DE19613274C2 - Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung spezifischer Gas- oder Ionenkonzentrationen - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung spezifischer Gas- oder IonenkonzentrationenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung
mindestens einer spezifischen Gas- oder Ionenkonzen
tration in einem Gemisch aus n Komponenten mittels
eines oder mehrerer gleichartiger Gas- oder Ionende
tektoren, welche eine gas- oder ionenempfindliche
Schicht aufweisen, deren mechanische, optische oder
elektrische Eigenschaften durch Absorption oder Ad
sorption von Gas oder Ionen veränderbar sind und ge
messen werden sowie Vorrichtungen zur Durchführung
des Verfahrens.
Zur Analyse von Gas- oder Ionengemischen werden
unterschiedliche Sensoren verwendet, deren wesentli
cher Bestandteil eine gas- oder ionenempfindliche
Schicht ist, deren mechanische, optische oder elektri
sche Eigenschaften sich bei der Absorption oder Ad
sporption von Gas oder Ionen ändert. Je nach Art der
Eigenschaftsänderung erfolgt dann deren Erfassung und
Umsetzung in einen elektrischen Meßwert.
So sind massenempfindliche Sensoren bekannt, bei
denen auf einem Schwingquarz eine oder mehrere Poly
merschichten aufgebracht sind, die unterschiedliche
Moleküle verschieden stark adsorbieren. Durch die Ad
sorption wird die Resonanzfrequenz des Schwingquar
zes verändert, die als Meßsignal dient (W. Göpel, J. Hes
se, J. N. Zemel (Sensors-Chemical and Biochemical Sen
sors Part I, VCH, Weinheim (1991)). Hierbei wird zwi
schen zwei verschiedenen Schwingungsformen unter
schieden: Bei den sog. Surface-Acoustic-Wave-Senso
ren (SAWs) wird nur eine dünne Oberflächenschicht in
Schwingungen versetzt, wohingegen bei den sog. Bulk-
Acustic-Wave-Sensoren (BAWs) der gesamte Quer
schnitt des piezoelektrischen Substrates schwingt.
Durch geeignete Wahl der gas- oder ionenempfindli
chen Polymerschichten kann man besonders organische
Substanzen selektiv nachweisen. BAWs können nicht
nur in gasförmigen Medien eingesetzt werden, sondern
auch in Flüssigkeiten, insbesondere in Wasser.
Bei den sog. Leitfähigkeitssensoren wird die elektri
sche Leitfähigkeit einer gas- oder ionenempfindlichen
Schicht, die von der umgebenden Atmosphäre abhängt,
gemessen. Diese Sensoren, die z. B. von den japanischen
Firmen Figaro oder Cosmos hergestellt werden, benut
zen als gas- oder ionenempfindliche Schicht vor allem
Metalloxide, insbesondere Zinnoxid (SnO2). Diese Sen
soren müssen bei erhöhten Temperaturen (200-400°C)
betrieben werden, damit die Reaktionszeiten akzepta
bel bleiben. Bei diesen Temperaturen kommen Oberflä
chenreaktionen zum Tragen, so daß polykristallines
Halbleitermaterial wegen seines hohen Oberflächen- zu
Volumenverhältnisses empfindlicher als kristallines
Halbleitermaterial ist. Derartige Sensoren können mit
den Methoden der Mikromechanik miniaturisiert und in
eine elektrische Schaltung auf einem Siliziumchip inte
griert werden. Der Mechanismus, der für die Leitfähig
keitsänderung verantwortlich ist, hängt von der Sensor
temperatur ab. Bei niedrigen Temperaturen (um 100 K)
können Moleküle an der Sensoroberfläche nur physi
sorbert werden, wenn die Reaktion reversibel ablaufen
soll. Bei mittleren Temperaturen (300-500°C) können
die Moleküle chemisorbiert werden. Durch die Anlage
rung von Molekülen werden die Raumladungszonen
zwischen den Kristallen beeinflußt und damit die Leitfä
higkeit Brennbare Gase können aus oberflächennahen
Gitterebenen Sauerstoff aus dem Sensormaterial, also
z. B. aus SnO2 herauslösen. Damit wird das Defekt
gleichgewicht verändert, da jede Sauerstoffleerstelle
zweifach positiv geladen ist und damit wird die La
dungsträgerkonzentration erhöht. Aufgrund der höhe
ren Defektdichte werden die Raumladungszonen zwi
schen den Kristallen schmaler. Die schmaleren Raumla
dungszonen und die erhöhte Ladungsträgerdichte füh
ren zu einer erhöhten Leitfähigkeit. Im Gegensatz zu
brennbaren, also reduzierenden Gasen, führen oxidie
rende Gase wie z. B. NO2 oder NH3 über den gleichen
Mechanismus zu einer Erniedrigung der Leitfähigkeit.
