DE19600288A1 - Abfrageverstärkerschaltung - Google Patents
AbfrageverstärkerschaltungInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Abfrage- bzw.
Leseverstärkerschaltung zum Lesen von Daten aus einer Spei
chervorrichtung, wie zum Beispiel einem E²PROM bzw. einem
elektrisch löschbaren programmierbaren Nur-Lese-Speicher,
bei welchem, nachdem gelesene Daten bestimmt worden sind,
ein durch eine Speicherzelle fließender Strom verhindert
wird, um eine Verringerung der Stromaufnahme zu erzielen.
Fig. 6 zeigt einen Stromlaufplan, der ein Beispiel ei
ner Abfrageverstärkerschaltung im Stand der Technik zeigt,
die zum Beispiel in "LSI Gÿyutsu No Kiso (Basic of LSI
Technology)", Seite 179, veröffentlicht am 30. Januar 1992,
von Denki Tsushin Kyoukai, offenbart ist. In der Figur be
zeichnet das Bezugszeichen 61 einen P-Kanal-Transistor, der
als ein Schalter zum Zuführen einer Leistung zu der Abfra
geverstärkerschaltung als Reaktion auf ein Ansteuersignal
dient, das durch einen Ansteuersignaleingabeanschluß 73 und
einen Invertierer 67 angelegt wird; die Bezugszeichen 62
und 63 bezeichnen P-Kanal-Transistoren, die einen Teil ei
nes Differentialverstärkers 66 bilden; die Bezugszeichen 64
und 65 bezeichnen N-Kanal-Transistoren, die einen anderen
Teil des Differentialverstärkers 66 bilden; die Bezugszei
chen 68 und 69 bezeichnen Verdrahtungsleitungen, welche ein
Eingang bzw. ein Ausgang des Differentialverstärkers 66
sind; das Bezugszeichen 70 bezeichnet einen CMOS- bzw. Kom
plementärmetalloxidhalbleiterinvertierer zum Invertieren
des Ausgangssignals der Abfrageverstärkerschaltung; das Be
zugszeichen 71 bezeichnet einen Dateneingabeanschluß zum
Eingeben von Daten, die aus einem ausgewählten Speicher
transistor (hier im weiteren als eine Speicherzelle be
zeichnet) 72 gelesen werden, durch eine ausgewählte Bitlei
tung BL in die Abfrageverstärkerschaltung; und das Bezugs
zeichen BL bezeichnet eine Bitleitung, die an eine Pseu
dospeicherzelle bzw. eine Dummyspeicherzelle angeschlossen
ist.
Als nächstes wird die Funktionsweise der in Fig. 6 ge
zeigten Schaltung beschrieben. Wenn das Ansteuersignal, das
in den Ansteuersignaleingabeanschluß 73 eingeben wird, zu
einem Zeitpunkt eines Auslesens von Daten zu einem hohen
Pegel (hier im weiteren Verlauf als Pegel "H" bezeichnet)
übergeht, wird der P-Kanal-Transistor 61 durch den Inver
tierer 67 eingeschaltet, so daß der Abfrageverstärkerschal
tung eine Leistung zugeführt wird. Dann fließt abhängig da
von, ob Ladungen in einem schwebenden Gate der ausgewählten
Speicherzelle 72, die an die ausgewählte Bitleitung BL an
geschlossen ist, vorhanden sind oder nicht, ein Strom IE
durch die Bitleitung BL oder nicht. An die Bitleitung BL
wird im voraus eine Referenzspannung angelegt. Der Diffe
rentialverstärker 66 verstärkt die Potentialdifferenz zwi
schen der Bitleitung BL und der Bitleitung BL, um gelesene
Daten durch die Ausgabeverdrahtungsleitung 69 und den In
vertierer 70 aus dieser Abfrageverstärkerschaltung auszuge
ben.
Da die Abfrageverstärkerschaltung im Stand der Technik
so aufgebaut ist, wie es zuvor beschrieben worden ist, ist
die Bitleitung BL direkt an die Verdrahtungsleitung 68 an
geschlossen, so daß sich die P-Kanal-Transistoren 61 und 62
in ihren Ein-Zuständen befinden, wenn Ladungen in dem
schwebenden Gate der ausgewählten Speicherzelle 72 vorhan
den sind und deshalb der Auslesestrom IE zwischen dem Drain
und der Source der Speicherzelle fließt (das heißt, wenn
sich die ausgelesenen Daten an einem niedrigen Pegel (hier
im weiteren Verlauf als Pegel "L" bezeichnet) befinden), so
daß auch, nachdem die Daten, die aus der Abfrageverstärker
schaltung ausgelesen worden sind, gesetzt worden sind, der
Auslesestrom IE fortfährt, während eines Betreibens der Ab
frageverstärkerschaltung durch die P-Kanal-Transistoren 61
und 62 und zwischen dem Drain und der Source der Speicher
zelle 72 zu fließen, wenn das Ansteuersignal an den Ansteu
ersignaleingabeanschluß 73 angelegt wird. Demgemäß besteht
ein Problem einer hohen Stromaufnahme.
Desweiteren fließt kein Auslesestrom IE, wenn sich
keine Ladung in dem schwebenden Gate der ausgewählten Spei
cherzelle 72 befindet, so daß die Bitleitung BL den Pegel
"H" annimmt; jedoch fließt auch, nachdem die ausgelesenen
Daten gesetzt worden sind, ein Pseudo-Einschreibstrom wäh
rend des Betreibens der Abfrageverstärkerschaltung von der
Bitleitung BL des Pegels "H" zu der Speicherzelle 72, so
daß dadurch ein Problem besteht, daß nicht nur die Daten in
der Speicherzelle beschädigt werden, sondern ebenso die
Stromaufnahme hoch wird.
Desweiteren befindet sich noch der Eingang des CMOS-In
vertierers 70, der an den Ausgang dieser Abfrageverstärker
schaltung angeschlossen ist, bevor das Ausgangssignal der
Abfrageverstärkerschaltung gesetzt wird, an einem Zwischen
pegel zwischen dem Pegel "H" und dem Pegel "L", so daß ein
Strom durch den CMOS-Invertierer 70 geht; dadurch besteht
ein Problem einer hohen Stromaufnahme.
Um die zuvor erwähnten Probleme zu lösen, besteht die
Aufgabe der vorliegenden Erfindung darin, eine Abfragever
stärkerschaltung zu schaffen, bei welcher kein Strom durch
eine Speicherzelle fließt, nachdem aus einer Speicherzelle
ausgelesene Daten gesetzt worden sind, um die Stromaufnahme
zu verringern.
Ein Vorteil der vorliegenden Erfindung besteht darin,
daß sie eine Abfrageverstärkerschaltung schafft, bei wel
cher kein Pseudo- bzw. Quasi-Einschreibstrom durch eine
Speicherzelle fließt, nachdem die aus der Abfrageverstär
kerschaltung ausgelesenen Daten gesetzt worden sind, um ei
ne Beschädigung bzw. einen Verlust von Daten zu verhindern
und die Stromaufnahme zu verringern.
