DE19736685A1 - Bondgerät - Google Patents
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- H10W74/00—
-
- H10P72/0446—
-
- H10W72/071—
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- Die Bonding (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Bondgerät zum Verbinden eines Chips
mit einem Leiterrahmen.
Nach der Waferherstellung wird dieser in einzelne Halbleiter-Chips
von integrierten Schaltkreisen etwa durch Sägen zertrennt, wonach
die vereinzelten Chips mechanisch an Leiterrahmen befestigt werden, wo
nach ein Drahtbondschritt zum elektrischen Koppeln des Chips mit den
Leitern des Leiterrahmens, eine Verkapselung zum Schutz des Chips und
der Bonddrähte und danach ein Bearbeiten des Leiterrahmens zum Formen
der Leiter erfolgt, damit letztere zum Montieren auf einer Leiterkarte
geeignet sind.
Zum Befestigen oder Bonden des Chips am Leiterrahmen wird der
vereinzelte Chip in eine Bondposition gebracht ebenso wie der mit Kleb
stoff versehene Leiterrahmen, die dann aneinander zur Haftung gebracht
werden, um dann zum Drahtbonden transportiert zu werden.
Zum Verbinden werden verschiedene Materialien verwendet, etwa
ein Gold-Silicium-Eutektikum, Polymere, Festfilmpolymere, Lötmittel.
Mittlerweile wird das Bonden unabhängig vom Drahtbondvorgang
durchgeführt. Dies erfordert in Abhängigkeit von der Bewegung des Mate
rials zwischen beiden Vorgängen Raum und Zeit sowie Arbeitskräfte, so
daß sich eine relativ niedrige Produktivität ergibt.
Um dies zu verbessern, wurde ein automatisches In-line-System
zum Bonden entwickelt, bei dem das Bondgerät mit einigen Drahtbondgerä
ten über eine Überführungsschiene verbunden ist. Da das Drahtbonden län
ger als das Bonden von Chip und Leiterrahmen dauert, können sich mehre
re, etwa zwei bis sechs Drahtbondgeräte anschließen.
Wenn jedoch LOC(lead on chip)-Bausteine, bei denen der Leiter
rahmen auf den Chip aufgebracht und über ein Festfilmpolymer wie einen
Polyimidfilm befestigt wird, ist die Bondzeit größer als für Bausteine,
bei denen andere Bondmaterialien verwendet werden. Dementsprechend sind
dann nur ein oder zwei Drahtbondgeräte nachgeschaltet, wodurch die Pro
duktivität stark beeinträchtigt wird.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Bondgerät zu schaffen, das
auch bei LOC-Bausteinen zu einer hohen Produktivität führt.
Diese Aufgabe wird entsprechend den Merkmalen des Anspruchs
gelöst.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung sind der nachfolgenden
Beschreibung und den Unteransprüchen zu entnehmen.
Die Erfindung wird nachstehend anhand eines in den beigefügten
Abbildungen dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert.
Fig. 1 zeigt schematisch eine Ausführungsform eines Bondge
räts.
Fig. 2 zeigt das Bondgerät von Fig. 1 perspektivisch.
Fig. 3A und 3B zeigen perspektivisch eine Ausführungsform ei
nes Kassettenlifts für das Bondgerät der Fig. 1, 2.
Fig. 4A bis 4D zeigen perspektivisch eine Ausführungsform ei
ner Entladeeinheit für das Bondgerät der Fig. 1, 2.
Fig. 5A bis 5C zeigen schematisch die Wirkungsweise der Ent
ladeeinheit des Bondgeräts von Fig. l, 2.
Das in Fig. 1 und 2 dargestellte Bondgerät 100 umfaßt eine
Chipzuführeinheit, zwei Leiterrahmenzuführeinheiten und zwei Bondeinhei
ten. Die Chipzuführeinheit ist zum aufeinanderfolgenden Zuführen von
Chips 20 einzeln zu jeweils einer Bondeinheit vorgesehen, während jede
Leiterrahmenzuführeinheit Leiterrahmen 30 zu einer zugehörigen Bondein
heit zuführt. Daher kann jede Bondeinheit das Anbringen eines Chips 20
auf einem Leiterrahmen 30 in der jeweiligen Bondposition vornehmen.