Bei hohen Temperaturen (über 600°C) steht bei Me
talloxiden der Sauerstoff im Gleichgewicht mit dem
Sauerstoffpartialdruck in der Umgebung. Das Sensorsi
gnal entspricht dann demjenigen einer Lamdasonde.
Derartige Sensoren auf der Basis von Ga2O3 werden
von Siemens-Matsushita-Components hergestellt.
Durch Zugabe von Katalysatoren, z. B. Platin oder
Aluminium, zum gassensitiven Metalloxid kann dessen
Empfindlichkeit auf bestimmte Gase oder Ionen beein
flußt werden, so daß aus den Sensorsignalen verschiede
ner Gassensoren mit unterschiedlichen Empfindlichkei
ten für verschiedene Gase auf die Konzentration der
jeweiligen Gase geschlossen werden kann.
Als Sensor für einen Gas- oder Ionendetektor sind
auch Feldeffekttransistoren bekannt, bei denen entwe
der das Gate freigelegt und mit einem ionenempfindli
chen Material beschichtet ist (sog. Ion-Sensitive-FET,
ISFET) oder bei denen ein sog. Suspended Gate
(SGFET) verwendet wird, bei welchem zwischen dem
Kanal und der eigentlichen Gateelektrode ein Spalt vor
handen ist, in dem sich das zu analysierende Material
befindet. Sowohl der Kanal als auch die Gateelektrode
kann bei SGFET mit sinnvollerweise unterschiedlichen
gassensitiven Schichten überzogen werden. Durch die
Adsorption von Molekülen wird die Austrittsarbeit der
Materialien und damit die effektive Gatespannung so
wie die Leitfähigkeit des Kanals verändert.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein Ver
fahren zu Bestimmung mindestens einer spezifischen
Gas- oder Ionenkonzentration aus einem Gas- oder Io
nengemisch anzugeben, welches entweder mittels eines
oder zumindest mehrerer gleicher Gas- oder Ionende
tektoren durchführbar ist, so daß der vorrichtungsmäßi
ge Aufwand vermindert werden kann. Diese Aufgabe
wird durch ein Verfahren nach Patentanspruch 1 und
dessen Durchführung durch einen Gas- oder Ionende
tektor nach Patentanspruch 4 gelöst.