Ein weiterer Vorteil der vorliegenden Erfindung besteht
darin, daß sie eine Abfrageverstärkerschaltung schafft, bei
welcher kein Strom durch einen CMOS- bzw. Komplementärme
talloxidhalbleiterinvertierer fließt, der an der Ausgangs
stufe vorgesehen ist, um die Stromaufnahme weiter zu ver
ringern.
Um die zuvor erwähnte Aufgabe zu lösen, wird gemäß ei
nem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung eine Abfrage
verstärkerschaltung zum Lesen von Daten aus einer aus ge
wählten Speicherzelle, die an eine ausgewählte Bitleitung
angeschlossen ist, geschaffen, die einen Kondensator, der
ein Ende aufweist, das an Masse angeschlossen ist, und der
eine Kapazität aufweist, die größer als die eines Parasi
tärkondensators der ausgewählten Bitleitung ist; ein Strom
zufuhrteil zum im wesentlichen gleichzeitigen Zuführen ei
nes Stroms zu der ausgewählten Bitleitung und zu einem an
deren Ende des Kondensators, um Potentiale der ausgewählten
Bitleitung und des anderen Endes des Kondensators zu erhö
hen; und einen Differentialverstärker zum Bestimmen der aus
der Speicherzelle gelesenen Daten durch ein Vergleichen der
von dem Stromzufuhrteil erhöhten Potentiale und zum Setzen
des Spannungspegels der ausgewählten Bitleitung auf einen
Pegel, bei welchem kein Lesestrom durch die ausgewählte
Bitleitung fließt, nachdem die gelesenen Daten bestimmt
worden sind, aufweist.
Wie es zuvor beschrieben worden ist, kann die Stromauf
nahme der Abfrageverstärkerschaltung durch die Abfragever
stärkerschaltung gemäß dem ersten Aspekt der vorliegenden
Erfindung verringert werden, da der Spannungspegel der Bit
leitung nach dem Bestimmen der gelesenen Daten auf den Pe
gel gesetzt wird, bei welchem kein Lesestrom durch die aus
gewählte Speicherzelle fließt.
Gemäß einem zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung
wird eine Abfrageverstärkerschaltung geschaffen, bei wel
cher das Stromzufuhrteil des ersten Aspekts der Erfindung
der ausgewählten Bitleitung und dem Kondensator als Reak
tion auf ein Ansteuersignal zum Ansteuern der Abfragever
stärkerschaltung einen Strom zuführt.
Wie es zuvor beschrieben worden ist, kann die Stromauf
nahme der Abfrageverstärkerschaltung während eines Ansteu
erns der Abfrageverstärkerschaltung durch die Abfragever
stärkerschaltung gemäß dem zweiten Aspekt der vorliegenden
Erfindung verringert werden, da das Stormzufuhrteil der
ausgewählten Bitleitung und dem Kondensator als Reaktion
auf ein Ansteuersignal zum Ansteuern der Abfrageverstärker
schaltung einen Strom zuführt.
Gemäß einem dritten Aspekt der vorliegenden Erfindung
wird eine Abfragerverstärkerschaltung geschaffen, bei wel
cher das Stromzufuhrteil des ersten Aspekts der Erfindung
durch das Ausgangssignal des Differentialverstärkers ge
steuert wird.
Wie es zuvor beschrieben worden ist, wird durch die Ab
frageverstärkerschaltung gemäß dem dritten Aspekt der vor
liegenden Erfindung die Zufuhr eines Quasi-Einschreibstroms
zu der Bitleitung, welche ausgewählt worden ist, nach einem
Lesen von Daten abgeschnitten, so daß eine Beschädigung
bzw. ein Verlust von Daten in der Speicherzelle nach einem
Bestimmen der gelesenen Daten verhindert werden kann, wenn
der Anstieg des Potentials der Bitleitung aufgrund des La
dens des Parasitärkondensators der Bitleitung schneller als
der Anstieg des Potentials des Kondensators aufgrund des
Ladens des Kondensators ist, und die Stromaufnahme der Ab
frageverstärkerschaltung kann weiter verringert werden.
Gemäß einem vierten Aspekt der vorliegenden Erfindung
wird eine Abfrageverstärkerschaltung geschaffen, die des
weiteren zusätzlich zu den Merkmalen des ersten Aspekts der
vorliegenden Erfindung einen Schalter vorsieht, welcher
eingeschaltet wird, wenn die Daten, die den gesetzten Pegel
aufweisen, der aus dem Differentialverstärker ausgegeben
wird, und ein Lesebefehlssignal zum Anweisen, die Daten aus
der Abfrageverstärkerschaltung zu lesen, vorhanden sind.
Wie es zuvor beschrieben worden ist, wird durch die Ab
frageverstärkerschaltung gemäß dem vierten Aspekt der vor
liegenden Erfindung der Spannungspegel, der auf einen hohen
Pegel bzw. Pegel "H" oder einen niedrigen Pegel bzw. Pegel
"L" gesetzt ist, an den CMOS-Invertierer der Ausgangsstufe,
der an den Schalter angeschlossen ist, angelegt, so daß ein
Strom, der durch den CMOS-Invertierer fließt, verhindert
werden kann.
Die vorliegende Erfindung wird nachstehend anhand der
Beschreibung von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf
die Zeichnung näher beschrieben.
Es zeigt:
Fig. 1 einen eine Abfrageverstärkerschaltung gemäß einem
ersten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfin
dung darstellenden Stromlaufplan;
Fig. 2 ein Diagramm einer Wellenform zum Erklären der
Funktionsweise, wenn es einen Speicherzellenstrom
IE in der in Fig. 1 gezeigten Schaltung gibt;
Fig. 3 ein Diagramm einer Wellenform zum Erklären der
Funktionsweise, wenn es keinen Speicherzellenstrom
IE in der in Fig. 1 gezeigten Schaltung gibt;
Fig. 4 einen eine Abfrageverstärkerschaltung gemäß einem
zweiten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfin
dung darstellenden Stromlaufplan;
Fig. 5 einen eine Abfrageverstärkerschaltung gemäß einem
dritten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfin
dung darstellenden Stromlaufplan; und
Fig. 6 einen eine Abfrageverstärkerschaltung im Stand der
Technik darstellenden Stromlaufplan.
Nachstehend erfolgt die Beschreibung eines ersten be
vorzugten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung.
Fig. 1 zeigt einen Stromlaufplan, der eine Abfragever
stärkerschaltung gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der
vorliegenden Erfindung und eine daran angeschlossene Spei
cherzelle darstellt. In der Figur bezeichnet das Bezugszei
chen 1 einen P-Kanal-Transistor, welcher ausgeschaltet ist,
um zu verhindern, daß ein Strom durch die Abfrageverstär
kerschaltung fließt, wenn sich der Pegel an einem Ansteuer
signaleingabeanschluß 101 an einem Pegel "L" bzw. niedrigen
Pegel befindet; die Bezugszeichen 2 und 3 bezeichnen P-Ka
nal-Transistoren; und die Bezugszeichen 4 und 5 bezeichnen
N-Kanal-Transistoren. Der P-Kanal-Transistor 2 und der
N-Kanal-Transistor 4 bilden einen Komplementärmetalloxidhalb
leiter- bzw. CMOS-Invertierer 35. Der P-Kanal-Transistor 3
und der N-Kanal-Transistor 5 bilden einen anderen CMOS-In
vertierer 36. Die Eingänge und die Ausgänge der zwei CMOS-In
vertierer 35 und 36 sind kreuzgekoppelt, um einen Diffe
rentialverstärker 30 auszubilden.
