO2000017921A1 (de) | 1998-09-18 | 1999-09-01 | Verfahren zur herstellung selbstpolarisierter ferroelektrischer schichten, insbesondere pzt-schichten, mit rhomboedrischer kristallstruktur |
| EP99953667A EP1116266A1 (de) | 1998-09-18 | 1999-09-01 | Verfahren zur herstellung selbstpolarisierter ferroelektrischer schichten, insbesondere pzt-schichten, mit rhomboedrischer kristallstruktur |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19842816A DE19842816C1 (de) | 1998-09-18 | 1998-09-18 | Verfahren zur Herstellung selbstpolarisierter ferroelektrischer Schichten, insbesondere PZT-Schichten, mit rhomboedrischer Kristallstruktur |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19842816C1 true DE19842816C1 (de) | 2000-02-03 |
Family
ID=7881415
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19842816A Expired - Fee Related DE19842816C1 (de) | 1998-09-18 | 1998-09-18 | Verfahren zur Herstellung selbstpolarisierter ferroelektrischer Schichten, insbesondere PZT-Schichten, mit rhomboedrischer Kristallstruktur |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6440210B1 (de) |
| EP (1) | EP1116266A1 (de) |
| DE (1) | DE19842816C1 (de) |
| WO (1) | WO2000017921A1 (de) |
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| JP3971598B2 (ja) * | 2001-11-01 | 2007-09-05 | 富士通株式会社 | 強誘電体キャパシタおよび半導体装置 |
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| DE102011000752B3 (de) | 2011-02-15 | 2012-06-06 | Pyreos Ltd. | Verfahren zum Herstellen eines Dünnfilms aus Blei-Zirkonat-Titanat, elektronisches Bauteil mit dem Dünnfilm und Verwendung des Bauteils |
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-
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-
1999
- 1999-09-01 EP EP99953667A patent/EP1116266A1/de not_active Withdrawn
- 1999-09-01 WO PCT/DE1999/002754 patent/WO2000017921A1/de not_active Ceased
- 1999-09-01 US US09/787,378 patent/US6440210B1/en not_active Expired - Fee Related
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| Title |
|---|
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6440210B1 (en) | 2002-08-27 |
| WO2000017921A1 (de) | 2000-03-30 |
| EP1116266A1 (de) | 2001-07-18 |
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