Die Erfindung geht von der Forderung aus, daß zur
Konzentrationsbestimmung aus einem Gemisch von n
Komponenten unterschiedlicher Gase oder Ionen zu
mindest ebenfalls n voneinander unabhängige Meßwer
te erforderlich sind. Diese Forderung wurde bisher da
durch erfüllt, daß man eine entsprechend große Anzahl
von Detektoren mit jeweils unterschiedlichen, auf spezi
fische Gase oder Ionen empfindliche Schichten verwen
det hat. Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren bzw. der
dazu verwendeten Vorrichtung wird die Erkenntnis aus
genutzt, daß die Empfindlichkeit der gas- oder ionen
empfindlichen Schicht durch ein auf diese wirkendes
elektrisches Feld beeinflußbar ist (L. I. Popova et. al.,
Sensors and Actuators, 18-19, (1994), S. 543-545). So
wurde die Wirksamkeit der Erfindung an SnO2-Schich
ten unter Gasatmosphäre nachgewiesen. Der eigentli
che Gasnachweis erfolgte dabei über die oben beschrie
bene Leitfähigkeitsmessung an derartigen SnO2-Schich
ten. Die Erfindung läßt sich jedoch ohne weiteres auch
auf Detektoren, die in Flüssigkeiten arbeiten und dort
insbesondere für den Nachweis von Ionen dienen, an
wenden. Ein wesentlicher Punkt ist dabei die Erzeugung
eines definiert veränderbaren elektrischen Feldes auf
die gas- oder ionenempfindliche Schicht. Ein derartiges
Feld kann grundsätzlich durch verschiedene, an sich be
kannte Methoden erzeugt werden, z. B. durch zwei von
einander isolierte Elektroden, an die eine Spannung an
gelegt ist oder durch Verformung von piezoelektri
schem Material oder, bei elektrisch leitfähigen gas- oder
ionenempfindlichen Schichten, durch ein äußeres, sich
zeitlich änderndes magnetisches Feld. Es konnte in Ver
suchen gezeigt werden, daß sich die Empfindlichkeit auf
spezifische Gase oder Ionen der verwendeten
SnO2-Schicht durch Anlegen eines elektrischen Feldes
bis zu mehreren Faktoren steigern läßt, wobei noch die
Art des jeweils verwendeten Katalysators von Bedeu
tung ist. Insbesondere mit Aluminium als Katalysator
konnten Empfindlichkeitssteigerungen bis zu einem
Faktor 10 gegenüber Stickstoffdioxid (NO2) nachgewie
sen werden. Da die Empfindlichkeitssteigerungen eben
falls stark gasabhängig sind, läßt sich also bei geeigneter
Wahl der gas- oder ionenempfindlichen Schicht durch n
unterschiedliche elektrische Felder auf die jeweilige
Konzentration von n Komponenten eines Gemisches
schließen, wenn vorher Eichwerte für dieses Gemisch
vorliegen.
Es somit möglich, nur mit einem einzigen Gas- oder
Ionendetektor ein Gas- oder Ionengemisch durch suk
zessive Veränderung der Empfindlichkeit mittels des
elektrischen Feldes und jeweiliger Erfassung der Meß
werte zu analysieren. Zeitlich kürzer könnte die Analyse
gestaltet werden, wenn mehrere gleiche Sensoren mit
jeweils unterschiedlichem elektrischen Feld betrieben
werden.
Wenn die gas- oder ionenempfindliche Schicht vor
jeder Messung einem Zyklus eines sich definiert ändern
den elektrischen Feldes ausgesetzt wird, so läßt sich die
sog. Querempfindlichkeit des Detektors auf unter
schiedliche Gase oder Ionen deutlich reduzieren, was
bisher nur durch zeitraubende Temperaturzyklen er
reicht werden konnte.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der Ausfüh
rungsbeispiele näher beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1 Einen Leitfähigkeitssensor mit zusätzlichem
elektrischem Feld,
Fig. 2 einen Suspended Gate Feldeffekttransistor mit
gassensitiver Schicht im elektrischen Feld des Gates,
Fig. 3 die relative Widerstandsänderung einer Zinn
oxidschicht mit Aluminium als Katalysator unter dem
Einfluß verschiedener Gase bei verschiedenen elektri
schen Feldern und
Bei dem in Fig. 1 dargestellten Ausführungsbeispiel
eines Gasdetektors kommt ein beheizbarer Leitfähig
keitssensor 1 zur Anwendung, bei dem auf einem Sili
ziumsubstrat 1.1 eine mikromechanisch erzeugte Aus
sparung 1.2 durch eine in Dünnfilmtechnik hergestellte
Membran 1.3 aus Siliziumnitrit abgedeckt ist. Auf dieser
Membran 1.3 ist im Bereich der Aussparung 1.2 ein
Heizleiter 2 aus Platin aufgebracht, an dessen Kontak
ten 2.1 und 2.2 eine regelbare Heizspannung UH anliegt.