Das Bezugszeichen 10 bezeichnet einen CMOS-Invertierer,
der zwischen dem Ansteuersignaleingabeanschluß 101 und dem
Gate des P-Kanal-Transistors 1 angeschlossen ist; das Be
zugszeichen 12 bezeichnet einen Kondensator, der eine Kapa
zität aufweist, die größer als die Kapazität eines Parasi
tärkondensators 32 einer Bitleitung 33 ist; das Bezugszei
chen 34 bezeichnet ein Stromzufuhrteil, das aus N-Kanal-Tran
sistoren 6 und 9 besteht, die Gates aufweisen, die ge
meinsam an den Ansteuersignaleingabeanschluß 101 ange
schlossen sind; das Bezugszeichen 104 bezeichnet eine Ver
drahtungsleitung, die an den Ausgang des CMOS-Invertierers
35 und an den Eingang des CMOS-Invertierers 36 angeschlos
sen ist; das Bezugszeichen 11 bezeichnet einen CMOS-Inver
tierer, der an eine Verdrahtungsleitung 105 angeschlossen
ist; und das Bezugszeichen 103 bezeichnet einen Ausgabean
schluß der Abfrageverstärkerschaltung. Die Bezugszeichen 7
und 8 bezeichnen N-Kanal-Pulldown- bzw. -Tiefsetztransisto
ren zum Setzen der Verdrahtungsleitungen 104 und 105 auf
den Pegel "L"; und das Bezugszeichen VDD bezeichnet eine
Energieversorgungsspannung. Desweiteren bezeichnet das Be
zugszeichen 31 einen beispielhaft gezeigten ausgewählten
Speichertransistor (hier im weiteren Verlauf als eine Spei
cherzelle bezeichnet) aus einer großen Anzahl von elek
trisch löschbaren Speichertransistoren bzw. E²-Speicher
transistoren, die an die Bitleitung 33 angeschlossen sind,
die auf der Außenseite der Abfrageverstärkerschaltung vor
gesehen ist.
Als nächstes wird die Funktionsweise der in Fig. 1 ge
zeigten Abfrageverstärkerschaltung beschrieben.
Fig. 2 zeigt ein Diagramm einer Wellenform zum Erklären
der Funktionsweise, wenn es einen Speicherzellenstrom IE
gibt (das heißt, wenn Ladungen in der Speicherzelle 31 ge
speichert sind, so daß sich der Pegel der gelesenen Daten
an dem Pegel "L" befindet), und Fig. 3 zeigt ein Diagramm
einer Wellenform zum Erklären der Funktionsweise, wenn es
keinen Speicherzellenstrom IE gibt (das heißt, wenn keine
Ladung in der Speicherzelle 31 gespeichert ist, so daß sich
der Pegel der gelesenen Daten an dem Pegel "H" befindet).
Bevor die Abfrageverstärkerschaltung betrieben wird,
befindet sich das Potential an dem Ansteuersignaleingabean
schluß 101 an dem Pegel "L", so daß sich das Gate des P-Ka
nal-Transistors 1 durch den CMOS-Invertierer 10 an dem Pe
gel "H" befindet, um den P-Kanal-Transistor 1 in seinem
Aus-Zustand zu,halten, und die Gates der N-Kanal-Pulldown
transistoren 7 und 8 durch den CMOS-Invertierer 10 an dem
Pegel "H" befinden, um die Transistoren 7 und 8 in ihren
Ein-Zuständen zu halten. Deshalb befinden sich die Verdrah
tungsleitungen 104 und 105 an dem Pegel "L".
Zuerst wird unter Bezugnahme auf die Fig. 1 und 2
eine Beschreibung für den Fall gegeben, wenn der Speicher
zellenstrom IE fließt. Wenn eine Spannung des Pegels "H" an
den Ansteuersignaleingabeanschluß 101 angelegt wird, werden
die N-Kanal-Transistoren 7 und 8 ausgeschaltet, so daß die
Verdrahtungsleitungen 104 und 105 zu ihren schwebenden Zu
ständen übergehen, und ebenso werden der P-Kanal-Transistor
1 und die N-Kanal-Transistoren 6 und 9 in dem Stromzufuhr
teil 34 eingeschaltet. Unmittelbar danach werden die Ver
drahtungsleitungen 104 und 105 so gehalten, daß sie sich an
ihrem Pegel "L" befinden, so daß die P-Kanal-Transistoren 2
und 3, die den Pegel "L" an ihren Gates aufnehmen, einge
schaltet werden, wenn der P-Kanal-Transistor 1 eingeschal
tet wird. Deshalb beginnt sich der Parasitärkondensator 32
der Bitleitung 33, die an den Dateneingabeanschluß 102 an
geschlossen ist, und der Kondensator 12, zu laden. Wie es
zuvor vorausgesetzt worden ist, ist die Ladegeschwindig
keit, um den Kondensator 12 zu laden, höher als die Ladege
schwindigkeit, um den Parasitärkondensator 32 zu laden, da
der Speicherzellenstrom IE durch die Speicherzelle 31
fließt. Wie es in Fig. 2 gezeigt ist, geht deshalb nach der
Periode zum Laden des Kondensators 12 zuerst der Pegel der
Verdrahtungsleitung 105 zu dem Pegel "H" über. Als Reaktion
auf den Pegel "H" der Verdrahtungsleitung 105 wird der
N-Kanal-Transistor 4, der das Gate aufweist, das an die Ver
drahtungsleitung 105 angeschlossen ist, eingeschaltet, und
der P-Kanal-Transistor 2, der das Gate aufweist, das ebenso
an die Verdrahtungleitung 105 angeschlossen ist, wird aus
geschaltet. Als Ergebnis wird der Pegel der Verdrahtungs
leitung 104, die an den Ausgang des CMOS-Invertierers 35
angeschlossen ist, auf den Pegel "L" gesetzt, so daß der
P-Kanal-Transistor 3, der das Gate aufweist, das an die Ver
drahtungsleitung 104 angeschlossen ist, eingeschaltet wird,
und der N-Kanal-Transistor 5, der das Gate aufweist, das
ebenso an die Verdrahtungsleitung 104 angeschlossen ist,
ausgeschaltet wird, was dazu führt, daß der Pegel der Ver
drahtungsleitung 105 auf den Pegel "H" gesetzt wird, so daß
durch den Invertierer 11 der Pegel des Ausgabeanschlusses
103 auf den Pegel "L" gesetzt wird.
Da der Pegel der Verdrahtungsleitung 104 auf den Pegel
"L" gesetzt ist, fließt, nachdem der Pegel des Ausgabean
schlusses 103 zu dem Pegel "L" übergegangen ist, kein Strom
durch die Speicherzelle 31. Demgemäß wird die Stromaufnahme
verglichen mit der Abfrageverstärkerschaltung im Stand der
Technik verringert.
