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DE1801945U - Doppelkammer fuer zweistrahlinterferometer. - Google Patents

Doppelkammer fuer zweistrahlinterferometer.

Info

Publication number
DE1801945U
DE1801945U DE1959J0007775 DEJ0007775U DE1801945U DE 1801945 U DE1801945 U DE 1801945U DE 1959J0007775 DE1959J0007775 DE 1959J0007775 DE J0007775 U DEJ0007775 U DE J0007775U DE 1801945 U DE1801945 U DE 1801945U
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
chamber
windows
double chamber
window
mirrored
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE1959J0007775
Other languages
English (en)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jenoptik AG
Original Assignee
Jenoptik Jena GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jenoptik Jena GmbH filed Critical Jenoptik Jena GmbH
Priority to DE1959J0007775 priority Critical patent/DE1801945U/de
Publication of DE1801945U publication Critical patent/DE1801945U/de
Expired legal-status Critical Current

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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

  • Doppelkammer für Zweistrahlinterferometer Die Neuerung betrifft eine Doppelkammer für Zweistrahlinterferometer zur Aufnahme von Flüssigkeiten oder Gasen, die zum Lichteintritt tmd Lichtaustritt an ihren Stirnseiten mit je einem Fenster versehen ist.
  • Bei der Messung, beispielsweise der Bestimmung von Konzentrationen, mit Hilfe eines Zweistrahlinterferometers findet ein einmaliger Durchtritt der Lichtstrahlenbündel durch die Doppelkammer statt. Bekanntlich hängt die Genauigkeit einer interferometrischen Messung in hohem Maße von der Schichtdicke des zu untersugehenden Mediums, also von der Kammerlänge ab. Sie ist dieser proportional. Es könnte also die Empfindlichkeit eines Interferometers durch eine entsprechende Verlängerung der Doppelkammer gesteigert werden, was jedoch zu einer unliebsame Vergrößerung des gesamten Gerätes führen würde. Eine andere Möglichkeit zur Steigerung der Meßgenauigkeit besteht darin, bei unveränderter Kammerlänge die Strahlenbündel mehrere Male durch die Kammern zu leiten, bevor sie zur Interferenz gebracht werden. Neuerungsgemäß wird das dadurch erreicht, daß die Innenflächen der Fenster zum Teil einen Spiegelbelag tragen und so ausgebildet und im optischen Strahlengang angeordnet sind, daß ein in eine Kammer eintretendes Strahlenbündel diese nach mehrfacher Reflexion parallel zu sich selbst versetzt verläßt.
  • Eine vorteilhafte Ausführungsform ergibt sich, wenn sowohl die Doppelkammer als auch die an ihren Stirnflächen sie verschließenden Fenster prismatisch ausgebildet sind, wobei die brechenden Kanten des Kammerprismas einerseits und der Fensterprismen andererseits auf entgegengesetzten Seiten des optischen Strahlenganges liegen, und wenn die prismatischen Fenster in der Nähe der Prismenbasen verspiegelt sind. Bei Verwendung dieser Doppelkammer in einem Zweistrahlinterferometer erübrigt sich eine Veränderung in der Anordnung der einzelnen optischen Elemente, da bei geeigneter Bemessung der Prismen eintretendes und austretendes Strahlenbündel in einer Geraden liegen.
  • Eine andere, die Helligkeit des Interferenzbildes fördernde und optische Glieder zum Auseinanderziehen der Lichtstrahlenbündel erübrigende, empfehlenswerte Ausführungsform zeichnet sich dadurch aus, daß die Kammerfenster aus planparallelen, zueinander parallel
    liegenden Glasplatten bestehen, die derart schräg im optischen
    Strahlengang liegen, daß zwei an einer Stirnfläche der Doppelkammer liegende Fenster eine Dachkante miteinander bilden, und daß ferner der nicht verspiegelten Fläche des einen Fensters die verspiegelte Fläche des anderen gegenüberliegt. Soll eine mehrfache Reflexion der Lichtbündel an den verspiegelten Flächen und damit eine weitere Genauigkeitssteigerung der Messung erreicht werden, so ist es vorteilhaft, die verspiegelten Flächen der Fenster größer auszubilden als die zugehörigen nicht verspiegelten Flächen.
  • Zwei Ausführungsbeispiele des Gegenstandes der Neuerung sind in den Figuren 1 bis 4 der Zeichnung in Verbindung mit den optischen Gliedern eines Zweistrahlinterferometers z. T. im Schnitt, z. T. in Ansicht dargestellt. In den Figuren 1 und 2 ist ein Interferometer mit einer Doppelkammer dargestellt, die wie ihre Fenster als Prisma ausgebildet ist. Fig. 3 und 4 zeigen eine Doppelkammer, deren Fenster aus planparallelen Glasplatten bestehen.