Die jeweilige Heizleistung wird durch Messung des
Spannungsabfalles Ui über einen Meßwiderstand Ri in
der Heizleitung ermittelt. Der Heizleiter 2 ist durch eine
ebenfalls in Dickfilmtechnik aufgebrachte Isolations
schicht 3 aus SiO2 abgedeckt. Auf dieser Isolations
schicht 3 befindet sich die gassensitive Schicht 4 aus
Zinnoxid (SnO2), welches mit einem Katalysator 5, z. B.
Aluminium oder Gold versehen ist. Die elektrisch leiten
de Zinnoxidschicht 4 ist mit zwei seitlich gegenüberlie
gend angebrachten Kontakten 4.1 und 4.2 versehen, an
denen eine Konstantstromquelle Ic anliegt. Der über die
Kontakte 4.1 und 4.2 gemessene Spannungsabfall U ist
proportional dem Widerstand RSn0 der Zinnoxidschicht.
Um nun auf die Zinnoxidschicht 4 ein elektrisches
Feld einwirken zu lassen, genügt es, zwischen dem Heiz
leiter 2 und der davon isolierten Zinnoxidschicht ein
Potentialunterschied mittels einer Spannungsquelle UB
zu erzeugen. Sollte die gassensitive Schicht 4 nur
schlecht leitend sein, ist es vorteilhafter, diese mit einer
zusätzlich isoliert aufgebrachten gasdurchlässigen Elek
trode zu versehen, an welcher dann ein Potentialunter
schied gegenüber dem Heizleiter 2 erzeugt wird. Über
die regelbare Spannung UB kann nun die in der gassen
sitiven Schicht 4 wirkende elektrische Feldstärke einge
stellt werden.
Die Absorption oder Adsorption von Gasen in der
gassensitiven Schicht 4 bewirkt eine Änderung deren
elektrischer Leitfähigkeit, wobei diese abhängig von der
Konzentration des jeweiligen Gases der umgebenden
Atmosphäre ist.
In ähnlicher Weise lassen sich auch bei den übrigen,
eingangs beschriebenen Gas- oder Ionendetektoren
durch Anbringen von zusätzlichen Elektroden, an wel
che eine Spannung Up angelegt wird, elektrische Felder
erzeugen, welche auf die jeweilige gassensitive Schicht
wirken.
Etwas komplizierter als in den vorgenannten Fällen
ist die Erzeugung eines elektrischen Feldes bei Verwen
dung von Feldeffekttransistoren (FET), da dort gerade
elektrische Felder das Meßsignal beeinflussen. Würde
also eine auf oder in dem Gate angebrachte gassensitive
Schicht einem zusätzlichen Feld ausgesetzt, so würde
dieses Feld auch den Kanalwiderstand beeinflussen und
damit die eigentliche Messung stören. Für diese Fälle ist
es vorteilhaft, wenn gemäß Fig. 2 das auf die gassensiti
ve Schicht wirkende Feld durch die Gatespannung er
zeugt wird und diese zwischen mehreren, möglichst un
terschiedlichen, jedoch noch im Arbeitsbereich des FET
liegenden Werten umschaltbar ist.
Hierbei wird ein n-Kanal FET mit einem Suspended
Gate SG in einer aus den Widerständen R1, Ri und R3
aufgebauten Brückenschaltung mit der Betriebsspan
nung Ub versorgt. Die Brückenspannung wird über den
Operationsverstärker OP verstärkt und auf das Gate
SG des n-Kanals FET (n-FET) zurückgekoppelt, so daß
der Strom durch den Kanal und damit auch der Kanal
widerstand RK auf einen konstanten Wert geregelt wird.
Die Widerstände R4 und R5 legen die Verstärkung des
Operationsverstärkers OP fest. Der Kondensator C re
duziert die Verstärkung des Operationsverstärkers bei
hohen Frequenzen und verhindert so Oszillationen der
Regelschleife. Bei konstantem Kanalwiderstand dient
die Gatespannung als Meßsignal UA. Ihre Änderung ist
gleich der Änderung der über die Fläche gemittelten
Austrittsarbeitsänderung der gassensitiven Schicht S
auf dem Suspended Gate SG. Zur Einstellung unter
schiedlicher Arbeitsbereiche und damit unterschiedli
cher Gatespannungen ist der Widerstand Ri entspre
chend der Anzahl n der zu detektierenden Gaskompo
nenten veränderbar. Somit kann vor jeder Messung
über die Gatespannung das auf die gassensitive Schicht
S wirkende elektrische Feld neu eingestellt werden.