Als nächstes wird unter Bezugnahme auf die Fig. 1
und 3 eine Beschreibung für den Fall gegeben, wenn kein
Speicherzellenstrom IE fließt. Wenn eine Spannung des Pe
gels "H" an den Ansteuersignal-Eingabeanschluß 101 angelegt
wird, werden die N-Kanal-Transistoren 7 und 8 ausgeschal
tet, so daß die Verdrahtungsleitungen 104 und 105 zu ihren
schwebenden Zuständen übergehen und der P-Kanal-Transistor
1 und die N-Kanal-Transistoren 6 und 9 in dem Stromzufuhr
teil 34 eingeschaltet werden. Unmittelbar danach werden die
Verdrahtungsleitungen 104 und 105 so gehalten, daß sie sich
an ihrem Pegel "L" befinden, so daß die P-Kanal-Transisto
ren 2 und 3, die den Pegel "L" an ihren Gates aufnehmen,
eingeschaltet werden. Deshalb beginnen sich der Parasitär
kondensator 32 der Bitleitung 33, die an den Dateneingabe
anschluß 102 angeschlossen ist, und der Kondensator 12 zu
laden. Wie es zuvor vorausgesetzt worden ist, ist die Lade
geschwindigkeit, um den Parasitärkondensator 32 zu laden,
höher als die Ladegeschwindigkeit, um den Kondensator 12 zu
laden, da der Speicherzellenstrom IE nicht durch die Spei
cherzelle 31 fließt und da die Kapazität des Kondensators
12 größer als die Kapazität des Parasitärkondensators 32
ist. Wie es in Fig. 3 gezeigt ist, geht deshalb nach der
Periode zum Laden des Kondensators 32 zuerst der Pegel der
Verdrahtungsleitung 104 zu dem Pegel "H" über. Als Reaktion
auf den Pegel "H" der Verdrahtungsleitung 104 wird der
N-Kanal-Transistor 5, der das Gate aufweist, das an die Ver
drahtungsleitung 104 angeschlossen ist, eingeschaltet und
der P-Kanal-Transistor 3, der das Gate aufweist, das ebenso
an die Verdrahtungsleitung 104 angeschlossen ist, wird aus
geschaltet. Als Ergebnis wird der Pegel der Verdrahtungs
leitung 105, die an den Ausgang des CMOS-Invertierers 36
angeschlossen ist, auf den Pegel "L" gesetzt, so daß der
P-Kanal-Transistor 2, der das Gate aufweist, das an die Ver
drahtungsleitung 105 angeschlossen ist, eingeschaltet wird
und der N-Kanal-Transistor 4, der das Gate aufweist, das
ebenso an die Verdrahtungsleitung 105 angeschlossen ist,
ausgeschaltet wird, was dazu führt, daß der Pegel der Ver
drahtungsleitung 104 auf den Pegel "H" gesetzt wird. Der
Pegel "L" der Verdrahtungsleitung 105 geht durch den Inver
tierer 11 zu dem Pegel "H" an dem Ausgabeanschluß 103 über.
In diesem Fall fließt auch, nachdem die gelesenen Daten be
stimmt worden sind, kein Strom durch die Speicherzelle 31,
da der Speicherzellenstrom IE von Beginn an nicht fließt.
Es ist bevorzugt, den Stromverstärkungsfaktor β der
P-Kanal-Transistoren 2 und 3 kleiner als den der anderen
P-Kanal-Transistoren einzustellen. In diesem Fall ist die
Zeit, die zu einem Laden des Parasitärkondensators 32 und
des Kondensators 12 benötigt wird, länger als die in dem
zuvor beschriebenen Ausführungsbeispiel, so daß die Zeit,
die benötigt wird, um die Daten aus der Speicherzelle zu
lesen, länger wird; jedoch kann der Gesamtspeicherzellen
strom IE, welcher fließt, bis der gesetzte Pegel "L" an dem
Ausgabeanschluß 103 erzielt wird, weiter verringert werden.
Die Kapazität des Kondensators 12 kann als der Minimal
wert der Werte bestimmt werden, die größer als die Parasi
tärkapazität der Bitleitung 33 sind. Die Parasitärkapazität
wird unter Bezugnahme auf Ausführungsbestimmungen für die
Bitleitung 33 in der Abfrageverstärkerschaltung bestimmt.
In dem zuvor beschriebenen ersten Ausführungsbeispiel
wird es fortgesetzt, wenn es keinen Speicherzellenstrom IE
gibt, daß die Spannung des Pegels "H" an den Drain der
Speicherzelle 31 angelegt wird, nachdem der Pegel der Ver
drahtungsleitung 104 auf den Pegel "H" gesetzt worden ist
und bis der Pegel des Ansteuersignaleingabeanschlusses 101
zu dem Pegel "L" übergeht, so daß ein Quasi-Einschreiben in
die Speicherzelle 31 verursacht werden kann.
Gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel, das im folgen
den Verlauf beschrieben wird, wird eine Abfrageverstärker
schaltung geschaffen, bei welcher das Quasi-Einschreiben
verhindert wird.
Nachstehend erfolgt die Beschreibung des zweiten bevor
zugten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung.
Fig. 4 zeigt einen Stromlaufplan, der eine Abfragever
stärkerschaltung und eine Speicherzelle zeigt, die an die
Abfrageverstärkerschaltung angeschlossen ist, gemäß diesem
Ausführungsbeispiel. In der Figur bezeichnen die Bezugszei
chen 1 bis 10, 12, 31, 32, 101, 104 und 105 und VDD die
gleichen Teile, wie jene, die in Fig. 1 gezeigt sind, und
die Beschreibungen davon werden hier weggelassen. Die Be
zugszeichen 13 und 14 bezeichnen P-Kanal-Transistoren; die
Bezugszeichen 15 und 16 bezeichnen N-Kanal-Transistoren;
das Bezugszeichen 106 bezeichnet eine Verdrahtungsleitung;
und das Bezugszeichen 107 bezeichnet einen Ausgabeanschluß
dieser Abfrageverstärkerschaltung.
Die Unterschiede zwischen Fig. 4 und Fig. 1 bestehen
darin, daß in Fig. 4 der Eingang eines CMOS-Invertierers,
der aus dem P-Kanal-Transistor 14 und dem N-Kanal-Transi
stor 16 besteht, an die Verdrahtungsleitung 104 angeschlos
sen ist; der Ausgang des CMOS-Invertierers, der aus dem
P-Kanal-Transistor 14 und dem N-Kanal-Transistor 16 besteht,
an das Gate des N-Kanal-Transistors 6 angeschlossen ist;
der Eingang eines CMOS-Invertierers, der aus dem P-Kanal-Tran
sistor 13 und dem N-Kanal-Transistor 15 besteht, an die
Verdrahtungsleitung 105 angeschlossen ist; und der Ausgang
des CMOS-Invertierers, der aus dem P-Kanal-Transistor 13
und dem N-Kanal-Transistor 15 besteht, an das Gate des
N-Kanal-Transistors 9 angeschlossen ist.
Als nächstes wird die Funktionsweise der in Fig. 4 ge
zeigten Schaltung beschrieben.
