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DE1774929A1 - Monolithische Speicherzelle mit zwei kreuzgekoppelten Transistoren - Google Patents

Monolithische Speicherzelle mit zwei kreuzgekoppelten Transistoren

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Publication number
DE1774929A1
DE1774929A1 DE19681774929 DE1774929A DE1774929A1 DE 1774929 A1 DE1774929 A1 DE 1774929A1 DE 19681774929 DE19681774929 DE 19681774929 DE 1774929 A DE1774929 A DE 1774929A DE 1774929 A1 DE1774929 A1 DE 1774929A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
collector
resistor
memory cell
cross
resistors
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19681774929
Other languages
English (en)
Other versions
DE1774929C3 (de
DE1774929B2 (de
Inventor
Hermann Frantz
Dipl-Ing Najmann Knut Karl
Siegfried K Wiedmann
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
INT BUERO MASCHINEN GmbH
IBM Deutschland GmbH
Original Assignee
INT BUERO MASCHINEN GmbH
IBM Deutschland GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by INT BUERO MASCHINEN GmbH, IBM Deutschland GmbH filed Critical INT BUERO MASCHINEN GmbH
Priority to DE1774929A priority Critical patent/DE1774929C3/de
Priority claimed from DE1574651*CA external-priority patent/DE1574651C3/de
Publication of DE1774929A1 publication Critical patent/DE1774929A1/de
Publication of DE1774929B2 publication Critical patent/DE1774929B2/de
Application granted granted Critical
Publication of DE1774929C3 publication Critical patent/DE1774929C3/de
Expired legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D84/00Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers
    • H10D84/60Integrated devices formed in or on semiconductor substrates that comprise only semiconducting layers, e.g. on Si wafers or on GaAs-on-Si wafers characterised by the integration of at least one component covered by groups H10D10/00 or H10D18/00, e.g. integration of BJTs
    • H10D84/611Combinations of BJTs and one or more of diodes, resistors or capacitors
    • H10D84/613Combinations of vertical BJTs and one or more of diodes, resistors or capacitors
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
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    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
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    • G11C11/411Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger using bipolar transistors only
    • G11C11/4116Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming static cells with positive feedback, i.e. cells not needing refreshing or charge regeneration, e.g. bistable multivibrator or Schmitt trigger using bipolar transistors only with at least one cell access via separately connected emittors of said transistors or via multiple emittors, e.g. T2L, ECL
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/01Details
    • H03K3/012Modifications of generator to improve response time or to decrease power consumption
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
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    • H10D1/40Resistors
    • H10D1/43Resistors having PN junctions

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
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  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