  • Das in den Figuren 1 und 2 dargestellte Zweistrahlinterferometer enthält eine linienförmige Lichtquelle 1, einen Kollimator 2, eine Blende mit zwei parallel zueinander verlaufenden Schlitzen 3 und 4, einen aus zwei Glasplatten 5 ; 6 bestehenden Kompensator, eine schräg gestellte planparallele Glasplatte 7 und ein Fernrohr mit einem Objektiv 8 und einem Zylinderlinsenokular 9. Die Kompensatorplatte 5 ist um eine rechtwinklig zur Lichtrichtung liegende Drehachse X-X drehbar gelagert. Im oberen Teil des Interferometerstrahlenganges ist eine Doppelkammer 10 ; 11 mit keilförmig ausgebildeten Fenstern 12 ; 13 vorgesehen, die an ihren Innenflächen an den schraffierten Teilen 14 ; 15 verspiegelt sind.
  • Das von der linienförmigen Lichtquelle 1 ausgesandte Strahlenbündel wird mit Hilfe des Kollimator 2 parallel gerichtet und durch die Blende 3 ; 4 geteilt. Ein Teil jedes Lichtbündels durchsetzt die Kammer 10 bzw. 11, ein anderer Teil geht an ihr vorbei.
  • Der die Doppelkammern 10 und 11 durchlaufende Teil des Lichtbündels wird infolge der prismatischen Wirkung der Fenster durch das Fenster 12 von der brechenden Kante des Prismas weggebrochen und verläßt nach Reflexion *an den Spiegelflächen 15 ; 14 der Fenster 13 ; 12 die Doppelkammer durch das Fenster 13, das das Lichtbündel wieder in die ursprüngliche Richtung lenkt. Die parallelen Strahlen der Teillichtbündel werden mittels des Fernrohrobjektivs 8 zu Interferenzbildern vereinigt und mittels des Zylinderlinsenokulars 9 beobachtet. Ist dabei das von den die Kammern durchsetzenden Lichtstrahlen erzeugte Interferenzbild gegenüber dem Interferenzbild verschoben, das von den an den Kammern vorbeilaufenden Lichtstrahlen erzeugt wird, so kann diese Verschiebung durch Drehung der Kompensatorplatte um die Achse X-X rückgängig gemacht werden. Die planparallele. Glasplatte 7, deren Dicke und Neigung genau berechnet ist, dient zur Hebung der Lichtstrahlen, wodurch der sonst im Gesichtsfeld des Fernrohrs erscheinende, durch den Boden der Doppelkammer verursachte, die Messung störende Trennungsstrich beider Interferenzbilder ausgeschaltet ist.
  • In den Fig. 3 und 4 ist ein Zweistrahlinterferometer darge-
    stellt, das in seinem Aufbau und in seiner Wirkungsweise dem in den
    Fig. 1 und 2 dargestellten gleicht. Das von der linienförmigen
    t
    Lichtquelle 1 ausgesandte und von dem Kollimator 2 parallel ge-
    richtete Strahlenbündel wird mittels der Blende 3 ; 4 in zwei
    Strahlenbündel aufgeteilt, von denen jedes mit seinem oberen Teil die
    Doppelkammer 10 ; 11 sowie die Kompensatorplatten 5 ; 6 und mit
    seinem unteren Teil die planparallele Platte 7 durchsetzt. Beide Teilstrahlenbündel werden durch das Objektiv 8 eines Fernrohrs zu Interferenzbildern vereinigt und sind mit Hilfe des Zylinderlinse okulars 9 des Fernrohrs der Betrachtung zugänglich. Die Kompensatorplatte 5 ist um die Achse X-X drehbar gelagert.
  • Die Doppelkammer 10 ; 11 weist als Fenster vier planarallele Glasplatten 16 ; 17 ; 18 ; 19 auf, von denen die zu einer Kammer 10 bzw. 11 gehörenden 16 ; 17 bzw. 18 ; 19 zueinander parallel angeordnet sind und von denen zwei an einer Stirnfläche der Doppelkammer angebrachte Glasplatten 16 ; 18 bzw. 17 ; 19 eine Dachkante miteinander bilden. Jede der vier Glasplatten ist an ihrer dem Kammerinneren zugekehrten Fläche mit einer Verspiegelung 20 bzw. 21 bzw. 22 bzw. 23 versehen. Dabei ist die Verspiegelung nur teilweise vorgenommen, und zwar sind die Glasplatten 16 ; 18 in der Nähe der von ihnen gebildeten Dachkante frei vom Spiegelbelag, während die Glasplatten 17 ; 19 in der Nähe der von ihnen gebildeten Dachkante verspiegelt sind. Die Schiefstellung der Glasplatten im Strahlengang und die Größe der Verspiegelung sind ein Kriterium dafür, wie oft das Strahlenbündel die Kammer durchsetzt. Im vorliegenden'Beispiel wird die Kammer fünfmal vom Strahlenbündel durchsetzt, was einer fünffachen Genauigkeit der Messung gegenüber einem einmaligen Durchtritt des Strahlenbündels durch dieselbe Kammer entspricht.