Weiterhin läßt sich darüber auch ein periodisches Feld
in der gassensitiven Schicht erzeugen, welche vor jeder
Messung auf diese einwirken und damit deren Empfind
lichkeit steigern bzw. deren Querempfindlichkeit reduzieren
kann.
In Fig. 3 ist das Ergebnis einer Messung mittels eines
Detektors gemäß Fig. 1 für unterschiedliche Gase mit
unterschiedlichen Konzeptrationen in der umgebenden
Atmosphäre dargestellt. Hierbei ist das Verhältnis des
Widerstandes der gassensitiven Schicht bei dem jeweili
gen Testgas bezogen auf den Widerstand bei einer Stan
dardatmosphäre aufgetragen bei unterschiedlichen, auf
die gassensitive Schicht wirkenden Feldern (Vorspan
nungen). Der erste Balken in jedem Meßzyklus bezieht
sich dabei auf eine Standardatmosphäre mit 100 ppm
CO, der zweite Balken mit 10 ppm NO, der dritte Balken
mit 80% H2O, der vierte Balken mit 5000 ppm CH4 und
der letzte Balken mit 10 ppm NO2. Der erste Meßzyklus
fand bei einer Vorspannung von -7 Volt, der zweite bei
0 Volt und der dritte bei +10 Volt statt. Als gassensitive
Schicht wurde Zinnoxid mit einem Aluminiumkatalysa
tor verwendet. Wie man sieht, reagiert der Sensor bei
einer Änderung der Vorspannung von 0 auf 10 Volt sehr
empfindlich bei NO, NO2 sowie bei Wasserdampf. Ein
spürbarer Einfluß ist auch bei CO feststellbar. Dieser
Sensor wäre demnach zur Konzentrationsbestimmung
eines Gasgemisches aus den letztgenannten Gasen be
sonders geeignet.
Bei anderen Katalysatoren in der Zinnoxidschicht än
dert sich der Einfluß der Vorspannung bei den jeweili
gen Testgasen. Ebenso ändert sich das Empfindlich
keitsverhalten bei unterschiedlichen gassensitiven
Schichten. Demzufolge läßt sich ein Gas- oder Ionende
tektor zur Bestimmung von n Komponenten eines Gas
gemisches durch n gleichartige, mit n unterschiedlichen
Vorspannungen betriebenen und auf einem Array ange
ordneten Sensoren realisieren, falls diese bei den inter
essierenden Komponenten eine ausreichend große
Empfindlichkeitsänderung zeigen. Sollte dies nur für ei
ne Gruppe von Gasen der Fall sein, so könnten die
Sensoren ebenfalls in zwei oder mehrere weitere Grup
pen von jeweils innerhalb der Gruppe gleichen, jedoch
von Gruppe zu Gruppe unterschiedlichen gassensitiven
Schichten aufgeteilt sein.
Claims (10)
1. Verfahren zur Bestimmung mindestens einer spe
zifischen Gas- oder Ionenkonzentration in einem
Gemisch aus n Komponenten mittels eines oder
mehrerer gleicher Gas- oder Ionendetektoren, wel
che eine gas- oder ionenempfindliche Schicht auf
weisen, deren mechanische, optische oder elektri
sche Eigenschaften durch Absorption oder Adsorp
tion von Gas oder Ionen veränderbar sind und ge
messen werden, dadurch gekennzeichnet, daß die
gas- oder ionenempfindliche Schicht bzw. Schich
ten während der Messung zur Erzeugung von min
destens n Meßwerten mindestens n unterschiedli
chen elektrischen Feldern ausgesetzt wird bzw.
werden, wobei n ≧ 1 ist.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß das elektrische Feld vor einer Mes
sung zur Verminderung von Querempfindlichkeit
gegenüber unterschiedlichen Gasen oder Ionen pe
riodisch verändert wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Periode des elektrischen Feldes
auf die Zeit der maximalen Veränderung einer me
chanischen, optischen oder elektrischen Eigen
schaft der gas- oder ionenempfindlichen Schicht
unter dem Einfluß eines Gases oder Ionen abge
stimmt ist.