  • Monolithische Speicherzelle mit zwei kreizzZekol)2eIten Transistoren Die Erfindung betrifft eine monolithische Speicherzelle mit zVei kreuzgekoppelten Transistoren, zu deren relativ hochohmigen Kollektorwiderstiinden je ein fN-Obergang parallelgeschaltet ist. Schaltungen dieser Art sind äußerst vorteilhaft bei Anwendung einer Leistungsschaltung zur Adressierung, um eine ansich unvermeidliche Verlustleistung auf einem Minimum zu halten. Sollen relativ hohe Schaltgeschwindigkeiten angewendet werden, dann stellen sich infolge der als Dioden wirksamen PN-Obergänge insofern Nachteile ein, als der jeweilige. Arbeitspunkt einer so gebildeten Diode nicht im günstigsten Bereich liegt. Die Aufgabe der 1:rfin:lung besteht nun darin, diesen Nachteil zu beteben. Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe für die oben beschriebene monolithische Speicherzelle dadurch gelöst, daß jeweils zwischen Kollektor und Kollektorwiderstand zusätzlich ein relativ niederohmiger Widerstand in Serie geschaltet ist. Durch diese Maßnahmen ergeben sich nicht nur höhere anwendbare Schaltgeschwindigkeiten, sondern zeigt sich außerdem, daß sich eine geringere Empfindlichkeit gegenüber Toleranzschwankungen einstellt. Eine besonders vorteilhafte Anwendung ergibt sich bei monol i th ischon Speicherzellen, bei der die Kollektorwiderstände durch Pinchwiderstände, das ist jeweils ein unter Emitterrnaterial vorgrabener Widerstand aus Rasismaterial, darge-ste?.It sind. In diese Fall eht-d-l e- -B--ze ruft; ., awe i 1.s der Kollektor in der Kollektordiffusion in relativer Entfernung vom Pinchwiderstand zur Ausnutzung des. Epitaxie-Bahnwiderstandes kontaktiert ist. Mit dieser Maßnahme lassen sich die oben angegebenen Vorteile erzielen, ohne daß dabei ein: Wesentlich größerer Platzbedarf im Layout erforderlich ist,, als ea& für die ei@rxas bssch:rieb$ne monolithische Speicherzelle notwendig ist..
  • Weitere Vorteile und Teilaufgaben der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung, die anhand eines Ausführungsbeispiels mit Hilfe der nachstehend aufgeführten Zeichnungen die Erfindung näher erläutern soll, und aus den Patentansprüchen. Es zeigen: Fig. 1 die Schaltung einer erfindungsgemäßen Speicherzelle Fis. 2 , das Layout einer Symmetriehälfte der Schaltung nach Fig. 1 Fig. 3 das Ersatzschaltbild einer Symmetriehälfte. Das hier beschriebene Ausführungsbeispiel einer Schaltung gemäß der Erfindung besteht aus zwei kreuzgekoppelten blultiemittertransistoren, deren innere Emitter E11 und E21 miteinander ver- bunden sind und an konstantem Potential (UV) liegen, während die äußeren Emitter L12 und L22 an liier nicht gezeigten Abtasteinnei aus Speicherzellen dieser Art aufgebauten Speichermatrix liegen. Die Basis B1 des einen Transistors ist mit dein Kollektor CZ des anderen Transistors verbunden. Das gleiche gilt für die Basis BZ des anderen Transistors und den Kollektor C1 des einen Transistors. Die Kollektoren C1 und CZ sind dabei je- weils über einen relativ niederohmigen leiderstand R11 bzw. R12 mit den relativ hochohmigen Kollektorwiderständen Rcl bzw. Rc2 verbunden, denen ihrerseits jeweils eine Diode D1 bzw. D2 parallel- geschaltet ist. Der gemeinsame Verbindungspunkt der Kollektor- widerstände Rct und Rc2 liegt an der Anschlußklemme V1. Die Realisierung einer solchen erfindungsgemäß aufgebauten Schaltung läßt sich anhand des in Fig. 2 dargestellten Layouts beschreiben. Dieses Layout zeigt lediglich eine Symmetriehälfte der bistabilen Kippschaltung nach rig. 1 und läßt die wesentlichen Maßnahmen gemäß der Erfindung erkennen. Dabei stellt die äußere, mit P+ bezeichnete, Umrandung die Isolationswanne der dargestellten Symmetriehälfte dar. In dieser Isolationswanne befindet sich die mit N bezeichnete Kollektorschicht, die mit dem Kollektoranschluß C2 oberhalb eines gestrichelt gezeichneten Subkollektors S kontaktiert ist. In diese Kollektorschich t N ist die Basiszone P eindiffundiert, die mit dem Basisanschluß B2 kontaktiert ist. Die Lmitterzonen sind mit den Emitteranschlüssen 1:21 und t'.22 kontaktiert. Ein weiterer Anschluß Q dient zur Zuführung des Schaltimpulses bei der Adressierung. Zur Bereitstellung eines Pinchwiderstandes ist zwischen dem Anschluß Q und dem Basisanschluß B2 eine, die Basiszone überdeckende, N+-Zone aufgebracht, die zusätzlich seitlich mit der Kollektorzone N kontaktiert. Zwischen den Anschlüssen Q und B2 liegt ein relativ hoher Widerstand (einige 10 Kiloohm), bewirkt durch die geringe Stärke dieser Basisschicht. Zur Kollektorschicht N und zur N+-Zone existieren PN-Obergänge, die je nach Vorspannung entweder bei etwa 0,7 Volt leitend werden, oder im Sperrzustand bei etwa 7 Volt durchbrechen (Zener Durchbruch). In der Stromspannungskennlinie zwischen den Anschlüssen Q und B2 liegt zunächst ein ohmscher Bereich für einen Spannungsabfall unter 0,7 Volt vor, wohingegen bei Oberschreiten dieses Wertes aber der PN-Obergang leitend wird, der die höchste Potentialdifferenz aufweist - bei Stromflue von Q nach B2, also-der P.4-Übergang zwischen Q und N+. Es ergibt sich demnach e.in Stronfluß entsprechend einer Diodenkennlinie, so daß mit Hilfe eines Pinchwiderstandes die Serienschaltung einer Diode und eines relativ hohen Widerstandes realisiert wird, die zwischen Kollektor C2 und Basis B2 geschaltet ist. Dadurch, daß aber der Kollektoranschluß sich nicht auf der N+-Zone befindet, sondern außerhalb der Basiszone über dem Subkollektor S in Form des Anschlusses C2 wird diese Serienschaltung, wie nachstehend erläutert, noch ergänzt. Hieraus ergibt sich nämlich, daß die beiden niederohmigen Vorwiderstände R11 und R12 als Bahnwiderstände in der Kollektorschicht zwischen Pinchwiderstand und dem wirksamen Kollektorbereich über dem Subkollektor S realisiert sind. Anhand des Ersatzschaltbildes in Fig. 3 für eine Symmetriehälfte soll nun die Betriebsweise der Erfindung näher erläutert werden. Im Ruhezustand der Speicherzelle sind die-Dioden D1 und DZ schwach leitend bzw. gesperrt, so daß der Spannungsabfall an den niederohmigen Widerständen R11 und R12 vernachlässigbar ist. Im adressierten Zustand wird das Potential im Punkt Q soweit angehoben, daß die Dioden Dl und D2 in beiden Kollektorzweigen in einen gutleitenden Zustand übergehen. Der Betriebszustand der Speicherzelle entspricht jetzt einer solchen mit niederolimigen Kollektorwidorständen, so daß die Spannungsabfälle an den Dioden etwa gleich sind. Allerdings ist dar Strom durch den tollektorzweig mit leitenden Transistor höher, so daß sich ein Spannungsunterschied zwischen aen beiden Kollektoren der Transistoren ergibt. Die Bedingung für atabiles Arbeiten der Speicherzelle erfordert nun, daß dieser Spannungsunterschied ausreichend hoch ist. Dadurch, deß in der erfindungsgemäßen Schaltung dank der Verwendung der niederohnigen Widerstände R1 1 und It1 x die beiden @Divden relativ rasch in einen gut leitenden Zustand übergehen, lassen sich höhere Schaltgeschwindigkeiten erzielen, indem sich gleichzeitig eine geringere Empfind- lichkeit gegenüber Toleranzschwankungen ergibt. In vorteilhafter Ausgestaltung der Erfindung wird durch die be- sondere Anordnung der Anschlußxontokte ein eritaxialer Widerstand zwischen dem Punkt 0 und den Kollektoranschluß Cl bxw. C3 wirk- sam; dabei ist es dann von besonderer Vorteil, da4 der Platzbe- darf nicht wesentlich erhöht wird.