Bevor die Abfrageverstärkerschaltung betrieben wird,
befindet sich das Potential an dem Ansteuersignaleingabean
schluß 101 an dem Pegel "L", so daß sich das Gate des P-Ka
nal-Transistors 1 durch den CMOS-Invertierer 10 an dem Pe
gel "H" befindet, um den P-Kanal-Transistor 1 in seinem
Aus-Zustand zu halten, und die Gates der N-Kanal-Pulldown
transistoren 7 und 8 durch den CMOS-Invertierer 10 an dem
Pegel "H" befinden, um die Transistoren 7 und 8 in ihren
Ein-Zuständen zu halten. Deshalb sind die Pegel der Ver
drahtungsleitungen 104 und 105 auf den Pegel "L" herabge
setzt. Desweiteren ist eine Spannung des Pegels "L" an die
Gates der P-Kanal-Transistoren 2 und 3 angelegt, an welche
die Verdrahtungsleitung 105 bzw. 104 angeschlossen sind.
Es wird zuerst eine Beschreibung für den Fall gegeben,
wenn der Speicherzellenstrom IE fließt. Wenn eine Spannung
des Pegels "H" an den Ansteuersignaleingabeanschluß 101 an
gelegt wird, werden die N-Kanal-Transistoren 7 und 8 ausge
schaltet, so daß die Verdrahtungsleitungen 104 und 105 zu
ihren schwebenden Zuständen übergehen, und der P-Kanal-Tran
sistor 1 wird eingeschaltet. Unmittelbar danach werden
die Verdrahtungsleitungen 104 und 105 so gehalten, daß sie
sich an ihrem Pegel "L" befinden, so daß sich die P-Kanal-Tran
sistoren 2 und 3 in ihren Ein-Zuständen befinden. Da
die Verdrahtungsleitung 104 an die Gates des P-Kanal-Tran
sistors 14 und des N-Kanal-Transistors 16 angeschlossen
ist, wird außerdem der P-Kanal-Transistor 14 eingeschaltet
und der N-Kanal-Transistor 16 ausgeschaltet. Da die Ver
drahtungsleitung 105 an die Gates des P-Kanal-Transistors
13 und des N-Kanal-Transistors 15 angeschlossen ist, wird
desweiteren der P-Kanal-Transistor 13 eingeschaltet und der
N-Kanal-Transistor 15 ausgeschaltet. Als Ergebnis werden
die N-Kanal-Transistoren 6 und 9 eingeschaltet, so daß sich
der Parasitärkondensator 32 der Bitleitung 33, der an den
Dateneingabeanschluß 102 angeschlossen ist, und der Konden
sator 12 zu laden beginnen.
Wie es zuvor vorausgesetzt worden ist, ist die Ladege
schwindigkeit, um den Kondensator 12 zu laden, höher als
die Ladegeschwindigkeit, um den Parasitärkondensator 32 zu
laden, da der Speicherzellenstrom IE durch die Speicher
zelle 31 fließt, die an den Dateneingabeanschluß 102 ange
schlossen ist. Deshalb geht nach der Periode zum Laden des
Kondensators 12 zuerst der Pegel der Verdrahtungsleitung
105 zu dem Pegel "H" über, so daß der N-Kanal-Transistor 4
eingeschaltet wird und der P-Kanal-Transistor 2 ausgeschal
tet wird.
Als Ergebnis wird der Pegel der Verdrahtungsleitung 104
auf den Pegel "L" gesetzt, so daß der P-Kanal-Transistor 3
eingeschaltet wird und der N-Kanal-Transistor 5 ausgeschal
tet wird, was dazu führt, daß der Pegel der Verdrahtungs
leitung 105 auf den Pegel "H" gesetzt wird. Als Reaktion
auf den gesetzten Pegel "H" der Verdrahtungsleitung 105
wird der P-Kanal-Transistor 13 ausgeschaltet und der N-Ka
nal-Transistor 15 eingeschaltet, so daß der Ausgangspegel
des CMOS-Invertierers, der aus dem P-Kanal-Transistor 13
und dem N-Kanal-Transistor 15 besteht, zu dem Pegel "L"
übergeht. Als Ergebnis wird der N-Kanal-Transistor 9 ausge
schaltet, so daß der Strompfad von der Verdrahtungleitung
105 des Pegels "H" zu dem Kondensator 12 abgeschnitten
wird.
Nachdem der Pegel des Ausgabeanschlusses 107 auf den
Pegel "L" gesetzt worden ist, das heißt, nachdem der Pegel
der Verdrahtungsleitung 104 auf den Pegel "L" gesetzt wor
den ist, fließt auch während eines Betreibens der Abfrage
verstärkerschaltung kein Strom durch die Speicherzelle 31,
so daß die Stromaufnahme verglichen mit der Abfrageverstär
kerschaltung im Stand der Technik auf die gleiche Weise wie
in dem ersten Ausführungsbeispiel verringert wird.
Als nächstes wird eine Beschreibung für den Fall gege
ben, wenn kein Speicherzellenstrom IE fließt. Wenn eine
Spannung des Pegels "H" an den Ansteuersignaleingabean
schluß 101 angelegt wird, werden die N-Kanal-Transistoren 7
und 8 ausgeschaltet, so daß die Verdrahtungsleitungen 104
und 105 zu ihren schwebenden Zuständen übergehen, und der
P-Kanal-Transistor 1 wird eingeschaltet. Unmittelbar danach
werden die Verdrahtungsleitungen 104 und 105 so gehalten,
daß sie sich an ihrem Pegel "L" befinden, so daß die P-Ka
nal-Transistoren 2 und 3 eingeschaltet werden. Da die Ver
drahtungsleitung 104 an die Gates des P-Kanal-Transistors
14 und des N-Kanal-Transistors 16 angeschlossen ist, wird
der P-Kanal-Transistor 14 eingeschaltet und der N-Kanal-Tran
sistor 16 ausgeschaltet. Da die Verdrahtungsleitung 105
an die Gates des P-Kanal-Transistors 13 und des N-Kanal-Tran
sistors 15 angeschlossen ist, wird desweiteren der
P-Kanal-Transistor 13 eingeschaltet und der N-Kanal-Transi
stor 15 ausgeschaltet. Als Ergebnis werden die N-Kanal-Tran
sistoren 6 und 9 eingeschaltet, um das Laden des Para
sitärkondensators 32 der Bitleitung 33, die an den Daten
eingabeanschluß 102 angeschlossen ist, und des Kondensators
12 zu beginnen.
Wie es zuvor vorausgesetzt worden ist, fließt kein
Speicherzellenstrom IE, da keine Ladung in dem schwebenden
Gate der Speicherzelle 31, die an den Dateneingabeanschluß
102 angeschlossen ist, gespeichert ist. Außerdem ist die
Ladegeschwindigkeit, um den Parasitärkondensator 32 zu la
den, höher als die Ladegeschwindigkeit, um den Kondensator
12 zu laden, da die Kapazität des Kondensators 12 größer
als die Kapazität des Parasitärkondensators 32 ist. Deshalb
geht zuerst der Pegel der Verdrahtungsleitung 104 zu dem
Pegel "H" über. Als Reaktion auf den Pegel "H" der Verdrah
tungsleitung 104 wird der N-Kanal-Transistor 5 eingeschal
tet und der P-Kanal-Transistor 3 ausgeschaltet.