4. Gas- oder Ionendetektor mit einer gas- oder io
nenempfindlichen Schicht, deren mechanische, op
tische oder elektrische Eigenschaften durch Ab
sorption oder Adsorption von Gas oder Ionen ver
änderbar und meßbar sind, dadurch gekennzeich
net, daß die gas- oder ionenempfindliche Schicht
zur Beeinflussung ihrer Empfindlichkeit in einem
hierzu einstellbaren elektrischen Feld angeordnet
ist.
5. Gas- oder Ionendetektor nach Anspruch 4, da
durch gekennzeichnet, daß die gas- oder ionenemp
findliche Schicht zwischen zwei Feldelektroden an
geordnet ist, an welchen eine einstellbare elektri
sche Spannung anliegt.
6. Gas- oder Ionendetektor nach Anspruch 4 oder 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die gas- oder ionen
empfindliche Schicht zur Erzeugung eines elektri
schen Feldes innerhalb dieser Schicht mit piezo
elektrischem Material versetzt oder mit einer pie
zoelektrischen Schicht versehen ist und, daß Mittel
zu einer mechanischen Deformation der Schicht
vorgesehen sind.
7. Gas- oder Ionendetektor nach Anspruch 4 oder 5,
dadurch gekennzeichnet, daß die gas- oder ionen
empfindliche Schicht elektrisch leitend und in ei
nem magnetischen Wechselfeld angeordnet ist.
8. Gas- oder Ionendetektor nach einem der An
sprüche 4 bis 7 dadurch gekennzeichnet, daß der
Detektor mindestens einen Surface-Acoustic-Wa
ve (SAW)- oder Bulk-Acoustic-Wave (BAW)-Sen
sor mit einem piezoelektrischen Substrat und einer
darauf angeordneten gas- oder ionenempfindlichen
Schicht aufweist.
9. Gas- oder Ionendetektor nach einem der An
sprüche 4 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der
Detektor mindestens einen Leitfähigkeitssensor (1)
mit einer elektrisch leitfähigen, gas- oder ionen
empfindlichen Schicht (4) und mindestens einem
elektrischen Heizleiter (2) aufweist, wobei minde
stens ein elektrischer Heizleiter (2) als Elektrode
für ein auf die gas- oder ionenempfindliche Schicht
(4) wirkendes, von der Leitfähigkeitsmessung unab
hängiges elektrisches Feld ausgebildet ist.
10. Gas- oder Ionendetektor nach einem der An
sprüche 4 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der
Detektor mindestens einen Feldeffekttransistor
(FET) mit einer gas- oder ionenempfindlichen Be
schichtung (S) des Gates (SC) aufweist, wobei die
Gatespannung (UA) ein auf die Beschichtung wir
kendes elektrisches Feld erzeugt und zwischen
mindestens zwei möglichst unterschiedlichen, im
Arbeitsbereich des Feldeffekttransistors (FET) lie
genden Werten umschaltbar ist.
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|---|---|---|---|
| DE1996113274 DE19613274C2 (de) | 1996-04-03 | 1996-04-03 | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung spezifischer Gas- oder Ionenkonzentrationen |
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| DE1996113274 DE19613274C2 (de) | 1996-04-03 | 1996-04-03 | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung spezifischer Gas- oder Ionenkonzentrationen |
Publications (2)
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| DE19613274A1 DE19613274A1 (de) | 1997-10-09 |
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ID=7790334
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| DE1996113274 Expired - Fee Related DE19613274C2 (de) | 1996-04-03 | 1996-04-03 | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung spezifischer Gas- oder Ionenkonzentrationen |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| DE (1) | DE19613274C2 (de) |
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Non-Patent Citations (2)
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