Claims (4)

  1. S chut zans-p rüche 1. Zum Aufnehmen von Flüssigkeiten oder Gasen bestimmte Doppelkammer für Zweistrahlinterferometer, die zum Lichtdurchtritt an ihren Stirnseiten mit je einem Fenster versehen ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Innenflächen der Fenster zum Teil einen Spiegelbelag tragen und so ausgebildet und im optischen Strahlengang angeordnet sind, daß ein in eine Kammer eintretendes Strahlenbündel diese nach mehrfacher Reflexion parallel zu sich selbst versetzt verläßt.
  2. 2. Doppelkammer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß sowohl die Kammer als auch die an ihren Stirnflächen sie verschließenden Fenster prismatisch ausgebildet sind, wobei die brechenden Kanten des Kammerprismas einerseits und der Fensterprismen andererseits auf entgegengesetzten Seiten des optischen Strahlenganges liegen, und daß die prismatischen Fenster in der Nähe der Prismenbasen verspiegelt sind.
  3. 3. Doppelkammer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Kammerfenster aus planparallelen, zueinander parallel liegenden Glasplatten bestehen, die schräg im optischen Strahlengang liegen, und daß der nicht verspiegelten Fläche des einen Fensters die verspiegelte Fläche des anderen gegenüberliegt.
  4. 4. Doppelkammer nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die verspiegelten Flächen der Fenster größer sind als die zugeordneten nicht verspiegelten Flächen.
DE1959J0007775 1959-05-23 1959-05-23 Doppelkammer fuer zweistrahlinterferometer. Expired DE1801945U (de)

Priority Applications (1)

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DE1959J0007775 DE1801945U (de) 1959-05-23 1959-05-23 Doppelkammer fuer zweistrahlinterferometer.

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1801945U true DE1801945U (de) 1959-12-10

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ID=32881978

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Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1959J0007775 Expired DE1801945U (de) 1959-05-23 1959-05-23 Doppelkammer fuer zweistrahlinterferometer.

Country Status (1)

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DE (1) DE1801945U (de)

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