Als Ergebnis wird der Pegel der Verdrahtungsleitung 105
auf den Pegel "L" gesetzt, so daß der P-Kanal-Transistor 2
eingeschaltet wird und der N-Kanal-Transistor 4 ausgeschal
tet wird, was dazu führt, daß der Pegel der Verdrahtungs
leitung 104 auf den Pegel "H" gesetzt wird. Als Ergebnis
auf den gesetzten Pegel "L" der Verdrahtungsleitung 105
wird der Ausgang des CMOS-Invertierers, der aus dem P-Ka
nal-Transistor 13 und dem N-Kanal-Transistor 15 besteht,
auf den Pegel "H" gesetzt. Obgleich diese Spannung des Pe
gels "H" an den N-Kanal-Transistor 9 angelegt wird, fließt
kein Strom in den Kondensator 12, da der Drain des N-Kanal-Tran
sistors 9, der an die Verdrahtungsleitung 105 ange
schlossen ist, auf den Pegel "L" gesetzt ist.
Andererseits wird, wenn der Pegel der Verdrahtungslei
tung 104 auf den Pegel "H" gesetzt ist, der P-Kanal-Transi
stor 14 in einem Aus-Zustand gehalten und der N-Kanal-Tran
sistor 16 in einem Ein-Zustand gehalten, so daß der Aus
gangspegel des CMOS-Invertierers, der aus dem P-Kanal-Tran
sistor 14 und dem N-Kanal-Transistor 16 besteht, an dem Pe
gel "L" gehalten wird. Als Ergebnis wird der N-Kanal-Tran
sistor 6 in einem Aus-Zustand gehalten, so daß der Strom
pfad von der Verdrahtungsleitung 104 des Pegels "H" zu der
Bitleitung 33 abgeschnitten wird. Deshalb fließt, nachdem
der Pegel des Ausgabeanschlusses 107 auf den Pegel "H" ge
setzt worden ist, das heißt, nachdem die Verdrahtungslei
tung 104 auf den Pegel "H" gesetzt worden ist, kein Strom
in die Speicherzelle 31, so daß eine Funktionsweise eines
Quasi-Einschreibens verhindert werden kann. Somit fließt
auch dann, wenn es keinen Speicherzellenstrom IE gibt, kein
Quasi-Einschreibstrom in die Speicherzelle, nachdem der
Ausgangspegel der Abfrageverstärkerschaltung gesetzt worden
ist, so daß die Stromaufnahme verglichen mit der Abfrage
verstärkerschaltung im Stand der Technik verringert werden
kann.
Ähnlich zu dem ersten Ausführungsbeispiel ist es bevor
zugt, den Stromverstärkungsfaktor β der P-Kanal-Transisto
ren 2 und 3 kleiner als den der anderen P-Kanal-Transisto
ren einzustellen. In diesem Fall ist die Zeit, die benötigt
wird, um den Parasitärkondensator 32 und den Kondensator 12
zu laden, länger als die in dem zuvor beschriebenen Ausfüh
rungsbeispiel, so daß die Zeit, die benötigt wird, um die
Daten aus der Speicherzelle zu lesen, länger wird; jedoch
kann der Gesamtspeicherzellenstrom IE, welcher fließt, bis
der gesetzte Pegel "L" an dem Ausgabeanschluß 103 erzielt
wird, weiter verringert werden.
Die Kapazität des Kondensators 12 kann als der Minimal
wert der Werte bestimmt werden, die größer als die Parasi
tärkapazität der Bitleitung 33 sind. Die Parasitärkapazität
wird unter Bezugnahme auf Ausführungsbestimmungen für die
Bitleitung 33 in der Abfrageverstärkerschaltung bestimmt.
Die Verdrahtungsleitungen 104 und 105 in den zuvor be
schriebenen ersten und zweiten Ausführungsbeispielen befin
den sich, nachdem sie von ihrem Pulldownpegel "L" geändert
worden sind, in den schwebenden Zuständen zwischen dem Pe
gel "H" und dem Pegel "L", bis sie auf den Pegel "H" oder
"L" gesetzt werden. In dem schwebenden Zustand fließt ein
Durchgangsstrom durch den CMOS-Invertierer 11, um Leistung
aufzunehmen, wenn ein Signal auf der Verdrahtungsleitung
105 in den Fig. 1 gezeigten CMOS-Invertierer 11 eingegeben
wird. Wenn ein Signal auf der Verdrahtungsleitung 104 des
schwebenden Zustands in den CMOS-Invertierer eingegeben
wird, der aus dem P-Kanal-Transistor 14 und dem N-Kanal-Tran
sistor 16 besteht, fließt ebenso ein Strom durch den
CMOS-Invertierer. Wenn desweiteren ein Signal auf der Ver
drahtungsleitung 105 des schwebenden Zustands in den CMOS-In
vertierer eingegeben wird, der aus dem P-Kanal-Transistor
13 und dem N-Kanal-Transistor 15 besteht, fließt ebenso ein
Durchgangsstrom durch den CMOS-Invertierer.
Gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel wird eine Ab
frageverstärkerschaltung geschaffen, bei welcher ein Durch
gangsstrom in einem CMOS-Invertierer an der Ausgangsstufe
der Abfrageverstärkerschaltung verhindert werden kann.
Nachstehend erfolgt die Beschreibung des dritten bevor
zugten Ausführungsbeispiels der vorliegenden Erfindung.
Fig. 5 zeigt einen Stromlaufplan, der eine Abfragever
stärkerschaltung gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel
der vorliegenden Erfindung darstellt. In der Figur bezeich
net das Bezugszeichen 17 eine Abfrageverstärkerschaltung,
welche mit Ausnahme dessen, daß der Invertierer 11 aus der
in Fig. 1 gezeigten Abfrageverstärkerschaltung entfernt
ist, die gleiche wie die, die in Fig. 1 gezeigt ist, ist,
oder welche die gleiche, wie die, die in Fig. 4 gezeigt
ist, ist. Das Bezugszeichen 20 bezeichnet ein ODER-Gatter;
das Bezugszeichen 21 bezeichnet ein negiertes UND-Gatter;
das Bezugszeichen 22 bezeichnet einen Invertierer; das Be
zugszeichen 23 bezeichnet ein Durchlaßgatter (Schalter);
die Bezugszeichen 104 und 105 bezeichnen Verdrahtungslei
tungen, welche die gleichen, wie jene in dem ersten oder
zweiten Ausführungsbeispiel sind, das Bezugszeichen 107 be
zeichnet einen Ausgabeanschluß des zweiten Ausführungsbei
spiels; das Bezugszeichen 109 bezeichnet einen Datenlesebe
fehlsanschluß, welcher ein Datenlesebefehlssignal aufnimmt,
welches sich an dem Pegel "H" befindet, wenn die Daten zu
lesen sind; das Bezugszeichen 110 bezeichnet einen CMOS-In
vertierer; und das Bezugszeichen 111 bezeichnet einen Aus
gabeanschluß dieser Abfrageverstärkerschaltung.