Die Chipzuführeinheit umfaßt eine Waferkassette 110, zwei Wa
ferlader 112, zwei Chiptrenntische 114 und zwei Aufnahmewerkzeuge 116.
Jede Leiterrahmenzuführeinheit umfaßt ein Magazin 120 für Leiterrahmen
30 und ein Paar von Überführungsschienen 122. Jede Bondeinheit umfaßt
eine Bondplatte 130 und einen Bondkopf 132.
Die Waferkassette 110 enthält eine Vielzahl von Wafern 10, die
jeweils aus einer Vielzahl von Chips 20 bestehen. Die beiden Waferlader
112 sind benachbart zur Waferkassette 110 an gegenüberliegenden Seiten
hiervon angeordnet, so daß Wafer 10 in der Waferkassette 110 abwechselnd
durch jeweils einen Waferlader 112 aufgenommen und auf einen der Chip
trenntische 114 geladen werden. Verschiedene Arten von Waferladern 112
können verwendet werden. Beispielsweise können zusätzlich zu den in Fig.
2 gezeigten Greifern Schieber und Rollen od. dgl. oder alternativ verwen
det werden. Schienen 113 bilden den Überführungsweg für die Wafer 10
oder die Waferlader 112. Wenn die Waferkassette 110 zwei Zugänge für die
Waferlader 112 an gegenüberliegenden Seiten der Waferkassette 110 auf
weist, können beide Waferlader 112 leicht die Wafer 10 gleichzeitig oder
abwechselnd aus der Waferkassette 110 aufnehmen. Wenn dagegen die Wafer
kassette 110 nur von einer Seite zugänglich ist, ist die Waferkassette
110 drehbar anzuordnen, so daß die Zugangsseite dem entsprechenden Wa
ferlader 112 zugewandt werden kann.
Ein Kassettenlift 118 trägt nicht nur die Waferkassette 110
und kann diese auf- und abbewegen, sondern kann diese gegebenenfalls
auch drehen, wie in Fig. 3A, 3B dargestellt. Wenn ein Waferlader 112a
einen Wafer 10b aufgenommen hat, bewegt sich der Kassettenlift 118 um
einen Schritt aufwärts und dreht sich zum zweiten Waferlader 112b. Da
durch kann ein weiterer Wafer 10c, vgl. Fig. 3B, aus der Waferkassette
110 ohne weiteres entnommen werden, da dann der Zutritt 111 der Wafer
kassette 110 dem zweiten Waferlader 112b zugewandt ist. Der Kassetten
lift 118 bewegt sich über Zahnräder 118a und dreht sich über Zahnräder
118b. Statt dessen können aber auch Nocken, Riemen, Ketten oder derglei
chen verwendet werden.
Am Chiptrenntisch 114 werden die Chips 20 vom Wafer 10 ge
trennt. Die Chips 20 des Wafers 10 wurden bereits vorher vereinzelt,
verblieben jedoch durch Klebeband gehalten in dem Wafer 10. Daher können
die Chips 20 einfach vom Wafer 10 separiert werden, wenn sie mit dem
Aufnahmewerkzeug 116 über dem Chiptrenntisch 114 aufgenommen werden, wo
bei gleichzeitig ein (nicht dargestellter) Auswerfstift unter dem Chip
trenntisch 114 den Chip 20 unterstützend aufwärts drücken kann. Das Auf
nahmewerkzeug 116 kann eine Unterdruckleitung zum Ansaugen des Chips 20
und einen Arm zum Führen des Aufnahmewerkzeugs 116 umfassen.
Eine Vielzahl von Leiterrahmen 120 ist in dem Magazin 120 ent
halten. Die Überführungsschienen 112 enden benachbart zum Magazin 120
und erstrecken sich zur Bondeinheit. Schieber, Greifer, Rollen, Finger,
Stifte und/oder Vakuum erleichtern das Überführen der Leiterrahmen 30
vom Magazin 120 auf die Überführungsschienen 112 oder von einer Stelle
zur anderen auf den Überführungsschienen 112. Weiterhin können Einrich
tungen zum Aufbringen von Klebstoff auf den Leiterrahmen 30 zwischen dem
Magazin 120 und der Bondeinheit vorgesehen sein.