Claims (2)

  1. P A T F N T A N S P R 0 C 1i E 1. Monolithische Speicherzelle mit zwei kreuzgekoppelten Transi- storen, zu deren relativ hochohmigen Kollektorwiderständen je ein PN-Obergang parallel geschaltet ist, dadurch gekenn-zeichnet, daa jeweils zwischen-Kollektor und Kollektorwiderstand zusätzlich ein relativ niederohmiger Widerstand in Serie geschaltet ist.
  2. 2. Monolithische Speicherzelle bei der die Kollektorwiderstände durch Pinch-Widerstände. das ist jeweils ein unter Emittermaterial vergrabener Widerstand aus Basismaterial, dargestellt sind, nach Anspruch i dadurch gekennzeichnet, daß jeweils der Kollektor in der Kollektordiffusion in relativer Entfernung vom Pinchwiderstand zur Ausnutzung des Epitaxie-Bahnwiderstandes kontaktiert ist..
DE1774929A 1968-03-01 1968-03-01 Monolithische Speicherzelle mit zwei kreuzgekoppelten Transistoren Expired DE1774929C3 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1774929A DE1774929C3 (de) 1968-03-01 1968-03-01 Monolithische Speicherzelle mit zwei kreuzgekoppelten Transistoren

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1774929A DE1774929C3 (de) 1968-03-01 1968-03-01 Monolithische Speicherzelle mit zwei kreuzgekoppelten Transistoren
DE1574651*CA DE1574651C3 (de) 1968-03-01 1968-03-01 Monolithisch integrierte Flip-Flop-Speicherzelle

Publications (3)

Publication Number Publication Date
DE1774929A1 true DE1774929A1 (de) 1971-11-04
DE1774929B2 DE1774929B2 (de) 1975-01-16
DE1774929C3 DE1774929C3 (de) 1975-09-04

Family

ID=25753158

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DE1774929A Expired DE1774929C3 (de) 1968-03-01 1968-03-01 Monolithische Speicherzelle mit zwei kreuzgekoppelten Transistoren

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DE (1) DE1774929C3 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2510593A1 (de) * 1975-03-11 1976-09-23 Siemens Ag Integrierte halbleiter-schaltungsanordnung
FR2402278A1 (fr) * 1977-08-31 1979-03-30 Siemens Ag Cellule de memoire a semiconducteurs integrable

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2510593A1 (de) * 1975-03-11 1976-09-23 Siemens Ag Integrierte halbleiter-schaltungsanordnung
FR2402278A1 (fr) * 1977-08-31 1979-03-30 Siemens Ag Cellule de memoire a semiconducteurs integrable

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DE1774929C3 (de) 1975-09-04
DE1774929B2 (de) 1975-01-16

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Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)
E77 Valid patent as to the heymanns-index 1977
EHJ Ceased/non-payment of the annual fee