Als nächstes wird die Funktionsweise der in Fig. 5 ge
zeigten Schaltung beschrieben. Die Funktionsweise der Ab
frageverstärkerschaltung 17 selbst ist die gleiche, wie die
in dem ersten oder zweiten Ausführungsbeispiel, und deshalb
wird eine Beschreibung davon hier weggelassen. Wenn ein Le
sen von Daten aus der Speicherzelle von der Abfrageverstär
kerschaltung 17 begonnen wird, geht der Pegel der Verdrah
tungsleitung 104 oder 105 zu dem Pegel "H" über. Wenn der
Pegel der Verdrahtungsleitung 104 oder 105 einen Schwell
wertpegel überschreitet, gibt der Vergleicher 18 oder 19
das Signal des Pegels "H" aus. Wenn einer der beiden Ver
gleicher 18 oder 19 das Signal des Pegels "H" ausgibt, gibt
das ODER-Gatter 20 das Signal des Pegels "H" aus. Wenn ein
Datenlesebefehlssignal des Pegels "H" in den Datenlesebe
fehlsanschluß 109 eingegeben wird und wenn das Ausgangssi
gnal des ODER-Gatters 20 der Pegel "H" wird, geht das Aus
gangssignal des negierten UND-Gatters 21 zu dem Pegel "L"
über, um das Durchlaßgatter 23 einzuschalten. Dadurch wer
den die aus der Abfrageverstärkerschaltung 17 gelesenen Da
ten durch das Durchlaßgatter 23 zu dem Ausgabeanschluß 111
ausgegeben.
Da das Durchlaßgatter 23 lediglich eingeschaltet ist,
wenn der Spannungspegel der Verdrahtungsleitung 104 oder
105 den Schwellwertpegel überschreitet, nimmt der CMOS-In
vertierer 110 eine Spannung eines gesetzten Pegels "H" oder
"L" auf. Demgemäß nimmt der CMOS-Invertierer 110 keine in
stabile und sich erhöhende Spannung der Verdrahtungsleitung
104 oder 105 auf, so daß der Durchgangsstrom in dem CMOS-In
vertierer 110 verhindert werden kann, was dazu führt, daß
die Stromaufnahme in der Abfrageverstärkerschaltung weiter
verringert werden kann.
In den zuvor beschriebenen Ausführungsbeispielen ist
eine elektrisch löschbare Speicherzelle bzw. E²-Speicher
zelle als eine Speicherzelle verwendet worden, jedoch ist
die vorliegende Erfindung nicht darauf beschränkt, sondern
die gleichen Effekte können unter Verwendung einer Spei
cherzelle eines anderen Typs, wie zum Beispiel eines dyna
mischen Direktzugriffspeichers bzw. DRAM eines Ein-Transi
stor-Ein-Kondensator-Typs erzielt werden. Ebenso sind die
Transistoren, die die Abfrageverstärkerschaltung ausbilden,
nicht auf die MOS-Transistoren beschränkt, sondern die
gleichen Effekte können unter Verwendung von Bipolartransi
storen, um einen ähnlichen Aufbau auszubilden, erzielt wer
den.
Wie es zuvor beschrieben worden ist, fließt gemäß dem
ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung in einer Abfrage
verstärkerschaltung kein Auslesestrom durch die Speicher
zelle, nachdem die ausgelesenen Daten bestimmt worden sind,
da der Spannungspegel der Bitleitung nach dem Bestimmen der
gelesenen Daten auf einen Pegel gesetzt wird, bei welchem
kein Strom durch die ausgewählte Speicherzelle fließt, so
daß es hier dadurch einen Effekt gibt, daß die Stromauf
nahme der Abfrageverstärkerschaltung verringert werden
kann.
Gemäß dem zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung
gibt es dadurch einen Effekt, daß die Stromaufnahme der Ab
frageverstärkerschaltung während eines Ansteuerns der Ab
frageverstärkerschaltung verringert werden kann, da ein
Strom als Reaktion auf ein Ansteuersignal zum Ansteuern der
Abfrageverstärkerschaltung zu der ausgewählten Bitleitung
und dem Kondensator zugeführt wird.
Gemäß dem dritten Aspekt der vorliegenden Erfindung
wird die Zufuhr eines Quasi-Einschreibstroms zu der Bitlei
tung, welche ausgewählt ist, nach einem Lesen von Daten ab
geschnitten, wenn der Anstieg des Potentials der Bitleitung
aufgrund des Ladens der Parasitärkondensators der Bitlei
tung schneller als der Anstieg des Potentials des Kondensa
tors aufgrund des Ladens des Kondensators ist, so daß es
dadurch einen Effekt gibt, daß eine Beschädigung von Daten
in der Speicherzelle nach einem Bestimmen der gelesenen Da
ten verhindert werden kann und die Stromaufnahme der Abfra
geverstärkerschaltung weiter verringert werden kann.
Gemäß dem vierten Aspekt der vorliegenden Erfindung
wird der Spannungspegel, der auf den Pegel "H" oder den Pe
gel "L" gesetzt ist, an den CMOS-Invertierer der Ausgangs
stufe angelegt, der an den Schalter angeschlossen ist, an
gelegt, so daß es dadurch einen Effekt gibt, daß ein Strom,
der durch den CMOS-Invertierer geht, verhindert werden
kann.
Eine in der vorhergehenden Beschreibung offenbarte Ab
frageverstärkerschaltung weist einen Kondensator, der eine
Kapazität aufweist, die größer als die eines Parasitärkon
densators einer ausgewählten Bitleitung ist, und einen Dif
ferentialverstärker zum Setzen des Spannungspegels der aus
gewählten Bitleitung auf einen Pegel, bei welchem kein Le
sestrom durch die ausgewählte Bitleitung fließt, nachdem
die gelesenen Daten bestimmt worden sind, oder zum Ab
schneiden eines Pseudo-Einschreibstroms auf, so daß dieser
nicht in eine ausgewählte Speicherzelle fließt; dadurch
wird die Stromaufnahme verringert und eine Beschädigung von
Daten aufgrund eines Pseudo-Einschreibens verhindert.
Claims (4)
1. Abfrageverstärkerschaltung zum Lesen von Daten aus ei
ner ausgewählten Speicherzelle (31), die an eine ausgewähl
te Bitleitung (33) angeschlossen ist, die aufweist:
einen Kondensator (12), der ein Ende aufweist, das an Masse angeschlossen ist, und der eine Kapazität aufweist, die größer als die eines Parasitärkondensators (32) der aus gewählten Bitleitung (33) ist;
ein Stromzufuhrteil (34) zum im wesentlichen gleichzei tigen Zuführen eines Stroms zu der ausgewählten Bitleitung (33) und zu einem anderen Ende des Kondensators (12), um Po tentiale der ausgewählten Bitleitung (33) und des anderen Endes des Kondensators (12) zu erhöhen; und
einen Differentialverstärker (2, 3, 4, 5) zum Bestimmen von aus der Speicherzelle (31) gelesenen Daten durch ein Ver gleichen der von dem Stromzufuhrteil (34) erhöhten Poten tiale und zum Setzen des Spannungspegels der ausgewählten Bitleitung (33) auf einen Pegel, bei welchem kein Strom durch die ausgewählte Bitleitung (33) fließt, nachdem die gelesenen Daten bestimmt worden sind.
einen Kondensator (12), der ein Ende aufweist, das an Masse angeschlossen ist, und der eine Kapazität aufweist, die größer als die eines Parasitärkondensators (32) der aus gewählten Bitleitung (33) ist;
ein Stromzufuhrteil (34) zum im wesentlichen gleichzei tigen Zuführen eines Stroms zu der ausgewählten Bitleitung (33) und zu einem anderen Ende des Kondensators (12), um Po tentiale der ausgewählten Bitleitung (33) und des anderen Endes des Kondensators (12) zu erhöhen; und
einen Differentialverstärker (2, 3, 4, 5) zum Bestimmen von aus der Speicherzelle (31) gelesenen Daten durch ein Ver gleichen der von dem Stromzufuhrteil (34) erhöhten Poten tiale und zum Setzen des Spannungspegels der ausgewählten Bitleitung (33) auf einen Pegel, bei welchem kein Strom durch die ausgewählte Bitleitung (33) fließt, nachdem die gelesenen Daten bestimmt worden sind.