Die Bondplatte 130 befindet sich unter den Überführungsschie
nen 112 und der Bondkopf 132, der sich entsprechend auf- und abbewegt
und Wärme erzeugt, darüber. Der Chip 20 und der Leiterrahmen 30 werden
durch die Bondplatte 130 und den Bondkopf 132 thermisch zusammengepreßt
und dementsprechend fest miteinander verbunden.
Der Chip 20 wird entweder auf der Ober- oder der Unterseite
des Leiterrahmens 30 befestigt. Der Chip 20 kann direkt durch das Auf
nahmewerkzeug 116 im Falle von Bauelementen eines Typs, bei dem der Chip
20 auf Leitern angeordnet wird, dem Leiterrahmen 30 zugeführt und darauf
montiert werden, während im Falle von LOC-Bausteinen der Chip 20 zu
nächst auf der Bondplatte 130 durch das Aufnahmewerkzeug 116 zu plazie
ren und danach unter den Leiterrahmen 30 durch Verschieben der Bondplat
te 130 zu bewegen ist, vgl. Fig. 2. Weiterhin kann der Chip 20 an einer
bestimmten Stelle angeordnet werden, bevor er der Bondeinheit zugeführt
wird. Die Bondplatte 130 in Fig. 2 kann als Chipanordnungsstelle verwen
det werden.
Das Bondgerät 100 umfaßt ferner eine Entladeeinheit, mit der
ein auf oder unter dem Chip 20 befestigter Leiterrahmen 30 als Chip-Lei
terrahmen-Einheit 40 entladen werden kann. Die Entladeeinheit kann zwei
erste Abschnitte 140 und einen zweiten Abschnitt 144 umfassen. Jeder er
ste Abschnitt 140 ist senkrecht zu einer der Überführungsschienen 122
angeordnet, während der zweite Abschnitt 144 senkrecht zu den beiden er
sten Abschnitten 140 angeordnet ist. Die Chip-Leiterrahmen-Einheiten 40
werden an den jeweiligen ersten Abschnitt 140 abgegeben und dann auf den
zweiten Abschnitt 144 überführt. Sensoren 145 können benachbart zu den
ersten Abschnitten 140 am zweiten Abschnitt 144 vorgesehen sein, um das
abwechselnde Entladen zu erleichtern.
Gemäß Fig. 4A und 4B werden die durch die Überführungsschienen
122 transportierten Chip-Leiterrahmen-Einheiten 40 auf den ersten Ab
schnitt 140 gegeben, der aus Förderbändern 141 und Trägerleisten 142 be
steht. Die Förderbänder 141 sind zwischen den Trägerleisten 142 versenkt
und werden dann, wenn eine Chip-Leiterrahmen-Einheit 40 übergeben ist,
angehoben, um gegenüber den Trägerleisten 142 nach oben vorzustehen und
die Chip-Leiterrahmen-Einheit 40 transportieren zu können, Fig. 4B.
Nachdem sich die Förderbänder 141 um eine bestimmte Strecke bewegt ha
ben, werden sie wieder abgesenkt, vgl. Fig. 4C, da dann die nächste
Chip-Leiterrahmen-Einheit 40 von den Trägerleisten 142 aufzunehmen ist,
so daß dann der Abschnitt 140 zueinander beabstandete Chip-Leiterrahmen-Ein
heiten 40 und 40' trägt, Fig. 4D.
Die aufeinanderfolgende Übergabe von den Abschnitten 140a,
140b auf den Abschnitt 144 erfolgt dann unter Kontrolle der Sensoren
145a, 145b. Wenn eine Chip-Leiterrahmen-Einheit 40a auf Abschnitt 140a
den Abschnitt 144 erreicht, vgl. Fig. 5A, wird dies durch den Sensor
145a festgestellt, wodurch die Übergabe auf den Abschnitt 144 vorgenom
men wird, vgl. Fig. 5B. Währenddessen wird die andere Chip-Leiterrahmen-Ein
heit 40b vor dem Abschnitt 144 gestoppt und eine weitere Chip-Leiter
rahmen-Einheit 40c wird in Richtung auf den Abschnitt 144 bewegt. Danach
wird die Chip-Leiterrahmen-Einheit 40b übergeben und die Chip-Leiterrah
men-Einheit 40c gestoppt, vgl. Fig. 5C, etc.