2. Abfrageverstärkerschaltung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß das Stromzufuhrteil (34) der ausgewähl
ten Bitleitung (33) und dem Kondensator (12) als Reaktion auf
ein Ansteuersignal zum Ansteuern der Abfrageverstärker
schaltung einen Strom zuführt.
3. Abfrageverstärkerschaltung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß der Differentialverstärker (2, 3, 4, 5) das
Stromzufuhrteil (34) auf eine solche Weise steuert, daß,
wenn die Erhöhung des Potentials der ausgewählten Bitlei
tung (33) durch ein Laden des Parasitärkondensators (32)
schneller als die Erhöhung des Potentials eines anderen En
des des Kondensators (12) durch ein Laden des Kondensators
(12) ist, eine Zufuhr eines Pseudo-Einschreibstroms zu der
ausgewählten Bitleitung (33) abschnitten wird, nachdem die
Daten gelesen worden sind, und wenn die Erhöhung des Poten
tials des anderen Endes des Kondensators (12) durch ein La
den des Kondensators (12) schneller als die Erhöhung des Po
tentials der ausgewählten Bitleitung (33) durch ein Laden
des Parasitärkondensators (32) ist, eine Zufuhr eines Stroms
zu dem Kondensator (12) abgeschnitten wird.
4. Abfrageverstärkerschaltung nach Anspruch 1, gekenn
zeichnet durch einen Schalter (23), welcher eingeschaltet
wird, wenn die Daten, die den gesetzten Pegel aufweisen,
aus dem Differentialverstärker (2, 3, 4, 5) ausgegeben wer
den, und ein Leseanweisungssignal zum Anweisen, Daten aus
der Abfrageverstärkerschaltung zu lesen, vorhanden sind, um
die Daten, die den gesetzten Pegel aufweisen, als die aus
der Speicherzelle (31) gelesenen Daten auszugeben.
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|---|---|---|---|
| JP130495A JPH08190799A (ja) | 1995-01-09 | 1995-01-09 | センスアンプ回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| DE19600288A1 true DE19600288A1 (de) | 1996-07-18 |
| DE19600288C2 DE19600288C2 (de) | 2002-05-08 |
Family
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Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19600288A Expired - Fee Related DE19600288C2 (de) | 1995-01-09 | 1996-01-05 | Abfrageverstärkerschaltung |
Country Status (4)
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|---|---|
| US (1) | US5577000A (de) |
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| DE (1) | DE19600288C2 (de) |
| FR (1) | FR2729258B1 (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003090232A1 (de) * | 2002-04-22 | 2003-10-30 | Infineon Technologies Ag | Nicht flüchtiger speicher und verfahren zum auslesen desselben |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR0146532B1 (ko) * | 1995-05-25 | 1998-11-02 | 김광호 | 반도체 메모리 장치의 다이나믹 레벨 컨버터 |
| JPH09213078A (ja) * | 1996-02-01 | 1997-08-15 | Hitachi Ltd | 半導体メモリ、デバイス、信号の増幅方法、パストランジスタを制御するための方法および装置 |
| JP3822707B2 (ja) * | 1997-05-08 | 2006-09-20 | 株式会社ルネサステクノロジ | Icカード |
| US5872032A (en) * | 1997-11-03 | 1999-02-16 | Vanguard International Semiconductor Corporation | Fabrication method for a DRAM cell with bipolar charge amplification |
| US6128236A (en) * | 1998-12-17 | 2000-10-03 | Nippon Steel Semiconductor Corp. | Current sensing differential amplifier with high rejection of power supply variations and method for an integrated circuit memory device |
| US10388361B1 (en) * | 2018-03-13 | 2019-08-20 | Micron Technology, Inc. | Differential amplifier schemes for sensing memory cells |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5243573A (en) * | 1990-09-07 | 1993-09-07 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Sense amplifier for nonvolatile semiconductor storage devices |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55101187A (en) * | 1979-01-22 | 1980-08-01 | Mitsubishi Electric Corp | Stored charge detecting sense amplifier |
| JPS5837896A (ja) * | 1981-08-31 | 1983-03-05 | Fujitsu Ltd | Mosダイナミック回路 |
| JPS6122494A (ja) * | 1984-07-10 | 1986-01-31 | Nec Corp | アクテイブプルアツプ回路 |
| US4716320A (en) * | 1986-06-20 | 1987-12-29 | Texas Instruments Incorporated | CMOS sense amplifier with isolated sensing nodes |
| JPH01119984A (ja) * | 1987-10-31 | 1989-05-12 | Toshiba Corp | ダイナミック型半導体メモリ |
| US5276369A (en) * | 1989-07-20 | 1994-01-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Sense amplifier circuit having a bias current control means |
| JPH04362597A (ja) * | 1991-06-10 | 1992-12-15 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 電流センスアンプ回路 |
| JPH05109276A (ja) * | 1991-10-16 | 1993-04-30 | Sanyo Electric Co Ltd | センスアンプドライバ |
| US5297092A (en) * | 1992-06-03 | 1994-03-22 | Mips Computer Systems, Inc. | Sense amp for bit line sensing and data latching |
| JPH0685564A (ja) * | 1992-09-01 | 1994-03-25 | Mitsubishi Electric Corp | 増幅器回路 |
-
1995
- 1995-01-09 JP JP130495A patent/JPH08190799A/ja active Pending
- 1995-06-02 US US08/458,482 patent/US5577000A/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-06-27 FR FR9507717A patent/FR2729258B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-01-05 DE DE19600288A patent/DE19600288C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5243573A (en) * | 1990-09-07 | 1993-09-07 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Sense amplifier for nonvolatile semiconductor storage devices |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| IBM Technical Disclosure Bulletin, Vol. 25, No. 10, März 1983, S. 5088-5091 * |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2003090232A1 (de) * | 2002-04-22 | 2003-10-30 | Infineon Technologies Ag | Nicht flüchtiger speicher und verfahren zum auslesen desselben |
| DE10217870A1 (de) * | 2002-04-22 | 2003-11-13 | Infineon Technologies Ag | Nichtflüchtiger Speicher und Verfahren zum Auslesen desselben |
| DE10217870B4 (de) * | 2002-04-22 | 2004-02-26 | Infineon Technologies Ag | Nichtflüchtiger Speicher und Verfahren zum Auslesen desselben |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2729258A1 (fr) | 1996-07-12 |
| DE19600288C2 (de) | 2002-05-08 |
| FR2729258B1 (fr) | 1997-09-19 |
| US5577000A (en) | 1996-11-19 |
| JPH08190799A (ja) | 1996-07-23 |
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