Das Bondgerät 100 ist über die Entladeeinheit mit mehreren
Drahtbondgeräten 150 verbunden, wobei der Abschnitt 144 zugleich die La
deeinheit für die Drahtbondgeräte 150 bilden kann.
Das beschriebene Bondgerät 100 führt zu einer erhöhten Produk
tivität bei reduziertem Aufwand, außerdem wird eine relativ geringe Flä
che und geringfügige manuelle Tätigkeit benötigt. Das Bondgerät 100 kann
auch als Multibondgerät bzw. zur Herstellung unterschiedlicher Bauteile
und gegebenenfalls getrennt von Drahtbondgeräten verwendet werden.
Claims (12)
1. Bondgerät zum Verbinden eines Chips (20) mit einem Leiter
rahmen (30), umfassend wenigstens zwei Bondeinheiten, eine Chipzuführ
einheit zum aufeinanderfolgenden Zuführen von Chips abwechselnd zu den
Bondeinheiten und jeweils eine Leiterrahmenzuführeinheit für jede Bond
einheit.
2. Bondgerät nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, daß die
Chipzuführeinheit zur aufeinanderfolgenden Aufnahme der Chips (20) von
einem Wafer (10) ausgebildet ist.
3. Bondgerät nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Chipzuführeinheit wenigstens ein Aufnahmewerkzeug (116) zum Auf
nehmen eines Chips (20) aus einem Wafer (10) zum abwechselnden Versorgen
der Bondeinheiten aufweist.
4. Bondgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Chipzuführeinheit eine Waferkassette (110) für eine
Vielzahl von Wafern (10), wenigstens zwei separate Chiptrenntische (114)
und wenigstens zwei Waferlader (112) zum Laden von Wafern (10) aus der
Waferkassette (110) auf den jeweiligen Chiptrenntisch (114) und zwei
Aufnahmewerkzeuge (116) zum Aufnehmen einzelner Chips (20) und Ablagen
in einer zugehörigen Bondeinheit umfaßt.
5. Bondgerät nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß ein
Kassettenlift (118) zum Bewegen der Waferkassette (110) in Entnahmeposi
tion vorgesehen ist.
6. Bondgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekenn
zeichnet, daß jede Leiterrahmenzuführeinheit ein Magazin (120) für eine
Vielzahl von Leiterrahmen (30) und Überführungsschienen (122) vom Maga
zin (120) zur zugehörigen Bondeinheit aufweist.
7. Bondgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekenn
zeichnet, daß jede Bondeinheit einen Bondkopf (132) und eine Bondplatte
(130) umfaßt, die entsprechend über und unter Überführungsschienen (122)
für Leiterrahmen (30) angeordnet sind.
8. Bondgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekenn
zeichnet, daß eine Entladeeinheit zum Entladen von Chip-Leiterrahmen-Ein
heiten (40) vorgesehen ist.
9. Bondgerät nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die
Entladeeinheit mit einer Vielzahl von Drahtbondgeräten (150) gekoppelt
ist.
10. Bondgerät nach Anspruch 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet,
daß die Entladeeinheit zum aufeinanderfolgenden Entladen von Chip-Lei
terrahmen-Einheiten (40) ausgebildet ist.
11. Bondgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Bondeinheiten zur Herstellung von LOC-Bauteilen
ausgebildet sind.
12. Bondgerät nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch ge
kennzeichnet, daß eine Waferkassette (110), zwei Waferladeeinheiten,
zwei Chiptrenntische (114), zwei Aufnahmewerkzeuge (116), zwei Magazine
(120) für Leiterrahmen (30), zwei Überführungsschienen (122) für Leiter
rahmen (30) und zwei Bondeinheiten mit zwei auf- und abbeweglichen Bond
köpfen (132) über den Überführungsschienen (122) vorgesehen sind.
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